JPH07209017A - 信号評価装置 - Google Patents
信号評価装置Info
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- JPH07209017A JPH07209017A JP6302350A JP30235094A JPH07209017A JP H07209017 A JPH07209017 A JP H07209017A JP 6302350 A JP6302350 A JP 6302350A JP 30235094 A JP30235094 A JP 30235094A JP H07209017 A JPH07209017 A JP H07209017A
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- Japan
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- sensor
- amount
- signal
- inductance
- temperature
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
- G01D3/028—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure
- G01D3/036—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure on measuring arrangements themselves
- G01D3/0365—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure on measuring arrangements themselves the undesired influence being measured using a separate sensor, which produces an influence related signal
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
- G01D3/02—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for altering or correcting the law of variation
- G01D3/022—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for altering or correcting the law of variation having an ideal characteristic, map or correction data stored in a digital memory
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 広範囲で使用可能であり、センサの機械部分
及びセンサ所属する電子装置の非線形性及び温度依存性
を補償する信号評価装置を提供する。 【構成】 演算装置の中に、測定量及び前記障害量に依
存する２次元のセンサ特性データマップメモリを所定数
の支持値点を記憶するように形成し、センサ特性データ
マップメモリからの出力量を補間法により補正する。
及びセンサ所属する電子装置の非線形性及び温度依存性
を補償する信号評価装置を提供する。 【構成】 演算装置の中に、測定量及び前記障害量に依
存する２次元のセンサ特性データマップメモリを所定数
の支持値点を記憶するように形成し、センサ特性データ
マップメモリからの出力量を補間法により補正する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、求める測定量と障害量
とに依存する出力信号を出力するセンサと、センサの出
力信号が供給される演算装置とを具備する信号評価装置
に関する。
とに依存する出力信号を出力するセンサと、センサの出
力信号が供給される演算装置とを具備する信号評価装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のセンサでは通常はセンサの機械部
分と電子評価装置とは、大部分の場合には空間的に互い
に分離されている異なる系である。機械部分と電子装置
とを単一の素子に統一すると、センサ素子と電子装置と
の誤差を一緒に補償することが可能となる。このような
センサと、これらに所属する評価回路とにより、線形特
性と温度の安定性とに関して大幅に高い精度を得ること
ができる。しかしこの場合、センサ評価回路は、所要の
測定サイクル時間を守れる程に迅速に誤差の補正を行う
ことができなければならない。
分と電子評価装置とは、大部分の場合には空間的に互い
に分離されている異なる系である。機械部分と電子装置
とを単一の素子に統一すると、センサ素子と電子装置と
の誤差を一緒に補償することが可能となる。このような
センサと、これらに所属する評価回路とにより、線形特
性と温度の安定性とに関して大幅に高い精度を得ること
ができる。しかしこの場合、センサ評価回路は、所要の
測定サイクル時間を守れる程に迅速に誤差の補正を行う
ことができなければならない。
【０００３】センサ素子とこれに所属する評価回路とが
１つの共通のチップに集積されているセンサ装置は、ド
イツ特許出願公開第４１０７４３３号公報から公知であ
る。この場合、センサ素子は、圧力を測定する２つのブ
リッジ回路である。所属の評価回路は、非線形特性と温
度依存性とを補償し、これにより正確な出力信号が得ら
れる。
１つの共通のチップに集積されているセンサ装置は、ド
イツ特許出願公開第４１０７４３３号公報から公知であ
る。この場合、センサ素子は、圧力を測定する２つのブ
リッジ回路である。所属の評価回路は、非線形特性と温
度依存性とを補償し、これにより正確な出力信号が得ら
れる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、広範
囲にすなわちユニバーサルに使用可能であり、センサの
機械部分及びセンサ所属する電子装置の非線形特性及び
温度依存性を補償する冒頭に記載の形式の信号評価装置
を提供することにある。
囲にすなわちユニバーサルに使用可能であり、センサの
機械部分及びセンサ所属する電子装置の非線形特性及び
温度依存性を補償する冒頭に記載の形式の信号評価装置
を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記課題は本発明によ
り、演算装置の中に、測定量及び前記障害量に依存する
２次元のセンサ特性データマップメモリを所定数の支持
値点を記憶するように形成し、センサ特性データマップ
メモリからの出力量を補間法により補正することにより
解決される。
り、演算装置の中に、測定量及び前記障害量に依存する
２次元のセンサ特性データマップメモリを所定数の支持
値点を記憶するように形成し、センサ特性データマップ
メモリからの出力量を補間法により補正することにより
解決される。
【０００６】ディジタル信号処理により高い精度が得ら
れる。これは、補正測定値を求めるディジタル演算が補
間により２次元センサ特性データマップメモリの中で行
われ、その際、センサ特性データマップメモリは出力量
を測定量及び障害量に依存して求める。この関数は、所
定数の支持値点により描かれる。出力量を計算するため
に特性データマップメモリでそれぞれ４つの周辺の支持
値点が評価され、これらの支持値点は、前記関数をすべ
ての中間点で近似する双一次形面を定める。
れる。これは、補正測定値を求めるディジタル演算が補
間により２次元センサ特性データマップメモリの中で行
われ、その際、センサ特性データマップメモリは出力量
を測定量及び障害量に依存して求める。この関数は、所
定数の支持値点により描かれる。出力量を計算するため
に特性データマップメモリでそれぞれ４つの周辺の支持
値点が評価され、これらの支持値点は、前記関数をすべ
ての中間点で近似する双一次形面を定める。
【０００７】このようなディジタル評価回路は、マイク
ロプロセッサハードウェアを用いて形成できるが、しか
しこのような装置は最小ハードウェアコストで形成し、
補正を補正アルゴリズムを用いて行うと有利である。
ロプロセッサハードウェアを用いて形成できるが、しか
しこのような装置は最小ハードウェアコストで形成し、
補正を補正アルゴリズムを用いて行うと有利である。
【０００８】これにより、所要の演算形式の実現を加算
又は制約された加算及びシフト操作により行うことがで
き、有利である。演算領域をシフトすることにより、正
負の符号のビットを１つ節約できる。余りと整数部分と
を別個に処理するので、浮動小数点数演算装置が不要で
ある。
又は制約された加算及びシフト操作により行うことがで
き、有利である。演算領域をシフトすることにより、正
負の符号のビットを１つ節約できる。余りと整数部分と
を別個に処理するので、浮動小数点数演算装置が不要で
ある。
【０００９】
【実施例】次に本発明を実施例に基づき図を用いて詳細
に説明する。
に説明する。
【００１０】重要な構成要素として、補間法に適し最小
のハードウェアコストで実現できる特別の信号プロセッ
サを有する次に説明する信号評価装置を用いて、センサ
評価のための小コストの単一チップ解決法を実現でき
る。これにより、５０μｓより大幅に短い演算時間を実
現できる。
のハードウェアコストで実現できる特別の信号プロセッ
サを有する次に説明する信号評価装置を用いて、センサ
評価のための小コストの単一チップ解決法を実現でき
る。これにより、５０μｓより大幅に短い演算時間を実
現できる。
【００１１】センサ評価チップ全体は実質的に次の３つ
の部分を有する。
の部分を有する。
【００１２】１． プロセッサ ２． （補間の）支持値点メモリ ３． 測定装置 ４． センサインターフェース プロセッサを除いて、公知の素子を使用できる。チップ
面の広さと速度に重要である重要な構成部分は、プロセ
ッサである。演算装置としての提案されるプロセッサを
用いて、評価回路全体の所望の簡単で小コストな実現が
可能となる。
面の広さと速度に重要である重要な構成部分は、プロセ
ッサである。演算装置としての提案されるプロセッサを
用いて、評価回路全体の所望の簡単で小コストな実現が
可能となる。
【００１３】前述のプロセッサはとりわけ、短絡リング
センサでの使用に適する。このプロセッサを短絡リング
センサを使用した例で説明する。短絡リングセンサで
は、測定量に依存して変化するインダクタンスを検出す
る。さらに温度障害量は測定装置により検出される。計
算する出力量は、例えば距離である。プロセッサに関す
る次の説明は部分的に、この特別の問題についてであ
る。
センサでの使用に適する。このプロセッサを短絡リング
センサを使用した例で説明する。短絡リングセンサで
は、測定量に依存して変化するインダクタンスを検出す
る。さらに温度障害量は測定装置により検出される。計
算する出力量は、例えば距離である。プロセッサに関す
る次の説明は部分的に、この特別の問題についてであ
る。
【００１４】しかし、開発された解決方法は、出力量が
２つの変数の関数として表される別のセンサにも使用で
きる。例として、出力信号が圧力及び温度に依存して変
化する圧力センサがある。支持値点密度及び出力量の分
解能は、それぞれの必要性に整合されなければならな
い、これは原理的な変更なしにそれぞれの問題に整合可
能である。
２つの変数の関数として表される別のセンサにも使用で
きる。例として、出力信号が圧力及び温度に依存して変
化する圧力センサがある。支持値点密度及び出力量の分
解能は、それぞれの必要性に整合されなければならな
い、これは原理的な変更なしにそれぞれの問題に整合可
能である。
【００１５】図１には使用した補間法の原理が示されて
いる。この場合、３つの軸がインダクタンスＩｎと及び
温度Ｔ及び測定距離Ｓを示す座標系がとられている。測
定点自身はＸにより示されている。測定点Ｘは、インダ
クタンス・温度平面の中で座標値ｔ，Ｉを有する。支持
値点を定めるために測定点Ｘの周りに、ｔ０，ｔ１及び
Ｉ０，Ｉ１により示されている温度直線およびインダク
タンス直線が描かれている。ｔとｔ０との間の間隔はｄ
ｔにより示され、ｔ０とｔ１との間の間隔はＤｔにより
示されている。Ｉ０とＩ１との間の間隔はｄＩにより示
され、Ｉ０とＩ１との間隔はＤＩにより示されている。
いる。この場合、３つの軸がインダクタンスＩｎと及び
温度Ｔ及び測定距離Ｓを示す座標系がとられている。測
定点自身はＸにより示されている。測定点Ｘは、インダ
クタンス・温度平面の中で座標値ｔ，Ｉを有する。支持
値点を定めるために測定点Ｘの周りに、ｔ０，ｔ１及び
Ｉ０，Ｉ１により示されている温度直線およびインダク
タンス直線が描かれている。ｔとｔ０との間の間隔はｄ
ｔにより示され、ｔ０とｔ１との間の間隔はＤｔにより
示されている。Ｉ０とＩ１との間の間隔はｄＩにより示
され、Ｉ０とＩ１との間隔はＤＩにより示されている。
【００１６】温度・インダクタンス平面の中の前記面の
上には、点Ｓ００，Ｓ０１，Ｓ１０及びＳ１１により境
界を定められている別の面が示されている。これらの関
係から出発して補正測定値Ｓ（Ｉ，ｔ）は次式に従って
補間できる。
上には、点Ｓ００，Ｓ０１，Ｓ１０及びＳ１１により境
界を定められている別の面が示されている。これらの関
係から出発して補正測定値Ｓ（Ｉ，ｔ）は次式に従って
補間できる。
【００１７】 Ｓ（Ｉ，ｔ）＝Ｓ００＋（Ｓ１０−Ｓ００）＊ｄＩ／Ｄｔ＋ ＋（Ｓ０１−Ｓ００）＊ｄｔ／Ｄｔ＋ ＋（Ｓ００＋Ｓ１１−Ｓ１０−Ｓ０１）＊ｄＩ／ＤＩ＊ｄｔ／Ｄｔ この場合に必要な加算は、多段の組合せ回路で実現され
る。短絡リングセンサを評価する実施例では、出力量の
所要分解能に起因して１３ｂｉｔ加算器が必要となる。
る。短絡リングセンサを評価する実施例では、出力量の
所要分解能に起因して１３ｂｉｔ加算器が必要となる。
【００１８】上記の式からＳ（Ｉ，ｔ）を計算するため
に必要な減算は、加算で実施できる。このために減数か
ら２の補数が形成される。所要のハードウェアコストを
最小化するためにこの操作は、１の補数の形成と１の加
算とにで行うことができる。この場合、１の補数の形成
は簡単な反転で行われる。
に必要な減算は、加算で実施できる。このために減数か
ら２の補数が形成される。所要のハードウェアコストを
最小化するためにこの操作は、１の補数の形成と１の加
算とにで行うことができる。この場合、１の補数の形成
は簡単な反転で行われる。
【００１９】乗算は直列で実施される。この場合、ｎの
ｂｉｔ幅の被乗数との乗算は、ｎ回のシフト操作と、ｎ
に起因により制約された加算とに帰する。支持値点メモ
リを適切に構成することにより、除算を常に２の累乗に
より行うことができ、従って同様にシフト操作に帰する
ことができる。この場合、通常は小数部分すなわち除算
の余りが発生する。すべての余りの和は、結果の整数部
分の値を増加することがある。
ｂｉｔ幅の被乗数との乗算は、ｎ回のシフト操作と、ｎ
に起因により制約された加算とに帰する。支持値点メモ
リを適切に構成することにより、除算を常に２の累乗に
より行うことができ、従って同様にシフト操作に帰する
ことができる。この場合、通常は小数部分すなわち除算
の余りが発生する。すべての余りの和は、結果の整数部
分の値を増加することがある。
【００２０】Ｓ（Ｉ，ｔ）のための補間式の演算処理に
より、差値が形成された場合に負の中間結果が発生する
ことがある。Ｓ（Ｉ，ｔ）の結果が常に正でなければな
らなく、０〜２13−１の領域内にあるにもかかわらず、
負の中間結果が発生することがあるとの事実を考慮しな
いと、間違った結果を得ることがある。これを防止する
ために付加的な正負の符号ビットを導入すると、１４ｂ
ｉｔ幅の演算処理が必要となる。しかしこれは、次のこ
とを考慮すると回避できる。
より、差値が形成された場合に負の中間結果が発生する
ことがある。Ｓ（Ｉ，ｔ）の結果が常に正でなければな
らなく、０〜２13−１の領域内にあるにもかかわらず、
負の中間結果が発生することがあるとの事実を考慮しな
いと、間違った結果を得ることがある。これを防止する
ために付加的な正負の符号ビットを導入すると、１４ｂ
ｉｔ幅の演算処理が必要となる。しかしこれは、次のこ
とを考慮すると回避できる。
【００２１】Ｓ（Ｉ，ｔ）の計算のための式の中に表れ
るすべての差は確実に、１３ｂｉｔの２進数により２の
補数表現をすることが可能である−２12と２12−１との
間の演算領域内にある。各関数値Ｓ（Ｉ，ｔ）から値２
12＝１０００Hを減算すると、得られる値も前記の演算
領域内にある。１０００Hは、２12の１６進数である。
これらの減算によりシフトされた関数値によりＳ（Ｉ，
ｔ）の計算式を１３ｂｉｔ演算により、領域を越えるこ
となしに処理できる。これにより計算された値に再び１
０００Hを加算して、正しい結果を得る。これは、Ｓ
（Ｉ，ｔ）の計算に必要な式を次式に変形することによ
り分かる。
るすべての差は確実に、１３ｂｉｔの２進数により２の
補数表現をすることが可能である−２12と２12−１との
間の演算領域内にある。各関数値Ｓ（Ｉ，ｔ）から値２
12＝１０００Hを減算すると、得られる値も前記の演算
領域内にある。１０００Hは、２12の１６進数である。
これらの減算によりシフトされた関数値によりＳ（Ｉ，
ｔ）の計算式を１３ｂｉｔ演算により、領域を越えるこ
となしに処理できる。これにより計算された値に再び１
０００Hを加算して、正しい結果を得る。これは、Ｓ
（Ｉ，ｔ）の計算に必要な式を次式に変形することによ
り分かる。
【００２２】 Ｓ（Ｉ，ｔ）＝１０００H＋（Ｓ００−１０００H）＋ ＋（（Ｓ１０−１０００H）−（Ｓ００−１０００H））＊ ＊ｄＩ／ＤＩ＋ ＋（（Ｓ０１−１０００H）−（Ｓ００−１０００H））＊ ＊ｄｔ／Ｄｔ＋ ＋（（Ｓ００−１０００H）＋（Ｓ１１−１０００H）− −（Ｓ１０−１０００H）−（Ｓ０１−１０００H））＊ ＊ｄＩ／ＤＩ＊ｄｔ／Ｄｔ １０００Hの加算及び減算は、ハードウェアにより非常
に簡単に、最上位ビットの反転により行える。
に簡単に、最上位ビットの反転により行える。
【００２３】図２には、Ｓ（Ｉ，ｔ）の処理に必要な最
小ハードウェア構成を有する演算装置が示されている。
この場合、演算装置は、次の３つのブロックすなわち入
出力レジスタ１０及びメモリレジスタ１１及び演算装置
１２に分割できる。発生データの入出力は、個々のデー
タパスに示されている。インダクタンスＩを有する評価
するセンサは１３により示され、温度検出装置は１４に
より示されている。センサ１３及び温度検出装置１４
は、入出力レジスタ１０に接続されている。
小ハードウェア構成を有する演算装置が示されている。
この場合、演算装置は、次の３つのブロックすなわち入
出力レジスタ１０及びメモリレジスタ１１及び演算装置
１２に分割できる。発生データの入出力は、個々のデー
タパスに示されている。インダクタンスＩを有する評価
するセンサは１３により示され、温度検出装置は１４に
より示されている。センサ１３及び温度検出装置１４
は、入出力レジスタ１０に接続されている。
【００２４】６本の制御線ＣＮＴ０〜ＣＮＴ５を介して
作動される全部で３２のレジスタ操作が実行可能であ
る。６ｂｉｔの命令幅を選択することにより、命令符号
化の際に自由度が得られ、必要な場合には拡張するスペ
ースが得られる。すべてのレジスタと、これらに所属す
るレジスタ操作とをすべて示すことは、本図ではされて
いないが、しかし演算装置は全部で３２の機械命令を利
用できる。
作動される全部で３２のレジスタ操作が実行可能であ
る。６ｂｉｔの命令幅を選択することにより、命令符号
化の際に自由度が得られ、必要な場合には拡張するスペ
ースが得られる。すべてのレジスタと、これらに所属す
るレジスタ操作とをすべて示すことは、本図ではされて
いないが、しかし演算装置は全部で３２の機械命令を利
用できる。
【００２５】制御装置の構成にとって、まず初めにＳ
（Ｉ，ｔ）のための補間式を処理する最適な順序を決め
ることが重要である。これは、演算装置の最小構成が実
際の上で機能するためには必要である。
（Ｉ，ｔ）のための補間式を処理する最適な順序を決め
ることが重要である。これは、演算装置の最小構成が実
際の上で機能するためには必要である。
【００２６】この最適な順序が守られると、まず初めに
支持値がロードされる図２にＲ００，Ｒ０１，Ｒ１０及
びＲ１１により示されている入力レジスタは、同時に計
算の際のバッファメモリとして用いられ、従って入力レ
ジスタは２重に利用される。Ｓ（Ｉ，ｔ）の前記の計算
式を変形して得られる最適な処理順序として次式が生ず
る。
支持値がロードされる図２にＲ００，Ｒ０１，Ｒ１０及
びＲ１１により示されている入力レジスタは、同時に計
算の際のバッファメモリとして用いられ、従って入力レ
ジスタは２重に利用される。Ｓ（Ｉ，ｔ）の前記の計算
式を変形して得られる最適な処理順序として次式が生ず
る。
【００２７】 Ｓ（Ｉ，ｔ）＝（（Ｓ１１−Ｓ０１＋Ｓ００−Ｓ１０）＊ｄＩ／ＤＩ＋ ＋Ｓ０１−Ｓ００）＊ｄｔ／Ｄｔ＋（Ｓ１０−Ｓ００）＊ ＊ｄＩ／ＤＩ＋Ｓ００ 各乗算又は除算の際に整数部分及び余りが発生する。余
りの和は、結果の整数部分の第２桁まで影響することも
ある。従って、変形された式での第２の乗算又は除算は
２回、すなわち第１の乗算又は除算の結果の整数部分と
も、すでに発生した余りとも行われる。
りの和は、結果の整数部分の第２桁まで影響することも
ある。従って、変形された式での第２の乗算又は除算は
２回、すなわち第１の乗算又は除算の結果の整数部分と
も、すでに発生した余りとも行われる。
【００２８】余りはまず初めに整数部分と同様にさらに
処理され、計算の終りに初めてシフト操作により正しい
桁での値が形成される。余りの和は、結果の整数部分に
加算され、その際、小数部分が切離される。小数部分の
第１の桁が、結果の端数を切り上げるがどうかを決定す
る。
処理され、計算の終りに初めてシフト操作により正しい
桁での値が形成される。余りの和は、結果の整数部分に
加算され、その際、小数部分が切離される。小数部分の
第１の桁が、結果の端数を切り上げるがどうかを決定す
る。
【００２９】乗算及び端数の丸めの際に、制約された加
算命令（ＡＤＤ命令）を行わなければならない。これは
制御装置が、演算装置の決定変数Ｋ０又はＫ１に依存し
てＡＤＤ命令又はＮＯＰ命令（Ｎｏ Ｏｐｅｒａｔｉｏ
ｎ）を発生することにより実現される。演算経過全体は
１４６ステップを必要とし、一連の機械命令として形成
できる。
算命令（ＡＤＤ命令）を行わなければならない。これは
制御装置が、演算装置の決定変数Ｋ０又はＫ１に依存し
てＡＤＤ命令又はＮＯＰ命令（Ｎｏ Ｏｐｅｒａｔｉｏ
ｎ）を発生することにより実現される。演算経過全体は
１４６ステップを必要とし、一連の機械命令として形成
できる。
【００３０】制約されたＡＤＤ命令を実施することによ
り、純粋にシーケンス的な制御経過を得る。従って、１
〜１４６すなわち１−９２Hの計数状態をとる簡単な８
ｂｉｔカウンタをプログラムカウンタとして使用すると
よいことが分かる。
り、純粋にシーケンス的な制御経過を得る。従って、１
〜１４６すなわち１−９２Hの計数状態をとる簡単な８
ｂｉｔカウンタをプログラムカウンタとして使用すると
よいことが分かる。
【００３１】復号化回路網で計数状態が、まず演算装置
のための６ｂｉｔ幅の命令語に符号変換される。演算装
置の双方の決定変数も、復号化回路網のための入力量で
ある。ある所定の計数状態でこれらの決定変数は、ＡＤ
Ｄ命令が発生されるか又はＮＯＰ命令が発生されるかを
決める。
のための６ｂｉｔ幅の命令語に符号変換される。演算装
置の双方の決定変数も、復号化回路網のための入力量で
ある。ある所定の計数状態でこれらの決定変数は、ＡＤ
Ｄ命令が発生されるか又はＮＯＰ命令が発生されるかを
決める。
【００３２】これらの制御装置の構成は図３に示されて
いる。この図から、支持値点メモリ１５と演算装置１６
と上位の制御装置１７との間の関連が分かる。
いる。この図から、支持値点メモリ１５と演算装置１６
と上位の制御装置１７との間の関連が分かる。
【００３３】上位の制御装置１７はスタート命令を出力
し、これによりプログラムカウンタ１８が０から１４６
まで計数する。命令は、双方の決定変数も演算装置１６
から供給される復号化回路網１９で発生される。デコー
ダ２０は支持値点メモリ１５を制御し、別のデコーダ２
１は、１４６ステップが終了すると演算の終了を表示す
る。
し、これによりプログラムカウンタ１８が０から１４６
まで計数する。命令は、双方の決定変数も演算装置１６
から供給される復号化回路網１９で発生される。デコー
ダ２０は支持値点メモリ１５を制御し、別のデコーダ２
１は、１４６ステップが終了すると演算の終了を表示す
る。
【００３４】ハードウェアの複雑性ができるだけ低く保
持されるように、使用される命令符号化は適切に行わな
ければならない。これに関する詳細な説明は省く。
持されるように、使用される命令符号化は適切に行わな
ければならない。これに関する詳細な説明は省く。
【図１】使用する補間法の原理を示す線図である。
【図２】使用される演算装置の構成を示すブロック回路
図である。
図である。
【図３】制御装置の構成を示すブロック回路図である。
１５ 支持値点メモリ １６ 演算装置 １７ 上位の制御装置 １８ プログラムカウンタ １９ 復号化回路網 ２０ デコーダ ２１ デコーダ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ライナー ディーツ ドイツ連邦共和国 プフォルツハイム エ ルレンヴェーク 20 (72)発明者 ミヒャエル ヘン ドイツ連邦共和国 ビリッヒハイム マリ ーエンヘーエ 11
Claims (6)
- 【請求項１】 求める測定量と障害量とに依存する出力
信号を出力するセンサと、前記センサの出力信号が供給
される演算装置とを具備する信号評価装置において、 前記演算装置の中に、前記測定量及び前記障害量に依存
する２次元のセンサ特性データマップメモリを所定数の
支持値点を記憶するように形成し、前記センサ特性デー
タマップメモリで入力量を補間法により補正して補正出
力量として出力することを特徴とする信号評価装置。 - 【請求項２】 演算装置が補間を、測定量及び障害量に
依存する関数に従って行い、所要の加算を多段回路網で
行うことを特徴とする請求項１に記載の信号評価装置。 - 【請求項３】 演算装置が、減数から２の補数を形成す
ることにより所要の減算を加算にて行うことを特徴とす
る請求項２に記載の信号評価装置。 - 【請求項４】 演算装置が所要の乗算を直列で処理し、
ｎビット幅の乗数との乗算をｎ回のシフト操作と、ｎに
より制約された加算とを実施することを特徴とする請求
項２又は請求項３に記載の信号評価装置。 - 【請求項５】 センサが、求める測定量に依存して変化
するインダクタンスを有する誘導形センサであり、障害
量が、前記センサがさらされる温度であることを特徴と
する請求項１から請求項４のうちのいずれか１つの請求
項に記載の信号評価装置。 - 【請求項６】 信号プロセッサと支持値点メモリと測定
装置とセンサインターフェースとを単一の評価チップに
集積することを特徴とする請求項１から請求項５のうち
のいずれか１つの請求項に記載の信号評価装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4342867.3 | 1993-12-16 | ||
| DE19934342867 DE4342867A1 (de) | 1993-12-16 | 1993-12-16 | Einrichtung zur Signalauswertung |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07209017A true JPH07209017A (ja) | 1995-08-11 |
Family
ID=6505139
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6302350A Pending JPH07209017A (ja) | 1993-12-16 | 1994-12-06 | 信号評価装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07209017A (ja) |
| DE (1) | DE4342867A1 (ja) |
| FR (1) | FR2714174B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101418275B1 (ko) * | 2012-12-05 | 2014-08-13 | 주식회사 크레타 | 센서특성 설정장치 및 이를 포함하는 외부조건 측정 시스템 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19533505A1 (de) * | 1995-09-04 | 1997-03-06 | Siemens Ag | Verfahren zum Kompensieren des durch eine äußere Einflußgröße verursachten Fehlverhaltes von Meßeinrichtungen |
| DE19805368A1 (de) * | 1998-02-11 | 1999-08-12 | Bayerische Motoren Werke Ag | Verfahren zur Ermittlung einer zu bestimmenden Betriebsgröße eines Kraftfahrzeugs |
| DE10245646B4 (de) * | 2002-09-30 | 2006-07-06 | Infineon Technologies Ag | Berechnungseinrichtung zur laufenden Bestimmung von zeitdiskreten auf einen Referenzwert bezogenen Meßwerten aus einem Meßsignal eines Sensors |
Family Cites Families (4)
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| JPS61138332A (ja) * | 1984-12-11 | 1986-06-25 | Fujitsu Ltd | デイジタル演算回路 |
| DE3910597A1 (de) * | 1989-04-01 | 1990-10-04 | Bosch Gmbh Robert | Schaltungsanordnung und verfahren zur induktiven wegmessung |
| US5247467A (en) * | 1989-08-16 | 1993-09-21 | Hewlett-Packard Company | Multiple variable compensation for transducers |
| GB9100720D0 (en) * | 1991-01-12 | 1991-02-27 | Westland Aerostructures Ltd | Tyre pressure and temperature measurement system |
-
1993
- 1993-12-16 DE DE19934342867 patent/DE4342867A1/de not_active Withdrawn
-
1994
- 1994-11-16 FR FR9413711A patent/FR2714174B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1994-12-06 JP JP6302350A patent/JPH07209017A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101418275B1 (ko) * | 2012-12-05 | 2014-08-13 | 주식회사 크레타 | 센서특성 설정장치 및 이를 포함하는 외부조건 측정 시스템 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2714174B1 (fr) | 1998-05-15 |
| FR2714174A1 (fr) | 1995-06-23 |
| DE4342867A1 (de) | 1995-06-22 |
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