JPH07218643A - 放射線入射位置検出装置 - Google Patents
放射線入射位置検出装置Info
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- JPH07218643A JPH07218643A JP6014649A JP1464994A JPH07218643A JP H07218643 A JPH07218643 A JP H07218643A JP 6014649 A JP6014649 A JP 6014649A JP 1464994 A JP1464994 A JP 1464994A JP H07218643 A JPH07218643 A JP H07218643A
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 放射線入射位置検出装置において、放射線の
検出感度を向上し、特に陰極部の構造を簡易化する。 【構成】 放射線入射位置検出装置1において、相互に
電気的に絶縁された状態で配列された複数本の陽極針4
1から成る陽極部4に遅延線3を介在して入射位置読出
し回路8を接続する。放射線の検出位置の読出しは、陽
極部4において行う。この結果、陰極部5は構造が単純
化される。また、前記陰極部5に代えて本体ケース2自
体を陰極部として構成し、この陰極部は陽極部4の周囲
を取り囲む形状で構成される。電荷の収集能力が向上で
きる。
検出感度を向上し、特に陰極部の構造を簡易化する。 【構成】 放射線入射位置検出装置1において、相互に
電気的に絶縁された状態で配列された複数本の陽極針4
1から成る陽極部4に遅延線3を介在して入射位置読出
し回路8を接続する。放射線の検出位置の読出しは、陽
極部4において行う。この結果、陰極部5は構造が単純
化される。また、前記陰極部5に代えて本体ケース2自
体を陰極部として構成し、この陰極部は陽極部4の周囲
を取り囲む形状で構成される。電荷の収集能力が向上で
きる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、放射線の回折現象を利
用して物質の結晶構造を分析する際に使用する放射線入
射位置検出装置に関する。
用して物質の結晶構造を分析する際に使用する放射線入
射位置検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】物質のミクロな結晶構造を解析するため
に、従来、X線等の放射線を利用した放射線回折測定が
行われている。この放射線回折測定は、物質に対して放
射線を照射し、この時に回折や散乱された放射線を当該
物質の周囲において検出する。この種の放射線回折測定
に使用される装置として、ゴニオメータ等の装置が知ら
れている。
に、従来、X線等の放射線を利用した放射線回折測定が
行われている。この放射線回折測定は、物質に対して放
射線を照射し、この時に回折や散乱された放射線を当該
物質の周囲において検出する。この種の放射線回折測定
に使用される装置として、ゴニオメータ等の装置が知ら
れている。
【0003】例えば、特開昭59−157944号公報
に開示される放射線入射位置検出装置では、放射線入射
窓を有する本体ケースの空洞内に相互に離間されかつ対
向する陽極部及び陰極部が配置され、電離箱又は比例計
数管として動作する。そして、本体ケースは、物質から
放射状に放出される回折X線や散乱X線を検出するため
に、円弧状に湾曲する形状を有する。
に開示される放射線入射位置検出装置では、放射線入射
窓を有する本体ケースの空洞内に相互に離間されかつ対
向する陽極部及び陰極部が配置され、電離箱又は比例計
数管として動作する。そして、本体ケースは、物質から
放射状に放出される回折X線や散乱X線を検出するため
に、円弧状に湾曲する形状を有する。
【0004】回折や散乱されたX線の入射位置の検出に
際して前記陽極部と陰極部との間に高電圧が印加され
る。この高電圧は、放射線入射窓を通して本体ケースの
空洞内に入射されたX線によって生み出される電荷の収
集や増幅を行う電場を形成するために印加される。ま
た、放射線の入射位置は陰極に接続された遅延線に現れ
る誘導電荷として検出される。
際して前記陽極部と陰極部との間に高電圧が印加され
る。この高電圧は、放射線入射窓を通して本体ケースの
空洞内に入射されたX線によって生み出される電荷の収
集や増幅を行う電場を形成するために印加される。ま
た、放射線の入射位置は陰極に接続された遅延線に現れ
る誘導電荷として検出される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、放射線入射
位置検出装置において放射線の検出感度向上の要請があ
る。そこで、本願出願人により先に出願された特願平4
−205447号に検出感度を向上できる放射線入射位
置検出装置が提案されている。この提案された放射線入
射位置検出装置は、先端が尖鋭な陽極針を複数配列した
陽極部で構成される。この陽極針は尖鋭な先端付近にお
いて電界強度を向上できるので、結果的に検出感度が向
上できる。
位置検出装置において放射線の検出感度向上の要請があ
る。そこで、本願出願人により先に出願された特願平4
−205447号に検出感度を向上できる放射線入射位
置検出装置が提案されている。この提案された放射線入
射位置検出装置は、先端が尖鋭な陽極針を複数配列した
陽極部で構成される。この陽極針は尖鋭な先端付近にお
いて電界強度を向上できるので、結果的に検出感度が向
上できる。
【0006】しかしながら、前述の提案された放射線入
射位置検出装置において、陽極部が陽極針として複数に
分割され、しかも陰極部が相互に絶縁体を介在しつつ複
数の分割された短冊状の陰極板で形成されるので、構造
が複雑になる問題があった。本発明は、このような問題
点を解決することを課題としてなされたものであり、構
造を簡易化し、かつ放射線の検出感度を向上できる放射
線入射位置検出装置の提供を目的とする。
射位置検出装置において、陽極部が陽極針として複数に
分割され、しかも陰極部が相互に絶縁体を介在しつつ複
数の分割された短冊状の陰極板で形成されるので、構造
が複雑になる問題があった。本発明は、このような問題
点を解決することを課題としてなされたものであり、構
造を簡易化し、かつ放射線の検出感度を向上できる放射
線入射位置検出装置の提供を目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明は、放射線の入射位置を検出する放射
線入射位置検出装置において、相互に電気的に絶縁され
た状態で配列された複数本の陽極針から成る陽極部と、
前記陽極部との間に電圧が印加される陰極部と、前記複
数本の各陽極針が電気的に並列接続された遅延線と、前
記遅延線に接続された放射線の入射位置読出し手段と、
を有することを特徴とする。
るために、本発明は、放射線の入射位置を検出する放射
線入射位置検出装置において、相互に電気的に絶縁され
た状態で配列された複数本の陽極針から成る陽極部と、
前記陽極部との間に電圧が印加される陰極部と、前記複
数本の各陽極針が電気的に並列接続された遅延線と、前
記遅延線に接続された放射線の入射位置読出し手段と、
を有することを特徴とする。
【0008】また、本発明は、前記陰極部が前記複数本
の陽極針の周囲を取り囲む形状で形成されたことを特徴
とする。
の陽極針の周囲を取り囲む形状で形成されたことを特徴
とする。
【0009】
【作用】本発明は、前記放射線入射位置検出装置におい
て、陰極部での検出に代えて放射線の入射位置の検出は
陽極部を構成する複数本の陽極針で行われる。従って、
陽極部において、陽極針付近の電界強度が向上できるの
で、上記先の出願の装置同様に放射線の検出感度を向上
できる。しかも、陰極部において、複数の陰極板に分割
し、かつ陰極板間に絶縁体を介在する必要がなくなるの
で、上記先の出願の装置との対比において、装置全体と
しての構造を簡易化できる。
て、陰極部での検出に代えて放射線の入射位置の検出は
陽極部を構成する複数本の陽極針で行われる。従って、
陽極部において、陽極針付近の電界強度が向上できるの
で、上記先の出願の装置同様に放射線の検出感度を向上
できる。しかも、陰極部において、複数の陰極板に分割
し、かつ陰極板間に絶縁体を介在する必要がなくなるの
で、上記先の出願の装置との対比において、装置全体と
しての構造を簡易化できる。
【0010】また、本発明は、前記放射線入射位置検出
装置において、陽極針の周囲から電荷を収集できるの
で、電荷の収集効率を向上し、より検出感度を向上でき
る。
装置において、陽極針の周囲から電荷を収集できるの
で、電荷の収集効率を向上し、より検出感度を向上でき
る。
【0011】
【実施例】以下、本発明の好適な実施例について、図面
に基づき説明する。
に基づき説明する。
【0012】本発明の放射線入射位置検出装置の要部構
成の一例を図1及び図2に示す。
成の一例を図1及び図2に示す。
【0013】放射線のうちX線を用いて物質の結晶構造
を解析する放射線入射位置検出装置1は、X線照射装置
で発生したX線をターゲット(測定物質)に照射した時
に回折、散乱されるX線を検出する。図1及び図2に示
すように、この放射線入射位置検出装置1は、本体ケー
ス2、陽極部4、陰極部5、遅延線3、入射位置読出し
回路8及び高電圧発生源7で構成される。
を解析する放射線入射位置検出装置1は、X線照射装置
で発生したX線をターゲット(測定物質)に照射した時
に回折、散乱されるX線を検出する。図1及び図2に示
すように、この放射線入射位置検出装置1は、本体ケー
ス2、陽極部4、陰極部5、遅延線3、入射位置読出し
回路8及び高電圧発生源7で構成される。
【0014】本体ケース2は、X線の入射方向(図1
中、z方向)と交差する方向(y方向)において断面が
コの字形状で構成され、内部に空洞を有する。また、本
体ケース2は、回折や散乱されたX線が入射する方向と
一致する方向(z方向)において、X線入射開口21及
びX線入射窓22が構成される。本体ケース2の空洞内
は外部に対して気密化され、この本体ケース2の空洞内
に一般的動作ガスであるPRガス(アルゴン−メタンの
混合ガス)を一定圧力で封入する。
中、z方向)と交差する方向(y方向)において断面が
コの字形状で構成され、内部に空洞を有する。また、本
体ケース2は、回折や散乱されたX線が入射する方向と
一致する方向(z方向)において、X線入射開口21及
びX線入射窓22が構成される。本体ケース2の空洞内
は外部に対して気密化され、この本体ケース2の空洞内
に一般的動作ガスであるPRガス(アルゴン−メタンの
混合ガス)を一定圧力で封入する。
【0015】また、本体ケース2は、図示しないターゲ
ット(測定物質)を中心とした円弧形状を有する湾曲構
造で構成される。つまり、本体ケース2は、ターゲット
とこのターゲットから回折や散乱されたX線の検出位置
との間の距離が入射X線の検出方向(x方向)において
均等に設定される。
ット(測定物質)を中心とした円弧形状を有する湾曲構
造で構成される。つまり、本体ケース2は、ターゲット
とこのターゲットから回折や散乱されたX線の検出位置
との間の距離が入射X線の検出方向(x方向)において
均等に設定される。
【0016】前記陽極部4はX線の検出方向(x方向)
に沿って複数本配列された陽極針41で構成される。1
本の陽極針41は陽極針本体42及び少なくとも一端側
の先端部44を除いて陽極針本体42を被覆する絶縁体
43で構成される。陽極針本体42の一端側の先端部4
4は、本体ケース2の空洞内に位置し、尖鋭な形状で構
成される。この結果、陽極針本体42は先端付近での電
界強度を高めることができ、X線の検出感度が向上でき
る。相互に隣接する陽極針41の陽極針本体42の間は
この陽極針本体42を被覆する絶縁体43によって電気
的に絶縁される。 前記陽極針41の陽極針本体42
は、例えばステンレス鋼材で形成される。また、絶縁体
43は、例えば金属酸化膜、樹脂膜等の絶縁材で形成さ
れ、遅延線3のマグネットワイヤ3Cとの間における絶
縁破壊を防止するために約0. 1〜0. 2mmの膜厚で
形成される。
に沿って複数本配列された陽極針41で構成される。1
本の陽極針41は陽極針本体42及び少なくとも一端側
の先端部44を除いて陽極針本体42を被覆する絶縁体
43で構成される。陽極針本体42の一端側の先端部4
4は、本体ケース2の空洞内に位置し、尖鋭な形状で構
成される。この結果、陽極針本体42は先端付近での電
界強度を高めることができ、X線の検出感度が向上でき
る。相互に隣接する陽極針41の陽極針本体42の間は
この陽極針本体42を被覆する絶縁体43によって電気
的に絶縁される。 前記陽極針41の陽極針本体42
は、例えばステンレス鋼材で形成される。また、絶縁体
43は、例えば金属酸化膜、樹脂膜等の絶縁材で形成さ
れ、遅延線3のマグネットワイヤ3Cとの間における絶
縁破壊を防止するために約0. 1〜0. 2mmの膜厚で
形成される。
【0017】前記陽極部4において、複数本の陽極針4
1の陽極針本体42の他端側は各々抵抗体6を通して、
かつ電気的に並列に接続されて高電圧発生源(高電圧発
生回路)7に接続される。高電圧発生源7は、陽極部4
の陽極針41と陰極部5との間に高電圧例えば約250
0Vの正の高電圧を印加し、これにより本体ケース2の
空洞内においてX線により生み出される電荷の収集や増
幅のための電場が発生される。
1の陽極針本体42の他端側は各々抵抗体6を通して、
かつ電気的に並列に接続されて高電圧発生源(高電圧発
生回路)7に接続される。高電圧発生源7は、陽極部4
の陽極針41と陰極部5との間に高電圧例えば約250
0Vの正の高電圧を印加し、これにより本体ケース2の
空洞内においてX線により生み出される電荷の収集や増
幅のための電場が発生される。
【0018】前記陰極部5は、本体ケース2の空洞内に
おいて、X線入射窓22及び陽極部4に対向する位置
(本体ケース2の底面)に配置される。この陰極部5
は、後述するが、陽極部4においてX線の入射位置を検
出するので、X線検出方向(x方向)に沿ってかつ本体
ケース2の空洞内の湾曲面に沿って帯状に延在した一体
構造で構成される。つまり、陰極部5は、短冊状の複数
枚の金属板(陰極板)とこの金属板の間に介在させる絶
縁体とから成る構造を廃し、単純な帯状の金属板で構成
される。なお、後述するが、陰極部5は陽極部4を取り
囲む形状で構成することができる。例えば、本体ケース
2を陰極部として兼用できる。陰極部5は、前述のよう
に陽極部4との間に高電圧による電場を発生させるの
で、基本的には接地される。陰極部5は導電性金属材
料、例えばステンレス鋼材で形成される。前記陽極部4
の複数本の陽極針41は、図1及び図2に示すように、
本体ケース2の外部において、遅延線3に電気的に接続
される。この遅延線3は、複数本の陽極針41の配列方
向に沿って(X線の検出方向であるx方向に向かっ
て)、複数本の陽極針本体42の表面上を延在する。遅
延線3と複数本の陽極針本体42との間は陽極針本体4
2を被覆する絶縁体43を介在して電気的に絶縁され
る。つまり、複数本の各陽極針本体42と遅延線3のマ
グネットワイヤ3Cとの間は電気的に並列に容量結合が
なされる。
おいて、X線入射窓22及び陽極部4に対向する位置
(本体ケース2の底面)に配置される。この陰極部5
は、後述するが、陽極部4においてX線の入射位置を検
出するので、X線検出方向(x方向)に沿ってかつ本体
ケース2の空洞内の湾曲面に沿って帯状に延在した一体
構造で構成される。つまり、陰極部5は、短冊状の複数
枚の金属板(陰極板)とこの金属板の間に介在させる絶
縁体とから成る構造を廃し、単純な帯状の金属板で構成
される。なお、後述するが、陰極部5は陽極部4を取り
囲む形状で構成することができる。例えば、本体ケース
2を陰極部として兼用できる。陰極部5は、前述のよう
に陽極部4との間に高電圧による電場を発生させるの
で、基本的には接地される。陰極部5は導電性金属材
料、例えばステンレス鋼材で形成される。前記陽極部4
の複数本の陽極針41は、図1及び図2に示すように、
本体ケース2の外部において、遅延線3に電気的に接続
される。この遅延線3は、複数本の陽極針41の配列方
向に沿って(X線の検出方向であるx方向に向かっ
て)、複数本の陽極針本体42の表面上を延在する。遅
延線3と複数本の陽極針本体42との間は陽極針本体4
2を被覆する絶縁体43を介在して電気的に絶縁され
る。つまり、複数本の各陽極針本体42と遅延線3のマ
グネットワイヤ3Cとの間は電気的に並列に容量結合が
なされる。
【0019】前記遅延線3は、プラスチックコア3A、
コンデンサ用電極3B、マグネットワイヤ3C及び位相
補償板3Dで構成される。前記マグネットワイヤ3Cは
プラスチックコア3Aの周囲にコイル状に巻いたもので
ある。マグネットワイヤ3Cとしては例えば銅線の表面
状に絶縁被膜を形成したもの(いわゆるエナメル線)を
使用する。コンデンサ用電極3Bは、プラスチックコア
3Aの一表面とマグネットワイヤ3Cとの間に構成さ
れ、マグネットワイヤ3Cとの間に容量を構成する。こ
のコンデンサ用電極3Bは例えば銅板で形成される。位
相補償板3Dは、プラスチックコア3Aの一表面上にコ
ンデンサ用電極3B及びマグネットワイヤ3Cを介在し
て構成され、周波数の変動による遅延時間の変動を減少
し、ディレー特性を改善できる。
コンデンサ用電極3B、マグネットワイヤ3C及び位相
補償板3Dで構成される。前記マグネットワイヤ3Cは
プラスチックコア3Aの周囲にコイル状に巻いたもので
ある。マグネットワイヤ3Cとしては例えば銅線の表面
状に絶縁被膜を形成したもの(いわゆるエナメル線)を
使用する。コンデンサ用電極3Bは、プラスチックコア
3Aの一表面とマグネットワイヤ3Cとの間に構成さ
れ、マグネットワイヤ3Cとの間に容量を構成する。こ
のコンデンサ用電極3Bは例えば銅板で形成される。位
相補償板3Dは、プラスチックコア3Aの一表面上にコ
ンデンサ用電極3B及びマグネットワイヤ3Cを介在し
て構成され、周波数の変動による遅延時間の変動を減少
し、ディレー特性を改善できる。
【0020】この遅延線3のマグネットワイヤ3Cは、
図2に示す入射位置読出し回路8に結合される。この入
射位置読出し回路8は、前置増幅器(PA)81、波形
整形増幅器(A)82、波高弁別器(D)83、遅延回
路(T)84、時間−波高変換器(TAC)85及び多
重波高分析器(MCA)86で構成される。
図2に示す入射位置読出し回路8に結合される。この入
射位置読出し回路8は、前置増幅器(PA)81、波形
整形増幅器(A)82、波高弁別器(D)83、遅延回
路(T)84、時間−波高変換器(TAC)85及び多
重波高分析器(MCA)86で構成される。
【0021】前置増幅器81は、マグネットワイヤ3C
の一端及び他端に各々配置され、インピーダンス変換、
及び信号増幅を行う。波形整形増幅器82は、次のタイ
ミング回路のために信号の波形及び振幅の整形を行う。
波高弁別器83は、一定以上の振幅を有する信号を選択
し、信号入力時から(信号の振幅によらず)常に一定の
タイミングで次段の時間−波高変換器85の処理に都合
のよい立上りの早いデジタルパルスを出力する。
の一端及び他端に各々配置され、インピーダンス変換、
及び信号増幅を行う。波形整形増幅器82は、次のタイ
ミング回路のために信号の波形及び振幅の整形を行う。
波高弁別器83は、一定以上の振幅を有する信号を選択
し、信号入力時から(信号の振幅によらず)常に一定の
タイミングで次段の時間−波高変換器85の処理に都合
のよい立上りの早いデジタルパルスを出力する。
【0022】遅延回路84は、マグネットワイヤ3Cの
一端から時間−波高変換器85までの系とマグネットワ
イヤ3Cの他端から時間−波高変換器85までの系との
間において、双方の系を伝達する信号に時間差を生成す
る。
一端から時間−波高変換器85までの系とマグネットワ
イヤ3Cの他端から時間−波高変換器85までの系との
間において、双方の系を伝達する信号に時間差を生成す
る。
【0023】時間−波高変換器85は、前述の2つの系
に現れたデジタルパルスの時間差をパルスの振幅に比例
変換して出力する。多重波高分析器86は、入力された
パルスをそのパルスの振幅に応じたメモリ位置(memory
channel)に記憶し、多数のパルスの振幅情報のヒスト
グラムを表示する。
に現れたデジタルパルスの時間差をパルスの振幅に比例
変換して出力する。多重波高分析器86は、入力された
パルスをそのパルスの振幅に応じたメモリ位置(memory
channel)に記憶し、多数のパルスの振幅情報のヒスト
グラムを表示する。
【0024】次に、このように構成される放射線入射位
置検出装置1の具体的なX線入射位置検出方法につい
て、図2を使用し説明する。
置検出装置1の具体的なX線入射位置検出方法につい
て、図2を使用し説明する。
【0025】まず、放射線入射位置検出装置1におい
て、本体ケース2に配置された陽極部4のX線の検出方
向の有効長をL、有効範囲をカバーするマグネットワイ
ヤ3Cの遅延時間をTdとする。つまり、単位有効長当
たりの遅延時間はTd/Lで求められる。また、X線の
入射位置をxとする。
て、本体ケース2に配置された陽極部4のX線の検出方
向の有効長をL、有効範囲をカバーするマグネットワイ
ヤ3Cの遅延時間をTdとする。つまり、単位有効長当
たりの遅延時間はTd/Lで求められる。また、X線の
入射位置をxとする。
【0026】入射位置xに入射されたX線は本体ケース
2の空洞内のPRガスを励起し、電荷を生成する。この
電荷は入射位置xにおいて陽極部4の該当する位置の陽
極針41にパルスを発生させる。このパルスは陽極針4
1から容量結合によって遅延線3のマグネットワイヤ3
Cに伝達され、伝達されたパルスはマグネットワイヤ3
Cの両端a、bの双方に伝達される。マグネットワイヤ
3Cの一端aにパルスが伝達される時間Ta、他端bに
パルスが伝達される時間Tbは次式で表すことができ
る。
2の空洞内のPRガスを励起し、電荷を生成する。この
電荷は入射位置xにおいて陽極部4の該当する位置の陽
極針41にパルスを発生させる。このパルスは陽極針4
1から容量結合によって遅延線3のマグネットワイヤ3
Cに伝達され、伝達されたパルスはマグネットワイヤ3
Cの両端a、bの双方に伝達される。マグネットワイヤ
3Cの一端aにパルスが伝達される時間Ta、他端bに
パルスが伝達される時間Tbは次式で表すことができ
る。
【0027】Ta=(L−x)・Td/L Tb=x・Td/L ここで、一端aにパルスが到着する時刻を基準にする
と、両端a、bでの時間差Tdiffは、次式で表すことが
できる。
と、両端a、bでの時間差Tdiffは、次式で表すことが
できる。
【0028】 Tdiff=Tb−Ta=2・x・Td/L−Td 遅延時間Td及び有効長Lは定数なので、時間差Tdiff
は入射位置xの一次関数で表すことができる。この時間
差を測定することにより、実際にX線が入射した位置を
求めることができる。ただし、時間差Tdiffはx<L/
2のとき負になるので測定上不都合であるため、時間差
Tdiffの基準とする側(一端a側)のパルスが必ず先行
するように、他方の側(他端b側の系)に遅延時間Td
よりも大きな遅延時間を持つ遅延回路84が挿入され
る。
は入射位置xの一次関数で表すことができる。この時間
差を測定することにより、実際にX線が入射した位置を
求めることができる。ただし、時間差Tdiffはx<L/
2のとき負になるので測定上不都合であるため、時間差
Tdiffの基準とする側(一端a側)のパルスが必ず先行
するように、他方の側(他端b側の系)に遅延時間Td
よりも大きな遅延時間を持つ遅延回路84が挿入され
る。
【0029】前記時間差Tdiffの測定は、時間−波高変
換器85及び多重波高分析器86で行われる。つまり、
2つの系におけるパルスの伝達の時間差Tdiffは時間−
波高変換器85によりパルスの振幅に変換され、このパ
ルスは多重波高分析器86でA/D変換され、この変換
されたデジタルパルスは波高値毎に異なるメモリチャン
ネルに記憶される。そして、実際のX線の入射位置は多
重波高分析器86のディスプレイにおいて、ヒストグラ
ムとして表示される。なお、前記時間差Tdiffは直接デ
ジタルパルスに変換してもよい。
換器85及び多重波高分析器86で行われる。つまり、
2つの系におけるパルスの伝達の時間差Tdiffは時間−
波高変換器85によりパルスの振幅に変換され、このパ
ルスは多重波高分析器86でA/D変換され、この変換
されたデジタルパルスは波高値毎に異なるメモリチャン
ネルに記憶される。そして、実際のX線の入射位置は多
重波高分析器86のディスプレイにおいて、ヒストグラ
ムとして表示される。なお、前記時間差Tdiffは直接デ
ジタルパルスに変換してもよい。
【0030】以上説明したように、本実施例の放射線入
射位置検出装置1では、複数本の陽極針41で構成され
た陽極部4とマグネットワイヤ3Cとの間が容量結合さ
れ、前記マグネットワイヤ3Cが入射位置読出し回路8
に接続されている。すなわち、陰極部5に代えて、X線
の入射位置に従った電荷は陽極部4の複数本の陽極針4
1から得られる。陰極部5は電荷の収集や増幅のための
電場の形成を専ら行う。従って、陽極部4において、陽
極針41付近の電界強度が向上できるので、放射線の検
出感度が向上できるとともに、陰極部5の構造を簡易化
できる。
射位置検出装置1では、複数本の陽極針41で構成され
た陽極部4とマグネットワイヤ3Cとの間が容量結合さ
れ、前記マグネットワイヤ3Cが入射位置読出し回路8
に接続されている。すなわち、陰極部5に代えて、X線
の入射位置に従った電荷は陽極部4の複数本の陽極針4
1から得られる。陰極部5は電荷の収集や増幅のための
電場の形成を専ら行う。従って、陽極部4において、陽
極針41付近の電界強度が向上できるので、放射線の検
出感度が向上できるとともに、陰極部5の構造を簡易化
できる。
【0031】図3に、放射線入射位置検出装置1の変形
例を示す。
例を示す。
【0032】放射線入射位置検出装置1は前述の例と同
様に陽極部4においてX線の入射位置を検出する。陽極
部4は複数本の陽極針41で構成され、複数本の陽極針
本体42の他端側は電気的に並列にマグネットワイヤ3
Cに直接接続される。このマグネットワイヤ3Cは入射
位置読出し回路8に接続される。また、高電圧発生源7
は図示しないが陰極部5に接続され、この陰極部5に負
の高電圧が印加される。
様に陽極部4においてX線の入射位置を検出する。陽極
部4は複数本の陽極針41で構成され、複数本の陽極針
本体42の他端側は電気的に並列にマグネットワイヤ3
Cに直接接続される。このマグネットワイヤ3Cは入射
位置読出し回路8に接続される。また、高電圧発生源7
は図示しないが陰極部5に接続され、この陰極部5に負
の高電圧が印加される。
【0033】図4に、放射線入射位置検出装置1の他の
変形例を示す。
変形例を示す。
【0034】この放射線入射位置検出装置1において
は、前記陰極部5に代えて本体ケース2及びX線入射窓
22が導電性材料(金属材料)で構成され、この本体ケ
ース2及びX線入射窓22で陰極部が構成される。つま
り、陰極部は陽極部4、特に陽極針41の周囲全体を取
り囲む形状で構成される。
は、前記陰極部5に代えて本体ケース2及びX線入射窓
22が導電性材料(金属材料)で構成され、この本体ケ
ース2及びX線入射窓22で陰極部が構成される。つま
り、陰極部は陽極部4、特に陽極針41の周囲全体を取
り囲む形状で構成される。
【0035】このように構成される放射線入射位置検出
装置1では、陽極部4を中心にその周囲に陰極部(本体
ケース2及びX線入射窓22)が配置されるので、ケー
ス内全域にわたって電場が形成できる。また、放射線入
射位置検出装置1は、電荷の収集能力を向上できる。
装置1では、陽極部4を中心にその周囲に陰極部(本体
ケース2及びX線入射窓22)が配置されるので、ケー
ス内全域にわたって電場が形成できる。また、放射線入
射位置検出装置1は、電荷の収集能力を向上できる。
【0036】なお、本発明は、前記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種
々変更できる。例えば、本発明は、湾曲構造を有する本
体ケースに限定されず、いわゆる直線構造を有する本体
ケースで構成される放射線入射位置検出装置に適用でき
る。また、本発明は、X線以外の放射線の検出装置に適
用できる。
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種
々変更できる。例えば、本発明は、湾曲構造を有する本
体ケースに限定されず、いわゆる直線構造を有する本体
ケースで構成される放射線入射位置検出装置に適用でき
る。また、本発明は、X線以外の放射線の検出装置に適
用できる。
【0037】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
放射線入射位置検出装置において、放射線の検出感度を
向上でき、かつ構造を簡易化できる。
放射線入射位置検出装置において、放射線の検出感度を
向上でき、かつ構造を簡易化できる。
【0038】また、本発明によれば、放射線の検出感度
をより一層向上できる。
をより一層向上できる。
【図1】本発明の放射線入射位置検出装置の部分断面斜
視図である。
視図である。
【図2】前記放射線入射位置検出装置のブロック構成図
である。
である。
【図3】本発明の変形例の放射線入射位置検出装置の部
分構成図である。
分構成図である。
【図4】本発明の変形例の放射線入射位置検出装置の部
分断面斜視図である。
分断面斜視図である。
1 放射線入射位置検出装置 2 本体ケース 3 遅延線 3C マグネットワイヤ 4 陽極部 41 陽極針 42 陽極針本体 43 絶縁体 44 先端部 5 陰極部 7 高電圧発生源 8 入射位置読出し回路
Claims (2)
- 【請求項1】 放射線の入射位置を検出する放射線入射
位置検出装置において、 相互に電気的に絶縁された状態で配列された複数本の陽
極針から成る陽極部と、 前記陽極部との間に電圧が印加される陰極部と、 前記複数本の各陽極針が電気的に並列接続された遅延線
と、 前記遅延線に接続された放射線の入射位置読出し手段
と、 を有することを特徴とする放射線入射位置検出装置。 - 【請求項2】 前記陰極部は前記複数本の陽極針の周囲
を取り囲む形状を有することを特徴とする請求項1に記
載の放射線入射位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6014649A JPH07218643A (ja) | 1994-02-08 | 1994-02-08 | 放射線入射位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6014649A JPH07218643A (ja) | 1994-02-08 | 1994-02-08 | 放射線入射位置検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07218643A true JPH07218643A (ja) | 1995-08-18 |
Family
ID=11867056
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6014649A Pending JPH07218643A (ja) | 1994-02-08 | 1994-02-08 | 放射線入射位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07218643A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5515096A (en) * | 1978-07-12 | 1980-02-01 | Commissariat Energie Atomique | Device of detecting and positioning radiation |
| JPH01211852A (ja) * | 1987-10-17 | 1989-08-25 | Lab Prof Dr Rudolf Berthold Gmbh & Co | 電離放射線を位置的に高感度に測定する二次元比例計数管 |
-
1994
- 1994-02-08 JP JP6014649A patent/JPH07218643A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5515096A (en) * | 1978-07-12 | 1980-02-01 | Commissariat Energie Atomique | Device of detecting and positioning radiation |
| JPH01211852A (ja) * | 1987-10-17 | 1989-08-25 | Lab Prof Dr Rudolf Berthold Gmbh & Co | 電離放射線を位置的に高感度に測定する二次元比例計数管 |
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