JPH07218946A

JPH07218946A - 画像振れ防止のための制御装置

Info

Publication number: JPH07218946A
Application number: JP1174794A
Authority: JP
Inventors: Yasuhiko Shiomi; 泰彦塩見
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1994-02-03
Filing date: 1994-02-03
Publication date: 1995-08-18

Abstract

(57)【要約】【目的】メカニカルな部材の動作が画像振れ防止に及
ぼす影響、例えば、スチルカメラのレリーズ動作時に発
生するメカニカルな衝撃により起こる画像振れ検出手段
の誤検出等を最小限にとどめる。【構成】上述のような悪影響を及ぼす要因が発生する
ことを予測するための予測手段と、その予測手段に応じ
て上記悪影響に対処するための対処手段を設けた。具体
的には、レリーズ期間中の所定タイミングや、センサ出
力からの特定信号の検出により、センサ処理手段の特性
そのものを変更したり、若しくは補正光学系の駆動特性
そのものを変更する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、カメラ等の機器の像ぶ
れを防止するための像ぶれ防止装置に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の像ぶれ防止装置として
は、図１６に示される様にカメラ本体１００内に、図中
に示したカメラのフィルム面に平行な２つの垂直軸Ｙ
軸、及びＰ軸回りの回転振れを検出するセンサ１０２及
び１０３があり、この両センサからの出力が、変換回路
１０４、１０５でそれぞれ所定の信号レベルに変換され
た後、この出力に基づき補正光学系１０７が所定方向に
駆動され、像ぶれを補正する構成となっている。

【０００３】

【発明が解決しようとしている課題】しかしながら、従
来からの方法では、図１６に示した様にカメラのレリー
ズボタン１０１の操作により、実際のレリーズシーケン
スが開始した場合、一眼レフカメラではまずミラー１０
６が図中の上方向にはね上がった後、次にシャッターユ
ニット１０８の動作が開始し、フィルム面への露光が行
われる。この時、ミラーやシャッターといったメカニカ
ルな部材の移動に供って発生する衝撃力により、前述し
たセンサ１０２、１０３では実際の手振れやメカニカル
な振れとは異なる誤信号が発生してしまう。従って、こ
の状態でセンサからの信号をそのまま何もせずに変換回
路１０４、１０５を通して補正光学系１０７への駆動信
号として入力すると、実際の露光期間中ではこの誤信号
により充分な振れ補正が行われず、撮影された写真その
ものへの効果は非常に少ないものになってしまうという
欠点があった。

【０００４】

【課題を解決するための手段】本発明は、画像振れを検
出するための振れ検出手段及び前記振れ検出手段に応答
して画像振れを防止するための振れ防止手段の少なくと
もいずれか一方が不適切な作用をすると予想される要因
が発生したことを前記振れ検出手段及び前記振れ防止手
段が実際に不適切な作用をする前に前記要因の発生を直
接的及び間接的の少なくともいずれか一方にて予測する
ための予測手段と、前記予測手段に応答して前記振れ検
出手段及び前記振れ防止手段の少なくともいずれか一方
の不適切な作用に対処するための対処手段と、前記対処
手段を所定時間作用させる計時手段とを有することを特
徴とし、その構成により画像振れ防止性能が劣化するこ
とを防止するようにしたものである。

【０００５】また本発明は、画像振れを検出するための
振れ検出手段及び前記振れ検出手段に応答して画像振れ
を防止するための振れ防止手段の少なくともいずれか一
方が不適切な作用をすると予想される要因が発生したこ
とを前記振れ検出手段及び前記振れ防止手段が実際に不
適切な作用をする前に前記要因の発生を直接的及び間接
的の少なくともいずれか一方にて予測するための予測手
段と、前記予測手段が前記要因の発生を予測した後実際
に前記要因が発生することに応答して前記振れ検出手段
及び前記振れ防止手段の少なくともいずれか一方の不適
切な作用に対処するための対処手段とを有することを特
徴とし、その構成により画像振れ防止性能が劣化するこ
とを防止するようにしたものである。

【０００６】さらに本発明は、画像振れを検出するため
の振れ検出手段及び前記振れ検出手段に応答して画像振
れを防止するための振れ防止手段の少なくともいずれか
一方が不適切な作用をすると予想される要因が発生した
ことを前記振れ検出手段及び前記振れ防止手段が実際に
不適切な作用をする前に前記要因の発生を直接的及び間
接的の少なくともいずれか一方にて予測するための予測
手段と、前記予測手段に応答して前記振れ検出手段及び
前記振れ防止手段の少なくともいずれか一方を通常とは
異なる状態で作用させるための対処手段とを有すること
を特徴とし、その構成により画像振れ防止性能が劣化す
ることを防止するようにしたものである。

【０００７】

【実施例】

（第１の実施例）図１は本発明の第１の実施例の像振れ
防止装置の全体構成を示すブロック図で、図１におい
て、ＣＰＵ１はカメラ全体の制御及び防振システムの制
御を同時に司る為のマイクロコンピュータ等で構成され
た制御回路である。カメラ全体の振れを検出する振れセ
ンサ５の出力は、Ａ／Ｄコンバータ２に直接入力される
と共に積分手段６で積分演算為された結果も同様にＡ／
Ｄコンバータ２に入力される構成となっている。このセ
ンサ５及び積分手段６の具体的構成を示したものが図２
で、振れセンサとしてはコリオリ力を利用した振動ジャ
イロ等が用いられる。図２において振動子５０は駆動回
路５２によって共振駆動されると共に、同期検波回路５
１によってカメラに作用する振れの角速度に比例した信
号レベルに変換される。又、この出力信号には通常の振
れ信号と無関係なＤＣ成分が含まれているので、この成
分を取り除く為にＯＰアンプ５３、コンデンサ５４、抵
抗５５、５６、５７で構成されるハイパスフィルタが設
けられている。そしてこのＯＰアンプ５３の出力が図１
に示した様にＡ／Ｄコンバータ２へ入力されることにな
る。又、このＯＰアンプ５３の出力は、ＯＰアンプ５
８、抵抗５９、６１、コンデンサ６０で構成される積分
回路へ入力され、ここで角速度から角変位への変換が行
われて、図２のＡ／Ｄコンバータ２へ入力される。この
様に、振れセンサ５の出力及びその変換出力はＡ／Ｄコ
ンバータ２によってデジタルデータに変換された後、Ｃ
ＰＵ１内に取り込まれ所定の演算が為される。

【０００８】一方、図１において撮影レンズ１０の一部
若しくは前面等に取り付けられる補正光学系２３の実際
の動き量は補正光学系位置検出手段２４によって検出さ
れ、この出力が上述した積分手段６の出力と、比較手段
１７によって比較され、振れセンサ５によって検出され
た振れ量と補正光学系２４の変位との差分出力が増幅さ
れる。

【０００９】この比較手段１７で、差分増幅された結果
の出力は、補正光学系駆動手段２５へ入力され、ここ
で、補正光学系駆動手段２５から補正光学系駆動コイル
２ｂに対して前述の差分がなくなるように、駆動電力が
供給され、その電磁気的な発生力によって補正光学系２
３が駆動される。ここで、振れセンサで検出される単位
角度当たりの出力と、補正光学系の単位補正角度あたり
の出力が等しく設定してあれば、手振れに対する充分な
像振れ防止動作が実現できる。尚、９は公知の方法によ
って光学系の焦点距離を検出する手段で、２７は像振れ
防止機能を作用させるか否か選択するための手段であ
る。

【００１０】次に、この補正光学系２３の具体的構成が
図３に示されている。図３に示されている補正光学系２
３は、レンズを光軸と垂直なｘｙ方向に平行シフトする
ことにより、カメラの撮影光学系に入射する光路を偏心
させる所謂シフト光学系の構成を示したもので、図３に
おいて８０及び８１はそれぞれ電磁駆動力を発生し、
ｘ、ｙ軸方向の駆動源となる磁気回路ユニットを構成す
るヨーク部であり、又、８２、８３はこのヨークと対を
なすコイルを表している。よってこのコイル部分に、前
述した補正光学系駆動手段２５から電力が供給される事
により、撮影レンズの一部を為すレンズ８４が図示した
ｘ、ｙ軸方向に偏心駆動される。更に、８５は上記レン
ズ８４を固定する為の支持枠及び支持アームであり、こ
のシフトレンズの実際の動きは、レンズと一体となって
動くｉＲＥＤ８６、８７及びシフトレンズ全体を保持す
る鏡筒部９０に取り付けられたＰＳＤ９２、９３との組
み合わせによって非接触に検出される。又、８８はこの
シフト系への通電を停止した時にレンズを略光軸中心位
置に保持する為のメカロック機構を、８９はチャージピ
ンを、９１はシフト系の倒れ方向を規制する為のあおり
止めとしての支持球をそれぞれ表している。

【００１１】次に本実施例のＣＰＵ１による動作制御の
様子を図４、図５のフローチャート及び図６のタイミン
グチャートを用いて説明を行う。まずフロー２００では
カメラのレリーズ操作によるＳＷ１（図１の１８で示し
たもの）がＯＮしているかどうかの判定を行い、このス
イッチがＯＮしているものと判断された場合は、直ちに
フロー２０１へ進む。ここでは図１に示した様に補正光
学系２３、撮影光学系１０を通して入射する被写体光が
メインミラー１１で反射された後、サブミラー１２、測
光学系１３を通して測光手段１４中の測光センサ１４へ
入射し、この光量レベルに相当する出力が測光手段中の
測光回路を通して出力されるのでＣＰＵ１は、この出力
をＡ／Ｄコンバータ２を介してＣＰＵ１内に測光データ
として取り込む。次にフロー２０２ではこの測光データ
を基に、所定のシャッタ速度と絞り値を決定する為の演
算を行い、その結果をＣＰＵ１内のＲＡＭに記憶する。
次にフロー２０３では、補正光学系２３、撮影光学系１
０を通して入射する被写体光が、メインミラー１１、サ
ブミラー１２、２８、ＡＦ光学系２９を通して測距手段
３０のセンサへ入射し、この測距手段中の増幅回路によ
って所定レベルに増幅された後、この出力を順次Ａ／Ｄ
コンバータ２を介してＣＰＵ１内に取り込む。続いて、
フロー２０４ではこの測距手段３０からの結果等に基づ
き、デフォーカス量の演算を行い。フロー２０５で合焦
状態に達しているかどうかの判定を行う。合焦状態に達
していないものと判断された場合は、フロー２０６へ進
んで、上述したデフォーカス量に基づくフォーカスレン
ズ（撮影レンズ１０内に含まれる）の駆動をモータ駆動
手段７及びフォーカス駆動モータ８を駆動することによ
って実行する。以上の様にフロー２０３〜２０６の動作
は、ピントが合焦状態に達する迄、繰り返し行われ、合
焦と判定されるとフロー２０７へ進むことになる。次に
フロー２０７では撮影者が実際のレリーズ操作を開始す
る為のＳＷ２（図１のスイッチ１９で示したもの）がＯ
Ｎしているかどうかの判定が行い、まだＯＮしていない
場合は、フロー２０８で再びＳＷ１がＯＮしているかど
うかの判定を行う。ここでＳＷ１がＯＮしていない場合
は、直ちにカメラ操作が停止し、フロー２００へ進むこ
とになるが、まだＯＮしている場合は再びフロー２０７
へ戻り、ＳＷ２のスイッチ判定が行う。フロー２０７で
ＳＷ２がＯＮ状態にあると判断された場合は、フロー２
０９へ進み、ここでＣＰＵ１からの制御信号によって、
ミラー駆動手段２１を介して、ミラー駆動用モータ２２
への通電を行い、ミラー１１のアップ動作を開始させ、
フロー２１０ではＣＰＵ１内部のタイマ回路に計時動作
を開始させる。この動作タイミングチャートを示したも
のが図６であり、ミラー駆動を開始させると、ミラーが
動き出す為、この時のメカ的な作用により、センサ出力
には図６に示される様な、通常の手振れ成分に比較する
と、高周波でかつ振幅の大きな信号が表れる。この信号
には、当然上述した手振れ等によるカメラ本体の振れ
と、衝撃等によって発生するセンサ自体の誤信号が含ま
れていることから、この信号を実際の積分手段６で積分
した波形は、図６のセンサ積分出力の実線で示した様な
形となって表れる。前述した様にこの出力に応じて補正
光学系２３は駆動されるので、補正光学系位置検出手段
２４の補正系出力も図６に示される実線の様な波形とな
り、本来の振れよりも過剰な補正が行われることにな
る。この動作を防ぐ為に、フロー２１１ではＣＰＵ１の
制御出力ＩＮＴＬＶＬを直ちにＨレベルとし、この結
果、図２の積分回路のフィードバック部に設けられてい
るアナログスイッチ６３がＯＮとなることから、アナロ
グスイッチ６３と直列に接続されている抵抗６２が有効
となる。従って、最終的にはコンデンサ６０、抵抗６
１、６２が全て並列の状態になるので積分器の時定数が
変化し、この積分器の周波数特性は、図７の点線で示さ
れる様に、低減側のゲインが小さくなる様な特性にシフ
トしていく。この積分器の時定数切換えにより、実際の
積分出力の結果は、図６の点線で示される様に変化し、
当然補正系の出力変位も点線で示した様に変化すること
から、前述した様なミラーアップショック等によるセン
サエラーの影響を最小限にとどめることが可能となる。
この時定数が変化したままの状態で、フロー２１２で
は、ＣＰＵ１内部のタイマ回路の計時が所定時間Ｔ_Mに
達したかどうかの判定を行うことにより、上述したミラ
ーのアップが完了したかどうかの判定がためされ、所定
時間Ｔ_Mに達していることが判定されるとこのミラーア
ップが完了したとみなして、フロー２１３ではこのミラ
ーアップの通電が停止し、続いてフロー２１４ではＣＰ
Ｕ１はＩＮＴＬＶＬ出力をＬレベルとするので、図２の
アナログスイッチ６３はＯＦＦとなって、積分器は再び
元の周波数特性に復帰する。尚、所定時間Ｔ_Mはミラー
アップにより影響が出ない様な状態になるまでに要する
と考えられる時間に設定される。この後、所定時間が経
過すると今後はフロー２１５で、シャッタ駆動手段１５
を介してシャッタ先幕走行が開始させる。この先幕走行
によっても、図６のセンサ出力に示した様な高周波の波
形が生ずるので、これを防ぐ為にフロー２１６で再びＩ
ＮＴＬＶＬをＨレベルとし、前述の場合と同様に積分器
の周波数特性を高域側にシフトする。フロー２１７で
は、ＣＰＵ１内部のタイマ回路のカウンタ値を一端初期
セットし、フロー２１８ではこの値が所定時間Ｔ_SFに達
したかどうかの判定を行い、達したことが検知されると
フロー２１９でＩＮＴＬＶＬをＬレベルとし、それによ
って一端積分器の周波数特性が元の状態に復帰する。
尚、この所定時間Ｔ_SFは、シャッタ先幕の走行による影
響が出ない様な状態になるまでに要すると考えられる時
間に設定される。その後、フロー２２０では、上述した
ＣＰＵ１の内部タイマのカウント値が、フロー２０２で
算出されたシャッタ速度に相当する値Ｔ_AEに達したかど
うかの判定を行い、この時間に達した事が検出すると直
ちにフロー２２１へ進んで今度はシャッタ駆動手段１５
を介して後幕の走行を開始させ、この後幕走行の動作に
対しても図６のセンサ出力波形に示した様な高周波の信
号が発生するので、この場合もフロー２２２でＣＰＵ１
のＩＮＴＬＶＬ出力をＨレベルとし、積分器の周波数特
性を高域側へシフトさせる。フロー２２３では上述した
ＣＰＵ１内部のタイマ回路のカウンタ値を再び初期リセ
ットし、先幕走行の場合と同様にフロー２２４でこのタ
イマの時間が所定時間Ｔ_SRに達したかどうかの判定を行
い、Ｔ_SRに達した時点でフロー２２５で再びＩＮＴＬＶ
ＬをＬレベルとし、それによって積分器の特性が元の状
態に復帰することになる。尚、所定時間Ｔ_SRはシャッタ
後幕の走行による影響が出ないような状態になるまでに
要すると考えられる時間に設定される。この後、所定時
間が経過するとフロー２２６で先、後幕への通電を停止
し、続いてフロー２２７でミラー駆動手段２１を介して
ミラー駆動モータ２２への通電を行い、今度は図１に示
されるミラー１１のダウンを行わせ、フロー２２８で
は、ＣＰＵ１内部のタイマ回路を再びリセットする。こ
の場合も上述したのと同様に、まずフロー２２９でＩＮ
ＴＬＶＬをＨレベルとし、積分器の特性を一端高周波数
側にシフトさせ、フロー２３０でタイマの計時がＴｍに
達したことを判定することによりミラーダウンの動作が
完了したことが検知されるとフロー２３１でミラー駆動
モータ２２への通電を停止し、最後にフロー２３２でＩ
ＮＴＬＶＬを再びＬレベルとし、それによって、積分器
の特性が元のレベルに復帰する。尚、所定時間Ｔｍはミ
ラーダウンによる影響が出ないような状態になるまでに
要すると考えられる時間に設定される。

【００１２】この様に、本実施例ではミラーのアップ／
ダウン、シャッタの先／後幕走行のタイミングに応じて
適宜、積分器の周波数特性を切り換える様にしたもので
あるが、積分器の特性としてはセンサの出力に応じて２
段階以上の複数段階に切り換える事も可能である。又、
実際の写真に影響するのはシャッター制御期間中だけな
ので、場合によってはミラーのアップ／ダウン時の積分
器の切り換え動作は省略し、シャッタの先、後幕走行時
のみ積分器の切り換えを行うことも有効である。

【００１３】尚、図４において、フロー２１１をフロー
２０９の前に、フロー２２９をフロー２２７の前に移す
ことも可能である。また、同様に、フロー２１３とフロ
ー２１４、フロー２１５とフロー２１６、フロー２２１
とフロー２２２、フロー２２５とフロー２２６、フロー
２３１とフロー２３２をそれぞれ入れ替えてもよい。

【００１４】また、ミラーの状態を直接検出するための
検出手段を設け、フロー２１１、２２９において、その
検出手段によりミラーアップまたはダウンが開始された
ことが検出されることに応じて積分回路の特性を変更す
るようにしてもよい。

【００１５】同様に、シャッタ先、後幕の状態を直接検
出する為の検出手段をそれぞれ設け、図４のフロー２１
６、２２２において、上述の各検出手段によって先、後
幕各々が走行を開始したことが検出されることに応じて
積分回路の特性を変更することも可能である。

【００１６】又、図４のフロー２１１、２１６、２２２
それぞれにおいて互いに異なる積分特性に切り換えるこ
とも可能である。

【００１７】更に、図４のステップ２１４において、積
分特性をフロー２１１以前の特性に復帰させているが、
ここで積分特性を、フロー２１１における切換前の特性
と切換後の特性の中間的な特性に切り換えることも可能
である。又、図４のステップ２１９、２２５においても
同様のことが可能である。

【００１８】また、積分特性を切り換えるかわりに、図
２のコンデンサ５４、抵抗５５、５６、５７で構成され
るハイパスフィルタの時定数を変更することにより、そ
のハイパスフィルタの特性を変更するように構成するこ
とも可能である。

【００１９】又、図４のフロー２１１、２１４、２１
６、２１９、２２２、２２５、２２９、２３２において
変更される各々の積分特性を焦点距離、シャッタスピー
ド等の撮影条件に応じて変化させるように構成すること
も可能である。

【００２０】尚、上述の図４、図５のフローチャート
は、シャッタ秒時が比較的長い場合に対応したものであ
り、例えば、シャッタ秒時が所定値より短いときは手振
れ等があまり撮影結果に影響を及ぼさないので像振れ防
止を行わず、シャッタ秒時が所定値より長いときは像振
れ防止を行う様に設定した場合に適用される。

【００２１】しかし、比較的短いシャッタ秒時に対して
も像振れ防止を行うように設定した場合、図４、図５の
フローチャートは、シャッタ秒時が短いとき（Ｔ_AE＜Ｔ
_SF）には露光時間が不適正になってしまう。そこで、比
較的短いシャッタ秒時にも対応するために、第１の実施
例の変形例として図４のフロー２１８〜２２０を図８の
フロー２４０〜２４２に変えることも考えられる。

【００２２】これは、比較的短いシャッタ秒時にも対応
するためにシャッタ速度に相当するタイマの計時値Ｔ_AE
がフロー２４０における計時値Ｔ_SFより短い場合を考慮
したものである。

【００２３】図８に従って説明すると、フロー２４０で
字形値がＴ_SFに達していれば、フロー２４１へ進み、積
分特性を復帰させ、それからフロー２４２へ進み、一
方、フロー２４０で計時値がＴ_SFに達していなければフ
ロー２４２へ進む。フロー２４２では、計時値がＴ_AEに
達していれば、フロー２２１へ進み、達していなければ
フロー２４０へ戻る。

【００２４】つまり、図８のフローチャートにおいて
は、Ｔ_SF＞Ｔ_AEである場合はタイマの計時がＴ_SFに達し
ていなくても、Ｔ_AEに達した時点で後幕走行を開始さ
せ、また積分時定数に関してはシャッタ対策用の値にそ
の後のフロー２２５まで維持することになる。

【００２５】又、比較的シャッタ秒時が短い場合は、ミ
ラー、先、後幕走行によるシャッタの撮影結果に及ぼす
影響は小さくなるので、第１の実施例の変形例として、
そのような場合はシャッタ対策の特性変更を行わないよ
うにすることも考えられる。

【００２６】図９は、その変形例に関するフローチャー
トを示すもので、図４のフローチャートのフロー２１５
と２１６の間にフロー２５０を設け、フロー２１８〜２
２０をフロー２４０〜２４２に変え（図７と同様）、更
に、フロー２２１と２２２の間にフロー２５１をそれぞ
れ設けたというものである。図９に従ってその動作を説
明する。

【００２７】フロー２５０で、シャッタ秒時Ｔ_AEが所定
値Ｔ_thより長いと判定された場合、フロー２１６へ進
み、シャッタ秒時Ｔ_AEが所定値Ｔ_thより短いと判定され
た場合、フロー２１６を通らずフロー２１７へ進む。フ
ロー２１６、２１７、２２１の動作は図４と、フロー２
４０〜２４２は図８とそれぞれ同様であるのでここでは
説明を省略する。

【００２８】フロー２５１で、シャッタ秒時Ｔ_AEが所定
値Ｔ_thより長いと判定された場合、フロー２２２へ進
み、シャッタ秒時Ｔ_AEが所定値Ｔ_thより短いと判定され
た場合は、フロー２２２〜２２５を通らず、フロー２２
６へ進む。フロー２２２〜２２６は図４、図５と同様で
あるのでここでは説明を省略する。

【００２９】尚、所定値Ｔ_thは手振れ等の影響が撮影結
果に及ぼされないと考えられる限界シャッタ秒時に相応
する値に設定される。

【００３０】（第２の実施例）次に本発明の第２の実施
例の像ぶれ防止装置の動作について、図１０〜図１３を
用いて説明する。図１０は図２に示した振れ検出センサ
及びその処理回路の一部が異なるものを示す構成図で、
振れ検出センサとしての振動ジャイロ５０からＯＰアン
プ５３のフィードバック抵抗５７迄は図２と全く同じな
ので説明は省略する。図１０に於て、ＯＰアンプ５３の
出力は、アナログＳＷ７１、抵抗７２を介してＯＰアン
プ７０の入力に接続され、又、このＯＰアンプ７０の入
力端をグランドの間にはコンデンサ７３が接続されてい
る。ここで、アナログＳＷ７１は、ＣＰＵ１からの制御
信号ＬＶＬＳＥＴのインバータ７８による反転制御信号
によってコントロールされ、このアナログＳＷ７１とコ
ンデンサ７３の回路構成によりサンプルオールド回路が
形成される。更にＯＰアンプ７０の出力は、ＯＰアンプ
７４、抵抗７５、７６、コンデンサ７７で構成される積
分回路へ入力され、ここで振れ角速度出力は所定の振れ
変位出力に変換される。

【００３１】続いて、図１１、図１２のフローチャート
及び図１３のタイミングチャートを用いて本実施例での
ＣＰＵ１の制御動作の流れを説明する。図１１のフロー
チャートでフロー３００〜３０９については、図４のフ
ロー２００〜２０９と全く同じなのでここでの説明は省
略する。フロー３０９でカメラ本体のミラー１１のアッ
プ駆動を開始させると、直ちにフロー３１０に於て図１
０のＯＰアンプ５３の出力であるセンサ出力のＡ／Ｄ変
換を開始させる。フロー３１１ではこのセンサ出力が所
定値以上であるかどうかの判定を行い、この結果が所定
値よりも小さい場合にはフロー３１２でＬＶＬＳＥＴを
Ｌレベルとし、それによってアナログＳＷ７１はＯＮ状
態になる。

【００３２】従って、この状態では抵抗７２、コンデン
サ７３で構成されるローパスフィルタのカットオフ周波
数が手振れ信号帯域に比べ充分高い値に設定されている
ので、ＯＰアンプ７０の出力はＯＰアンプ５３の出力で
あるセンサ出力と全く同じであり、この出力によって後
段の積分回路によって所定変位出力に変換される。

【００３３】一方、フロー３１１でセンサ出力が所定値
よりも大きいと判断された場合には、フロー３１３へ進
んでここでＬＶＬＳＥＴをＨとし、それによって、上記
アナログＳＷ７１は今度はＯＦＦ状態になる。この場
合、ＯＰアンプ７０ではコンデンサ７３の働きにより、
アナログＳＷ７１がＯＦＦする直前のＯＰアンプ５３の
レベルが保持されることになるので、これ以降一定の信
号レベルが出力され、この出力に基づき後段の積分回路
により所定変位出力に変換される。上記動作の様子を図
１３で説明するとミラーアップの開始によりセンサ出力
には、図示した様な高周波大振中の信号が表われ、この
値が図１３に示した正側所定レベル及び負側所定レベル
を越えると、上記ＣＰＵ１によるＬＶＬＳＥＴがＨとな
って上記サンプルホールド回路のホールド動作が行わ
れ、センサ出力に対し一定のリミッタが働くことにな
る。この結果センサ積分出力は図中の点線で示した様に
変化し、当然の事ながら、このセンサ積分出力に追従す
る様に動作する補正系の変位出力も点線で示した様に変
化する事からミラーアップショック等によるセンサエラ
ーの影響を最小限にする事が可能となる。次に、フロー
３１４ではミラーアップが完了したかどうかが判定し、
ミラーアップが完了していない場合には、上記フロー３
１０〜３１３の動作が繰り返す。

【００３４】更に、フロー３１４でミラーアップの完了
が検知されると、直ちにフロー３１５でミラーアップの
駆動通電を停止し、フロー３１６でＣＰＵ１の制御出力
ＬＶＬＳＥＴを強制的にＬレベルとし、それによってア
ナログＳＷ７１はＯＮ状態となり、これ以降センサ出力
に対する通常の積分動作が再開される。次にフロー３１
７で先幕走行が開始させ、フロー３１８でタイマをスタ
ートさせた後は、再びフロー３１９〜３２２ではフロー
３１０〜３１３と全く同様にセンサ出力に対しての判定
動作を行わせ、それによって所定値以上のセンサ出力に
対してリミッタが動作する事になる。フロー３２３でタ
イマの時間がフロー３０２によって求められるシャッタ
速度に相当する時間Ｔ_AEに達したかどうかの判定を行
い、達した事が検出されると、今度はフロー３２４で後
幕走行を開始させる。一端、フロー３２５で上記タイマ
はリセットした後、再びフロー３２６〜３２９ではフロ
ー３２０〜３２３と同様の判定を行う。従って、本動作
ではシャッター露光期間中、センサ出力に対しての判定
を行うこととなる。フロー３３０でタイマの値が所定時
間Ｔ_SRに達したかどうかの判定を行い、所定時間経過し
た事が検出されると、フロー３３１で先、後幕駆動を停
止させ、フロー３３２でＬＶＬＳＥＴを強制的にＬレベ
ルとする。

【００３５】次に、図１２のフローではミラーダウンに
対する動作が行う。まずフロー３３３では、ミラーダウ
ン駆動を開始させ、フロー３３４〜３３７では上述した
フロー３１０〜３１３と全く同様に、ミラーダウンによ
り発生するセンサエラー信号の影響を取り除くための処
理を実行する。フロー３３８ではミラーダウンが完了し
たかどうかが判定を行い、完了が検知されるとフロー３
３９でミラーダウンの駆動を停止し、最後にフロー３４
０でＬＶＬＳＥＴをＬレベルとし、一連の動作を終了す
る。この様に、本実施例ではミラーやシャッタ駆動時に
センサ出力で発生する高周波大振幅の信号を検出し、こ
の信号に対して所定のリミッタを働かせる事により、セ
ンサエラーの影響を最小限に抑えるようにしたものであ
る。

【００３６】なお、本実施例の変形例として、センサ出
力が所定値以上になることに応じて、第１の実施例のよ
うに、センサ出力を処理する回路（ハイパスフィルタ、
積分回路等）の時定数を変化させることも可能である。

【００３７】また、図１１のフロー３１１、３２０、３
２７における各々の所定値を互いに異なるように設定す
ることも可能である。

【００３８】また、同じく図１１のフロー３１１、３２
０、３２７における各々の所定値を焦点距離、シャッタ
スピード等の撮影条件に応じて、状況に適した値に変更
するように構成することも可能である。

【００３９】（第３の実施例）図１４は、本発明の第３
の実施例に使われる補正光学系の制御回路を示す構成図
であり、ＯＰアンプ１５０には、抵抗１５１、１５２を
介してそれぞれ、図１に示した積分手段６からの出力、
補正光学系位置検出手段からの位置出力が入力しフィー
ドバック抵抗１５３との組み合わせによって両入力に対
する差動増幅回路が構成されている。

【００４０】更に、このＯＰアンプのフィードバック部
には抵抗１５４とアナログＳＷ１５５が接続されてお
り、ＣＰＵからの制御出力によりアナログＳＷ１５５が
ＯＮになると、抵抗１５４と１５５が並列接続された形
になるので、この制御系のゲイン自体が変更されること
になる。

【００４１】又、上記ＯＰアンプ１５０の出力は、抵抗
１５７、１５８、及びコンデンサ１６１で構成される位
相補償回路へ入力され、この抵抗１５７、１５８の接続
点である部分の電位がＯＰアンプ１５６でバファリング
されて、補正光学系駆動手段へと出力される。ここで抵
抗１５８には、図示した様に抵抗１５９とアナログＳＷ
１６０が並列に接続されているので、ＣＰＵ１からの制
御信号によりアナログＳＷ１６０がＯＮになると抵抗１
５８と１５９が並列接続された形となり、制御系の位相
補償自体が変化することになる。実際のカメラのレリー
ズ動作では、第１の実施例としての図４、図５、第２の
実施例としての図１１、図１２のフローチャートに示し
た様に、ミラーアップ／ダウンや、シャッター先／後幕
駆動等の所定タイミングで、一定時間若しくはセンサー
出力の所定値以上の検出により、上記ＣＰＵ１からの制
御出力が変化し、補正光学系の駆動特性が変化すること
になる。図１５はこの時のタイミング波形を示したもの
であり、センサ積分出力に対し、補正系出力は点線で示
した様に変化し、ミラーやシャッターの動作によって発
生するセンサのエラー影響が少なくなる。

【００４２】なお、上述の各実施例においては、ミラー
の動作またはシャッタ幕の動作に応じて発生する像ぶれ
検出手段の誤検出に対応した例を示したが、他の誤検出
を引き起こす要因、例えばフィルム給送等に対応するよ
うな設定にしてもよい。

【００４３】また、各実施例又それら技術要素の組み合
わせ、例えば衝撃を発生させる動作の判定についていえ
ばミラーマップの判定に関しては、第１の実施例のよう
に外部操作に応じて判定し、シャッタ幕走行の判定に関
しては第２の実施例のように像ぶれセンサの出力に応じ
て判定するように設定することなども可能である。ま
た、衝撃による影響を防止する方法（積分回路またはハ
イパスフィルタの特性変更、センサ出力にリミッタをか
けること）についても種々の組合せが可能である。

【００４４】なお、上述の各実施例においては、像ぶれ
検出手段として、角速度計の一例である振動ジャイロを
用しているが、他の角速度計か、変位計、角変位計、速
度計、加速度計、角加速度計、更には画像の振れ自体を
検出する方法等、振れが検出できるものであればすべて
像ぶれ検出手段に含まれる。

【００４５】また、上述の各実施例では像ぶれ防止手段
として、光軸に垂直な面内で光学部材を動かすことによ
り光束を偏向して像ぶれ防止を行うものを用いたが、他
の光束偏向手段、例えば、可変頂角プリズムや、画像処
理により補正するものであってもよい。

【００４６】また、本発明は像ぶれ検出手段の誤検出を
引き起こす要因を有するものであれば一眼レフカメラ、
レンズシャッタカメラ、ビデオカメラ、他の光学機器い
ずれにも適用することが可能である。

【００４７】なお、本発明をレンズシャッタカメラに適
用する場合は、例えば各実施例のシャッタ先、後幕走行
に対する動作が、それぞれシャッタが閉口状態から開口
状態になる際に最大開口位置で停止するときに発生する
衝撃に対する動作及びシャッタが開口状態から閉口状態
になる際に所定の閉口位置で停止するときに発生する衝
撃に対する動作となるように設定することになる。

【００４８】また、像ぶれ検出手段と像ぶれ防止手段は
両方ともを１つの装置に設けても、互いに装着すること
により像ぶれ防止システムを形する２つ以上の装置にそ
れぞれ分けて設けてもよい（例えば、カメラに像ぶれ検
出手段、交換レンズに像ぶれ防止手段をそれぞれ設け
る）。

【００４９】また、像振れ防止手段は像振れを補正する
ことによって像振れを防止するものであっても、像振れ
が発生していること、または発生する可能性があること
を表示、音声等により警告して使用者にそのことを注意
させることにより、結果的に像振れが発生しないように
するものであっても、像振れを防止することのできるも
のであればすべて含まれる。

【００５０】なお、上述の各実施例における図１の振れ
センサ５が本発明の振れ検出手段に相当し、図１の補正
光学手段２３が本発明の振れ防止手段に相当する。

【００５１】また、ＣＰＵ１の動作を示すフローチャー
ト図４、図５のフロー２０７、２０９、２１５、２２
１、２２７または、図１１、図１２のフロー３０７、３
０９が本発明の振れ検出手段及び振れ防止手段の少なく
ともいずれか一方が不適切な作用をすると予想される要
因の発生を間接的に予測する予測手段に相当し、ミラー
やシャッタ先、後幕の動作を直接検出することが本発明
の前記要因の発生を直接的に予測する予測手段に相当す
る。

【００５２】さらに、図４、図５のフロー２１１、２１
６、２２２、２２９、図１１、図１２のフロー３１３、
３２２、３２９、３３７が本発明の対処手段に相当し、
ＣＰＵ１内部の計時回路が本発明の計時手段に相当し、
図１１、図１２のフロー３１１、３２０、３２７、３３
５が本発明の検出手段に相当する。

【００５３】以上が上述の各実施例の構成を本発明の構
成の対応であるが、本発明は上述の各実施例に限られる
ものでなく、各請求項に示した機能が達成されるもので
あればすべて本発明に含まれる。

【００５４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
振れ検出手段及び振れ防止手段の少なくともいずれか一
方が不適切な作用をすると予想される要因が発生した場
合、例えば、一眼レフカメラにおけるミラーのアップ、
ダウンやシャッタの移動等によって振れ検出手段が振れ
に相応した出力とは異なるエラー信号を出力するような
場合であっても、その要因の発生を予測して対処するこ
とにより、前記振れ検出手段及び前記振れ防止手段が不
適切作用をすること防止することができるようになっ
た。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例の像ぶれ防止装置の全体
構成を示すブロック図である。

【図２】図１のセンサ及び積分手段の具体的構成を示す
図である。

【図３】図１の補正光学系の具体的構成を示す図であ
る。

【図４】図１の像ぶれ防止装置の動作を示すフローチャ
ートである。

【図５】図１の像ぶれ防止装置の動作を示すフローチャ
ートである。

【図６】図１の像ぶれ防止装置の動作を示すタイミング
チャートである。

【図７】図２の積分手段の積分特性の変化の様子を示す
図である。

【図８】第１の実施例の変形例の像ぶれ防止装置の動作
の一部を示すフローチャートである。

【図９】第１の実施例の変形例の像ぶれ防止装置の動作
の一部を示すフローチャートである。

【図１０】本発明の第７の実施例の像ぶれ防止装置の回
路構成の一部を示す図である。

【図１１】本発明の第２の実施例の像ぶれ防止装置の動
作を示すフローチャートである。

【図１２】本発明の第２の実施例の像ぶれ防止装置の動
作を示すフローチャートである。

【図１３】本発明の第２の実施例の像ぶれ防止装置の動
作を示すタイミングチャートである。

【図１４】本発明の第３の実施例の像ぶれ防止装置の回
路構成の一部を示す図である。

【図１５】本発明の第７の実施例の像ぶれ防止装置の動
作を示すタイミングチャートである。

【図１６】像ぶれ防止装置を一眼レフカメラ及びそのカ
メラに装着可能な交換レンズに適用した場合の構成を示
す斜視図である。

【符号の説明】

１ＣＰＵ５振れセンサ６積分手段２３補正光学系２５補正光学系駆動手段５３ＯＰアンプ５４コンデンサ５５、５６、５７抵抗

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】画像振れを検出するための振れ検出手段
及び、前記振れ検出手段に応答して画像振れを防止する
ための振れ防止手段の少なくともいずれか一方が不適切
な作用をすると予想される要因が発生したことを、前記
振れ検出手段及び前記振れ防止手段が実際に不適切な作
用をする前に前記要因の発生を直接的及び間接的の少な
くともいずれか一方にて予測するための予測手段と、前
記予測手段に応答して前記振れ検出手段及び前記振れ防
止手段の少なくともいずれか一方の不適切な作用に対処
するための対処手段と、前記対処手段を所定時間作用さ
せるため計時手段とを有することを特徴とする画像振れ
防止のための制御装置。
【請求項２】前記対処手段は、露光時間に応答して前
記所定時間を変化させるための可変手段を有することを
特徴とする請求項１の画像振れ防止のための制御装置。
【請求項３】前記可変手段は、前記所定時間が露光時
間より長い場合、露光終了時までが前記対処手段の作用
時間となるように前記所定時間を変化させることを特徴
とする請求項２の画像振れ防止装置。
【請求項４】前記所定時間は、前記要因の発生によっ
て起こる前記振れ検出手段及び前記振れ防止手段の少な
くともいずれか一方の不適切な作用が実質終了するまで
に要する時間に設定されることを特徴とする請求項１の
画像振れ防止のための制御装置。
【請求項５】前記要因は、前記振れ防止手段によって
画像振れ防止の対象となる機器の機械的動作により発生
するものであることを特徴とする請求項１の画像振れ防
止のための制御装置。
【請求項６】前記要因は、シャッタの移動または衝突
により発生する振動であり、前記予測手段は直接的ある
いは間接的にシャッタの動作を検知することを特徴とす
る請求５の画像振れ防止のための制御装置。
【請求項７】前記要因は、ミラーの移動または衝突に
より発生する振動であり、前記予測手段は直接的あるい
は間接的にミラーの動作を検知することを特徴とする請
求５の画像振れ防止のための制御装置。
【請求項８】前記要因は、フィルム給送により発生す
る振動であり、前記予測手段は直接的あるいは間接的に
フィルム給送動作を検知することを特徴とする請求項５
の画像振れ防止のための制御装置。
【請求項９】前記対処手段は、前記振れ検出手段の検
出特性を変更することを特徴とする請求項１の画像振れ
防止のための制御装置。
【請求項１０】前記対処手段は、前記振れ検出手段よ
り後段において制御を変更し、前記振れ防止手段の動作
を変更することを特徴とする請求項１の画像振れ防止の
ための制御装置。
【請求項１１】前記対処手段は、前記振れ防止手段の
動作特性を変更することを特徴とする請求項１０の画像
振れ防止のための制御装置。
【請求項１２】前記対処手段は、前記振れ検出手段の
検出周波数特性を変更することを特徴とする請求項９の
画像振れ防止のための制御装置。
【請求項１３】前記対処手段は、前記振れ検出手段が
所定振幅以上の振れについては振れに相応した出力を出
力しないようにすることを特徴とする請求項９の画像振
れ防止のための制御装置。
【請求項１４】前記対処手段は、前記振れ防止手段の
制御系のゲインを変化させることを特徴とする請求項１
１の画像振れ防止のための制御装置。
【請求項１５】画像振れを検出するための振れ検出手
段及び、前記振れ検出手段に応答して画像振れを防止す
るための振れ防止手段の少なくともいずれか一方が不適
切な作用をすると予想される要因が発生したことを、前
記振れ検出手段及び前記振れ防止手段が実際に不適切な
作用をする前に前記要因の発生を直接的及び間接的の少
なくともいずれか一方にて予測するための予測手段と、
前記予測手段が前記要因の発生を予測した後実際に前記
要因が発生したことを検出するための検出手段と、前記
検出手段に応答して前記振れ検出手段及び前記振れ防止
手段の少なくともいずれか一方の不適切な作用に対処す
るための対処手段とを有することを特徴とする画像振れ
防止のための制御装置。
【請求項１６】前記要因は、前記振れ防止手段によっ
て画像振れ防止の対象となる機器の機械的動作により発
生するものであることを特徴とする請求項１５の画像振
れ防止のための制御装置。
【請求項１７】前記要因は、シャッタの移動または衝
突により発生する振動であり、前記予測手段は直接的あ
るいは間接的にシャッタの動作を検知することを特徴と
する請求１６の画像振れ防止のための制御装置。
【請求項１８】前記要因は、ミラーの移動または衝突
により発生する振動であり、前記予測手段は直接的ある
いは間接的にミラーの動作を検知することを特徴とする
請求１６の画像振れ防止のための制御装置。
【請求項１９】前記要因は、フィルム給送により発生
する振動であり、前記予測手段は直接的あるいは間接的
にフィルム給送動作を検知することを特徴とする請求項
１６の画像振れ防止のための制御装置。
【請求項２０】前記対処手段は、前記振れ検出手段の
検出特性を変更することを特徴とする請求項１５の画像
振れ防止のための制御装置。
【請求項２１】前記対処手段は、前記振れ検出手段よ
り後段において制御を変更し、前記振れ防止手段の動作
を変更することを特徴とする請求項１５の画像振れ防止
のための制御装置。
【請求項２２】前記対処手段は、前記振れ防止手段の
動作特性を変更することを特徴とする請求項２１の画像
振れ防止のための制御装置。
【請求項２３】前記対処手段は、前記振れ検出手段の
検出周波数特性を変更することを特徴とする請求項２０
の画像振れ防止のための制御装置。
【請求項２４】前記対処手段は、前記振れ検出手段が
所定振幅以上の振れについては振れに相応した出力を出
力しないようにすることを特徴とする請求項２０の画像
振れ防止のための制御装置。
【請求項２５】前記対処手段は、前記振れ防止手段の
制御系のゲインを変化させることを特徴とする請求項２
２の画像振れ防止のための制御装置。
【請求項２６】画像振れを検出するための振れ検出手
段及び、前記振れ検出手段に応答して画像振れを防止す
るための振れ防止手段の少なくともいずれか一方が不適
切な作用をすると予想される要因が発生したことを、前
記振れ検出手段及び前記振れ防止手段が実際に不適切な
作用をする前に前記要因の発生を直接的及び間接的の少
なくともいずれか一方にて予測するための予測手段と、
前記予測手段に応答して前記振れ検出手段及び前記振れ
防止手段の少なくともいずれか一方を通常とは異なる状
態で作用させるための対処手段とを有することを特徴と
する画像振れ防止のための制御装置。
【請求項２７】前記要因は、前記振れ防止手段によっ
て画像振れ防止の対象となる機器の機械的動作により発
生するものであることを特徴とする請求項２６の画像振
れ防止のための制御装置。
【請求項２８】前記要因は、シャッタの移動または衝
突により発生する振動であり、前記予測手段は直接的あ
るいは間接的にシャッタの動作を検知することを特徴と
する請求２７の画像振れ防止のための制御装置。
【請求項２９】前記要因は、ミラーの移動または衝突
により発生する振動であり、前記予測手段は直接的ある
いは間接的にミラーの動作を検知することを特徴とする
請求２７の画像振れ防止のための制御装置。
【請求項３０】前記要因はフィルム給送により発生す
る振動であり、前記予測手段は直接的あるいは間接的に
フィルム給送動作を検知することを特徴とする請求項２
７の画像振れ防止のための制御装置。
【請求項３１】前記対処手段は、前記振れ検出手段の
検出特性を変更することを特徴とする請求項２６の画像
振れ防止のための制御装置。
【請求項３２】前記対処手段は、前記振れ検出手段よ
り後段において制御を変更し、前記振れ防止手段の動作
を変更することを特徴とする請求項２６の画像振れ防止
のための制御装置。
【請求項３３】前記対処手段は、前記振れ防止手段の
動作特性を変更することを特徴とする請求項３２の画像
振れ防止のための制御装置。
【請求項３４】前記対処手段は、前記振れ検出手段の
検出周波数特性を変更することを特徴とする請求項３１
の画像振れ防止のための制御装置。
【請求項３５】前記対処手段は、前記振れ検出手段が
所定振幅以上の振れについては振れに相応した出力を出
力しないようにすることを特徴とする請求項３１の画像
振れ防止のための制御装置。
【請求項３６】前記対処手段は、前記振れ防止手段の
制御系のゲインを変化させることを特徴とする請求項３
３の画像振れ防止のための制御装置。