JPH07225280A - 放射線測定装置 - Google Patents

放射線測定装置

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JPH07225280A
JPH07225280A JP1541594A JP1541594A JPH07225280A JP H07225280 A JPH07225280 A JP H07225280A JP 1541594 A JP1541594 A JP 1541594A JP 1541594 A JP1541594 A JP 1541594A JP H07225280 A JPH07225280 A JP H07225280A
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JP
Japan
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scintillator
radiation
photomultiplier tubes
measuring apparatus
photons
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Application number
JP1541594A
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English (en)
Inventor
Masayasu Mito
正康 三戸
Toshinori Oshima
俊則 大島
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Aloka Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 チェレンコフ光によるバックグラウンドレベ
ルの増加を防止した放射線測定装置を提供する。 【構成】 放射線を光子に変換するシンチレータ2に対
してシンチレータ2で変換された光子を同時計数するた
めの一対の光電子増倍管8a,8bを有する同時計数型
の放射線測定装置において、シンチレータ2と光電子増
倍管8a,8bとの間に、各光電子増倍管8a,8bに
対応して透明遮蔽部材4a,4bを光学的に分離して配
置した。 【効果】 一方の透明遮蔽部材4a、(4b)内で発生
するチェレンコフ光は、他方の透明遮蔽部材4b、(4
a)には到達しないのでノイズとして除去でき、ローバ
ックグラウンドで放射線測定ができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、放射線測定装置、特に
シンチレーション効果を利用したノイズレベルの低い同
時計数型の放射線測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から放射線を照射することによって
発光するシンチレーション効果を利用した同時計数型の
放射線測定装置が知られている。この放射線測定装置を
図3に示して説明する。
【0003】図中、シンチレータ2はプラスチック等か
ら成る平板であって、放射線が照射されると放射線吸収
エネルギーに比例した光子を発生し、光電子増倍管8
a,8bは、シンチレータ2で発生した光子をそれぞれ
所定の電圧パルスに変換・増幅する。
【0004】ライトガイド20は、所定の厚みを有する
プラスチック、ガラス等の透明部材から成り、シンチレ
ータ2で発生した光子を光電子増倍管8a,8bに導
く。このライトガイド20の側面周囲には、シンチレー
タ2で発生した光子が外部に漏れないように光反射部材
6が設けられている。
【0005】なお、光電子増倍管8a,8bのライトガ
イド20側のガラス窓には40K等が含まれており、この
40K等に起因してβ線が発生する。ライトガイド20
は、シンチレータ2からの光子を光電子増倍管8a,8
bに導くだけでなく、この光電子増倍管8a,8bに起
因する不要なβ線を遮蔽する機能を有する。ライトガイ
ド20のこのβ線遮蔽機能によって、光電子増倍管8
a,8bから放射されたβ線がシンチレータ2に到達し
て測定対象の放射線として検出されてしまうことを防止
し、40K等に起因するノイズを低減している。
【0006】なお、高電圧が印加されている光電子増倍
管8a,8bの内部では、熱によるノイズが発生し放射
線の測定精度を低くしていた。しかし、この熱ノイズが
一対の光電子増倍管8a,8b内で同時に発生する確率
が極めて低いことに着目し、シンチレータ2に対し一対
の光電子増倍管8a,8bを設け、測定対象の放射線を
同時計数して熱ノイズを低減している。
【0007】具体的には、シンチレータ2で発生した光
子が光電子増倍管8a,8bの両方に到達し、両方から
所定の電圧パルスとして出力された場合には、この出力
電圧パルスは時間的に一致するので、図示しない計数回
路がこの出力電圧パルスのカウントを行う。光電子増倍
管8a,(8b)の一方から熱ノイズ等によって電圧パ
ルスが出力されても、他方の光電子増倍管8b,(8
a)からの出力電圧パルスと時間的に一致しないので、
計数回路がこれをノイズとして除去し、カウントは行わ
れない。
【0008】このように、同時計数を行うことによりノ
イズレベルの低い即ちローバックグラウンドの状態で放
射線の計測を可能としていた。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
放射線測定装置では、光電子増倍管8a,8bに起因す
るβ線を遮蔽するために、ある程度の厚さを有するプラ
スチック等から成るライトガイド20を用いているた
め、そのライトガイド20内でチェレンコフ効果が発生
し、これに起因してノイズが発生してしまうという問題
があった。
【0010】ここで、チェレンコフ効果とは、高エネル
ギーのγ線や宇宙線等の荷電粒子が物質中で運動する
時、その運動速度が物質中の光の速度(真空中の光速/
物質の屈折率)よりも大きくなった時に放射エネルギー
(チェレンコフ光)を発生することである。
【0011】そして、ライトガイド20内で発生するチ
ェレンコフ効果は、具体的には図3に示すように、外部
から飛来する高エネルギーのγ線や宇宙線が、シンチレ
ータ2を通り抜けてライトガイド20に到達し、このラ
イトガイド20内でチェレンコフ光を発生させることで
ある。
【0012】ライトガイド20内で発生したチェレンコ
フ光は、一対の光電子増倍管8a,8bの両方に到達す
るために同時計数され、測定対象の放射線に対してノイ
ズとなる。その結果、バックグラウンドレベルが増加し
てしまうという問題があった。
【0013】本発明は、上記課題を解消するためになさ
れたもので、従来の光電子増倍管に起因するβ線による
ノイズ等の低減機能を維持しつつ、チェレンコフ光によ
るバックグラウンドレベルの増加を防止可能なローバッ
クグラウンドの放射線測定装置を提供することを目的と
する。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係る放射線測定装置は、以下のような特徴
を有する。
【0015】即ち、放射線を光子に変換するシンチレー
タと、前記シンチレータで変換された光子を同時計数す
るための一対の光電子増倍管と、前記シンチレータと前
記光電子増倍管との間に配置され、前記シンチレータか
らの光子を前記各光電子増倍管に導くと共に、前記各光
電子増倍管から前記シンチレータ側へ放出された放射線
を遮蔽する所定の厚みを有する透明遮蔽部材であって、
前記光電子増倍管毎に対応して光学的に分離された透明
遮蔽部材とを有することを特徴とする。
【0016】更に、前記透明遮蔽部材は、前記シンチレ
ータと所定の間隔を隔てて配置されることを特徴とす
る。
【0017】
【作用】本発明に基づく放射線測定装置によれば、透明
遮蔽部材が光電子増倍管毎に対応して光学的に分離され
ているので、外部からの宇宙線等によって一方の透明遮
蔽部材内でチェレンコフ光が発生し、この透明遮蔽部材
に対応する光電子増倍管には到達しても、従来のように
他方側の光電子増倍管には到達しない。
【0018】また、一対の光電子増倍管の両方で同時に
チェレンコフ光が発生する確率は、極めて低い。
【0019】このように、チェレンコフ光のほとんどが
一方の光電子増倍管のみで検出されるため、同時計数を
行って一対の光電子増倍管からの出力を比較し、その出
力が時間的に異なるときはこれをノイズとして除去すれ
ば、ノイズレベルの低いローバックグランウンドの放射
線測定を行うことができる。
【0020】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図を用いて説明す
る。
【0021】(実施例1)図1は、本発明の実施例に係
る放射線測定装置の要部を示す概念図である。
【0022】図中、シンチレータ2はプラスチック等か
ら成る平板や円柱であって、放射線が照射されると放射
線吸収エネルギーに比例した光子を発生する。そして、
このシンチレータ2の厚さは、一般的には放射線の量を
測定する場合は約0.5mm、量だけでなく放射線のス
ペクトルについても測定する場合は約20〜30mmで
ある。
【0023】また、光電子増倍管8a,8bは、シンチ
レータ2で発生した光子が到達すると、これをそれぞれ
所定の電圧パルスに変換・増幅するものであり、シンチ
レータ2に対して一対設けられている。これは、既に述
べたように光電子増倍管8a,8b内では熱ノイズがラ
ンダムに発生しており、この熱ノイズが複数の光電子増
倍管8で同時に検出される確率が極めて低いことに着目
したものであり、所定の電圧パルスが光電子増倍管8
a,8bの両方から同時に得られたとき以外は、その電
圧パルスをノイズとして除去し、ノイズレベルを低減し
ている。
【0024】次に、透明遮蔽部材4a,4bは、所定の
厚さを有するプラスチックやガラス等から成り、シンチ
レータ2と光電子増倍管8a,8bとの間に、各光電子
増倍管8a,8bに対応して配置され、シンチレータ2
で発生した光子を対応する各光電子増倍管8に導いてい
る。また、光電子増倍管8a,8bのシンチレータ2側
のガラス窓には40K等が含まれているが、透明遮蔽部材
4a,4bはこの40K等に起因するβ線を遮蔽する機能
を有し、光電子増倍管8a,8bから放射されたβ線が
シンチレータ2に到達して光子を発生しノイズとなるこ
とを防止している。
【0025】ここで、透明遮蔽部材4a,4bの厚さ
は、例えば5mm〜10mmであり、その材質がプラス
チックやガラスであれば5mm程度から光電子増倍管8
a,8bから放射されたβ線の遮蔽効果を有する。
【0026】なお、光反射部材6は、シンチレータ2で
発生した光子を対応する光電子増倍管8a,8bに効率
良く導くため、及び隣接する光電子増倍管8a,8b間
で光が漏れることを防止するために、透明遮蔽部材4
a,4bの側面周囲に設けられている。
【0027】更に、空気層10によって、透明遮蔽部材
4a,4bとシンチレータ2とは、シンチレータ2内で
発生した光子を一対の光電子増倍管8a,8bの両方に
供給可能な所定の間隔(例えば10mm)に隔てられて
いる。
【0028】以上述べた構成を有する放射線測定装置に
おいて、外部から測定対象の放射線(例えばβ線)がシ
ンチレータ2に入射すると、シンチレータ2内でこの放
射線に対応する光子が発生する。この光子は空気層10
を通り、各光電子増倍管8a,8bに対応して設けられ
た透明遮蔽部材4a,4bを介して両方の光電子増倍管
8a,8bに到達する。光電子増倍管8a,8bは、そ
れぞれ到達した光子の数に応じてこの光子を所定の電圧
パルスに変換し、図示しない計数回路に出力する。計数
回路では一対の光電子増倍管8a,8bから出力された
電圧パルスを比較し、この電圧パルスが同時に発生した
ものであればこれをカウントし、同時に発生していなけ
ればノイズとして除去し、カウントしない。
【0029】一方、外部から高エネルギーのγ線や宇宙
線等はシンチレータ2を透過して、空気層10を介して
透明遮蔽部材4a,4b内に到達する。そして、この透
明遮蔽部材4a,4b内で既に述べたようにチェレンコ
フ光が発生する。発生したチェレンコフ光は、各透明遮
蔽部材4a,4bに対応する光電子増倍管8a,8bに
到達して所定の電圧パルスに変換される。
【0030】しかし、透明遮蔽部材4a,4bは、光電
子増倍管8a,8b毎に光学的に分離されているため、
例えば透明遮蔽部材4a内でチェレンコフ光が発生して
も、このチェレンコフ光は、透明遮蔽部材4aの側面周
囲に設けられた光反射部材6に遮られて外部には漏れ
ず、他方の透明遮蔽部材4b及びこれに対応する光電子
増倍管8bには到達できない。また、この逆も同様であ
る。なお、一対の光電子増倍管8a,8bに対応する透
明遮蔽部材4a,4bの両方でチェレンコフ光が同時に
発生する確率は極めて低い。
【0031】従って、宇宙線等に起因して透明遮蔽部材
4a,4bの一方でチェレンコフ光が発生しても、もう
一方の透明遮蔽部材4b,4aにはこのチェレンコフ光
は到達しないので同時計数されず、チェレンコフ光によ
るノイズは除去することができる。
【0032】以上述べたように、本実施例に係る放射線
測定装置によれば、光電子増倍管8a,8bに起因する
β線によるノイズ等の低減・除去機能を保持しつつ、か
つチェレンコフ光によるノイズの低減・除去が可能であ
り、ノイズレベルの極めて低い測定ができ、測定対象の
放射線が微弱であってもその測定を行うことができると
いう効果を有する。
【0033】なお、各部材の厚さやその形は、幾何学的
に規定されるものであり既に述べた値や形には限定され
ないものである。
【0034】(実施例2)次に、実施例1とは別の構成
を有する放射線測定装置について図2を用いて説明す
る。なお、図中、図1と同一部分には同一符号を付して
説明を省略する。
【0035】本実施例に係る放射線測定装置の特徴は、
一対の光電子増倍管8a,8bが極めて近い距離に隣接
配置される場合に、各光電子増倍管8a,8bに対応す
る透明遮蔽部材12a,12bを一体的に構成し、かつ
光電子増倍管8a,8bの間に対応する部分に光反射部
材6を設けていることである。この光反射部材6によっ
て、一体的に構成された透明遮蔽部材12a,12b
は、光電子増倍管8a,8b毎に光学的に分離されてい
る。
【0036】このような構成により、実施例1と同様、
光電子増倍管8a,8bに起因するβ線によるノイズ等
の低減・除去機能を保持しつつ、かつチェレンコフ光に
よるノイズの低減・除去が可能であり、測定対象の放射
線が微弱であってもその測定を行うことができるという
効果を有する。
【0037】更に、一対の光電子増倍管8a,8bの配
置距離を小さくすることができるので、放射線に対する
光電子増倍管8a,8bの位置依存性を小さくすること
ができ、ノイズレベルの更なる低減・除去に貢献できる
という効果を有する。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る放射
線測定装置によれば、光電子増倍管内で発生する熱ノイ
ズや、光電子増倍管に起因するβ線によるノイズ等の低
減・除去機能のみならず、チェレンコフ光によるノイズ
も低減・除去可能であり、ノイズレベルを極めて低くで
きるので微弱な放射線であってもその測定が可能なロー
バックグラウンドの放射線測定装置を提供することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1に係る放射線測定装置の要部
を示す概念図である。
【図2】本発明の実施例2に係る放射線測定装置の要部
を示す概念図である。
【図3】従来の放射線測定装置の要部を示す概念図であ
る。
【符号の説明】
2 シンチレータ 4a、4b、12a、12b 透明遮蔽部材 6 光反射部材 8a、8b 光電子増倍管 10 空気層 20 ライトガイド

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 放射線を光子に変換するシンチレータ
    と、 前記シンチレータで変換された光子を同時計数するため
    の一対の光電子増倍管と、 前記シンチレータと前記光電子増倍管との間に配置さ
    れ、前記シンチレータからの光子を前記各光電子増倍管
    に導くと共に、前記光電子増倍管から前記シンチレータ
    側へ放出された放射線を遮蔽する所定の厚みを有する透
    明遮蔽部材であって、前記光電子増倍管毎に対応して光
    学的に分離された透明遮蔽部材と、 を有することを特徴とする放射線測定装置。
  2. 【請求項2】 前記透明遮蔽部材は、前記シンチレータ
    と所定の間隔を隔てて配置されることを特徴とする請求
    項1記載の放射線測定装置。
JP1541594A 1994-02-09 1994-02-09 放射線測定装置 Pending JPH07225280A (ja)

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JP1541594A JPH07225280A (ja) 1994-02-09 1994-02-09 放射線測定装置

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JP1541594A JPH07225280A (ja) 1994-02-09 1994-02-09 放射線測定装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012533734A (ja) * 2009-07-16 2012-12-27 ユニバーシテット ヤギエロンスキ ガンマ量子反応の位置及び時間を測定するストリップ装置と方法及び陽電子放射断層撮影においてガンマ量子反応の位置及び時間を測定するストリップ装置の使用方法
JP2012533733A (ja) * 2009-07-16 2012-12-27 ユニバーシテット ヤギエロンスキ ガンマ量子反応の位置及び時間を測定するマトリックス装置及び方法、並びに陽電子放射断層撮影においてガンマ量子反応の位置及び時間を測定する前記装置の使用方法
JP2024118093A (ja) * 2023-02-20 2024-08-30 学校法人玉田学園 放射線検出器

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