JPH07229813A - 光ファイバ内気泡の検出方法および検出装置 - Google Patents
光ファイバ内気泡の検出方法および検出装置Info
- Publication number
- JPH07229813A JPH07229813A JP4051794A JP4051794A JPH07229813A JP H07229813 A JPH07229813 A JP H07229813A JP 4051794 A JP4051794 A JP 4051794A JP 4051794 A JP4051794 A JP 4051794A JP H07229813 A JPH07229813 A JP H07229813A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- bubbles
- light receiving
- light
- receiving elements
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 title claims abstract description 123
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 22
- 239000001307 helium Substances 0.000 claims abstract description 10
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 10
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 5
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 4
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 4
- 238000009987 spinning Methods 0.000 claims description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 3
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 abstract description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 abstract description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 abstract description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 abstract description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 4
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000004071 soot Substances 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000012681 fiber drawing Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B37/00—Manufacture or treatment of flakes, fibres, or filaments from softened glass, minerals, or slags
- C03B37/01—Manufacture of glass fibres or filaments
- C03B37/02—Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor
- C03B37/025—Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor from reheated softened tubes, rods, fibres or filaments, e.g. drawing fibres from preforms
- C03B37/027—Fibres composed of different sorts of glass, e.g. glass optical fibres
- C03B37/02718—Thermal treatment of the fibre during the drawing process, e.g. cooling
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Thermal Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Geochemistry & Mineralogy (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 気泡による輝度変化と他の要因による輝度変
化とを明確に区別し、線引き中に光ファイバ内の気泡を
正確に検知する。 【構成】 プリフォーム１は、線引炉２により加熱、溶
融され、線引きされ光ファイバが製造される。線引きさ
れた光ファイバ５は、図示しないコーティング装置によ
って、ガラス上にＵＶ樹脂がコーティングされるが、そ
の前に、ヘリウムガスを用いた冷却装置３により冷却さ
れる。冷却装置３の内面には、２つの受光素子４ａ，４
ｂが上下に取り付けられ、線引きされた光ファイバ５か
らの散乱光を測定する。光ファイバ５中に気泡等の異物
が存在すると、光ファイバ５内を伝播する光が散乱され
て、光ファイバ５の表面から外部に放出される光が増大
する。したがって、受光素子４ａ，４ｂの出力変化から
光ファイバ５内の気泡等の異物を検出することができ
る。
化とを明確に区別し、線引き中に光ファイバ内の気泡を
正確に検知する。 【構成】 プリフォーム１は、線引炉２により加熱、溶
融され、線引きされ光ファイバが製造される。線引きさ
れた光ファイバ５は、図示しないコーティング装置によ
って、ガラス上にＵＶ樹脂がコーティングされるが、そ
の前に、ヘリウムガスを用いた冷却装置３により冷却さ
れる。冷却装置３の内面には、２つの受光素子４ａ，４
ｂが上下に取り付けられ、線引きされた光ファイバ５か
らの散乱光を測定する。光ファイバ５中に気泡等の異物
が存在すると、光ファイバ５内を伝播する光が散乱され
て、光ファイバ５の表面から外部に放出される光が増大
する。したがって、受光素子４ａ，４ｂの出力変化から
光ファイバ５内の気泡等の異物を検出することができ
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバ内の気泡を
線引時に検出する光ファイバ内気泡の検出方法および検
出装置に関するものである。
線引時に検出する光ファイバ内気泡の検出方法および検
出装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光ファイバの母材中には、スートプリフ
ォームを製造する工程、スートプリフォームを透明化す
る工程、また、ロッドインチューブ法では、コアロッド
に石英管をジャケットする際に、雰囲気もしくはガラス
中の不純物により内部に気泡が発生することが多い。気
泡が内在しているプリフォームを線引きしてファイバ化
する際に、この気泡が光ファイバ中に残っていると、光
ファイバの強度の低下や伝送特性の低下等の原因となり
得るため、光ファイバ内気泡の位置を正確に知ることが
重要である。
ォームを製造する工程、スートプリフォームを透明化す
る工程、また、ロッドインチューブ法では、コアロッド
に石英管をジャケットする際に、雰囲気もしくはガラス
中の不純物により内部に気泡が発生することが多い。気
泡が内在しているプリフォームを線引きしてファイバ化
する際に、この気泡が光ファイバ中に残っていると、光
ファイバの強度の低下や伝送特性の低下等の原因となり
得るため、光ファイバ内気泡の位置を正確に知ることが
重要である。
【０００３】従来は、特開昭６１−２９０３４４号公報
に示されているように、線引炉内の光が、光ファイバ中
を伝わり、線引き中の光ファイバに気泡の存在する位置
では、その内面にて光が散乱することを利用し、その散
乱光を光ファイバ側面に設置した複数の受光素子を用い
て、気泡を検知するようにしたものが知られている。複
数の受光素子を用いたことにより、光ファイバの揺れや
線引炉内の異常な散乱光と、気泡からの散乱光とを明確
に区別して高精度の気泡検出を行なうことができるとい
うものである。
に示されているように、線引炉内の光が、光ファイバ中
を伝わり、線引き中の光ファイバに気泡の存在する位置
では、その内面にて光が散乱することを利用し、その散
乱光を光ファイバ側面に設置した複数の受光素子を用い
て、気泡を検知するようにしたものが知られている。複
数の受光素子を用いたことにより、光ファイバの揺れや
線引炉内の異常な散乱光と、気泡からの散乱光とを明確
に区別して高精度の気泡検出を行なうことができるとい
うものである。
【０００４】しかしながら、従来の方法では、受光素子
で検出される光が、光ファイバの揺れによる検出出力の
変化や、外部の散乱光等の影響を回避することは困難で
あり、検出すべきファイバ中の気泡による散乱光のみを
検出するには十分とはいえないものである。特に、２つ
の受光素子を、光ファイバの周方向において適宜の角度
で配置した場合には、光ファイバの揺れによる検出出力
の変化が大きいという問題がある。
で検出される光が、光ファイバの揺れによる検出出力の
変化や、外部の散乱光等の影響を回避することは困難で
あり、検出すべきファイバ中の気泡による散乱光のみを
検出するには十分とはいえないものである。特に、２つ
の受光素子を、光ファイバの周方向において適宜の角度
で配置した場合には、光ファイバの揺れによる検出出力
の変化が大きいという問題がある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述した事
情に鑑みてなされたもので、気泡による輝度変化と他の
要因による輝度変化とを明確に区別し、線引き中に光フ
ァイバ内の気泡を正確に検知することを目的とするもの
である。
情に鑑みてなされたもので、気泡による輝度変化と他の
要因による輝度変化とを明確に区別し、線引き中に光フ
ァイバ内の気泡を正確に検知することを目的とするもの
である。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、請求項１に記
載の発明においては、光ファイバ内気泡の検出方法にお
いて、プリフォームロッドを溶融、紡糸する工程と、ヘ
リウムにより冷却する冷却工程と、コーティング工程を
有する光ファイバの製造方法における光ファイバ内気泡
の検出方法において、前記冷却工程において、光ファイ
バから出射される光を複数の方向から測定して光ファイ
バ内の気泡を検出することを特徴とするものである。
載の発明においては、光ファイバ内気泡の検出方法にお
いて、プリフォームロッドを溶融、紡糸する工程と、ヘ
リウムにより冷却する冷却工程と、コーティング工程を
有する光ファイバの製造方法における光ファイバ内気泡
の検出方法において、前記冷却工程において、光ファイ
バから出射される光を複数の方向から測定して光ファイ
バ内の気泡を検出することを特徴とするものである。
【０００７】請求項２に記載の発明においては、請求項
１に記載の光ファイバ内気泡の検出方法において、前記
複数の方向が、前記光ファイバの周方向において受光軸
が直交する方向であり、かつ、受光位置が前記光ファイ
バの長手方向に対し同一位置であることを特徴とするも
のである。
１に記載の光ファイバ内気泡の検出方法において、前記
複数の方向が、前記光ファイバの周方向において受光軸
が直交する方向であり、かつ、受光位置が前記光ファイ
バの長手方向に対し同一位置であることを特徴とするも
のである。
【０００８】請求項３に記載の発明においては、請求項
１または２に記載の光ファイバ内気泡の検出方法におい
て、前記光ファイバから出射される光を測定する方向
が、前記光ファイバの進行方向に対して９０〜１５０゜
の角度であることを特徴とするものである。
１または２に記載の光ファイバ内気泡の検出方法におい
て、前記光ファイバから出射される光を測定する方向
が、前記光ファイバの進行方向に対して９０〜１５０゜
の角度であることを特徴とするものである。
【０００９】なた、請求項４に記載の発明においては、
光ファイバ内気泡の検出装置において、プリフォームロ
ッドを溶融、紡糸した光ファイバをヘリウムにより冷却
する冷却装置の内面に、複数の受光素子を取り付け、該
受光素子により光ファイバから散乱される光を測定して
光ファイバ内の気泡を検出することを特徴とするもので
ある。
光ファイバ内気泡の検出装置において、プリフォームロ
ッドを溶融、紡糸した光ファイバをヘリウムにより冷却
する冷却装置の内面に、複数の受光素子を取り付け、該
受光素子により光ファイバから散乱される光を測定して
光ファイバ内の気泡を検出することを特徴とするもので
ある。
【００１０】請求項５に記載の発明においては、請求項
４に記載の光ファイバ内気泡の検出装置において、前記
複数の受光素子の光軸の位置が前記光ファイバの長手方
向に対して同一位置であり、かつ、前記複数の受光素子
の光軸の方向が前記光ファイバの周方向において直交す
る方向であることを特徴とするものである。
４に記載の光ファイバ内気泡の検出装置において、前記
複数の受光素子の光軸の位置が前記光ファイバの長手方
向に対して同一位置であり、かつ、前記複数の受光素子
の光軸の方向が前記光ファイバの周方向において直交す
る方向であることを特徴とするものである。
【００１１】請求項６に記載の発明においては、請求項
４または５に記載の光ファイバ内気泡の検出装置におい
て、前記複数の受光素子の光軸が、前記光ファイバの進
行方向に対して９０〜１５０゜の角度であることを特徴
とするものである。
４または５に記載の光ファイバ内気泡の検出装置におい
て、前記複数の受光素子の光軸が、前記光ファイバの進
行方向に対して９０〜１５０゜の角度であることを特徴
とするものである。
【００１２】また、本発明は、光ファイバ内気泡の検出
装置において、プリフォームロッドを溶融、紡糸した光
ファイバをヘリウムにより冷却する冷却装置の内面に、
複数の受光素子を取り付け、該受光素子により光ファイ
バから散乱される光を測定して光ファイバ内の気泡を検
出することを特徴とするものである。前記複数の受光素
子の光軸が前記光ファイバの長手方向に対して同一位置
であり、かつ、光ファイバの周方向において直角方向で
あること、また、前記複数の受光素子の光軸が、前記光
ファイバの進行方向に対して９０〜１５０゜の角度であ
ることも特徴とするものである。
装置において、プリフォームロッドを溶融、紡糸した光
ファイバをヘリウムにより冷却する冷却装置の内面に、
複数の受光素子を取り付け、該受光素子により光ファイ
バから散乱される光を測定して光ファイバ内の気泡を検
出することを特徴とするものである。前記複数の受光素
子の光軸が前記光ファイバの長手方向に対して同一位置
であり、かつ、光ファイバの周方向において直角方向で
あること、また、前記複数の受光素子の光軸が、前記光
ファイバの進行方向に対して９０〜１５０゜の角度であ
ることも特徴とするものである。
【００１３】
【作用】本発明によれば、溶融、紡糸した光ファイバを
ヘリウムにより冷却する冷却工程において、光ファイバ
の表面輝度の影響の少ない測定が光ファイバの周囲は、
ヘリウムにて満たされていることにより、ファイバの揺
れが低減された状態で測定を行なうことができる。測定
にあたって、冷却装置の内面に、受光素子を取り付ける
ことにより、外部からの散乱光の影響を抑えることがで
きる。また、光ファイバ内気泡からの散乱光を複数の方
向から測定することにより、光ファイバの表面輝度の影
響を減らすことができ、直角方向からの測定により表面
輝度の影響をより効果的に減少させることができる。ま
た、前記光ファイバから出射される光を測定する方向、
すなわち、複数の受光素子の光軸を、光ファイバの進行
方向に対して９０〜１５０゜の角度とすることによっ
て、線引炉から光ファイバ中を進行してくる直接光の影
響を減らすことができる。
ヘリウムにより冷却する冷却工程において、光ファイバ
の表面輝度の影響の少ない測定が光ファイバの周囲は、
ヘリウムにて満たされていることにより、ファイバの揺
れが低減された状態で測定を行なうことができる。測定
にあたって、冷却装置の内面に、受光素子を取り付ける
ことにより、外部からの散乱光の影響を抑えることがで
きる。また、光ファイバ内気泡からの散乱光を複数の方
向から測定することにより、光ファイバの表面輝度の影
響を減らすことができ、直角方向からの測定により表面
輝度の影響をより効果的に減少させることができる。ま
た、前記光ファイバから出射される光を測定する方向、
すなわち、複数の受光素子の光軸を、光ファイバの進行
方向に対して９０〜１５０゜の角度とすることによっ
て、線引炉から光ファイバ中を進行してくる直接光の影
響を減らすことができる。
【００１４】
【実施例】図１は、本発明の第１の実施例を説明するた
めの光ファイバ製造工程の要部の概略構成図である。図
中、１はプリフォーム、２は線引炉、３は冷却装置、４
ａ，４ｂは受光素子、５は光ファイバである。プリフォ
ーム１は、線引炉２により加熱、溶融され、線引きされ
て光ファイバ５が製造される。線引きされた光ファイバ
５には、図示しないコーティング装置によって、ガラス
上にＵＶ樹脂がコーティングされる。そのコーティング
を行なう前に、光ファイバの温度を下げるため、冷却装
置３が設置されている。冷却装置３は、ヘリウムガスを
流して、導入された光ファイバを冷却するものである
が、その内面には、この実施例では、２つの受光素子４
ａ，４ｂが上下に取り付けられている。受光素子４ａ，
４ｂの光軸の方向は、この実施例では、光ファイバ５の
進行方向に対し９０゜となっている。受光素子の数は、
３つ以上でもよい。
めの光ファイバ製造工程の要部の概略構成図である。図
中、１はプリフォーム、２は線引炉、３は冷却装置、４
ａ，４ｂは受光素子、５は光ファイバである。プリフォ
ーム１は、線引炉２により加熱、溶融され、線引きされ
て光ファイバ５が製造される。線引きされた光ファイバ
５には、図示しないコーティング装置によって、ガラス
上にＵＶ樹脂がコーティングされる。そのコーティング
を行なう前に、光ファイバの温度を下げるため、冷却装
置３が設置されている。冷却装置３は、ヘリウムガスを
流して、導入された光ファイバを冷却するものである
が、その内面には、この実施例では、２つの受光素子４
ａ，４ｂが上下に取り付けられている。受光素子４ａ，
４ｂの光軸の方向は、この実施例では、光ファイバ５の
進行方向に対し９０゜となっている。受光素子の数は、
３つ以上でもよい。
【００１５】線引きされた光ファイバ５は、線引炉２内
の光により照射され、光ファイバ５内を伝播される。線
引炉２内の光は、プリフォームの加熱により生じた光を
利用してもよく、あるいは、照明光を与えるようにして
もよい。光ファイバ５内を伝播した光は、一部は光ファ
イバ５の表面から外部に放出されるが、わずかである。
光ファイバ５中に気泡等の異物が存在すると、光ファイ
バ５内を伝播する光が散乱されて、光ファイバ５の表面
から外部に放出される光が増大する。したがって、受光
素子４ａ，４ｂの出力変化から光ファイバ５内の気泡等
の異物を検出することができる。
の光により照射され、光ファイバ５内を伝播される。線
引炉２内の光は、プリフォームの加熱により生じた光を
利用してもよく、あるいは、照明光を与えるようにして
もよい。光ファイバ５内を伝播した光は、一部は光ファ
イバ５の表面から外部に放出されるが、わずかである。
光ファイバ５中に気泡等の異物が存在すると、光ファイ
バ５内を伝播する光が散乱されて、光ファイバ５の表面
から外部に放出される光が増大する。したがって、受光
素子４ａ，４ｂの出力変化から光ファイバ５内の気泡等
の異物を検出することができる。
【００１６】受光素子４ａ，４ｂは、冷却装置３内に配
置されているから、外部からの散乱光の影響を抑えるこ
とができる。また、冷却装置３の中は、ヘリウムにて満
たされており、光ファイバの揺れを低減する効果もあ
る。その結果、光ファイバの揺れによる輝度変化が抑え
られ、気泡による輝度変化以外の要因を低減することが
可能となる。
置されているから、外部からの散乱光の影響を抑えるこ
とができる。また、冷却装置３の中は、ヘリウムにて満
たされており、光ファイバの揺れを低減する効果もあ
る。その結果、光ファイバの揺れによる輝度変化が抑え
られ、気泡による輝度変化以外の要因を低減することが
可能となる。
【００１７】図１に示した装置で、実際に光ファイバの
線引き中に光ファイバから発せられる散乱光をモニタし
た。その時の受光素子の出力を図２に示す。２つの受光
素子の出力はそれぞれ（Ａ），（Ｂ）に示しているが、
気泡による散乱はピークとなって現われているが、
（Ａ），（Ｂ）ともに、光ファイバ中の気泡を捉えてい
ることが分かる。この測定では、非常にノイズレベルが
低く、感度良く光ファイバ中の気泡からの散乱光と思わ
れる光を検出することができた。実際にその部分の光フ
ァイバを調べたところ、光ファイバ中に気泡が存在し
た。また、（Ａ）に見られる髭状のピークは、（Ｂ）で
は検出されておらず、その部分には、光ファイバ中に気
泡は存在していなかった。なお、（Ａ），（Ｂ）におけ
るピークは、光ファイバの進行速度に応じた時間差をも
って現われるから、２つの受光素子の出力の差を取るよ
うにしてもよい。
線引き中に光ファイバから発せられる散乱光をモニタし
た。その時の受光素子の出力を図２に示す。２つの受光
素子の出力はそれぞれ（Ａ），（Ｂ）に示しているが、
気泡による散乱はピークとなって現われているが、
（Ａ），（Ｂ）ともに、光ファイバ中の気泡を捉えてい
ることが分かる。この測定では、非常にノイズレベルが
低く、感度良く光ファイバ中の気泡からの散乱光と思わ
れる光を検出することができた。実際にその部分の光フ
ァイバを調べたところ、光ファイバ中に気泡が存在し
た。また、（Ａ）に見られる髭状のピークは、（Ｂ）で
は検出されておらず、その部分には、光ファイバ中に気
泡は存在していなかった。なお、（Ａ），（Ｂ）におけ
るピークは、光ファイバの進行速度に応じた時間差をも
って現われるから、２つの受光素子の出力の差を取るよ
うにしてもよい。
【００１８】図３は、本発明の第２の実施例における冷
却装置の一部の概略図である。図中、図１と同様な部分
には同じ符号を付して説明を省略する。この実施例で
は、受光素子４ａ，４ｂの設置向きを下向きとした。具
体的には、受光素子４ａ，４ｂの光軸の方向を光ファイ
バ５の進行方向に対して１２０゜とした。受光面の角度
でいえば、鉛直方向に対して３０゜下向きであるという
ことができる。この実施例では、光ファイバ５の表面の
輝度変化の影響をさらに受けにくくする効果があり、ま
た、線引炉内の光が、直接光ファイバ５内を伝播して、
受光素子４ａ，４ｂに到達するのを防ぐ働きもある。
却装置の一部の概略図である。図中、図１と同様な部分
には同じ符号を付して説明を省略する。この実施例で
は、受光素子４ａ，４ｂの設置向きを下向きとした。具
体的には、受光素子４ａ，４ｂの光軸の方向を光ファイ
バ５の進行方向に対して１２０゜とした。受光面の角度
でいえば、鉛直方向に対して３０゜下向きであるという
ことができる。この実施例では、光ファイバ５の表面の
輝度変化の影響をさらに受けにくくする効果があり、ま
た、線引炉内の光が、直接光ファイバ５内を伝播して、
受光素子４ａ，４ｂに到達するのを防ぐ働きもある。
【００１９】この実施例による測定結果を図４に示す。
この結果では、ノイズレベルはさらに低減されている
が、光ファイバ５内の気泡の散乱光強度も低下してい
る。受光素子４ａ，４ｂの光軸の方向が光ファイバ５の
進行方向に対して１５０゜、つまり、受光素子４ａ，４
ｂの受光面の鉛直方向に対する角度が６０゜になると、
受光強度が１／４になり、これ以上の角度になるとＳ／
Ｎ比が非常に悪くなった。したがって、受光素子４ａ，
４ｂの光軸の方向は、光ファイバ５の進行方向に対して
９０゜〜１５０゜、受光素子４ａ，４ｂの受光面の鉛直
方向に対する角度でいえば、鉛直面に対して０〜６０゜
となるようにするのがよい。
この結果では、ノイズレベルはさらに低減されている
が、光ファイバ５内の気泡の散乱光強度も低下してい
る。受光素子４ａ，４ｂの光軸の方向が光ファイバ５の
進行方向に対して１５０゜、つまり、受光素子４ａ，４
ｂの受光面の鉛直方向に対する角度が６０゜になると、
受光強度が１／４になり、これ以上の角度になるとＳ／
Ｎ比が非常に悪くなった。したがって、受光素子４ａ，
４ｂの光軸の方向は、光ファイバ５の進行方向に対して
９０゜〜１５０゜、受光素子４ａ，４ｂの受光面の鉛直
方向に対する角度でいえば、鉛直面に対して０〜６０゜
となるようにするのがよい。
【００２０】図５は、本発明の第３の実施例における光
学素子と光ファイバとの配置の説明図である。図中、図
１と同様な部分には同じ符号を付して説明を省略する。
この実施例では、受光素子４ａ，４ｂを光ファイバ５の
長手方向の同じ位置に配置するとともに、光ファイバ５
の周方向において直角方向に２つの受光素子４ａ，４ｂ
を取り付けたものである。この実施例においても、光フ
ァイバ５の表面での輝度変化の影響を取り除くことがで
きる。つまり、輝度変化が発生するのは、光ファイバ５
の片面であり、長手方向の同じ位置に２つの受光素子４
ａ，４ｂを設置することにより、光ファイバ５中の気泡
によるものか、表面の輝度変化によるものかを切り分け
ることが可能になる。
学素子と光ファイバとの配置の説明図である。図中、図
１と同様な部分には同じ符号を付して説明を省略する。
この実施例では、受光素子４ａ，４ｂを光ファイバ５の
長手方向の同じ位置に配置するとともに、光ファイバ５
の周方向において直角方向に２つの受光素子４ａ，４ｂ
を取り付けたものである。この実施例においても、光フ
ァイバ５の表面での輝度変化の影響を取り除くことがで
きる。つまり、輝度変化が発生するのは、光ファイバ５
の片面であり、長手方向の同じ位置に２つの受光素子４
ａ，４ｂを設置することにより、光ファイバ５中の気泡
によるものか、表面の輝度変化によるものかを切り分け
ることが可能になる。
【００２１】この実施例による測定結果を図６に示す。
この実施例でも、光ファイバ中の気泡の散乱光を高感度
に検出しており、また、（Ａ）に対して、直角方向に設
置した（Ｂ）の出力に見られる髭状のピークは、光ファ
イバの表面の輝度変化を検出したものであり、実際に
は、光ファイバ中に気泡は存在していなかった。
この実施例でも、光ファイバ中の気泡の散乱光を高感度
に検出しており、また、（Ａ）に対して、直角方向に設
置した（Ｂ）の出力に見られる髭状のピークは、光ファ
イバの表面の輝度変化を検出したものであり、実際に
は、光ファイバ中に気泡は存在していなかった。
【００２２】これらの実施例に対して、従来の方法で測
定を試みた結果が図７であるが、この結果にみるよう
に、長周期と短周期の変動が非常に大きく、光ファイバ
中の気泡の存在位置の同定が非常に難しかった。実際に
は、一方の受光素子の出力（Ａ）には光ファイバ中気泡
が存在したが、他方の受光素子の出力（Ｂ）には、光フ
ァイバ中気泡が存在しなかった。このように、従来の方
法では、Ｓ／Ｎ比が非常に低く、検出感度が非常に悪い
ことが分かる。
定を試みた結果が図７であるが、この結果にみるよう
に、長周期と短周期の変動が非常に大きく、光ファイバ
中の気泡の存在位置の同定が非常に難しかった。実際に
は、一方の受光素子の出力（Ａ）には光ファイバ中気泡
が存在したが、他方の受光素子の出力（Ｂ）には、光フ
ァイバ中気泡が存在しなかった。このように、従来の方
法では、Ｓ／Ｎ比が非常に低く、検出感度が非常に悪い
ことが分かる。
【００２３】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、光ファイバ表面の散乱光、線引炉から直接光
ファイバ中を伝わって来る光の影響、外部の散乱光の影
響を抑え、光ファイバの揺れを抑えた状態で線引き中に
高感度にファイバ中の気泡の検出が可能となるため、光
ファイバ線引装置に設置し、ファイバ中気泡の検出に用
いると効果的である。
によれば、光ファイバ表面の散乱光、線引炉から直接光
ファイバ中を伝わって来る光の影響、外部の散乱光の影
響を抑え、光ファイバの揺れを抑えた状態で線引き中に
高感度にファイバ中の気泡の検出が可能となるため、光
ファイバ線引装置に設置し、ファイバ中気泡の検出に用
いると効果的である。
【図１】本発明の第１の実施例を説明するための光ファ
イバ製造工程の要部の概略構成図である。
イバ製造工程の要部の概略構成図である。
【図２】第１の実施例による測定結果を示す線図であ
る。
る。
【図３】本発明の第２の実施例における冷却装置の一部
の概略図である。
の概略図である。
【図４】第２の実施例による測定結果を示す線図であ
る。
る。
【図５】本発明の第３の実施例における光学素子と光フ
ァイバとの配置の説明図である。
ァイバとの配置の説明図である。
【図６】第３の実施例による測定結果を示す線図であ
る。
る。
【図７】従来の方法で測定を試みた測定結果を示す線図
である。
である。
１…プリフォーム、２…線引炉、３…冷却装置、４ａ，
４ｂ…受光素子、５…光ファイバ。
４ｂ…受光素子、５…光ファイバ。
Claims (6)
- 【請求項１】 プリフォームロッドを溶融、紡糸する工
程と、ヘリウムにより冷却する冷却工程と、コーティン
グ工程を有する光ファイバの製造方法における光ファイ
バ内気泡の検出方法において、前記冷却工程において、
光ファイバから出射される光を複数の方向から測定して
光ファイバ内の気泡を検出することを特徴とする光ファ
イバ内気泡の検出方法。 - 【請求項２】 前記複数の方向が、前記光ファイバの周
方向において受光軸が直交する方向であり、かつ、受光
位置が前記光ファイバの長手方向に対し同一位置である
ことを特徴とする請求項１に記載の光ファイバ内気泡の
検出方法。 - 【請求項３】 前記光ファイバから出射される光を測定
する方向が、前記光ファイバの進行方向に対して９０〜
１５０゜の角度であることを特徴とする請求項１または
２に記載の光ファイバ内気泡の検出方法。 - 【請求項４】 プリフォームロッドを溶融、紡糸した光
ファイバをヘリウムにより冷却する冷却装置の内面に、
複数の受光素子を取り付け、該受光素子により光ファイ
バから散乱される光を測定して光ファイバ内の気泡を検
出することを特徴とする光ファイバ内気泡の検出装置。 - 【請求項５】 前記複数の受光素子の光軸の位置が前記
光ファイバの長手方向に対して同一位置であり、かつ、
前記複数の受光素子の光軸の方向が前記光ファイバの周
方向において直交する方向であることを特徴とする請求
項４に記載の光ファイバ内気泡の検出装置。 - 【請求項６】 前記複数の受光素子の光軸が、前記光フ
ァイバの進行方向に対して９０〜１５０゜の角度である
ことを特徴とする請求項４または５に記載の光ファイバ
内気泡の検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4051794A JPH07229813A (ja) | 1994-02-15 | 1994-02-15 | 光ファイバ内気泡の検出方法および検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4051794A JPH07229813A (ja) | 1994-02-15 | 1994-02-15 | 光ファイバ内気泡の検出方法および検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07229813A true JPH07229813A (ja) | 1995-08-29 |
Family
ID=12582714
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4051794A Pending JPH07229813A (ja) | 1994-02-15 | 1994-02-15 | 光ファイバ内気泡の検出方法および検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07229813A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006337162A (ja) * | 2005-06-01 | 2006-12-14 | Fujifilm Holdings Corp | 光ファイバの欠陥検査方法及び装置 |
| US9770860B2 (en) | 2015-07-20 | 2017-09-26 | International Business Machines Corporation | Method to detect and remove gas bubbles from molten substrate to prevent hollow fiber formation |
| US9863875B1 (en) | 2016-10-19 | 2018-01-09 | International Business Machines Corporation | In-situ detection of hollow glass fiber formation |
| EP3435073A4 (en) * | 2016-03-24 | 2019-10-30 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Glass fiber tester, method for producing a glass fiber, test method for glass fiber and method for producing a glass fiber |
-
1994
- 1994-02-15 JP JP4051794A patent/JPH07229813A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006337162A (ja) * | 2005-06-01 | 2006-12-14 | Fujifilm Holdings Corp | 光ファイバの欠陥検査方法及び装置 |
| US9770860B2 (en) | 2015-07-20 | 2017-09-26 | International Business Machines Corporation | Method to detect and remove gas bubbles from molten substrate to prevent hollow fiber formation |
| US10081125B2 (en) | 2015-07-20 | 2018-09-25 | International Business Machines Corporation | Method to detect and remove gas bubbles from molten substrate to prevent hollow fiber formation |
| EP3435073A4 (en) * | 2016-03-24 | 2019-10-30 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Glass fiber tester, method for producing a glass fiber, test method for glass fiber and method for producing a glass fiber |
| US10551307B2 (en) | 2016-03-24 | 2020-02-04 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Optical fiber inspecting device, optical fiber manufacturing apparatus, method for inspecting optical fiber, and method for manufacturing optical fiber |
| US11022549B2 (en) | 2016-03-24 | 2021-06-01 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Optical fiber inspecting device, optical fiber manufacturing apparatus, method for inspecting optical fiber, and method for manufacturing optical fiber |
| US9863875B1 (en) | 2016-10-19 | 2018-01-09 | International Business Machines Corporation | In-situ detection of hollow glass fiber formation |
| US10578551B2 (en) | 2016-10-19 | 2020-03-03 | International Business Machines Corporation | In-situ detection of hollow glass fiber formation |
| US10684220B2 (en) | 2016-10-19 | 2020-06-16 | International Business Machines Corporation | In-situ detection of glass fiber defects |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20220283363A1 (en) | Optical fiber with reduced attenuation due to reduced absorption contribution | |
| CN1820190A (zh) | 用光纤对熔化物的温度进行校准和测量的方法与装置 | |
| JPH07229813A (ja) | 光ファイバ内気泡の検出方法および検出装置 | |
| CA1148731A (en) | Method of observing the core region of optical fibers and preforms | |
| JPS6219727A (ja) | 溶融金属の浸漬温度計 | |
| JPS61204535A (ja) | 光フアイバの検査装置 | |
| JP2010139441A (ja) | 光ファイバの異常部検出装置、光ファイバ製造装置、光ファイバの異常部検出方法 | |
| CN104973774B (zh) | 光纤的制造方法以及制造装置 | |
| JP2021096088A (ja) | 円筒内面検査装置 | |
| US20040150811A1 (en) | Method and apparatus for measuring eccentricity in an optical fiber | |
| JP2004325948A (ja) | 光伝送装置 | |
| WO2006129494A1 (ja) | 光ファイバ用母材の構造測定方法および構造測定装置 | |
| JPH11271175A (ja) | 被覆層で包囲された光ファイバ内の欠陥検出装置及び方法 | |
| JP4365333B2 (ja) | 光ファイバ用母材の製造方法 | |
| JPS61290344A (ja) | 光フアイバ内の気泡の検知方法 | |
| JP2002234751A (ja) | 光ファイバ紡糸方法 | |
| JPH09292305A (ja) | 透光性長尺体欠陥検出装置 | |
| KR100877647B1 (ko) | 광섬유 인선공정에서 광섬유 클래드층의 보이드 결함 감시장치 및 그 방법 | |
| JP2001004486A (ja) | 光ファイバ母材の検査方法と連続検査装置 | |
| JP3609623B2 (ja) | 異径コアファイバ接続部の接続損失推定方法および異径コアファイバの接続方法 | |
| JP2719050B2 (ja) | 光ファイバの炭素被膜のモニタ方法 | |
| JP6500364B2 (ja) | 光ファイバの製造方法および製造装置 | |
| JP3604883B2 (ja) | 石英管の泡検出装置 | |
| JPH09264853A (ja) | 透明物体の欠陥検出方法並びに装置 | |
| JPH111340A (ja) | 光ファイバ欠陥部分の検出方法 |