JPH07234116A - 板材の反り量測定方法 - Google Patents
板材の反り量測定方法Info
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- JPH07234116A JPH07234116A JP5283294A JP5283294A JPH07234116A JP H07234116 A JPH07234116 A JP H07234116A JP 5283294 A JP5283294 A JP 5283294A JP 5283294 A JP5283294 A JP 5283294A JP H07234116 A JPH07234116 A JP H07234116A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定対象板材の表面の反射率が一定でない場
合であっても、精度良い測定が可能な板材の反り量測定
方法を提供する。 【構成】 近接配備された複数の平行スポット光を測定
対象板材１０に照射して、これらの反射スポット光を所
定位置に配置されたカメラ１２によって撮像し、撮像さ
れた前記それぞれの反射スポット光の各重心位置から全
体の重心位置を求め、求められた全体の重心位置を用い
て前記測定対象板材１０の反り量を測定する。
合であっても、精度良い測定が可能な板材の反り量測定
方法を提供する。 【構成】 近接配備された複数の平行スポット光を測定
対象板材１０に照射して、これらの反射スポット光を所
定位置に配置されたカメラ１２によって撮像し、撮像さ
れた前記それぞれの反射スポット光の各重心位置から全
体の重心位置を求め、求められた全体の重心位置を用い
て前記測定対象板材１０の反り量を測定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、スポット光を用いて、
例えば製鉄所において製造される鋼板等の板材の反り量
を測定する方法に関する。
例えば製鉄所において製造される鋼板等の板材の反り量
を測定する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】鋼板の平坦度は製品出荷の際の重要な品
質管理項目の一つであり、従来は目視検査が行われてい
たが、極めて非能率及び不正確であるので、近年は例え
ば、特開昭５９−１３８９０６号公報に記載のように鋼
板にスポットレーザー光を照射し、このレーザー光を鋼
板の幅方向に移動させて、該鋼板に照射されるレーザー
スポットの位置を光センサーによって検知し、その変位
量から鋼板の反りを測定する方法が提案されていた。こ
のようなスポット光を用いて鋼板等の反り量を測定する
方法として、三角測量法が用いられているが、その一般
的な方法を図４を参照しながら概略説明すると、スポッ
ト光源５０から鋼板５１に向けてスポット光を照射し、
そのスポット照射部Ｑからの反射レーザー光をＣＣＤカ
メラ（光センサーの一例）５２で撮像し、その撮像面に
おける変位ｂから次式に基づいて鋼板５１までの距離ｄ
を測定するものである。 ｄ＝ａ／（ｃｏｔθ＋ｂ／ｆ） ( ｆはレンズの焦点距離）・・（１） そして、前記鋼板等の反りの測定方法においては、特定
位置を測定するスポット光は一本であって、該スポット
光の鋼板等からの反射スポット光をＣＣＤカメラで撮像
するが、画像信号として取り込む場合に、反射スポット
光の画像を輝度毎に分け、特定のしきい値を設けて一定
の面積を有する画像信号とし、その重心位置を演算して
反射スポット光の画像位置としている。
質管理項目の一つであり、従来は目視検査が行われてい
たが、極めて非能率及び不正確であるので、近年は例え
ば、特開昭５９−１３８９０６号公報に記載のように鋼
板にスポットレーザー光を照射し、このレーザー光を鋼
板の幅方向に移動させて、該鋼板に照射されるレーザー
スポットの位置を光センサーによって検知し、その変位
量から鋼板の反りを測定する方法が提案されていた。こ
のようなスポット光を用いて鋼板等の反り量を測定する
方法として、三角測量法が用いられているが、その一般
的な方法を図４を参照しながら概略説明すると、スポッ
ト光源５０から鋼板５１に向けてスポット光を照射し、
そのスポット照射部Ｑからの反射レーザー光をＣＣＤカ
メラ（光センサーの一例）５２で撮像し、その撮像面に
おける変位ｂから次式に基づいて鋼板５１までの距離ｄ
を測定するものである。 ｄ＝ａ／（ｃｏｔθ＋ｂ／ｆ） ( ｆはレンズの焦点距離）・・（１） そして、前記鋼板等の反りの測定方法においては、特定
位置を測定するスポット光は一本であって、該スポット
光の鋼板等からの反射スポット光をＣＣＤカメラで撮像
するが、画像信号として取り込む場合に、反射スポット
光の画像を輝度毎に分け、特定のしきい値を設けて一定
の面積を有する画像信号とし、その重心位置を演算して
反射スポット光の画像位置としている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、測定対
象物が鋼板の場合には、鋼板表面の反射率が一定でな
く、更には照射するスポット光が一定の面積を有するの
で、反射スポット光の画像は真円とはならず歪んだもの
となり一定の形状をしていない。従って、測定にバラツ
キを生じるという問題点がある。このような問題点は鋼
板のみでなく、他の板材の反り量を測定する場合におい
ても生ずる共通の問題点であった。本発明は、かかる事
情に鑑みてなされたもので、測定対象板材の表面の反射
率が一定でない場合であっても、精度良い測定が可能な
板材の反り量測定方法を提供することを目的とする。
象物が鋼板の場合には、鋼板表面の反射率が一定でな
く、更には照射するスポット光が一定の面積を有するの
で、反射スポット光の画像は真円とはならず歪んだもの
となり一定の形状をしていない。従って、測定にバラツ
キを生じるという問題点がある。このような問題点は鋼
板のみでなく、他の板材の反り量を測定する場合におい
ても生ずる共通の問題点であった。本発明は、かかる事
情に鑑みてなされたもので、測定対象板材の表面の反射
率が一定でない場合であっても、精度良い測定が可能な
板材の反り量測定方法を提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】前記目的に沿う請求項１
記載の板材の反り量測定方法は、近接配備された複数の
平行スポット光を測定対象板材に照射して、これらの反
射スポット光を所定位置に配置されたカメラによって撮
像し、撮像された前記それぞれの反射スポット光の各重
心位置から全体の重心位置を求め、求められた全体の重
心位置を用いて前記測定対象板材の反り量を測定するよ
うにして構成されている。
記載の板材の反り量測定方法は、近接配備された複数の
平行スポット光を測定対象板材に照射して、これらの反
射スポット光を所定位置に配置されたカメラによって撮
像し、撮像された前記それぞれの反射スポット光の各重
心位置から全体の重心位置を求め、求められた全体の重
心位置を用いて前記測定対象板材の反り量を測定するよ
うにして構成されている。
【０００５】
【作用】請求項１記載の板材の反り量測定方法において
は、近接配備された複数の平行スポット光を用い、撮像
されたそれぞれの反射スポット光の各重心位置から全体
の重心位置を求めている。従って、仮に測定対象板材が
鋼板のように表面反射率が場所によって異なり、反射ス
ポット光の画像が円から歪められたものであって、その
重心位置が正規の重心位置から外れるものであっても、
複数の反射スポット光を使用しているので、バラツキ量
及び方向が散分化され、この散分化された重心位置を更
に平均化して全体の重心位置を決定することにより、重
心位置のバラツキも平均化されるため、より正確な重心
位置を求めることができる。
は、近接配備された複数の平行スポット光を用い、撮像
されたそれぞれの反射スポット光の各重心位置から全体
の重心位置を求めている。従って、仮に測定対象板材が
鋼板のように表面反射率が場所によって異なり、反射ス
ポット光の画像が円から歪められたものであって、その
重心位置が正規の重心位置から外れるものであっても、
複数の反射スポット光を使用しているので、バラツキ量
及び方向が散分化され、この散分化された重心位置を更
に平均化して全体の重心位置を決定することにより、重
心位置のバラツキも平均化されるため、より正確な重心
位置を求めることができる。
【０００６】
【実施例】続いて、本発明を具体化した実施例につき説
明し、本発明の理解に供する。ここに、図１は本発明の
一実施例に係る板材の反り量測定方法を示す斜視図、図
２は測定原理を示す説明図、図３はフロー図である。
明し、本発明の理解に供する。ここに、図１は本発明の
一実施例に係る板材の反り量測定方法を示す斜視図、図
２は測定原理を示す説明図、図３はフロー図である。
【０００７】まず、本発明の一実施例に係る板材の反り
量測定方法に使用する機器について説明するが、図１に
示すように、測定対象板材の一例である鋼板１０に対し
て光軸を略垂直方向に並べられて配置された複数のスポ
ット光源の一例である半導体レーザー群１１と、該半導
体レーザー群１１によって鋼板１０上に照射された反射
スポットレーザー光を撮像するＣＣＤカメラ１２と、該
ＣＣＤカメラ１２に接続される画像処理装置１３とを有
している。以下、これらについて説明する。
量測定方法に使用する機器について説明するが、図１に
示すように、測定対象板材の一例である鋼板１０に対し
て光軸を略垂直方向に並べられて配置された複数のスポ
ット光源の一例である半導体レーザー群１１と、該半導
体レーザー群１１によって鋼板１０上に照射された反射
スポットレーザー光を撮像するＣＣＤカメラ１２と、該
ＣＣＤカメラ１２に接続される画像処理装置１３とを有
している。以下、これらについて説明する。
【０００８】前記半導体レーザー群１１は、それぞれ３
個の半導体レーザー素子１１ａが正三角形の頂点上に並
列に並べられ、平行な３本のレーザー光を鋼板１０に垂
直方向から照射するようになっている。そして、これら
の半導体レーザー群１１は、通板中の鋼板１０を横切る
ように並べられ、鋼板１０の幅方向の反り量を測定でき
るようになっている。前記半導体レーザー素子１１ａの
間隔は、精度を向上させるためには隣り合うレーザー光
及びその反射レーザー光を撮像した画像が干渉しない範
囲で小距離であることが好ましく、例えば、スポットレ
ーザー光の直径の２〜１０倍程度にしておく。そして、
半導体レーザー群１１の個数はこの実施例では５群であ
るが、更に精密な鋼板のプロフィールを測定しようとす
る場合には、更に多数用いることになる。
個の半導体レーザー素子１１ａが正三角形の頂点上に並
列に並べられ、平行な３本のレーザー光を鋼板１０に垂
直方向から照射するようになっている。そして、これら
の半導体レーザー群１１は、通板中の鋼板１０を横切る
ように並べられ、鋼板１０の幅方向の反り量を測定でき
るようになっている。前記半導体レーザー素子１１ａの
間隔は、精度を向上させるためには隣り合うレーザー光
及びその反射レーザー光を撮像した画像が干渉しない範
囲で小距離であることが好ましく、例えば、スポットレ
ーザー光の直径の２〜１０倍程度にしておく。そして、
半導体レーザー群１１の個数はこの実施例では５群であ
るが、更に精密な鋼板のプロフィールを測定しようとす
る場合には、更に多数用いることになる。
【０００９】前記ＣＣＤカメラ１２は、半導体レーザー
群１１の光軸に対して所定の角度を有して配置され、半
導体レーザー群１１から照射されたスポットレーザー光
の鋼板１０から反射されたスポットレーザー光を斜めか
ら撮像できるようになっている。
群１１の光軸に対して所定の角度を有して配置され、半
導体レーザー群１１から照射されたスポットレーザー光
の鋼板１０から反射されたスポットレーザー光を斜めか
ら撮像できるようになっている。
【００１０】前記画像処理装置１３は、ＣＣＤカメラ１
２からの映像信号を受けて、これをデジタル信号に変換
して必要な場合これを記憶するメモリ回路と、前記デジ
タル信号化された映像信号を演算処理するコンピュータ
とを有して構成されている。前記コンピュータには映像
信号を２値化して、反射スポットレーザー光群のそれぞ
れの重心位置を検出して、全体の重心を計算する演算処
理手段及び、前記全体の重心位置及びＣＣＤカメラ１２
の位置及び角度から、前述の三角測量法を応用してレー
ザー光を照射した前記鋼板１０の表面までの位置、及び
反り量のプロフィールを算出する演算処理手段を有して
いる。
２からの映像信号を受けて、これをデジタル信号に変換
して必要な場合これを記憶するメモリ回路と、前記デジ
タル信号化された映像信号を演算処理するコンピュータ
とを有して構成されている。前記コンピュータには映像
信号を２値化して、反射スポットレーザー光群のそれぞ
れの重心位置を検出して、全体の重心を計算する演算処
理手段及び、前記全体の重心位置及びＣＣＤカメラ１２
の位置及び角度から、前述の三角測量法を応用してレー
ザー光を照射した前記鋼板１０の表面までの位置、及び
反り量のプロフィールを算出する演算処理手段を有して
いる。
【００１１】以下、図１〜図３（Ａ）を参照しながら、
本発明の一実施例に係る板材の反り量測定方法について
詳しく説明すると、図１に示すようにそれぞれの半導体
レーザー群１１から３本の平行なスポットレーザー光群
を鋼板１０に照射し、斜め方向からＣＣＤカメラ１２で
撮像する（ステップａ）。該ＣＣＤカメラ１２が撮像し
た画像をデジタル信号に変換し、所定のしきい値で２値
化する（ステップｂ）と、図２（Ａ）にその一部を示す
ような画像となる。なお、図において点線の円は鋼板１
０上に照射されたレーザー光の概略範囲を示すが、反射
スポットレーザー光の２値化画像Ｓ1 〜Ｓ3 は円形から
歪んでいる。これは鋼板１０の表面の反射率が場所によ
って異なるからである。
本発明の一実施例に係る板材の反り量測定方法について
詳しく説明すると、図１に示すようにそれぞれの半導体
レーザー群１１から３本の平行なスポットレーザー光群
を鋼板１０に照射し、斜め方向からＣＣＤカメラ１２で
撮像する（ステップａ）。該ＣＣＤカメラ１２が撮像し
た画像をデジタル信号に変換し、所定のしきい値で２値
化する（ステップｂ）と、図２（Ａ）にその一部を示す
ような画像となる。なお、図において点線の円は鋼板１
０上に照射されたレーザー光の概略範囲を示すが、反射
スポットレーザー光の２値化画像Ｓ1 〜Ｓ3 は円形から
歪んでいる。これは鋼板１０の表面の反射率が場所によ
って異なるからである。
【００１２】前記２値化画像Ｓ1 〜Ｓ3 をそれぞれ構成
する画素のｘｙ位置は画像上から分かるので、各２値化
画像Ｓ1 〜Ｓ3 の重心位置Ｇ1 （ｘ1 、ｙ1 ）、Ｇ
2 （ｘ2、ｙ2 ）、Ｇ3 （ｘ3 、ｙ3 ）を求める（ステ
ップｃ）。更に、これらの重心位置Ｇ1 、Ｇ2 、Ｇ3 の
全体の重心位置Ｇ（ｘ、ｙ）を次の式から演算して求め
る（ステップｄ） ｘ＝（ｘ1 ＋ｘ2 ＋ｘ3 ）／３、 ｙ＝（ｙ1 ＋ｙ2 ＋
ｙ3 ）／３ この全体の重心位置Ｇ（ｘ、ｙ）に基づき、例えば前述
の数式（１）を用いて、鋼板１０のレーザー光が照射さ
れた位置を演算する。この処理を各スポットレーザー光
群について行い、鋼板１０の反り量あるいはプロフィー
ルを演算する（ステップｅ）。
する画素のｘｙ位置は画像上から分かるので、各２値化
画像Ｓ1 〜Ｓ3 の重心位置Ｇ1 （ｘ1 、ｙ1 ）、Ｇ
2 （ｘ2、ｙ2 ）、Ｇ3 （ｘ3 、ｙ3 ）を求める（ステ
ップｃ）。更に、これらの重心位置Ｇ1 、Ｇ2 、Ｇ3 の
全体の重心位置Ｇ（ｘ、ｙ）を次の式から演算して求め
る（ステップｄ） ｘ＝（ｘ1 ＋ｘ2 ＋ｘ3 ）／３、 ｙ＝（ｙ1 ＋ｙ2 ＋
ｙ3 ）／３ この全体の重心位置Ｇ（ｘ、ｙ）に基づき、例えば前述
の数式（１）を用いて、鋼板１０のレーザー光が照射さ
れた位置を演算する。この処理を各スポットレーザー光
群について行い、鋼板１０の反り量あるいはプロフィー
ルを演算する（ステップｅ）。
【００１３】なお、図２（Ｂ）には一つのスポットレー
ザー光を用いて、その反射スポットレーザー光を２値化
して重心位置を求めた場合の例を示しているが、鋼板の
表面の反射率が均等でない場合には、実際のレーザー光
の中心位置ＧC より、画像の重心位置Ｇ0 が大きくずれ
る場合があることが分かる。表１は、実験による３本の
スポットレーザー光を使用した場合と、１本のスポット
レーザー光を使用した場合のスポット重心の分散を比較
したものであり、３本のスポットレーザー光を使用した
方が精度が向上していることが分かる。
ザー光を用いて、その反射スポットレーザー光を２値化
して重心位置を求めた場合の例を示しているが、鋼板の
表面の反射率が均等でない場合には、実際のレーザー光
の中心位置ＧC より、画像の重心位置Ｇ0 が大きくずれ
る場合があることが分かる。表１は、実験による３本の
スポットレーザー光を使用した場合と、１本のスポット
レーザー光を使用した場合のスポット重心の分散を比較
したものであり、３本のスポットレーザー光を使用した
方が精度が向上していることが分かる。
【００１４】
【表１】
【００１５】なお、前記実施例は一群につき３本のスポ
ットレーザー光を使用した場合について説明したが、２
本あるいは４本以上であっても同様であり、それぞれの
スポットレーザー光の重心の位置を検知し、これらの重
心の位置のｘｙ座標を平均して全体の重心の位置を計算
し、この全体の重心の位置に基づいて反り量を演算する
ことになる。また、前記実施例においては、例えば、数
式（１）を用い三角測量法に基づいて反り量を測定した
が、他の方法による測定方法であっても、レーザー光の
照射位置を基準にして反り量を演算する測定方法に本発
明が適用されることは当然である。
ットレーザー光を使用した場合について説明したが、２
本あるいは４本以上であっても同様であり、それぞれの
スポットレーザー光の重心の位置を検知し、これらの重
心の位置のｘｙ座標を平均して全体の重心の位置を計算
し、この全体の重心の位置に基づいて反り量を演算する
ことになる。また、前記実施例においては、例えば、数
式（１）を用い三角測量法に基づいて反り量を測定した
が、他の方法による測定方法であっても、レーザー光の
照射位置を基準にして反り量を演算する測定方法に本発
明が適用されることは当然である。
【００１６】
【発明の効果】請求項１記載の板材の反り量測定方法
は、以上の説明からも明らかなように、仮に板材の表面
が部分的に反射率の異なるものであっても、比較的精密
に板材の反り量を測定できる。
は、以上の説明からも明らかなように、仮に板材の表面
が部分的に反射率の異なるものであっても、比較的精密
に板材の反り量を測定できる。
【図１】本発明の一実施例に係る板材の反り量測定方法
を示す斜視図である。
を示す斜視図である。
【図２】測定原理を示す説明図である。
【図３】フロー図である。
【図４】従来例に係るレーザー光を用いた鋼板の反り量
を測定する装置の概略構成図である。
を測定する装置の概略構成図である。
１０ 鋼板（測定対象板材） １１ 半導体レーザー群 １１ａ 半導体レーザー素子 １２ ＣＣＤカメラ １３ 画像処理装置
Claims (1)
- 【請求項１】 近接配備された複数の平行スポット光を
測定対象板材に照射して、これらの反射スポット光を所
定位置に配置されたカメラによって撮像し、撮像された
前記それぞれの反射スポット光の各重心位置から全体の
重心位置を求め、求められた全体の重心位置を用いて前
記測定対象板材の反り量を測定することを特徴とする板
材の反り量測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5283294A JPH07234116A (ja) | 1994-02-24 | 1994-02-24 | 板材の反り量測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5283294A JPH07234116A (ja) | 1994-02-24 | 1994-02-24 | 板材の反り量測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07234116A true JPH07234116A (ja) | 1995-09-05 |
Family
ID=12925826
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5283294A Withdrawn JPH07234116A (ja) | 1994-02-24 | 1994-02-24 | 板材の反り量測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07234116A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7800643B2 (en) | 2005-06-28 | 2010-09-21 | Fujitsu Limited | Image obtaining apparatus |
| WO2016016972A1 (ja) * | 2014-07-30 | 2016-02-04 | 有限会社ワイ・システムズ | 表面形状の測定方法および測定装置 |
| WO2016163355A1 (ja) * | 2015-04-09 | 2016-10-13 | 三菱電機株式会社 | 変位測定装置 |
-
1994
- 1994-02-24 JP JP5283294A patent/JPH07234116A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7800643B2 (en) | 2005-06-28 | 2010-09-21 | Fujitsu Limited | Image obtaining apparatus |
| WO2016016972A1 (ja) * | 2014-07-30 | 2016-02-04 | 有限会社ワイ・システムズ | 表面形状の測定方法および測定装置 |
| CN106716056A (zh) * | 2014-07-30 | 2017-05-24 | 瓦伊系统有限公司 | 表面形状的测量方法以及测量装置 |
| JPWO2016016972A1 (ja) * | 2014-07-30 | 2017-06-01 | 有限会社ワイ・システムズ | 表面形状の測定方法および測定装置 |
| US10283419B2 (en) | 2014-07-30 | 2019-05-07 | Ysystems, Ltd. | Method and apparatus for measuring surface profile |
| CN106716056B (zh) * | 2014-07-30 | 2020-01-31 | 瓦伊系统有限公司 | 表面形状的测量方法以及测量装置 |
| WO2016163355A1 (ja) * | 2015-04-09 | 2016-10-13 | 三菱電機株式会社 | 変位測定装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010508 |