JPH07234247A - テスター用保護カバー - Google Patents
テスター用保護カバーInfo
- Publication number
- JPH07234247A JPH07234247A JP2541194A JP2541194A JPH07234247A JP H07234247 A JPH07234247 A JP H07234247A JP 2541194 A JP2541194 A JP 2541194A JP 2541194 A JP2541194 A JP 2541194A JP H07234247 A JPH07234247 A JP H07234247A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detecting portion
- tester
- protective cover
- spring
- spring seat
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電気機器の諸測定に用いるテスターに於い
て、検知部の過度な露出による不用意な短絡事故を防
ぎ、かつ狭隘な部分の測定には必要なだけ検知部を露出
せしめるような構造を提供する。 【構成】 テスターの検知部１にホルダー２で係止する
ようなばね座５を圧入し、軸になる検知部１にばね４を
挿入し、先端の孔に検知部１を遊合貫通し僅かに該検知
部１が突出するような保護カバー３を、ばね座５に係着
せしめる構造とする。
て、検知部の過度な露出による不用意な短絡事故を防
ぎ、かつ狭隘な部分の測定には必要なだけ検知部を露出
せしめるような構造を提供する。 【構成】 テスターの検知部１にホルダー２で係止する
ようなばね座５を圧入し、軸になる検知部１にばね４を
挿入し、先端の孔に検知部１を遊合貫通し僅かに該検知
部１が突出するような保護カバー３を、ばね座５に係着
せしめる構造とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、種々の電気工作物の検
査時に使用する、テスターを安全に使用することが出来
る保護カバーに関するものである。
査時に使用する、テスターを安全に使用することが出来
る保護カバーに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来は一般に、図３に示すように、ホル
ダー２に保持された検知部１は、狭隘な部分に挿入して
測定出来るように、細い検知部が長く露出していた。
ダー２に保持された検知部１は、狭隘な部分に挿入して
測定出来るように、細い検知部が長く露出していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来よりテスターは電
気的測定検査に多く用いられて来たが、その際テスター
の検知部１の露出部が大きいために、短絡事故を起こし
ていた。本発明はこのような事故を防ぎ、かつ狭隘な部
分にも自由に対応できるように、テスターの検知部１の
露出を必要に応じて可変に露出させ得るように工夫し
た。
気的測定検査に多く用いられて来たが、その際テスター
の検知部１の露出部が大きいために、短絡事故を起こし
ていた。本発明はこのような事故を防ぎ、かつ狭隘な部
分にも自由に対応できるように、テスターの検知部１の
露出を必要に応じて可変に露出させ得るように工夫し
た。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記のような課題を解決
するため、テスターの検知部１にホルダー２で係止する
ようなばね座５を圧入し、軸になる検知部１にばね４を
挿入し、先端の孔に検知部１を遊合貫通し、僅かに該検
知部１が突出するような保護カバー３を、ばね座５に係
着せしめ、保護カバー３がばね４を圧縮して、電気的測
定検査に必要なだけ検知部１を露出せしめ、不用意な短
絡事故を防止する。
するため、テスターの検知部１にホルダー２で係止する
ようなばね座５を圧入し、軸になる検知部１にばね４を
挿入し、先端の孔に検知部１を遊合貫通し、僅かに該検
知部１が突出するような保護カバー３を、ばね座５に係
着せしめ、保護カバー３がばね４を圧縮して、電気的測
定検査に必要なだけ検知部１を露出せしめ、不用意な短
絡事故を防止する。
【０００５】
【実施例】以下に実施例を図に基ずいて説明する。図１
はテスター保護カバーを使用した場合のテスター検知部
の断面図、図２はその構成を示す図である。テスター
は、本来検知部１が露出している場合が多く、又保護さ
れている場合は必要以上に保護されていて、狭隘な部分
の測定に不具合である。このようなテスターに於いて必
要な部分だけを露出して、露出し過ぎによる短絡や、狭
隘部分の検査にも支障がないようにするため、図２に示
すような、保護カバー３を使用する。先ずテスターの検
知部１にホルダー２まで一杯に、ばね座５を圧入する。
検知部１とばね座５にばね４を挿入し、更に先端に孔の
明いた保護カバー３を、先端から僅か検知部１が遊合突
出するように被せて、ばね座５に係着させる。ばね座５
は例えばゴム素材とし、ばね４は例えばビニール被覆さ
れたものとし、保護カバー３はプラスチック素材とす
る。保護カバー３は、検知部１に対して、遊合している
ものとする。
はテスター保護カバーを使用した場合のテスター検知部
の断面図、図２はその構成を示す図である。テスター
は、本来検知部１が露出している場合が多く、又保護さ
れている場合は必要以上に保護されていて、狭隘な部分
の測定に不具合である。このようなテスターに於いて必
要な部分だけを露出して、露出し過ぎによる短絡や、狭
隘部分の検査にも支障がないようにするため、図２に示
すような、保護カバー３を使用する。先ずテスターの検
知部１にホルダー２まで一杯に、ばね座５を圧入する。
検知部１とばね座５にばね４を挿入し、更に先端に孔の
明いた保護カバー３を、先端から僅か検知部１が遊合突
出するように被せて、ばね座５に係着させる。ばね座５
は例えばゴム素材とし、ばね４は例えばビニール被覆さ
れたものとし、保護カバー３はプラスチック素材とす
る。保護カバー３は、検知部１に対して、遊合している
ものとする。
【０００６】使用例としては、コンセントの受け側の孔
に差し込む場合、検知部１の先端を孔に当て、そのまま
押すと、図２の保護カバー３がばね４により移動し、電
圧の検知出来る部分までテスターの検知部が露出する。
測定後、テスターを孔から抜くとばね４の力により保護
カバー３は、再びテスターの検知部を隠す。この作動に
より、テスターの検知部１を一度も必要以上に露出させ
ることなく、測定を行うことが出来る。
に差し込む場合、検知部１の先端を孔に当て、そのまま
押すと、図２の保護カバー３がばね４により移動し、電
圧の検知出来る部分までテスターの検知部が露出する。
測定後、テスターを孔から抜くとばね４の力により保護
カバー３は、再びテスターの検知部を隠す。この作動に
より、テスターの検知部１を一度も必要以上に露出させ
ることなく、測定を行うことが出来る。
【０００７】
【発明の効果】本発明の効果は、電気機器の諸測定に用
いるテスターに於いて、検知部の過度な露出による不用
意な短絡事故を防ぎ、かつ狭隘な部分の測定には必要な
だけ検知部を露出せしめるような構造を提供する。
いるテスターに於いて、検知部の過度な露出による不用
意な短絡事故を防ぎ、かつ狭隘な部分の測定には必要な
だけ検知部を露出せしめるような構造を提供する。
【図１】本発明の保護カバー部組立断面図である。
【図２】本発明の構成部品図で（ａ）は保護カバー、
（ｂ）はばね、（ｃ）はばね座の図である。
（ｂ）はばね、（ｃ）はばね座の図である。
【図３】従来の一般のテスター検知部を示す図である。
１・・・検知部、２・・・ホルダー、３・・・保護カバ
ー、４・・・ばね、５・・・ばね座
ー、４・・・ばね、５・・・ばね座
Claims (1)
- 【請求項１】 テスターの検知部１に、ホルダー２で係
止するようなばね座５を圧入し、軸になる検知部１にば
ね４を挿入し、先端の孔に検知部１を遊合貫通し僅かに
該検知部１が突出するような円筒形保護カバー３を、ば
ね座５に係着せしめてなることを特徴とするテスター用
保護カバー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2541194A JPH07234247A (ja) | 1994-02-23 | 1994-02-23 | テスター用保護カバー |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2541194A JPH07234247A (ja) | 1994-02-23 | 1994-02-23 | テスター用保護カバー |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07234247A true JPH07234247A (ja) | 1995-09-05 |
Family
ID=12165191
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2541194A Pending JPH07234247A (ja) | 1994-02-23 | 1994-02-23 | テスター用保護カバー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07234247A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011185688A (ja) * | 2010-03-08 | 2011-09-22 | Hioki Ee Corp | 測定用プローブ |
| JP2018136195A (ja) * | 2017-02-22 | 2018-08-30 | 日置電機株式会社 | プローブ装置および測定システム |
-
1994
- 1994-02-23 JP JP2541194A patent/JPH07234247A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011185688A (ja) * | 2010-03-08 | 2011-09-22 | Hioki Ee Corp | 測定用プローブ |
| JP2018136195A (ja) * | 2017-02-22 | 2018-08-30 | 日置電機株式会社 | プローブ装置および測定システム |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19990112 |