JPH07234251A - 測定機器用結合回路 - Google Patents
測定機器用結合回路Info
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- JPH07234251A JPH07234251A JP6033189A JP3318994A JPH07234251A JP H07234251 A JPH07234251 A JP H07234251A JP 6033189 A JP6033189 A JP 6033189A JP 3318994 A JP3318994 A JP 3318994A JP H07234251 A JPH07234251 A JP H07234251A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
- H02H9/00—Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection
- H02H9/02—Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess current
- H02H9/026—Current limitation using PTC resistors, i.e. resistors with a large positive temperature coefficient
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
- H02H9/00—Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection
- H02H9/02—Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess current
- H02H9/025—Current limitation using field effect transistors
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
- H02H9/00—Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection
- H02H9/04—Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage
- H02H9/042—Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage comprising means to limit the absorbed power or indicate damaged over-voltage protection device
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 入力インピーダンスを切り替えて被測定電圧
源からの電流の望ましくない初期ラッシュが測定機器回
路に流れるのを防止する。 【構成】 入力端子１０及び測定機器回路１４間にサー
ミスタ２０及び定電流回路２４、２６を挿入する。サー
ミスタに熱的に結合したバリスター３４、３６は、定電
流回路を分路する。電流の初期流入を定電流回路が制御
する。定電流回路の電圧降下がバリスターの折れ点電圧
に達すると、バリスターが定電流回路を分路し、サーミ
スタに熱を加えて、このサーミスタを高抵抗状態に遷移
させる。サーミスタが入力電圧のほとんどの電圧降下を
担うので、測定機器回路を入力端子から実質的に分離し
て、定電流回路及びバリスターに高電圧が印加するのを
防止する。
源からの電流の望ましくない初期ラッシュが測定機器回
路に流れるのを防止する。 【構成】 入力端子１０及び測定機器回路１４間にサー
ミスタ２０及び定電流回路２４、２６を挿入する。サー
ミスタに熱的に結合したバリスター３４、３６は、定電
流回路を分路する。電流の初期流入を定電流回路が制御
する。定電流回路の電圧降下がバリスターの折れ点電圧
に達すると、バリスターが定電流回路を分路し、サーミ
スタに熱を加えて、このサーミスタを高抵抗状態に遷移
させる。サーミスタが入力電圧のほとんどの電圧降下を
担うので、測定機器回路を入力端子から実質的に分離し
て、定電流回路及びバリスターに高電圧が印加するのを
防止する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、マルチメータの如き測
定機器のための入力結合回路、特に、電圧を測定すべき
時に、低インピーダンス回路から入力端子又は入力端子
群を切り放すのに適した測定機器用結合回路に関する。
定機器のための入力結合回路、特に、電圧を測定すべき
時に、低インピーダンス回路から入力端子又は入力端子
群を切り放すのに適した測定機器用結合回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】多目的測定機器は、例えば、ある動作モ
ードから他の動作モードに手動で切り替えることなく、
同じ１組の入力端子又はプローブにより、電圧測定又は
抵抗測定を行うことができる。かかる測定機器は、典型
的には、所定値よりも大きな電圧信号が検出された場
合、測定機能を抵抗（オーム）測定から交流又は直流電
圧測定に自動的に切り替える比較回路を含んでいる。こ
の機能は、測定を迅速にすると共に、使用を簡単にす
る。
ードから他の動作モードに手動で切り替えることなく、
同じ１組の入力端子又はプローブにより、電圧測定又は
抵抗測定を行うことができる。かかる測定機器は、典型
的には、所定値よりも大きな電圧信号が検出された場
合、測定機能を抵抗（オーム）測定から交流又は直流電
圧測定に自動的に切り替える比較回路を含んでいる。こ
の機能は、測定を迅速にすると共に、使用を簡単にす
る。
【０００３】抵抗測定の場合、マルチメータは、１〜３
ボルトの電圧源から約０．５〜１ミリアンペアの直流電
流を供給する必要がある。これを達成するために、マル
チメータの回路内の抵抗は、約１０、０００オームより
も小さくなければならない。しかし、この同じ回路は、
典型的には、６００〜１、０００ボルトのレンジ内であ
るマルチメータの最大定格入力電圧に耐えなければなら
ない。この回路と直列になった約１０、０００オームの
抵抗器にこの電圧降下を生じるが、必要とする電力定格
によって、抵抗器の物理的な大きさがハンドヘルド測定
機器に向かないほど大きくなる。さらに、電圧測定機器
は、測定精度を維持し、被試験回路の負荷になることを
避けるために、従来より高インピーダンス装置でなけれ
ばならなかった。過大電流を引き込むのを防止するため
には、数千オーム以上の非常に高いインピーダンスが必
要である。
ボルトの電圧源から約０．５〜１ミリアンペアの直流電
流を供給する必要がある。これを達成するために、マル
チメータの回路内の抵抗は、約１０、０００オームより
も小さくなければならない。しかし、この同じ回路は、
典型的には、６００〜１、０００ボルトのレンジ内であ
るマルチメータの最大定格入力電圧に耐えなければなら
ない。この回路と直列になった約１０、０００オームの
抵抗器にこの電圧降下を生じるが、必要とする電力定格
によって、抵抗器の物理的な大きさがハンドヘルド測定
機器に向かないほど大きくなる。さらに、電圧測定機器
は、測定精度を維持し、被試験回路の負荷になることを
避けるために、従来より高インピーダンス装置でなけれ
ばならなかった。過大電流を引き込むのを防止するため
には、数千オーム以上の非常に高いインピーダンスが必
要である。
【０００４】この問題は、正温度係数（ＰＴＣ）のサー
ミスタを抵抗測定電流源回路及び測定機器の入力端子間
に挿入することにより、部分的に解決できる。そして、
所定値よりも高い電圧が存在する際に、充分な電流をサ
ーミスタ本体に流して、その抵抗を比較的低い値から数
百キロ・オームの値に変化させて、過大電流が流れるの
を阻止する。しかし、サーミスタの動作は瞬間的ではな
く、また、キュリー温度に達する前に、即ち、サーミス
タが高抵抗状態になる前に、電流の初期サージ又は流入
が生じる。被測定電圧を生じる回路から見れば、この初
期流入電流は好ましくない。よって、多目的測定機器
が、大電流を引き込むことなく、電圧を測定できること
が望ましい。
ミスタを抵抗測定電流源回路及び測定機器の入力端子間
に挿入することにより、部分的に解決できる。そして、
所定値よりも高い電圧が存在する際に、充分な電流をサ
ーミスタ本体に流して、その抵抗を比較的低い値から数
百キロ・オームの値に変化させて、過大電流が流れるの
を阻止する。しかし、サーミスタの動作は瞬間的ではな
く、また、キュリー温度に達する前に、即ち、サーミス
タが高抵抗状態になる前に、電流の初期サージ又は流入
が生じる。被測定電圧を生じる回路から見れば、この初
期流入電流は好ましくない。よって、多目的測定機器
が、大電流を引き込むことなく、電圧を測定できること
が望ましい。
【０００５】この点をさらに説明する。図３は、マルチ
メータ機器の従来の結合回路を示す。入力端子又はプロ
ーブ１０及び１２を測定機器回路１４に結合する。この
場合、この測定機器回路１４は、抵抗（オーム）測定用
の電流源である。可融性抵抗器１６、標準抵抗器１８及
び正温度係数（ＰＴＣ）のサーミスタ２０を、端子１０
及び回路１４間に直列接続する。既知の分路（シャン
ト）保護回路２２を回路１４と並列接続する。この保護
回路２２は、好適には、端と端とを接して接続され、ツ
ェナー・ダイオードとして動作するように設計された１
対の電圧クランプ・トランジスタを有する。よって、測
定機器回路１４の電圧降下が所定値、例えば、１０ボル
ト以上に上昇すると、保護回路（電圧クランプ・トラン
ジスタ）２２が導通する。
メータ機器の従来の結合回路を示す。入力端子又はプロ
ーブ１０及び１２を測定機器回路１４に結合する。この
場合、この測定機器回路１４は、抵抗（オーム）測定用
の電流源である。可融性抵抗器１６、標準抵抗器１８及
び正温度係数（ＰＴＣ）のサーミスタ２０を、端子１０
及び回路１４間に直列接続する。既知の分路（シャン
ト）保護回路２２を回路１４と並列接続する。この保護
回路２２は、好適には、端と端とを接して接続され、ツ
ェナー・ダイオードとして動作するように設計された１
対の電圧クランプ・トランジスタを有する。よって、測
定機器回路１４の電圧降下が所定値、例えば、１０ボル
ト以上に上昇すると、保護回路（電圧クランプ・トラン
ジスタ）２２が導通する。
【０００６】端子１０及び１２間に電圧が実質的に供給
されないと、測定機器は「オーム」モードにて動作する
ように設計されているので、回路１４は、素子１６、１
８及び２０を介して電流を供給する。これら素子の総て
は、これらの条件下では、低抵抗である。しかし、端子
１０及び１２に供給される電圧が数ボルト以上である
と、電圧測定を行う。しかし、測定精度の観点から入力
端子間の低インピーダンスが好ましくなかったり、被測
定回路にダメージや誤調整があると、、図３の回路は実
質的に非接続になろうとする。端子１０及び１２間の電
圧は、高入力インピーダンスを介して、図３に示さない
他の手段と協動で測定される。
されないと、測定機器は「オーム」モードにて動作する
ように設計されているので、回路１４は、素子１６、１
８及び２０を介して電流を供給する。これら素子の総て
は、これらの条件下では、低抵抗である。しかし、端子
１０及び１２に供給される電圧が数ボルト以上である
と、電圧測定を行う。しかし、測定精度の観点から入力
端子間の低インピーダンスが好ましくなかったり、被測
定回路にダメージや誤調整があると、、図３の回路は実
質的に非接続になろうとする。端子１０及び１２間の電
圧は、高入力インピーダンスを介して、図３に示さない
他の手段と協動で測定される。
【０００７】端子１０及び１２間に、所定電圧値と等し
いかそれよりも高い電圧が供給されると、サーミスタ２
０本体はキューリ温度以上に加熱され、その抵抗が数オ
ームから数百キロオームに変化して、消費電力を約１ワ
ットに制限する。充分に高い電圧が供給されると、可融
性抵抗器１６がオープンになる。しかし、電圧がサーミ
スタ２０から切り放されている通常の時は、サーミスタ
２０を冷やし、その通常状態に戻すので、オーム測定が
もう一度行われる。
いかそれよりも高い電圧が供給されると、サーミスタ２
０本体はキューリ温度以上に加熱され、その抵抗が数オ
ームから数百キロオームに変化して、消費電力を約１ワ
ットに制限する。充分に高い電圧が供給されると、可融
性抵抗器１６がオープンになる。しかし、電圧がサーミ
スタ２０から切り放されている通常の時は、サーミスタ
２０を冷やし、その通常状態に戻すので、オーム測定が
もう一度行われる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】図３の回路は、非常に
有用であるが、いくつかの欠点がある。マルチメータの
最大定格に近い入力電圧が供給されると、サーミスタ２
０が高抵抗状態に変化する前に、大きな初期入力電流
（数百ミリアンペア）がサーミスタ２０を流れることが
できる。多くの場合、このことにより、測定機器のユー
ザは、問題を抱え込む。すなわち、被測定回路からの電
流のサージを引き込むのは、望ましくない。さらに、高
い入力電圧により、サーミスタ２０は誘電体吸収効果を
生じるので、高入力電圧を除いた後に、サーミスタがそ
れ自体の電圧を発生し、測定機器の応答時間を低下させ
る。繰り返し測定によるサーミスタの熱的循環により、
信頼性の問題が生じ、サーミスタの高温度が測定機器の
上限動作温度を制限してしまう。
有用であるが、いくつかの欠点がある。マルチメータの
最大定格に近い入力電圧が供給されると、サーミスタ２
０が高抵抗状態に変化する前に、大きな初期入力電流
（数百ミリアンペア）がサーミスタ２０を流れることが
できる。多くの場合、このことにより、測定機器のユー
ザは、問題を抱え込む。すなわち、被測定回路からの電
流のサージを引き込むのは、望ましくない。さらに、高
い入力電圧により、サーミスタ２０は誘電体吸収効果を
生じるので、高入力電圧を除いた後に、サーミスタがそ
れ自体の電圧を発生し、測定機器の応答時間を低下させ
る。繰り返し測定によるサーミスタの熱的循環により、
信頼性の問題が生じ、サーミスタの高温度が測定機器の
上限動作温度を制限してしまう。
【０００９】したがって、本発明の目的は、望ましくな
い影響を生じることなく、測定機能を変更できる改良さ
れた測定機器用結合回路の提供にある。
い影響を生じることなく、測定機能を変更できる改良さ
れた測定機器用結合回路の提供にある。
【００１０】本発明の他の目的は、通常は低インピーダ
ンス路を与えるが、高インピーダンス状態に切り替わっ
て、被測定電圧源からの電流の望ましくない初期ラッシ
ュ（急激な増加）を防止する改良された測定機器用結合
回路の提供にある。
ンス路を与えるが、高インピーダンス状態に切り替わっ
て、被測定電圧源からの電流の望ましくない初期ラッシ
ュ（急激な増加）を防止する改良された測定機器用結合
回路の提供にある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、測定機
器の入力端子又はプローブと電流源回路との間に挿入さ
れた入力結合回路は、サーミスタ及び電流制限手段を直
列に具えている。この電流制限手段は、増加した電流を
検出し、瞬間的にそのインピーダンスを増加できる。ま
た、電流制限手段は、好適には、定電流源回路を具えて
おり、この定電流源回路は、帰還接続を有し、電流が所
定値を越えるのを阻止するように動作する。特定実施例
において、この定電流源回路は、端と端とが接するよう
に直列接続されたＭＯＳＦＥＴ（酸化金属半導体トラン
ジスタ）を具え、これらトランジスタの間には、電流検
出用のバイアス抵抗器を有する。
器の入力端子又はプローブと電流源回路との間に挿入さ
れた入力結合回路は、サーミスタ及び電流制限手段を直
列に具えている。この電流制限手段は、増加した電流を
検出し、瞬間的にそのインピーダンスを増加できる。ま
た、電流制限手段は、好適には、定電流源回路を具えて
おり、この定電流源回路は、帰還接続を有し、電流が所
定値を越えるのを阻止するように動作する。特定実施例
において、この定電流源回路は、端と端とが接するよう
に直列接続されたＭＯＳＦＥＴ（酸化金属半導体トラン
ジスタ）を具え、これらトランジスタの間には、電流検
出用のバイアス抵抗器を有する。
【００１２】本発明の他の特徴によれば、酸化金属バリ
スター（ＭＯＶ）を上述の定電流源回路を分路（シャン
ト）する関係で配置して、この定電流源回路の電圧降下
が所定値以上に増加した際に、この定電流源回路を保護
する。さらに、バリスター及び上述のサーミスタの間に
熱結合手段を配置するので、バリスターがその折れ点
（ニー）電圧に達し、その温度が増加すると、熱が急速
にサーミスタに伝達して、このサーミスタが高抵抗状態
に遷移し、電流源回路及びバリスターの両方を保護す
る。バリスターにより分路される別の電流源回路を、入
力端子及び測定回路間に直列に挿入することもできる。
スター（ＭＯＶ）を上述の定電流源回路を分路（シャン
ト）する関係で配置して、この定電流源回路の電圧降下
が所定値以上に増加した際に、この定電流源回路を保護
する。さらに、バリスター及び上述のサーミスタの間に
熱結合手段を配置するので、バリスターがその折れ点
（ニー）電圧に達し、その温度が増加すると、熱が急速
にサーミスタに伝達して、このサーミスタが高抵抗状態
に遷移し、電流源回路及びバリスターの両方を保護す
る。バリスターにより分路される別の電流源回路を、入
力端子及び測定回路間に直列に挿入することもできる。
【００１３】本発明の要旨は、本明細書に明瞭に説明し
てある。しかし、本発明の構成及び動作方法と共に、そ
の他の利点及び目的は、添付図を参照した以下の説明よ
り理解できよう。なお、図において、同じ参照番号は、
同じ素子を示す。
てある。しかし、本発明の構成及び動作方法と共に、そ
の他の利点及び目的は、添付図を参照した以下の説明よ
り理解できよう。なお、図において、同じ参照番号は、
同じ素子を示す。
【００１４】
【実施例】図１は、本発明による結合回路を示す。な
お、図３と同じ素子は、同じ参照番号で示す。図１の回
路は、電流制限手段を具えており、この電流制限手段
は、可融性抵抗器１６及びサーミスタ２０と直列関係に
ある第１定電流回路２４及び第２定電流回路２６を有す
る。これら１対の定電流回路（電流源回路）は、特定の
測定機器電圧定格に適合するように選択されている。こ
れら定電流回路は、１個のかかる回路、又は３個以上の
直列回路と必要に応じて置換できることが理解できよ
う。
お、図３と同じ素子は、同じ参照番号で示す。図１の回
路は、電流制限手段を具えており、この電流制限手段
は、可融性抵抗器１６及びサーミスタ２０と直列関係に
ある第１定電流回路２４及び第２定電流回路２６を有す
る。これら１対の定電流回路（電流源回路）は、特定の
測定機器電圧定格に適合するように選択されている。こ
れら定電流回路は、１個のかかる回路、又は３個以上の
直列回路と必要に応じて置換できることが理解できよ
う。
【００１５】定電流回路の各々、例えば、回路２４は、
１対の定電流源を具えており、この定電流源は、バイア
ス抵抗器３２を介してソース同士が結合して直列回路と
した背中合わせの構造のＮチャンネル・デプレション・
モードＭＯＳＦＥＴを有する。抵抗器３２の値は、電流
制限値を設定するように選択される。トランジスタ３０
のドレインをサーミスタ２０に接続し、トランジスタ２
８のドレインを、次段の電流源回路２６内の第１トラン
ジスタのドレインに接続する。
１対の定電流源を具えており、この定電流源は、バイア
ス抵抗器３２を介してソース同士が結合して直列回路と
した背中合わせの構造のＮチャンネル・デプレション・
モードＭＯＳＦＥＴを有する。抵抗器３２の値は、電流
制限値を設定するように選択される。トランジスタ３０
のドレインをサーミスタ２０に接続し、トランジスタ２
８のドレインを、次段の電流源回路２６内の第１トラン
ジスタのドレインに接続する。
【００１６】トランジスタ２８のゲートは、抵抗器３２
の反対端、即ち、トランジスタ３０のソースに結合す
る。一方、トランジスタ３０のゲートは、同様に帰還形
式で、トランジスタ２８のソースに接続された抵抗器３
２の端子に接続する。これらの接続により、増加した電
流を検出する。通常の環境で「オーム」測定の際は、ト
ランジスタ２８及び３０は完全にオンで、オーム測定と
両立できる非常に低い抵抗値の電流路となる。しかし、
抵抗器３２を流れる電流が所定の閾値に達すると、トラ
ンジスタ２８及び３０の夫々のゲートは、帰還電圧を受
けて、これらトランジスタを流れる電流が所定値以上に
上昇するのを防止する。よって、所定値以上の電圧が端
子１０及び１２間に存在したときに、この回路に電流の
初期流入が生じるのを防止する。電流源回路（電流源手
段）２４のインピーダンスは実質的に増加し、最大初期
入力電流は、典型的には、１００分の１以下に減少す
る。
の反対端、即ち、トランジスタ３０のソースに結合す
る。一方、トランジスタ３０のゲートは、同様に帰還形
式で、トランジスタ２８のソースに接続された抵抗器３
２の端子に接続する。これらの接続により、増加した電
流を検出する。通常の環境で「オーム」測定の際は、ト
ランジスタ２８及び３０は完全にオンで、オーム測定と
両立できる非常に低い抵抗値の電流路となる。しかし、
抵抗器３２を流れる電流が所定の閾値に達すると、トラ
ンジスタ２８及び３０の夫々のゲートは、帰還電圧を受
けて、これらトランジスタを流れる電流が所定値以上に
上昇するのを防止する。よって、所定値以上の電圧が端
子１０及び１２間に存在したときに、この回路に電流の
初期流入が生じるのを防止する。電流源回路（電流源手
段）２４のインピーダンスは実質的に増加し、最大初期
入力電流は、典型的には、１００分の１以下に減少す
る。
【００１７】この回路に酸化金属バリスター（ＭＯＶ）
３４及び３も設けるが、これらバリスターは、電流源回
路２４及び２６を分路する関係で夫々配置する。これら
バリスター３４及び３６は、電流源回路２４及び２６の
トランジスタを過大なドレイン・ソース電圧から保護す
る。よって、電流源回路を流れる電流及びその結果の電
流源回路の電圧降下が所定値に達すると、バリスター３
４、３６の折れ点電圧に達し、バリスターが定電流回路
２４及び２６を分路して、これら回路を保護する。さら
に、図１で点線３８で示す熱結合手段をバリスター３
４、３６及びサーミスタ２０間に設ける。バリスター３
４、３６が導通し始めると、熱が直ちにバリスターから
サーミスタ２０に伝わって、サーミスタ２０が高抵抗状
態への遷移を起こすか、この遷移を促進する。サーミス
タ２０は、端子１０及び１２間の入力電圧の大部分の電
圧降下を負担し、電圧測定期間中、図１の回路を実質的
に分離する。一方、バリスター３４、３６を及び電流源
回路２４、２６を、持続する高電圧状態から保護する。
なお、この保護が行われなければ、これら回路が故障す
る。
３４及び３も設けるが、これらバリスターは、電流源回
路２４及び２６を分路する関係で夫々配置する。これら
バリスター３４及び３６は、電流源回路２４及び２６の
トランジスタを過大なドレイン・ソース電圧から保護す
る。よって、電流源回路を流れる電流及びその結果の電
流源回路の電圧降下が所定値に達すると、バリスター３
４、３６の折れ点電圧に達し、バリスターが定電流回路
２４及び２６を分路して、これら回路を保護する。さら
に、図１で点線３８で示す熱結合手段をバリスター３
４、３６及びサーミスタ２０間に設ける。バリスター３
４、３６が導通し始めると、熱が直ちにバリスターから
サーミスタ２０に伝わって、サーミスタ２０が高抵抗状
態への遷移を起こすか、この遷移を促進する。サーミス
タ２０は、端子１０及び１２間の入力電圧の大部分の電
圧降下を負担し、電圧測定期間中、図１の回路を実質的
に分離する。一方、バリスター３４、３６を及び電流源
回路２４、２６を、持続する高電圧状態から保護する。
なお、この保護が行われなければ、これら回路が故障す
る。
【００１８】図１に点線３８で示した熱結合手段は、図
２に示すように、端部と端部とが対向する関係でサーミ
スタ２０及びバリスター３４、３６を一緒にすることに
より実現できる。サーミスタ及びバリスターは、好適に
は、素子２０、３４を分離する金属スペーサ４０と、素
子３４、３６を分離する金属スペーサ４２を有する列に
配置された筒状構造のバルク素子又はスラグを具えてい
る。スペーサ４０及び４２は、個々のサーミスタ及びバ
リスター・スラグ間を半田付けするが、この半田は、熱
で調合され金属が充填されたエポキシ樹脂である。図２
における列の左端及び右端の金属端部に、電気的導電円
盤４４及び４６を設けてもよい。図２の実施例は、素子
２０、３４及び３６の所望の電気的接続及び熱結合を行
う。しかし、所望の熱結合を行う他の物理的実施例も代
用できる。
２に示すように、端部と端部とが対向する関係でサーミ
スタ２０及びバリスター３４、３６を一緒にすることに
より実現できる。サーミスタ及びバリスターは、好適に
は、素子２０、３４を分離する金属スペーサ４０と、素
子３４、３６を分離する金属スペーサ４２を有する列に
配置された筒状構造のバルク素子又はスラグを具えてい
る。スペーサ４０及び４２は、個々のサーミスタ及びバ
リスター・スラグ間を半田付けするが、この半田は、熱
で調合され金属が充填されたエポキシ樹脂である。図２
における列の左端及び右端の金属端部に、電気的導電円
盤４４及び４６を設けてもよい。図２の実施例は、素子
２０、３４及び３６の所望の電気的接続及び熱結合を行
う。しかし、所望の熱結合を行う他の物理的実施例も代
用できる。
【００１９】本発明の好適な実施例を図示し説明した
が、本発明の要旨を逸脱することなく多くの変形変更が
可能である。よって、特許請求の範囲は、本発明の要旨
に基づくかかる総ての変形変更をカバーする。
が、本発明の要旨を逸脱することなく多くの変形変更が
可能である。よって、特許請求の範囲は、本発明の要旨
に基づくかかる総ての変形変更をカバーする。
【００２０】
【発明の効果】上述の如く、本発明によれば、所定値以
上の電圧が測定機器の入力端子に現れたときに、電流源
として用いる低インピーダンスの測定機器回路を試験回
路から実質的に分離できる。望ましくない初期流入電流
を通過させる電流低減直列サーミスタは、このサーミス
タがその高抵抗状態に切り替わる、即ち、遷移する前
に、かかる電流を検出する電流制限手段を用いることに
より、電流低減にも役立つ。この電流制限手段は、好適
には、サーミスタに熱的に結合したバリスターにより分
路される定電流源回路を具えているので、この電流源回
路を保護すると共に、熱を与えて、サーミスタがその高
抵抗状態になるのを確実にする。
上の電圧が測定機器の入力端子に現れたときに、電流源
として用いる低インピーダンスの測定機器回路を試験回
路から実質的に分離できる。望ましくない初期流入電流
を通過させる電流低減直列サーミスタは、このサーミス
タがその高抵抗状態に切り替わる、即ち、遷移する前
に、かかる電流を検出する電流制限手段を用いることに
より、電流低減にも役立つ。この電流制限手段は、好適
には、サーミスタに熱的に結合したバリスターにより分
路される定電流源回路を具えているので、この電流源回
路を保護すると共に、熱を与えて、サーミスタがその高
抵抗状態になるのを確実にする。
【図１】本発明による測定機器用結合回路の回路図であ
る。
る。
【図２】図１の部品の熱結合関係を示す斜視図である。
【図３】多目的測定機器用の従来の結合回路の回路図で
ある。
ある。
１０、１２ 入力端子 １４ 測定機器回路 １６ 可融性抵抗器 ２０ サーミスタ ２２ 電圧クランプ用トランジスタ ２４、２６ 電流源回路 ２８、３０ ＭＯＳＦＥＴ ３４、３６ バリスター
Claims (12)
- 【請求項１】 入力端子手段と、 該入力端子手段及び測定機器の回路間に挿入された入力
結合手段と、 該入力結合手段と直列関係にあるサーミスタ手段と、 上記入力結合手段と直列関係にある電流制限手段とを具
え、 該電流制限手段は、上記電流制限手段内の増加した電流
レベルを検出し、それに応じて直列インピーダンスを増
加させる手段を有することを特徴とする測定機器用結合
回路。 - 【請求項２】 上記電流制限手段は、定電流源回路を有
することを特徴とする請求項１の測定機器用結合回路。 - 【請求項３】 上記定電流源回路は、 １対の直列ＭＯＳＦＥＴと、 該ＭＯＳＦＥＴの主電流経路の中間に直列接続されたバ
イアス抵抗器とを有し、 上記ＭＯＳＦＥＴの一方のゲートが、上記ＭＯＳＦＥＴ
の他方に接続された上記バイアス抵抗器の端子に結合し
ていることを特徴とする請求項２の測定機器用結合回
路。 - 【請求項４】 上記定電流源回路を分路するバリスター
を更に具えたことを特徴とする請求項２の測定機器用結
合回路。 - 【請求項５】 上記バリスター及び上記サーミスタ手段
間に熱結合手段を有することを特徴とする請求項４の測
定機器用結合回路。 - 【請求項６】 上記熱結合手段は、端と端が接した関係
で上記バリスターを上記サーミスタ手段に結合する手段
を有することを特徴とする請求項５の測定機器用結合回
路。 - 【請求項７】 複数の測定機能を実行する測定機器用結
合回路であって、 入力端子手段と、 該入力端子手段及び上記測定機器の回路間に挿入された
入力結合手段と、 該入力結合手段と直列関係のサーミスタ手段及び電流制
限手段と、 該電流制限手段を分路する第１バリスターとを具え、 上記電流制限手段は少なくとも１個の第１電流源回路を
有し、上記サーミスタ手段は上記バリスターと熱的な結
合関係に配置され、上記電流源回路に所定の電圧降下が
生じて上記バリスターが導通すると、上記バリスターに
発生した熱が上記サーミスタ手段に結合して、上記サー
ミスタ手段の抵抗を増加させて、上記電流源回路及び上
記バリスターの電圧降下を減少させることを特徴とする
測定機器用結合回路。 - 【請求項８】 上記サーミスタ手段は、正の温度係数の
サーミスタでることを特徴とする請求項７の測定機器用
結合回路。 - 【請求項９】 上記バリスターは、酸化金属バリスター
であることを特徴とする請求項７の測定機器用結合回
路。 - 【請求項１０】 上記サーミスタ手段及び上記上記バリ
スターは、端と端とが接するように結合して、熱結合関
係を達成することを特徴とする請求項７の測定機器用結
合回路。 - 【請求項１１】 第２バリスターで分路される第２電流
源回路を有し、上記第２電流源回路及び上記第２バリス
ターの並列組合せを、上記第１バリスター及び上記少な
くとも１個の第１電流源回路の並列組合せと直列に結合
することを特徴とする請求項７の測定機器用結合回路。 - 【請求項１２】 上記第１サーミスタ手段、上記第１バ
リスター及び上記第２バリスターは、端と端とが接する
関係で熱結合するように結合されることを特徴とする請
求項１１の測定機器用結合回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/057,521 US5418450A (en) | 1993-05-03 | 1993-05-03 | Coupling circuit for a measuring instrument |
| US08/057,521 | 1993-05-03 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07234251A true JPH07234251A (ja) | 1995-09-05 |
| JP2589270B2 JP2589270B2 (ja) | 1997-03-12 |
Family
ID=22011089
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6033189A Expired - Fee Related JP2589270B2 (ja) | 1993-05-03 | 1994-02-04 | 測定機器用結合回路 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5418450A (ja) |
| EP (1) | EP0623984B1 (ja) |
| JP (1) | JP2589270B2 (ja) |
| KR (1) | KR100300842B1 (ja) |
| DE (1) | DE69312264T2 (ja) |
| TW (1) | TW258790B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006253776A (ja) * | 2005-03-08 | 2006-09-21 | Fuji Electric Fa Components & Systems Co Ltd | ＡＳ−ｉ用スレーブの過負荷・短絡保護回路 |
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| US6031368A (en) * | 1996-09-12 | 2000-02-29 | S&C Electric Company | Sensing apparatus for cable termination devices in power distribution systems |
| DE19725870A1 (de) * | 1997-06-18 | 1999-01-07 | Siemens Ag | Begrenzerschaltung für Wechselströme |
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| US7255476B2 (en) * | 2004-04-14 | 2007-08-14 | International Business Machines Corporation | On chip temperature measuring and monitoring circuit and method |
| US7854549B2 (en) | 2007-06-29 | 2010-12-21 | Fluke Corporation | Systems and methods for dissipating heat generated during an electrical measurement |
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| KR100792765B1 (ko) | 2007-09-28 | 2008-01-11 | 주식회사 뉴인스 | 루프전류 동작 온습도 계측기 |
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-
1993
- 1993-05-03 US US08/057,521 patent/US5418450A/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-12-29 DE DE69312264T patent/DE69312264T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-12-29 EP EP93310598A patent/EP0623984B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-01-11 TW TW083100165A patent/TW258790B/zh not_active IP Right Cessation
- 1994-01-12 KR KR1019940000396A patent/KR100300842B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 1994-02-04 JP JP6033189A patent/JP2589270B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
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|---|---|
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| JP2589270B2 (ja) | 1997-03-12 |
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| KR100300842B1 (ko) | 2001-10-22 |
| EP0623984B1 (en) | 1997-07-16 |
| EP0623984A1 (en) | 1994-11-09 |
| DE69312264T2 (de) | 1997-11-06 |
| DE69312264D1 (de) | 1997-08-21 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |