JPH07236093A

JPH07236093A - 撮像装置

Info

Publication number: JPH07236093A
Application number: JP6022797A
Authority: JP
Inventors: Seiichiro Nagai; 清一郎永井; Masayuki Nishiki; 雅行西木; Nobuo Kobayashi; 信夫小林; Mikito Hayashi; 幹人林; Kunio Shiraishi; 邦夫白石
Original assignee: Toshiba Corp; Toshiba Medical Systems Engineering Co Ltd
Current assignee: Toshiba Corp; Canon Medical Systems Corp
Priority date: 1994-02-21
Filing date: 1994-02-21
Publication date: 1995-09-05

Abstract

(57)【要約】【目的】固体撮像素子の暗電流に起因したオフセット量
を高精度に補正し、補正残しや補正ばらつきを減らすと
共に、分解能の高い像を得る撮像装置を提供。【構成】撮像した光学像に対応した画像データを出力す
る固体撮像素子１３ａを備えた。固体撮像素子１３ａの
画素毎の暗電流に起因したオフセット量を補正するため
の予め測定された補正データを記憶する記憶手段（オフ
セット・メモリ２０）と、この記憶手段に記憶された補
正データに基づいて固体撮像素子１３ａの画像データを
画素毎に補正するオフセット補正手段（駆動回路２０、
加算器１９）とを備えた。さらにオフセット補正量を撮
像時間、固体撮像素子の温度、画素値、画素位置などに
応じて変更する。画素値が大きい場合、画素値自体の置
換も加える。アナログ量のままオフセット補正を行う。
さらに補正データの特性に画素値依存域が在るか否かに
応じて補正やデータ変更の態様を使い分ける。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、Ｘ線診断装置などに
使われる撮像装置に係り、とくに光学像を撮像する撮像
素子としてＣＣＤ（Charge Coupled Device ）などの固
体撮像素子を用いた撮像装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の撮像装置を搭載した機器
として、例えば医用のＸ線透視装置がある。このＸ線透
視装置では、被検体を透過してきたＸ線がイメージ・イ
ンテンシファイヤ（Ｉ．Ｉ．）で光信号に変換され、こ
の光信号が撮像装置に入射される。撮像装置では、その
ＴＶカメラの固体撮像素子により、光信号が電気信号に
変換される。そして、この撮像装置から出力された電気
信号に基づきモニタに透視像が表示されるようになって
いる。

【０００３】固体撮像素子では、受光部に配置される受
光素子の内、被写体像を実際に光電変換させる有効画素
領域と、光学的黒（オプチカルブラック）と称する、遮
光された画素領域とを有している。この光学的黒の画素
領域からは暗電流が出力される一方で、有効画素領域か
らの暗電流はそのままオフセット分として有効画素領域
の各画素の出力電流に重畳されるので、このオフセット
を補正する必要がある。

【０００４】このオフセット補正には種々の手法があ
る。その一つとして、暗時画像から暗時出力が一定レベ
ル以上である欠陥（傷）画素の位置を予め検出し、その
欠陥画素の画素値を隣接画素の画素値で置換する手法が
ある。また、別の手法として、例えば、特開平２−１６
４１８４号公報記載の如く、光学像を固体撮像素子に入
射させないタイミングで暗時出力をメモリに記憶させ、
この記憶値を光学像入射時の固体撮像素子の出力から差
し引き、これにより画素毎のオフセット補正をデジタル
処理で行う手法も知られている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のホフセット補正には以下のような種々の未解決
の問題があった。

【０００６】まず、隣接画素の画素値で置換する手法で
は、欠陥画素が暗電流のばらつきに起因する場合、固体
撮像素子の温度が高い状態で使用したり、撮像時間の長
い撮像モードで使用する（すなわち、光蓄積時間が大き
い）と、欠陥画素の数が必然的に増えるため、単なる画
素値の置換では不十分で、補正残しが多くなり、画像の
空間解像度が劣化するという問題があった。また、暗電
流以外の成分は正常な信号分であるにも関わらず、その
正常な信号情報を置換により捨てていたことになり、画
像から得られる情報量が減少するという問題があった。

【０００７】一方、暗時出力を光入射時の出力から差し
引く手法にも、補正精度が低いなど、以下の不都合が残
されていた。

【０００８】まず、画素毎の補正量が画素値に依存する
固体撮像素子を使用している場合、画素アドレス毎の画
素値特性は図２１のように表される。同図では、横軸に
画素アドレスをとり、縦軸に画素値をとるとともに、温
度や光蓄積時間などの条件を条件１から条件２に変える
と、画素値の平均レベルがグラフ１からグラフ２に変化
する様子を示している。これにより、画素毎の変分も変
分１から変分２に変化（例えば大きくなる）している。
この固体撮像素子に対する補正特性は通常、図２１記載
のグラフのように表される。横軸に画素値（＝光の強さ
の平均レベル）、縦軸に変分（＝補正量）をとり、ある
画素の「画素値−変分」特性を表している。この特性か
ら分かるように、画素値＝０（即ち、暗時出力）からあ
る値ＰＶd までの範囲（画素値依存域Ｒp ）では、変分
値もある初期値から徐々に増加し、画素値ＰＶd 以降で
は変分値が一定となっている。このような特性を示す固
体撮像素子の場合、画素値依存域Ｒp では暗時出力と補
正量が異なるため、画素値依存域Ｒp に入る入射光レベ
ルのときに、正確なオフセット補正を行うことができな
いという不都合がある。

【０００９】一方、上述したように、画素毎の補正量が
画素値に依存しない、つまり図２２における画素値依存
域Ｒp が無いフラットな特性の固体撮像素子を使用する
場合でも、撮像モードに応じて撮像時間が変わるため、
必要な補正量も変わる。しかし、上述のように暗時出力
である一定値の補正量を差し引くだけでは、正確に補正
できない。すなわち、撮像モードに応じて撮像素子の光
蓄積時間が変わり、画素毎の補正量はその光蓄積時間に
依存するが、暗時出力の蓄積時間は撮像時の蓄積時間と
必ずしも一致しないため、正確な補正量を得ることがで
きないからである。

【００１０】さらに、特開平２−１６４１８４号公報記
載のように、デジタル処理でオフセット補正を行う場
合、各画素の補正量（正又は負）にもビット長を割り当
てる必要があるため、画素値に有効なビット長（ダイナ
ミックレンジ）が減少する。例えばダイナミックレンジ
が４０９６（＝１２ビット）で補正量＝−１００である
とすると、有効なビット長は、４０９６−１００＝３９
９６となってしまう。

【００１１】この発明は、上述した従来技術の問題に鑑
みてなされたもので、撮像素子の温度が高い状態で使用
したり、撮像時間が長い場合でも、補正残し（補正ばら
つき）を減らし、空間解像度の劣化を防止できるように
することを第１の目的とする。また、画像から得られる
情報量の減少を防止することを第２の目的とする。さら
に、画素毎の補正量が画素値に依存するタイプの固体撮
像素子を使用する場合でも、精度の高いオフセット補正
を行うことを第３の目的とする。さらにまた、画素毎の
補正量が画素値に依存しないタイプの固体撮像素子を使
用する場合で、撮像時間が変わる場合でも、より正確な
オフセット補正を行うようにすることを、第４の目的と
する。

【００１２】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成させるた
め、この発明に係る撮像装置では、撮像した光学像に対
応した画素値から成る画像データを出力する固体撮像素
子を備える。さらに、上記固体撮像素子の画素毎の暗電
流に起因したオフセット量を補正するための予め測定さ
れた補正データを記憶する記憶手段と、この記憶手段に
記憶された補正データに基づいて上記固体撮像素子から
の画像データを画素毎に補正するオフセット補正手段と
を備えたことを要部とする。

【００１３】とくに、請求項２〜４記載の発明に係る撮
像装置では、前記補正データの画素値に対する特性は画
素値に依存する画素値依存域を有し、且つこの補正デー
タは当該撮像装置の出荷時に測定されたデータである。
例えば、前記補正データは出荷時に、前記画素値依存域
以外の領域に対応した画素値の光量を前記固体撮像素子
に入射させて測定されたデータである。また、前記光学
像を前記固体撮像素子に入射し続ける撮像時間、前記固
体撮像素子の温度、前記画像データの画素値、及び前記
画素の位置の各パラメータの１つ又は複数の組み合わせ
に基づいて前記補正データを変更する補正データ変更手
段を付加した。

【００１４】とくにまた、請求項５記載の発明に係る撮
像装置では、前記補正データ変更手段により変更された
補正データが基準値を越えるか否かを画素毎に判断する
判断手段と、この判断手段により上記補正データが基準
値を越えると判断されたとき、その判断対象の画素の画
素値をその近傍の画素の画素値から求めた画素値に置換
する置換手段とを付加した。また、請求項６記載の発明
に係る撮像装置では、前記画像データを置換する必要の
あるアドレスを予め記憶させた置換アドレスメモリ手段
と、前記固体撮像素子による撮像対象の画素位置が上記
置換アドレスメモリ手段に記憶させた置換アドレスに一
致するとき、その画素の画素値をその近傍の画素の画素
値から求めた画素値に置換する置換手段とを付加した。

【００１５】とくにまた、請求項７記載の発明に係る撮
像装置では、前記オフセット補正手段は補正データをア
ナログ量に変換するＤ／Ａ変換器と、このＤ／Ａ変換器
のアナログ量の変換データと前記固体撮像素子のアナロ
グ量の画像データとを加算する加算器とを備えるととも
に、この加算器の加算結果をデジタル量に変換するＡ／
Ｄ変換器を備えた。

【００１６】一方、請求項８、９記載の発明に係る撮像
装置では、前記補正データの画素値に対する特性は画素
値に依存しない特性であり、且つこの補正データは光学
像を固体撮像素子の入射させない状態で測定された暗時
出力データである。例えば、前記暗時出力データは撮像
時の直前のフレーム期間にて測定されたデータであり、
前記光学像を前記固体撮像素子に入射し続ける撮像時間
に基づいて上記暗時出力データを変更する補正データ変
更手段を付加した。

【００１７】とくに、請求項１０記載の発明に係る撮像
装置では、前記補正データ変更手段により変更された補
正データが基準値を越えるか否かを画素毎に判断する判
断手段と、この判断手段により上記補正データが基準値
を越えると判断されたとき、その判断対象の画素の画素
値をその近傍の画素の画素値から求めた画素値に置換す
る置換手段とを付加した。また、請求項１１記載の発明
に係る撮像装置では、前記画像データを置換する必要の
あるアドレスを予め記憶させた置換アドレスメモリ手段
と、前記固体撮像素子による撮像対象の画素位置が上記
置換アドレスメモリ手段に記憶させた置換アドレスに一
致するとき、その画素の画素値をその近傍の画素の画素
値から求めた画素値に置換する置換手段とを付加した。

【００１８】また、請求項１２記載の発明に係る撮像装
置では、オフセット補正手段は補正データをアナログ量
に変換するＤ／Ａ変換器と、このＤ／Ａ変換器のアナロ
グ量の変換データと前記固体撮像素子のアナログ量の画
像データとを加算する加算器とを備えるとともに、この
加算器の加算結果をデジタル量に変換するＡ／Ｄ変換器
を備えた。

【００１９】

【作用】請求項１〜３及び８記載の発明では、予め測定
された画素毎の補正データに基づいてオフセット補正が
行われる。このとき、補正データは、画素値依存域を有
する補正量特性の固体撮像素子の場合、出荷時にその領
域外に対応した入射光量で収集されるし、画素値依存域
が無い補正量特性の固体撮像素子の場合、暗時出力が補
正データとして収集される。このように補正量特性に応
じて、収集時期及び収集状態を変えるので、簡単な構成
ながら、精度の高いオフセット補正が行われる。

【００２０】また、請求項４〜６、１０，１１記載の発
明では、撮像時間、固体撮像素子の温度、画素値、画素
位置の各パラメータの内、任意の一つ又は任意の組み合
わせで補正量を変更する態様、又は／及び、画素値が所
定レベル以上あるとき（又は、撮像画素の位置が予め測
定してある置換アドレスになったとき）には画素値自体
を置換する補正を付加する態様が採られるので、補正ば
らつきや補正残しを減らして、一層高精度なオフセット
補正になるし、またアーチファクトを低減できる。

【００２１】さらに、請求項７及び１２記載の発明で
は、アナログ量のままオフセット補正を行い、その後、
デジタル量に変換されるので、Ａ／Ｄ変換器のダイナミ
ックレンジが広がる。

【００２２】さらに、請求項９記載の発明では、画素値
依存域が無い場合、撮像の直前に収集した暗時出力デー
タ（補正データ）を撮像時間に基づいて変更するので、
固体撮像素子の温度変化を取り込んだリアルタイムな補
正データとなり、そのような温度変化がオフセット補正
に与える影響を配慮しなくても済む。

【００２３】

【実施例】以下、図面を参照しながら、この発明の実施
例を説明する。なお、以下の実施例はこの発明に係る撮
像装置を医用のＸ線診断装置に適用したものであるが、
医用の内視鏡装置など、他の機器に適用することは勿論
可能である。

【００２４】（第１実施例）第１実施例を図１に基づい
て説明する。

【００２５】図１に示すＸ線診断装置は、Ｘ線を被検体
Ｐに向けて曝射するＸ線管１０と、被検体を透過してき
たＸ線を受けるイメージ・インテンシファイヤ（以下、
「Ｉ．Ｉ．」と呼ぶ）１１とを備えるとともに、Ｉ．
Ｉ．１１の出力側に設けた光学系１２及びＴＶカメラ１
３を備えている。ＴＶカメラ１３は、この実施例ではＣ
ＣＤから成る受光素子を、各画素に対応して２次元に配
列した固体撮像素子１３ａを備えている。

【００２６】Ｘ線管１０は高電圧発生器１４を介してＸ
線制御器１５に接続されており、Ｘ線制御器１５から出
力されるＸ線曝射信号Ｓ１に応答してＸ線を曝射可能に
なっている。またＩ．Ｉ．１１は被検体Ｐを透過してき
たＸ線を入力し、そのＸ線を光学像に対応した光信号に
変換するもので、光信号はレンズなどから成る光学系１
２を介してＴＶカメラ１３の固体撮像素子１３ａに照射
される。固体撮像素子１３ａに照射された光信号は、各
画素に対応した受光素子夫々において対応する電気量の
画像信号に変換される。固体撮像素子１３ａは駆動回路
１６から送られてくる駆動信号Ｓｄ及び画素アドレス信
号Ｓａを受けて上述の光−電気変換を行う。

【００２７】ＴＶカメラ１３の出力側はさらに、増幅器
１７及びＡ／Ｄ変換器１８を介して２入力の加算器１９
の一方の入力端に接続されている。これにより、ＴＶカ
メラ１３から出力された画像信号は増幅後、Ａ／Ｄ変換
されてデジタル量の画像データＤｉとなって加算器１９
に入力する。

【００２８】一方、加算器１９のもう一方の入力端はオ
フセット・メモリ２０の出力側に接続され、このオフセ
ット・メモリ２０の入力側には前述した駆動回路１６か
らの画素アドレス信号Ｓａが入力するようになってい
る。オフセット・メモリ２０には、固体撮像素子１３ａ
の画素毎に決まる補正量としてのオフセット・データＤ
off （画素毎に正又は負の値）を事前に記憶させてあ
る。このオフセット・データＤoff は、暗時出力を補正
するためのもので、予め装置の出荷時など、装置の使用
時よりも前に収集され、記憶されている。なお、オフセ
ット・データの収集時において、固体撮像素子１３ａの
「補正量−画素値」特性に、図２２に示すような補正量
（＝変分）が画素値に依存する画素値依存域Ｒp が在る
場合、この画素値依存域Ｒp を避ける画素値の光学像を
固体撮像素子１３ａに入射させて収集を行う。

【００２９】オフセット・メモリ２０は画素アドレス信
号Ｓａにより指定されたアドレスのオフセット・データ
Ｄoff を、固体撮像素子１３ａからの画像データＤｉの
到来に同期させて、加算器１９に出力するようになって
いる。

【００３０】これにより、加算器１９は２つの入力デー
タを加算し、加算データを後段のＤ／Ａ変換器２１を介
してＴＶモニタであるＣＲＴ（陰極線管）２２に送るよ
うになっている。この結果、ＣＲＴにてＸ線透視像がリ
アルタイムに表示される。

【００３１】さらに、このＸ線診断装置にはＸ線制御器
１５や駆動回路１６を通じて装置全体を管理するコント
ローラ２３及びそのコントローラ２３に必要な情報を手
入力させるための入力器２４が設けられている。

【００３２】このように本実施例では、Ｘ線管１０から
Ｘ線を曝射させてＸ線透視像を得る一方で、画素値依存
域Ｒp を持たない固体撮像素子１３ａには暗時出力を、
また画素値依存域Ｒp を持つ固体撮像素子１３ａにはオ
フセット出力値を予め画素毎に測定しておき、この測定
値をオフセット・データＤoff とする。そして、固体撮
像素子１３ａから出力された画像データＤｉにそのオフ
セット・データＤoffを画素毎に加算（オフセット・デ
ータＤoff が正のとき）又は減算（オフセット・データ
Ｄoff が負のとき）して自動的にオフセットを補正す
る。この結果、画素値依存域Ｒp の有無に関わらず、実
際の暗電流を相殺するに必要なオフセット・データを画
素毎に良好に取得でき、オフセット量を高精度に補正で
きるとともに、オフセット補正における画素間のばらつ
きを良好に解消することができる。これによって、画像
の分解能は低下せず、画像のＳ／Ｎ比を向上させること
ができる。

【００３３】（第２実施例）第２実施例を図２及び図３
に基づいて説明する。なお、上記実施例と同一又は同等
の構成要素には同一符号を付して説明を簡略化又は省略
する（第３実施例以降についても同様とする）。

【００３４】この第２実施例は、撮像時間（光学像を固
体撮像素子に入射し続ける時間）をも考慮したものであ
る。

【００３５】第２実施例に係るＸ線診断装置は図２に示
すように、第１実施例における図１のオフセット・メモ
リに代えて、オフセット・データ生成回路３０を設ける
とともに、このオフセット・データ生成回路３０に駆動
回路１６から画素アドレス信号Ｓａを、またコントロー
ラ２３から撮像時間情報Ｓtimeを供給させる。このた
め、コントローラ２３は入力器２４を介して指定される
撮像モード（透視モード／撮影モード（長時間露光モー
ド／短時間露光モード））に応じて、予め記憶していて
いる撮像時間データを参照し、撮像時間情報Ｓtimeを供
給する。

【００３６】オフセット・データ生成回路３０は具体的
には図３に示すように、撮像時間情報Ｓtimeを受ける係
数メモリ３１と、この係数メモリ３１のメモリ読出し側
に、一方の入力端を接続させた２入力の乗算器３２と、
画素アドレス信号Ｓａを受けるオフセット・メモリ３３
とを備え、そのオフセット・メモリ３３の読出し側を乗
算器３２の他方の入力端に接続している。乗算器３２の
出力端は前記第１実施例と同様に加算器１９の一方の入
力端に接続されている。

【００３７】オフセット・メモリ３３には第１実施例と
同様にして収集された画素毎のオフセット・データＤof
f ^＊が事前に格納されている。このため、オフセット・
メモリ３３は画素アドレス信号Ｓａで指定されるアドレ
スに対応したオフセット・データＤoff ^＊を乗算器３２
に出力する。一方、係数メモリ３１は撮像時間の長短に
対応した係数を予め格納しており、撮影時間情報Ｓtime
に図４の如く対応した係数Ｃtimeを読み出し、乗算器３
２に出力する。つまり、入力器２４から撮像モードの切
り換えを指令した場合、撮影時間情報Ｓtimeも切り換わ
り、係数Ｃtimeも撮影時間の長短に対応した値に自動的
に変更される。

【００３８】このようにして生成されたオフセット・デ
ータＤoff ^＊及び係数Ｃtimeを受けた乗算器３２は、
「Ｄoff ＝Ｄoff ^＊×Ｃtime」の乗算を行い、最終的な
オフセット・データＤoff を画素毎に演算する。このオ
フセット・データＤoff は加算器１９において画素デー
タＤｉに加算され、前述と同様のオフセット補正に付さ
れる。

【００３９】したがって、この実施例によれば、Ｘ線透
視時に、暗電流に起因したオフセット補正を画素毎に、
且つ撮像時間の長短を考慮して行うので、長時間露光モ
ードなどの長時間の撮影時間であっても、また短時間の
撮影時間であっても、光蓄積時間の長短に影響されな
い、補正ばらつきの少ない高精度なオフセット補正を行
うことができる。

【００４０】なお、この実施例におけるオフセット・デ
ータ生成機構は、図５に示すように構成してもよい。つ
まり、オフセット・メモリ回路３４のオフセット・メモ
リに、予め撮像時間の長短に対応して選択可能な複数フ
レーム分のオフセット・データを格納しておき、撮影時
間情報Ｓtime及び画素アドレス信号Ｓａに応じたオフセ
ット・データＤoff を画素毎に直接、読出しできるよう
にしたものである。

【００４１】（第３実施例）第３実施例を図６〜図８に
基づいて説明する。

【００４２】この第３実施例は、固体撮像素子の動作温
度をも考慮したものである。

【００４３】図６に示すＸ線診断装置のＴＶカメラ１３
には、固体撮像素子１３ａの温度を検知する温度センサ
３９を設けている。この温度センサ３９は例えばサーミ
スタ、熱電対、半導体センサで成り、固体撮像素子１３
ａの例えば近傍に配置されている。これにより、温度セ
ンサ３９は固体撮像素子１３ａの動作温度にほぼ対応す
る温度検知信号（例えば抵抗値の変化）Ｃtempをコント
ローラ２３に出力する。

【００４４】コントローラ２３は、Ｘ線曝射に関する制
御を行う一方で、上記温度検知信号Ｃtempを定期的に入
力し、通常、徐々に変化する固体撮像素子１３ａの動作
温度を例えばテーブル・ルックアップにより演算し、演
算結果に対応した素子温度情報Ｓtempをオフセット・デ
ータ生成回路４０に出力する。

【００４５】このオフセット・データ生成回路４０は前
述と同様に図７に示す如く、係数メモリ４１、乗算器３
２、オフセット・メモリ３３を備えている。係数メモリ
４１は固体撮像素子１３ａの動作温度の大小に対応した
係数Ｃtemp（図８参照）を予め記憶しており、入力した
素子温度情報Ｓtempの温度値に応じた係数Ｃtempを乗算
器３２に出力する。オフセット・データ生成回路４０に
は画素アドレス信号Ｓａも同様に供給されている。この
ため、オフセット・データ生成回路４０では素子温度情
報Ｓtemp及び画素アドレス信号Ｓａに基づき、第２実施
例と同様に、オフセット・データＤoff が生成される。

【００４６】したがって、時々刻々変わる固体撮像素子
１３ａの動作温度が逐一、測定され、この温度値に応じ
た補正分も加味されたオフセット補正が画素毎に実施さ
れる。この結果、固体撮像素子１３ａの動作温度が素子
自体の動作時間の増大や環境温度の上昇に拠って上がる
場合でも、そのような温度変化に起因したオフセット補
正の精度低下を防止でき、補正ばらつきの少ない高精度
なオフセット補正を維持して、高品質の透視画像を得る
ことができる。

【００４７】なお、上記オフセット・データ生成回路４
０は係数メモリ４１とオフセット・メモリ３３とを併設
する構成としたが、図５記載のものと同様に、温度毎に
異なる複数フレーム分のオフセット・データＤoff を格
納したオフセット・メモリ回路を装備し、このオフセッ
ト・メモリ回路に素子温度情報Ｓtemp及び画素アドレス
信号Ｓａを供給するようにしてもよい。

【００４８】（第４実施例）さらに、第４実施例を図９
〜図１１に基づき説明する。

【００４９】この第４実施例は、固体撮像素子に入射す
る光量、すなわち画素値を加味し、より適正なオフセッ
ト補正を行おうとするものである。固体撮像素子の種類
によっては、図２２に示すように、画素値に応じて適正
な補正量（画素値の変分：図２１参照）が変化するもの
がある。固体撮像素子上での電荷の転送過程においては
電荷の転送残しが生じるが、この転送残しの程度は、転
送する電荷の量に依存するので、上記のように補正量が
変わるのである。

【００５０】この補正量の変化に対応すべく、図９記載
のＸ線診断装置はオフセット・データ生成回路５０を備
え、この生成回路５０に、駆動回路１６から画素アドレ
ス信号Ｓａを前述と同様に入力させるとともに、ＴＶカ
メラ１３の出力をデジタル量に変換するＡ／Ｄ変換器１
８の出力を画素値情報Ｓpxとして入力させている。

【００５１】オフセット・データ生成回路５０は図１０
に示すように、画素値情報Ｓpxを供給させる係数メモリ
５１、画素アドレス信号Ｓａを供給させるオフセット・
メモリ３３、及び両メモリ５１、３３の読出しデータを
掛ける乗算器３２を備え、この乗算器３２の乗算結果Ｄ
off を前述の実施例と同様に加算器１９に供給するよう
になっている。係数メモリ５１は図１１に示す如く、指
定された画素値情報Ｓpx（入射光量）に対応した係数Ｃ
pxを（例えば、画素値が大きくなると係数Ｃpxも大きく
なり、反対に画素値が小さくなると係数Ｃpxも小さくな
る）を出力する。

【００５２】このため、オフセット・データ生成回路５
０から加算器１９に供給されるオフセット・データＤof
f は画素値に応じて画素毎に修正されているので、加算
器１９の出力「Ｄｉ＋Ｄoff 」も画素値に応じて修正さ
れる。したがって、暗電流に起因したオフセット補正
が、画素値を考慮して実施されるので、補正ばらつきの
少ない高精度なオフセット補正が実施される。

【００５３】（第５実施例）さらに、第５実施例を図１
２及び図１３に基づいて説明する。

【００５４】この第５実施例は固体撮像素子の各画素の
位置を考慮したものである。画素の位置に応じて、各画
素毎の適正な補正量が変わる。これは、撮像素子上での
電荷の転送過程にて電荷の転送残しが生じるが、この転
送残しの程度は転送経路の長さにより変わることに起因
する。

【００５５】この実施例のＸ線診断装置は図１２に示す
ように、画素アドレス信号Ｓａを受けて、その画素アド
レスを転送経路長ＴＬに換算する経路長換算回路６０
と、換算した転送経路長ＴＬに対応した補正量Ｄoff を
出力するオフセット・メモリ６１とを備えている。オフ
セット・メモリ６１は、図１３に示す如く、転送経路長
ＴＬが長くなればなるほど減少するオフセット補正量Ｄ
off の特性データを予め記憶しており、換算回路６０か
ら指令された転送経路長ＴＬに対応した補正量Ｄoff を
読出し可能になっている。オフセット・メモリ６１から
読み出されたオフセット・データＤoff は加算器１９に
送られる。その他の構成は第１実施例と同様である。

【００５６】このため、本実施例によれば、画素位置毎
に補正量を変えた、より高精度なオフセット補正が実施
され、電荷の転送残しの違いに起因した空間分解能の低
下やＳ／Ｎ比の低下を防止でき、補正ばらつきの少ない
高画質の透視像を得ることができる。

【００５７】（第６実施例）また、第６実施例を図１４
〜図１６に基づいて説明する。

【００５８】この第６実施例は補正量の収集時期の改善
に関し、前述した図２２に示すような画素値依存域Ｒｐ
を持たない補正量特性の固体撮像素子に適用可能であ
る。

【００５９】この実施例に係るＸ線診断装置は、図１４
の如く、コントローラ２３及び駆動回路１６から出力さ
れる撮像時間情報Ｓtime及び画素アドレス信号Ｓａを入
力するオフセット・データ生成回路７０と、コントロー
ラ２３からのスイッチ切換信号Ｓ２に応じて切り換わる
２つの切換端ａ，ｂを有する電子スイッチ７１とを備え
ている。電子スイッチ７１は、固体撮像素子１８の出力
側におけるＡ／Ｄ変換器１８及び加算器１９とオフセッ
ト・データ生成回路７０との間に介挿されている。つま
り、電子スイッチの共通端ｃはＡ／Ｄ変換器１８の出力
端に、一方の切換端ａは加算器１９の一方の入力端に各
々接続されているとともに、もう一方の切換端ｂはオフ
セット・データ生成回路７０に至る。この電子スイッチ
７１は、スイッチ切換信号Ｓ２がオンのとき切換端ｂ側
に、オフのとき切換端ａ側に切り換わる。

【００６０】オフセット・データ生成回路７０は、撮影
時間情報Ｓtimeを入力して対応する係数Ｃtimeを出力す
る係数メモリ３１と係数Ｃtimeを一方の入力とする２入
力の乗算器３２とを備えるとともに、画素アドレス信号
Ｓａを入力するオフセット・メモリ７２とを備えてい
る。このオフセット・メモリ７２にはさらに、コントロ
ーラ２３から該メモリ７２への書込みモード及び該メモ
リ７２からの読出しモードを制御する書込／読出制御信
号Ｓ_W/Rが供給されるようになっている。この書込／読
出に対応して、オフセット・メモリ７２のデータ書込入
力端には前記電子スイッチの切換端ｂを介して画像デー
タＤｉが入力する一方で、データ読出し端は前記乗算器
３２のもう一方の入力端に至る構成となっている。

【００６１】コントローラ２３は、オフセット・データ
生成回路７０に対して、撮像モードに応じた撮像時間情
報Ｓtimeを出力するとともに、スイッチ切換信号Ｓ２の
オン（切換端ｂ側）、オフ（切換端ａ側）に同期してオ
ン（書込時）、オフ（読出時）となる書込／読出制御信
号Ｓ_W/Rを出力するようになっている。このコントロー
ラ２３は、撮影モードに応じて、例えば図１６に示す如
くＸ線曝射及びオフセット補正を実施するようになって
いる。

【００６２】その他の構成は第２実施例と同様である。

【００６３】本実施例の動作を図１６に基づいて説明す
る。ある撮像モード１（例えば短時間露光モード）にお
いてＸ線が曝射されない状態のときは常に、スイッチ切
換信号Ｓ２及び書込／読出制御信号Ｓ_W/Rがオンに設定
されている（図１６（ｄ）（ｅ）参照）。これにより、
電子スイッチ７１のスイッチ経路は切換端ｂ側になって
いるので、Ａ／Ｄ変換器１８の出力端がオフセット・メ
モリ７２に接続され、オフセット・メモリ７２には常に
直前の、即ち１フレーム前の画像データＤｉがオフセッ
ト・データとして定期的に書き込まれる。これにより、
オフセット・メモリ７２のオフセット・データはフレー
ム毎に更新され、最新のデータとなっている。

【００６４】いま、時刻ｔ₀にて撮像モードがモード２
（例えば長時間露光モード）に指令されたが、Ｘ線曝射
は未だ指令されていないとする（同図（ｆ）参照）。こ
れにより、フレーム信号ＶＤの間隔が変更され（例えば
長くなる：同図（ａ）参照）、この新しい撮像時間に係
るフレーム毎に、１フレーム遅れで最新のオフセット・
データがオフセット・メモリ７２に書き込まれる（例え
ばフレームＦ_nでの画像データＤｉがオフセット・デー
タとして、次フレームＦ_n+1で書き込まれる）。

【００６５】この状態で、時刻ｔ₁にて、Ｘ線曝射開始
を指示するＸ線曝射信号Ｓ１がオンになると（同図
（ａ）参照）、次フレームＦ_n+1の開始時刻ｔ_1aで実際
のＸ線曝射が開始された後（同図（ｃ）参照）、Ｘ線曝
射信号Ｓ１のオンに該当するフレームＦ_nの画像データ
Ｄｉがオフセット・メモリ７２に書込み完了した時刻ｔ
_1bにて、今度は、スイッチ切換信号Ｓ２及び書込／読出
制御信号Ｓ_W/Rが共に同期してオフに立ち下がる（同図
（ｄ）（ｅ）参照）。この結果、電子スイッチ７２のス
イッチ経路は反対の切換端ａ側に変わり、且つオフセッ
ト・メモリ７２が読出し状態に変わる。

【００６６】これにより、オフセット・メモリ７２から
は画素アドレス信号Ｓａに対応した画素の、最新のオフ
セット・データＤoff ^＊が読み出され、このデータＤof
f ^＊に、その時点の撮影時間情報Ｓtimeに応じた係数Ｃ
timeが掛け算されて、最終のオフセット・データＤoff
が演算される。いま、Ａ／Ｄ変換器１８の変換データＤ
ｉは加算器１９に供給されているから、その変換データ
Ｄｉに最新のオフセット・データＤoff が加算又は減算
される。このオフセット補正は画素毎に行われる。

【００６７】この後、時刻ｔ₂でＸ線曝射信号Ｓ２がオ
フになると、これに同期して実際のＸ線曝射も終了す
る。しかし、スイッチ切換信号Ｓ２及び書込／読出制御
信号Ｓ_W/Rのオフの状態は、その曝射終了に係るフレー
ムの画像データが固体撮像素子１３ａから出力される次
フレームまで維持され、撮像モードに応じてオフセット
補正されたＸ線画像がＣＲＴ２２に表示される。

【００６８】そして、画像処理のフレームが終わる時刻
ｔ₃で、スイッチ切換信号Ｓ２及び書込／読出制御信号
Ｓ_W/Rがオンに立ち上げられ、前述したように、最新の
画像データＤｉがオフセット・データとしてオフセット
・メモリ７２に逐次、書き込まれる。

【００６９】このように、画素値依存域を持たない固体
撮像素子の場合、光学像を入射させない撮像直前のタイ
ミングで収集したオフセット・データを利用することが
でき、撮像時間が変わっても、その撮像時間の長短に対
応したほぼリアルタイムのオフセット補正を行うことが
できる。この結果、精度の高いオフセット補正を実施で
きる一方で、撮像が実際に行われるときの固体撮像素子
の温度下で補正量を収集しているので、前述したような
固体撮像素子の温度に応じた補正は不要になり、素子構
成及び補正処理が簡単になるという利点がある。

【００７０】（第７実施例）さらに、第７実施例を図１
７及び図１８に基づいて説明する。この第７実施例はオ
フセット補正量Ｄoff の絶対値が大きい場合の対策に関
する。

【００７１】前述したように撮像時間、素子温度、画素
値、画素位置に応じてオフセット補正量Ｄoff を修正す
る手法は非常に優位性の高いものであるが、僅かながら
誤差を含むこともある。この修正誤差の割合が僅かであ
っても、オフセット補正量Ｄoff の絶対値が大きけれ
ば、補正された画像データ「Ｄｉ＋Ｄoff 」には相当の
誤差が残ることがあり、そのような場合、ア−チファク
トの原因にもなる得る。そこで、本実施例はオフセット
補正量Ｄoff の絶対値が大きい場合でも、アーチファク
トの少ない画像を提供することを、目的とする。

【００７２】図１７に示すＸ線診断装置は、駆動回路１
６からの画素アドレス信号Ｓａ及びオフセット・データ
生成回路３０からのオフセット補正量Ｄoff を入力さ
せ、置換画素アドレスＳａ^＊を決める置換アドレス決定
回路８０と、加算器１９及びＤ／Ａ変換器２１の間に介
挿され、決定した置換画素アドレスＳａ^＊の画素値を置
換する置換回路８１とを備えている。

【００７３】置換アドレス決定回路８０は図１８に示す
如く、オフセット補正量Ｄoff の絶対値を演算する絶対
値回路８２と、この絶対値回路８２の出力と予め定めた
オフセット補正量の基準値Ｄｅとを比較する比較器８３
と、比較器８３の比較結果を受けて開閉するゲート回路
８４とを有する。比較器８３はオフセット補正量Ｄoff
の絶対値が基準値Ｄｅ以下のときは、その出力をオフに
維持するが、基準値Ｄｅを越えたときはオンに立ち上げ
る。ゲート回路８４は比較器８３の出力がオフの間、開
（オフ）となり、画素アドレス信号Ｓａを遮断するが、
比較器８４の出力がオンのとき、閉（オン）となり、画
素アドレス信号Ｓａを通過させる。この結果、比較器８
３の出力がオンになる画素アドレスのとき、ゲート回路
８４からその時点の画素アドレス信号Ｓａが置換画素ア
ドレスＳａ^＊として置換回路８１に供給される。

【００７４】置換回路８１はデータレジスタ、書込・読
出回路などを有し、置換画素アドレスＳａ^＊が指令され
たときの画素値を、例えば隣接１画素の画素値で置換す
る。この置換としては、隣接する複数の画素の画素値か
ら平均値を演算し、その平均値で置換する手法も採用で
きる。置換回路８１は、置換画素アドレスＳａ^＊が指令
されないときは、加算器１９の出力、即ちオフセット補
正された画像データ「Ｄｉ＋Ｄoff 」をそのまま次段の
Ｄ／Ａ変換器２１に供給する。

【００７５】その他の構成及び機能は、第２実施例のも
のと同一である。

【００７６】このように、オフセット・データ生成回路
３０で生成されたオフセット補正量Ｄoff の絶対値が基
準値Ｄｅを上回るときには、その画素アドレスが置換ア
ドレス決定回路８０により自動的に決定される。かかる
画素アドレスの画像データは、置換回路８１にて隣接画
素との関連において画素値が置換され、比較的大きなオ
フセット誤差が含まれている恐れのある画素値が的確に
処理される。この結果、アーチファクトの少ない画像を
提供できるとともに、暗時出力の補正に対して、加算
（減算）によるオフセット補正と置換とにより二重の防
止策が施され、その信頼性が極めて高くなる。

【００７７】なお、この実施例では、補正量Ｄoff の絶
対値が基準値より大きいか否かに関わらず、一度、加算
（減算）によるオフセット補正を行った後に、必要に応
じて、置換を行うようにしたが、オフセット・データ生
成回路３０と加算器１９との間にスイッチング回路を介
挿し、補正量Ｄoff の絶対値が基準値より大きいときに
は加算（減算）によるオフセット補正を行わないように
することもできる。

【００７８】また、上記実施例は撮像時間をオフセット
補正のパラメータとしたが、事前に収集した画素毎の暗
時出力（第１実施例）、固体撮像素子の温度（第３実施
例）、画素値（第４実施例）、及び画素位置（第５実施
例）についても同様に実施できる。

【００７９】上記第７実施例の変形例を図１９に示す。
同図に示すように、このＸ線診断装置は、前述した置換
アドレス決定回路８０に代えて、画素アドレス信号Ｓａ
のみが供給される置換情報メモリ８６を備えている。こ
の置換情報メモリ８６には、本装置の出荷時など、装置
使用時よりも前に、画像データを置換する必要があるア
ドレスが測定され、その置換アドレスが書き込まれてい
る。このため、画素アドレス信号Ｓａが、記憶した置換
アドレスに該当するとき、置換情報メモリ８６から置換
指令信号Ｓcd＝オンが置換回路８１に送られ、前述した
と同様に画像データが置換される。画素アドレス信号Ｓ
ａが、記憶した置換アドレスに該当しないときは、置換
指令信号Ｓcd＝オフとなり、置換動作は実施されない。
このように機能させることで、より簡単な構成で置換動
作が可能となる。

【００８０】（第８実施例）さらに第８実施例を図２０
に基づいて説明する。この実施例はオフセット補正機構
の取付け位置に関する。

【００８１】図２０に示すＸ線診断装置は、第１実施例
に係る図１記載のもののオフセット補正機構の位置を変
更したものである。具体的には、ＴＶカメラ１３の出力
側とＣＲＴ２２との間に、増幅器１７、２入力のアナロ
グ型加算器９０、増幅器９１、Ａ／Ｄ変換器９２、デジ
タル処理回路９３、及びＡ／Ｄ変換器２１を、この順に
介挿している。一方、オフセット補正量Ｄoff を読み出
すオフセット・メモリ２０の読出し側は、別のＤ／Ａ変
換器９４及び増幅器９５をこの順に設け、増幅器９５の
出力端を上記加算器９０に接続している。

【００８２】これにより、画素アドレス信号Ｓａに対応
して読み出されたデジタル量のオフセット補正量Ｄoff
はＤ／Ａ変換器９４によりアナログ量に変換された後、
加算器９０に至る。加算器９０にはアナログ量のままの
画像データが画素毎に供給されているので、加算器９０
ではアナログ量のオフセット補正「Ｄｉ＋Ｄoff 」が実
施される。この補正結果はその後、Ａ／Ｄ変換器９２で
デジタル量に戻された後、デジタル処理回路９３で必要
なデジタル処理に付される。その後、画像データはＤ／
Ａ変換器２１でアナログ量の画像信号に戻され、ＣＲＴ
２２で表示される。

【００８３】このようにオフセット補正を、デジタル量
に変換する前に、アナログ量のまま実施することで、Ａ
／Ｄ変換器９２のビット長を全て有効に画像データ分と
して利用することができ、前述したような、ビット長が
オフセット補正に取られて、有効な有効なビット長が減
少するという問題を回避できる。

【００８４】なお、この実施例は、出荷時などに収集し
た画素毎のオフセット・データＤoff に基づいてオフセ
ット補正する構成に限定されることなく、撮像時間に基
づくオフセット補正（第２実施例）、固体撮像素子の温
度に基づくオフセット補正（第３実施例）、画素値に基
づくオフセット補正（第４実施例）、画素位置に基づく
オフセット補正（第５実施例）、置換によるオフセット
補正（第７実施例）についても同様に実施できる。

【００８５】なおまた、上記第２〜第５実施例ではオフ
セット補正のパラメータ（撮像時間、素子温度、画素
値、画素位置）を個別に設定したものについて実施した
例を説明したが、これらのパラメータ、即ち撮像時間、
素子温度、画素値、画素位置の内、任意のものを適宜組
み合わせたパラメータとし、それについて実施してもよ
い。またそれらのパラメータに係るオフセット補正と、
置換によるオフセット補正とを適宜組み合わせて実施し
てもよい。

【００８６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
固体撮像素子の暗電流に起因したオフセット量を、その
補正量が画素値依存域が在るか否かに応じて適宜な態様
（例えば、画素値依存域がある場合、出荷時などに予め
測定した画素毎のオフセット補正量で補正する態様、撮
像時間、固体撮像素子の温度、画素値、画素位置の各パ
ラメータの内、任意の一つ又は任意の組み合わせで補正
量を変更する態様、画素値が所定レベル以上あるときに
は画素値自体を置換する補正を付加する態様、アナログ
量のままオフセット補正を行ってからデジタル量に変換
する態様など。画素値依存域が無い場合、暗時出力デー
タ（補正データ）で画素毎に補正する態様、撮像の直前
に収集した暗時出力データ（補正データ）を撮像時間に
基づいて変更する態様、画素値が所定レベル以上あると
きには画素値自体を置換する補正を付加する態様、アナ
ログ量のままオフセット補正を行ってからデジタル量に
変換する態様など）で補正することとしたので、補正残
しや補正ばらつきを著しく減らして空間分解能を上げる
とともに、アーチファクトの減少によりＳ／Ｎ比を向上
させた高品質の画像を得ることができ、また画像から得
られる情報の低下を防止でき、さらにはＡ／Ｄ変換器の
ビット長を有効に利用し、画像のダイナミックレンジを
向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の第１実施例に係るＸ線診断装置の概
略構成を示すブロック図。

【図２】この発明の第２実施例に係るＸ線診断装置の概
略構成を示すブロック図。

【図３】第２実施例におけるオフセット・データ生成回
路を示すブロック図。

【図４】撮像時間と係数の定性的な関係を説明するグラ
フ。

【図５】オフセット・データ生成回路の他の例を示すブ
ロック図。

【図６】この発明の第３実施例に係るＸ線診断装置の概
略構成を示すブロック図。

【図７】第３実施例におけるオフセット・データ生成回
路を示すブロック図。

【図８】固体撮像素子の温度と係数の定性的な関係を説
明するグラフ。

【図９】この発明の第４実施例に係るＸ線診断装置の概
略構成を示すブロック図。

【図１０】第４実施例におけるオフセット・データ生成
回路を示すブロック図。

【図１１】画素値と係数の定性的な関係を説明するグラ
フ。

【図１２】この発明の第５実施例に係るＸ線診断装置の
概略構成を示すブロック図。

【図１３】転送経路長とオフセット補正量の定性的な関
係を説明するグラフ。

【図１４】この発明の第６実施例に係るＸ線診断装置の
概略構成を示すブロック図。

【図１５】第６実施例におけるオフセット・データ生成
回路及びオフセット・データの取り込みを示すブロック
図。

【図１６】第６実施例の動作を説明するタイミングチャ
ート。

【図１７】この発明の第７実施例に係るＸ線診断装置の
概略構成を示すブロック図。

【図１８】第７実施例のオフセット・データ生成回路及
び置換アドレス決定回路のブロック図。

【図１９】第７実施例の変形例に係るオフセット・デー
タ生成回路及び置換アドレス決定回路のブロック図。

【図２０】この発明の第８実施例に係るＸ線診断装置の
概略構成を示すブロック図。

【図２１】温度、蓄積時間などの条件をパラメータとし
たときの、画素値の変分を説明するグラフ。

【図２２】画素値依存域を説明するための、画素値−変
分（補正量）の特性図。

【符号の説明】

１３ＴＶカメラ１３ａ固体撮像素子１６駆動回路１８Ａ／Ｄ変換器１９加算器２０オフセット・メモリ２３コントローラ３０、４０、５０、７０オフセット・データ生成回路３４オフセット・メモリ回路３９温度センサ６０経路長換算回路６１オフセット・メモリ７１電子スイッチ８０置換アドレス決定回路８１置換回路８６置換情報メモリ９０加算器９２Ａ／Ｄ変換器９４Ｄ／Ａ変換器

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号庁内整理番号ＦＩ技術表示箇所Ｈ０１Ｌ 31/09 7630−4ＭＨ０１Ｌ 31/00 Ａ (72)発明者小林信夫栃木県大田原市下石上1385番の１株式会社東芝那須工場内 (72)発明者林幹人栃木県大田原市下石上1385番の１株式会社東芝那須工場内 (72)発明者白石邦夫栃木県大田原市下石上1385番の１東芝メディカルエンジニアリング株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】撮像した光学像に対応した画素値から成
る画像データを出力する固体撮像素子を備えた撮像装置
において、上記固体撮像素子の画素毎の暗電流に起因し
たオフセット量を補正するための予め測定された補正デ
ータを記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶された
補正データに基づいて上記固体撮像素子からの画像デー
タを画素毎に補正するオフセット補正手段とを備えたこ
とを特徴とする撮像装置。
【請求項２】前記補正データの画素値に対する特性は
画素値に依存する画素値依存域を有し、その補正データ
は当該撮像装置の使用時よりも前に測定され且つ記憶さ
れたデータである請求項１記載の撮像装置。
【請求項３】前記補正データは、前記画素値依存域以
外の領域に対応した画素値の光量を前記固体撮像素子に
入射させて測定されたデータである請求項２記載の撮像
装置。
【請求項４】前記光学像を前記固体撮像素子に入射し
続ける撮像時間、前記固体撮像素子の温度、前記画像デ
ータの画素値、及び前記画素の位置の各パラメータの
内、少なくとも１つ又は複数の組み合わせに基づいて前
記補正データを変更する補正データ変更手段を付加した
請求項３記載の撮像装置。
【請求項５】前記補正データ変更手段により変更され
た補正データが基準値を越えるか否かを画素毎に判断す
る判断手段と、この判断手段により上記補正データが基
準値を越えると判断されたとき、その判断対象の画素の
画素値をその近傍の画素の画素値から求めた画素値に置
換する置換手段とを付加したことを特徴とする請求項４
記載の撮像装置。
【請求項６】前記画像データを置換する必要のあるア
ドレスを予め記憶させた置換アドレスメモリ手段と、前
記固体撮像素子による撮像対象の画素位置が上記置換ア
ドレスメモリ手段に記憶させた置換アドレスに一致する
とき、その画素の画素値をその近傍の画素の画素値から
求めた画素値に置換する置換手段とを付加したことを特
徴とする請求項４記載の撮像装置。
【請求項７】前記オフセット補正手段は補正データを
アナログ量に変換するＤ／Ａ変換器と、このＤ／Ａ変換
器のアナログ量の変換データと前記固体撮像素子のアナ
ログ量の画像データとを加算する加算器とを備えるとと
もに、この加算器の加算結果をデジタル量に変換するＡ
／Ｄ変換器を備えたことを特徴とする請求項４、５又は
６記載の撮像装置。
【請求項８】前記補正データの画素値に対する特性は
画素値に依存しない特性であり、且つこの補正データは
光学像を固体撮像素子の入射させない状態で測定された
暗時出力データである請求項１記載の撮像装置。
【請求項９】前記暗時出力データは撮像時の直前のフ
レーム期間にて測定されたデータであり、前記光学像を
前記固体撮像素子に入射し続ける撮像時間に基づいて上
記暗時出力データを変更する補正データ変更手段を付加
した請求項８記載の撮像装置。
【請求項１０】前記補正データ変更手段により変更さ
れた補正データが基準値を越えるか否かを画素毎に判断
する判断手段と、この判断手段により上記補正データが
基準値を越えると判断されたとき、その判断対象の画素
の画素値をその近傍の画素の画素値から求めた画素値に
置換する置換手段とを付加したことを特徴とする請求項
９記載の撮像装置。
【請求項１１】前記画像データを置換する必要のある
アドレスを予め記憶させた置換アドレスメモリ手段と、
前記固体撮像素子による撮像対象の画素位置が上記置換
アドレスメモリ手段に記憶させた置換アドレスに一致す
るとき、その画素の画素値をその近傍の画素の画素値か
ら求めた画素値に置換する置換手段とを付加したことを
特徴とする請求項９記載の撮像装置。
【請求項１２】前記オフセット補正手段は補正データ
をアナログ量に変換するＤ／Ａ変換器と、このＤ／Ａ変
換器のアナログ量の変換データと前記固体撮像素子のア
ナログ量の画像データとを加算する加算器とを備えると
ともに、この加算器の加算結果をデジタル量に変換する
Ａ／Ｄ変換器を備えたことを特徴とする請求項９、１０
又は１１記載の撮像装置。