JPH0724739A - 粉体噴射加工方法およびその装置 - Google Patents

粉体噴射加工方法およびその装置

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JPH0724739A
JPH0724739A JP16792693A JP16792693A JPH0724739A JP H0724739 A JPH0724739 A JP H0724739A JP 16792693 A JP16792693 A JP 16792693A JP 16792693 A JP16792693 A JP 16792693A JP H0724739 A JPH0724739 A JP H0724739A
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electrode
jet
nozzle
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JP16792693A
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Inventor
Hirotaka Imayama
寛隆 今山
Masayasu Fujisawa
政泰 藤沢
Katsuya Fukazawa
克也 深沢
Takashi Suzuki
高 鈴木
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 MR素子を持つ薄膜磁気ヘッドのような帯電
耐圧の低い被加工物に対して、低コストで能率が高く、
しかも高精度で帯電現象を発生させない粉体噴射加工方
法およびその装置の提供。 【構成】 粉体供給装置と、粉体輸送配管および加工装
置における粉体との各接触部の材料を、前記粉体と同一
材質か、または同一材質によりコーティングする構成の
装置とし、粉体噴射ノズルより噴出される粉体を、該粉
体の電位を電気的に中和させた後、被加工物に噴射す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被加工物の表面を微細
な粉体を使用して加工する粉体噴射加工方法およびその
装置に係わり、特に、薄膜磁気ヘッドのような帯電耐圧
の低い被加工物を、粉体の帯電を防止または除去して、
低コストで能率よく、しかも高精度に加工するのに好適
な粉体噴射加工方法およびその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、薄膜磁気ヘッドを大量に製造する
ための方法は、スライダー材基板上に磁気回路の薄膜を
形成してから切断し、切断面を研磨した後にスライダー
レールを形成するというものであった。薄膜磁気ヘッド
の加工法としては、セラミックスからなる加工片の所定
表面上に、浮上面間に凹部を形成する際、該凹部以外の
部分を感光性樹脂膜で覆い、ショットブラスト法を採用
して面精度を損なうことなく加工するようにした磁気ヘ
ッドスライダーの製造方法(例えば、特開平2ー128
383号公報)が提案されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】被加工物を粉体噴射加
工方法を用いて所定の形状に加工するには、例えば、粉
体供給装置の中で粉体を高圧流体に混合し、粉体輸送配
管を経て加工室内で被加工物に高速で噴射する方式が取
られる。この方法は、安価で、しかも加工能率が高いの
が特徴である。しかし、この場合、粉体は粉体輸送配管
との摩擦や周囲の電界などの影響を受けて帯電現象を起
こす。例えば、50Paの空気に平均粒径3μmのSi
Cパウダを7g/minの割合で混合し、加速してアル
ミナ系セラミックスに毎分400mの速度で90min
噴射すると、前記アルミナ系セラミックスの帯電量は3
000Vとなる。
【0004】ところが、磁気抵抗効果素子(以下、MR
素子という)をもつ薄膜磁気ヘッドでは、MR素子の厚
さが数nmであることにより、該MR素子に5V以上の
電圧がかかると、MR素子は損傷を受けて磁気記録読み
取り機能を果たさなくなるという問題点を有していた。
【0005】本発明は上記従来技術の問題点に鑑み、前
記磁気ヘッドのような帯電耐圧の低い被加工物に対し
て、低コストで能率が高くしかも高精度で、帯電現象が
起きない粉体噴射加工方法およびその装置を提供するこ
とを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の粉体噴射加工方法は、粉体ホッパ内に微細
粉体を内蔵した粉体供給装置より、粉体輸送配管を介し
て前記粉体を加工装置に輸送し、送られた粉体を該加工
装置内に設けた粉体噴射ノズルにより被加工物に噴射
し、該被加工物の表面を所望の形状に加工する粉体噴射
加工方法において、前記粉体噴射ノズルより噴出される
粉体を、該粉体の電位を電気的に中和させた後、被加工
物に噴射する構成にしたものである。
【0007】そして、前記粉体の電位の電気的中和を、
前記粉体噴射ノズルより噴出される粉体に、該粉体の噴
出方向と直交する方向より粉体と反対の電荷を有するイ
オンを衝突させ、粉体とイオンとの間の電子移動により
行われる構成にするとよい。
【0008】また、前記粉体の電位の電気的中和を、前
記粉体噴射ノズルより噴出される粉体に、該粉体の噴出
方向と直交する方向より陰極の引出し電極を介して粉体
と反対の電荷を有する荷電粒子を衝突させ、粉体と荷電
粒子との間の電子移動により行われる構成にしてもよ
く、さらに、前記粉体の電位の電気的中和を、前記粉体
噴射ノズルの粉体出口部に設けた陰電極と、前記被加工
物を固着した接地された導体電極のワークテーブルとの
間に電界をかけ、粉体を該電界を通過させることにより
行われる構成にしてもよい。
【0009】一方、本発明の粉体噴射加工装置は、粉体
ホッパ内に微細な粉体を内蔵した粉体供給装置と、前記
粉体を高圧ガスとともに輸送する粉体輸送配管と、送ら
れた粉体を粉体噴射ノズルを介してワークテーブルに固
着された被加工物に噴射し、該被加工物の表面を所望の
形状に加工する加工装置とを備えた粉体噴射加工装置に
おいて、前記粉体供給装置,粉体輸送配管および加工装
置における前記粉体との各接触部の材料を、前記粉体と
同一材質か、または同一材質によりコーティングする構
成にしたものである。
【0010】そして、前記粉体との各接触部の材料を、
導電性材料とし、かつ導電性材料からなる各接触部が接
地処理された構成にするとよい。
【0011】そして、前記加工装置を、前記粉体噴射ノ
ズルより噴出される粉体に、該粉体の噴出方向と直交す
る方向より粉体と反対の電荷を有するイオンを衝突させ
るイオン照射装置を備える構成にするとよい。
【0012】また、前記加工装置を、前記粉体噴射ノズ
ルの粉体出口部に該出口部を挟んで粉体噴射方向と平行
に設けられた、陰極となる荷電粒子引出し電極および荷
電粒子引込み電極と、荷電される微粒子を搬送ガスによ
り前記粉体の噴出方向と直交する方向に搬送し、該搬送
された微粒子を前記荷電粒子引出し電極を介して前記粉
体噴射ノズルより噴出される粉体に衝突させる微粒子搬
送手段と、を備える構成にするとよい。
【0013】また、前記加工装置を、前記粉体噴射ノズ
ルの粉体出口部に、粉体噴射方向と直交させて設けられ
た平板状の陰電極と、前記ワークテーブルを導体電極と
して接地し、前記陰電極との間に電界をかける電場発生
手段と、を備える構成にしてもよい。
【0014】さらに、前記加工装置を、前記粉体噴射ノ
ズルの粉体出口部に、粉体噴射方向と直交させて設けら
れた陰電極となるコロナ電極と、前記ワークテーブルを
導体電極として接地し、前記コロナ電極との間にコロナ
放電を発生させるコロナ放電発生手段と、を備える構成
にしてもよい。
【0015】そして、前記粉体との各接触部の導電性材
料を、メッシュ状に形成し、前記粉体が通過する複数の
装置内位置に取り付ける構成にすることが望ましい。
【0016】
【作用】上記構成とすることにより、使用される粉体と
粉体噴射加工装置の各部との、いずれかが高い熱エネル
ギを有している場合を除き、両者間のフェルミ準位は等
しくなり、粉体の帯電を防止することが可能になり、ま
た、接触・摩擦によって発生する異物質間のフェルミ準
位の差による電子の移動を防止することが可能になる。
【0017】そして、粉体噴射加工装置における粉体と
の各接触部分を、金属などの導体とするか、または粉体
の通過部分にメッシュ状の導体を取り付け、これを接地
する構成は、帯電した粉体およびこの部分との接触によ
って帯電した粉体の絶対電位を0にすべく電子の移動を
発生させ、帯電を起こした粉体の電荷を装置外部に逃が
して粉体の帯電を除去することが可能になる。特に、メ
ッシュ状の導体を取り付ける構成は、粉体と導体との接
触面積を増加させ、電子の移動を一層容易にさせる。
【0018】また、粉体噴射ノズルの粉体出口部に設け
た陰電極と、接地された導体電極のワークテーブルとの
間に電界をかけることにより、粉体が該電界を通過する
際に帯電の除去がより効率的になる。例えば、平板電極
上に導体の球形粒子が置かれている場合、粒子の得る帯
電量qは、 q=1.65×4π・ε0・r2・E0 で与えられる。ここで、E0は粒子がないときの電極面
状の電界、ε0は真空の誘電率、rは粒子の半径であ
る。もし電極の絶対電位が0である場合、当然粒子の絶
対電位は0になり、粉体が平板電極上に積もってもqだ
け電荷の移動が発生する。
【0019】また、帯電した粉体と反対の電荷を持つ荷
電粒子およびイオンを、粉体に衝突させることにより、
粉体とイオン、または粉体と荷電粒子相互間の電子移動
により粉体の電気的中和が行われ、浮遊粉体に対しても
より効率的に電気的中和を行うことが可能になる。
【0020】
【実施例】本発明の第1の実施例を、図1および図2を
参照して説明する。図1は粉体噴射加工装置の全体構成
説明図、図2は図1に示す粉体輸送配管の具体例を示す
図である。
【0021】図1に示すように、この装置は主として、
粉体3を内蔵した粉体供給装置1,粉体3を輸送する粉
体輸送配管5,粉体3により被加工物を加工する加工装
置6および使用済みの粉体3を吸い込む集塵装置10か
ら構成されている。本実施例においては、噴射加工装置
内において粉体と接触する部分、すなわち、粉体供給装
置1,粉体輸送配管5および加工装置6は、すべて粉体
3と同一材質か、または同一材質がコーティングされた
構成になっている。以下にその構成を具体的に説明す
る。
【0022】粉体供給装置1は、粉体ホッパ4内の粉体
3を、該粉体ホッパ4内に供給される高圧ガス2と混合
し、この混合された粉体3を粉体輸送配管5を介して加
工装置6内へ供給する装置である。粉体輸送配管5を通
過した粉体3は、加工装置6内において粉体噴射ノズル
7によりワークテーブル8に固定されている被加工物9
に向かって噴射される。
【0023】ここで、本実施例で使用した粉体3は平均
粒径3μmのSiC粉であり、図1に示す粉体供給装置
1,粉体ホッパ4,粉体輸送配管5,加工装置6,粉体
噴射ノズル7およびワークテーブル8において、粉体3
が接触する可能性のある部位はすべてSiC製か、また
はSiCによってコーティングされている。SiCで各
部分を構成する場合、各部品の製造方法にはさまざまな
方法があるが、例えば、SiCの焼結体から研削、切断
などの機械加工によって成型する方法が一般的である。
一方、コーティングの方法としては、例えば溶射による
方法、スパッタリングによる方法等がある。
【0024】つぎに、粉体3の噴射方法の具体例を説明
する。高圧ガス2として50Paの高圧アルゴンガスを
使用し、毎分50リットルを粉体供給装置1内に供給し
て、粉体供給装置1内に内蔵されている平均粒径3μm
のSiCの粉体3と混合する。粉体供給装置1内から毎
分3gのSiCの粉体3を、内径3.2mmの粉体輸送
配管5に噴出させる。前記混合された粉体3は、内径
1.6mmにしぼられた粉体噴射ノズル7より被加工物
9の表面へと噴射される。ここで被加工物9は、直径7
2.4mm,厚さ3mmのアルミナ系セラミックスのウ
ェハで、表面にはシリコン系レジストマスクが所定の形
状にパターニングされている。また、粉体噴射ノズル7
の先端から被加工物9までの距離は10mmである。一
方、加工装置6内のワークテーブル8は、直径が240
mmで、前記被加工物9を6枚取り付ける事ができ、毎
分100回転で回転している。粉体噴射ノズル7はワー
クテーブル8の回転中心軸から半径120mmと60m
mの間で、かつ被加工物9の加工面から13mmの距離
を、半径に反比例して毎分0.2mmから0.4mmの
間の速度で移動させた。
【0025】この様にして加工した結果、1時間で10
μmの加工深さを得る事ができ、被加工物9の帯電量を
3000Vから50Vに低減することができた。
【0026】上記構成においては、粉体供給装置1,粉
体ホッパ4,粉体輸送配管5,加工装置6,粉体噴射ノ
ズル7およびワークテーブル8の粉体3と接触する部分
が、SiC製か、またはSiCによってコーティングさ
れているが、これら各部分を導電性物質で構成し、かつ
該各部分を接地処理する構成にしてもよい。例えば、粉
体輸送配管5にも銅のフレキシブルチューブを使用する
等、前記導電性物質を無酸素銅とし、そして、接地処理
を行い、前記と同様の加工を行った結果、被加工物9の
帯電量を20Vにまで低減する事ができた。
【0027】図2は上記粉体輸送配管5の具体例であ
る。粉体輸送配管5には、内径3.2mm,外径6.0
mm,長さ1500mmのウレタン製チューブを使用
し、該チューブの粉体供給装置1から粉体輸送配管5へ
の出口,粉体輸送配管5の中央部,粉体輸送配管5から
粉体噴射ノズル7への出口等の各部に、同図に示すよう
な形でW製の導電性メッシュ11を挿入し、かつ該導電
性メッシュ11を接地処理した例である。本例における
粉体輸送配管5を使用して前記と同様の加工を行った場
合、導電性メッシュ11を通過する粉体3の帯電が除去
されることから、被加工物9の帯電量を100Vにまで
低減することができた。
【0028】第2の実施例 本発明の第2の実施例を、図3ないし図6を参照して説
明する。図3は本発明の第2の実施例の粉体噴射加工装
置の加工装置で、該加工装置以外の部分は、前記図1に
示す第1の実施例と同じ構成である。図4は図3に示す
イオン照射装置を使用した加工装置の全体構成例を示す
図で、本構成例における被加工物は磁気ヘッドである。
図5は薄膜磁気ヘッドの加工状態を示す図、図6は図5
の加工精度を示す図である。
【0029】図3において、12は加工装置6内の粉体
噴射ノズル7の先端部に設けられているイオン照射装置
である。イオン照射装置12は、イオン引き出し電極1
6,減速電極17,接地電極18などから構成されてお
り、イオン14の進行方向は粉体3の噴射方向に対して
直角となるように設置されている。
【0030】上記装置におけるイオン源ガス13として
はアルゴンガスが使用され、イオン源プラズマ発生の方
法として2.45GHzのマイクロ波15によるECR
共鳴を利用しているが、アーク放電による方法を用いて
もよい。減速電極17および接地電極18の径は小さく
てよく、この場合10mmである。ガス流量を1.0s
ccm,加速電圧900V,減速電圧125Vとしたと
ころ、加速電流としては25mAであった。
【0031】上記イオン照射装置12を設けた場合の粉
体3の噴射は、前述の噴射方法と異なり、粉体噴射ノズ
ル7の先端からイオン照射装置12内へ噴射され、該装
置内を通過した後、被加工物であるウエハ表面に噴射さ
れる。そしてこの場合、イオン照射装置12の通過距離
は10mmであり、また、粉体噴射ノズル7の先端から
ウエハ表面までの距離は13mmである。なお、この時
の加工装置6内は、ロータリポンプおよびターボ分子ポ
ンプを用いて真空度1.0×10~4Torr程度に保た
れている。この構成により被加工物9の帯電量を、イオ
ン照射装置12を有しない前述の噴射方法よりさらに低
減させ、3000Vから3Vに低減することができた。
【0032】図4において、被加工物9はワークテーブ
ル8の下面側の外周部に固定されている。ワークテーブ
ル8は主軸24に固着され、主軸24はカップリングを
介してモーター25の軸に接続されている。主軸24は
軸受け29に支持され、軸受け29は軸受けホルダー3
0に支持されている。軸受けホルダー30にはエアーホ
ース31がとりつけられ、エアーホース31より供給さ
れる高圧の空気は、軸受けホルダー30内の隙間を通っ
て加工装置6の内部に流入する。加工装置6の側壁の一
部には集塵機用穴32が設けられており、粉体(砥粒)
3が流入した空気とともにダクトを介して集塵機に吸い
込まれる。
【0033】上記加工装置6内の粉体噴射ノズル7はリ
ニアモーター26に固着され、被加工物9に対して平行
に移動可能になっている。同様に、クリーニングノズル
27が被加工物9に対して平行移動可能にリニアモータ
ー28に固着されている。そして、粉体噴射ノズル7お
よびクリーニングノズル27は、リニアモーター26お
よび28に対して、角度を自由に設定できるように固着
されているとともに、ワークテーブル8までの距離をそ
れぞれ自由に設定できるようになっている。また、リニ
アモーター26および28の位置から粉体噴射ノズル7
およびクリーニングノズル27の位置を検出し、それぞ
れリニアモーター26および28の速度、またはワーク
テーブル8の回転数に、コントローラー33を介してフ
ィードバック制御するようになっている。
【0034】本実施例においては、ワークテーブル8の
直径は200mmである。薄膜磁気ヘッドの素子を多数
個形成した直径80mm、厚さ4mmのアルミナ系セラ
ミックスの基板を半分に切断した後、ピッチ1.1mm
±30μmに切断し、両切断面を鏡面研磨してできあが
った幅4mm、長さ30mm、高さ1mmのアルミナ系
セラミックスのブロックを、20個製造した。このアル
ミナ系セラミックスには、図5(a)に示すように厚さ
10μmのsus304製の導電性マスクを導電性接着
剤によって接着するか、または、図5(b)に示すよう
に高絶縁性のポリイミドマスクを接着してある。マスク
の位置決めは、sus304製の導電性マスクの場合、
接地したワークテーブルル8に接地し、浮上面側にパタ
ーニングした素子を基準にし、顕微鏡を用いて±10μ
mの精度で接着した。一方、高絶縁性のポリイミドマス
クの場合は、ブロック位置合わせ治具に被加工物を10
個ずつ位置決めして固定した後、マスク材となるポリイ
ミドをラミネートし、摂氏130度以下の温度でベーク
した。この後、露光液をコーティングし、露光、現像工
程を経てパターニングを完了した。
【0035】このようにマスクを接着した被加工物9
を、ワークテーブル8の下面側の外周部に20個固定
し、ワークテーブル8を60rpmで回転させ、穴径
1.5mmの粉体噴射ノズル7をワークテーブル8の最
外周から中心に向かって移動し、幅55mmの距離を往
復させた。このときの移動速度uは、次の式に従った。
【0036】u=30/r そして、粉体噴射ノズル7よりGC砥粒の#4000
(平均径3μm)を、圧力5kg/cm2の空気と混合して4
0g/min噴射した。このとき、粉体噴射ノズル7とワー
クテーブル8とのなす角は10°に、そして該両者間の
距離は20mmに設定されている。また、粉体輸送管
(ホース)の内径は5mmで、これをノズルで1.5m
mに絞っている。このとき前記マスクのエッヂに砥粒が
付着しないように、加工と同時にクリーニングノズル2
7からも5kg/cm2の空気を吹き付け、ワークテーブル8
の最外周から中心に向かって、速度1mm/secで55mm
の幅を往復移動させる。この場合、クリーニングノズル
27とワークテーブル8とのなす角度を20°、該両者
間の距離を10mmに設定する。また、エア配管31よ
り5kg/cm2の空気を、軸受けホルダー30内の軸受け2
9等の隙間を介して加工装置6内に流入させる。加工装
置6内に流入する気体は、すべてミストを除去され、乾
燥したものが使用される。なお、空気だけでなく窒素ガ
スまたはアルゴンガスを使用することも可能である。
【0037】上記状態にして10min加工した結果、
マスク寸法を正確に転写し、深さ8μm±0.6μmの
加工深さを得ることができ、しかも加工後の洗浄をほと
んど必要としなかった。そして、加工後の帯電を測定し
たところ、2.0Vの低い値が得られた。
【0038】この後、前記ブロックを個々のヘッドに切
断することにより、図6に示すように、レール幅200
μm±4μm、加工深さ8μm±0.6μmの高い形状
精度を有する薄膜磁気ヘッドを製造することができた。
【0039】第3の実施例 図7は本発明の第3の実施例の粉体噴射加工装置の加工
装置である。該加工装置は、前記図3に示す第2の実施
例のイオン照射装置に変えて荷電粒子製造装置を設ける
構成にしたもので、この加工装置以外の部分は、前記第
1または第2の実施例と同じである。
【0040】図7において、19は荷電粒子引出し電
極、20は荷電粒子引込み電極、21は微粒子搬送ガス
である。荷電粒子引出し電極19および荷電粒子引込み
電極20は、メッシュ形状あるいはグリッド形で、直径
10mm,厚さ1mmである。粉体噴射ノズル7より噴
射されて荷電される粉体3は、直径0.5μmのMg微
粒子を用いた。SiCは陽に帯電しやすい事がわかって
いるので、荷電粒子引出し電極19を陰極とした。一例
として印加電圧を900Vとし、微粒子搬送ガス21に
Arガスを使用し、毎分0.5gの前記Mg微粒子の粉
体3を荷電粒子引出し電極19に向けて搬送した。荷電
粒子は荷電粒子引出し電極19より荷電粒子引込み電極
20に向かって飛び出すが、その方向は粉体3の噴射方
向と垂直の方向である。
【0041】本装置を使って加工した結果、被加工物9
の帯電量を、4Vに低減する事ができた。
【0042】第4の実施例 図8は本発明の第4の実施例の粉体噴射加工装置の加工
装置である。該加工装置は、前記図7に示す第3の実施
例の荷電粒子製造装置に変えて接地された導体電極およ
び電場発生装置を設ける構成にしたもので、この加工装
置以外の部分は、前記第2または第3の実施例と同じで
ある。
【0043】図8において、22は粉体噴射ノズル7の
出口に設けられたグリッド状の陰電極である。本実施例
においては、ワークテーブル8を接地された導体電極と
し、各電極の材質は無酸素銅である。陰電極22とワー
クテーブル8との間に900Vの電圧を印加する。粉体
3が陰電極22を通過すると、陽に帯電していた粉体3
は電気的に中和され、被加工物9の帯電量は3Vにまで
低減された。
【0044】第5の実施例 図9は本発明の第5の実施例の粉体噴射加工装置の加工
装置である。該加工装置は、前記図8に示す第4の実施
例の導体電極および電場発生装置に変えてコロナ放電発
生装置を設ける構成にしたもので、この加工装置以外の
部分は、前記第2ないし第4の実施例と同じである。
【0045】図9において、23は粉体噴射ノズル7の
出口に設けられたコロナ電極である。コロナ電極23
は、タンタルの径0.1mmの細線からなり、電圧を1
00V印加して加熱される。ワークテーブル8を接地電
極とし、コロナ電極23を陰電極とすると、コロナイオ
ンが電界によって加速され、陽に帯電した粉体3に付着
し、粉体3を電気的に中和して被加工物9の帯電量を、
前記第4の実施例と同様に低減させることが可能にな
る。
【0046】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、MR素子
を持つ薄膜磁気ヘッドのような帯電耐圧の低い被加工物
に対して、低コストで能率が高く、しかも高精度で帯電
現象が起きない粉体噴射加工を実現することができる効
果を奏する。。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の粉体噴射加工装置の全
体構成説明図である。
【図2】図1に示す粉体輸送配管の具体例を示す図であ
る。
【図3】本発明の第2の実施例の粉体噴射加工装置の加
工装置の説明図である。
【図4】図3に示す加工装置の全体構成例を示す図であ
る。
【図5】薄膜磁気ヘッドの粉体噴射加工状態を示す図で
ある。
【図6】図5の加工精度を示す図である。
【図7】本発明の第3の実施例の粉体噴射加工装置の加
工装置の説明図である。
【図8】本発明の第4の実施例の粉体噴射加工装置の加
工装置の説明図である。
【図9】本発明の第5の実施例の粉体噴射加工装置の加
工装置の説明図である。
【符号の説明】
1…粉体供給装置、3…粉体、4…粉体ホッパ、5…粉
体輸送配管、6…加工装置、7…粉体噴射ノズル、8…
ワークテーブル、9…被加工物、10…集塵装置、11
…導電性メッシュ、12…イオン照射装置、16…イオ
ン引出し電極、17…減速電極、18…接地電極、19
…荷電粒子引出し電極、20…荷電粒子引込み電極、2
1…微粒子搬送ガス、22…陰電極、23…コロナ電
極、24…主軸、25…モータ、26,28…リニアモ
ータ、27…クリーニングノズル、29…軸受け、30
…軸受けホルダー、31…エア配管、32…集塵機用
穴。
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G11B 21/21 101 L 9197−5D (72)発明者 鈴木 高 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所ストレージシステム事業部内

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 粉体ホッパ内に微細粉体を内蔵した粉体
    供給装置より、粉体輸送配管を介して前記粉体を加工装
    置に輸送し、送られた粉体を該加工装置内に設けた粉体
    噴射ノズルにより被加工物に噴射し、該被加工物の表面
    を所望の形状に加工する粉体噴射加工方法において、前
    記粉体噴射ノズルより噴出される粉体を、該粉体の電位
    を電気的に中和させた後、被加工物に噴射することを特
    徴とする粉体噴射加工方法。
  2. 【請求項2】 前記粉体の電位の電気的中和が、前記粉
    体噴射ノズルより噴出される粉体に、該粉体の噴出方向
    と直交する方向より粉体と反対の電荷を有するイオンを
    衝突させ、粉体とイオンとの間の電子移動により行われ
    る請求項1記載の粉体噴射加工方法。
  3. 【請求項3】 前記粉体の電位の電気的中和が、前記粉
    体噴射ノズルより噴出される粉体に、該粉体の噴出方向
    と直交する方向より陰極の引出し電極を介して粉体と反
    対の電荷を有する荷電粒子を衝突させ、粉体と荷電粒子
    との間の電子移動により行われる請求項1記載の粉体噴
    射加工方法。
  4. 【請求項4】 前記粉体の電位の電気的中和が、前記粉
    体噴射ノズルの粉体出口部に設けた陰電極と、前記被加
    工物を固着した接地された導体電極のワークテーブルと
    の間に電界をかけ、粉体を該電界を通過させることによ
    り行われる請求項1記載の粉体噴射加工方法。
  5. 【請求項5】 粉体ホッパ内に微細な粉体を内蔵した粉
    体供給装置と、前記粉体を高圧ガスとともに輸送する粉
    体輸送配管と、送られた粉体を粉体噴射ノズルを介して
    ワークテーブルに固着された被加工物に噴射し、該被加
    工物の表面を所望の形状に加工する加工装置とを備えた
    粉体噴射加工装置において、前記粉体供給装置,粉体輸
    送配管および加工装置における前記粉体との各接触部の
    材料を、前記粉体と同一材質か、または同一材質により
    コーティングする構成にしたことを特徴とする粉体噴射
    加工装置。
  6. 【請求項6】 前記粉体との各接触部の材料が、導電性
    材料からなり、かつ導電性材料からなる各接触部が接地
    処理された構成からなる請求項5記載の粉体噴射加工装
    置。
  7. 【請求項7】 前記加工装置が、前記粉体噴射ノズルよ
    り噴出される粉体に、該粉体の噴出方向と直交する方向
    より粉体と反対の電荷を有するイオンを衝突させるイオ
    ン照射装置を備えた構成からなる請求項5記載の粉体噴
    射加工装置。
  8. 【請求項8】 前記加工装置が、前記粉体噴射ノズルの
    粉体出口部に該出口部を挟んで粉体噴射方向と平行に設
    けられた、陰極となる荷電粒子引出し電極および荷電粒
    子引込み電極と、荷電される微粒子を搬送ガスにより前
    記粉体の噴出方向と直交する方向に搬送し、該搬送され
    た微粒子を前記荷電粒子引出し電極を介して前記粉体噴
    射ノズルより噴出される粉体に衝突させる微粒子搬送手
    段と、を備えてなる請求項5記載の粉体噴射加工装置。
  9. 【請求項9】 前記加工装置が、前記粉体噴射ノズルの
    粉体出口部に、粉体噴射方向と直交させて設けられた平
    板状の陰電極と、前記ワークテーブルを導体電極として
    接地し、前記陰電極との間に電界をかける電場発生手段
    と、を備えてなる請求項5記載の粉体噴射加工装置。
  10. 【請求項10】 前記加工装置が、前記粉体噴射ノズル
    の粉体出口部に、粉体噴射方向と直交させて設けられた
    陰電極となるコロナ電極と、前記ワークテーブルを導体
    電極として接地し、前記コロナ電極との間にコロナ放電
    を発生させるコロナ放電発生手段と、を備えてなる請求
    項5記載の粉体噴射加工装置。
  11. 【請求項11】 前記粉体との各接触部の導電性材料
    が、メッシュ状に形成され、前記粉体が通過する複数の
    装置内位置に取り付けられてなる請求項6記載の粉体噴
    射加工装置。
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