JPH07248362A - 開閉器の合成遮断試験回路 - Google Patents
開閉器の合成遮断試験回路Info
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- JPH07248362A JPH07248362A JP4016694A JP4016694A JPH07248362A JP H07248362 A JPH07248362 A JP H07248362A JP 4016694 A JP4016694 A JP 4016694A JP 4016694 A JP4016694 A JP 4016694A JP H07248362 A JPH07248362 A JP H07248362A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 減衰が少ない零ミス電流が得られる合成遮断
試験回路を提供。 【構成】 電流源回路１，２の発電機５，１０の交流電
圧が零点を迎えたときに、第１投入開閉器６を投入す
る。この時、第１変圧器８の２次側には１００％近くの
直流分を含んだ電流ｉ1 が流れ、これが供試ＨＧＳＧ４
にも流れる。第１発電機５と第２発電機１０の発生電圧
が、第１投入開閉器６の投入後、次の零点にきたときに
第２投入開閉器１１を投入する。第２投入開閉器１１を
投入すると、第２電流源回路２から同様に１００％近く
の直流分を含んだ電流ｉ2 が流れる。この時から、供試
開閉器４には、電流ｉ1 と電流ｉ2 を合成した零ミス電
流ｉ0 が流れる。所定の８０ｍｓ以上のアーク時間とな
るような時刻で第２補助遮断器１４を開離して零ミス電
流ｉ0 に零点を作り、続けて第１補助遮断器９を開離し
て、供試開閉器４と同一電流零点で同時に遮断する。
試験回路を提供。 【構成】 電流源回路１，２の発電機５，１０の交流電
圧が零点を迎えたときに、第１投入開閉器６を投入す
る。この時、第１変圧器８の２次側には１００％近くの
直流分を含んだ電流ｉ1 が流れ、これが供試ＨＧＳＧ４
にも流れる。第１発電機５と第２発電機１０の発生電圧
が、第１投入開閉器６の投入後、次の零点にきたときに
第２投入開閉器１１を投入する。第２投入開閉器１１を
投入すると、第２電流源回路２から同様に１００％近く
の直流分を含んだ電流ｉ2 が流れる。この時から、供試
開閉器４には、電流ｉ1 と電流ｉ2 を合成した零ミス電
流ｉ0 が流れる。所定の８０ｍｓ以上のアーク時間とな
るような時刻で第２補助遮断器１４を開離して零ミス電
流ｉ0 に零点を作り、続けて第１補助遮断器９を開離し
て、供試開閉器４と同一電流零点で同時に遮断する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は大電力を送電する１００
０ｋＶ電力系統の変電所や開閉所で用いられる高速接地
開閉器（ＨＳＧＳ）の遮断性能を検証する合成遮断試験
回路に関するものである。
０ｋＶ電力系統の変電所や開閉所で用いられる高速接地
開閉器（ＨＳＧＳ）の遮断性能を検証する合成遮断試験
回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】都市部における発電所の建設難による電
力不足を補うために遠く離れた過疎地に発電所を建設
し、高電圧の長距離送電線で大都市へ電力を送る１００
０ｋＶ級のＵＨＶ送電が計画されている。これに伴いＵ
ＨＶ系統の変電所開閉機器に関する開発研究が進められ
ている。ＵＨＶ電圧の絶縁を確保するために六フッ化硫
黄ガス（ＳＦ6 ガス）の優れた絶縁性能を応用した密閉
形ガス絶縁開閉装置（ＧＩＳ）が採用されている。この
ＧＩＳは、遮断器、断路器、接地開閉器、高速接地開閉
器（ＨＳＧＳ）など多くの機器で構成される。ところ
で、ＵＨＶ系統では、送電線事故時に遮断器で事故除去
後にも他の健全相からの誘導に起因して、アークホーン
の２次アークが自然消弧しない現象が生じる。このため
ＵＨＶ系統では図６のｃ相に示すようにＨＳＧＳを採用
し、遮断機の開路状態においてこのＨＳＧＳを強制投入
して２次アークを消滅させている。この２次アークの消
滅後約０．５秒程度でＨＳＧＳを開路させ、線路に流れ
る電磁または静電誘導電流を遮断する。その後に、線路
両端の遮断器を高速度で再投入して送電を継続する。
力不足を補うために遠く離れた過疎地に発電所を建設
し、高電圧の長距離送電線で大都市へ電力を送る１００
０ｋＶ級のＵＨＶ送電が計画されている。これに伴いＵ
ＨＶ系統の変電所開閉機器に関する開発研究が進められ
ている。ＵＨＶ電圧の絶縁を確保するために六フッ化硫
黄ガス（ＳＦ6 ガス）の優れた絶縁性能を応用した密閉
形ガス絶縁開閉装置（ＧＩＳ）が採用されている。この
ＧＩＳは、遮断器、断路器、接地開閉器、高速接地開閉
器（ＨＳＧＳ）など多くの機器で構成される。ところ
で、ＵＨＶ系統では、送電線事故時に遮断器で事故除去
後にも他の健全相からの誘導に起因して、アークホーン
の２次アークが自然消弧しない現象が生じる。このため
ＵＨＶ系統では図６のｃ相に示すようにＨＳＧＳを採用
し、遮断機の開路状態においてこのＨＳＧＳを強制投入
して２次アークを消滅させている。この２次アークの消
滅後約０．５秒程度でＨＳＧＳを開路させ、線路に流れ
る電磁または静電誘導電流を遮断する。その後に、線路
両端の遮断器を高速度で再投入して送電を継続する。
【０００３】しかし、ＨＳＧＳの開路中に他相（例えば
図６のｃ相）で後追い故障が発生することがあり、その
発生条件によっては誘導電流は零点のない、すなわち図
６のｃ相のグラフで示したような零点推移現象（零ミス
現象）が発生することがある。この零ミス状態は、ａ相
で例えば７０ｍｓ後に後追い故障が除去されれば解消さ
れるが、零ミス状態の継続時間が最も長い場合は、８０
ｍｓ以上となることがある。そのため、ＨＳＧＳではこ
のような最悪の条件で数千Ａの電流を遮断し、その電流
遮断後に極間に印加される電極誘導あるいは静電誘導の
高い電圧に耐える必要がある。従って、ＨＳＧＳに要求
される諸性能の検証試験の中でこの零ミス状態の遮断性
能の検証は特に重要であり、試験方法、試験装置とも
に、従来用いられていたものでの対応が困難であり、新
たな解決策が必要である。
図６のｃ相）で後追い故障が発生することがあり、その
発生条件によっては誘導電流は零点のない、すなわち図
６のｃ相のグラフで示したような零点推移現象（零ミス
現象）が発生することがある。この零ミス状態は、ａ相
で例えば７０ｍｓ後に後追い故障が除去されれば解消さ
れるが、零ミス状態の継続時間が最も長い場合は、８０
ｍｓ以上となることがある。そのため、ＨＳＧＳではこ
のような最悪の条件で数千Ａの電流を遮断し、その電流
遮断後に極間に印加される電極誘導あるいは静電誘導の
高い電圧に耐える必要がある。従って、ＨＳＧＳに要求
される諸性能の検証試験の中でこの零ミス状態の遮断性
能の検証は特に重要であり、試験方法、試験装置とも
に、従来用いられていたものでの対応が困難であり、新
たな解決策が必要である。
【０００４】図７に零ミス状態での遮断性能検証を目的
とする従来の合成遮断試験回路の一例を示す。零ミス電
流を供給する電流源回路１００の電流となる短絡発電機
２６は、投入開閉器２７、電流調整用の１次側リアクト
ル２８を介して三相変圧器２９に接続されている。三相
変圧器２９は、１次／２次がデルタ／スターに構成さ
れ、２次側中性点が接地電流調整用の接地リアクトル３
３を通して接地されている。変圧器２９の２次側配線
は、零ミス電流を発生させる相（Ａ相とする）に電流調
整用の２次側Ａ相リアクトル３０、補助遮断器３５、供
試開閉器４が直列に接続され、他の二相と短絡されて接
地されている。補助遮断器３５と供試開閉器４の間に電
圧源回路３が接続されている。零ミスを発生しない他の
二相のうち一相（Ｂ相とする）は、電流調整用の２次側
Ｂ相リアクトル３１を通して他の二相と短絡接地されて
いる。残りの一相（Ｃ相とする）には、電流調整用の２
次側Ｃ相リアクトル３２と直列に補助投入器３２が接続
され、他の二相と短絡接地されている。
とする従来の合成遮断試験回路の一例を示す。零ミス電
流を供給する電流源回路１００の電流となる短絡発電機
２６は、投入開閉器２７、電流調整用の１次側リアクト
ル２８を介して三相変圧器２９に接続されている。三相
変圧器２９は、１次／２次がデルタ／スターに構成さ
れ、２次側中性点が接地電流調整用の接地リアクトル３
３を通して接地されている。変圧器２９の２次側配線
は、零ミス電流を発生させる相（Ａ相とする）に電流調
整用の２次側Ａ相リアクトル３０、補助遮断器３５、供
試開閉器４が直列に接続され、他の二相と短絡されて接
地されている。補助遮断器３５と供試開閉器４の間に電
圧源回路３が接続されている。零ミスを発生しない他の
二相のうち一相（Ｂ相とする）は、電流調整用の２次側
Ｂ相リアクトル３１を通して他の二相と短絡接地されて
いる。残りの一相（Ｃ相とする）には、電流調整用の２
次側Ｃ相リアクトル３２と直列に補助投入器３２が接続
され、他の二相と短絡接地されている。
【０００５】前記電圧源回路３は、充電して使用される
主コンデンサ２１、電圧源回路電流Ｉｖおよび過渡回復
電圧を調整するためのリアクトル２３、過渡回復電圧調
整用抵抗２４、過渡回復電圧用コンデンサ２５、電圧源
回路スタート用始動ギャップ２２により構成されてい
る。
主コンデンサ２１、電圧源回路電流Ｉｖおよび過渡回復
電圧を調整するためのリアクトル２３、過渡回復電圧調
整用抵抗２４、過渡回復電圧用コンデンサ２５、電圧源
回路スタート用始動ギャップ２２により構成されてい
る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、短絡試験回
路での零ミス状態の実現には、図７の構成以外にも試験
回路方式が幾つかは提案されている。一般に回路に損失
のない理想的な状態であれば、試験回路の実現は困難で
はない。特に、供試しているＨＳＧＳ４が遮断アークを
発生しない場合には、アーク以外の試験回路特性で決ま
る零ミス電流が継続する。しかしながら、ＨＳＧＳ４は
先に述べたようにアーク時間が数ｍｓから１００ｍｓに
近い広範囲の遮断が要求され、遮断に長いアーク時間を
要する場合がある。このような場合には、アーク抵抗に
よる回路損失が大きくなる。そして、接触子が開離する
ことによりアーク電圧が発生しその抵抗による損失が増
大すると、電流の零ミス状態が解消され短い時間で電流
零点を迎えてしまい、試験に必要な零ミス状態を維持で
きない。
路での零ミス状態の実現には、図７の構成以外にも試験
回路方式が幾つかは提案されている。一般に回路に損失
のない理想的な状態であれば、試験回路の実現は困難で
はない。特に、供試しているＨＳＧＳ４が遮断アークを
発生しない場合には、アーク以外の試験回路特性で決ま
る零ミス電流が継続する。しかしながら、ＨＳＧＳ４は
先に述べたようにアーク時間が数ｍｓから１００ｍｓに
近い広範囲の遮断が要求され、遮断に長いアーク時間を
要する場合がある。このような場合には、アーク抵抗に
よる回路損失が大きくなる。そして、接触子が開離する
ことによりアーク電圧が発生しその抵抗による損失が増
大すると、電流の零ミス状態が解消され短い時間で電流
零点を迎えてしまい、試験に必要な零ミス状態を維持で
きない。
【０００７】例えば、図７に示した従来の合成試験の電
流源について詳述すると、零ミス電流を供給するための
電流源電圧は、三相に構成された電流源回路１００から
供試開閉器４に印加される。電流源回路１００の変圧器
２９のタップを、一般の短絡試験場で実現可能な３０ｋ
Ｖ程度に選択しても、供試開閉器４の電流アークを維持
するための実質的な電圧（バック電圧）は回路解析上、
僅か数ｋＶとなる、従って、供試開閉器４が数ｋＶのア
ーク電圧を発生すると、零ミス電流は直ちに零線を横切
って遮断され、アークを継続することができなかった。
流源について詳述すると、零ミス電流を供給するための
電流源電圧は、三相に構成された電流源回路１００から
供試開閉器４に印加される。電流源回路１００の変圧器
２９のタップを、一般の短絡試験場で実現可能な３０ｋ
Ｖ程度に選択しても、供試開閉器４の電流アークを維持
するための実質的な電圧（バック電圧）は回路解析上、
僅か数ｋＶとなる、従って、供試開閉器４が数ｋＶのア
ーク電圧を発生すると、零ミス電流は直ちに零線を横切
って遮断され、アークを継続することができなかった。
【０００８】本発明は、以上のような従来の問題点を解
決するために提案されたものであり、その目的は、ＵＨ
Ｖ用ＨＳＧＳの零ミス状態の諸条件の性能検証試験を行
うために実系統と等価な遮断試験を実現する開閉器の合
成遮断試験回路を提供することである。すなわち、本発
明の主たる目的は、十分なバック電圧が得られ、供試開
閉器にアーク電圧が発生した場合であっても、電流の減
衰が少なく、必要な零ミス電流が得られる開閉器の合成
遮断試験回路を提供することにある。
決するために提案されたものであり、その目的は、ＵＨ
Ｖ用ＨＳＧＳの零ミス状態の諸条件の性能検証試験を行
うために実系統と等価な遮断試験を実現する開閉器の合
成遮断試験回路を提供することである。すなわち、本発
明の主たる目的は、十分なバック電圧が得られ、供試開
閉器にアーク電圧が発生した場合であっても、電流の減
衰が少なく、必要な零ミス電流が得られる開閉器の合成
遮断試験回路を提供することにある。
【０００９】本発明の第２の目的は、簡単な回路構成で
前記のような零ミス電流を発生することのできる電流源
回路を有する開閉器の合成遮断試験回路を提供すること
にある。本発明の第３の目的は、簡単な回路構成の供試
開閉器の開路時において回復電圧を印加することのでき
る電圧源回路を有する開閉器の合成遮断試験回路を提供
することにある。本発明の第４の目的は、前記のような
アーク電圧による電流の減衰が少なく、しかも供試開閉
器に実系統の線路で発生する過渡回復電圧を印加するこ
とのできる開閉器の合成遮断試験回路を提供することに
ある。本発明の第５の目的は、電流源回路の一部が電圧
源回路を兼用することにより、簡単な構成で、供試開閉
器に実系統の線路で発生する過渡回復電圧を印加するこ
とのできる開閉器の合成遮断試験回路を提供することに
ある。
前記のような零ミス電流を発生することのできる電流源
回路を有する開閉器の合成遮断試験回路を提供すること
にある。本発明の第３の目的は、簡単な回路構成の供試
開閉器の開路時において回復電圧を印加することのでき
る電圧源回路を有する開閉器の合成遮断試験回路を提供
することにある。本発明の第４の目的は、前記のような
アーク電圧による電流の減衰が少なく、しかも供試開閉
器に実系統の線路で発生する過渡回復電圧を印加するこ
とのできる開閉器の合成遮断試験回路を提供することに
ある。本発明の第５の目的は、電流源回路の一部が電圧
源回路を兼用することにより、簡単な構成で、供試開閉
器に実系統の線路で発生する過渡回復電圧を印加するこ
とのできる開閉器の合成遮断試験回路を提供することに
ある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、請求項１の発明は、双方の回路の投入時において
零ミス電流を発生する第１電流源回路と第２電流源回路
を並列にかつ逆極性の電圧となるように接続し、これら
第１電流源回路と第２電流源回路を供試開閉器の両端子
に対して接続すると共に、前記供試開閉器の両端子に電
圧源回路を接続し、前記第１電流源回路と第２電流源回
路には異なったタイミングで供試開閉器に供試電流源を
投入遮断する第１と第２の開閉手段を設けたことを特徴
とする。
めに、請求項１の発明は、双方の回路の投入時において
零ミス電流を発生する第１電流源回路と第２電流源回路
を並列にかつ逆極性の電圧となるように接続し、これら
第１電流源回路と第２電流源回路を供試開閉器の両端子
に対して接続すると共に、前記供試開閉器の両端子に電
圧源回路を接続し、前記第１電流源回路と第２電流源回
路には異なったタイミングで供試開閉器に供試電流源を
投入遮断する第１と第２の開閉手段を設けたことを特徴
とする。
【００１１】請求項２の発明は、前記請求項１の発明に
おいて、前記第１電流源回路として、第１発電機と第１
投入開閉器と第１電流調整リアクトルと第１変圧器とを
直列に接続し、前記第１変圧器の２次側の一方を第１の
開閉手段を介して供試開閉器の一方に、前記２次側の他
方を供試開閉器の他方に接続し、前記第２電流源回路と
して、第２発電機と第２投入開閉器と第２電流調整リア
クトルと第２変圧器とを直列に接続し、前記第２変圧器
の２次側の一方を第２の開閉手段を介して供試開閉器の
一方に、前記２次側の他方を供試開閉器の他方に接続し
たことを特徴とする。
おいて、前記第１電流源回路として、第１発電機と第１
投入開閉器と第１電流調整リアクトルと第１変圧器とを
直列に接続し、前記第１変圧器の２次側の一方を第１の
開閉手段を介して供試開閉器の一方に、前記２次側の他
方を供試開閉器の他方に接続し、前記第２電流源回路と
して、第２発電機と第２投入開閉器と第２電流調整リア
クトルと第２変圧器とを直列に接続し、前記第２変圧器
の２次側の一方を第２の開閉手段を介して供試開閉器の
一方に、前記２次側の他方を供試開閉器の他方に接続し
たことを特徴とする。
【００１２】請求項３の発明は、前記請求項２の発明に
おいて、前記電圧源回路として、第１発電機と第１投入
開閉器を直列に接続した両端子と第３変圧器を接続し、
前記第３変圧器の２次側の一方の端子をコンデンサを介
して供試開閉器の一方に接続し、他方の端子を供試開閉
器の他方に接続したことを特徴とする。
おいて、前記電圧源回路として、第１発電機と第１投入
開閉器を直列に接続した両端子と第３変圧器を接続し、
前記第３変圧器の２次側の一方の端子をコンデンサを介
して供試開閉器の一方に接続し、他方の端子を供試開閉
器の他方に接続したことを特徴とする。
【００１３】請求項４の発明は、前記請求項２の発明に
おいて、前記電圧源回路として、主コンデンサと始動ギ
ャップとリアクトルを直列に接続した両端子を波形調整
用抵抗と波形調整用コンデンサとを直列に接続した両端
子に接続し、かつ前記両端子を供試開閉器の両端子に接
続したことを特徴とする。
おいて、前記電圧源回路として、主コンデンサと始動ギ
ャップとリアクトルを直列に接続した両端子を波形調整
用抵抗と波形調整用コンデンサとを直列に接続した両端
子に接続し、かつ前記両端子を供試開閉器の両端子に接
続したことを特徴とする。
【００１４】請求項５の発明は、前記請求項２の発明に
おいて、前記第１電流源回路が前記電圧源回路を兼ね、
前記第１変圧器の２次側端子に波形調整用抵抗と波形調
整用コンデンサとを直列に接続した両端子を並列接続
し、かつこの接続端子を供試開閉器の両端子に接続した
ことを特徴とする。
おいて、前記第１電流源回路が前記電圧源回路を兼ね、
前記第１変圧器の２次側端子に波形調整用抵抗と波形調
整用コンデンサとを直列に接続した両端子を並列接続
し、かつこの接続端子を供試開閉器の両端子に接続した
ことを特徴とする。
【００１５】
【作用】前記のような構成による請求項１の発明におい
ては、第１と第２の開閉手段を投入することにより、供
試開閉器に第１電流源回路から多くの直流分を含んだ百
数十ｋＶの比較的高電圧で数ｋＡの電流を供給し、第２
電流源回路からは同様に直流分を含んでいるが、１８０
°位遅れた位相を持つ数十ｋＶの比較的低電圧で数ｋＡ
の電流を供給し、両者を加算する。この場合、各々の電
流源回路から供給される電圧電流値を適当に設定するこ
とにより、数十ｋＶのバック電圧が得られ、供試開閉器
が数十ｋＶのアーク電圧を発生しても電流の減衰が小さ
く、必要な零ミス電流が得られる。電流の零点を得るに
は、第２の開閉手段により第２電流源回路の電流を遮断
すると第１電流源回路からの電流のみとなり、容易に電
流零点を得ることができる。
ては、第１と第２の開閉手段を投入することにより、供
試開閉器に第１電流源回路から多くの直流分を含んだ百
数十ｋＶの比較的高電圧で数ｋＡの電流を供給し、第２
電流源回路からは同様に直流分を含んでいるが、１８０
°位遅れた位相を持つ数十ｋＶの比較的低電圧で数ｋＡ
の電流を供給し、両者を加算する。この場合、各々の電
流源回路から供給される電圧電流値を適当に設定するこ
とにより、数十ｋＶのバック電圧が得られ、供試開閉器
が数十ｋＶのアーク電圧を発生しても電流の減衰が小さ
く、必要な零ミス電流が得られる。電流の零点を得るに
は、第２の開閉手段により第２電流源回路の電流を遮断
すると第１電流源回路からの電流のみとなり、容易に電
流零点を得ることができる。
【００１６】請求項２の発明では、第１発電機で発生し
た交流電流を第１電流調整リアクトルおよび第１変圧器
により、直流分を含んだ電流に変換する。同時に、第２
発電機で発生した交流電流も第２電流調整リアクトルお
よび第２変圧器により、直流分を含んだ電流に変換す
る。これら２つりの電流は、第１、第２の開閉手段を投
入することにより加算されて零ミス電流となり供試開閉
器に流れる。
た交流電流を第１電流調整リアクトルおよび第１変圧器
により、直流分を含んだ電流に変換する。同時に、第２
発電機で発生した交流電流も第２電流調整リアクトルお
よび第２変圧器により、直流分を含んだ電流に変換す
る。これら２つりの電流は、第１、第２の開閉手段を投
入することにより加算されて零ミス電流となり供試開閉
器に流れる。
【００１７】請求項３の発明では、第１および第２の電
流源回路からの零ミス電流が供試開閉器に流れている場
合に、電圧源回路を構成する第３変圧器からコンデンサ
を介して微小電流が供試開閉器に流れる。供試開閉器が
零ミス電流を遮断すると微小電流も遮断され、電圧源回
路からの回復電圧が供試開閉器に印加される。
流源回路からの零ミス電流が供試開閉器に流れている場
合に、電圧源回路を構成する第３変圧器からコンデンサ
を介して微小電流が供試開閉器に流れる。供試開閉器が
零ミス電流を遮断すると微小電流も遮断され、電圧源回
路からの回復電圧が供試開閉器に印加される。
【００１８】請求項４の発明では、主コンデンサの電荷
を始動ギャップのトリガにより放電することにより、過
渡回復電圧波形調整用抵抗と波形調整用コンデンサによ
って決まる過渡回復電圧波形を供試開閉器に印加するこ
とができる。
を始動ギャップのトリガにより放電することにより、過
渡回復電圧波形調整用抵抗と波形調整用コンデンサによ
って決まる過渡回復電圧波形を供試開閉器に印加するこ
とができる。
【００１９】請求項５の発明では、第１電流源回路の第
１変圧器の電圧が、過渡回復電圧波形調整用抵抗と波形
調整用コンデンサによって決まる過渡回復電圧波形が供
試開閉器に印加される。
１変圧器の電圧が、過渡回復電圧波形調整用抵抗と波形
調整用コンデンサによって決まる過渡回復電圧波形が供
試開閉器に印加される。
【００２０】
（１）第１の実施例…図１ 第１実施例の構成 以下に本発明の第１実施例につき、図１の合成遮断試験
回路図を参照して説明する。本実施例の試験回路は、大
別して２つの電流源である第１電流源回路１と、第２電
流源回路２、電圧源回路３および供試開閉器４から構成
されている。第１電流源回路１は、電源となる第１発電
機５、第１投入開閉器６、第１電流調整用リアクトル
７、および第１変圧器８を一つのループとなるように直
列に接続した回路である。前記第１変圧器８にその２次
側電圧が逓増するように接続された２次側の端子８ａ
は、合成試験用第１補助遮断器９の端子９ｂに接続さ
れ、前記第１補助遮断器９の端子９ａと第２電流源回路
２の端子１４ａが接続されている。前記第１変圧器８の
２次側の端子８ｂは、前記第２電流源回路２の端子１３
ｂに接続されている。
回路図を参照して説明する。本実施例の試験回路は、大
別して２つの電流源である第１電流源回路１と、第２電
流源回路２、電圧源回路３および供試開閉器４から構成
されている。第１電流源回路１は、電源となる第１発電
機５、第１投入開閉器６、第１電流調整用リアクトル
７、および第１変圧器８を一つのループとなるように直
列に接続した回路である。前記第１変圧器８にその２次
側電圧が逓増するように接続された２次側の端子８ａ
は、合成試験用第１補助遮断器９の端子９ｂに接続さ
れ、前記第１補助遮断器９の端子９ａと第２電流源回路
２の端子１４ａが接続されている。前記第１変圧器８の
２次側の端子８ｂは、前記第２電流源回路２の端子１３
ｂに接続されている。
【００２１】前記第２電流源回路２は、第１電流源回路
１とは別の電源となる第２発電機１０、第２投入開閉器
１１、第２電流調整用リアクトル１２、および第２変圧
器１３を一つのループとなるように直列に接続した回路
である。第２変圧器１３にその２次側電圧が逓増するよ
うに接続された２次側の端子１３ａには、第２補助遮断
器１４が接続され、この第２補助遮断器１４の端子１４
ａと前記第１電流源回路２の第１補助遮断器９側の端子
９ａとが接続されている。一方、第２変圧器１３の端子
１３ｂは第１変圧器８の端子８ｂと接続されている。
１とは別の電源となる第２発電機１０、第２投入開閉器
１１、第２電流調整用リアクトル１２、および第２変圧
器１３を一つのループとなるように直列に接続した回路
である。第２変圧器１３にその２次側電圧が逓増するよ
うに接続された２次側の端子１３ａには、第２補助遮断
器１４が接続され、この第２補助遮断器１４の端子１４
ａと前記第１電流源回路２の第１補助遮断器９側の端子
９ａとが接続されている。一方、第２変圧器１３の端子
１３ｂは第１変圧器８の端子８ｂと接続されている。
【００２２】第１電流源回路１の端子９ｂと第２電流源
回路２の端子１４ａとが供試開閉器４の端子４ａに接続
され、第１電流源回路１の端子８ｂと第２電流源回路の
端子１３ｂとが供試開閉器の端子４ｂに接続されてい
る。また、供試開閉器の両端子４ａ，４ｂは、電圧源回
路３の端子３ａおよび３ｂに接続されている。このと
き、第１変圧器８と第２変圧器１３の１次側の電圧は同
一に、２次側の発生電圧が各々逆極性となるように一方
の変圧器の１次側または２次側が逆極性に接続されてい
る。なお、この第１と第２の電流源回路１，２におい
て、前記第１投入開閉器６および第１補助遮断器９が第
１の開閉手段に、第２投入開閉器１１および第２補助遮
断器１４が第２の開閉手段に相当する。
回路２の端子１４ａとが供試開閉器４の端子４ａに接続
され、第１電流源回路１の端子８ｂと第２電流源回路の
端子１３ｂとが供試開閉器の端子４ｂに接続されてい
る。また、供試開閉器の両端子４ａ，４ｂは、電圧源回
路３の端子３ａおよび３ｂに接続されている。このと
き、第１変圧器８と第２変圧器１３の１次側の電圧は同
一に、２次側の発生電圧が各々逆極性となるように一方
の変圧器の１次側または２次側が逆極性に接続されてい
る。なお、この第１と第２の電流源回路１，２におい
て、前記第１投入開閉器６および第１補助遮断器９が第
１の開閉手段に、第２投入開閉器１１および第２補助遮
断器１４が第２の開閉手段に相当する。
【００２３】電圧源回路３においては、前記第１電流源
回路１を構成する第１投入開閉器６と電流調整用リアク
トル７との接続点６ａおよび第１発電機５の端子５ｂ
が、第３変圧器１５の端子１５ａと１５ｂにそれぞれ接
続されている。第３変圧器１５にはその２次側の電圧が
逓増するように２次側の端子１５ｃが接続され、この２
次側端子１５ｃがコンデンサ１６の端子１６ａに接続
し、コンデンサ１６の端子１６ｂを供試開閉器４の端子
４ａに接続されている。第３変圧器１５の２次側の端子
１５ｄは供試開閉器４の端子４ｂに接続され、接地され
ている。この場合第３変圧器１５の２次側電圧は、必要
な回復電圧を供給できるようにタップが選定されてい
る。
回路１を構成する第１投入開閉器６と電流調整用リアク
トル７との接続点６ａおよび第１発電機５の端子５ｂ
が、第３変圧器１５の端子１５ａと１５ｂにそれぞれ接
続されている。第３変圧器１５にはその２次側の電圧が
逓増するように２次側の端子１５ｃが接続され、この２
次側端子１５ｃがコンデンサ１６の端子１６ａに接続
し、コンデンサ１６の端子１６ｂを供試開閉器４の端子
４ａに接続されている。第３変圧器１５の２次側の端子
１５ｄは供試開閉器４の端子４ｂに接続され、接地され
ている。この場合第３変圧器１５の２次側電圧は、必要
な回復電圧を供給できるようにタップが選定されてい
る。
【００２４】第１実施例の作用 以上のように構成された本実施例の合成遮断試験回路の
作用について図２を参照して説明する。
作用について図２を参照して説明する。
【００２５】第１と第２の電流源回路１，２におけるそ
れぞれの発電機５，１０の交流電圧が零点を迎えたとき
に、第１投入開閉器６を投入する。この時、第１変圧器
８の２次側には１００％近くの直流分を含んだ電流ｉ1
が流れ、これが供試ＨＧＳＧ４にも流れる。次に、第１
発電機５と第２発電機１０の発生電圧が、第１投入開閉
器６の投入後、次の零点にきたときに第２投入開閉器１
１を投入する。第２投入開閉器１１を投入すると、第２
電流源回路２から同様に１００％近くの直流分を含んだ
電流ｉ2 が流れる。この時から、供試開閉器４には、電
流ｉ1 と電流ｉ2 を合成した零ミス電流ｉ0 と電圧源回
路３からの微小電流が流れる。零ミス電流ｉ0 が流れ始
めてから供試開閉器４の接触子が開離するように遮断指
令を与えておく。しばらく零ミス電流ｉ0 は流れ続け、
所定いの８０ｍｓ以上のアーク時間となるような時刻で
第２補助遮断器１４を開離して零ミス電流ｉ0 に零点を
作り、続けて第１補助遮断器９を開離して、供試開閉器
４と同一電流零点で同時に遮断する。この時、供試開閉
器４に接続されていた電圧源回路３から供給されていた
微小電流も同時に遮断され、電圧源回路３から回復電圧
ＶR が供試開閉器４に印加され、試験が完了する。
れぞれの発電機５，１０の交流電圧が零点を迎えたとき
に、第１投入開閉器６を投入する。この時、第１変圧器
８の２次側には１００％近くの直流分を含んだ電流ｉ1
が流れ、これが供試ＨＧＳＧ４にも流れる。次に、第１
発電機５と第２発電機１０の発生電圧が、第１投入開閉
器６の投入後、次の零点にきたときに第２投入開閉器１
１を投入する。第２投入開閉器１１を投入すると、第２
電流源回路２から同様に１００％近くの直流分を含んだ
電流ｉ2 が流れる。この時から、供試開閉器４には、電
流ｉ1 と電流ｉ2 を合成した零ミス電流ｉ0 と電圧源回
路３からの微小電流が流れる。零ミス電流ｉ0 が流れ始
めてから供試開閉器４の接触子が開離するように遮断指
令を与えておく。しばらく零ミス電流ｉ0 は流れ続け、
所定いの８０ｍｓ以上のアーク時間となるような時刻で
第２補助遮断器１４を開離して零ミス電流ｉ0 に零点を
作り、続けて第１補助遮断器９を開離して、供試開閉器
４と同一電流零点で同時に遮断する。この時、供試開閉
器４に接続されていた電圧源回路３から供給されていた
微小電流も同時に遮断され、電圧源回路３から回復電圧
ＶR が供試開閉器４に印加され、試験が完了する。
【００２６】このように本実施例を用いることにより、
実系統と等価な特殊な試験検証を実施することが可能と
なる。
実系統と等価な特殊な試験検証を実施することが可能と
なる。
【００２７】（２）第２実施例…図３ 第２実施例の構成 第２の実施例は、本発明の合成遮断試験回路において特
に電磁誘導電流遮断を対象にしたものである。すなわ
ち、この第２実施例は、図３に示すように、前記第１実
施例の変圧器とコンデンサを組み合わせた電圧源回路３
の代わりに、従来の大電流遮断の合成試験法に適用され
ているコンデンサを主体に構成された電圧源回路２０を
採用したものである。この電圧源回路２０は、主コンデ
ンサ２１，始動ギャップ２２およびリアクトル２３が直
列に接続され、リアクトル２３の他方の端子２３ｂと供
試開閉器４の端子４ａが接続されている。また、リアク
トル２３の端子２３ｂは、過渡回復電圧波形調整用抵抗
２４と波形調整用コンデンサ２５の直列回路にも接続さ
れている。波形調整用コンデンサ２５の端子２５ｂと主
コンデンサ２１の端子２１ｂ、および供試開閉器４の端
子４ｂが互いに接続された状態で、接地されている。
に電磁誘導電流遮断を対象にしたものである。すなわ
ち、この第２実施例は、図３に示すように、前記第１実
施例の変圧器とコンデンサを組み合わせた電圧源回路３
の代わりに、従来の大電流遮断の合成試験法に適用され
ているコンデンサを主体に構成された電圧源回路２０を
採用したものである。この電圧源回路２０は、主コンデ
ンサ２１，始動ギャップ２２およびリアクトル２３が直
列に接続され、リアクトル２３の他方の端子２３ｂと供
試開閉器４の端子４ａが接続されている。また、リアク
トル２３の端子２３ｂは、過渡回復電圧波形調整用抵抗
２４と波形調整用コンデンサ２５の直列回路にも接続さ
れている。波形調整用コンデンサ２５の端子２５ｂと主
コンデンサ２１の端子２１ｂ、および供試開閉器４の端
子４ｂが互いに接続された状態で、接地されている。
【００２８】第２実施例の作用 この第２実施例の作用について、図４を参照に説明す
る。第１実施例と異なる点は、零ミス電流ｉ0 が零点を
迎える直前の時点を検出して、あらかじめ充電しておい
た主コンデンサ２１の電荷を始動ギャップ２２のトリガ
により放電することである。これにより、主として過渡
回復電圧波形調整用抵抗２４と波形調整用コンデンサ２
５により決まる系統と同等の過渡回復電圧波形が供試開
閉器４に印加されて試験検証が行われる。この場合、第
２実施例では、回復電圧領域は実系統の交流電圧と異な
り直流電圧となるが、遮断器等の合成試験では等価性は
問題ないとされいる。しかしながら、振動性の回復電圧
が必要であれば、主コンデンサ２１と並列に商用周波共
振用リアクトルを接続して交流電圧を印加することもで
きる。
る。第１実施例と異なる点は、零ミス電流ｉ0 が零点を
迎える直前の時点を検出して、あらかじめ充電しておい
た主コンデンサ２１の電荷を始動ギャップ２２のトリガ
により放電することである。これにより、主として過渡
回復電圧波形調整用抵抗２４と波形調整用コンデンサ２
５により決まる系統と同等の過渡回復電圧波形が供試開
閉器４に印加されて試験検証が行われる。この場合、第
２実施例では、回復電圧領域は実系統の交流電圧と異な
り直流電圧となるが、遮断器等の合成試験では等価性は
問題ないとされいる。しかしながら、振動性の回復電圧
が必要であれば、主コンデンサ２１と並列に商用周波共
振用リアクトルを接続して交流電圧を印加することもで
きる。
【００２９】前記のような構成を有する第２実施例で
は、発電機とは単独にコンデンサを充電しておき、零ミ
ス電流が零点を迎える直前に始動ギャップを始動するこ
とが可能となる。
は、発電機とは単独にコンデンサを充電しておき、零ミ
ス電流が零点を迎える直前に始動ギャップを始動するこ
とが可能となる。
【００３０】（３）第３実施例…図５ 第３実施例は、前記発明の第２の実施例と同様に電磁誘
導電流遮断を対象にした合成遮断試験回路である。この
第３実施例が第２実施例と異なる点は、図５に示す通
り、供試開閉器４が零ミス電流ｉ0 を遮断した後に、回
復電圧ＶR を印加する電圧源回路２０を第１電流源回路
１と共通化した点である。すなわち、この第３実施例で
は、過渡回復電圧波形調整用抵抗２４と波形調整用コン
デンサ２５の直列接続された両側端子が第１変圧器８の
両側端子と並列に接続されている。
導電流遮断を対象にした合成遮断試験回路である。この
第３実施例が第２実施例と異なる点は、図５に示す通
り、供試開閉器４が零ミス電流ｉ0 を遮断した後に、回
復電圧ＶR を印加する電圧源回路２０を第１電流源回路
１と共通化した点である。すなわち、この第３実施例で
は、過渡回復電圧波形調整用抵抗２４と波形調整用コン
デンサ２５の直列接続された両側端子が第１変圧器８の
両側端子と並列に接続されている。
【００３１】このような構成を有する第３実施例は、変
圧器の組み合わせで実現した直接試験回路の変形とも見
ることができるため、試験の遂行は前記第２実施例に比
較すると極めて容易であるが、電圧源回路の条件が変圧
器の出力により制限される特性を有する。この第３実施
例の作用は、前記第２実施例と同様のため詳細な説明は
省略するが、電圧源回路としては、零ミス電流ｉ0 遮断
後、電圧源回路２０の素子で決まる電圧が自動的に印加
され、実系統と等価な試験が可能である。
圧器の組み合わせで実現した直接試験回路の変形とも見
ることができるため、試験の遂行は前記第２実施例に比
較すると極めて容易であるが、電圧源回路の条件が変圧
器の出力により制限される特性を有する。この第３実施
例の作用は、前記第２実施例と同様のため詳細な説明は
省略するが、電圧源回路としては、零ミス電流ｉ0 遮断
後、電圧源回路２０の素子で決まる電圧が自動的に印加
され、実系統と等価な試験が可能である。
【００３２】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、第１電
流源と第２電流源とを並列にかつ逆極性の電圧となるよ
うに接続するという簡単な手段で、ＵＨＶ用ＨＳＧＳの
零ミス状態の諸条件の性能検証を実系統と等価な遮断試
験によって実現することのできる開閉器の合成遮断試験
回路を提供することが可能である。
流源と第２電流源とを並列にかつ逆極性の電圧となるよ
うに接続するという簡単な手段で、ＵＨＶ用ＨＳＧＳの
零ミス状態の諸条件の性能検証を実系統と等価な遮断試
験によって実現することのできる開閉器の合成遮断試験
回路を提供することが可能である。
【図１】本発明の第１実施例における零ミス合成遮断試
験回路図
験回路図
【図２】本発明の第１実施例における零ミス合成遮断試
験回路の動作現象の説明図
験回路の動作現象の説明図
【図３】本発明の第２実施例における零ミス合成遮断試
験回路図
験回路図
【図４】本発明の第２実施例における零ミス合成遮断試
験回路の動作現象の説明図
験回路の動作現象の説明図
【図５】本発明の第３実施例における零ミス合成遮断試
験回路図
験回路図
【図６】ＵＨＶ系統で起こる零点推移現象の例を示す説
明図
明図
【図７】従来の零ミス状態の遮断性能検証の合成遮断試
験回路図
験回路図
１…第１電流源回路 ２…第２電流源回路 ３…電圧源回路 ４…供試開閉器 ５…第１発電機 ６…第１投入開閉器 ７…第１電流調整用リアクトル ８…第１変圧器 ９…第１補助遮断器 １０…第２発電機 １１…第２投入開閉器 １２…第２電流調整用リアクトル １３…第２変圧器 １４…第２補助遮断器 １５…第３変圧器 １６…コンデンサ ２０…電圧源回路 ２１…主コンデンサ ２２…始動ギャップ ２３…リアクトル ２４…波形調整用抵抗 ２５…波形調整用コンデンサ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 克巳 神奈川県川崎市川崎区浮島町２番１号 株 式会社東芝浜川崎工場内 (72)発明者 山下 正二 神奈川県横浜市鶴見区末広町２−４ 東芝 アイテック株式会社内
Claims (5)
- 【請求項１】 双方の回路の投入時において零ミス電流
を発生する第１電流源回路と第２電流源回路を並列にか
つ逆極性の電圧となるように接続し、これら第１電流源
回路と第２電流源回路を供試開閉器の両端子に対して接
続すると共に、前記供試開閉器の両端子に電圧源回路を
接続し、前記第１電流源回路と第２電流源回路には異な
ったタイミングで供試開閉器に供試電流源を投入遮断す
る第１と第２の開閉手段を設けたことを特徴とする開閉
器の合成遮断試験回路。 - 【請求項２】 前記第１電流源回路として、第１発電機
と第１投入開閉器と第１電流調整リアクトルと第１変圧
器とを直列に接続し、前記第１変圧器の２次側の一方を
第１の開閉手段を介して供試開閉器の一方に、前記２次
側の他方を供試開閉器の他方に接続し、 前記第２電流源回路として、第２発電機と第２投入開閉
器と第２電流調整リアクトルと第２変圧器とを直列に接
続し、前記第２変圧器の２次側の一方を第２の開閉手段
を介して供試開閉器の一方に、前記２次側の他方を供試
開閉器の他方に接続したことを特徴とする請求項１記載
の開閉器の合成遮断試験回路。 - 【請求項３】 前記電圧源回路として、第１発電機と第
１投入開閉器を直列に接続した両端子と第３変圧器を接
続し、前記第３変圧器の２次側の一方の端子をコンデン
サを介して供試開閉器の一方に接続し、他方の端子を供
試開閉器の他方に接続したことを特徴とする請求項２記
載の開閉器の合成遮断試験回路。 - 【請求項４】 前記電圧源回路として、主コンデンサと
始動ギャップとリアクトルを直列に接続した両端子を波
形調整用抵抗と波形調整用コンデンサとを直列に接続し
た両端子に接続し、かつ前記両端子を供試開閉器の両端
子に接続したことを特徴とする請求項２記載の開閉器の
合成遮断試験回路。 - 【請求項５】 前記第１電流源回路が前記電圧源回路を
兼ね、前記第１変圧器の２次側端子に波形調整用抵抗と
波形調整用コンデンサとを直列に接続した両端子を並列
接続し、かつこの接続端子を供試開閉器の両端子に接続
したことを特徴とする請求項２記載の開閉器の合成遮断
試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4016694A JP3103262B2 (ja) | 1994-03-10 | 1994-03-10 | 開閉器の合成遮断試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4016694A JP3103262B2 (ja) | 1994-03-10 | 1994-03-10 | 開閉器の合成遮断試験回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07248362A true JPH07248362A (ja) | 1995-09-26 |
| JP3103262B2 JP3103262B2 (ja) | 2000-10-30 |
Family
ID=12573188
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4016694A Expired - Fee Related JP3103262B2 (ja) | 1994-03-10 | 1994-03-10 | 開閉器の合成遮断試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3103262B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011072431A1 (zh) * | 2009-12-14 | 2011-06-23 | 中国电力科学研究院 | 高压晶闸管阀多注入试验方法 |
| CN110376514A (zh) * | 2019-07-10 | 2019-10-25 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 | 一种直流高速开关综合性能评估方法 |
| CN110376512A (zh) * | 2019-07-10 | 2019-10-25 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 | 一种直流高速开关直流空充电流开断试验回路 |
| CN111856180A (zh) * | 2020-07-08 | 2020-10-30 | 北京电力设备总厂有限公司 | 用于抗高压隔离开关分合闸电磁干扰试验的装置及方法 |
| CN114167275A (zh) * | 2021-12-06 | 2022-03-11 | 天津华来科技股份有限公司 | 一种开关检测电路、方法及智能灯具 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5647510B2 (ja) | 2010-12-27 | 2014-12-24 | 株式会社小金井精機製作所 | 切削加工装置及び切削加工方法 |
-
1994
- 1994-03-10 JP JP4016694A patent/JP3103262B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011072431A1 (zh) * | 2009-12-14 | 2011-06-23 | 中国电力科学研究院 | 高压晶闸管阀多注入试验方法 |
| CN110376514A (zh) * | 2019-07-10 | 2019-10-25 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 | 一种直流高速开关综合性能评估方法 |
| CN110376512A (zh) * | 2019-07-10 | 2019-10-25 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 | 一种直流高速开关直流空充电流开断试验回路 |
| WO2021003774A1 (zh) * | 2019-07-10 | 2021-01-14 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 | 用于评估直流高速开关综合性能的方法 |
| CN110376512B (zh) * | 2019-07-10 | 2024-04-26 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 | 一种直流高速开关直流空充电流开断试验回路 |
| CN111856180A (zh) * | 2020-07-08 | 2020-10-30 | 北京电力设备总厂有限公司 | 用于抗高压隔离开关分合闸电磁干扰试验的装置及方法 |
| CN111856180B (zh) * | 2020-07-08 | 2022-11-08 | 北京电力设备总厂有限公司 | 用于抗高压隔离开关分合闸电磁干扰试验的装置及方法 |
| CN114167275A (zh) * | 2021-12-06 | 2022-03-11 | 天津华来科技股份有限公司 | 一种开关检测电路、方法及智能灯具 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3103262B2 (ja) | 2000-10-30 |
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