JPH0725689Y2 - 電量分析器 - Google Patents
電量分析器Info
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- JPH0725689Y2 JPH0725689Y2 JP1990007632U JP763290U JPH0725689Y2 JP H0725689 Y2 JPH0725689 Y2 JP H0725689Y2 JP 1990007632 U JP1990007632 U JP 1990007632U JP 763290 U JP763290 U JP 763290U JP H0725689 Y2 JPH0725689 Y2 JP H0725689Y2
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Links
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は電量分析器に関し、さらに詳しくは取り扱いが
容易で、しかも試料中に多量の被電解物質、特に水分を
含む試料の定量に好適な電量分析器に関する。
容易で、しかも試料中に多量の被電解物質、特に水分を
含む試料の定量に好適な電量分析器に関する。
従来、水の電解定量にはカールフィッシャ法が知られて
いる。この方法は微量水分の測定には適しているが、水
分含有量の多い検体(例えば脱水汚泥等)中の水分量の
効率的な測定には不適当である。またカールフィッシャ
法に用いられる試薬は高価であり、その取り扱いも容易
でない。
いる。この方法は微量水分の測定には適しているが、水
分含有量の多い検体(例えば脱水汚泥等)中の水分量の
効率的な測定には不適当である。またカールフィッシャ
法に用いられる試薬は高価であり、その取り扱いも容易
でない。
また被電解物質量の定量法として電量分析法が知られて
いるが、被電解物質量を多く含む試料を測定すると、電
解電流が指数関数的に減少しないために精度よく測定す
ることができず、被電解物質量の多い試料の定量には用
いられていない。
いるが、被電解物質量を多く含む試料を測定すると、電
解電流が指数関数的に減少しないために精度よく測定す
ることができず、被電解物質量の多い試料の定量には用
いられていない。
本考案の目的は、前記従来技術の問題を解決し、高濃度
に被電解物質を含む試料中の被電解物質量を簡単な装置
で容易に定量することができる電量分析器を提供するこ
とにある。
に被電解物質を含む試料中の被電解物質量を簡単な装置
で容易に定量することができる電量分析器を提供するこ
とにある。
本考案の第1は、電源および計測部にそれぞれ接続され
た少なくとも1対の陰極および陽極と、該陰極と陽極の
間に試料室を形成するとともにこれらを固定する絶縁部
とを有し、かつ該試料室には試料を挿入または注入する
注入口を有し、上記陰極と陽極との間隔が1mm以下であ
ることを特徴とする電量分析器に関する。
た少なくとも1対の陰極および陽極と、該陰極と陽極の
間に試料室を形成するとともにこれらを固定する絶縁部
とを有し、かつ該試料室には試料を挿入または注入する
注入口を有し、上記陰極と陽極との間隔が1mm以下であ
ることを特徴とする電量分析器に関する。
本考案の第2は、電源および計測部にそれぞれ接続さ
れ、かつ電気絶縁部からなる壁面に未満を露出して設け
られた少なくとも1対の陰極および陽極と、該陰極およ
び陽極を取り囲むように前記壁面に設けられたサンプル
ホルダー上部と、これに着脱自在に嵌入されるサンプル
ホルダー下部と、該サンプルホルダー下部、サンプルホ
ルダー上部および前記電極が露出する壁面によって形成
されるサンプル室とを有し、前記陰極と陽極との間隔お
よび前記陰極と陽極の末端部と前記サンプルホルダー下
部壁面との間隔をそれぞれ1mm以下としたことを特徴と
する電量分析器に関する。
れ、かつ電気絶縁部からなる壁面に未満を露出して設け
られた少なくとも1対の陰極および陽極と、該陰極およ
び陽極を取り囲むように前記壁面に設けられたサンプル
ホルダー上部と、これに着脱自在に嵌入されるサンプル
ホルダー下部と、該サンプルホルダー下部、サンプルホ
ルダー上部および前記電極が露出する壁面によって形成
されるサンプル室とを有し、前記陰極と陽極との間隔お
よび前記陰極と陽極の末端部と前記サンプルホルダー下
部壁面との間隔をそれぞれ1mm以下としたことを特徴と
する電量分析器に関する。
本考案に用いられる陰極および陽極を構成する物質とし
ては、Ru(ルテニウム)、Rh(ロジウム)、Os(オスミ
ウム)、Ir(イリジウム)、Pt(白金)などの白金族元
素、特にPtが好ましく用いられるが、Tc(テクネチウ
ム)、Ag(銀)、Cd(カドミウム)、Re(レニウム)、
Hg(水銀)などの金属や、Ti(チタン)板にPt、Ru/Pt
等をコーティングしたものなどを用いることもできる。
ては、Ru(ルテニウム)、Rh(ロジウム)、Os(オスミ
ウム)、Ir(イリジウム)、Pt(白金)などの白金族元
素、特にPtが好ましく用いられるが、Tc(テクネチウ
ム)、Ag(銀)、Cd(カドミウム)、Re(レニウム)、
Hg(水銀)などの金属や、Ti(チタン)板にPt、Ru/Pt
等をコーティングしたものなどを用いることもできる。
上記陰極と陽極の間隔は1mm以下とする必要がある。こ
の間隔が1mmを超えると電解電流が指数関数的に変化せ
ず、精度よく被電解物質を定量することができない。こ
の間隔は狭いほど測定精度が向上し、測定時間も短くな
るので好ましいが、試料中のゴミ等の影響を受けやすく
なるため、0.1〜1mmが好ましい。試料中に混入物が少な
く均一な試料の場合にはさらに狭い間隔の電極を用いる
ことも可能である。この陰極と陽極は少なくとも1対あ
ればよいが、電極枚数が多いほど測定精度が向上する。
また陰極と陽極を交互に配列したくし型電極を用いるこ
ともできる。
の間隔が1mmを超えると電解電流が指数関数的に変化せ
ず、精度よく被電解物質を定量することができない。こ
の間隔は狭いほど測定精度が向上し、測定時間も短くな
るので好ましいが、試料中のゴミ等の影響を受けやすく
なるため、0.1〜1mmが好ましい。試料中に混入物が少な
く均一な試料の場合にはさらに狭い間隔の電極を用いる
ことも可能である。この陰極と陽極は少なくとも1対あ
ればよいが、電極枚数が多いほど測定精度が向上する。
また陰極と陽極を交互に配列したくし型電極を用いるこ
ともできる。
本考案において、試料室は、陰極と陽極を相対して配置
した場合はその電極の間に形成され、またくし型電極と
した場合は、該くし型電極の末端のみを露出させて固定
した絶縁部を一つの面として有する絶縁部で形成され
る。この場合、電極末端部とこれと相対する絶縁壁面と
の距離は1mm以下、好ましくは0.5mm〜数10μmとする必
要がある。この距離が1mmを超えると電量分析した場合
に長い電解時間を要し、また電解電流が指数関数的に減
少しないため、測定精度が劣る。
した場合はその電極の間に形成され、またくし型電極と
した場合は、該くし型電極の末端のみを露出させて固定
した絶縁部を一つの面として有する絶縁部で形成され
る。この場合、電極末端部とこれと相対する絶縁壁面と
の距離は1mm以下、好ましくは0.5mm〜数10μmとする必
要がある。この距離が1mmを超えると電量分析した場合
に長い電解時間を要し、また電解電流が指数関数的に減
少しないため、測定精度が劣る。
本考案に用いられる絶縁部の絶縁材料としては、エポキ
シ樹脂、ポリ塩化ビニルなどのほか、フォトレジスト用
ノボラック樹脂等の樹脂が好ましい。
シ樹脂、ポリ塩化ビニルなどのほか、フォトレジスト用
ノボラック樹脂等の樹脂が好ましい。
第1図は、本考案の一実施例を示す電量分析器である。
この分析器は、陰極1と陽極2の間隔が1mm以下となる
ように向かい合わせに配置され、その電極の周囲は試料
注入口5を除いてエポキシ樹脂からなる絶縁部4で覆わ
れ、固定されている。測定に際し、試料は試料注入口5
から一定量注入される。
この分析器は、陰極1と陽極2の間隔が1mm以下となる
ように向かい合わせに配置され、その電極の周囲は試料
注入口5を除いてエポキシ樹脂からなる絶縁部4で覆わ
れ、固定されている。測定に際し、試料は試料注入口5
から一定量注入される。
第2図は、本考案の他の実施例を示す電量分析器であ
る。この分析器は、1mm以下の間隔で交互に配列された
陰極1および陽極2と、該電極1、2の先端以外をエポ
キシ樹脂で覆って固定した絶縁部6と、試料室8の側壁
を形成し、上記絶縁部6に固着されたエポキシ樹脂から
なるサンプルホルダー上部7Aと、該サンプルホルダー7A
に嵌入することによって試料室8の底面を形成する断面
凸形状のエポキシ樹脂からなるサンプルホルダー下部7B
とからなる。試料室8は、サンプルホルダー下部7Bの凸
部に、くし型電極を有する絶縁部6に固定されたサンプ
ルホルダー上部7Aを嵌め込むことにより形成され、その
ときのサンプルホルダー下部7Bの凸部の高さは、サンプ
ルホルダー上部7Aを嵌め込んで試料室8を形成する際、
電極末端部と上記凸部頂部との距離が1mm以下となるよ
うに調整される。
る。この分析器は、1mm以下の間隔で交互に配列された
陰極1および陽極2と、該電極1、2の先端以外をエポ
キシ樹脂で覆って固定した絶縁部6と、試料室8の側壁
を形成し、上記絶縁部6に固着されたエポキシ樹脂から
なるサンプルホルダー上部7Aと、該サンプルホルダー7A
に嵌入することによって試料室8の底面を形成する断面
凸形状のエポキシ樹脂からなるサンプルホルダー下部7B
とからなる。試料室8は、サンプルホルダー下部7Bの凸
部に、くし型電極を有する絶縁部6に固定されたサンプ
ルホルダー上部7Aを嵌め込むことにより形成され、その
ときのサンプルホルダー下部7Bの凸部の高さは、サンプ
ルホルダー上部7Aを嵌め込んで試料室8を形成する際、
電極末端部と上記凸部頂部との距離が1mm以下となるよ
うに調整される。
この分析器で試料中の被電解物質を定量する場合は、試
料中にまずサンプルホルダー下部7Bを入れ、次に該サン
プルホルダー下部7Bの凸部にサンプルホルダー上部7Aを
嵌め込み、これによって形成される試料室8に試料を封
入する。
料中にまずサンプルホルダー下部7Bを入れ、次に該サン
プルホルダー下部7Bの凸部にサンプルホルダー上部7Aを
嵌め込み、これによって形成される試料室8に試料を封
入する。
第1図または第2図の試料室3、8に試料を挿入しまた
は封入した後、電極に直流電圧を印加して直接電解し、
その電気量から試料中の被電解質物質の定量が行われ
る。電圧の大きさは、測定する被電解質物質の種類によ
って定められる。例えば、脱水汚泥の水分測定の場合
は、2.5V以上、好ましくは3〜10Vが印加され、またビ
タミンCの測定の場合には2Vの電圧が印加される。
は封入した後、電極に直流電圧を印加して直接電解し、
その電気量から試料中の被電解質物質の定量が行われ
る。電圧の大きさは、測定する被電解質物質の種類によ
って定められる。例えば、脱水汚泥の水分測定の場合
は、2.5V以上、好ましくは3〜10Vが印加され、またビ
タミンCの測定の場合には2Vの電圧が印加される。
以下に本発明を実施例により詳しく説明する。
実施例1〜3 白金板の電極の間隔が1mmである第1図の電量分析器を
用いて脱水汚泥3種(試料1、2、3)の含水量を調べ
た。電圧4.0Vを印加したときの電流−時間曲線を第3図
に示したが、電解電流は時間経過とともに指数関数的に
減少し、短時間で電解が終了した。このときの含水量は
80.1重量%、82.4重量%および83.1重量%であった。こ
の値は乾燥重量法で調べた含水量と±1%以内で同じで
あった。
用いて脱水汚泥3種(試料1、2、3)の含水量を調べ
た。電圧4.0Vを印加したときの電流−時間曲線を第3図
に示したが、電解電流は時間経過とともに指数関数的に
減少し、短時間で電解が終了した。このときの含水量は
80.1重量%、82.4重量%および83.1重量%であった。こ
の値は乾燥重量法で調べた含水量と±1%以内で同じで
あった。
実施例4および比較例1 白金板の電極の間隔を0.8mmおよび1.2mmとした、くし型
電極を用いた第2図の電量分析器で、脱水汚泥の電量分
析を行い、そのときの水分の捕捉率を調べた。その結果
を第1表に示した。なお、第2図の電量分析器におい
て、試料室8の電極末端とそれと相対する面との距離は
1mmであり、印加した電圧は4.0Vであった。また捕捉率
は乾燥重量法の値を標準値として求めた。
電極を用いた第2図の電量分析器で、脱水汚泥の電量分
析を行い、そのときの水分の捕捉率を調べた。その結果
を第1表に示した。なお、第2図の電量分析器におい
て、試料室8の電極末端とそれと相対する面との距離は
1mmであり、印加した電圧は4.0Vであった。また捕捉率
は乾燥重量法の値を標準値として求めた。
第1表から、電極間隔が1.2mmでは水分の捕捉率が低下
し、測定精度が劣るが、電極0.8mmでは捕捉率98重量%
であり、高精度の測定ができることがわかる。
し、測定精度が劣るが、電極0.8mmでは捕捉率98重量%
であり、高精度の測定ができることがわかる。
本考案の第1または第2の電量分析器によれば、高濃度
に被電解物質を含む試料中の被電解物質量を簡単な装置
で容易に定量することができる。
に被電解物質を含む試料中の被電解物質量を簡単な装置
で容易に定量することができる。
第1図は、本考案の一実施例を示す電量分析器の構成
図、第2図は、本考案の他の実施例を示す電量分析器の
構成図、第3図は、電流−時間曲線図である。 1…陰極、2…陽極、3…試料室、4…絶縁部、5…試
料注入口、6…絶縁部、7A…サンプルホルダー上部、7B
…サンプルホルダー下部、8試料室。
図、第2図は、本考案の他の実施例を示す電量分析器の
構成図、第3図は、電流−時間曲線図である。 1…陰極、2…陽極、3…試料室、4…絶縁部、5…試
料注入口、6…絶縁部、7A…サンプルホルダー上部、7B
…サンプルホルダー下部、8試料室。
Claims (2)
- 【請求項1】電源および計測部にそれぞれ接続された少
なくとも1対の陰極および陽極と、該陰極と陽極の間に
試料室を形成するとともにこれらを固定する絶縁部とを
有し、かつ該試料室には試料を挿入または注入する注入
口を有し、上記陰極と陽極との間隔が1mm以下であるこ
とを特徴とする電量分析器。 - 【請求項2】電源および計測部にそれぞれ接続され、か
つ電気絶縁部からなる壁面に末端を露出して設けられた
少なくとも1対の陰極および陽極と、該陰極および陽極
を取り囲むように前記壁面に設けられたサンプルホルダ
ー上部と、これに着脱自在に嵌入されるサンプルホルダ
ー下部と、該サンプルホルダー下部、サンプルホルダー
上部および前記電極が露出する壁面によって形成される
サンプル室とを有し、前記陰極と陽極との間隔および前
記陰極と陽極の末端部と前記サンプルホルダー下部壁面
との間隔をそれぞれ1mm以下としたことを特徴とする電
量分析器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990007632U JPH0725689Y2 (ja) | 1990-01-30 | 1990-01-30 | 電量分析器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990007632U JPH0725689Y2 (ja) | 1990-01-30 | 1990-01-30 | 電量分析器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0399350U JPH0399350U (ja) | 1991-10-17 |
| JPH0725689Y2 true JPH0725689Y2 (ja) | 1995-06-07 |
Family
ID=31511287
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1990007632U Expired - Lifetime JPH0725689Y2 (ja) | 1990-01-30 | 1990-01-30 | 電量分析器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0725689Y2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5151261U (ja) * | 1974-10-11 | 1976-04-19 | ||
| JPS5914159B2 (ja) * | 1980-09-24 | 1984-04-03 | マウラ−.エンジニアリング.インコ−ポレイテイツド | 垂直せん孔装置 |
-
1990
- 1990-01-30 JP JP1990007632U patent/JPH0725689Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0399350U (ja) | 1991-10-17 |
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