JPH07261719A - 表示装置の補正システムおよびその動作方法 - Google Patents

表示装置の補正システムおよびその動作方法

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JPH07261719A
JPH07261719A JP7953394A JP7953394A JPH07261719A JP H07261719 A JPH07261719 A JP H07261719A JP 7953394 A JP7953394 A JP 7953394A JP 7953394 A JP7953394 A JP 7953394A JP H07261719 A JPH07261719 A JP H07261719A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 表示装置において、画素の欠陥やむらを補正
し、良好な画質を提供する。 【構成】 不揮発性の記憶装置を有する表示装置におい
て、表示装置の光学表示を撮像装置によって撮像し、撮
像で得られた情報をデジタル変換したのち、加工処理を
行い、表示装置の欠陥、むらなどを検出し、補正情報を
作成する。その補正情報を表示装置の不揮発性記憶装置
に記憶し、表示装置に入力される表示情報と演算するこ
とよって、表示内容を補正し、画素の欠陥やむらを目立
たなくする。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は表示装置、とくに不揮発
性の記憶装置を有する表示装置の表示補正システムとそ
の補正方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の表示装置としては、ＣＲＴ、プラ
ズマディスプレイ、液晶表示装置等の種類があり、近
年、液晶表示装置、特にアクティブマトリクス型液晶表
示装置の開発が盛んである。
【０００３】液晶表示装置は液晶物質が分子軸に対して
平行方向と垂直方向で誘電率が異なることを利用し、光
の透過光量または散乱量を制御することでＯＮ／ＯＦＦ
すなわち明暗を表示している。液晶材料としてはＴＮ液
晶、ＳＴＮ液晶、強誘電性液晶等が一般的である。
【０００４】液晶を使用した表示装置のうちでは、アク
ティブマトリクス型の液晶表示装置が表示特性が優れて
いるといわれている。図２に示す様に、従来のアクティ
ブマトリクス型液晶表示装置ではソース線２０３〜２０
５とゲイト線２０６〜２０８をマトリクス状に組み合わ
せ、その交点部に薄膜トランジスタ（以下ＴＦＴ）２０
９〜２１２を配置し、ＴＦＴのゲイト電極をゲイト線
に、ソース電極をソース線に、ドレイン電極を一方の画
素電極及び保持容量（２１３〜２１６で示される）に接
続したものである。また画素電極に挟まれて液晶２１７
〜２２０が存在している。図３にその動作波形を示す。
ＴＦＴのゲイトおよびソースに信号電圧が印加されると
ＴＦＴはオン状態になり、画素電極はソース電位とほぼ
等電位になる。ＴＦＴのゲイトに信号電圧がかからなく
なるとＴＦＴはオフとなり、画素電極の電位は次にＴＦ
Ｔがオンになるまで保持される。このような方法で画素
電極より液晶に電圧を印加するため、隣接の画素に関し
てクロストークの少ない、コントラストの大きな液晶表
示装置を実現する事が可能である。
【０００５】以上に述べたアクティブマトリクス型の液
晶表示装置は画素の数だけ、ＴＦＴを必要とするため、
基板面内のＴＦＴ素子に欠陥が生じ、ＴＦＴがオープン
またはショートになると、その点の画素は特定の電位に
固定されたり、電位が不安定になるため、その画素はパ
ネル上で点欠陥となって現れていた。またＴＦＴのしき
い値や移動度のばらつきによって、画素電極に印加され
る電圧値がばらつき、それによって画素の輝度にばらつ
きを生じていた。
【０００６】この問題点を解決するために、図４に示す
ように、ひとつの画素電極４０７に対して複数のＴＦＴ
４０５、４０６を配置し、冗長性を確保することによっ
て、対策をおこなっていた。すなわち図４のＴＦＴ４０
６が不良素子であった場合、レーザーなどを使用してド
レイン端子を４０８のレーザー部分で切断し、欠陥を対
策していた。なお、図４において、４０１、４０２がゲ
イト線であり、４０３、４０４がソース線である。
【０００７】また、不良素子の判別には図５に示すよう
な、方法で検査が行われていた。図５には、ゲイト線５
０１、５０２と、ソース線５０３、５０４と、共通電極
線５０５と、ＴＦＴ５０６〜５０９と、保持容量５１
０、５１１と、スイッチ５１２〜５１５と、アンプ５１
６、５１７と、測定端子５１８、５１９と、電源５２
０、５２１とが示されている。この場合、調べようする
素子のつながるゲイト線５０１、５０２にスイッチ５１
２、５１３によって、十分ＴＦＴがオンになる電圧を印
加し、同時に調べようとする素子につながるソース線５
０３、５０４にスイッチ５１４、５１５によって特定の
電圧を印加する。つぎに、ゲイト線の電位をＧＮＤに落
とし、ＴＦＴをオフさせる。ここでソース線に電圧印加
をやめ、特定時間の間放置する、その後再度ゲイト線に
電圧を印加し、ソース線の電位を測定する。ＴＦＴが正
常であれば、最初のソース電位が保持容量によって保持
されるため、その電圧が測定される。また、ＴＦＴのド
レイン・ソースがショートであった場合、ソース線につ
ながる抵抗を介して、放置中に放電し、測定時には電圧
は変動している。またＴＦＴがオープンの場合にはゲイ
ト線に電圧印加されても、保持容量には電圧印加がされ
ない。さらに、ＴＦＴの移動度やしきい値のばらつきで
保持容量の充電が不十分である場合にも電圧測定を高精
度で行うことによって判別が可能である。
【０００８】
【発明が解決しようとする問題点】以上にて説明した従
来の液晶表示装置およびその補正方法には以下のような
問題点があった。画素ＴＦＴの欠陥にたいしては補正が
可能であるが、液晶材料のばらつきによる表示ムラやラ
ビング時に発生する帯状のムラ等に関しては補正を行う
ことができず、液晶表示装置を不良品にしてしまうこと
が多かった。
【０００９】一般に、人間が表示装置を目視した場合、
距離が十分離れた画素では１０％以上の輝度差があって
も、認識できないが、近接の画素においては、２％程度
の輝度差であっても、認識される。そのため、近接画素
間における輝度のばらつきをおさえることは、重要であ
る。また、液晶表示装置の画面サイズは近年より大きく
なる方向にあり、サイズが大きくなればなるほど、画面
の均一性を保つのは困難であるため、液晶表示装置の歩
留まりを悪化させていた。さらに、パーソナルコンピュ
ータやワークステーションにおいては、オペレータが長
時間にわたり、至近距離で画面を見続けるため、画面む
らは気になりやすく、オペレータの効率を低下させ、ユ
ーザークレームになっていた。
【００１０】
【問題を解決するための手段】本発明では液晶表示装置
に画素の補正内容を記憶する記憶装置を有し、その記憶
装置に外部の撮像装置より得られた補正内容を記憶する
ことによって補正を行い良好な表示をえることができ
る。
【００１１】
【実施例】
〔実施例１〕本発明の実施例を図１に示す。以下図面を
もちいて詳細な説明をおこなう。この実施例の補正シス
テムは記憶装置（ここでは補正メモリ１１５）を有する
液晶表示装置１１０とその表示装置の補正のための補正
情報を作成し、記憶装置に書き込む補正情報作成装置１
００によって構成される。その両者は接続端子１０８、
１０９を介して接続されている。一つの液晶表示装置に
たいして補正をおこない、それが終了すると、接続を切
り放し、他の液晶表示装置を接続し、つぎの補正を行
う。
【００１２】補正情報作成装置１００内部の映像信号発
生器１０７より出力された映像信号は液晶表示装置１１
０の内部の同期分離回路１１８を介してＡ／Ｄコンバー
タ１１７に入力され、そこでデジタル変換される。デジ
タル変換された映像信号は補正演算回路１１６に入力さ
れるが、初期段階では補正は行わず、そのままＤ／Ａコ
ンバータ１２０に入力され、アナログ変換される。その
後、ソースドライバー１１３を介して、アクティブマト
リクス１１１に入力され、表示をおこなう。この段階で
は従来の液晶表示装置となんら変わるものではない。
【００１３】補正情報の作成は以下の様に行う。液晶表
示装置１１０の光学表示内容は補正情報作成装置内のＣ
ＣＤカメラなどを備えた撮像装置１０１によって撮像さ
れる、撮像装置１０１の出力映像信号は一般的には微弱
な信号であるため増幅器１０２で増幅されたのち、Ａ／
Ｄコンバータ１０３によってデジタル変換され、信号処
理装置１０４に入力される。
【００１４】信号処理装置１０４では映像信号中に含ま
れるノイズ成分やモアレ成分を除去して液晶表示装置１
１０の画素の欠陥やむらの情報のみを検出する。欠陥や
むらの検出が行いやすいようにアクティブマトリクス１
１１に表示する表示内容は単一色かつ同一輝度であるこ
とが望ましい。欠陥やむらを検出するための方法として
は、信号処理装置１０４において、ある一定基準レベル
と信号処理装置の入力信号の差をとり、その値を補正値
とする方法やメディアンフィルタを使用し入力信号のゆ
るやかな変化を抽出し、もとの信号から抽出結果を減算
して、特異点を検出する方法や、ラプラシアンフィルタ
を使用し入力信号の急峻な変化を抽出し、特異点を検出
する方法をもちいても良い。 ただし、メディアンフィ
ルタやラプラシアンフィルタを使用して特異点を検出す
る場合には、言うまでもなく補正情報は特異点のみの情
報となるため、表示装置の輝度の緩やかな変化について
は対応しない。しかし、これは前述した様に人間の目の
感覚が緩やかな変化に関しては鈍感であることより、実
用上の不具合にはならない。
【００１５】信号処理装置１０４の出力は書き込み装置
１０５によって、液晶表示装置１１０内の補正メモリ１
１５に書き込まれる。書き込み方法はメモリコントロー
ラ１１４で制御される補正メモリ１１５の種類に応じて
必要な方法で実行される。
【００１６】補正メモリ１１５への書き込みが終了した
段階で補正作業は終了する。補正作業終了後、液晶表示
装置１１０に映像信号が入力され、表示を行う場合にお
いては、映像信号は同期分離装置１１８を経てＡ／Ｄコ
ンバータ１１７でデジタル変換されたのち、補正演算回
路１１６で補正メモリ１１５の出力信号と演算され、補
正を受けた後、Ｄ／Ａコンバータ１２０を介してソース
ドラーバー１１３に入力される。ゲイトドライバーは、
クロックジェネレータ１１９で制御される。ここで、ア
クティブマトリクスは補正された映像を光学表示する。
なお各構成要素は、クロックジェネレータ１０６と１１
９とによって制御される。
【００１７】本発明による表示情報を記載した例を図７
〜図１５に示す図７は補正を行う前の表示装置１１１の
表示結果である。ここでは８×８のマトリクスを例にし
ているが、値は任意で問題ない。Ｘの印がムラの箇所で
ある。この例では輝度を０から１００まで区分し、表示
すべき輝度は一律に５０であるものとしている。
【００１８】図８は図７の表示結果を撮像し、デジタル
化した表示の情報の例である。ムラの発生している場所
は周囲とくらべて数値が離れている。また、表示画面全
体としては、左上から右下にむけて緩やかに数値が変化
しているが、前述したように人間の視覚上は変化が緩や
かであれば問題ない。
【００１９】図９は表示すべき輝度すなわち５０と図８
の差分をとったものである。この差分検出は信号処理装
置１０６でおこなわれる。この場合は図９が補正情報と
なる。
【００２０】図１０は補正情報作成後に、新たに表示を
行うべき映像信号をデジタル化したものでＡ／Ｄコンバ
ータ１１７の出力情報である。
【００２１】図１１は図１０と図９の情報を補正演算回
路１１６で加算したもので補正演算装置１１６の出力情
報である。この値を表示装置１１１に入力すると表示装
置１１１の表示ムラが相殺され、本来表示すべき映像信
号の情報図１０が表示される。
【００２２】また、信号処理装置１０４において、単な
る減算処理ではなく、図８をメディアンフィルタを通過
させたものが図１２であり、図１２と図８を減算処理し
たものが図１３である。この場合は図１３が補正情報と
なる。メディアンフィルタはここでは緩やかな変化のみ
を通過させ、ムラの情報を除去している。このムラ除去
後の情報ともとの情報を減算する事により、ムラの情報
がひきだせる。
【００２３】また、ラプラシアンフィルタをもちいれ
ば、急激な変化点の情報をひきだせる。図１３の情報を
補正演算回路１１６で図１０と加算したものが、図１４
であり補正演算装置１１６の出力情報である。図１４を
表示装置１１１に入力した結果、得られる表示情報は図
１５となり、緩やかな変化はあるものの、急峻な変化は
なくなり、ムラをめだたなくする事が可能である。
【００２４】この実施例ではアナログ諧調のドライバー
を想定しているが、これはデジタル諧調のドライバーを
使用してもよい、ただし、この場合には、Ｄ／Ａコンバ
ータ１２０は不要である。また映像信号発生器１０７が
デジタル出力であり、且つ液晶表示装置１１０への映像
信号入力がデジタルの場合はＡ／Ｄコンバータ１１７も
不要である。
【００２５】ここに使用する補正メモリはＥＰＲＯＭ、
ＥＥＰＲＯＭ、フラッシュメモリなど不揮発性メモリで
あればよい、これらのメモリは液晶表示用装置１１０の
ガラス上にＣＯＧ技術によって装着しても良いし、ガラ
スとは別に基板実装しても良い。また、画素ＴＦＴを駆
動する駆動回路はＴＦＴをもちいてガラス基板上にアク
ティブマトリクスと同時形成して製作しても良いし、メ
モリと同様に単結晶チップをＣＯＧで実装しても良い
し、ＴＡＢを用いても良い。
【００２６】〔実施例２〕図６は発明の第二の実施例で
ある。この実施例では第一の実施例とは異なり撮像と補
正を複数回行っている。以下図６の説明を行う。この第
二の実施例に示す補正システムは、記憶装置（ここでは
補正メモリ６２５）を有する液晶表示装置６２０とその
表示装置の補正のための補正情報を作成し、記憶装置に
書き込む補正情報作成装置６００によって構成される。
その両者は接続端子６１３、６１４を介して接続されて
いる。一つの液晶表示装置に対して補正をおこない、そ
れが終了すると、接続を切り放し、他の液晶表示装置を
接続し、つぎの補正を行う。
【００２７】補正情報作成装置６００内部の映像信号発
生器６０７より出力された映像信号は液晶表示装置６２
０の内部の同期分離回路６２８を介してＡ／Ｄコンバー
タ６２７に入力され、そこでデジタル変換される。デジ
タル変換された映像信号は補正演算回路６２６に入力さ
れるが、初期段階では補正は行わず、そのままＤ／Ａコ
ンバータ６３０に入力され、アナログ変換される。その
後、ソースドライバー６２３を介して、アクティブマト
リクス６２１に入力され、表示をおこなう。この段階で
は従来の液晶表示装置となんら変わるものではない。
【００２８】補正情報の作成は以下の様に行う。液晶表
示装置６２０の光学表示内容は補正情報作成装置内のＣ
ＣＤカメラなどを備えた撮像装置６０１によって撮像さ
れる、撮像装置６０１の出力映像信号は一般的には微弱
な信号であるため増幅器６０２で増幅されたのち、Ａ／
Ｄコンバータ６０３によってデジタル変換され、信号処
理装置６０４に入力される。
【００２９】以下の動作方法を示す。第一回目の撮像に
おいて、信号処理装置６０４で得られた補正情報はスイ
ッチ６１２と信号書き込み装置６０５を介して補正メモ
リ６２５に記憶されるだけでなく、メモリ６０８に記憶
される。第一の実施例と同様にして画面の補正をおこな
った後、再度、表示を行い、第二回目の撮像を行う、こ
こで信号処理装置６０４でえられた情報はメモリ６０８
に記憶された第一回目の補正情報と加算してメモリ６０
９に記憶されるとともに再度補正メモリ６２５に記憶さ
れ、液晶表示装置は再補正される。さらに、表示を行
い、第三回目の撮像を行う。信号処理装置６０４の出力
情報はメモリ６０９に記憶された第二回目の補正情報と
加算され、信号書き込み装置６０５を介して補正メモリ
６２５に記憶される。
【００３０】このようにして、撮像と補正を複数回繰り
返すことにより、より高精度な補正が可能となる。この
例では３回の補正を行っているが、２回の補正または４
回以上補正をおこなってもかまわない。また、補正メモ
リやアクティブマトリクスの駆動については、第一の実
施例と同じである。
【００３１】本発明は従来の画素ＴＦＴに冗長性をもた
せることによって補正を行う従来の補正方法と背反する
ものでは無く、従来の補正方法と組み合わせることによ
って、よりいっそう効果を得ることができるものであ
る。
【００３２】
【発明の効果】以上述べたように、本発明では液晶表示
装置に内蔵した記憶装置にその液晶表示装置の欠陥やム
ラの情報を記憶し、その情報と液晶表示装置に入力され
る映像信号とを演算し、欠陥やムラを補正することによ
ってより、高品質な表示を行うことが可能であるという
効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の第一の実施例
【図２】 アクティブマトリクスＬＣＤの従来例
【図３】 ＴＦＴの動作波形
【図４】 従来の画素領域の平面図
【図５】 従来のアクティブマトリクスの検査回路
【図６】 本発明の第二の実施例
【図７】 表示情報を記載した例
【図８】 表示情報を記載した例
【図９】 表示情報を記載した例
【図１０】 表示情報を記載した例
【図１１】 表示情報を記載した例
【図１２】 表示情報を記載した例
【図１３】 表示情報を記載した例
【図１４】 表示情報を記載した例
【図１５】 表示情報を記載した例
【符号の説明】
ソースドライバー ２０１ ゲイトドライバー ２０２ ソース線 ２０３〜２０５ ゲイト線 ２０６〜２０８ ＴＦＴ ２０９〜２１２ 保持容量 ２１３〜２１６ 液晶 ２１７〜２２０ アクティブマトリクス ２２１ ａ）ソース端子電位波形 ｂ）ゲイト端子電位波形 ｃ）ドレイン端子電位波形 ゲイト線 ４０１、４０２ ソース線 ４０３、４０４ ＴＦＴ ４０５、４０６ 画素電極 ４０７ レーザー切断部 ４０８ ゲイト線 ５０１、５０２ ソース線 ５０３、５０４ 共通電極線 ５０５ ＴＦＴ ５０６〜５０９ 保持容量 ５１０、５１１ スイッチ ５１２〜５１５ アンプ ５１６、５１７ 測定端子 ５１８、５１９ 電源 ５２０、５２１ メモリ １１５ 液晶表示装置 １１０ 情報作成装置 １００ 接続端子 １０８、１０９ 映像信号発生器 １０７ 同期分離回路 １１８ Ａ／Ｄコンバータ １１７ 補正演算回路 １１６ Ｄ／Ａコンバータ １２０ アクティブマトリクス １１１ 撮像装置 １０１ 増幅器 １０２ Ａ／Ｄコンバータ １０３ 信号処理装置 １０４ 補正メモリ １１５ メモリコントローラ １１４ クロックジェネレーター １０６、１１９

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 不揮発性記憶装置を有する表示装置と補
    正情報作成装置とにより構成される表示装置の補正シス
    テムにおいて、 表示装置の光学表示を撮像する撮像装置と、 撮像装置の出力信号を直接または増幅器を介して増幅し
    た後にデジタル化するＡ／Ｄコンバータと、 Ａ／Ｄコンバータの出力信号を加工する信号処理装置
    と、 該装置で加工された信号を前記の表示装置の不揮発性記
    憶装置に記憶させる書き込み装置と、 を具備した補正情報作成装置を有することを特徴とした
    表示装置の補正システム。
  2. 【請求項２】 請求項１において、表示装置はアクティ
    ブマトリクス型液晶表示装置であることを特徴とした表
    示装置の補正システム。
  3. 【請求項３】 請求項２において、アクティブマトリク
    スの駆動回路は薄膜トランジスタにより構成されている
    ことを特徴とした表示装置の補正システム。
  4. 【請求項４】 請求項１において、表示装置の記憶回路
    はＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ、フラッシュメモリなどの
    半導体メモリであることを特徴とした表示装置の補正シ
    ステム。
  5. 【請求項５】 請求項１において、補正信号作成装置の
    中に信号処理装置の出力情報を記憶する記憶回路と加算
    回路を有することを特徴とした表示装置の補正システ
    ム。
  6. 【請求項６】 不揮発性記憶装置を有する表示装置と補
    正情報作成装置とにより構成される表示装置の補正シス
    テムの動作方法であって、 前記補正情報作成装置は、 表示装置の光学表示を撮像する撮像装置と、 撮像装置の出力信号を直接または増幅器を介して増幅し
    た後にデジタル化するＡ／Ｄコンバータと、 Ａ／Ｄコンバータの出力信号を加工する信号処理装置
    と、 該装置で加工された信号を前記の表示装置の不揮発性記
    憶装置に記憶させる書き込み装置と、 を具備し、 不揮発性記憶装置に記憶された記憶情報と表示装置が表
    示すべき映像信号を演算し、表示装置の補正を行うこと
    を特徴とする表示装置の補正システムの動作方法。
  7. 【請求項７】 不揮発性記憶装置を有する表示装置と補
    正情報作成装置とにより構成される表示装置の補正シス
    テムの動作方法であって、 前記補正情報作成装置は、 表示装置の光学表示を撮像する撮像装置と、 撮像装置の出力信号を直接または増幅器を介して増幅し
    た後にデジタル化するＡ／Ｄコンバータと、 Ａ／Ｄコンバータの出力信号を加工する信号処理装置
    と、 該装置で加工された信号を前記の表示装置の不揮発性記
    憶装置に記憶させる書き込み装置と、 を具備し、 信号処理装置の信号加工方法として、特定の基準レベル
    と信号処理装置の入力信号レベルを比較し、それらの差
    を検出することを特徴とした表示装置の補正システムの
    動作方法。
  8. 【請求項８】 不揮発性記憶装置を有する表示装置と補
    正情報作成装置とにより構成される表示装置の補正シス
    テムの動作方法であって、 前記補正情報作成装置は、 表示装置の光学表示を撮像する撮像装置と、 撮像装置の出力信号を直接または増幅器を介して増幅し
    た後にデジタル化するＡ／Ｄコンバータと、 Ａ／Ｄコンバータの出力信号を加工する信号処理装置
    と、 該装置で加工された信号を前記の表示装置の不揮発性記
    憶装置に記憶させる書き込み装置と、 を具備し、 信号処理装置の信号加工方法として、信号処理装置の入
    力信号をメディアンフィルタまたはラプラシアンフィル
    タを通過させ、特異点を検出することを特徴とした表示
    装置の補正システムの動作方法。
  9. 【請求項９】 不揮発性記憶装置を有する表示装置と補
    正情報作成装置とにより構成される表示装置の補正シス
    テムの動作方法であって、 前記補正情報作成装置は、 表示装置の光学表示を撮像する撮像装置と、 撮像装置の出力信号を直接または増幅器を介して増幅し
    た後にデジタル化するＡ／Ｄコンバータと、 Ａ／Ｄコンバータの出力信号を加工する信号処理装置
    と、 該装置で加工された信号を前記の表示装置の不揮発性記
    憶装置に記憶させる書き込み装置と、 を具備し、 補正信号作成装置は、信号処理装置の出力情報を記憶す
    る記憶回路と加算回路を有し、 第１回目の補正情報を前記記憶回路に記憶し、第１回目
    の補正終了後、再度、表示装置の撮像および信号処理を
    行い、その処理結果情報と記憶回路に記憶した第１回目
    の補正情報を加算し、加算後の補正情報をもちいて第２
    回目の補正を行うことを特徴とした表示装置の補正シス
    テムの動作方法。
  10. 【請求項１０】不揮発性記憶装置を有する表示装置と補
    正情報作成装置とにより構成される表示装置の補正シス
    テムの動作方法であって、 前記補正情報作成装置は、 表示装置の光学表示を撮像する撮像装置と、 撮像装置の出力信号を直接または増幅器を介して増幅し
    た後にデジタル化するＡ／Ｄコンバータと、 Ａ／Ｄコンバータの出力信号を加工する信号処理装置
    と、 該装置で加工された信号を前記の表示装置の不揮発性記
    憶装置に記憶させる書き込み装置と、 を具備し、 補正信号作成装置は、信号処理装置の出力情報を記憶す
    る記憶回路と加算回路を有し、 Ｎを２以上の自然数とし、第Ｎ回目の補正情報を前記記
    憶回路に記憶し、第Ｎ回目の補正終了後、再度、表示装
    置の撮像および信号処理を行い、その処理結果情報と記
    憶回路に記憶した第Ｎ回目の補正情報を加算し、加算後
    の補正情報をもちいて第Ｎ＋１回目の補正を行うことを
    特徴とした表示装置の補正システムの動作方法。
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CNB2004100322069A CN100381921C (zh) 1994-03-24 1995-03-24 一种利用有源矩阵型显示装置校正视频信号的方法
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US09/104,978 US6549183B1 (en) 1994-03-24 1998-06-26 System for correcting display device method for correcting the same and method of manufacturing the system
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TW (1) TW269033B (ja)

Cited By (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09318929A (ja) * 1996-05-29 1997-12-12 Toshiba Corp 液晶表示装置および表示ムラ補正方法
JP2001222265A (ja) * 1999-11-19 2001-08-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 欠陥画素補正システムおよびそれを用いた表示装置
US6549183B1 (en) 1994-03-24 2003-04-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. System for correcting display device method for correcting the same and method of manufacturing the system
JP2003524804A (ja) * 2000-02-22 2003-08-19 サーノフ コーポレイション ディスプレィ装置を校正して及び時間にわたってそれらの効率で自動的に減失を補償するための方法及び器具
KR100561320B1 (ko) * 1997-09-03 2006-10-24 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 디스플레이장치 보정시스템 및 반도체 디스플레이장치의 보정방법
JP2006527399A (ja) * 2003-06-06 2006-11-30 クレアボワイヤント インコーポレーテッド 分割された青いサブ画素を有する新規な液晶ディスプレイの画像劣化修正
KR100677811B1 (ko) * 2004-07-13 2007-02-02 샤프 가부시키가이샤 화상 신호 처리 장치 및 방법
JP2007114733A (ja) * 2005-10-17 2007-05-10 Lg Philips Lcd Co Ltd 平板表示装置及びその画質制御方法
JP2007122009A (ja) * 2005-10-25 2007-05-17 Lg Phillips Lcd Co Ltd 平板表示装置及びその画質制御方法
JP2007122008A (ja) * 2005-10-25 2007-05-17 Lg Phillips Lcd Co Ltd 平板表示装置及びその画質制御方法
JP2007140464A (ja) * 2005-11-16 2007-06-07 Lg Phillips Lcd Co Ltd 平板表示装置の製造方法及び装置
JP2007164131A (ja) * 2005-12-14 2007-06-28 Syntax Brillian Corp カラーディスプレイパネルを較正するための方法および装置、ならびに関連の製造および点検修理方法
JP2007264088A (ja) * 2006-03-27 2007-10-11 Funai Electric Co Ltd 表示装置、焼き付き補正システム及び焼き付き補正方法
JP2009093181A (ja) * 2007-10-10 2009-04-30 Barco Nv 画像の表示を調整するための方法、補正信号を導出するための方法、画像プロセッサ、表示システム、コンピュータプログラム製品、機械読取り可能記憶装置、およびコンピュータプログラム製品の伝送
JP2010061147A (ja) * 2001-09-07 2010-03-18 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置
JP2011150349A (ja) * 2008-07-31 2011-08-04 Iix Inc 画質調整装置及び画像補正データ生成プログラム
WO2012005284A1 (ja) * 2010-07-07 2012-01-12 シャープ株式会社 液晶表示装置
WO2012133890A1 (ja) * 2011-04-01 2012-10-04 シャープ株式会社 表示パネルのムラ補正方法、補正システム
WO2013157627A1 (ja) * 2012-04-20 2013-10-24 株式会社ニコン 電子機器及び補正方法
WO2015092952A1 (ja) * 2013-12-20 2015-06-25 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 表示むら補正装置、表示装置、表示むら補正方法および表示装置の製造方法
WO2017179155A1 (ja) * 2016-04-13 2017-10-19 堺ディスプレイプロダクト株式会社 補正データ生成装置、コンピュータプログラム及び補正データ生成方法
WO2018078753A1 (ja) * 2016-10-26 2018-05-03 堺ディスプレイプロダクト株式会社 補正システム
WO2018116380A1 (ja) * 2016-12-20 2018-06-28 堺ディスプレイプロダクト株式会社 補正システム、表示パネル、表示装置、補正方法及びプログラム
WO2018116381A1 (ja) * 2016-12-20 2018-06-28 堺ディスプレイプロダクト株式会社 制御回路、表示装置、補正システム、制御方法及び補正方法
JP2018527621A (ja) * 2015-10-23 2018-09-20 シャープ株式会社 画像データの処理方法、画素データの生成方法、および表示装置
JP2020086419A (ja) * 2018-11-28 2020-06-04 雄二 橋本 複数の制御対象のユニフォーミティを得るための調整方法、調整システムおよびコンベア装置、並びに調整された機器。
JP2021528673A (ja) * 2018-06-22 2021-10-21 京東方科技集團股▲ふん▼有限公司Ｂｏｅ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ Ｇｒｏｕｐ Ｃｏ．，Ｌｔｄ． 画素点輝度補償方法及び装置
US11763758B2 (en) 2021-05-27 2023-09-19 Sharp Kabushiki Kaisha Luminance unevenness correction system and luminance unevenness correction method

Families Citing this family (76)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW290678B (ja) 1994-12-22 1996-11-11 Handotai Energy Kenkyusho Kk
US6069600A (en) * 1996-03-28 2000-05-30 Kabushiki Kaisha Toshiba Active matrix type liquid crystal display
US6697037B1 (en) * 1996-04-29 2004-02-24 International Business Machines Corporation TFT LCD active data line repair
JP2937130B2 (ja) * 1996-08-30 1999-08-23 日本電気株式会社 アクティブマトリクス型液晶表示装置
US6166782A (en) * 1997-01-29 2000-12-26 Apple Computer, Inc. Method and apparatus for reducing visibility of damping wires in aperture grill display tubes
US6667494B1 (en) 1997-08-19 2003-12-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and semiconductor display device
US6717179B1 (en) * 1997-08-19 2004-04-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and semiconductor display device
JP3980178B2 (ja) * 1997-08-29 2007-09-26 株式会社半導体エネルギー研究所 不揮発性メモリおよび半導体装置
US6476779B1 (en) * 1998-03-31 2002-11-05 Sony Corporation Video display device
JP3632505B2 (ja) * 1999-06-18 2005-03-23 セイコーエプソン株式会社 画像表示装置
US6909411B1 (en) * 1999-07-23 2005-06-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and method for operating the same
US6618115B1 (en) * 1999-11-19 2003-09-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Defective pixel compensation system and display device using the system
JP2001209358A (ja) * 2000-01-26 2001-08-03 Seiko Epson Corp 表示画像のムラ補正
US20020113268A1 (en) * 2000-02-01 2002-08-22 Jun Koyama Nonvolatile memory, semiconductor device and method of manufacturing the same
US6577531B2 (en) * 2000-04-27 2003-06-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Nonvolatile memory and semiconductor device
US7088322B2 (en) * 2000-05-12 2006-08-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
TW522374B (en) * 2000-08-08 2003-03-01 Semiconductor Energy Lab Electro-optical device and driving method of the same
US6992652B2 (en) * 2000-08-08 2006-01-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device and driving method thereof
US7180496B2 (en) 2000-08-18 2007-02-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device and method of driving the same
TW518552B (en) * 2000-08-18 2003-01-21 Semiconductor Energy Lab Liquid crystal display device, method of driving the same, and method of driving a portable information device having the liquid crystal display device
US6987496B2 (en) * 2000-08-18 2006-01-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electronic device and method of driving the same
TW514854B (en) * 2000-08-23 2002-12-21 Semiconductor Energy Lab Portable information apparatus and method of driving the same
US7184014B2 (en) * 2000-10-05 2007-02-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device
US6950109B2 (en) * 2000-10-23 2005-09-27 Sun Microsystems, Inc. Multi-spectral color correction
JP3899817B2 (ja) * 2000-12-28 2007-03-28 セイコーエプソン株式会社 液晶表示装置及び電子機器
US6747623B2 (en) 2001-02-09 2004-06-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device and method of driving the same
JP3614792B2 (ja) * 2001-04-23 2005-01-26 ウインテスト株式会社 アクティブマトリックス型ディスプレイの画素検査装置および画素検査方法
JP3606270B2 (ja) * 2001-07-09 2005-01-05 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置の駆動方法、画像処理回路、電子機器、および補正データ生成方法
TWI273539B (en) 2001-11-29 2007-02-11 Semiconductor Energy Lab Display device and display system using the same
JP3913534B2 (ja) * 2001-11-30 2007-05-09 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置及びこれを用いた表示システム
KR100462600B1 (ko) * 2002-04-02 2004-12-20 삼성전자주식회사 디스플레이 패널 구동 시스템의 전원 자동 조정 제어 장치및 방법
US6911781B2 (en) 2002-04-23 2005-06-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and production system of the same
KR100859514B1 (ko) 2002-05-30 2008-09-22 삼성전자주식회사 액정 표시 장치 및 그 구동 장치
JP4067878B2 (ja) * 2002-06-06 2008-03-26 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置及びそれを用いた電気器具
US6982727B2 (en) * 2002-07-23 2006-01-03 Broadcom Corporation System and method for providing graphics using graphical engine
TW559756B (en) * 2002-08-26 2003-11-01 Chi Mei Optoelectronics Corp Defective pixel remedy device and method of LCD panel
US6933967B2 (en) * 2002-09-10 2005-08-23 Sony Corporation Color reference system for display monitor
US7298355B2 (en) * 2002-12-27 2007-11-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
GB2410143A (en) * 2004-01-13 2005-07-20 Hassan Paddy Abdel Salam Display calibration cradle for portable device
KR20050109223A (ko) * 2004-05-14 2005-11-17 삼성전자주식회사 영상 신호 보정용 기준 데이터 생성 장치 및 방법
US20060044299A1 (en) * 2004-08-31 2006-03-02 Jian Wang System and method for compensating for a fabrication artifact in an electronic device
DK1650730T3 (da) 2004-10-25 2010-05-03 Barco Nv Optisk korrektion til lyspaneler med høj ensartethed
US7639849B2 (en) 2005-05-17 2009-12-29 Barco N.V. Methods, apparatus, and devices for noise reduction
JP2006345436A (ja) * 2005-06-10 2006-12-21 Fuji Xerox Co Ltd 画像処理装置及び画像処理システム
JP2007025635A (ja) * 2005-06-17 2007-02-01 Fujitsu Hitachi Plasma Display Ltd プラズマディスプレイ装置及びその処理方法
TWI424408B (zh) * 2005-08-12 2014-01-21 半導體能源研究所股份有限公司 半導體裝置，和安裝有該半導體裝置的顯示裝置和電子裝置
GB2431276B (en) * 2005-10-14 2008-11-12 Cambridge Display Tech Ltd Display monitoring systems
TWI273312B (en) * 2005-11-30 2007-02-11 Au Optronics Corp Display device and panel module
US7911498B2 (en) 2005-12-12 2011-03-22 Novatek Microelectronics Corp. Compensation device for non-uniform regions in flat panel display and method thereof
KR100769193B1 (ko) * 2006-02-06 2007-10-23 엘지.필립스 엘시디 주식회사 평판표시장치와 그 화질제어 방법 및 장치
TW200732739A (en) * 2006-02-21 2007-09-01 Chi Mei Optoelectronics Corp Liquid crystal display utilizing redundancy line as repair line and method of repairing the same
US7460133B2 (en) * 2006-04-04 2008-12-02 Sharp Laboratories Of America, Inc. Optimal hiding for defective subpixels
TWI466269B (zh) * 2006-07-14 2014-12-21 Semiconductor Energy Lab 非揮發性記憶體
KR20080020454A (ko) * 2006-08-29 2008-03-05 노바텍 마이크로일렉트로닉스 코포레이션 평판 디스플레이에서 불균일 영역 보상 장치 및 그 보상방법
US20080117231A1 (en) 2006-11-19 2008-05-22 Tom Kimpe Display assemblies and computer programs and methods for defect compensation
CN101192362B (zh) * 2006-12-01 2010-09-22 康佳集团股份有限公司 Led显示屏现场单点调校装置及其调校方法
KR101332134B1 (ko) 2006-12-29 2013-11-21 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치
TWI375198B (en) * 2007-05-17 2012-10-21 Tpo Displays Corp A system for displaying images
CN101315745B (zh) * 2007-05-28 2012-11-28 统宝光电股份有限公司 图像显示系统与其云纹缺陷消除方法
US10810918B2 (en) * 2007-06-14 2020-10-20 Lg Display Co., Ltd. Video display device capable of compensating for display defects
JP4681033B2 (ja) * 2008-07-31 2011-05-11 株式会社イクス 画像補正データ生成システム、画像データ生成方法及び画像補正回路
CN100587781C (zh) * 2008-08-13 2010-02-03 大连达明科技有限公司 全彩led显示屏在线亮度校正及色域优化的方法
CN101377450B (zh) * 2008-09-19 2012-10-03 李鑫 一种提取显示屏点阵照片亮度数据的系统及方法
CN101377918B (zh) * 2008-09-19 2013-02-27 李鑫 一种电子显示屏系统、电子显示屏亮度校正方法及系统
WO2010146733A1 (ja) * 2009-06-18 2010-12-23 シャープ株式会社 表示パネルの欠陥検査方法および欠陥検査装置
KR101830679B1 (ko) * 2010-07-29 2018-02-22 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 검사 장치 및 그 방법
CN101916539B (zh) * 2010-08-20 2012-10-03 西安诺瓦电子科技有限公司 一种led显示屏逐点亮度色度校正系统及其校正方法
JP4777472B1 (ja) * 2010-08-24 2011-09-21 株式会社イクス 無研磨ガラスを用いた表示パネルのための画像補正データ生成システム、画像補正データ生成方法及び画像補正データ生成プログラム
CN103559863B (zh) * 2013-11-11 2015-06-17 西安诺瓦电子科技有限公司 Led灯板和led显示屏
CN105096815A (zh) * 2014-05-06 2015-11-25 西安诺瓦电子科技有限公司 Led显示屏亮色度校正方法以及led显示屏系统
CN107347254B (zh) 2014-11-28 2020-10-23 株式会社半导体能源研究所 图像处理装置、显示系统以及电子设备
KR102287907B1 (ko) * 2015-06-22 2021-08-10 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 다이오드 표시 장치의 열화 보상기
CN107179123B (zh) * 2017-04-21 2019-01-29 华南理工大学 摄像头与led灯融合的亮度标定与测量方法
US11200656B2 (en) * 2019-01-11 2021-12-14 Universal City Studios Llc Drop detection systems and methods
US11030944B1 (en) * 2019-12-04 2021-06-08 Capital One Services, Llc Systems and methods for correcting ambient-light illuminance differences of ambient light directed onto regions of a display
US11776503B2 (en) * 2020-05-28 2023-10-03 Apple Inc. Generating display data based on modified ambient light luminance values

Family Cites Families (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4224615A (en) * 1978-09-14 1980-09-23 Texas Instruments Incorporated Method of using a liquid crystal display device as a data input device
JPS61137194A (ja) 1984-12-10 1986-06-24 キヤノン株式会社 液晶表示パネルの補正駆動方法
JPS61243495A (ja) 1985-04-20 1986-10-29 三洋電機株式会社 液晶表示装置の表示むら補償方法
JPH0766251B2 (ja) 1985-05-10 1995-07-19 ソニー株式会社 液晶表示装置
JPS6337785A (ja) 1986-07-31 1988-02-18 Toshiba Electric Equip Corp 映像表示装置
JPS63148781A (ja) 1986-12-12 1988-06-21 Nec Corp 液晶表示装置
JPS63199323A (ja) 1987-02-16 1988-08-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 映像信号補正回路
JP2653099B2 (ja) * 1988-05-17 1997-09-10 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリクスパネル，投写型表示装置及びビューファインダー
JPH02131287A (ja) 1988-11-11 1990-05-21 Nec Corp 表示装置
JPH0311390A (ja) * 1989-06-08 1991-01-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 投写型画像表示装置
DE69022891T2 (de) * 1989-06-15 1996-05-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd Gerät zur Kompensierung von Videosignalen.
IL91303A0 (en) 1989-08-14 1990-03-19 Ibm Israel System for displaying images on a cathode ray tube
JPH03164793A (ja) 1989-11-24 1991-07-16 Sharp Corp 液晶表示装置
JP2566044B2 (ja) 1990-05-25 1996-12-25 日産自動車株式会社 車両用空気調和装置のヒータユニット構造
JPH04142591A (ja) 1990-10-04 1992-05-15 Seiko Epson Corp 液晶表示装置
JPH04165395A (ja) 1990-10-29 1992-06-11 Nec Corp イメージ拡大時のゆがみ補正方式
JPH04184485A (ja) 1990-11-20 1992-07-01 Seiko Epson Corp 液晶表示装置の駆動回路
JP3033912B2 (ja) 1990-12-28 2000-04-17 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 液晶表示装置の映像信号補正回路
JPH04233514A (ja) * 1990-12-28 1992-08-21 Sharp Corp アクティブマトリクス基板
US5751261A (en) * 1990-12-31 1998-05-12 Kopin Corporation Control system for display panels
US5150238A (en) * 1991-03-04 1992-09-22 Nview Corporation Active matrix lcd projection system with anti-reflective characteristics
JP3123095B2 (ja) * 1991-03-29 2001-01-09 株式会社日立製作所 ディスプレイの画面欠点検出方法
US5426526A (en) * 1991-04-05 1995-06-20 Sharp Kabushiki Kaisha Reflection type single crystal silicon substrate liquid crystal display device and system
JPH0511725A (ja) 1991-07-04 1993-01-22 Fujitsu Ltd デイスプレイの階調制御装置
JPH0667620A (ja) * 1991-07-27 1994-03-11 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 画像表示装置
US5245326A (en) * 1991-08-19 1993-09-14 International Business Machines Corp. Calibration apparatus for brightness controls of digitally operated liquid crystal display system
JP3116457B2 (ja) * 1991-09-13 2000-12-11 株式会社村田製作所 コンバージェンス測定装置
JPH0583659A (ja) 1991-09-24 1993-04-02 Toshiba Corp 電子回路自動調整装置
US5216504A (en) * 1991-09-25 1993-06-01 Display Laboratories, Inc. Automatic precision video monitor alignment system
JPH05154728A (ja) 1991-12-06 1993-06-22 Hitachi Ltd 記憶装置を有する製品およびその混流生産装置
JPH05169356A (ja) 1991-12-17 1993-07-09 Hitachi Ltd 生産ラインにおける調整・検査対象に対する調整・検査方法とその生産ライン並びに調整・検査対象位置決め載置用台板
JPH0618839A (ja) 1992-06-29 1994-01-28 Victor Co Of Japan Ltd 液晶プロジェクタ装置
JPH0624182A (ja) * 1992-07-07 1994-02-01 Japan Servo Co Ltd グリーティングカード
JPH06138849A (ja) * 1992-10-30 1994-05-20 Sharp Corp 液晶映像表示装置
US5608422A (en) * 1992-11-27 1997-03-04 Sanyo Electric Co., Ltd. Automatic contrast adjusting device
GB2274922B (en) * 1993-01-21 1996-10-23 Sharp Kk Liquid crystal projector
JP2988815B2 (ja) 1993-11-12 1999-12-13 シャープ株式会社 液晶駆動装置
CA2138363C (en) * 1993-12-22 1999-06-22 Yasuyuki Todokoro Electron beam generating apparatus, image display apparatus, and method of driving the apparatuses
JP3672586B2 (ja) 1994-03-24 2005-07-20 株式会社半導体エネルギー研究所 補正システムおよびその動作方法
KR970010101B1 (en) * 1994-06-30 1997-06-21 Daewoo Electronics Co Ltd Post-processing method of digital transmission pictures
US5874988A (en) * 1996-07-08 1999-02-23 Da Vinci Systems, Inc. System and methods for automated color correction
JP3164793B2 (ja) 1998-04-28 2001-05-08 鹿島建設株式会社 トンネル掘進機における各種機器の支持構造
JP2001075542A (ja) 2000-07-10 2001-03-23 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 補正システムおよびその動作方法
JP2001075523A (ja) 2000-07-10 2001-03-23 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 補正システムおよびその動作方法

Cited By (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6549183B1 (en) 1994-03-24 2003-04-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. System for correcting display device method for correcting the same and method of manufacturing the system
JPH09318929A (ja) * 1996-05-29 1997-12-12 Toshiba Corp 液晶表示装置および表示ムラ補正方法
KR100561320B1 (ko) * 1997-09-03 2006-10-24 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 디스플레이장치 보정시스템 및 반도체 디스플레이장치의 보정방법
US9053679B2 (en) 1997-09-03 2015-06-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor display device correcting system and correcting method of semiconductor display device
JP2001222265A (ja) * 1999-11-19 2001-08-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 欠陥画素補正システムおよびそれを用いた表示装置
JP2003524804A (ja) * 2000-02-22 2003-08-19 サーノフ コーポレイション ディスプレィ装置を校正して及び時間にわたってそれらの効率で自動的に減失を補償するための方法及び器具
JP2010061147A (ja) * 2001-09-07 2010-03-18 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置
JP2012234186A (ja) * 2001-09-07 2012-11-29 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置及び電子機器
US8947328B2 (en) 2001-09-07 2015-02-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and method of driving the same
JP2010160497A (ja) * 2001-09-07 2010-07-22 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置及び電子機器
JP2006527399A (ja) * 2003-06-06 2006-11-30 クレアボワイヤント インコーポレーテッド 分割された青いサブ画素を有する新規な液晶ディスプレイの画像劣化修正
KR100677811B1 (ko) * 2004-07-13 2007-02-02 샤프 가부시키가이샤 화상 신호 처리 장치 및 방법
JP2007114733A (ja) * 2005-10-17 2007-05-10 Lg Philips Lcd Co Ltd 平板表示装置及びその画質制御方法
JP2007122008A (ja) * 2005-10-25 2007-05-17 Lg Phillips Lcd Co Ltd 平板表示装置及びその画質制御方法
US7786971B2 (en) 2005-10-25 2010-08-31 Lg. Display Co., Ltd. Flat display apparatus capable of compensating a panel defect electrically and picture quality controlling method thereof
US7839395B2 (en) 2005-10-25 2010-11-23 Lg. Display Co., Ltd. Flat display apparatus and picture quality controlling method based on panel defects
JP2007122009A (ja) * 2005-10-25 2007-05-17 Lg Phillips Lcd Co Ltd 平板表示装置及びその画質制御方法
US8059143B2 (en) 2005-10-25 2011-11-15 Lg Display Co., Ltd. Flat display apparatus capable of compensating a panel defect electrically and picture quality controlling method thereof utilizing dithering
JP2007140464A (ja) * 2005-11-16 2007-06-07 Lg Phillips Lcd Co Ltd 平板表示装置の製造方法及び装置
JP2007164131A (ja) * 2005-12-14 2007-06-28 Syntax Brillian Corp カラーディスプレイパネルを較正するための方法および装置、ならびに関連の製造および点検修理方法
JP2007264088A (ja) * 2006-03-27 2007-10-11 Funai Electric Co Ltd 表示装置、焼き付き補正システム及び焼き付き補正方法
JP2009093181A (ja) * 2007-10-10 2009-04-30 Barco Nv 画像の表示を調整するための方法、補正信号を導出するための方法、画像プロセッサ、表示システム、コンピュータプログラム製品、機械読取り可能記憶装置、およびコンピュータプログラム製品の伝送
US8395636B2 (en) 2007-10-10 2013-03-12 Barco N.V. Reducing visibility of display errors
JP2011150349A (ja) * 2008-07-31 2011-08-04 Iix Inc 画質調整装置及び画像補正データ生成プログラム
WO2012005284A1 (ja) * 2010-07-07 2012-01-12 シャープ株式会社 液晶表示装置
WO2012133890A1 (ja) * 2011-04-01 2012-10-04 シャープ株式会社 表示パネルのムラ補正方法、補正システム
US9183811B2 (en) 2011-04-01 2015-11-10 Sharp Kabushiki Kaisha Method of correcting unevenness of display panel and correction system
WO2013157627A1 (ja) * 2012-04-20 2013-10-24 株式会社ニコン 電子機器及び補正方法
WO2015092952A1 (ja) * 2013-12-20 2015-06-25 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 表示むら補正装置、表示装置、表示むら補正方法および表示装置の製造方法
JPWO2015092952A1 (ja) * 2013-12-20 2017-03-16 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 表示むら補正装置、表示装置、表示むら補正方法および表示装置の製造方法
JP2018527621A (ja) * 2015-10-23 2018-09-20 シャープ株式会社 画像データの処理方法、画素データの生成方法、および表示装置
WO2017179155A1 (ja) * 2016-04-13 2017-10-19 堺ディスプレイプロダクト株式会社 補正データ生成装置、コンピュータプログラム及び補正データ生成方法
WO2018078753A1 (ja) * 2016-10-26 2018-05-03 堺ディスプレイプロダクト株式会社 補正システム
WO2018116380A1 (ja) * 2016-12-20 2018-06-28 堺ディスプレイプロダクト株式会社 補正システム、表示パネル、表示装置、補正方法及びプログラム
WO2018116381A1 (ja) * 2016-12-20 2018-06-28 堺ディスプレイプロダクト株式会社 制御回路、表示装置、補正システム、制御方法及び補正方法
JP2021528673A (ja) * 2018-06-22 2021-10-21 京東方科技集團股▲ふん▼有限公司Ｂｏｅ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ Ｇｒｏｕｐ Ｃｏ．，Ｌｔｄ． 画素点輝度補償方法及び装置
JP2020086419A (ja) * 2018-11-28 2020-06-04 雄二 橋本 複数の制御対象のユニフォーミティを得るための調整方法、調整システムおよびコンベア装置、並びに調整された機器。
JP2023051934A (ja) * 2018-11-28 2023-04-11 雄二 橋本 複数の制御対象のユニフォーミティを得るための調整方法、調整システムおよびコンベア装置、並びに調整された機器。
US11763758B2 (en) 2021-05-27 2023-09-19 Sharp Kabushiki Kaisha Luminance unevenness correction system and luminance unevenness correction method

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CN1352447A (zh) 2002-06-05
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TW269033B (ja) 1996-01-21
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US6987497B2 (en) 2006-01-17

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