JPH07261803A - 多変数干渉系プロセスの制御方法 - Google Patents
多変数干渉系プロセスの制御方法Info
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- JPH07261803A JPH07261803A JP4623094A JP4623094A JPH07261803A JP H07261803 A JPH07261803 A JP H07261803A JP 4623094 A JP4623094 A JP 4623094A JP 4623094 A JP4623094 A JP 4623094A JP H07261803 A JPH07261803 A JP H07261803A
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- FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N benzyl N-[2-hydroxy-4-(3-oxomorpholin-4-yl)phenyl]carbamate Chemical compound OC1=C(NC(=O)OCC2=CC=CC=C2)C=CC(=C1)N1CCOCC1=O FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 8
- 238000004886 process control Methods 0.000 abstract description 7
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 abstract 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 abstract 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000026676 system process Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000002803 fossil fuel Substances 0.000 description 1
- 238000005305 interferometry Methods 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
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- Feedback Control In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 多変数干渉系のプロセスにおいて最適な自動
チューニングを行える制御方法を提供する。 【構成】 プロセスの出力のハンチング状況を、設定値
を境にした各出力波形の最大偏差値と設定値をクロスす
るゼロクロス時間の三角形の面積で近似し、この近似値
と前記最大偏差値とゼロクロス時間の比の収束状況によ
り、プロセスの安定状況をファジィ推論し、PID制御
のパラメータをチューニングする。 【作用】 プロセスの出力のハンチング状況の近似値と
前記最大偏差値とゼロクロス時間の比の収束状況によ
り、ファジィ推論され、PID制御のパラメータがチュ
ーニングされることによって、多変数の干渉がマクロ的
に捉えられ、プロセスの出力は設定値に安定する方向に
収束され、最適なプロセス制御を行うことができる。
チューニングを行える制御方法を提供する。 【構成】 プロセスの出力のハンチング状況を、設定値
を境にした各出力波形の最大偏差値と設定値をクロスす
るゼロクロス時間の三角形の面積で近似し、この近似値
と前記最大偏差値とゼロクロス時間の比の収束状況によ
り、プロセスの安定状況をファジィ推論し、PID制御
のパラメータをチューニングする。 【作用】 プロセスの出力のハンチング状況の近似値と
前記最大偏差値とゼロクロス時間の比の収束状況によ
り、ファジィ推論され、PID制御のパラメータがチュ
ーニングされることによって、多変数の干渉がマクロ的
に捉えられ、プロセスの出力は設定値に安定する方向に
収束され、最適なプロセス制御を行うことができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、多変数干渉系のプロセ
スの制御方法に関するものである。
スの制御方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のプロセスの制御方法としてPID
制御が使用されており、これらPIDのパラメータのチ
ューニング方法として、図5に示すように、プロセスの
出力(PV)の設定値(SV)を境にした各出力波形の
面積の総和(斜線部分)を最小にするようにチューニン
グする方法や、プロセスの出力の設定値を境にした各出
力波形の振幅Eの減衰比を1/4にするチューニング方
法(ジグラー・ニコラス法)が知られている。
制御が使用されており、これらPIDのパラメータのチ
ューニング方法として、図5に示すように、プロセスの
出力(PV)の設定値(SV)を境にした各出力波形の
面積の総和(斜線部分)を最小にするようにチューニン
グする方法や、プロセスの出力の設定値を境にした各出
力波形の振幅Eの減衰比を1/4にするチューニング方
法(ジグラー・ニコラス法)が知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、PID制御は
基本的に1ループの制御であり、多変数干渉系のプロセ
スでは使用が難しいという問題があり、さらに従来のチ
ューニング方法では実際にチューニングすることは非常
に難しいことから、熟練者のノウハウによるチューニン
グに頼らざるを得ないという問題があった。
基本的に1ループの制御であり、多変数干渉系のプロセ
スでは使用が難しいという問題があり、さらに従来のチ
ューニング方法では実際にチューニングすることは非常
に難しいことから、熟練者のノウハウによるチューニン
グに頼らざるを得ないという問題があった。
【0004】本発明は上記問題を解決するものであり、
多変数干渉系のプロセスにおいて最適なPID制御のパ
ラメータの自動チューニングを行える制御方法を提供す
ることを目的とするものである。
多変数干渉系のプロセスにおいて最適なPID制御のパ
ラメータの自動チューニングを行える制御方法を提供す
ることを目的とするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の多変数干渉系の制御方法は、多変数干渉系
のプロセスの制御方法であって、前記プロセスの出力の
ハンチング状況を、設定値を境にした各出力波形の最大
偏差値と設定値をクロスするゼロクロス時間の三角形の
面積、またはこれら三角形の面積の和で近似し、この近
似値と前記最大偏差値とゼロクロス時間の比の収束状況
により、プロセスの安定状況をファジィ推論し、PID
制御のパラメータをチューニングすることを特徴とする
ものである。
め、本発明の多変数干渉系の制御方法は、多変数干渉系
のプロセスの制御方法であって、前記プロセスの出力の
ハンチング状況を、設定値を境にした各出力波形の最大
偏差値と設定値をクロスするゼロクロス時間の三角形の
面積、またはこれら三角形の面積の和で近似し、この近
似値と前記最大偏差値とゼロクロス時間の比の収束状況
により、プロセスの安定状況をファジィ推論し、PID
制御のパラメータをチューニングすることを特徴とする
ものである。
【0006】
【作用】上記発明によれば、プロセスの出力のハンチン
グ状況が、各出力波形の最大偏差値と設定値をクロスす
るゼロクロス時間の三角形の面積、またはこれら三角形
の面積の和で近似され、この近似値と前記最大偏差値と
ゼロクロス時間の比の収束状況により、プロセスの安定
状況がファジィ推論され、PID制御のパラメータがチ
ューニングされる。よって、多変数の干渉がマクロ的に
捉えられ、最適なチューニングが可能となる。
グ状況が、各出力波形の最大偏差値と設定値をクロスす
るゼロクロス時間の三角形の面積、またはこれら三角形
の面積の和で近似され、この近似値と前記最大偏差値と
ゼロクロス時間の比の収束状況により、プロセスの安定
状況がファジィ推論され、PID制御のパラメータがチ
ューニングされる。よって、多変数の干渉がマクロ的に
捉えられ、最適なチューニングが可能となる。
【0007】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図1は本発明の一実施例におけるプロセスの制
御系の構成図である。
明する。図1は本発明の一実施例におけるプロセスの制
御系の構成図である。
【0008】図1において、1は、多変数干渉系のプロ
セス、たとえばごみ焼却炉であり、2は多変数の干渉を
受けるプロセス1の1出力、たとえばごみ焼却炉内温度
を一定に維持するように、1入力、たとえばごみ焼却炉
内で燃焼する化石燃料の流量を制御するマイクロコンピ
ュータからなるコントローラである。
セス、たとえばごみ焼却炉であり、2は多変数の干渉を
受けるプロセス1の1出力、たとえばごみ焼却炉内温度
を一定に維持するように、1入力、たとえばごみ焼却炉
内で燃焼する化石燃料の流量を制御するマイクロコンピ
ュータからなるコントローラである。
【0009】コントローラ2は、基本的にはPID制御
を行っており、設定器11と、この設定器11から出力され
る目標の設定値(SV)からプロセス1の出力値(P
V)を減算して偏差値Pを出力する減算器12と、減算器
12から出力された偏差値Pに応じてプロセス1へ制御信
号(CV)を出力するPID制御部13と、減算器12から
出力される偏差値Pを順に記憶してPID制御部13のP
IDパラメータを調節するチューナ14から構成されてい
る。
を行っており、設定器11と、この設定器11から出力され
る目標の設定値(SV)からプロセス1の出力値(P
V)を減算して偏差値Pを出力する減算器12と、減算器
12から出力された偏差値Pに応じてプロセス1へ制御信
号(CV)を出力するPID制御部13と、減算器12から
出力される偏差値Pを順に記憶してPID制御部13のP
IDパラメータを調節するチューナ14から構成されてい
る。
【0010】上記チューナ14によるPIDパラメータの
調整原理をP(比例)のパラメータを例にとって説明す
る。まず、プロセスの出力値(PV)のハンチング状
況、すなわち比例制御による設定値(SV)からのずれ
量aP を、図2に示すように、所定時間Δtにおける、
設定値(SV)を境にした上下の各出力波形の最大偏差
値(Pmax ,Pmin )と設定値をクロスするゼロクロス
時間(tmax ,tmin )の三角形の面積の総和で近似す
る。
調整原理をP(比例)のパラメータを例にとって説明す
る。まず、プロセスの出力値(PV)のハンチング状
況、すなわち比例制御による設定値(SV)からのずれ
量aP を、図2に示すように、所定時間Δtにおける、
設定値(SV)を境にした上下の各出力波形の最大偏差
値(Pmax ,Pmin )と設定値をクロスするゼロクロス
時間(tmax ,tmin )の三角形の面積の総和で近似す
る。
【0011】 aP =Σ{Pmax (tn )×tmax (tn )/2}+ Σ{Pmin (tn )×tmin (tn )/2} n=1,2,3,.. …(1) 次に収束状況の評価量bを、最大偏差値とゼロクロス時
間の比の減衰量で表す。
間の比の減衰量で表す。
【0012】 b=(Pmax /tmax )÷(Pmin /tmin ) …(2) そして、上記設定値(SV)からのずれ量aP と評価量
bによりPパラメータのファジィ推論を行う。
bによりPパラメータのファジィ推論を行う。
【0013】ずれ量aP と評価量bのファジィ集合は図
3に示すように、いずれも3個の集合、すなわちZ0
(ゼロ付近である)、PM(中間である)、PB(大き
い)としている。また、これらずれ量aP と評価量bの
ファジィ集合によるPパラメータのファジィ制御ルール
を表1に示す。表1において、空白部はPパラメータを
変更しないことを示す。
3に示すように、いずれも3個の集合、すなわちZ0
(ゼロ付近である)、PM(中間である)、PB(大き
い)としている。また、これらずれ量aP と評価量bの
ファジィ集合によるPパラメータのファジィ制御ルール
を表1に示す。表1において、空白部はPパラメータを
変更しないことを示す。
【0014】
【表1】 上記ずれ量aP と評価量bがそれぞれ式(1),(2) により
求められると、図3により所属するファジィ集合が判断
され、表1のルールによりPパラメータに対する”やや
少なく”などの指令信号が出力される。PID制御部13
ではこの指令信号に応じて、予め設定された所定量によ
りPパラメータを変更して、比例制御を実行する。
求められると、図3により所属するファジィ集合が判断
され、表1のルールによりPパラメータに対する”やや
少なく”などの指令信号が出力される。PID制御部13
ではこの指令信号に応じて、予め設定された所定量によ
りPパラメータを変更して、比例制御を実行する。
【0015】なお、I(積分)のパラメータの場合に
は、設定値(SV)からのずれ量aIは下記の式で演算
する。 aI =絶対値〔Σ{Pmax (tn )×tmax (tn )/2}− Σ{Pmin (tn )×tmin (tn )/2}〕 n=1,2,3,.. …(3) またD(微分)のパラメータの場合には、設定値(S
V)からのずれ量aD は下記の式で演算する。
は、設定値(SV)からのずれ量aIは下記の式で演算
する。 aI =絶対値〔Σ{Pmax (tn )×tmax (tn )/2}− Σ{Pmin (tn )×tmin (tn )/2}〕 n=1,2,3,.. …(3) またD(微分)のパラメータの場合には、設定値(S
V)からのずれ量aD は下記の式で演算する。
【0016】 aD =Pmax (t1 )×tmax (t1 )/2 …(4) 上記PIDパラメータの調整原理を実行するチューナ14
の動作フローチャートを図4に示す。
の動作フローチャートを図4に示す。
【0017】チューナ14は、まず所定時間Δtの間、減
算器12から出力される偏差値Pを順に記憶し(ステップ
−1)、所定時間Δtが経過すると、記憶した偏差値P
から、設定値(SV)を境にした上下、すなわち(+)
側と(−)側の各出力波形の最大偏差値(Pmax ,P
min )と、設定値をクロスするゼロクロス時間
(tmax,tmin )を求める(ステップ−2)。次に、
設定値(SV)からのずれ量aP,aI ,aD をそれぞ
れ式(1),(3),(4) により演算し(ステップ−3)、評価
量bを式(2) により演算する(ステップ−4)。そし
て、これらずれ量aP ,aI,aD と評価量bから上記
ファジィ推論を行い(ステップ−5)、その各指令信号
をPID制御部13へ出力する(ステップ−6)。上記ス
テップは順に繰り返し行われる。
算器12から出力される偏差値Pを順に記憶し(ステップ
−1)、所定時間Δtが経過すると、記憶した偏差値P
から、設定値(SV)を境にした上下、すなわち(+)
側と(−)側の各出力波形の最大偏差値(Pmax ,P
min )と、設定値をクロスするゼロクロス時間
(tmax,tmin )を求める(ステップ−2)。次に、
設定値(SV)からのずれ量aP,aI ,aD をそれぞ
れ式(1),(3),(4) により演算し(ステップ−3)、評価
量bを式(2) により演算する(ステップ−4)。そし
て、これらずれ量aP ,aI,aD と評価量bから上記
ファジィ推論を行い(ステップ−5)、その各指令信号
をPID制御部13へ出力する(ステップ−6)。上記ス
テップは順に繰り返し行われる。
【0018】このように、設定値(SV)からのずれ量
aP ,aI ,aD を三角形の面積、あるいは三角形の面
積の総和で近似し、収束状況の評価量bを、最大偏差値
とゼロクロス時間の比の減衰量で表してファジィ推論を
行うことにより、PIDの各パラメータは、多変数の干
渉をうけるプロセスの出力値(PV)を設定値(SV)
に安定させる方向に収束され、すなわち最適な自動チュ
ーニングを行うことができ、最適なプロセス制御を行う
ことができる。
aP ,aI ,aD を三角形の面積、あるいは三角形の面
積の総和で近似し、収束状況の評価量bを、最大偏差値
とゼロクロス時間の比の減衰量で表してファジィ推論を
行うことにより、PIDの各パラメータは、多変数の干
渉をうけるプロセスの出力値(PV)を設定値(SV)
に安定させる方向に収束され、すなわち最適な自動チュ
ーニングを行うことができ、最適なプロセス制御を行う
ことができる。
【0019】また、比例制御による設定値(SV)から
のずれ量aP を、各出力波形の最大偏差値(Pmax ,P
min )とゼロクロス時間(tmax ,tmin )の三角形の
面積の総和で近似することにより、従来のように出力波
形の全面積を求める方法と比較して、ノイズに強く、か
つ演算を簡単にすることができる。
のずれ量aP を、各出力波形の最大偏差値(Pmax ,P
min )とゼロクロス時間(tmax ,tmin )の三角形の
面積の総和で近似することにより、従来のように出力波
形の全面積を求める方法と比較して、ノイズに強く、か
つ演算を簡単にすることができる。
【0020】なお、本実施例では、ずれ量aP ,aI ,
aD の演算式(1),(3),(4) においてそれぞれ2で割って
いるが、ファジィ演算上はメンバシップ関数で調整でき
るので必ずしも2で割る必要がない。
aD の演算式(1),(3),(4) においてそれぞれ2で割って
いるが、ファジィ演算上はメンバシップ関数で調整でき
るので必ずしも2で割る必要がない。
【0021】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、プロセス
の出力のハンチング状況が各出力波形の最大偏差値と設
定値をクロスするゼロクロス時間の三角形の面積、ある
いは三角形の面積の和で近似され、この近似値と前記最
大偏差値とゼロクロス時間の比の収束状況により、ファ
ジィ推論され、PID制御のパラメータがチューニング
されることによって、多変数の干渉がマクロ的に捉えら
れ、パラメータはプロセスの出力を設定値に安定させる
方向に収束され、よって最適なプロセス制御を行うこと
ができる。
の出力のハンチング状況が各出力波形の最大偏差値と設
定値をクロスするゼロクロス時間の三角形の面積、ある
いは三角形の面積の和で近似され、この近似値と前記最
大偏差値とゼロクロス時間の比の収束状況により、ファ
ジィ推論され、PID制御のパラメータがチューニング
されることによって、多変数の干渉がマクロ的に捉えら
れ、パラメータはプロセスの出力を設定値に安定させる
方向に収束され、よって最適なプロセス制御を行うこと
ができる。
【図1】本発明の一実施例における多変数干渉系プロセ
スの制御構成図である。
スの制御構成図である。
【図2】同コントローラのチューナのPIDパラメータ
のチューニング原理を説明する図である。
のチューニング原理を説明する図である。
【図3】同コントローラのチューナのメンバシップ関数
図である。
図である。
【図4】同コントローラのチューナの動作フローチャー
トである。
トである。
【図5】従来のPIDパラメータのチューニング原理を
説明する図である。
説明する図である。
1 プロセス 2 コントローラ 11 設定器 12 減算器 13 PID制御部 14 チューナ
Claims (1)
- 【請求項1】 多変数干渉系のプロセスの制御方法にお
いて、 前記プロセスの出力のハンチング状況を、設定値を境に
した各出力波形の最大偏差値と設定値をクロスするゼロ
クロス時間の三角形の面積、またはこれら三角形の面積
の和で近似し、この近似値と前記最大偏差値とゼロクロ
ス時間の比の収束状況により、プロセスの安定状況をフ
ァジィ推論し、PID制御のパラメータをチューニング
することを特徴とする多変数干渉系プロセスの制御方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4623094A JPH07261803A (ja) | 1994-03-17 | 1994-03-17 | 多変数干渉系プロセスの制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4623094A JPH07261803A (ja) | 1994-03-17 | 1994-03-17 | 多変数干渉系プロセスの制御方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07261803A true JPH07261803A (ja) | 1995-10-13 |
Family
ID=12741322
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4623094A Pending JPH07261803A (ja) | 1994-03-17 | 1994-03-17 | 多変数干渉系プロセスの制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07261803A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001079943A1 (en) * | 2000-04-14 | 2001-10-25 | Omron Corporation | Controller, temperature regulator, and heat treatment apparatus |
| JP2010066852A (ja) * | 2008-09-09 | 2010-03-25 | Omron Corp | 制御パラメータのチューニング方法 |
| JP2010238259A (ja) * | 2010-06-24 | 2010-10-21 | Sumitomo Chemical Co Ltd | Pid制御装置 |
| CN107037842A (zh) * | 2017-05-15 | 2017-08-11 | 济南大学 | 一种基于模糊控制和pid控制的焓差实验室温度切换控制的方法 |
-
1994
- 1994-03-17 JP JP4623094A patent/JPH07261803A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001079943A1 (en) * | 2000-04-14 | 2001-10-25 | Omron Corporation | Controller, temperature regulator, and heat treatment apparatus |
| WO2001079942A1 (fr) * | 2000-04-14 | 2001-10-25 | Omron Corporation | Unite de commande, regulateur de temperature et appareil de traitement thermique |
| US6951998B2 (en) * | 2000-04-14 | 2005-10-04 | Omron Corporation | Controller, temperature regulator and heat treatment apparatus |
| JP2010066852A (ja) * | 2008-09-09 | 2010-03-25 | Omron Corp | 制御パラメータのチューニング方法 |
| JP2010238259A (ja) * | 2010-06-24 | 2010-10-21 | Sumitomo Chemical Co Ltd | Pid制御装置 |
| CN107037842A (zh) * | 2017-05-15 | 2017-08-11 | 济南大学 | 一种基于模糊控制和pid控制的焓差实验室温度切换控制的方法 |
| CN107037842B (zh) * | 2017-05-15 | 2019-08-30 | 济南大学 | 一种基于模糊控制和pid控制的焓差实验室温度切换控制的方法 |
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