JPH07270468A - 電磁波低反射机 - Google Patents
電磁波低反射机Info
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- JPH07270468A JPH07270468A JP6327794A JP6327794A JPH07270468A JP H07270468 A JPH07270468 A JP H07270468A JP 6327794 A JP6327794 A JP 6327794A JP 6327794 A JP6327794 A JP 6327794A JP H07270468 A JPH07270468 A JP H07270468A
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Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電磁波の反射が少ない放射電磁界の測定用の
机を得る。 【構成】 電磁波低反射机において、机の天板部がハニ
カム状もしくは発泡体からなる絶縁体の上下を厚さ5m
m以下の絶縁層で積層した積層体から構成されている電
磁波低反射机。 【効果】 電波暗室内の電界分布を乱さないので、正確
な測定が可能である。
机を得る。 【構成】 電磁波低反射机において、机の天板部がハニ
カム状もしくは発泡体からなる絶縁体の上下を厚さ5m
m以下の絶縁層で積層した積層体から構成されている電
磁波低反射机。 【効果】 電波暗室内の電界分布を乱さないので、正確
な測定が可能である。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電磁波の反射が少なく、
充分な強度を有する机に関し、特に電波暗室や屋外試験
場にて使用される供試体用机に関するものである。
充分な強度を有する机に関し、特に電波暗室や屋外試験
場にて使用される供試体用机に関するものである。
【0002】
【従来の技術】各種の電子機器が広く利用されるように
なり、これらの電子機器が電磁波によって受ける影響お
よび電子機器自身が放射する電磁波が与える影響が問題
となっている。とくに、コンピュータで代表されるよう
なデジタル信号を取り扱う機器が数多く利用されるよう
になり、機器の誤動作等の原因となる電磁波ノイズが大
きな問題となっている。電子機器から発生される電磁波
ノイズ測定(EMI測定)は屋外試験場または電波暗室
にて行われており、また、外部から放射される電磁波ノ
イズに対する電子機器の耐性試験(イミュニティ試験)
は電波暗室において行われている。
なり、これらの電子機器が電磁波によって受ける影響お
よび電子機器自身が放射する電磁波が与える影響が問題
となっている。とくに、コンピュータで代表されるよう
なデジタル信号を取り扱う機器が数多く利用されるよう
になり、機器の誤動作等の原因となる電磁波ノイズが大
きな問題となっている。電子機器から発生される電磁波
ノイズ測定(EMI測定)は屋外試験場または電波暗室
にて行われており、また、外部から放射される電磁波ノ
イズに対する電子機器の耐性試験(イミュニティ試験)
は電波暗室において行われている。
【0003】イミュニティ試験を行う供試体の電子機器
が机上型ならば供試体用机の上に載置して、電磁波を照
射して試験を行っている。供試体用机は木製又はガラス
繊維強化プラスチックス製のものを使用していたが、数
十kg以上の供試体重量でも天板がたわまない強度にす
るためには、天板の厚みは約10mm以上の厚さのもの
が必要となる。ところが、IEC(国際電気標準会議)
等で規定する測定基準では、照射する電磁波の周波数は
20〜1000MHzにわたり、波長が短くなる数百M
Hz以上の周波数の電磁波では、天板による表面反射は
無視できない大きさとなる。とくに、表面反射は電磁波
が天板に斜めに入射するときに顕著になり、材料の誘電
率が大きくなるほど、また、厚さが増すほど影響が大き
くなる。
が机上型ならば供試体用机の上に載置して、電磁波を照
射して試験を行っている。供試体用机は木製又はガラス
繊維強化プラスチックス製のものを使用していたが、数
十kg以上の供試体重量でも天板がたわまない強度にす
るためには、天板の厚みは約10mm以上の厚さのもの
が必要となる。ところが、IEC(国際電気標準会議)
等で規定する測定基準では、照射する電磁波の周波数は
20〜1000MHzにわたり、波長が短くなる数百M
Hz以上の周波数の電磁波では、天板による表面反射は
無視できない大きさとなる。とくに、表面反射は電磁波
が天板に斜めに入射するときに顕著になり、材料の誘電
率が大きくなるほど、また、厚さが増すほど影響が大き
くなる。
【0004】一方、厚みの薄い天板を棒状等の補強用部
材とともに用いて強度を保持することも考えられるが、
使用した補強用部材による電磁波の散乱が無視できない
大きさとなるのでその様なものを使用することはできな
い。また発泡ポリスチレン等の発泡体は、極めて電磁波
の反射が少ないため、供試体を載置する台に使用される
こともあるが、供試体の脚部等によって加えられる集中
荷重に耐えることができず、強度不足のため天板として
使用することができない。
材とともに用いて強度を保持することも考えられるが、
使用した補強用部材による電磁波の散乱が無視できない
大きさとなるのでその様なものを使用することはできな
い。また発泡ポリスチレン等の発泡体は、極めて電磁波
の反射が少ないため、供試体を載置する台に使用される
こともあるが、供試体の脚部等によって加えられる集中
荷重に耐えることができず、強度不足のため天板として
使用することができない。
【0005】また、電波暗室にて電磁波によるイミュニ
ティ試験を行う場合には、供試体用机が電波暗室内の電
磁界分布あるいは電界一様性を乱す原因のひとつである
ことが、不要電波問題対策協議会 平成3年度測定調査
報告書「電波無反射室における垂直面電磁界分布に関す
る調査」、あるいは (社)電子情報通信学会「信学技
報」、EMCJ92−36(1992−09)「放射電
磁界イミュニティ試験における一方法」等で報告されて
おり、電磁界分布あるいは電界一様性を乱さない供試体
用机が求められている。
ティ試験を行う場合には、供試体用机が電波暗室内の電
磁界分布あるいは電界一様性を乱す原因のひとつである
ことが、不要電波問題対策協議会 平成3年度測定調査
報告書「電波無反射室における垂直面電磁界分布に関す
る調査」、あるいは (社)電子情報通信学会「信学技
報」、EMCJ92−36(1992−09)「放射電
磁界イミュニティ試験における一方法」等で報告されて
おり、電磁界分布あるいは電界一様性を乱さない供試体
用机が求められている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、比較的重量
のある机上型の電子機器の試験が可能で、電波暗室内で
の電磁界分布あるいは電界一様性を乱すことがない電磁
波低反射机を提供することを課題とするものである。
のある机上型の電子機器の試験が可能で、電波暗室内で
の電磁界分布あるいは電界一様性を乱すことがない電磁
波低反射机を提供することを課題とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、机の天板がハ
ニカム状もしくは発泡体からなる絶縁体の上下を厚さ5
mm以下の絶縁層で積層した積層体から構成されている
電磁波低反射机である。
ニカム状もしくは発泡体からなる絶縁体の上下を厚さ5
mm以下の絶縁層で積層した積層体から構成されている
電磁波低反射机である。
【0008】また、机の天板と脚部が一体に成形された
ものである電磁波低反射机である。
ものである電磁波低反射机である。
【0009】
【作用】本発明の電磁波低反射机は、ハニカム構造体も
しくは発泡体からなる絶縁体の両面を厚みの薄い板状体
によって積層したので、強度が大きく天板面からの電磁
波の反射が少ないので、供試体からの放射電磁波あるい
は供試体への電磁波の影響を正確に測定することができ
る。
しくは発泡体からなる絶縁体の両面を厚みの薄い板状体
によって積層したので、強度が大きく天板面からの電磁
波の反射が少ないので、供試体からの放射電磁波あるい
は供試体への電磁波の影響を正確に測定することができ
る。
【0010】
【実施例】以下に本発明の実施例を示し、本発明を詳細
に説明する。図1に本発明の1実施例を示す。図1
(A)は天板の一部を切り欠いた平面図であり、図1
(B)は、その一部を切り欠いた断面を示す側面図であ
る。机の天板1は、ハニカム体2と上下の板状体3によ
って構成されている。図に示すように、ハニカムを使用
する場合には、絶縁体であれば各種の材料を使用するこ
とが可能であるが、紙製、あるいは各種の合成樹脂製の
ハニカム構造体を用いることができる。また、発泡体を
用いる場合には、ポリウレタン樹脂、ポリスチレン樹
脂、ポリ塩化ビニル、フェノール樹脂等の発泡体を用い
ることができる。
に説明する。図1に本発明の1実施例を示す。図1
(A)は天板の一部を切り欠いた平面図であり、図1
(B)は、その一部を切り欠いた断面を示す側面図であ
る。机の天板1は、ハニカム体2と上下の板状体3によ
って構成されている。図に示すように、ハニカムを使用
する場合には、絶縁体であれば各種の材料を使用するこ
とが可能であるが、紙製、あるいは各種の合成樹脂製の
ハニカム構造体を用いることができる。また、発泡体を
用いる場合には、ポリウレタン樹脂、ポリスチレン樹
脂、ポリ塩化ビニル、フェノール樹脂等の発泡体を用い
ることができる。
【0011】ハニカムもしくは発泡体の上下に積層する
板状の絶縁体には、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリエステル
樹脂からなる板状体あるいは、ポリエステル樹脂、フェ
ノール樹脂、エポキシ樹脂を用いたガラス繊維強化プラ
スチックス等を用いることができる。
板状の絶縁体には、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリエステル
樹脂からなる板状体あるいは、ポリエステル樹脂、フェ
ノール樹脂、エポキシ樹脂を用いたガラス繊維強化プラ
スチックス等を用いることができる。
【0012】天板に用いる板状体は、5mm以下である
ことが好ましく、1mm以下とすることがとくに好まし
く、5mmよりも厚くなると電磁波の反射が大きくな
る。また、ガラス繊維強化プラスチックスであれば、1
mmの厚さであっても、集中化荷重に耐えることがで
き、数10kg以上の机上型供試体に使用することがで
きるので、ガラス繊維強化プラスチックスを用いること
が好ましい。また、天板3と脚4は、天板部と脚部が一
体となった金型により一体成形で製作することにより、
天板の裏面等に補強部材を設けることなくさらに強度の
向上した電磁波低反射机を得ることができる。
ことが好ましく、1mm以下とすることがとくに好まし
く、5mmよりも厚くなると電磁波の反射が大きくな
る。また、ガラス繊維強化プラスチックスであれば、1
mmの厚さであっても、集中化荷重に耐えることがで
き、数10kg以上の机上型供試体に使用することがで
きるので、ガラス繊維強化プラスチックスを用いること
が好ましい。また、天板3と脚4は、天板部と脚部が一
体となった金型により一体成形で製作することにより、
天板の裏面等に補強部材を設けることなくさらに強度の
向上した電磁波低反射机を得ることができる。
【0013】実施例1 厚さ38mm、ハニカムの平行な辺の間隔が9mmのク
ラフト紙を使用した密度31kg/m3 の紙ハニカム材
(昭和飛行機工業株式会社製 パピコア 9−G−3
0)の両面に厚さ1mmの板状体が積層され、断面が1
00mm×100mmの脚を一体にポリエステル樹脂か
らなる繊維強化プラスチックスを使用して成形した天板
の大きさが縦1000mm、横1500mmであり、高
さ800mmの電磁波低反射机を製造し、45MHzか
ら1.045GHzまでの電磁波反射特性を測定し、そ
の結果を図2の(A)で示す。イミュニティ試験の上限
周波数である1GHzまで−20dB以下という良好な
反射特性を示しており、天板の耐荷重も100kg以上
であった。イミュニティ試験用電波暗室に本発明の電磁
波低反射机を配置した場合の電界分布特性は、図3に示
される。図3において、横軸には、測定周波数、縦軸は
電界強度を示しており、イミュニティ試験の国際規格で
あるIEC 801−3DRAFT−5にて規定されて
いる16の測定点での200MHzから1000MHz
の範囲の測定結果を16本の曲線で示している。12以
上の測定点で6dB以内であり、本発明の電磁波低反射
机が電波暗室内の電界分布を乱さず非常に良好な特性を
有している。
ラフト紙を使用した密度31kg/m3 の紙ハニカム材
(昭和飛行機工業株式会社製 パピコア 9−G−3
0)の両面に厚さ1mmの板状体が積層され、断面が1
00mm×100mmの脚を一体にポリエステル樹脂か
らなる繊維強化プラスチックスを使用して成形した天板
の大きさが縦1000mm、横1500mmであり、高
さ800mmの電磁波低反射机を製造し、45MHzか
ら1.045GHzまでの電磁波反射特性を測定し、そ
の結果を図2の(A)で示す。イミュニティ試験の上限
周波数である1GHzまで−20dB以下という良好な
反射特性を示しており、天板の耐荷重も100kg以上
であった。イミュニティ試験用電波暗室に本発明の電磁
波低反射机を配置した場合の電界分布特性は、図3に示
される。図3において、横軸には、測定周波数、縦軸は
電界強度を示しており、イミュニティ試験の国際規格で
あるIEC 801−3DRAFT−5にて規定されて
いる16の測定点での200MHzから1000MHz
の範囲の測定結果を16本の曲線で示している。12以
上の測定点で6dB以内であり、本発明の電磁波低反射
机が電波暗室内の電界分布を乱さず非常に良好な特性を
有している。
【0014】比較例 天板を10mm、15mm、20mmの厚さの異なる合
板に変えた点以外は実施例1と同様の机を製造し、実施
例1と同様に測定し、その結果を図2に、それぞれ
(B)、(C)、(D)として示す。
板に変えた点以外は実施例1と同様の机を製造し、実施
例1と同様に測定し、その結果を図2に、それぞれ
(B)、(C)、(D)として示す。
【0015】
【発明の効果】本発明の電磁波低反射机は、机上型の供
試体のイミュニティ試験において、供試体用机が電波暗
室内の電界分布を乱さないため、試験の再現性の向上に
役立ち試験時間の短縮化が図れる。また机上型の供試体
のEMI測定においては、供試体から放射されるノイズ
の机による不要な反射がないため、測定値の正確化が図
れる。
試体のイミュニティ試験において、供試体用机が電波暗
室内の電界分布を乱さないため、試験の再現性の向上に
役立ち試験時間の短縮化が図れる。また机上型の供試体
のEMI測定においては、供試体から放射されるノイズ
の机による不要な反射がないため、測定値の正確化が図
れる。
【図1】本発明の1実施例を説明する図である。
【図2】本発明の電磁波低反射机の電磁波の反射特性を
説明する図である。
説明する図である。
【図3】本発明の電磁波低反射机を設置した電波暗室内
での電界分布を説明する図である。
での電界分布を説明する図である。
1…天板、2…ハニカム体、3…板状体、4…脚
Claims (2)
- 【請求項1】 電磁波低反射机において、机の天板部が
ハニカム状もしくは発泡体からなる絶縁体の上下を厚さ
5mm以下の絶縁層で積層した積層体から構成されてい
ることを特徴とする電磁波低反射机。 - 【請求項2】 机の天板と脚部が一体に成形されたもの
であることを特徴とする請求項1記載の電磁波低反射
机。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6327794A JPH07270468A (ja) | 1994-03-31 | 1994-03-31 | 電磁波低反射机 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6327794A JPH07270468A (ja) | 1994-03-31 | 1994-03-31 | 電磁波低反射机 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07270468A true JPH07270468A (ja) | 1995-10-20 |
Family
ID=13224665
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6327794A Pending JPH07270468A (ja) | 1994-03-31 | 1994-03-31 | 電磁波低反射机 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07270468A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010243260A (ja) * | 2009-04-02 | 2010-10-28 | Tdk Corp | 供試体用電磁波低反射机 |
| CN102830293A (zh) * | 2012-08-27 | 2012-12-19 | 北京无线电计量测试研究所 | 快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法及系统 |
-
1994
- 1994-03-31 JP JP6327794A patent/JPH07270468A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010243260A (ja) * | 2009-04-02 | 2010-10-28 | Tdk Corp | 供試体用電磁波低反射机 |
| CN102830293A (zh) * | 2012-08-27 | 2012-12-19 | 北京无线电计量测试研究所 | 快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法及系统 |
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