JPH07273275A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH07273275A JPH07273275A JP6059023A JP5902394A JPH07273275A JP H07273275 A JPH07273275 A JP H07273275A JP 6059023 A JP6059023 A JP 6059023A JP 5902394 A JP5902394 A JP 5902394A JP H07273275 A JPH07273275 A JP H07273275A
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- JP
- Japan
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- semiconductor element
- substrate
- semiconductor
- adhesive
- semiconductor device
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/874—On different surfaces
- H10W72/884—Die-attach connectors and bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/721—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors
- H10W90/724—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
-
- H—ELECTRICITY
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-
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/754—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 複数の半導体素子を搭載するハイブリッドパ
ッケージ型の半導体装置における実装密度を向上させて
小型化を図る。 【構成】 第1、第2の半導体素子を接着剤により互い
に背中合わせに接合し、前記第1の半導体素子の接続端
子を基板上の第1のリードに圧着し、前記第2の半導体
体素子の接続端子と前記基板上の第2のリードとをボン
ディングワイヤで接続したものとして構成されている。
ッケージ型の半導体装置における実装密度を向上させて
小型化を図る。 【構成】 第1、第2の半導体素子を接着剤により互い
に背中合わせに接合し、前記第1の半導体素子の接続端
子を基板上の第1のリードに圧着し、前記第2の半導体
体素子の接続端子と前記基板上の第2のリードとをボン
ディングワイヤで接続したものとして構成されている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、複数の半導体素子を有
する半導体装置に関する。
する半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】1つのパッケージ内に複数の半導体素子
(チップ)を搭載するハイブリットパッケージ型半導体
装置は、複数の半導体素子を基板上に横に並べたものと
して構成されている。各々の半導体素子と基板上のリー
ドとはワイヤを介して接続されている。つまり、図3に
示すように、基板1上に所定の間隔で平面的に半導体素
子2、2が配設されている。半導体素子2上のパッド
(端子)2a、2a、…はボンディングワイヤ3、3、
…を介して対応するリード1a、1a,…に接続されて
いる。
(チップ)を搭載するハイブリットパッケージ型半導体
装置は、複数の半導体素子を基板上に横に並べたものと
して構成されている。各々の半導体素子と基板上のリー
ドとはワイヤを介して接続されている。つまり、図3に
示すように、基板1上に所定の間隔で平面的に半導体素
子2、2が配設されている。半導体素子2上のパッド
(端子)2a、2a、…はボンディングワイヤ3、3、
…を介して対応するリード1a、1a,…に接続されて
いる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来のハイブリットパ
ッケージにおいては、上記のように、複数の半導体素子
を平面的に並べているため、パッケージが平面的に大き
くなり、実装密度が小さくなるという欠点があった。
ッケージにおいては、上記のように、複数の半導体素子
を平面的に並べているため、パッケージが平面的に大き
くなり、実装密度が小さくなるという欠点があった。
【0004】本発明は、上記に鑑みてされたもので、そ
の目的は、複数の半導体素子を搭載するハイブリッドパ
ッケージ型の半導体装置における実装密度を向上させて
小型化を図ることにある。
の目的は、複数の半導体素子を搭載するハイブリッドパ
ッケージ型の半導体装置における実装密度を向上させて
小型化を図ることにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】第1の発明は、第1、第
2の半導体素子を接着剤により互いに背中合わせに接合
し、前記第1の半導体素子の接続端子を基板上の第1の
リードに圧着し、前記第2の半導体体素子の接続端子と
前記基板上の第2のリードとをボンディングワイヤで接
続したものとして構成されている。
2の半導体素子を接着剤により互いに背中合わせに接合
し、前記第1の半導体素子の接続端子を基板上の第1の
リードに圧着し、前記第2の半導体体素子の接続端子と
前記基板上の第2のリードとをボンディングワイヤで接
続したものとして構成されている。
【0006】第2の発明は、第1の発明において、前記
接着剤としてエポキシ樹脂等の絶縁性の接着剤を用いた
ものとして構成されている。
接着剤としてエポキシ樹脂等の絶縁性の接着剤を用いた
ものとして構成されている。
【0007】第3の発明は、第1の発明において、前記
接着剤として半田又は銀等の導電性材料を有する導電性
の接着剤を用いたものとして構成されている。
接着剤として半田又は銀等の導電性材料を有する導電性
の接着剤を用いたものとして構成されている。
【0008】
【作用】2つの半導体素子は、それらが基板上に横に配
列されることなく、互いに積み重ねられた状態にして基
板上に載置される。これにより、2つの半導体素子は基
板上の小さな面積に取り付けられる。
列されることなく、互いに積み重ねられた状態にして基
板上に載置される。これにより、2つの半導体素子は基
板上の小さな面積に取り付けられる。
【0009】
【実施例】図1は、TABテープ11上に2つの半導体
素子(チップ)を背中合わせに接合した半導体素子組立
体12を圧着し、その後、ワイヤボンディングした半導
体装置を示す。図2は図1の半導体装置の組み立ての概
念を示す説明図であるこの図2からわかるように、TA
Bテープ11の1こま分は次のように構成されている。
即ち、TABテープ11における絶縁材製のTAB基板
13はほぼ中央部分に半導体素子組立体12を収納する
ための収納空間13Aが凹成されている。TAB基板1
3の空間13Aにおける底面部分上に、TABインナー
リード14、14、…が周辺から内側に向かって延びた
形に形成されている。これらのインナーリード14、1
4、…上にはポリイミドテープ15、15、…が設けら
れ、これらのテープ15、15、…はTAB基板13の
上側の上面に達している。これらのテープ15の上端
は、TAB基板13上に設けられたリード16、16、
…の先端を絶縁状態に支持している。
素子(チップ)を背中合わせに接合した半導体素子組立
体12を圧着し、その後、ワイヤボンディングした半導
体装置を示す。図2は図1の半導体装置の組み立ての概
念を示す説明図であるこの図2からわかるように、TA
Bテープ11の1こま分は次のように構成されている。
即ち、TABテープ11における絶縁材製のTAB基板
13はほぼ中央部分に半導体素子組立体12を収納する
ための収納空間13Aが凹成されている。TAB基板1
3の空間13Aにおける底面部分上に、TABインナー
リード14、14、…が周辺から内側に向かって延びた
形に形成されている。これらのインナーリード14、1
4、…上にはポリイミドテープ15、15、…が設けら
れ、これらのテープ15、15、…はTAB基板13の
上側の上面に達している。これらのテープ15の上端
は、TAB基板13上に設けられたリード16、16、
…の先端を絶縁状態に支持している。
【0010】このように構成されたTABテープ11の
1こま分の上に取り付けられる半導体素子組立体12
は、第1の半導体素子21と第2の半導体素子22の裏
面同士を、接着剤23によって接着したものである。こ
の接着剤23としては、2つの半導体素子21、22の
半導体素子同士、つまり半導体基板同士の導通を取る必
要があるときは半田又は銀を主成分としたペーストを用
い、導通をとる必要のない絶縁時にはエポキシ樹脂等の
絶縁性の接着剤を用いる。これらの第1、第2の半導体
素子21、22には、その表面に、パッド21a、21
a、…;22a、22a、…がそれぞれ形成されてい
る。
1こま分の上に取り付けられる半導体素子組立体12
は、第1の半導体素子21と第2の半導体素子22の裏
面同士を、接着剤23によって接着したものである。こ
の接着剤23としては、2つの半導体素子21、22の
半導体素子同士、つまり半導体基板同士の導通を取る必
要があるときは半田又は銀を主成分としたペーストを用
い、導通をとる必要のない絶縁時にはエポキシ樹脂等の
絶縁性の接着剤を用いる。これらの第1、第2の半導体
素子21、22には、その表面に、パッド21a、21
a、…;22a、22a、…がそれぞれ形成されてい
る。
【0011】上記のように構成した半導体素子組立体1
2は、図2からわかるように、TABテープ11の1こ
ま分上に次のようにして取り付けられる。即ち、半導体
素子組立体12をTABテープ11の所期の位置に合わ
せる。この半導体素子組立体12を、バンプ24、2
4、…を介して、TABテープ11のインナーリード1
4、14、…上に圧着する。この後、ワイヤボンディン
グを行い、上側の第1の半導体素子のパッド21a、2
1a、…と、TABテープ11のリード16、16、…
とをボンディングワイヤ25、25、…で接続する。こ
れにより、図1の半導体装置が得られる。
2は、図2からわかるように、TABテープ11の1こ
ま分上に次のようにして取り付けられる。即ち、半導体
素子組立体12をTABテープ11の所期の位置に合わ
せる。この半導体素子組立体12を、バンプ24、2
4、…を介して、TABテープ11のインナーリード1
4、14、…上に圧着する。この後、ワイヤボンディン
グを行い、上側の第1の半導体素子のパッド21a、2
1a、…と、TABテープ11のリード16、16、…
とをボンディングワイヤ25、25、…で接続する。こ
れにより、図1の半導体装置が得られる。
【0012】本発明の実施例によれば、2つの半導体素
子を、外部との接続端子のない面を互いに向かい合わせ
に貼り合わせることによって一体型のものとして、基板
に載着するようにしたので、半導体装置の実装密度を向
上させ、パッケージを小型化することができる。また、
TAB基板に凹成した部分に半導体素子組立体を配設す
るようにしたので、上側の半導体素子がTAB基板から
浮かび上がる高さを従来のものと同じ高さにすることが
できる。よって、ワイヤボンディングについてみれば、
従来と同様に行うことができる。
子を、外部との接続端子のない面を互いに向かい合わせ
に貼り合わせることによって一体型のものとして、基板
に載着するようにしたので、半導体装置の実装密度を向
上させ、パッケージを小型化することができる。また、
TAB基板に凹成した部分に半導体素子組立体を配設す
るようにしたので、上側の半導体素子がTAB基板から
浮かび上がる高さを従来のものと同じ高さにすることが
できる。よって、ワイヤボンディングについてみれば、
従来と同様に行うことができる。
【0013】
【発明の効果】本発明よれば、2つの半導体素子を、互
いに背中合わせに接合した一体型のものとして基板に載
着するようにしたので、半導体装置の実装密度を向上さ
せ、パッケージ(製品)を小型化することができる。
いに背中合わせに接合した一体型のものとして基板に載
着するようにしたので、半導体装置の実装密度を向上さ
せ、パッケージ(製品)を小型化することができる。
【図1】本発明の一実施例の側面図。
【図2】図1の実施例の組み立て過程を説明するための
各部材の分離状態の側面図。
各部材の分離状態の側面図。
【図3】従来例の側面図。
1 基板 1a 基板リード 2、21、22 半導体素子 2a,21a,22a パッド 3、25 ボンディングワイヤ 11 TABテープ 12 半導体素子組立体 13 TAB基板 14 インナーリード 15 ポリイミドテープ 16 リード 23 接着剤 24 バンプ
Claims (3)
- 【請求項1】第1、第2の半導体素子を接着剤により互
いに背中合わせに接合し、前記第1の半導体素子の接続
端子を基板上の第1のリードに圧着し、前記第2の半導
体体素子の接続端子と前記基板上の第2のリードとをボ
ンディングワイヤで接続したことを特徴とする半導体装
置。 - 【請求項2】前記接着剤としてエポキシ樹脂等の絶縁性
の接着剤を用いたことを特徴とする請求項1記載の半導
体装置。 - 【請求項3】前記接着剤として半田又は銀等の導電性材
料を有する導電性の接着剤を用いたことを特徴とする請
求項1記載の半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6059023A JPH07273275A (ja) | 1994-03-29 | 1994-03-29 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6059023A JPH07273275A (ja) | 1994-03-29 | 1994-03-29 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07273275A true JPH07273275A (ja) | 1995-10-20 |
Family
ID=13101284
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6059023A Pending JPH07273275A (ja) | 1994-03-29 | 1994-03-29 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07273275A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000022676A1 (fr) * | 1998-10-14 | 2000-04-20 | Hitachi, Ltd. | Dispositif a semi-conducteur et procede de fabrication dudit dispositif |
| JP2001035994A (ja) * | 1999-07-15 | 2001-02-09 | Toshiba Corp | 半導体集積回路装置およびシステム基板 |
| JP2008522397A (ja) * | 2004-11-26 | 2008-06-26 | イムベラ エレクトロニクス オサケユキチュア | 電子モジュール及びその製造方法 |
| JP2010129816A (ja) * | 2008-11-28 | 2010-06-10 | Lintec Corp | 半導体チップ積層体および半導体チップ積層用接着剤組成物 |
-
1994
- 1994-03-29 JP JP6059023A patent/JPH07273275A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000022676A1 (fr) * | 1998-10-14 | 2000-04-20 | Hitachi, Ltd. | Dispositif a semi-conducteur et procede de fabrication dudit dispositif |
| US6552437B1 (en) | 1998-10-14 | 2003-04-22 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device and method of manufacture thereof |
| US6750080B2 (en) | 1998-10-14 | 2004-06-15 | Renesas Technology Corp. | Semiconductor device and process for manufacturing the same |
| JP2001035994A (ja) * | 1999-07-15 | 2001-02-09 | Toshiba Corp | 半導体集積回路装置およびシステム基板 |
| JP2008522397A (ja) * | 2004-11-26 | 2008-06-26 | イムベラ エレクトロニクス オサケユキチュア | 電子モジュール及びその製造方法 |
| JP2010129816A (ja) * | 2008-11-28 | 2010-06-10 | Lintec Corp | 半導体チップ積層体および半導体チップ積層用接着剤組成物 |
| KR101105470B1 (ko) * | 2008-11-28 | 2012-01-13 | 린텍 가부시키가이샤 | 반도체 칩 적층체 및 반도체 칩 적층용 접착제 조성물 |
| US8716401B2 (en) | 2008-11-28 | 2014-05-06 | Lintec Corporation | Semiconductor chip laminate and adhesive composition for semiconductor chip lamination |
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