JPH0727541B2 - 光学文字読取方法 - Google Patents
光学文字読取方法Info
- Publication number
- JPH0727541B2 JPH0727541B2 JP60137727A JP13772785A JPH0727541B2 JP H0727541 B2 JPH0727541 B2 JP H0727541B2 JP 60137727 A JP60137727 A JP 60137727A JP 13772785 A JP13772785 A JP 13772785A JP H0727541 B2 JPH0727541 B2 JP H0727541B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は光学文字読取装置に係わり、特に印字位置ずれ
の大きい文字の読取りに好適な読取方法に関する。
の大きい文字の読取りに好適な読取方法に関する。
従来の装置において、印字装置等で印字された帳票の文
字を読取る場合、印字装置による印字ずれや、帳票のカ
ット精度による誤差が存在するため、特にフィールドと
フィールドの間隔が小さい場合、あるいはスペースを読
取る場合、桁ずれを防止するため印字位置誤差を少なく
とも記入ピッチの１／２以下にする必要がある。ところ
が一般に、前記印字位置ずれが、前記値以下となる印字
装置は少なく、前記のようなフィールドを読取るために
は、印字位置ずれを検出して、位置を補正する必要があ
る。
字を読取る場合、印字装置による印字ずれや、帳票のカ
ット精度による誤差が存在するため、特にフィールドと
フィールドの間隔が小さい場合、あるいはスペースを読
取る場合、桁ずれを防止するため印字位置誤差を少なく
とも記入ピッチの１／２以下にする必要がある。ところ
が一般に、前記印字位置ずれが、前記値以下となる印字
装置は少なく、前記のようなフィールドを読取るために
は、印字位置ずれを検出して、位置を補正する必要があ
る。
この種の装置としては、特開昭59−206987号および特開
昭59−206989号に記載の装置が挙げられるが、いずれの
場合も、基準とするフィールド内にスペースを含まない
ことを前提としているため、適用できる帳票が限定され
るという問題がある。また一般的な印字字体として使用
されているOCRBフオントの文字“1"や“J"のように文字
パターンの中心と印字の中心が一致せずオフセットが存
在する場合、オフセット量を考慮して印字位置を求める
ことが必要であるが、この問題が考慮されていない。
昭59−206989号に記載の装置が挙げられるが、いずれの
場合も、基準とするフィールド内にスペースを含まない
ことを前提としているため、適用できる帳票が限定され
るという問題がある。また一般的な印字字体として使用
されているOCRBフオントの文字“1"や“J"のように文字
パターンの中心と印字の中心が一致せずオフセットが存
在する場合、オフセット量を考慮して印字位置を求める
ことが必要であるが、この問題が考慮されていない。
本発明の目的は、前記問題点を排除し、より多様な帳票
を印字ずれや帳票の誤差、帳票搬送時における変動等に
影響されることなく読取る方法を提供することにある。
を印字ずれや帳票の誤差、帳票搬送時における変動等に
影響されることなく読取る方法を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明においては、帳票に印
字される文字は、その大部分が記入フィールドに対し、
右寄せあるいは左寄せされて印字されることに着目し、
フィールド端の文字位置を基準としてフィールド位置を
求めることにより、スペースを含むフィールドにおいて
もフィールドの位置を検出することを可能とすると共
に、文字位置を求める際、対応する文字の認識結果を参
照し、文字パターン中心と文字位置のオフセット量の補
正を行なうことで文字位置を正確に検出することを特徴
とする。〔発明の実施例〕 以下、本発明の一実施例について説明する。第１図は本
発明の一実施例による光学文字読取装置の構成ブロック
図である。
字される文字は、その大部分が記入フィールドに対し、
右寄せあるいは左寄せされて印字されることに着目し、
フィールド端の文字位置を基準としてフィールド位置を
求めることにより、スペースを含むフィールドにおいて
もフィールドの位置を検出することを可能とすると共
に、文字位置を求める際、対応する文字の認識結果を参
照し、文字パターン中心と文字位置のオフセット量の補
正を行なうことで文字位置を正確に検出することを特徴
とする。〔発明の実施例〕 以下、本発明の一実施例について説明する。第１図は本
発明の一実施例による光学文字読取装置の構成ブロック
図である。
第１図において１は搬送ローラーを含む帳票搬送機構、
２は帳票、３は発光源、４は受光素子、５は二値化回
路、６は記憶回路、７は切出し認識部でありマイクロプ
ロセッサにより構成される。８は辞書ファイル、９は利
用装置である。
２は帳票、３は発光源、４は受光素子、５は二値化回
路、６は記憶回路、７は切出し認識部でありマイクロプ
ロセッサにより構成される。８は辞書ファイル、９は利
用装置である。
帳票２は帳票搬送機構１により発行源３および受光素子
からなる読取部に搬送され、発光源３により光学的に走
査される。この走査により帳票２上の印字文字パターン
の反射光は受光素子４に入射され、受光素子４は順次入
射されるパターンを電気信号に変換し出力する。受光素
子４としては一次元半導体CCDセンサ等が使用される。
二値化回路５は受光素子４からの出力信号を所定の閾値
により“0",“1"の二値信号として記憶回路６に出力す
る。記憶回路６は帳票上のパターンを“0",“1"の二値
信号として記憶するもので、半導体メモリ等が使用され
る。切出し認識部７は記憶回路６の文字パターンを一文
字毎切出し、切出した文字パターンを辞書ファイル８の
帳票パターンと比較し、一致のとれた標準パターンを認
識結果として外部記憶装置や、中央処理装置等の利用装
置９に出力するとともに読取りの制御を行なう。
からなる読取部に搬送され、発光源３により光学的に走
査される。この走査により帳票２上の印字文字パターン
の反射光は受光素子４に入射され、受光素子４は順次入
射されるパターンを電気信号に変換し出力する。受光素
子４としては一次元半導体CCDセンサ等が使用される。
二値化回路５は受光素子４からの出力信号を所定の閾値
により“0",“1"の二値信号として記憶回路６に出力す
る。記憶回路６は帳票上のパターンを“0",“1"の二値
信号として記憶するもので、半導体メモリ等が使用され
る。切出し認識部７は記憶回路６の文字パターンを一文
字毎切出し、切出した文字パターンを辞書ファイル８の
帳票パターンと比較し、一致のとれた標準パターンを認
識結果として外部記憶装置や、中央処理装置等の利用装
置９に出力するとともに読取りの制御を行なう。
本実施例による光学文字読取装置は帳票のフィールドに
記入された文字をフィールド単位に読取るものであり、
帳票内に少なくとも１つの右または左寄せして印写した
フィールドを含むものとする。例えば日付等を印字した
フィールド等がそうである。右または左寄せして印字し
たフィールドか否かはフォーマット情報により指定す
る。
記入された文字をフィールド単位に読取るものであり、
帳票内に少なくとも１つの右または左寄せして印写した
フィールドを含むものとする。例えば日付等を印字した
フィールド等がそうである。右または左寄せして印字し
たフィールドか否かはフォーマット情報により指定す
る。
第２図は本発明の一実施例による切出し認識部７におけ
る読取動作のフローを示し、第３図はフィールド位置誤
差算出の一例を示す図である。
る読取動作のフローを示し、第３図はフィールド位置誤
差算出の一例を示す図である。
まず通常フィールドにおける読取動作を第２図を参照し
て説明する。文字を認識するためには、文字を一文字毎
切出す必要があるが、文字の切出しは、フィールドの左
右端座標（Xs,Xe）を基準に行なう、フィールド左右端
の位置は、フォーマット情報として指定されるが、印字
位置ずれがフィールド位置誤差として検出されていれ
ば、指定されたフィールド左右端座標を印字位置に合わ
せるため、フィールド位置誤差で補正する（100）。補
正は次式で行なう。
て説明する。文字を認識するためには、文字を一文字毎
切出す必要があるが、文字の切出しは、フィールドの左
右端座標（Xs,Xe）を基準に行なう、フィールド左右端
の位置は、フォーマット情報として指定されるが、印字
位置ずれがフィールド位置誤差として検出されていれ
ば、指定されたフィールド左右端座標を印字位置に合わ
せるため、フィールド位置誤差で補正する（100）。補
正は次式で行なう。
Xs＝Xso＋ΔX,Xe＝Xeo＋ΔＸ ここでXso,Xeoはフォーマット情報で指定されたフィー
ルドの左右端座標、ΔＸはフィールド位置誤差である。
フィールド位置誤差が未検出の場合はΔＸ＝ｏとして計
算する。つづいて補正したフィールド左右座標を基準に
文字を一文字単位に切出し、切出したパターンと辞書メ
モリ８内の標準パターンとのマッチングにより文字の認
識を行なう。認識結果は一時的にマイクロプロセッサ内
のメモリに格納する（110）。通常フィールドの場合、
フィールド位置誤差の算出を実行せず、次のフィールド
の読取りを行なう（120,150,160）。
ルドの左右端座標、ΔＸはフィールド位置誤差である。
フィールド位置誤差が未検出の場合はΔＸ＝ｏとして計
算する。つづいて補正したフィールド左右座標を基準に
文字を一文字単位に切出し、切出したパターンと辞書メ
モリ８内の標準パターンとのマッチングにより文字の認
識を行なう。認識結果は一時的にマイクロプロセッサ内
のメモリに格納する（110）。通常フィールドの場合、
フィールド位置誤差の算出を実行せず、次のフィールド
の読取りを行なう（120,150,160）。
次に右または左寄せして印字したフィールドの場合の読
取動作について同じく第２図を参照して説明する。
取動作について同じく第２図を参照して説明する。
第２図において右または左寄せして印字したフィールド
の場合も通常フィールドと同様フィールド左右端座標の
補正を行ない（100）、文字切出し認識処理を行なう（1
10）。ただし右または左寄せして印字したフィールドの
場合、フィールド位置誤差算出のため、第３図の例に示
すように、文字パターン中心座標x1，x2，x3，および文
字切出し基準座標X1，X2，X3，さらに左端文字基準座標
Xlあるいは右端文字基準座標Xrを認識結果に対応させて
一時点にメモリ内に格納する。
の場合も通常フィールドと同様フィールド左右端座標の
補正を行ない（100）、文字切出し認識処理を行なう（1
10）。ただし右または左寄せして印字したフィールドの
場合、フィールド位置誤差算出のため、第３図の例に示
すように、文字パターン中心座標x1，x2，x3，および文
字切出し基準座標X1，X2，X3，さらに左端文字基準座標
Xlあるいは右端文字基準座標Xrを認識結果に対応させて
一時点にメモリ内に格納する。
つづいて、フィールド位置誤差を算出するため印字位置
を算出する（120,130）。印字位置は印字字体が左右対
称な文字なら文字パターン中心座標と同一であるが非対
称な場合同一でない場合がある。同一でない場合の例と
して例えばOCR用印字文字として一般に使用されているO
CRBフオントの文字“1"や“J"の例がある。このような
場合フォーマット情報として指定された字体と認識結果
をもとに文字パターン中心位置から印字位置を求める。
第３図の例においては、x1，x2，x3がそのまま印字位置
になる。
を算出する（120,130）。印字位置は印字字体が左右対
称な文字なら文字パターン中心座標と同一であるが非対
称な場合同一でない場合がある。同一でない場合の例と
して例えばOCR用印字文字として一般に使用されているO
CRBフオントの文字“1"や“J"の例がある。このような
場合フォーマット情報として指定された字体と認識結果
をもとに文字パターン中心位置から印字位置を求める。
第３図の例においては、x1，x2，x3がそのまま印字位置
になる。
さらに印字位置を求めたなら、フィールド位置誤差（Δ
Ｘ）を次式にて求める（140）。
Ｘ）を次式にて求める（140）。
ΔＸ＝x1−Xl （１），またはΔＸ＝xn−Xr（２） （１）式は左寄せ印字のフィールドの場合に、（２）式
は右寄せ印字のフィールドの場合に適用する。ここでx1
は左端文字の印字位置、xnは右端文字の印字位置を示
す。（１）または（２）式はフィールドの左端または右
端文字の印字位置からフィールド位置誤差を求める場合
の算出式であるが、印字された文字がフォーマット情報
で指定されたピッチとほぼ同間隔（Ｐ）で印字される場
合左端または右端以外の文字の印字位置を考慮すること
によりさらに高い精度でフィールド位置誤差を求めるこ
とも可能である。この場合の式を（３）および（４）に
示す。（３）式は左寄せ印字のフィールドに、（４）は
右寄せ印字のフィールドに適用できる。
は右寄せ印字のフィールドの場合に適用する。ここでx1
は左端文字の印字位置、xnは右端文字の印字位置を示
す。（１）または（２）式はフィールドの左端または右
端文字の印字位置からフィールド位置誤差を求める場合
の算出式であるが、印字された文字がフォーマット情報
で指定されたピッチとほぼ同間隔（Ｐ）で印字される場
合左端または右端以外の文字の印字位置を考慮すること
によりさらに高い精度でフィールド位置誤差を求めるこ
とも可能である。この場合の式を（３）および（４）に
示す。（３）式は左寄せ印字のフィールドに、（４）は
右寄せ印字のフィールドに適用できる。
または ここでｎはフィールド内の文字数を示す。
つぎに求めた、フィールド位置誤差が規定値K1よりも大
きければ、再読取りを行なう（150）。規定値K1は桁ず
れを発生させない値に設定する。再読取りの場合、先に
検出したフィールド位置誤差によりフィールド位置補正
を行ない、通常フィールドと同様に切出し認識処理を実
行し、フィールド位置誤差算出は行なわない。またすで
に当該フィールドより以前にフィールド位置誤差が検出
されている場合すでに検出したフィールド位置誤差（Δ
Xi-1）と新たに求めた誤差ΔXiを加算し新たなフィール
ド位置誤差（ΔXi）とする。ここでフィールド位置誤差
は正負の符号をもつ値とし、符号が正ならが読取ったフ
ィールドの位置が右側に、負ならば左側にずれているも
のとする。
きければ、再読取りを行なう（150）。規定値K1は桁ず
れを発生させない値に設定する。再読取りの場合、先に
検出したフィールド位置誤差によりフィールド位置補正
を行ない、通常フィールドと同様に切出し認識処理を実
行し、フィールド位置誤差算出は行なわない。またすで
に当該フィールドより以前にフィールド位置誤差が検出
されている場合すでに検出したフィールド位置誤差（Δ
Xi-1）と新たに求めた誤差ΔXiを加算し新たなフィール
ド位置誤差（ΔXi）とする。ここでフィールド位置誤差
は正負の符号をもつ値とし、符号が正ならが読取ったフ
ィールドの位置が右側に、負ならば左側にずれているも
のとする。
この様に本実施例によれば、印字装置で印字された帳票
において印字されたフィールドの大部分が右または左寄
せされて印字されるため、大多数の帳票を印字ずれや、
帳票のカット誤差に影響されることなく読取ることがで
きるため、特にフィールドの境界に文字の存在しないク
リアエリアの確保されていない一般の伝票の読取りに有
効である。
において印字されたフィールドの大部分が右または左寄
せされて印字されるため、大多数の帳票を印字ずれや、
帳票のカット誤差に影響されることなく読取ることがで
きるため、特にフィールドの境界に文字の存在しないク
リアエリアの確保されていない一般の伝票の読取りに有
効である。
以上本発明によれば、右または左寄せして印字したフィ
ールドなら、フィールド位置誤差の検出がフィールド内
にスペースがあるか否かにかかわらず可能であり、また
字体が非対称で印字中心と文字パターン中心が一致しな
い文字が印字されても正確に文字位置の検出が可能であ
るので、印字ずれの大きい帳票や、フィールド境界にク
リアエリアの確保されていない帳票を桁ずれすることな
く正確に読取ることができる。さらに複数のフィールド
でフィールド位置誤差を求めることにより、帳票搬送機
構の変動による文字切出しの誤差をも補正できる効果が
ある。
ールドなら、フィールド位置誤差の検出がフィールド内
にスペースがあるか否かにかかわらず可能であり、また
字体が非対称で印字中心と文字パターン中心が一致しな
い文字が印字されても正確に文字位置の検出が可能であ
るので、印字ずれの大きい帳票や、フィールド境界にク
リアエリアの確保されていない帳票を桁ずれすることな
く正確に読取ることができる。さらに複数のフィールド
でフィールド位置誤差を求めることにより、帳票搬送機
構の変動による文字切出しの誤差をも補正できる効果が
ある。
第１図は本発明の一実施例による光学文字読取装置の構
成ブロツク図、第２図は読取動作のフローチャート、第
３図はフィールド位置誤差算出の一例を示す図である。 １…帳票搬送機構、２…帳票、３…発光源、４…受光素
子、５…二値化回路、６…記憶回路、７…マイクロプロ
セッサ、８…辞書ファイル、９…利用装置。
成ブロツク図、第２図は読取動作のフローチャート、第
３図はフィールド位置誤差算出の一例を示す図である。 １…帳票搬送機構、２…帳票、３…発光源、４…受光素
子、５…二値化回路、６…記憶回路、７…マイクロプロ
セッサ、８…辞書ファイル、９…利用装置。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭57−50076（ＪＰ，Ａ) 特公 平３−40430（ＪＰ，Ｂ２) 特公 昭61−36680（ＪＰ，Ｂ２)
Claims (1)
- 【請求項１】予め指定されたフィールドに右または左寄
せして印字された文字列を有する帳票に対して、 前記文字列の端にある文字を検出して前記フィールドの
位置を補正し、該文字列の端にある文字の認識処理を行
い、 前記文字列の端にある文字の文字パターンの中心と該文
字の印字の中心が異なる文字であるときは、前記認識処
理に係る印字の位置とのオフセット量を補正して該文字
の印字位置を検出し、 前記文字列の端にある文字の文字パターンの中心と該文
字の印字の中心が一致する文字であるときは、オフセッ
ト量での補正を行わずに該文字の印字位置を検出し、 前記検出された文字の印字位置と、前記修正されたフィ
ールドの位置から誤差を求めることを特徴とする光学文
字読取方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60137727A JPH0727541B2 (ja) | 1985-06-26 | 1985-06-26 | 光学文字読取方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60137727A JPH0727541B2 (ja) | 1985-06-26 | 1985-06-26 | 光学文字読取方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61296484A JPS61296484A (ja) | 1986-12-27 |
| JPH0727541B2 true JPH0727541B2 (ja) | 1995-03-29 |
Family
ID=15205414
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60137727A Expired - Lifetime JPH0727541B2 (ja) | 1985-06-26 | 1985-06-26 | 光学文字読取方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0727541B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6419488A (en) * | 1987-07-15 | 1989-01-23 | Nec Corp | Type recognizing device |
| JP4585837B2 (ja) * | 2004-11-24 | 2010-11-24 | 日立コンピュータ機器株式会社 | 印字データ読取り方法、印字データ読み取り装置、印字データ読み取りプログラム |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5745677A (en) * | 1980-08-30 | 1982-03-15 | Fujitsu Ltd | Positioning system |
| JPS5750076A (en) * | 1980-09-10 | 1982-03-24 | Toshiba Corp | Character reader |
| JPS60134392A (ja) * | 1983-12-22 | 1985-07-17 | Toshiba Corp | 文字認識装置 |
-
1985
- 1985-06-26 JP JP60137727A patent/JPH0727541B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61296484A (ja) | 1986-12-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |