JPH0727585B2 - 自己同調硬貨認識装置 - Google Patents
自己同調硬貨認識装置Info
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- JPH0727585B2 JPH0727585B2 JP60501328A JP50132885A JPH0727585B2 JP H0727585 B2 JPH0727585 B2 JP H0727585B2 JP 60501328 A JP60501328 A JP 60501328A JP 50132885 A JP50132885 A JP 50132885A JP H0727585 B2 JPH0727585 B2 JP H0727585B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coin
- coins
- sensor
- microprocessor
- acceptance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
- G07D5/08—Testing the magnetic or electric properties
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
- G07D5/02—Testing the dimensions, e.g. thickness, diameter; Testing the deformation
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Coins (AREA)
- Inspection Of Paper Currency And Valuable Securities (AREA)
- Small-Scale Networks (AREA)
- Refuge Islands, Traffic Blockers, Or Guard Fence (AREA)
- Devices For Checking Fares Or Tickets At Control Points (AREA)
- Noodles (AREA)
- Control And Other Processes For Unpacking Of Materials (AREA)
- Control Of Vending Devices And Auxiliary Devices For Vending Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は硬貨の真偽および単位の検査に関し、特に、硬
貨試験のための無調整自己試験装置に関する。
貨試験のための無調整自己試験装置に関する。
背景技術 硬貨検査技術では、測定対象物と低周波電磁界との相互
作用によって該対象物の材質組成が受容可能な硬貨のも
のであるかが調べられる。もし受容可能であれば、その
額面についての認定がなされる。例えば、米国特許第3,
059,749号を参照されたい。また、この低周波試験は高
周波試験と組み合わされると都合がいいということも認
識されている。例えば、本願の譲受人に譲渡された米国
特許第3,870,137号を参照されたい。
作用によって該対象物の材質組成が受容可能な硬貨のも
のであるかが調べられる。もし受容可能であれば、その
額面についての認定がなされる。例えば、米国特許第3,
059,749号を参照されたい。また、この低周波試験は高
周波試験と組み合わされると都合がいいということも認
識されている。例えば、本願の譲受人に譲渡された米国
特許第3,870,137号を参照されたい。
大部分の公知の電子硬貨試験装置は、バラツキのある構
成部品を用いることの補償のために、そしてこの硬貨試
験装置の製作中に生ずる構成部品の位置決めのバラツキ
を補償するために、硬貨試験装置ごとの調整を必要とし
ている。例えば、ブリッジ回路は、通常、試験位置に公
知の受容可能な硬貨をおいてそのブリッジを平衡させる
ことにより工場で同調がとられる。硬貨試験技術でずっ
と以前から認識されているもう一つの問題は、構成素子
の老化、温度や湿度の変化のような硬貨試験装置の環境
の変化、および電子硬貨試験装置に使用される電子回路
の動作特性の望ましくない変化を如何に補償するかの問
題である。
成部品を用いることの補償のために、そしてこの硬貨試
験装置の製作中に生ずる構成部品の位置決めのバラツキ
を補償するために、硬貨試験装置ごとの調整を必要とし
ている。例えば、ブリッジ回路は、通常、試験位置に公
知の受容可能な硬貨をおいてそのブリッジを平衡させる
ことにより工場で同調がとられる。硬貨試験技術でずっ
と以前から認識されているもう一つの問題は、構成素子
の老化、温度や湿度の変化のような硬貨試験装置の環境
の変化、および電子硬貨試験装置に使用される電子回路
の動作特性の望ましくない変化を如何に補償するかの問
題である。
サービス・マンによる電子硬貨試験装置の再調整は構成
素子の老化の問題への一つの公知の答であるが、この再
調整は費用を要し、そしてその問題に対しては一時的な
解決しか与えない。一方、この環境補償問題解決のため
別の補償回路が開発された。例えば、1981年10月２日出
願で本発明の譲受人に譲渡された米国特許第4,493,411
号を参照されたい。更に、同調調整または別個の補償回
路の必要がなくなる改良になる送受信方法および装置が
開発された。これについては、本願の譲受人に譲渡され
た米国特許第4,493,411号を参照されたい。
素子の老化の問題への一つの公知の答であるが、この再
調整は費用を要し、そしてその問題に対しては一時的な
解決しか与えない。一方、この環境補償問題解決のため
別の補償回路が開発された。例えば、1981年10月２日出
願で本発明の譲受人に譲渡された米国特許第4,493,411
号を参照されたい。更に、同調調整または別個の補償回
路の必要がなくなる改良になる送受信方法および装置が
開発された。これについては、本願の譲受人に譲渡され
た米国特許第4,493,411号を参照されたい。
発明の開示 本発明は、硬貨受容限界を設定して補償問題を除くため
の簡単、かつ、価格の割に効果的な方法および装置に関
する。本発明は、硬貨の受容可能性を示すパラメータを
測定するための広範囲の電子硬貨試験に利用できる。本
発明によれば、硬貨試験用の硬貨受容限界が、所定数の
以前受容された硬貨に関する硬貨試験により測定された
パラメータについて計算された統計関数に基いて装置自
体により設定および再調整される。
の簡単、かつ、価格の割に効果的な方法および装置に関
する。本発明は、硬貨の受容可能性を示すパラメータを
測定するための広範囲の電子硬貨試験に利用できる。本
発明によれば、硬貨試験用の硬貨受容限界が、所定数の
以前受容された硬貨に関する硬貨試験により測定された
パラメータについて計算された統計関数に基いて装置自
体により設定および再調整される。
本発明の一実施例の動作は以下のごとく要約できる。す
なわち、米国の５セント硬貨のような、試験されるべき
任意の硬貨の標準的な組の初期受容限界が本発明に従っ
て製作されたすべての硬貨試験装置内に最初記憶され
る。これらの初期受容限界は、全ての真正な５セント硬
貨のほぼ100％の受容が確保されるよに、かなり広範囲
に設定され。各個々の硬貨試験装置を工場で調整中、受
容可能な柄の硬貨がこの装置内へ挿入されて１個または
これ以上のセンサで試験される。各センサにより測定さ
れたパラメータの統計関数が計算される。例えば、この
パラメータの移動平均が計算される。一度所定数の受容
可能な硬貨が受容されると、新しい受容限界がこの電子
硬貨試験装置により自動的に確立される。例えば、この
新しい受容限界は、移動平均プラスまたはマイナス記憶
され予め確立された定数または移動平均の記憶され予め
確立された割合に設定できる。または、この代りに、標
準的な初期受容限界は記憶されず、装置が５セント硬貨
のような特定硬貨について同調されるべきであるという
命令信号を送ることにより同調が開始される。そして、
所定数の正当な５セント硬貨が挿入され試験される。平
均５セントの硬貨を表わす単一の試験硬貨も使用でき
る。そして統計関数が計算され受容限界がそれに基いて
設定される。同様に、受容されるべき硬貨の別の単位に
ついて以上の方法が繰返される。いずれの場合にも工場
での初期同調が所定数の真正な硬貨を単に挿入すること
により達成される。初期同調の完了後に、広い受容限界
範囲は狭い受容限界範囲に設定され直して、装置は出荷
される。装置が一度商売上動作されると、更に別の受容
可能な硬貨が挿入されるとき統計関数がこの電子硬貨試
験装置により連続的に計算される。多数の硬貨が受容さ
れた後に温度または湿度の変化のような環境変化を補償
するために、硬貨試験装置は、統計関数の計算が所定数
の最も新しく挿入され受容された硬貨のみに関する情報
に基くように計算に再度重みづけをする。
なわち、米国の５セント硬貨のような、試験されるべき
任意の硬貨の標準的な組の初期受容限界が本発明に従っ
て製作されたすべての硬貨試験装置内に最初記憶され
る。これらの初期受容限界は、全ての真正な５セント硬
貨のほぼ100％の受容が確保されるよに、かなり広範囲
に設定され。各個々の硬貨試験装置を工場で調整中、受
容可能な柄の硬貨がこの装置内へ挿入されて１個または
これ以上のセンサで試験される。各センサにより測定さ
れたパラメータの統計関数が計算される。例えば、この
パラメータの移動平均が計算される。一度所定数の受容
可能な硬貨が受容されると、新しい受容限界がこの電子
硬貨試験装置により自動的に確立される。例えば、この
新しい受容限界は、移動平均プラスまたはマイナス記憶
され予め確立された定数または移動平均の記憶され予め
確立された割合に設定できる。または、この代りに、標
準的な初期受容限界は記憶されず、装置が５セント硬貨
のような特定硬貨について同調されるべきであるという
命令信号を送ることにより同調が開始される。そして、
所定数の正当な５セント硬貨が挿入され試験される。平
均５セントの硬貨を表わす単一の試験硬貨も使用でき
る。そして統計関数が計算され受容限界がそれに基いて
設定される。同様に、受容されるべき硬貨の別の単位に
ついて以上の方法が繰返される。いずれの場合にも工場
での初期同調が所定数の真正な硬貨を単に挿入すること
により達成される。初期同調の完了後に、広い受容限界
範囲は狭い受容限界範囲に設定され直して、装置は出荷
される。装置が一度商売上動作されると、更に別の受容
可能な硬貨が挿入されるとき統計関数がこの電子硬貨試
験装置により連続的に計算される。多数の硬貨が受容さ
れた後に温度または湿度の変化のような環境変化を補償
するために、硬貨試験装置は、統計関数の計算が所定数
の最も新しく挿入され受容された硬貨のみに関する情報
に基くように計算に再度重みづけをする。
本発明による硬貨試験装置の自己同調の特徴により、本
装置を工場で最初同調するに要する時間と熟練が著しく
減らされ、それにより製造工程に使用される労賃が減ら
されるという利点を有している。更に、本装置は通常の
動作中連続的に自体を再三同調し、これによりパラメー
タの変動および環境変化を補償する。
装置を工場で最初同調するに要する時間と熟練が著しく
減らされ、それにより製造工程に使用される労賃が減ら
されるという利点を有している。更に、本装置は通常の
動作中連続的に自体を再三同調し、これによりパラメー
タの変動および環境変化を補償する。
図面の簡単な説明 第１図は本発明による電子硬貨試験装置の実施例のブロ
ック線図であり、 第２図は第１図の実施例に適した回路の詳細な図であ
り、 第３図は第１図の実施例のセンサに適する位置を示す図
式的な図式的な図であり、そして 第４図は第１図の実施例の動作のフローチャートであ
る。
ック線図であり、 第２図は第１図の実施例に適した回路の詳細な図であ
り、 第３図は第１図の実施例のセンサに適する位置を示す図
式的な図式的な図であり、そして 第４図は第１図の実施例の動作のフローチャートであ
る。
本発明の硬貨検査方法および装置は、硬貨の受容可能性
を示すパラメータを測定するための広範囲の電子的な硬
貨試験、および、多くの国の硬貨の組から得られる任意
の数の硬貨の確認および受容に適用できるが、本発明は
米国の５セント硬貨を確認することへの本発明の適用の
説明により十分に説明される。特に、次の記載は米国の
５セント硬貨に対し高周波の直径試験に対する受容限界
を設定するための詳細に集中されているが、高周波によ
る厚さ試験のような、米国の５セント硬貨に関する他の
硬貨試験、および他の硬貨への本発明の適用は当業者に
明らかであろう。
を示すパラメータを測定するための広範囲の電子的な硬
貨試験、および、多くの国の硬貨の組から得られる任意
の数の硬貨の確認および受容に適用できるが、本発明は
米国の５セント硬貨を確認することへの本発明の適用の
説明により十分に説明される。特に、次の記載は米国の
５セント硬貨に対し高周波の直径試験に対する受容限界
を設定するための詳細に集中されているが、高周波によ
る厚さ試験のような、米国の５セント硬貨に関する他の
硬貨試験、および他の硬貨への本発明の適用は当業者に
明らかであろう。
図面は具象的になるよう意図されているが、必ずしも一
定の比率で描かれているものではない。本明細書にわた
り、「硬貨」なる用語は、硬貨により作動される装置を
使用しようとして人により使用される可能性のある、真
正の硬貨、トークン、偽造硬貨、小さな金属塊、ワッシ
ャ、および任意の他の品目を含もうとするものである。
更に、時々本明細書においては簡単化のため硬貨の移動
が回転運動として記載される。しかしながら、そうでな
いと示される場合を除き、直線的なおよび他の種類の運
動も包含される。同様に、具体的な種類の論理回路が以
下に詳述した実施例に関して開示したが、同等な結果を
得るために本発明から逸脱せずに他の論理回路も使用で
きる。
定の比率で描かれているものではない。本明細書にわた
り、「硬貨」なる用語は、硬貨により作動される装置を
使用しようとして人により使用される可能性のある、真
正の硬貨、トークン、偽造硬貨、小さな金属塊、ワッシ
ャ、および任意の他の品目を含もうとするものである。
更に、時々本明細書においては簡単化のため硬貨の移動
が回転運動として記載される。しかしながら、そうでな
いと示される場合を除き、直線的なおよび他の種類の運
動も包含される。同様に、具体的な種類の論理回路が以
下に詳述した実施例に関して開示したが、同等な結果を
得るために本発明から逸脱せずに他の論理回路も使用で
きる。
発明実施の最良形態 第１図は本発明による電子硬貨試験装置10の図式的なブ
ロック線図である。この電子硬貨試験装置10の機械的な
部分は第３図に示されている。この電子硬貨試験装置10
は２つの主要な部分を有している。すなわち、個々のセ
ンサ回路21、22および23を含む硬貨検査検出回路20と、
処理制御回路30である。この処理制御回路30はプログラ
ムされたマイクロプロセッサ35、アナログ−デジタル
（A/D）変換器40、信号整形回路45、比較器回路50、カ
ウンタ55、およびNORゲート61、62、63、64および65を
有している。
ロック線図である。この電子硬貨試験装置10の機械的な
部分は第３図に示されている。この電子硬貨試験装置10
は２つの主要な部分を有している。すなわち、個々のセ
ンサ回路21、22および23を含む硬貨検査検出回路20と、
処理制御回路30である。この処理制御回路30はプログラ
ムされたマイクロプロセッサ35、アナログ−デジタル
（A/D）変換器40、信号整形回路45、比較器回路50、カ
ウンタ55、およびNORゲート61、62、63、64および65を
有している。
センサ回路21、22は各々２面誘導型のセンサ24、25を有
し、これらのセンサ24、25はその直列接続したコイルを
硬貨通路の相対向する側壁の近くに配置している。第３
図に示すように、センサ24は、なるべくなら、広範囲に
わたる直径の硬貨を試験するために直径が大なる方がよ
い。センサ回路23は、なるべくなら第３図に示したよう
に配置されるべきである誘導センサ26を有する。
し、これらのセンサ24、25はその直列接続したコイルを
硬貨通路の相対向する側壁の近くに配置している。第３
図に示すように、センサ24は、なるべくなら、広範囲に
わたる直径の硬貨を試験するために直径が大なる方がよ
い。センサ回路23は、なるべくなら第３図に示したよう
に配置されるべきである誘導センサ26を有する。
センサ回路21は、直径および材質のような硬貨パラメー
タを試験してマイクロプロセッサ35を「目ざめさせる」
ために使用される高周波低電力発振器である。硬貨が誘
導型のセンサ24を通るとき、センサ回路21の出力の周波
数と振幅はセンサ24と硬貨の相互作用の結果として変化
する。センサ回路21の出力は、整形回路45により整形さ
れて比較器回路50に送られる。整形回路45からの信号の
振幅変化が所定量を超えると、比較器回路50は、マイク
ロプロセッサ35の割込みピンに接続された線36に出力を
発生する。この線36の信号はマイクロプロセッサ35に命
令して「目ざめさせ」、または換言すれば、低電力休止
状態から全電力硬貨評価状態へ移行させる。好適な実施
例では、本電子硬貨試験装置10は、低電力動作が非常に
重要な硬貨作動電話機または他の環境で使用することが
できる。この環境では、上述の「目ざめさせ」る特徴が
特に有用である。上述の「目ざめさせ」ることは硬貨到
着を検出したときに電力供給を増大するための唯一の可
能な方法である。例えば、硬貨の到着を検出してマイク
ロプロセッサ35を目ざめさせるためには別々の到着検出
器を使用することもできよう。
タを試験してマイクロプロセッサ35を「目ざめさせる」
ために使用される高周波低電力発振器である。硬貨が誘
導型のセンサ24を通るとき、センサ回路21の出力の周波
数と振幅はセンサ24と硬貨の相互作用の結果として変化
する。センサ回路21の出力は、整形回路45により整形さ
れて比較器回路50に送られる。整形回路45からの信号の
振幅変化が所定量を超えると、比較器回路50は、マイク
ロプロセッサ35の割込みピンに接続された線36に出力を
発生する。この線36の信号はマイクロプロセッサ35に命
令して「目ざめさせ」、または換言すれば、低電力休止
状態から全電力硬貨評価状態へ移行させる。好適な実施
例では、本電子硬貨試験装置10は、低電力動作が非常に
重要な硬貨作動電話機または他の環境で使用することが
できる。この環境では、上述の「目ざめさせ」る特徴が
特に有用である。上述の「目ざめさせ」ることは硬貨到
着を検出したときに電力供給を増大するための唯一の可
能な方法である。例えば、硬貨の到着を検出してマイク
ロプロセッサ35を目ざめさせるためには別々の到着検出
器を使用することもできよう。
整形回路45からの出力も、入力点のアナログ信号をデジ
タル出力に変換するA/D変換回路40の入力に供給され
る。このデジタル出力は線42でマイクロプロセッサ35に
直列で供給される。このデジタル出力は、センサ回路21
の出力の振幅に対する通過硬貨の影響を検出するために
マイクロプロセッサ35により監視される。周波数シフト
情報と共に振幅情報は、マイクロプロセッサ35に、単一
のセンサ回路21を用いて広範囲にわたる直径の硬貨の特
に信頼性ある試験のための十分なデータを提供する。
タル出力に変換するA/D変換回路40の入力に供給され
る。このデジタル出力は線42でマイクロプロセッサ35に
直列で供給される。このデジタル出力は、センサ回路21
の出力の振幅に対する通過硬貨の影響を検出するために
マイクロプロセッサ35により監視される。周波数シフト
情報と共に振幅情報は、マイクロプロセッサ35に、単一
のセンサ回路21を用いて広範囲にわたる直径の硬貨の特
に信頼性ある試験のための十分なデータを提供する。
センサ回路21の出力もNORゲート61の１つの入力点に接
続され、このNORゲート61の出力はNORゲート62の入力点
に接続される。NORゲート62はNORゲート65の１入力とし
て接続され、NORゲート65はその出力をカウンタ55に接
続する。センサ回路21に関する周波数情報はNORゲート6
1,62および65を介してセンサ回路21の出力をカウンタ55
に選択的に接続することにより発生される。センサ回路
22と23に関する周波数情報は、それぞれのNORゲート63
または64およびNORゲート65を介していずれかのセンサ
回路22または23の出力をカウンタ55に選択的に接続する
ことにより同様に発生される。センサ回路22も高周波低
電力発振器で、硬貨の厚さ試験のために使用される。セ
ンサ回路23は自動販売機に普通見られるストローブ・セ
ンサである。第３図に示すように、センサ26は受容ゲー
ト71の後に配置されている。センサ回路23の出力は、ク
レジットの認定のような機能の制御、硬貨のつまりの検
出、ひもを用いて装置内へ受容可能な硬貨を下げるよう
な方法による顧客の詐欺行為の防止に使用される。
続され、このNORゲート61の出力はNORゲート62の入力点
に接続される。NORゲート62はNORゲート65の１入力とし
て接続され、NORゲート65はその出力をカウンタ55に接
続する。センサ回路21に関する周波数情報はNORゲート6
1,62および65を介してセンサ回路21の出力をカウンタ55
に選択的に接続することにより発生される。センサ回路
22と23に関する周波数情報は、それぞれのNORゲート63
または64およびNORゲート65を介していずれかのセンサ
回路22または23の出力をカウンタ55に選択的に接続する
ことにより同様に発生される。センサ回路22も高周波低
電力発振器で、硬貨の厚さ試験のために使用される。セ
ンサ回路23は自動販売機に普通見られるストローブ・セ
ンサである。第３図に示すように、センサ26は受容ゲー
ト71の後に配置されている。センサ回路23の出力は、ク
レジットの認定のような機能の制御、硬貨のつまりの検
出、ひもを用いて装置内へ受容可能な硬貨を下げるよう
な方法による顧客の詐欺行為の防止に使用される。
マイクロプロセッサ35は、後で述べるように、センサ回
路23からカウンタ55への出力の選択的な接続を制御す
る。センサ回路21,22および23の出力の発振周波数は、
所定のサンプリング時間内に生じる出力信号のスレッシ
ョルド・レベルのクロス回数をカウントすることにより
サンプリングされる。そのカウンティングは、カウンタ
55によりなされ、上記の所定のサンプリング時間の長さ
は、マイクロプロセッサ35により制御される。NORゲー
ト62,63および64の各々の１つの入力は、その関連する
センサ回路21,22および23の出力に接続されている。セ
ンサ回路21の出力は反転増幅器として接続されたNORゲ
ート61を介して接続される。NORゲート62,63および64の
各々の他の入力は、マイクロプロセッサ35からそれぞれ
の制御線37,38および39へ接続されている。制御線37,38
および39の信号はセンサ回路21,22および23の各々が呼
び掛けられ、すなわち、サンプリングされる時を、換言
すれば、センサ回路21,22および23の出力がカウンタ55
へ供給される時を制御する。例えば、マイクロプロセッ
サ35が高（論理「１」）の信号を線38と39に、そして、
低（論理「０」）の信号を線37に発生すると、センサ回
路21は呼び掛けられ、そして、NORゲート61の出力が低
となるたびに、NORゲート62は高の信号を発生する。こ
の高の信号はNORゲート65を介してカウンタ55の計数入
力点に送られ、カウンタ55によりカウントされる。カウ
ンタ55は出力カウント信号を発生し、このカウンタ55の
出力は線57によりマイクロプロセッサ35に接続される。
マイクロプロセッサ35は、カウンタ55とA/D変換回路40
の出力またはこれから計算された値（単数または複数）
が記憶された受容限界内にあるか否かを決定することに
より、カウンタ55からの出力カウント信号とA/D変換回
路40からのデジタル振幅情報が受容可能な直径の硬貨を
示すか否かを決定する。センサ回路22が呼び掛けられる
と、マイクロプロセッサ35はカウンタ出力が受容可能な
厚さの硬貨を示すか否かを決定する。最後に、センサ回
路23が呼び掛けられると、マイクロプロセッサ35はカウ
ンタ出力が硬貨の存在または不存在を示すか否かを決定
する。直径と厚さの試験が両方とも満足されると、真正
硬貨と偽造硬貨の識別精度は高くなる。
路23からカウンタ55への出力の選択的な接続を制御す
る。センサ回路21,22および23の出力の発振周波数は、
所定のサンプリング時間内に生じる出力信号のスレッシ
ョルド・レベルのクロス回数をカウントすることにより
サンプリングされる。そのカウンティングは、カウンタ
55によりなされ、上記の所定のサンプリング時間の長さ
は、マイクロプロセッサ35により制御される。NORゲー
ト62,63および64の各々の１つの入力は、その関連する
センサ回路21,22および23の出力に接続されている。セ
ンサ回路21の出力は反転増幅器として接続されたNORゲ
ート61を介して接続される。NORゲート62,63および64の
各々の他の入力は、マイクロプロセッサ35からそれぞれ
の制御線37,38および39へ接続されている。制御線37,38
および39の信号はセンサ回路21,22および23の各々が呼
び掛けられ、すなわち、サンプリングされる時を、換言
すれば、センサ回路21,22および23の出力がカウンタ55
へ供給される時を制御する。例えば、マイクロプロセッ
サ35が高（論理「１」）の信号を線38と39に、そして、
低（論理「０」）の信号を線37に発生すると、センサ回
路21は呼び掛けられ、そして、NORゲート61の出力が低
となるたびに、NORゲート62は高の信号を発生する。こ
の高の信号はNORゲート65を介してカウンタ55の計数入
力点に送られ、カウンタ55によりカウントされる。カウ
ンタ55は出力カウント信号を発生し、このカウンタ55の
出力は線57によりマイクロプロセッサ35に接続される。
マイクロプロセッサ35は、カウンタ55とA/D変換回路40
の出力またはこれから計算された値（単数または複数）
が記憶された受容限界内にあるか否かを決定することに
より、カウンタ55からの出力カウント信号とA/D変換回
路40からのデジタル振幅情報が受容可能な直径の硬貨を
示すか否かを決定する。センサ回路22が呼び掛けられる
と、マイクロプロセッサ35はカウンタ出力が受容可能な
厚さの硬貨を示すか否かを決定する。最後に、センサ回
路23が呼び掛けられると、マイクロプロセッサ35はカウ
ンタ出力が硬貨の存在または不存在を示すか否かを決定
する。直径と厚さの試験が両方とも満足されると、真正
硬貨と偽造硬貨の識別精度は高くなる。
第２図は、次の構成素子を含む第１図の実施例に適した
回路の図式的な詳細図である。
回路の図式的な詳細図である。
抵 抗 R1 820k R2 330k R3 43k R4，R9，R12 3.9k R5，R13，R28，R36 1k R6，R14，R18，R21， R27，R29，R30， R31，R34，R38 100k R7 510k R8 680k R10 470k R11 620k R15，R26 47k R16 180k R17 10k R20 390k R22，R23 150k R24，R37 6.8k R25，R39，R40 1M R35 1.5k 誘導型センサ 24 3.5mH 25 400μＨ 26 240μＨ コンデンサ C1，C2，C3，C4，C15， C16，C17，C22，C23， C34 .1μｆ C5 250pf C6，C33 510pf C7，C8 180pf C9，C10 100pf C11，C12，C13，C18 .01μｆ C14，C21 10μｆ C19，C20 30pf ダイオード D1，D2，D3，D4，D5， D6，D7，D8，D9 D11，D12，D13，D14， D17，D18，D20，D21， D22，D23 1N41448 D15，D16 HSCH 1001 ツエナー・ダイオード Ｚ 4.7v トランジスタ T1，T2，T3 2N5089 T4 2N3392 T5，T6 2N4356 電池 LB Saft LB2425 3 V リチウム 発 振 器 Ｏ ムラタ2MHzセラミック 共振器 比 較 器 Comp1,Comp2 LM2903 NORゲート 61,62,63,64 ナショナル セミコンダクタ4001 65 ナショナル セミコンダクタ4025 カウンタ 55 ナショナル セミコンダクタCD4520B 内部記憶装置 58 74C244 59 27C16 60 74C373 マイクロプロセッサ 35 インテル80C39 第１図の回路ブロックおよび素子に対応する第２図の回
路ブロックおよび素子は似た番号を付されている。第２
図に詳細に示した電子硬貨試験装置10で、ブロック15,1
6および17は、センサ回路21,22および23のトランジスタ
T1，T2およびT3へ、それぞれ適切なレベルのベース電流
を提供する。センサ回路21は、第３図に示した相対向す
る側壁36と38に置かれて直列接続された２つのコイルを
有する誘導型のセンサ24を備えた低電力発振器回路であ
る。センサ24の２つのコイルは約3.5mHの合成インダク
タンスを有し、センサ回路21は約170kHzのアイドリング
周波数で発振する。センサ回路21からの発振出力信号は
点Ａから取られて整形回路45を介してA/D変換器41と比
較器回路50へ接続される。点Ｂの信号はセンサ回路21の
発振出力信号の包絡線である。センサ回路21が硬貨の影
響を受けない場合、点Ｂの信号の振幅は約3.5vである。
硬貨がセンサ24に近づき、そしてこれを通り過ぎると、
点Ｂの電圧はセンサ24のコイル（複数）の間の中心に硬
貨が配置されるまで減少し、それから硬貨がセンサ24か
ら転動して去るにしたがって再び増大する。点Ｂの電圧
レベルが約0.2Vだけ変化すると、比較器回路50は線36に
出力を発生する。この出力はNORゲートおよびダイオー
ドを介してマイクロプロセッサ35の割込み端子に送られ
てマイクロプロセッサ35を目ざめさせる。そして、直径
検査に関する振幅と周波数の情報が上述のように発生さ
れて評価される。
路ブロックおよび素子は似た番号を付されている。第２
図に詳細に示した電子硬貨試験装置10で、ブロック15,1
6および17は、センサ回路21,22および23のトランジスタ
T1，T2およびT3へ、それぞれ適切なレベルのベース電流
を提供する。センサ回路21は、第３図に示した相対向す
る側壁36と38に置かれて直列接続された２つのコイルを
有する誘導型のセンサ24を備えた低電力発振器回路であ
る。センサ24の２つのコイルは約3.5mHの合成インダク
タンスを有し、センサ回路21は約170kHzのアイドリング
周波数で発振する。センサ回路21からの発振出力信号は
点Ａから取られて整形回路45を介してA/D変換器41と比
較器回路50へ接続される。点Ｂの信号はセンサ回路21の
発振出力信号の包絡線である。センサ回路21が硬貨の影
響を受けない場合、点Ｂの信号の振幅は約3.5vである。
硬貨がセンサ24に近づき、そしてこれを通り過ぎると、
点Ｂの電圧はセンサ24のコイル（複数）の間の中心に硬
貨が配置されるまで減少し、それから硬貨がセンサ24か
ら転動して去るにしたがって再び増大する。点Ｂの電圧
レベルが約0.2Vだけ変化すると、比較器回路50は線36に
出力を発生する。この出力はNORゲートおよびダイオー
ドを介してマイクロプロセッサ35の割込み端子に送られ
てマイクロプロセッサ35を目ざめさせる。そして、直径
検査に関する振幅と周波数の情報が上述のように発生さ
れて評価される。
第２図に詳細に示したセンサ回路22も発振器回路てあっ
て、センサ25を通過する硬貨の幅に関する周波数試験情
報を発生する。第２図に示した発振器は、第３図に示し
た相対向する側壁36と38に配置されて直列接続された２
個のコイルを有する誘導型のセンサ25を備えている。セ
ンサ25の２個のコイルは約400μＨの合成インダクタン
スを有し、発振器回路は約750kHzのアイドリング周波数
を有している。
て、センサ25を通過する硬貨の幅に関する周波数試験情
報を発生する。第２図に示した発振器は、第３図に示し
た相対向する側壁36と38に配置されて直列接続された２
個のコイルを有する誘導型のセンサ25を備えている。セ
ンサ25の２個のコイルは約400μＨの合成インダクタン
スを有し、発振器回路は約750kHzのアイドリング周波数
を有している。
センサ回路23、すなわちストローブ・センサは、第３図
に示すように、硬貨ルート決めゲート71の後にその誘導
型のセンサ26を配置している。誘導型のセンサ26の単一
のコイルは約240μＨのインダクタンスを有し、センサ
回路23は約850Hzのアイドリング周波数を有している。
上記ストローブ・センサは硬貨の通貨の検出、硬貨のつ
まり、および顧客の詐欺行為の防止のために使用されて
いる。
に示すように、硬貨ルート決めゲート71の後にその誘導
型のセンサ26を配置している。誘導型のセンサ26の単一
のコイルは約240μＨのインダクタンスを有し、センサ
回路23は約850Hzのアイドリング周波数を有している。
上記ストローブ・センサは硬貨の通貨の検出、硬貨のつ
まり、および顧客の詐欺行為の防止のために使用されて
いる。
マイクロプロセッサ35は3vのリチウム電池LBによりバッ
クアップされているRAM電源80を有するCMOS装置であ
る。この電力装置により非揮発性記憶装置が提供され
る。同じ結果を達成するためにEEPROMおよびNOVRAM装置
を含む他の装置を使用することもできる。第２図に示す
ように、58,59および60と示した３個のチップは外部プ
ログラム記憶装置を構成する。インテル（Intel）社の8
0C49のような十分な内部記憶装置をもつマイクロプロセ
ッサ35が使用される場合は、チップ58,59および60を省
いても良い。
クアップされているRAM電源80を有するCMOS装置であ
る。この電力装置により非揮発性記憶装置が提供され
る。同じ結果を達成するためにEEPROMおよびNOVRAM装置
を含む他の装置を使用することもできる。第２図に示す
ように、58,59および60と示した３個のチップは外部プ
ログラム記憶装置を構成する。インテル（Intel）社の8
0C49のような十分な内部記憶装置をもつマイクロプロセ
ッサ35が使用される場合は、チップ58,59および60を省
いても良い。
好適な実施例では、電子硬貨試験装置10が硬貨作動電話
機に組み込まれている。この実施例では、装置10は電話
機がフックから離されるときに電力を増大されるのみで
ある。電話機がフックから上げられると、各センサ回路
が発振し始める。マイクロプロセッサ35はセンサ回路21
に関するアイドリングすなわち硬貨が無いときの振幅
（A0）と周波数（f0）の値とセンサ回路22と23に関する
周波数値をサンプリングして記憶する。そして、マイク
ロプロセッサ35は「眠り」、休止、または待受けモード
に入る。このモードでは、割込み信号か線36に発生され
て硬貨が挿入されたということを示してマイクロプロセ
ッサ35を目ざめさせるまでマイクロプロセッサ35はほと
んど電力を消費しない。マイクロプロセッサ35は目ざめ
させられると十分に電力を供給されてセンサ回路21と22
からの情報を評価し、そして、検出された硬貨が受容可
能な硬貨か否かを決定する。
機に組み込まれている。この実施例では、装置10は電話
機がフックから離されるときに電力を増大されるのみで
ある。電話機がフックから上げられると、各センサ回路
が発振し始める。マイクロプロセッサ35はセンサ回路21
に関するアイドリングすなわち硬貨が無いときの振幅
（A0）と周波数（f0）の値とセンサ回路22と23に関する
周波数値をサンプリングして記憶する。そして、マイク
ロプロセッサ35は「眠り」、休止、または待受けモード
に入る。このモードでは、割込み信号か線36に発生され
て硬貨が挿入されたということを示してマイクロプロセ
ッサ35を目ざめさせるまでマイクロプロセッサ35はほと
んど電力を消費しない。マイクロプロセッサ35は目ざめ
させられると十分に電力を供給されてセンサ回路21と22
からの情報を評価し、そして、検出された硬貨が受容可
能な硬貨か否かを決定する。
本発明の方法を、センサ回路21からの周波数情報に基づ
いて硬貨受容限界を設定する場合において次に記載す
る。硬貨が誘導型のセンサ24に近づいてこれを通過する
に従って、その関連の発振器の周波数は、硬貨無しのア
イドリング周波数f0から変化し、従ってセンサ回路21の
出力は変化する。また、この出力信号の包絡線の振幅も
変化する。また、この出力信号の包絡線の振幅も変化す
る。この後者の変化が所定限界を超えると、マイクロプ
ロセッサ35は硬貨が挿入されたということを認識して目
ざめる。そして、マイクロプロセッサ35は周波数の最大
変化Δｆを計算する。ここでΔｆは、硬貨通過中に測定
された周波数とアイドリング周波数の最大の絶対差に等
しい。即ち、Δｆ＝（測定された周波数ｆ−アイドリン
グ周波数f0）の最大値である。次に、試験される硬貨に
関するこの値が真正な硬貨の受容可能な範囲に入るか否
かを知るために、Ｆ＝Δf/f0が計算されて、記憶された
受容限界値と比較される。以上の測定および計算の背景
としては、本願の譲受人に譲渡された米国特許第3,918,
564号を参照。この特許で述べられているように、この
種の測定技術も周波数以外のセンサ出力信号のパラメー
タ例えば振幅にあてはまる。同様に、本発明は、振幅お
よび周波数出力を提供する特定センサのための硬貨受容
限界の設定に特に適用されるが、任意のセンサにより測
定されたパラメータ（単数または複数）の以前受容され
た手数の硬貨に関する統計関数から得られる硬貨受容限
界の設定に一般的にも適用される。
いて硬貨受容限界を設定する場合において次に記載す
る。硬貨が誘導型のセンサ24に近づいてこれを通過する
に従って、その関連の発振器の周波数は、硬貨無しのア
イドリング周波数f0から変化し、従ってセンサ回路21の
出力は変化する。また、この出力信号の包絡線の振幅も
変化する。また、この出力信号の包絡線の振幅も変化す
る。この後者の変化が所定限界を超えると、マイクロプ
ロセッサ35は硬貨が挿入されたということを認識して目
ざめる。そして、マイクロプロセッサ35は周波数の最大
変化Δｆを計算する。ここでΔｆは、硬貨通過中に測定
された周波数とアイドリング周波数の最大の絶対差に等
しい。即ち、Δｆ＝（測定された周波数ｆ−アイドリン
グ周波数f0）の最大値である。次に、試験される硬貨に
関するこの値が真正な硬貨の受容可能な範囲に入るか否
かを知るために、Ｆ＝Δf/f0が計算されて、記憶された
受容限界値と比較される。以上の測定および計算の背景
としては、本願の譲受人に譲渡された米国特許第3,918,
564号を参照。この特許で述べられているように、この
種の測定技術も周波数以外のセンサ出力信号のパラメー
タ例えば振幅にあてはまる。同様に、本発明は、振幅お
よび周波数出力を提供する特定センサのための硬貨受容
限界の設定に特に適用されるが、任意のセンサにより測
定されたパラメータ（単数または複数）の以前受容され
た手数の硬貨に関する統計関数から得られる硬貨受容限
界の設定に一般的にも適用される。
硬貨が受容可能と判別されると、新しい受容限界の計算
のためＦの値は記憶されてマイクロプロセッサ35により
使用される情報の記憶部に加えられる。例えば、記憶さ
れたＦの値の移動平均は、所定数の以前に受容された硬
貨について計算され、そして、受容限界が移動平均プラ
スまたはマイナス記憶された定数または移動平均の記憶
された割合として確立される。なるべくなら、広狭の両
受容限界値がマイクロプロセッサ35に記憶された方が良
い。また、この代わりに、これらの限界値はRAMまたはR
OMに記憶することもできる。図示の実施例では、新しい
受容限界が広いまたは狭い値に設定されるか否かは、デ
ータ通信バスを介してマイクロプロセッサ35に供給され
る外部情報により制御される。または、この代わりに、
マイクロプロセッサ35の１つの入力に接続される選択ス
イッチを使用することもできる。この後者の構成では、
マイクロプロセッサ35はその選択スイッチの状態を、す
なわち、選択スイッチが開いているか閉じているかを試
験して、この選択スイッチの状態に依存して硬貨受容限
界を調整する。硬貨受容限界が狭い範囲であれば、小金
属塊を受容しないような非常に良好な保護を達成でき
る。しかしながら、こうすると、摩耗または損傷してい
る受容可能な硬貨が拒否されることがある。広狭の受容
限界のいずれかを選ぶことができるため、装置の所有者
は自分の経営上の経験にしたがって硬貨受容限界を調整
することができる。
のためＦの値は記憶されてマイクロプロセッサ35により
使用される情報の記憶部に加えられる。例えば、記憶さ
れたＦの値の移動平均は、所定数の以前に受容された硬
貨について計算され、そして、受容限界が移動平均プラ
スまたはマイナス記憶された定数または移動平均の記憶
された割合として確立される。なるべくなら、広狭の両
受容限界値がマイクロプロセッサ35に記憶された方が良
い。また、この代わりに、これらの限界値はRAMまたはR
OMに記憶することもできる。図示の実施例では、新しい
受容限界が広いまたは狭い値に設定されるか否かは、デ
ータ通信バスを介してマイクロプロセッサ35に供給され
る外部情報により制御される。または、この代わりに、
マイクロプロセッサ35の１つの入力に接続される選択ス
イッチを使用することもできる。この後者の構成では、
マイクロプロセッサ35はその選択スイッチの状態を、す
なわち、選択スイッチが開いているか閉じているかを試
験して、この選択スイッチの状態に依存して硬貨受容限
界を調整する。硬貨受容限界が狭い範囲であれば、小金
属塊を受容しないような非常に良好な保護を達成でき
る。しかしながら、こうすると、摩耗または損傷してい
る受容可能な硬貨が拒否されることがある。広狭の受容
限界のいずれかを選ぶことができるため、装置の所有者
は自分の経営上の経験にしたがって硬貨受容限界を調整
することができる。
マイクロプロセッサ35の他のポートは、第３図に示した
ゲート71,クロック75,電源回路80,インタフエース線81,
82,83およびデバック線85を制御するためのリレー制御
回路70に接続されている。マイクロプロセッサ35は、受
容できない硬貨から受容可能な硬貨を分離するため、ま
たは他の硬貨ルート決めタスクを行なうためのゲートを
動作させるリレー回路70を制御するよう容易にプログラ
ムできる。しかしながら、このようなゲートの特に詳細
な説明は本発明の一部をも構成するものではない。代表
的なゲート動作のさらに詳細な説明は、例えば、本発明
の譲受人に譲渡された米国特許第4,106,610号を参照さ
れたし。また、本発明に関連して使用されるに適した好
適なゲートの詳細については、本願と同時に出願されて
本発明の譲受人に譲渡されたプレスコ（Plesko）による
「ロウ パワー コイン ルーチング ゲート（Low Po
wer Coin Routing Gate）」の名称の米国出願第585,252
号を参照されたし。
ゲート71,クロック75,電源回路80,インタフエース線81,
82,83およびデバック線85を制御するためのリレー制御
回路70に接続されている。マイクロプロセッサ35は、受
容できない硬貨から受容可能な硬貨を分離するため、ま
たは他の硬貨ルート決めタスクを行なうためのゲートを
動作させるリレー回路70を制御するよう容易にプログラ
ムできる。しかしながら、このようなゲートの特に詳細
な説明は本発明の一部をも構成するものではない。代表
的なゲート動作のさらに詳細な説明は、例えば、本発明
の譲受人に譲渡された米国特許第4,106,610号を参照さ
れたし。また、本発明に関連して使用されるに適した好
適なゲートの詳細については、本願と同時に出願されて
本発明の譲受人に譲渡されたプレスコ（Plesko）による
「ロウ パワー コイン ルーチング ゲート（Low Po
wer Coin Routing Gate）」の名称の米国出願第585,252
号を参照されたし。
クロック75と電源80は、マイクロプロセッサ35により要
求されるクロック入力とクロック入力を供給する。イン
タフエース線81,82,83および84は、電子硬貨試験装置10
を有する硬貨作動自動販売装置に含ませることができる
他の装置または回路に電子硬貨試験装置10を接続するた
めの手段を提供する。今述べた他の装置およびこれへの
接続の詳細は、本発明の一部を構成するものではない。
デバッグ線85は監視動作およびデバッギングのために試
験接続を与える。
求されるクロック入力とクロック入力を供給する。イン
タフエース線81,82,83および84は、電子硬貨試験装置10
を有する硬貨作動自動販売装置に含ませることができる
他の装置または回路に電子硬貨試験装置10を接続するた
めの手段を提供する。今述べた他の装置およびこれへの
接続の詳細は、本発明の一部を構成するものではない。
デバッグ線85は監視動作およびデバッギングのために試
験接続を与える。
第３図は、２つの相離れた側壁36,38および硬貨軌道33,
33aにより明確に定められた硬貨路の近くにセンサ24,25
および26を適当に位置決めできる一つの方法と電子硬貨
試験装置10の機械部分を示す。硬貨取扱装置11は従来の
硬貨受けカップ31,従来の蝶番・ばね組立体34により結
合された２つの相離れた側壁36と38,および硬貨軌道33,
33aを有している。硬貨軌道33,33aおよび側壁36,38は硬
貨受けカップ31から硬貨センサ24,25を通る硬貨路を形
成している。第３図はまたゲート71の後に置かれたセン
サ26をしめすが、第３図に示したゲート71は受容可能な
硬貨から受容できない硬貨を分離するためのものであ
る。
33aにより明確に定められた硬貨路の近くにセンサ24,25
および26を適当に位置決めできる一つの方法と電子硬貨
試験装置10の機械部分を示す。硬貨取扱装置11は従来の
硬貨受けカップ31,従来の蝶番・ばね組立体34により結
合された２つの相離れた側壁36と38,および硬貨軌道33,
33aを有している。硬貨軌道33,33aおよび側壁36,38は硬
貨受けカップ31から硬貨センサ24,25を通る硬貨路を形
成している。第３図はまたゲート71の後に置かれたセン
サ26をしめすが、第３図に示したゲート71は受容可能な
硬貨から受容できない硬貨を分離するためのものであ
る。
なお、センサの他の位置決めも有利であろうし、他の硬
貨路構成も期待され、そして他の硬貨試験のために別の
センサも使用できよう。
貨路構成も期待され、そして他の硬貨試験のために別の
センサも使用できよう。
第４図は、第１図〜第３図の実施例の動作のフローチャ
ートである。本発明の方法の一実施例によれば、受容さ
れるべき硬貨の単位ごとに、各試験ごとの初期受容限界
が電子硬貨試験装置10のマイクロプロセッサ35に記憶さ
れている。これらの初期受容限界は、かなり広く設定さ
れて受容可能な硬貨をほぼ100％確実に受容する。これ
らの受容限界は初期調整においてのみ使用される。電子
硬貨試験装置10を同調するために、各単位をもつ所定数
の公知の受容可能な硬貨が挿入される。例えば、８個の
受容可能な５セント硬貨が挿入される。これらの挿入さ
れた硬貨はセンサ回路21により検出され、マイクロプロ
セッサ35が目ざめさせられ、センサ回路21を用いて各硬
貨ごとに振幅および周波数試験が行なわれ、そして、セ
ンサ回路22を用いて第２の周波数試験が行なわれる。そ
して、上記８個の受容可能な硬貨に関する試験情報に基
づいて新らしい受容限界が計算される。これらの新らし
い受容限界は、さらに挿入される硬貨の試験に使用され
る。例えば、センサ回路21を用いる周波数試験をさらに
述べるが、同様な処理が硬貨確認過程で行なわれる各試
験ごとに行なわれる。
ートである。本発明の方法の一実施例によれば、受容さ
れるべき硬貨の単位ごとに、各試験ごとの初期受容限界
が電子硬貨試験装置10のマイクロプロセッサ35に記憶さ
れている。これらの初期受容限界は、かなり広く設定さ
れて受容可能な硬貨をほぼ100％確実に受容する。これ
らの受容限界は初期調整においてのみ使用される。電子
硬貨試験装置10を同調するために、各単位をもつ所定数
の公知の受容可能な硬貨が挿入される。例えば、８個の
受容可能な５セント硬貨が挿入される。これらの挿入さ
れた硬貨はセンサ回路21により検出され、マイクロプロ
セッサ35が目ざめさせられ、センサ回路21を用いて各硬
貨ごとに振幅および周波数試験が行なわれ、そして、セ
ンサ回路22を用いて第２の周波数試験が行なわれる。そ
して、上記８個の受容可能な硬貨に関する試験情報に基
づいて新らしい受容限界が計算される。これらの新らし
い受容限界は、さらに挿入される硬貨の試験に使用され
る。例えば、センサ回路21を用いる周波数試験をさらに
述べるが、同様な処理が硬貨確認過程で行なわれる各試
験ごとに行なわれる。
第４図のフローチャートは、硬貨電話機の場合に関連す
る方法を示す。しかしながら、本発明の方法および装置
は、他の場合にも使用できる。第４図の一般的な方法
は、任意の硬化試験ごとに周波数、振幅等のような試験
をすることができる任意の機能を表わすものと全てのｆ
変数を考えることにより理解される。以下の具体的な記
載は米国の５セント硬貨の周波数試験に関するものであ
る。
る方法を示す。しかしながら、本発明の方法および装置
は、他の場合にも使用できる。第４図の一般的な方法
は、任意の硬化試験ごとに周波数、振幅等のような試験
をすることができる任意の機能を表わすものと全てのｆ
変数を考えることにより理解される。以下の具体的な記
載は米国の５セント硬貨の周波数試験に関するものであ
る。
電話機のフックからの外し状態が検出されると、マイク
ロプロセッサ35は供給電力を増大され、アイドリング周
波数f0は測定されて記憶され、そして、マイクロプロセ
ッサ35はその低電力休止状態に入る。初期の較正および
同調のため、電話機のフック外し信号は人工的にシミュ
レートすることもできる。そして、一つの実施例では、
一連の８個の受容可能な５セント硬貨が、装置を５セン
ト硬貨について同調するために、挿入される。マイクロ
プロセッサ35は、最初の５セント硬貨が検出されるまで
その休止状態に留まる。センサ回路21の出力の周波数は
繰返しサンプリングされて周波数ｆ測定されたが得られ
る。そして最初の５セント硬貨の通過中に、測定された
周波数ｆとアイドリング周波数f0との差の最大の値Δｆ
が計算される。すなわち、Δｆ＝（測定された周波数ｆ
−アイドリング周波数f0）の最大値。
ロプロセッサ35は供給電力を増大され、アイドリング周
波数f0は測定されて記憶され、そして、マイクロプロセ
ッサ35はその低電力休止状態に入る。初期の較正および
同調のため、電話機のフック外し信号は人工的にシミュ
レートすることもできる。そして、一つの実施例では、
一連の８個の受容可能な５セント硬貨が、装置を５セン
ト硬貨について同調するために、挿入される。マイクロ
プロセッサ35は、最初の５セント硬貨が検出されるまで
その休止状態に留まる。センサ回路21の出力の周波数は
繰返しサンプリングされて周波数ｆ測定されたが得られ
る。そして最初の５セント硬貨の通過中に、測定された
周波数ｆとアイドリング周波数f0との差の最大の値Δｆ
が計算される。すなわち、Δｆ＝（測定された周波数ｆ
−アイドリング周波数f0）の最大値。
次に、ＦがΔｆをf0で割る計算により得られる。すなわ
ち、Ｆ＝Δf/f0。最初の５セント硬貨について計算され
たＦは、記憶された受容限界内にあるか否かを見るため
に、その記憶した受容限界と比較される。最初の５セン
ト硬貨は受容可能な５セント硬貨であるので、そのＦの
値は記憶の受容限界内にある。従って、最初の５セント
硬貨は受容され、マイクロプロセッサ35はその硬貨に関
する硬貨カウントＣを得る。
ち、Ｆ＝Δf/f0。最初の５セント硬貨について計算され
たＦは、記憶された受容限界内にあるか否かを見るため
に、その記憶した受容限界と比較される。最初の５セン
ト硬貨は受容可能な５セント硬貨であるので、そのＦの
値は記憶の受容限界内にある。従って、最初の５セント
硬貨は受容され、マイクロプロセッサ35はその硬貨に関
する硬貨カウントＣを得る。
最初の硬貨については、硬貨カウントＣは零に等しい。
すなわち、Ｃ＝０。この硬貨カウントは次に１だけ増加
される。そして、硬貨カウントＣ＝１が数32と比較され
る。すなわち、Ｃ＝32? Ｃは32に等しくないから、次
の段階ではＣが大きいか、または８に等しいかを見るた
めにＣが比較される。すなわち、Ｃ≧8? Ｃは８より大
きくなく、８に等しくないので、次の段階で５セント硬
貨について新しい平均値下、すなわち、Ｆ新平均を計算
する。すなわち、Ｆ新平均＝（（Ｃ−１）×Ｆ旧平均）
＋F/C。最初の硬貨に関するＦ旧平均は零に等しい。従
って、Ｆ新平均＝F/C＝Ｆ。次に、Ｆ新平均がＦ旧平均
として記憶される。すなわちＦ旧平均＝Ｆ新平均。この
段階により最初の５セント硬貨の処理が完了する。
すなわち、Ｃ＝０。この硬貨カウントは次に１だけ増加
される。そして、硬貨カウントＣ＝１が数32と比較され
る。すなわち、Ｃ＝32? Ｃは32に等しくないから、次
の段階ではＣが大きいか、または８に等しいかを見るた
めにＣが比較される。すなわち、Ｃ≧8? Ｃは８より大
きくなく、８に等しくないので、次の段階で５セント硬
貨について新しい平均値下、すなわち、Ｆ新平均を計算
する。すなわち、Ｆ新平均＝（（Ｃ−１）×Ｆ旧平均）
＋F/C。最初の硬貨に関するＦ旧平均は零に等しい。従
って、Ｆ新平均＝F/C＝Ｆ。次に、Ｆ新平均がＦ旧平均
として記憶される。すなわちＦ旧平均＝Ｆ新平均。この
段階により最初の５セント硬貨の処理が完了する。
更に５セント硬貨が装置同調のために挿入されるに従っ
て、第８番目の５セント硬貨が挿入されるまで上記方法
が繰り返される。第８番目の５セント硬貨については硬
貨カウントＣ＝７であり、これが１だけ増加されると、
硬貨カウントＣは８に等しくなる。次に、Ｃが８と比較
されると、８に等しいことがわかる。その結果、フラグ
が設定されて、計算されたＦ新平均値を用いて受容限界
を決定する。Ｆ新平均値は前述のように計算されるが、
これは今度は続いて挿入された５セント硬貨の受容限界
を決定するために使用される。最初に記憶された受容限
界は、もはや使用されない。新しい受容限界は、Ｆ新平
均値プラスまたはマイナス一定値、すなわち、上限＝Ｆ
新平均値＋X,下限＝Ｆ新平均−X;あるいは、Ｆ新平均値
プラスまたはマイナスＦ新平均値の一定割合、上限＝
（Ｆ新平均値）（１＋Ｘ），下限＝（Ｆ新平均値）×
（１−Ｘ）；あるいは任意の論理的な仕方でＦ新平均値
から計算することができる。上述のように、装置は一度
同調されると、実際の動作環境で使用することができ
る。
て、第８番目の５セント硬貨が挿入されるまで上記方法
が繰り返される。第８番目の５セント硬貨については硬
貨カウントＣ＝７であり、これが１だけ増加されると、
硬貨カウントＣは８に等しくなる。次に、Ｃが８と比較
されると、８に等しいことがわかる。その結果、フラグ
が設定されて、計算されたＦ新平均値を用いて受容限界
を決定する。Ｆ新平均値は前述のように計算されるが、
これは今度は続いて挿入された５セント硬貨の受容限界
を決定するために使用される。最初に記憶された受容限
界は、もはや使用されない。新しい受容限界は、Ｆ新平
均値プラスまたはマイナス一定値、すなわち、上限＝Ｆ
新平均値＋X,下限＝Ｆ新平均−X;あるいは、Ｆ新平均値
プラスまたはマイナスＦ新平均値の一定割合、上限＝
（Ｆ新平均値）（１＋Ｘ），下限＝（Ｆ新平均値）×
（１−Ｘ）；あるいは任意の論理的な仕方でＦ新平均値
から計算することができる。上述のように、装置は一度
同調されると、実際の動作環境で使用することができ
る。
更に５セント硬貨が挿入されると、Ｆ新平均値と新しい
受容限界が連続的に再三計算される。受容可能な５セン
ト硬貨以外の硬貨が挿入されると、そのＦの値は受容限
界内に存在しないので、その硬貨は拒否される。この
後、新しいアイドリング周波数f0が測定されてマイクロ
プロセッサ35は休止状態に戻って硬貨の到着を待つ。
受容限界が連続的に再三計算される。受容可能な５セン
ト硬貨以外の硬貨が挿入されると、そのＦの値は受容限
界内に存在しないので、その硬貨は拒否される。この
後、新しいアイドリング周波数f0が測定されてマイクロ
プロセッサ35は休止状態に戻って硬貨の到着を待つ。
第８番目の後の各受容可能な５セント硬貨に関するＦ新
平均値と受容限界の計算により本発明の装置は自己同調
して自体を再較正し、かくして、パラメータのドリフ
ト、温度、および環境の変化等を補償することができ
る。この有利な補償が達成するためには、Ｆ新平均値が
前に受容された硬貨により過度な重み付けをされないこ
とが重要である。従って、第32番目の５セント硬貨が挿
入されると、カウントは増加されてＣ＝32となり、プロ
セスは異なった具合に分岐する。Ｃ＝32のとき、硬貨カ
ウントＣは16にリセットされる。すなわち、Ｃ＝16。次
に、硬貨カウント値Ｃ＝16はＦ新平均値計算のために使
用される。第33番目の硬貨が受けられると、硬貨カウン
トＣ＝16が後でのプロセス段階で使用されるように増加
される。上述のプロセスは、５セント硬貨が更に挿入さ
れるに従って無期限に続く。
平均値と受容限界の計算により本発明の装置は自己同調
して自体を再較正し、かくして、パラメータのドリフ
ト、温度、および環境の変化等を補償することができ
る。この有利な補償が達成するためには、Ｆ新平均値が
前に受容された硬貨により過度な重み付けをされないこ
とが重要である。従って、第32番目の５セント硬貨が挿
入されると、カウントは増加されてＣ＝32となり、プロ
セスは異なった具合に分岐する。Ｃ＝32のとき、硬貨カ
ウントＣは16にリセットされる。すなわち、Ｃ＝16。次
に、硬貨カウント値Ｃ＝16はＦ新平均値計算のために使
用される。第33番目の硬貨が受けられると、硬貨カウン
トＣ＝16が後でのプロセス段階で使用されるように増加
される。上述のプロセスは、５セント硬貨が更に挿入さ
れるに従って無期限に続く。
上述のように、本発明の方法は周波数に基礎を置く試験
に限定されない。また、統計関数は単に移動平均に限定
されない。更に、上述のフローチャートの具体例は計算
過程で数8,16および32を使用しているが、本発明から逸
脱せずに他の所定数も使用できる。値8,16および32が選
択されたのは、ａ）８個の硬貨が受容された後にＦ新平
均値がかなり良く決定され、ｂ）受容可能な硬貨が更に
挿入されてもほとんど影響を与えないように32個の硬貨
が挿入された後にＦ新平均値が大いに重み付けをされ、
そしてｃ）数16が８と32の間にあるからである。
に限定されない。また、統計関数は単に移動平均に限定
されない。更に、上述のフローチャートの具体例は計算
過程で数8,16および32を使用しているが、本発明から逸
脱せずに他の所定数も使用できる。値8,16および32が選
択されたのは、ａ）８個の硬貨が受容された後にＦ新平
均値がかなり良く決定され、ｂ）受容可能な硬貨が更に
挿入されてもほとんど影響を与えないように32個の硬貨
が挿入された後にＦ新平均値が大いに重み付けをされ、
そしてｃ）数16が８と32の間にあるからである。
この好適な実施例では、マイクロプロセッサ35は添付の
プリントアウトに従ってプログラムされているが、電子
硬貨試験装置10の動作は上述の記載から当業者に明らか
であろう。
プリントアウトに従ってプログラムされているが、電子
硬貨試験装置10の動作は上述の記載から当業者に明らか
であろう。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭53−75998（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−60390（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−214990（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−72290（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】真贋性と額面に関し複数の額面の硬貨を試
験し、該試験結果から硬貨が受容可能かどうかについて
決定している硬貨認識装置であって、 硬貨の真贋性と額面とについての一つまたはそれ以上の
特性を示す試験データを得る手段、 所定の受容基準を用いて該試験が受容可能硬貨を示すも
のかどうかを決定する手段、及び 受容可能であると先に決定された複数の硬貨の試験デー
タに依存してその後に試験される硬貨に用いられる受容
基準を自動修正する手段を含み、 該受容基準の修正は、該複数の硬貨の最近に受容された
硬貨が該複数の硬貨のそれより前に受容された硬貨によ
るよりもより強く影響するような重み付けでなされてい
る硬貨認識装置において、 該試験装置の受容基準を初期調整する際に該所定の受容
限界を広い第１の範囲に設定し、予め選定された所定数
の許容硬貨を該装置に順次投入して前記試験データを得
る手段、決定する手段及び修正する手段を用い該受容基
準を修正した後に該所定の受容限界を該第１の範囲より
狭い第２の範囲に設定し直す手段を含むことを特徴とす
る硬貨認識装置。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US58525384A | 1984-03-01 | 1984-03-01 | |
| US585253 | 1984-03-01 | ||
| PCT/US1985/000369 WO1985004037A1 (en) | 1984-03-01 | 1985-03-01 | Self-tuning coin recognition system |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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Family
ID=24340677
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60501328A Expired - Lifetime JPH0727585B2 (ja) | 1984-03-01 | 1985-03-01 | 自己同調硬貨認識装置 |
| JP3027053A Expired - Lifetime JPH0785277B2 (ja) | 1984-03-01 | 1991-02-21 | 硬貨試験装置作動方法 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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| JP (2) | JPH0727585B2 (ja) |
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| AT (1) | ATE61136T1 (ja) |
| AU (1) | AU584330B2 (ja) |
| BR (1) | BR8505538A (ja) |
| CA (1) | CA1228921A (ja) |
| DE (1) | DE3581817D1 (ja) |
| DK (1) | DK502785A (ja) |
| ES (1) | ES8700886A1 (ja) |
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| MX (1) | MX160403A (ja) |
| WO (1) | WO1985004037A1 (ja) |
| ZA (1) | ZA851248B (ja) |
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