JPH07281930A - 情報処理装置動作測定解析システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ソフトウエア・イベントの時系列採取を低オ
ーバーバヘッドで実施し、ソフトウエア・イベントの発
生時刻、ソフトウエア・イベント間の経過時間を高精度
で調べることの可能な安価なシステムを提供する。 【構成】 測定対象情報処理装置１は、測定対象ソフト
ウェア・イベントが発生したときにソフトウェア・プロ
ーブを実行することによりデータ情報とアドレス情報と
サンプルクロックを出力し、測定解析用情報処理装置２
は、１つのバッファ部に測定データを書き込んでいる間
に他のバッファ部に記憶されている測定データを不揮発
性記録部に書き込み、又１つのバッファ部に測定データ
を書き終ると新たな測定データを他のバッファ部に書き
込む。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、情報処理装置の動作を
調べる測定解析システムに関し、特に、測定対象である
情報処理装置において、測定対象となるソフトウエア・
イベントが発生してから、別のソフトウエア・イベント
が発生するまでの時間を測定することにより、情報処理
装置動作を測定解析する装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】情報処理装置の動作状況を調べる測定装
置は、文献（Ｃｏｍｐｕｔｅｒ Ｐｅｒｆｏｒｍａｎｃ
ｅ Ｅｖａｌｕａｔｉｏｎ Ｍｅｔｈｏｄｏｌｏｇｙ，
Ｔｒａｎｓａｃｔｉｏｎｓ ｏｎ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ
ｓ， Ｖｏｌ．ｃ−３３， Ｎｏ．１２， Ｄｅｃ．１
９８４）でまとめられている通り、１）ハードウエア・
モニタ、２）ソフトウエア・モニタ、３）ハイブリッド
・モニタに大別される。また、測定によって得られる結
果には、 １）計算機動作を時系列データとして記録したトレース
・データ、 ２）例えば、特定の手続実行時間などのように着目する
性能評価項目の結果、 の２種類がある。一般には、充分な長さのトレース・デ
ータが得られれば、各種の性能評価データは、このトレ
ース・データを解析することにより得ることができるた
め、計算機性能を評価するには、トレース・データを得
る方が望ましい。測定によって採取したトレース・デー
タから、計算機性能を評価する方式の例が、特開平２−
１７３８４１号公報「プログラム実行時間測定方式」に
示されている。ここでは、トレースを得るための具体的
な手段が示されていないが、一般に、ここで示されてい
るような命令のトレースを得るには、 １）測定オーバーヘッドが大きくなる、または、 ２）高価な測定装置を必要とする、 のどちらかの問題が発生する。

【０００３】ハードウェア・モニタとは、高インピーダ
ンスのハードウェア・プローブを測定対象装置に接続
し、測定対象計算機のハードウエア信号として表れる計
算機動作を調べる測定装置である。この装置は、測定対
象計算機内部のハードウェア信号を外部からモニタする
のみであるため、測定のために対象計算機のソフトウェ
アを変更し、その動作を変える必要は全くない。従っ
て、ハードウェア・モニタを用いた測定では、対象計算
機装置の動作を乱すことがなく、実働状況を正確に測定
できるという特徴がある。これは、他のモニタにはない
大きな利点である。

【０００４】この反面、プロセス切り換えなどのソフト
ウェア・イベントはハードウェア信号として外部に出力
されないことから、このモニタから直接には検出できな
い。従って、このようなイベントについてハードウェア
・モニタ単独での測定・評価はできないという欠点があ
る。

【０００５】ハードウエア・モニタの例に特開昭６３−
９１７５２号公報「電子計算機の性能評価測定方式」が
あるが、これは、履歴記録モードに利用するメモリを用
いて、各種の性能評価測定データを得る目的のモニタで
あり、トレース・データを得るための装置ではない。

【０００６】また、特開昭６３−２７６６３８号公報
「ソフトウェア開発支援装置」には、ハードウエアによ
りソフトウエア実行の履歴を表すデータを採取できる装
置が示されているが、履歴を記録する媒体として、電子
計算機の記憶装置（メモリ）と同等な記憶回路を用いて
いるため、装置が高価になるのに加え、同一の実行アド
レスを持つプログラムを繰り返し実行する場合の実行履
歴を正確に採取できないという問題がある。

【０００７】一方、ソフトウェア・モニタは、ソフトウ
ェア・プローブにより測定対象計算機装置の動作を調べ
るための装置である。このソフトウェア・プローブは、
『測定・評価に必要な情報を測定対象計算機から取り出
して記録する』という操作を行なうプローブ命令列を、
対象計算機の機械語命令列（具体的にはＯＳやアプリケ
ーション）中に組み込んだものである。なお、機械語命
令列ではなくマイクロ・コードの命令に埋め込まれるマ
イクロ・コード命令列としてインプリメントされるプロ
ーブもあり、『マイクロコード・プローブ』と呼ばれる
場合があるが、広義の意味では、ソフトウェア・プロー
ブとして扱っても差し支えない。

【０００８】ソフトウェア・プローブは、プローブ命令
列が起動される契機により、イベント・ドリブン方式と
タイマ・ドリブン方式に大別される。イベント・ドリブ
ン方式は、測定対象イベント（メモリ・アクセスや命令
実行など）の発生により起動される方式である。

【０００９】タイマ・ドリブン方式は、クロック割り込
みなどを契機に、一定時間間隔で起動される方式であ
り、サンプリング方式ともいう。なお、これらの方式に
よるプローブを併用して測定を行なうこともある。

【００１０】このソフトウェア・プローブは、測定対象
計算機のソフトウエアに埋め込まれた命令列であること
から、任意の時点で任意のアドレスのメモリ内容やレジ
スタ内容、すなわち、ソフトウェアに関連した情報を調
べることが可能であるという利点がある。従って、ソフ
トウエア・プローブによると、ソフトウエア・イベント
の検出は容易である。この反面、プローブ命令列が実行
されている間、測定対象計算機は、本来・実行する必要
のない命令を実行していることになるため、ソフトウエ
ア・プローブを挿入していない場合に比較し、プログラ
ム実行に要する時間がかかる、すなわち、測定オーバー
ヘッドが生じるという欠点がある。一般に、この測定オ
ーバーヘッドは、プローブで行なう操作内容が複雑にな
るほど、また、プローブが起動される時間間隔が短いほ
ど大きくなる。

【００１１】このソフトウエア・プローブにより、マル
チタスク方式で対話的処理を行なう計算機システムの性
能測定を行なうシステムの例が、特開平２−１３９６４
４号公報「計算機システム」に示されているが、このシ
ステムでは、ソフトウエアのみによって測定を行ない、
測定対象システムのメモリに測定データを格納している
ため、１）測定対象システムの動作を詳細に調べる、す
なわち、ソフトウエア・プローブの起動間隔が短くなる
と、測定オーバーヘッドが大きくなる、 ２）場合によっては、測定対象計算機がメモリ不足に陥
り、測定対象プログラムの実行に悪影響を与える、 ３）測定データを記録するために確保したメモリ領域に
測定データを書き終えるまでの短時間しか測定を実施で
きない、という問題がある。

【００１２】更に、イベント・ドリブン方式のソフトウ
エア・プローブが、現在時刻、すなわち、当該ソフトウ
エア・プローブが検出したソフトウエア・イベントの発
生時刻を調べるには、一般に、オペレーティング・装置
が管理する、精度が１０ｍＳオーダのタイマを使用する
ため、得られる時刻の精度は、このタイマの精度に依存
する。

【００１３】また、タイマ・ドリブン方式のソフトウエ
ア・プローブは、測定対象計算機内部のソフトウエア動
作とは非同期に発生するクロック割込みにより起動され
ることから、プロセス切り換えなど、測定対象計算機内
部のソフトウエア動作に同期して発生するソフトウエア
・イベントを検出することはできない。従って、この方
式では、ソフトウエア・イベントの発生時刻や、ソフト
ウエア・イベントからソフトウエア・イベントまでに費
やした時間を求めることはできない。

【００１４】ハイブリッド・モニタは、ハードウエア・
プローブとソフトウエア・プローブを併用する測定装置
である。この測定装置において、ソフトウェア・プロー
ブの役割は、ソフトウェア・イベントを検出して、これ
を、特定のハードウェア資源に書き込むことである。こ
れは、ソフトウェア・イベントをハードウェア・イベン
トに変換することを意味する。また、ハードウェア・プ
ローブの役割は、このようなハードウェア・イベントを
モニタし、必要なハードウェア信号とともに、時系列デ
ータとして記録することである。ソフトウエア・プロー
ブにより、ソフトウエア・イベントを検出し、それを測
定データとして記録するという操作の必要なソフトウェ
ア・モニタとこの方式とを比較すると、ハイブリッド・
モニタでは、記録操作が不要となるため、ソフトウェア
・プローブのオーバーヘッドが少なくなるという利点が
ある。

【００１５】このように、ソフトウエアとハードウエア
の両者により、性能評価データを得る装置の例が、特開
昭６２−２６４３４２号公報「計算機負荷測定装置」に
示されているが、この装置により得られるのは、計算機
の負荷を示した数値であり、トレース・データを得るこ
とはできない。

【００１６】また、ハードウエア・プローブおよび時系
列データを記録する装置として、ロジック・アナライザ
を利用したハイブリッド・モニタの例が、文献（Ｍｅａ
ｓｕｒｅｉｎｇ ＯｐｅｒａｔｉｎｇＳｙｓｔｅｍ Ｐ
ｅｒｆｏｒｍａｎｃｅ ｏｎＭｏｄｅｒｎ Ｍｉｃｒｏ
−Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒｓ， Ｐｅｒｆｏｒｍａｎｃｅ
ＥｖａｌｕａｔｉｏｎＲｅｖｉｅｗ Ｖｏｌ．１４，
Ｐｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓ ｏｆ １９８６ ＡＣＭ Ｓ
ＩＧＭＥＴＲＩＣＳ Ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ， Ｍｅａ
ｓｕｒｅｉｎｇａｎｄ Ｍｏｄｅｌｉｎｇ Ｃｏｍｐｕ
ｔｕｔｅｒｓｙｓｔｅｍ， ｐｐ．１９３−２０２．）
に示されている。通常、ロジック・アナライザは、時系
列データを記録する記録デバイスとして半導体メモリを
利用しているため、時系列データ記録装置が高価になる
のに加え、記録できる時系列データの量は、半導体メモ
リの容量に制限されることになる。

【００１７】このため、ロジック・アナライザのよう
に、時系列データを記録するデバイスとして半導体メモ
リを利用したハードウエア・ツールを利用する従来のハ
イブリッド・モニタでは、測定可能なデータ量が半導体
メモリの容量に制限され、長時間にわたる計算機動作を
記録できなかった。

【００１８】

【発明が解決しようとする課題】従来の情報処理装置動
作測定解析システムの内、ハードウエア・モニタでは、
ソフトウエア・イベントの検出ができないため、ソフト
ウエア動作を調べることができないという問題点があっ
た。

【００１９】サンプリングによりデータを収集する方式
のソフトウエア・モニタでは、ソフトウエア・イベント
の間に経過した時間を測定することはできないという問
題点があった。また、ソフトウエア・イベントの時系列
を採取する方式のソフトウエア・モニタでは、１）測定
オーバーヘッドが大きいため測定対象装置の動作が乱れ
る、２）イベント発生時刻の獲得は、通常、ＯＳの管理
するタイマによっているため、時刻の精度が１０ｍＳオ
ーダとなり、精度が不十分である、という問題点があっ
た。

【００２０】さらに、従来のハイブリッド・モニタで
は、時系列データ記録装置に使用する記録デバイスとし
て半導体メモリを利用していたため、時系列データ記録
装置が高価になるのに加え、その容量的な制限から、時
系列データ記録装置に記録できるデータ量が少なくな
り、結果として、長時間にわたる計算機動作を記録でき
ないという問題点があった。

【００２１】本発明は、このような従来の測定解析シス
テムの問題点を解決するものであり、その目的は、長時
間にわたる測定対象情報処理装置のソフトウエア動作、
すなわち、ソフトウエア・イベントの時系列採取を低オ
ーバーバヘッドで実施でき、さらには、ソフトウエア・
イベントの発生時刻、および、ソフトウエア・イベント
間の経過時間を高精度で調べることの可能な、安価な情
報処理装置動作測定解析システムを提供することにあ
る。

【００２２】

【課題を解決するための手段】第１の発明の情報処理装
置動作測定解析システムは、測定対象情報処理装置と測
定解析用情報処理装置とから構成され、該測定対象情報
処理装置における測定対象ソフトウェア・イベントの発
生間隔を測定する情報処理装置動作測定解析システムに
おいて、前記測定対象情報処理装置は、測定対象ソフト
ウェア・イベントが発生したときにソフトウェア・プロ
ーブを実行することによりデータ情報とアドレス情報と
サンプルクロックを出力し、前記測定解析用情報処理装
置は、不揮発性記録部と、前記データ情報と前記アドレ
ス情報と時刻情報とからなる測定データを前記サンプル
クロックに従い記憶する複数個のバッファ部とを備え、
１つのバッファ部に測定データを書き込んでいる間に他
のバッファ部に記憶されている測定データを前記不揮発
性記録部に書き込み、又１つのバッファ部に測定データ
を書き終ると新たな測定データを他のバッファ部に書き
込むことを特徴とする。

【００２３】第２の発明の測定対象情報処理装置と測定
解析用情報処理装置とから構成され、該測定対象情報処
理装置における測定対象ソフトウェア・イベントの発生
間隔を測定する情報処理装置動作測定解析システムにお
いて、前記測定対象情報処理装置は、測定対象ソフトウ
ェア・イベントが発生したときにソフトウェア・プロー
ブを実行することによりデータ情報とアドレス情報とサ
ンプルクロックを出力し、前記測定解析用情報処理装置
は、不揮発性記録部と、前記データ情報と前記アドレス
情報と時刻情報とからなる測定データを前記サンプルク
ロックに従い記憶する複数個の第１のバッファ部と、複
数個の第２のバッファ部とを備え、測定データを第１の
バッファ部に書き込む操作と、第１のバッファ部に記憶
された測定データを第２のバッファ部に転送する操作
と、第２のバッファ部に記憶された測定データを不揮発
性記録部に書き込む操作を並行して行うことを特徴とす
る。

【００２４】

【作用】本発明においては、測定対象情報処理装置でソ
フトウエア・イベントが発生すると、そのイベントを処
理するためのプログラム内に埋め込まれたソフトウエア
・プローブが実行され、測定対象情報処理装置の特定ハ
ードウエアに対する書き込みが行なわれる。この書き込
みは検出部によって検出され、書き込み操作のあったこ
とを示すサンプル・クロック、および、書き込みデータ
と書き込みアドレスが測定解析用情報処理装置に対して
出力される。

【００２５】測定解析用情報処理装置では、検出部から
出力されるサンプル・クロックに従い、書き込みデータ
と書き込みアドレス、および、ハードウエア的に時刻を
示すクロック・カウンタから出力される時刻情報をラン
ダム・アクセス可能な高速メモリにより構成されるバッ
ファ部に記録する。さらに、測定解析用情報処理装置に
おいて、１つのバッファ部に測定データを書き終える
と、直ちに、新たな測定データ書き込み先を別のバッフ
ァ部に切り換えて測定データの書き込みを続けるととも
に、これと並行して、それまで測定データが書き込んで
いたバッファに存在している測定データを、半導体メモ
リに比べデータ容量当りの価格が低い磁気ディスク装置
や光磁気ディスク装置のような不揮発性記録装置に書き
込む。

【００２６】なお、第２の発明による情報処理装置動作
測定解析システムでは、バッファ部に存在する測定デー
タの不揮発性記録装置への書き込みを、主記憶内に設け
た主記憶内バッファ領域を介して行なうことにより、測
定データのバッファ部への書き込み操作と、バッファ部
に存在する測定データの主記憶内主記憶内バッファ領域
への転送操作と、主記憶内主記憶内バッファ領域に存在
する測定データの不揮発性記録装置への書き込み操作を
並行して行なう。

【００２７】以上の操作により、不揮発性記録装置に書
き込まれた測定データの中の時刻情報の差を調べること
により、測定対象情報処理装置において、ソフトウエア
・イベントが発生してから、次のソフトウエア・イベン
トが発生するまでに経過した時間を調べる。これによ
り、測定対象情報処理装置の動作状況を解析することが
可能になる。

【００２８】

【実施例】図１は、本発明における情報処理装置動作測
定解析システムの一実施例を説明するための図、図２
（ａ）、（ｂ）は、測定対象情報処理装置のソフトウエ
アに埋め込まれるソフトウエア・プローブの例を示す
図、図３は、本発明による情報処理装置動作測定解析シ
ステムの一実施例におけるソフトウエア・プローブ用イ
ンタフェース部の構成を示した図、図４は、本発明によ
る情報処理装置動作測定解析システムの一実施例におけ
る測定データ記録制御部の構成を示した図、図５は、本
発明による情報処理装置動作測定解析システムの一実施
例におけるＤＭＡ制御部の構成を示した図である。

【００２９】図１において、測定対象情報処理装置１の
ソフトウエア内には、測定対象となる全ソフトウエア・
イベントについて、それらが発生したときに実行される
総ての手続きに、図２（ｂ）に例を示すソフトウエア・
プローブを埋め込んでおく。なお、図２（ａ）は、測定
を行なわない通常の使用時において、測定対象情報処理
装置１に搭載される、ソフトウエア・プローブを埋め込
まない状態のソフトウエアである。このソフトウエア・
プローブは、手続きＡの実行開始時、および実行終了時
に、各々、予め定められた値である、手続きＡの実行開
始を示す値や手続きＡの実行終了を示す値、更には、手
続Ａが起動された原因を詳細に調べるのに必要な情報や
手続Ａの実行結果を詳細に調べるのに必要な情報を経路
６１を通して、ソフトウエア・プローブ用インタフェー
ス部１３に書き込む。

【００３０】なお、本実施例におけるソフトウエア・プ
ローブでは、前者の情報と後者の情報を区別するため、
これらは異なるアドレスに書き込む。これにより、ソフ
トウエア・プローブが書き込みを行なった特定ハードウ
エアのアドレス情報も、測定データの一部として記録し
ておくことにより、解析プログラムは、アドレス情報に
よって前者の情報と後者の情報の区別を付けることが可
能となる。

【００３１】図２（ｂ）に例を示すソフトウエア・プロ
ーブを測定対象情報処理装置１のソフトウエア内に埋め
込んだ状態で測定対象プログラムを実行させた場合、手
続きＡの実行開始、および実行終了というソフトウエア
・イベントが発生すると、ソフトウエア・プローブによ
り、特定ハードウエアとして用意されたソフトウエア・
プローブ用インタフェース部１３への書き込みが行なわ
れる。このソフトウエア・プローブ用インタフェース部
１３の構成を図３に示す。図において、検出部１４は、
測定対象情報処理装置のバス１５のアドレスを常に監視
しソフトウエア・プローブのために用意された特定ハー
ドウエアのアドレスがバス１５に出力された時に一致信
号を有効にする。この一致信号とバス１５の書き込み指
示信号の論理積を取ることにより、アドレス・レジスタ
およびデータレジスタへの書き込み信号を作成する。こ
の書き込み信号により、バス１５に出力されているデー
タおよびアドレスがアドレス・レジスタとデータ・レジ
スタに取り込まれ、各々、プローブ・データおよびプロ
ーブ・アドレスとして外部に出力される。さらに、アド
レス・レジスタとデータ・レジスタへの書き込み信号
は、サンプル指示信号として外部に出力される。

【００３２】以上の操作により、ソフトウエア・プロー
ブによって書き込まれたデータおよび書き込み先のアド
レスは、プローブ・データとプローブ・アドレスとし
て、サンプル指示信号とともに測定対象情報処理装置１
の外部に出力される。なお、図３では、データおよびア
ドレスを保持するためのレジスタを用意した例を示した
が、この他に、測定解析用情報処理装置２の側で、サン
プル指示信号に従って直接バッファ部にプローブ・デー
タおよびプローブ・アドレスを書き込むことにより、測
定対象情報処理装置１の側にはレジスタを置かない構成
も、本発明から容易に類推可能である。

【００３３】測定解析用情報処理装置２は、上記の操作
によって測定対象情報処理装置１から出力されたプロー
ブ・データおよびプローブ・アドレスを、サンプル指示
信号に従い、以下に説明する操作により記録する。

【００３４】ここでは、図１に示されているように、測
定解析用情報処理装置２のスイッチ４１〜４６、すなわ
ち、測定データ転送先切り換えスイッチ、測定データ読
み込み元切り換えスイッチ、第１バッファ部アドレス切
り換えスイッチ、第２バッファ部アドレス切り換えスイ
ッチ、バッファ部状態フラグの測定データ書き込み側切
り換えスイッチ、バッファ部状態フラグの測定データ読
み出し側切り換えスイッチが、ａ側に切り換わっている
場合の動作を、以下に示す。

【００３５】測定対象情報処理装置１から出力されたプ
ローブ・データおよびプローブ・アドレスは、クロック
用発振器５１によりカウント・アップするクロック・カ
ウンタからのタイム・スタンプ情報とともに、測定デー
タ転送先切り換えスイッチ４１を通して第２バッファ部
３２に入力される。このクロック・カウンタをカウント
・アップするクロック用発振器５１とサンプル指示信号
は非同期である。このようなデータ測定では、一般に、
タイムスタンプ情報をグレー・コードで表現しておくこ
とで、ビット列で表現されるタイムスタンプ情報におい
て、２ビット以上が同時に変化しないようにすることは
常套手段であり、本実施例においても、クロック・カウ
ンタは、グレー・コードを採用している。

【００３６】また、測定対象情報処理装置１から出力さ
れたサンプル指示信号は、測定データ記録制御部３５に
入力される。この測定データ記録制御部３５の構成を図
４に示す０測定データ記録制御部３５では、書き込みク
ロックによりカウント・アップされる書き込みアドレス
・カウンタと、書き込みアドレス・カウンタのアドレス
が一巡したことを検出する書き込みアドレス・カウンタ
一巡検出部と、スイッチ４１〜４６を制御するスイッチ
切り換え制御部と、バッファ状態フラグを監視しバッフ
ァへの書き込み行なうかどうかを決定する書き込み制御
部を内蔵している。

【００３７】バッファ部に対しては、書き込み制御部を
経由したサンプル指示信号が書き込み指示信号として、
また、書き込みアドレス・カウンタから出力されるアド
レスが書き込みアドレスとして第２バッファ部アドレス
切り換えスイッチを経由して第２バッファ部３２に加え
られる。なお、書き込み制御部は、バッファ部状態フラ
グの測定データ書き込み側切り換えスイッチ４５を経由
して入力される第２バッファ状態フラグがリセットされ
ている場合に、測定対象情報処理システム１から出力さ
れるサンプル指示信号を書き込みクロックとしてバッフ
ァ部に出力する役割を果たしている。

【００３８】第２バッファ部３２では、書き込みアドレ
スで示されるバッファ位置に、書き込みクロックに従っ
て、書き込みデータ、書き込みアドレス情報、およびタ
イム・スタンプ情報を記録する。また、測定対象情報処
理装置１から出力されるサンプル指示信号は、バッファ
部に対する書き込み指示信号の他に、書き込みアドレス
・カウンタのカウント・アップ信号として使われる。こ
れにより、測定データをバッファ部に書き込む度に、書
き込みアドレス・カウンタのアドレスがカウント・アッ
プされるため、各測定データは、バッファ部に対してア
ドレス順に書き込まれる。

【００３９】以上の操作を繰り返して、第２バッファ部
３２にデータを書き終える、すなわち、測定データ記録
制御部３５に内蔵している書き込みアドレス・カウンタ
が一巡すると、書き込みアドレスカウンタ一巡検出部が
これを検出し、バッファ部状態フラグのリセット信号を
出力する。この信号は、バッファ部状態フラグの測定デ
ータ書き込み側切り換えスイッチ４５を通して、第２バ
ッファ部状態フラグ３４に伝わり、第２バッファ部状態
フラグ３４がセットした状態に変化する。また、書き込
みアドレスカウンタ一巡検出部の出力は、スイッチ切り
換え制御部にも伝わり、ここで、スイッチ４１〜４６を
ｂ側に切り換える操作を行なう。

【００４０】この操作により、書き込み制御部に入力さ
れるバッファ部状態フラグは、バッファ部状態フラグの
測定データ書き込み側切り換えスイッチ４６のｂ側にに
接続されている第２バッファ部状態フラグ３４となる。
このフラグがリセットされている場合は、この後、測定
解析用情報処理装置２は、上記の説明において、第１バ
ッファ部３１と第２バッファ部３２、第１バッファ部状
態フラグ３３と第２バッファ部状態フラグ３４、第１バ
ッファ部アドレス切り換えスイッチ４３と第２バッファ
部アドレス切り換えスイッチ４４、スイッチ４１〜４１
のａ側とｂ側、を交換した動作を行ない、第１バッファ
部３１への測定データの書き込みを行なう。

【００４１】また、バッファ部状態フラグの状態をチェ
ックした結果、それがセットされていた場合は、以下に
説明するバッファ部から主記憶内バッファ領域への転送
操作が完了していないことを示しているため、これ以
降、書き込み制御部では、書き込み指示信号の出力を停
止する。

【００４２】以上の操作により、測定対象情報処理装置
１から出力されるプローブ・データおよびプローブ・ア
ドレスは、タイムスタンプ情報を付与され、測定解析用
情報処理装置２内の第１バッファ部３１および第２バッ
ファ部３２に交互に書き込まれる。

【００４３】上記の操作により、測定解析用情報処理装
置２内のバッファ部に貯えられた測定データは、以下に
説明する手順により、主記憶２２内の主記憶内バッファ
領域に転送する。

【００４４】以下の説明では、図１に示す通り、スイッ
チ４１〜４６が、ａ側に切り換わった直後の動作、すな
わち、第１バッファ部３１に測定データを書き終えた
後、測定データ記録制御部３５が、第１バッファ部状態
フラグ３３の測定データ書き込み側切り換えスイッチ４
５を通して、第１バッファ部状態フラグ３３をセットし
た後、スイッチ４１〜４６をａ側に切り換えた直後の動
作をとり上げる。この転送操作を行なうのがＤＭＡ制御
部２７であり、その内部の構成を図５に示す。通常のＤ
ＭＡ操作と同様、ＤＭＡ操作は、測定解析用情報処理装
置のプロセッサ２１の指示により既に起動されている。
この起動処理において、主記憶アドレス・カウンタには
主記憶内バッファ領域の先頭アドレスが設定される。

【００４５】ここで説明するように、スイッチ４１〜４
６をａ側に切り換えた直後における主記憶アドレス・カ
ウンタは、予め、プロセッサ２１によって、第１主記憶
内バッファ領域２３の先頭アドレスされた状態になって
いる。まず、バス転送制御部は、バッファ部状態フラグ
の測定データ読み出し側切り換えスイッチ４６の先に接
続されているバッファ部状態フラグを常に監視してい
る。前記の切り換え操作により、バス転送制御部の監視
するバッファ部状態フラグは、リセットされた状態の第
２バッファ部状態フラグ３５から、セットされた状態の
第１バッファ部状態フラグ３３に切り換わるため、バス
転送制御部に対して、バッファ部状態フラグの測定デー
タ読み出し側切り換えスイッチ４６を通して入力される
バッファ部状態フラグは、リセットされた状態からセッ
トされた状態に変化する。この変化を検出すると、バス
転送制御部は、読み出しアドレス・カウンタに対してリ
セット信号を出力し、読み出しアドレス・カウンタをリ
セットする。

【００４６】この後、バス転送制御部は、従来技術によ
るＤＭＡ操作と同様、測定解析用情報処理装置２のバス
２８に対してバス使用要求を出力する。このバス使用要
求が受け付けられ、バス使用許可が得られると、バッフ
ァ部とバス・インタフェース部２６に対し読み出し指示
信号を出力する。

【００４７】スイッチ４１〜４６がａ側に切り換わって
いる場合、この読み出し指示信号と、読み出しアドレス
・カウンタから出力される読み出しアドレスは、第１バ
ッファ部アドレス切り換えスイッチ４１を通して第１バ
ッファ部３１に入力される。

【００４８】これにより、第１バッファ部３１は、読み
出しアドレスにより示される位置に記録されている測定
データを、測定データ読み込み元切り換えスイッチ４２
に対して出力する。このデータはバス・インタフェース
２６を経由して測定解析用情報処理装置のバス２８に出
力される。このとき、同時に、主記憶アドレス・カウン
タの示す主記憶アドレスもこのバスに出力され、最終的
には、測定データが、主記憶内バッファ領域中の主記憶
アドレスにより示される位置に書き込まれる。

【００４９】以上の手順により、１つの測定データの転
送が終了すると、バス転送制御部は、バス使用要求およ
び読み出し指示信号の出力を止める。これにより、読み
出しアドレス・カウンタおよび主記憶アドレス・カウン
タはインクリメントされるようになっている。

【００５０】以上の操作を繰り返し行なうことにより、
バッファ部に記録されている測定データは、順に、主記
憶内バッファ領域への転送経路６２を経由し、データが
主記憶２２内の主記憶内バッファ領域２３に書き込まれ
る。

【００５１】なお、本実施例における測定解析用情報処
理装置２では、主記憶２２内における測定データの書き
込み先アドレスを示す主記憶アドレス・カウンタを内蔵
しており、データ転送を行なう度に、このカウンタをイ
ンクリメントし、主記憶２２内における測定データの書
き込み先アドレスを変化させるようになっているが、読
み出しアドレス・カウンタから出力される読み出しアド
レスの一部を、主記憶２２内の主記憶内バッファ領域２
３における書き込み位置を示すアドレスの一部として、
使用することにより、カウンタを削減することも可能で
ある。

【００５２】以上説明した手順により、第１バッファ部
３１に記録されたデータを総て主記憶２２内の第１主記
憶内バッファ領域２３に転送し終える。すなわち、読み
出しアドレス・カウンタが一巡すると、読み出しアドレ
ス・カウンタ一巡検出部がこれを検出し、バッファ部状
態フラグのリセット信号、および、測定解析用情報処理
装置２のプロセッサ２１に対してＤＭＡ操作の終了を通
知するための割り込み要求を発生させる。バッファ部状
態フラグのリセット信号は、バッファ部状態フラグの測
定データ読み出し側切り換えスイッチ４６を通して、第
１バッファ部状態フラグ３３に加えられ、第１バッファ
部状態フラグ３３がリセットされる。

【００５３】また、測定解析用情報処理装置のプロセッ
サ２１が割り込みを受け付け、ＤＭＡ操作の終了を認識
すると、第２主記憶内バッファ領域２４の先頭アドレス
を主記憶アドレス・カウンタに設定し、次のＤＭＡ操作
を起動する。

【００５４】以上、スイッチ４１〜４６がａ側に切り換
わっているときの動作を示したが、これらのスイッチが
ｂ側に切り換わっている場合、測定解析用情報処理装置
２は、上記の説明において、第１バッファ部３１と第２
バッファ部３２、第１バッファ部状態フラグ３３と第２
バッファ部状態フラグ３４、第１主記憶内バッファ領域
２３と第２主記憶内バッファ領域２４、第１バッファ部
アドレス切り換えスイッチ４３と第２バッファ部アドレ
ス切り換えスイッチ４４を交換した動作を行なう。

【００５５】以上の操作により、バッファ部に記録され
た測定データは、測定解析用情報処理装置２の主記憶２
２内の第１主記憶内バッファ領域２３および第２主記憶
内バッファ領域２４に、交互に転送される。

【００５６】バッファ部から、測定解析用情報処理装置
２の主記憶２２内の主記憶内バッファ領域への測定デー
タの転送が完了し、ＤＭＡ制御部２７が、測定解析用情
報処理装置２のプロセッサ２１に対して割り込みを発生
させると、測定解析用情報処理装置２のプロセッサ２１
では、主記憶内バッファ領域から磁気ディスク装置２５
へのデータ転送を起動する。なお、この主記憶に存在す
るデータを磁気ディスク装置２５に転送する操作は、従
来技術による情報処理装置で行なわれているデータ転送
操作と同じである。さらに、このデータ転送は、バッフ
ァ部から主記憶内バッファ領域へのデータ転送と並行し
て行なうことが可能であり、前に説明した手順により、
第１バッファ部３１から第１主記憶内バッファ領域２３
へのデータ転送を行なっているときは、同時に、第２主
記憶内バッファ領域２４から磁気ディスク装置２５への
データ転送を行なうことが可能である。

【００５７】以上説明した手順により、本実施例による
測定解析用情報処理装置２は、測定対象情報処理装置１
から出力される、ソフトウエア・イベントの発生を示す
書き込みデータと、この書き込み時刻を示すタイムスタ
ンプ情報を、時系列データとして、磁気ディスク装置２
５に記録する。この磁気ディスク装置２５に記録された
時系列データは、測定終了後、測定解析用情報処理装置
２に搭載された解析プログラムを実行させることによ
り、時系列データの磁気ディスク装置２５からの読み出
し経路６４を通して測定解析用情報処理装置のプロセッ
サ２１に読み出される。

【００５８】解析プログラムでは、例えば、図２（ｂ）
に示すソフトウエア・プローブから出力されるデータを
解析する場合、「手続Ａの開始を示す値」が記録されて
いるデータに付与されている時刻と、「手続Ａの終了を
示す値」が記録されているデータに付与されている時刻
の差を調べることにより、手続Ａの開始から終了までに
経過した時間を調べる。

【００５９】以上、実施例をもって本発明を詳細に説明
したが、本発明は、この実施例のみに限定されるもので
はない。例えば、実施例は、ソフトウエア・プローブが
書き込みを行なう特定のハードウエア資源として、測定
対象情報処理装置１の入出力空間にマップされたレジス
タを用いているが、測定対象情報処理装置１における主
記憶空間中の特定領域を用い、検出部を、この情報処理
装置に搭載される主記憶部に接続する場合にも、本発明
が適用できることは明らかであろう。

【００６０】また、本実施例では、バッファ部と主記憶
内バッファ領域の大きさや数、および、一回のＤＭＡ起
動でバッファ部から主記憶内バッファ領域へ転送するデ
ータ量と主記憶内バッファ領域から磁気ディスク装置に
書き込むデータ量は同じとしたが、これらが異なってい
る測定解析用情報処理装置、例えば、バッファ部と主記
憶内バッファ領域の大きさが異なっており、バッファ部
に記録されている全データを転送するのに複数回のＤＭ
Ａ起動を要する測定解析用情報処理装置なども、本発明
が適用できることは明らかであろう。

【００６１】さらに、本実施例では、汎用の情報処理装
置に、バッファ部等を付与し、主記憶中にも主記憶内バ
ッファ領域を配置して測定解析用情報処理装置を構成し
たが、磁気ディスク装置や光磁気ディスク装置のよう
に、書き込みに際して、シーク時間や回転待ち時間等の
準備時間を必要とする不揮発性記録装置と、ランダム・
アクセス可能な高速メモリにより構成される２組以上の
バッファ部から構成される測定解析用情報処理装置と、
不揮発性記録装置に記録された時系列データを入力して
解析を行なう解析装置が分離した構成であっても、本発
明が適用できることは明らかであろう。

【００６２】

【発明の効果】以上説明したとおり、本発明によれば、
長時間にわたる測定対象情報処理装置のソフトウエア動
作、すなわち、ソフトウエア・イベントの時系列採取を
低オーバーバヘッドで実施でき、さらには、ソフトウエ
ア・イベントの発生時刻、および、ソフトウエア・イベ
ント間の経過時間を高精度で調べることの可能な、安価
な情報処理装置動作測定解析システムを提供することが
できる。これにより、情報処理装置の動作測定解析を、
手軽に行なうことが可能となる。従来の、安価な測定装
置では、長時間にわたる測定対象情報処理装置のソフト
ウエア動作を調べることができなかった点、および、長
時間にわたる測定対象情報処理装置のソフトウエア動作
を調べるために測定装置に大容量のランダムアクセス可
能な高速メモリを搭載すると、測定装置が高価になって
しまい、このような測定解析を幅広く手軽に実施するこ
とは困難であった点を考えれば、この利点は、極めて大
きなものであるといえる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明における情報処理装置動作測定解析シス
テムの一実施例を説明するための図

【図２】測定対象情報処理装置のソフトウエアに埋め込
まれるソフトウエア・プローブの例を示す図

【図３】本発明による情報処理装置動作測定解析システ
ムの一実施例におけるソフトウエア・プローブ用インタ
フェース部の構成を示した図

【図４】本発明による情報処理装置動作測定解析システ
ムの一実施例における測定データ記録制御部の構成を示
した図

【図５】本発明による情報処理装置動作測定解析システ
ムの一実施例におけるＤＭＡ制御部の構成を示した図

【符号の説明】

１ 測定対象情報処理装置 ２ 測定解析用情報処理装置 １１ 測定対象情報処理装置のプロセッサ １２ 測定対象情報処理装置の主記憶 １３ ソフトウエア・プローブ用インタフェース部 １４ 検出部 １５ 測定対象情報処理装置のバス ２１ 測定解析用情報処理装置のプロセッサ ２２ 測定解析用情報処理装置の主記憶 ２３ 第１主記憶内バッファ領域 ２４ 第２主記憶内バッファ領域 ２５ 磁気ディスク装置 ２６ バス・インタフェース ２７ ＤＭＡ制御部 ２８ 測定解析用情報処理装置のバス ３１ 第１バッファ部 ３２ 第２バッファ部 ３３ 第１バッファ部状態フラグ ３４ 第２バッファ部状態フラグ ３５ 測定データ記録制御部 ４１ 測定データ転送先切り換えスイッチ ４２ 測定データ読み込み元切り換えスイッチ ４３ 第１バッファ部アドレス切り換えスイッチ ４４ 第２バッファ部アドレス切り換えスイッチ ４５ バッファ部状態フラグの測定データ書き込み側切
り換えスイッチ ４６ バッファ部状態フラグの測定データ読み出し側切
り換えスイッチ ５１ クロック用発振器 ５２ クロック・カウンタ ６１ ソフトウエア・プローブによる書き込み経路 ６２ バッファ部から主記憶内バッファ領域への転送経
路 ６３ 時系列データの磁気ディスク装置への書き込み経
路 ６４ 時系列データの磁気ディスク装置からの読み出し
経路

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】測定対象情報処理装置と測定解析用情報処
   理装置とから構成され、該測定対象情報処理装置におけ
   る測定対象ソフトウェア・イベントの発生間隔を測定す
   る情報処理装置動作測定解析システムにおいて、 前記測定対象情報処理装置は、測定対象ソフトウェア・
   イベントが発生したときにソフトウェア・プローブを実
   行することによりデータ情報とアドレス情報とサンプル
   クロックを出力し、 前記測定解析用情報処理装置は、不揮発性記録部と、前
   記データ情報と前記アドレス情報と時刻情報とからなる
   測定データを前記サンプルクロックに従い記憶する複数
   個のバッファ部とを備え、１つのバッファ部に測定デー
   タを書き込んでいる間に他のバッファ部に記憶されてい
   る測定データを前記不揮発性記録部に書き込み、又１つ
   のバッファ部に測定データを書き終ると新たな測定デー
   タを他のバッファ部に書き込むことを特徴とする情報処
   理装置動作測定解析システム。
2. 【請求項２】測定対象情報処理装置と測定解析用情報処
   理装置とから構成され、該測定対象情報処理装置におけ
   る測定対象ソフトウェア・イベントの発生間隔を測定す
   る情報処理装置動作測定解析システムにおいて、 前記測定対象情報処理装置は、測定対象ソフトウェア・
   イベントが発生したときにソフトウェア・プローブを実
   行することによりデータ情報とアドレス情報とサンプル
   クロックを出力し、 前記測定解析用情報処理装置は、不揮発性記録部と、前
   記データ情報と前記アドレス情報と時刻情報とからなる
   測定データを前記サンプルクロックに従い記憶する複数
   個の第１のバッファ部と、複数個の第２のバッファ部と
   を備え、測定データを第１のバッファ部に書き込む操作
   と、第１のバッファ部に記憶された測定データを第２の
   バッファ部に転送する操作と、第２のバッファ部に記憶
   された測定データを不揮発性記録部に書き込む操作を並
   行して行うことを特徴とする情報処理装置動作測定解析
   システム。