JPH0728266B2 - 光線路試験方式 - Google Patents
光線路試験方式Info
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- JPH0728266B2 JPH0728266B2 JP63186169A JP18616988A JPH0728266B2 JP H0728266 B2 JPH0728266 B2 JP H0728266B2 JP 63186169 A JP63186169 A JP 63186169A JP 18616988 A JP18616988 A JP 18616988A JP H0728266 B2 JPH0728266 B2 JP H0728266B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光通信分野に利用される。
本発明は、光ファイバケーブルを用いた光伝送方式にお
ける光線路試験方式に関し、特に通信回線が使用状態で
も通信に影響を与えないで光ファイバケーブルの試験お
よび監視を行う光線路試験方式に関する。
ける光線路試験方式に関し、特に通信回線が使用状態で
も通信に影響を与えないで光ファイバケーブルの試験お
よび監視を行う光線路試験方式に関する。
第18図は、通信回線を使用した状態で光ファイバケーブ
ルの試験および監視を行う従来の方式を示すブロック構
成図である（特開昭59−166837号公報参照）。第18図に
おいて、１および２は光伝送端局、３は光ファイバケー
ブル、４および５はそれぞれ光伝送端局１および２が使
用する通信波長光のみを通過する光フィルタ、６はこの
通信波長と異なる波長の試験波長光を繰り返し発射する
光ファイバロケータ、７は光分岐装置である。
ルの試験および監視を行う従来の方式を示すブロック構
成図である（特開昭59−166837号公報参照）。第18図に
おいて、１および２は光伝送端局、３は光ファイバケー
ブル、４および５はそれぞれ光伝送端局１および２が使
用する通信波長光のみを通過する光フィルタ、６はこの
通信波長と異なる波長の試験波長光を繰り返し発射する
光ファイバロケータ、７は光分岐装置である。
第19図は光フィルタ４および５の挿入損失波長特性を示
しており、通信波長のみを通過する特性を有している。
しており、通信波長のみを通過する特性を有している。
第20図は光分岐装置７の各ポート間の挿入損失を示す説
明図で、各ポートａ、ｂおよびｃ間の損失は第１表に示
すようになっている。
明図で、各ポートａ、ｂおよびｃ間の損失は第１表に示
すようになっている。
ポートａおよびｃは光ファイバケーブル３に、ｂは光フ
ァイバロケータ６に接続される。ここで、ポートａ−ｃ
およびｂ−ｃ間は挿入損失3dB、ａ−ｂ間は40dBであ
り、通信波長光は比較的低損失でポートａからｃへ通過
するがポートｂすなわち光ファイバロケータ６には入ら
ない。また光ファイバロケータ６から発射された試験波
長光はポートｂからｃへ比較的低損失で挿入される。光
ファイバロケータ６から発射された試験波長光は前述の
光分岐装置７を経由して光ファイバケーブル３に挿入さ
れ、光伝送端局２へ向けて進行する。その際、光ファイ
バケーブル３の任意の地点での後方散乱光およびフレネ
ル反射光が試験波長光と逆の経路で光分岐装置７を経由
して光ファイバロケータ６へ戻り、その受光時間および
受光レベルを初期のものと比較し続けることにより故障
の発見および故障位置の特定ができる。前記試験波長光
および後方散乱光等は光フィルタ４および５により遮断
され光伝送端局１および２では受信されないため、通信
に影響を与えずに光ファイバケーブルの試験および監視
ができる。
ァイバロケータ６に接続される。ここで、ポートａ−ｃ
およびｂ−ｃ間は挿入損失3dB、ａ−ｂ間は40dBであ
り、通信波長光は比較的低損失でポートａからｃへ通過
するがポートｂすなわち光ファイバロケータ６には入ら
ない。また光ファイバロケータ６から発射された試験波
長光はポートｂからｃへ比較的低損失で挿入される。光
ファイバロケータ６から発射された試験波長光は前述の
光分岐装置７を経由して光ファイバケーブル３に挿入さ
れ、光伝送端局２へ向けて進行する。その際、光ファイ
バケーブル３の任意の地点での後方散乱光およびフレネ
ル反射光が試験波長光と逆の経路で光分岐装置７を経由
して光ファイバロケータ６へ戻り、その受光時間および
受光レベルを初期のものと比較し続けることにより故障
の発見および故障位置の特定ができる。前記試験波長光
および後方散乱光等は光フィルタ４および５により遮断
され光伝送端局１および２では受信されないため、通信
に影響を与えずに光ファイバケーブルの試験および監視
ができる。
しかしながら、前述の従来の光線路試験方式では、 光伝送端局１または光フィルタ４と光分岐装置７の
間の光ファイバケーブル３の試験および監視ができな
い。
間の光ファイバケーブル３の試験および監視ができな
い。
光伝送端局１および２間の伝送方式が波長多重双方
向伝送方式の場合（例えば、Ｆ−6M光伝送方式）光伝送
端局２から発射される通信波長光が光分岐装置７から光
ファイバロケータ６に入射し測定不能となる。
向伝送方式の場合（例えば、Ｆ−6M光伝送方式）光伝送
端局２から発射される通信波長光が光分岐装置７から光
ファイバロケータ６に入射し測定不能となる。
光ファイバケーブル３が多心の場合、試験対象心線
が複数となり試験のたびに光ファイバロケータ６と光分
岐装置７とを接続替えする必要があり測定の遠隔自動化
ができない。
が複数となり試験のたびに光ファイバロケータ６と光分
岐装置７とを接続替えする必要があり測定の遠隔自動化
ができない。
という欠点があった。
本発明の目的は、前記の欠点を除去することにより、光
伝送端局間の光ファイバで構成された光導波路区間全域
にわたり通信信号に影響を与えることなく、遠隔自動で
迅速な光ファイバケーブルの試験および監視ができる光
線路試験方式を提供することにある。
伝送端局間の光ファイバで構成された光導波路区間全域
にわたり通信信号に影響を与えることなく、遠隔自動で
迅速な光ファイバケーブルの試験および監視ができる光
線路試験方式を提供することにある。
本発明は、光伝送装置間に接続された光ファイバケーブ
ルの途中に挿入され外部からの試験波長光の前記光ファ
イバケーブルへの挿入の制御を行う光分岐手段と、前記
試験波長光の発生ならびに前記光ファイバケーブルから
戻された前記試験波長光の検出を行う光パルス試験器を
含む試験手段とを備えた光線路試験方式において、前記
光分岐手段は、前記光ファイバケーブルの任意の点に挿
入されたN/2個（Ｎは偶数）の合分波形光カプラを含
み、前記試験手段は、前記合分波形光カプラの試験回線
用ポートを選択する１×Ｎ光スイッチと、この１×Ｎ光
スイッチのプログラム制御を行う制御手段とを含むこと
を特徴とする。
ルの途中に挿入され外部からの試験波長光の前記光ファ
イバケーブルへの挿入の制御を行う光分岐手段と、前記
試験波長光の発生ならびに前記光ファイバケーブルから
戻された前記試験波長光の検出を行う光パルス試験器を
含む試験手段とを備えた光線路試験方式において、前記
光分岐手段は、前記光ファイバケーブルの任意の点に挿
入されたN/2個（Ｎは偶数）の合分波形光カプラを含
み、前記試験手段は、前記合分波形光カプラの試験回線
用ポートを選択する１×Ｎ光スイッチと、この１×Ｎ光
スイッチのプログラム制御を行う制御手段とを含むこと
を特徴とする。
また本発明は、前記光伝送装置の直近に挿入された第一
の光フィルタと、前記光パルス試験器の直近に挿入され
た第二の光フィルタとを含むことができる。
の光フィルタと、前記光パルス試験器の直近に挿入され
た第二の光フィルタとを含むことができる。
また本発明は、第一の光フィルタはしゃ断特性が緩やか
なフィルタであり、第二の光フィルタは前記光パルス試
験器に内蔵されることができる。
なフィルタであり、第二の光フィルタは前記光パルス試
験器に内蔵されることができる。
また本発明は、前記１×Ｎ光スイッチと前記光パルス試
験器との間に挿入された１×Ｍ光スイッチ（Ｍは自然
数）と、この１×Ｍ光スイッチに前記光パルス試験器と
並列に接続された光信号モニタ装置および光信号送出装
置を含む複数の光信号装置を含むことができる。
験器との間に挿入された１×Ｍ光スイッチ（Ｍは自然
数）と、この１×Ｍ光スイッチに前記光パルス試験器と
並列に接続された光信号モニタ装置および光信号送出装
置を含む複数の光信号装置を含むことができる。
また本発明は、前記１×Ｎ光スイッチおよび前記１×Ｍ
光スイッチの替わりにＮ×Ｍ光スイッチを用いることが
できる。
光スイッチの替わりにＮ×Ｍ光スイッチを用いることが
できる。
また本発明は、前記合分波形光カプラが広波長域形光カ
プラであることが好ましい。
プラであることが好ましい。
合分波形光カプラは４個のポートを有しており、このう
ちの相対する２個はそれぞれ光ファイバ心線に接続さ
れ、他の相対する２個はそれぞれ１×Ｎ光スイッチから
の挿入用光ファイバ心線に接続される。そして通信波長
光は相対する２個のポート間をほとんど損失なく通過で
き、他の２個のポートにはほとんど通過しない。一方試
験波長光は斜めに上側のポートにはほとんど損失なく通
過でき他のポートにはほとんど通過しない。
ちの相対する２個はそれぞれ光ファイバ心線に接続さ
れ、他の相対する２個はそれぞれ１×Ｎ光スイッチから
の挿入用光ファイバ心線に接続される。そして通信波長
光は相対する２個のポート間をほとんど損失なく通過で
き、他の２個のポートにはほとんど通過しない。一方試
験波長光は斜めに上側のポートにはほとんど損失なく通
過でき他のポートにはほとんど通過しない。
従って、通信波長光と波長の異なる試験波長光を一方の
ポートへ挿入すると試験波長光は一方の光ファイバ心線
へほとんど損失なく挿入でき、同様に他方のポートへ挿
入された試験波長光は他方の光ファイバ心線へ挿入さ
れ、それぞれ光ファイバケーブルの試験および監視を行
うことができる。
ポートへ挿入すると試験波長光は一方の光ファイバ心線
へほとんど損失なく挿入でき、同様に他方のポートへ挿
入された試験波長光は他方の光ファイバ心線へ挿入さ
れ、それぞれ光ファイバケーブルの試験および監視を行
うことができる。
前記合分波形光カプラとして広波長域形光カプラを用い
た場合には、通信波長光および試験波長光はともに広波
長域においてポート間を損失一定で通過でき、これらの
損失はカプラの製造条件を変えることにより容易に所望
値に設定できる。従って試験波長光として通信波長光以
外の任意の光を使用でき、光ファイバケーブルの試験お
よび監視をより容易に行うことができる。
た場合には、通信波長光および試験波長光はともに広波
長域においてポート間を損失一定で通過でき、これらの
損失はカプラの製造条件を変えることにより容易に所望
値に設定できる。従って試験波長光として通信波長光以
外の任意の光を使用でき、光ファイバケーブルの試験お
よび監視をより容易に行うことができる。
１×Ｎ光スイッチは、制御手段の制御によりＮ本の光フ
ァイバ心線に対して試験波長光の挿入の切り換えを行
い、光パルス試験器で試験波長光の発生と検出を行い、
制御手段によりデータ処理を行う。
ァイバ心線に対して試験波長光の挿入の切り換えを行
い、光パルス試験器で試験波長光の発生と検出を行い、
制御手段によりデータ処理を行う。
すなわち、光伝送装置間に接続された光ファイバケーブ
ルの全域にわたり通信信号に影響を与えることなく、遠
隔自動で迅速な試験および監視を行うことが可能とな
る。
ルの全域にわたり通信信号に影響を与えることなく、遠
隔自動で迅速な試験および監視を行うことが可能とな
る。
また、光伝送装置の直近に試験波長光が前記光伝送装置
へ進入しない構成にて第一の光フィルタを挿入し、さら
に前記光パルス試験器の直近に通信波長光が前記光パル
ス試験器へ侵入しない構成にて第二の光フィルタを挿入
することにより、通信信号への影響をより少なくし試験
および監視の精度を上げることができる。
へ進入しない構成にて第一の光フィルタを挿入し、さら
に前記光パルス試験器の直近に通信波長光が前記光パル
ス試験器へ侵入しない構成にて第二の光フィルタを挿入
することにより、通信信号への影響をより少なくし試験
および監視の精度を上げることができる。
また、前記光パルス試験器の受光器直近に通信波長光が
前記光パルス試験器へ侵入しない構成にて前記第二の光
フィルタを挿入し、前記光パルス試験器の試験波長光の
レベルを可変にし試験波長光のレベルを前記光伝送装置
へ侵入しないレベルに調整することにより、同様に通信
信号への影響をより少なくし試験および監視の精度を上
げることができる。
前記光パルス試験器へ侵入しない構成にて前記第二の光
フィルタを挿入し、前記光パルス試験器の試験波長光の
レベルを可変にし試験波長光のレベルを前記光伝送装置
へ侵入しないレベルに調整することにより、同様に通信
信号への影響をより少なくし試験および監視の精度を上
げることができる。
また、前記１×Ｎ光スイッチと前記光パルス試験器との
間に１×Ｍ光スイッチを挿入し、この１×Ｍ光スイッチ
のＭポートに前記光パルス試験器ならびに光信号モニタ
装置および光信号送出装置等を接続し、さらにこれらの
遠隔自動化手段を接続することにより、光通信回線の試
験および監視を遠隔自動化することができる。なお、こ
の場合、前記１×Ｎ光スイッチと前記１×Ｍ光スイッチ
の替わりにＮ×Ｍ光スイッチを用いても同様の性能を得
ることができる。
間に１×Ｍ光スイッチを挿入し、この１×Ｍ光スイッチ
のＭポートに前記光パルス試験器ならびに光信号モニタ
装置および光信号送出装置等を接続し、さらにこれらの
遠隔自動化手段を接続することにより、光通信回線の試
験および監視を遠隔自動化することができる。なお、こ
の場合、前記１×Ｎ光スイッチと前記１×Ｍ光スイッチ
の替わりにＮ×Ｍ光スイッチを用いても同様の性能を得
ることができる。
また、合分波形光カプラ（広波長域形光カプラを含む）
を光ファイバケーブルの中心地点に挿入することによ
り、１×Ｎ光スイッチの操作により、前記合分波形光カ
プラが挿入された上位および下位の光ファイバケーブル
の試験ができるので、前記光パルス試験器のダイナミッ
クレンジを上げることなく、試験可能距離を従来の２倍
にすることができる。
を光ファイバケーブルの中心地点に挿入することによ
り、１×Ｎ光スイッチの操作により、前記合分波形光カ
プラが挿入された上位および下位の光ファイバケーブル
の試験ができるので、前記光パルス試験器のダイナミッ
クレンジを上げることなく、試験可能距離を従来の２倍
にすることができる。
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明す
る。
る。
〔実施例１〕 第１図は本発明の第一実施例を示すブロック構成図であ
る。
る。
本第一実施例は、光伝送端局１および２間に接続された
上位および下位の光ファイバケーブル31および32と、光
ファイバケーブル31および32間に挿入され外部からの試
験波長光の光ファイバケーブル31および32への挿入の制
御を行う光分岐手段としてのＮ個の合分波形光カプラ10
と、前記試験波長光の発生ならびに光ファイバケーブル
31または32から戻された前記試験波長光の検出を行う光
パルス試験器12を含む試験手段としての、N/2個（Ｎは
偶数）の合分波形光カプラ10の試験回線用ポートを選択
する１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｎ光スイッチ11および
光パルス試験器12のプログラム制御およびデータ処理を
行う制御装置14と表示装置15とを含んでいる。
上位および下位の光ファイバケーブル31および32と、光
ファイバケーブル31および32間に挿入され外部からの試
験波長光の光ファイバケーブル31および32への挿入の制
御を行う光分岐手段としてのＮ個の合分波形光カプラ10
と、前記試験波長光の発生ならびに光ファイバケーブル
31または32から戻された前記試験波長光の検出を行う光
パルス試験器12を含む試験手段としての、N/2個（Ｎは
偶数）の合分波形光カプラ10の試験回線用ポートを選択
する１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｎ光スイッチ11および
光パルス試験器12のプログラム制御およびデータ処理を
行う制御装置14と表示装置15とを含んでいる。
なお、81および82は各々上位および下位の光ファイバ心
線、91、92、93および94は合分波形光カプラ10の各ポー
ト、83、84および85は試験光伝送用光ファイバ心線、13
はバスである。ここで、１×Ｎ光スイッチ11は光パルス
試験器12に接続する端子を１個、試験波長光挿入のため
合分波形光カプラ10に接続する端子をＮ個有しており、
このＮ個の端子から一個を選択して光パルス試験器12に
接続される。
線、91、92、93および94は合分波形光カプラ10の各ポー
ト、83、84および85は試験光伝送用光ファイバ心線、13
はバスである。ここで、１×Ｎ光スイッチ11は光パルス
試験器12に接続する端子を１個、試験波長光挿入のため
合分波形光カプラ10に接続する端子をＮ個有しており、
このＮ個の端子から一個を選択して光パルス試験器12に
接続される。
本発明の特徴は、第１図において、合分波形光カプラ10
と、１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｎ光スイッチ11のプロ
グラム制御手段を有する制御装置14とを設けたことにあ
る。
と、１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｎ光スイッチ11のプロ
グラム制御手段を有する制御装置14とを設けたことにあ
る。
次に、本第一実施例の動作について説明する。始めに合
分波形光カプラ10のより詳細な構造とその動作を説明す
る。第２図は合分波形光カプラ10の具体的構成例を示す
説明図であって、86および87は各々光ファイバ心線81〜
84およびカプラ部88におけるクラッド部分およびコア部
分である。この合分波形光カプラ10は第１図に示すよう
に４個のポート91〜94を有しており、91および93が各々
通信用光ファイバ心線81および82に接続されており、92
および94が各々試験光伝送用光ファイバ心線83および84
に接続されている。通信波長λnおよびλ′nの光につい
てはポート91および93間でほとんど損失なく通過でき、
その他のポート92および94にはほとんど通過しない。ま
た、試験波長λ0の光についてはポート92−93間および
ポート94−91間でほとど損失なく通過でき、ポート91か
ら92へ、ポート94から93へはほとんど通過しない特性を
有している。第２図中のカプラ部88において、光導波路
である２本のコア87について適当な間隔ｄおよび長さｌ
を維持しておくとエバネセント効果により、このｄおよ
びｌから波長λ0、λn、λ′nの値が決められ、前述し
た合分波特性が生じる。第２表はこの合分波形光カプラ
10の各ポート間の挿入損失の一例を示したもので、米国
グールド社製合分波形光カプラ（ファイバ形、VWD976
8）についての実測結果である。通信波長1.3μｍ、試験
波長1.55μｍとして、通信波長光の挿入損失および試験
波長光が通信用心線に伝搬する挿入損失が0.5dB以下、
その他の各ポート間の挿入損失がすべて20dB以上という
良好な特性が得られている。
分波形光カプラ10のより詳細な構造とその動作を説明す
る。第２図は合分波形光カプラ10の具体的構成例を示す
説明図であって、86および87は各々光ファイバ心線81〜
84およびカプラ部88におけるクラッド部分およびコア部
分である。この合分波形光カプラ10は第１図に示すよう
に４個のポート91〜94を有しており、91および93が各々
通信用光ファイバ心線81および82に接続されており、92
および94が各々試験光伝送用光ファイバ心線83および84
に接続されている。通信波長λnおよびλ′nの光につい
てはポート91および93間でほとんど損失なく通過でき、
その他のポート92および94にはほとんど通過しない。ま
た、試験波長λ0の光についてはポート92−93間および
ポート94−91間でほとど損失なく通過でき、ポート91か
ら92へ、ポート94から93へはほとんど通過しない特性を
有している。第２図中のカプラ部88において、光導波路
である２本のコア87について適当な間隔ｄおよび長さｌ
を維持しておくとエバネセント効果により、このｄおよ
びｌから波長λ0、λn、λ′nの値が決められ、前述し
た合分波特性が生じる。第２表はこの合分波形光カプラ
10の各ポート間の挿入損失の一例を示したもので、米国
グールド社製合分波形光カプラ（ファイバ形、VWD976
8）についての実測結果である。通信波長1.3μｍ、試験
波長1.55μｍとして、通信波長光の挿入損失および試験
波長光が通信用心線に伝搬する挿入損失が0.5dB以下、
その他の各ポート間の挿入損失がすべて20dB以上という
良好な特性が得られている。
従って、試験波長光λ0を光ファイバ心線83からポート9
2へ挿入すると、ポート93に伝搬し下位の光ファイバ心
線82へ挿入でき、また光ファイバ心線84からポート94へ
挿入すると、ポート91に伝搬し上位の光ファイバ心線81
へ極めて小さい損失で挿入できる。
2へ挿入すると、ポート93に伝搬し下位の光ファイバ心
線82へ挿入でき、また光ファイバ心線84からポート94へ
挿入すると、ポート91に伝搬し上位の光ファイバ心線81
へ極めて小さい損失で挿入できる。
次に、本第一実施例の動作を説明する。第１図におい
て、制御装置14からのプログラム制御により１×Ｎ光ス
イッチ11が任意の合分波形光カプラ10の試験光挿入ポー
ト92を選択して光パルス試験器12に接続する。次に光パ
ルス試験器12から試験光パルスを発射して被試験光ファ
イバ心線82の損失特性測定および故障位置検知を行う。
さらに、１×Ｎ光スイッチ11で試験光挿入ポート94を選
択して光パルス試験器12により前述と同様な試験を行
う。この操作を繰り返すことにより光伝送端局１および
２間の伝送路の上位および下位の光ファイバケーブル31
および32の全域にわたり試験および監視ができる。な
お、光パルス試験器12から送出する試験波長光のレベル
は光伝送品質を劣化させない程度に通信波長光のレベル
より小さく設定しておく。また、光パルス試験器12の受
光器は通信波長光を受光しない程度に狭波長域のものを
使用する。
て、制御装置14からのプログラム制御により１×Ｎ光ス
イッチ11が任意の合分波形光カプラ10の試験光挿入ポー
ト92を選択して光パルス試験器12に接続する。次に光パ
ルス試験器12から試験光パルスを発射して被試験光ファ
イバ心線82の損失特性測定および故障位置検知を行う。
さらに、１×Ｎ光スイッチ11で試験光挿入ポート94を選
択して光パルス試験器12により前述と同様な試験を行
う。この操作を繰り返すことにより光伝送端局１および
２間の伝送路の上位および下位の光ファイバケーブル31
および32の全域にわたり試験および監視ができる。な
お、光パルス試験器12から送出する試験波長光のレベル
は光伝送品質を劣化させない程度に通信波長光のレベル
より小さく設定しておく。また、光パルス試験器12の受
光器は通信波長光を受光しない程度に狭波長域のものを
使用する。
このような動作をするので、 光伝送端局１および２間の光ファイバケーブル全域
にわたり任意の位置から通信波長が複数で双方向伝送の
場合でも通信に影響なく試験ができる。
にわたり任意の位置から通信波長が複数で双方向伝送の
場合でも通信に影響なく試験ができる。
合分波形光カプラ10の挿入地点を伝送路の中心地点
とすれば、１×Ｎ光スイッチの操作により上位および下
位光ファイバケーブル31および32の試験ができるので、
光パルス試験器12のダイナミックレンジを上げることな
く試験可能距離を従来の２倍に向上することができる。
とすれば、１×Ｎ光スイッチの操作により上位および下
位光ファイバケーブル31および32の試験ができるので、
光パルス試験器12のダイナミックレンジを上げることな
く試験可能距離を従来の２倍に向上することができる。
１×Ｎ光スイッチ10を用いるので多数の試験心線を
１台の光パルス試験器12で自動的に試験することができ
るため装置コストおよび保守コストの削減ができる。
１台の光パルス試験器12で自動的に試験することができ
るため装置コストおよび保守コストの削減ができる。
この結果から明らかなように、従来の技術に比べて光フ
ァイバケーブル伝送路全域にわたり任意の地点で双方向
伝送方式の場合でも通信に影響なく線路の試験および監
視ができること、光パルス試験器のダイナミックレンジ
を上げることなく試験可能距離を最大２倍に向上できる
こと、多数の試験回線を一台の光パルス試験器で自動的
に試験ができ保守コスト削減ができること等の効果が得
られた。
ァイバケーブル伝送路全域にわたり任意の地点で双方向
伝送方式の場合でも通信に影響なく線路の試験および監
視ができること、光パルス試験器のダイナミックレンジ
を上げることなく試験可能距離を最大２倍に向上できる
こと、多数の試験回線を一台の光パルス試験器で自動的
に試験ができ保守コスト削減ができること等の効果が得
られた。
〔実施例２〕 第３図は本発明の第二実施例を示すブロック構成図であ
る。本第二実施例は、第１図の第一実施例において、光
伝送端局１および２と光ファイバ心線81および82との
間、および１×Ｎ光スイッチ11と光パルス試験器12との
間に合分波形光カプラ10aおよび10bをそれぞれを挿入
し、光伝送端局１および２へ試験波長光の進入および光
パルス試験器12へ通信波長光の進入を少なくしたもので
ある。
る。本第二実施例は、第１図の第一実施例において、光
伝送端局１および２と光ファイバ心線81および82との
間、および１×Ｎ光スイッチ11と光パルス試験器12との
間に合分波形光カプラ10aおよび10bをそれぞれを挿入
し、光伝送端局１および２へ試験波長光の進入および光
パルス試験器12へ通信波長光の進入を少なくしたもので
ある。
本発明の特徴は、第３図において、合分波形光カプラ10
と、１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｎ光スイッチ11のプロ
グラム制御手段を有する制御装置14とを設けたことにあ
る。なお、合分波形光カプラ10aおよび10bが付加され
る。
と、１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｎ光スイッチ11のプロ
グラム制御手段を有する制御装置14とを設けたことにあ
る。なお、合分波形光カプラ10aおよび10bが付加され
る。
本第二実施例は前述のような構成であるので、光パルス
試験器12の試験波長光送出レベルをある程度大きくして
も通信へ妨害を与えにくく、また通信波長光の光パルス
試験器12への進入を小さくできる。従って、光パルス試
験器12のダイナミックレンジを大きくできる効果があ
る。その他の効果については第一実施例と同様である。
試験器12の試験波長光送出レベルをある程度大きくして
も通信へ妨害を与えにくく、また通信波長光の光パルス
試験器12への進入を小さくできる。従って、光パルス試
験器12のダイナミックレンジを大きくできる効果があ
る。その他の効果については第一実施例と同様である。
〔実施例３〕 第４図は本発明の第三実施例を示すブロック構成図であ
る。本第三実施例は第１図の第一実施例において、光伝
送端局１および２と光ファイバ心線81および82との間お
よび１×Ｎ光スイッチ11と光パルス試験器12との間にそ
れぞれ光フィルタ16および17を挿入し、光伝送端局１お
よび２へ試験波長光の進入および光パルス試験器12へ通
信波長光の進入を少なくしたものである。ここで、試験
回線挿入用の光フィルタ16は第５図に示すような損失特
性を有しており、第５図中19、20および21は各々試験波
長λ01、λ02およびλ03の場合であり、通信波長光を通
過して試験波長光を遮断する特性である。また、１×Ｎ
光スイッチ11と光パルス試験器12の間に挿入された光フ
ィルタ17は、第６図に示すような損失特性を有してお
り、第６図中22、23および24は各々試験波長がλ01、λ
02およびλ03の場合であり、試験波長光を通過して通信
波長光を遮断する特性である。
る。本第三実施例は第１図の第一実施例において、光伝
送端局１および２と光ファイバ心線81および82との間お
よび１×Ｎ光スイッチ11と光パルス試験器12との間にそ
れぞれ光フィルタ16および17を挿入し、光伝送端局１お
よび２へ試験波長光の進入および光パルス試験器12へ通
信波長光の進入を少なくしたものである。ここで、試験
回線挿入用の光フィルタ16は第５図に示すような損失特
性を有しており、第５図中19、20および21は各々試験波
長λ01、λ02およびλ03の場合であり、通信波長光を通
過して試験波長光を遮断する特性である。また、１×Ｎ
光スイッチ11と光パルス試験器12の間に挿入された光フ
ィルタ17は、第６図に示すような損失特性を有してお
り、第６図中22、23および24は各々試験波長がλ01、λ
02およびλ03の場合であり、試験波長光を通過して通信
波長光を遮断する特性である。
本第三実施例は、前述のような構成であるので、光パル
ス試験器12の試験波長光送出レベルをある程度大きくし
ても、通信への妨害を与えにくくし、また、光パルス試
験器12の受光器をある程度広波長域にしても通信波長光
の光パルス試験器12への進入を小さくできる。
ス試験器12の試験波長光送出レベルをある程度大きくし
ても、通信への妨害を与えにくくし、また、光パルス試
験器12の受光器をある程度広波長域にしても通信波長光
の光パルス試験器12への進入を小さくできる。
従って、光パルス試験器12のダイナミックレンジを大き
くできる利点がある。その他の効果については第一実施
例と同様である。
くできる利点がある。その他の効果については第一実施
例と同様である。
本発明の特徴は、第４図において、合分波形光カプラ10
と、１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｎ光スイッチ11のプロ
グラム制御手段を有する制御装置14と、光フィルタ16お
よび17とを設けたことにある。
と、１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｎ光スイッチ11のプロ
グラム制御手段を有する制御装置14と、光フィルタ16お
よび17とを設けたことにある。
〔実施例４〕 第７図は本発明の第四実施例を示すブロック構成図であ
る。本第四実施例は第１図の第一実施例における光パル
ス試験器12を光出力可変形にした光パルス試験器25に替
え、さらに１×Ｎ光スイッチ11と光パルス試験器25との
間に合分波形光カプラ10bを挿入したものである。第８
図は光パルス試験器25の試験光のレベルを可変にするた
め、同試験器内蔵の発受光モジュール（LDモジュール）
26に光減衰器27を挿入して改造したものであり、29は光
サーキュレータ、28は受光部、35は発光部、36はCPUで
ある。試験波長光は光サーキュレータ29のポート34から
30へ挿入され、受信光はポート30から33へ伝搬する。こ
のような構成であるので、試験波長光の光レベルを光減
衰器28で変化させて光伝送端局１および２における通信
波長光と試験波長光とのレベル差を大きくし、通信への
影響を小さくすることができる。
る。本第四実施例は第１図の第一実施例における光パル
ス試験器12を光出力可変形にした光パルス試験器25に替
え、さらに１×Ｎ光スイッチ11と光パルス試験器25との
間に合分波形光カプラ10bを挿入したものである。第８
図は光パルス試験器25の試験光のレベルを可変にするた
め、同試験器内蔵の発受光モジュール（LDモジュール）
26に光減衰器27を挿入して改造したものであり、29は光
サーキュレータ、28は受光部、35は発光部、36はCPUで
ある。試験波長光は光サーキュレータ29のポート34から
30へ挿入され、受信光はポート30から33へ伝搬する。こ
のような構成であるので、試験波長光の光レベルを光減
衰器28で変化させて光伝送端局１および２における通信
波長光と試験波長光とのレベル差を大きくし、通信への
影響を小さくすることができる。
本第四実施例の効果としては、第二および第三実施例に
おける光伝送端局１および２の直近に設置した合分波形
光カプラ10aが不要となるので、これらの実施例より経
済的にシステム構成ができる。その他の効果は第二およ
び第三実施例と同様である。
おける光伝送端局１および２の直近に設置した合分波形
光カプラ10aが不要となるので、これらの実施例より経
済的にシステム構成ができる。その他の効果は第二およ
び第三実施例と同様である。
本発明の特徴は、第７図において、合分波形光カプラ10
と、１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｎ光スイッチ11のプロ
グラム制御手段を有する制御装置14と、試験光レベル可
変形の光パルス試験器25とを設けたことにある。なお、
合分波形光カプラ10bが付加される。
と、１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｎ光スイッチ11のプロ
グラム制御手段を有する制御装置14と、試験光レベル可
変形の光パルス試験器25とを設けたことにある。なお、
合分波形光カプラ10bが付加される。
〔実施例５〕 第９図は本発明の第五実施例を示すブロック構成図であ
る本第五実施例は、第７図の第四実施例において、合分
波形光カプラ10bに替えて光フィルタ17を挿入したもの
であり、その動作ならびに効果は第四実施例と同様であ
る。
る本第五実施例は、第７図の第四実施例において、合分
波形光カプラ10bに替えて光フィルタ17を挿入したもの
であり、その動作ならびに効果は第四実施例と同様であ
る。
本発明の特徴は、第９図において、合分波形光カプラ10
と、１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｎ光スイッチ11のプロ
グラム制御手段を有する制御装置14と、光フィルタ17
と、試験光レベル可変形の光パルス試験器25とを設けた
ことにある。
と、１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｎ光スイッチ11のプロ
グラム制御手段を有する制御装置14と、光フィルタ17
と、試験光レベル可変形の光パルス試験器25とを設けた
ことにある。
〔実施例６〕 第10図は本発明の第六実施例を示すブロック構成図であ
る。本第六実施例は、第１図に示した第一実施例におい
て、合分波形光カプラ10を広波長域形光カプラ10cに替
え、さらに制御装置14に試験結果を保存するデータベー
ス14aを接続したものである。
る。本第六実施例は、第１図に示した第一実施例におい
て、合分波形光カプラ10を広波長域形光カプラ10cに替
え、さらに制御装置14に試験結果を保存するデータベー
ス14aを接続したものである。
本発明の特徴は、第10図において、広波長域形光カプラ
10cと、１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｎ光スイッチ11の
プログラム制御手段を有する制御装置14とを設けたこと
にある。
10cと、１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｎ光スイッチ11の
プログラム制御手段を有する制御装置14とを設けたこと
にある。
次に、本第六実施例の動作について説明する。初めに広
波長域形光カプラ10cのより詳細な構造とその動作を説
明する。広波長域形光カプラ10cの構造は第２図に示し
た合分波形光カプラ10と同じで、86および87は各々光フ
ァイバ心線81〜84およびカプラ部88におけるクラッド部
分およびコア部分である。この広波長域形光カプラ10c
は第10図に示すように４個のポート91〜94を有してお
り、91および93が各々通信用光ファイバ心線81および82
に接続されており、92および94が各々試験光伝送用光フ
ァイバ心線83および84に接続されている。通信波長λn
およびλ′nの光についてはポート91および93間で広波
長域かつ一定損失で通過できる。また、試験波長λoの
光についてはポート92−93間およびポート94−91間で広
波長域かつ一定損失で通過できる。従って、通信波長、
試験波長とも広波長域にわたり自由に選択できる。第２
図中のカプラ部88において、光導波路である２本のコア
87について適当な間隔ｄおよび長さｌを維持し、更にコ
ア径を少し変えておくとエバネセント効果により、広波
長域の光結合特性が生じる。第３表はこの広波長域形光
カプラ10cの各ポート間の挿入損失の一例を示したもの
で、米国グールド社製広波長域形光カプラ（ファイバ
形、WICAタイプ、分岐比20:80）についての実測結果で
ある。
波長域形光カプラ10cのより詳細な構造とその動作を説
明する。広波長域形光カプラ10cの構造は第２図に示し
た合分波形光カプラ10と同じで、86および87は各々光フ
ァイバ心線81〜84およびカプラ部88におけるクラッド部
分およびコア部分である。この広波長域形光カプラ10c
は第10図に示すように４個のポート91〜94を有してお
り、91および93が各々通信用光ファイバ心線81および82
に接続されており、92および94が各々試験光伝送用光フ
ァイバ心線83および84に接続されている。通信波長λn
およびλ′nの光についてはポート91および93間で広波
長域かつ一定損失で通過できる。また、試験波長λoの
光についてはポート92−93間およびポート94−91間で広
波長域かつ一定損失で通過できる。従って、通信波長、
試験波長とも広波長域にわたり自由に選択できる。第２
図中のカプラ部88において、光導波路である２本のコア
87について適当な間隔ｄおよび長さｌを維持し、更にコ
ア径を少し変えておくとエバネセント効果により、広波
長域の光結合特性が生じる。第３表はこの広波長域形光
カプラ10cの各ポート間の挿入損失の一例を示したもの
で、米国グールド社製広波長域形光カプラ（ファイバ
形、WICAタイプ、分岐比20:80）についての実測結果で
ある。
1200nmから1650nmの広波長域にわたり通信ポート9193
間の損失が1.5dB以下であり、また、試験光挿入ポート
間92→93、94→91の損失も６〜9dB程度の良好な特性を
示している。
間の損失が1.5dB以下であり、また、試験光挿入ポート
間92→93、94→91の損失も６〜9dB程度の良好な特性を
示している。
本第六実施例は前述の説明から明らかなように、前述の
第一実施例と同様の動作を行う。
第一実施例と同様の動作を行う。
そして前述の第一実施例の効果に加えて、合分波形光カ
プラとして前述の特性を有する広波長域形光カプラ10c
を用いているので、通信波長光および試験波長光の波長
を自由に選択できる効果が得られる。
プラとして前述の特性を有する広波長域形光カプラ10c
を用いているので、通信波長光および試験波長光の波長
を自由に選択できる効果が得られる。
〔実施例７〕 第11図は本発明の第七実施例を示すブロック構成図であ
る。本第七実施例は第10図の第六実施例において、光伝
送端局１および２と光ファイバ心線81および82との間お
よび１×Ｎ光スイッチ11と光パルス試験器12との間にそ
れぞれ光フィルタ16および17を挿入し、光伝送端局１お
よび２へ試験波長光の進入および光パルス試験器12へ通
信波長光の進入を少なくしたものであり、合分波形光カ
プラを用いた第４図の第三実施例に対応する。
る。本第七実施例は第10図の第六実施例において、光伝
送端局１および２と光ファイバ心線81および82との間お
よび１×Ｎ光スイッチ11と光パルス試験器12との間にそ
れぞれ光フィルタ16および17を挿入し、光伝送端局１お
よび２へ試験波長光の進入および光パルス試験器12へ通
信波長光の進入を少なくしたものであり、合分波形光カ
プラを用いた第４図の第三実施例に対応する。
本第七実施例は前述のような構成であるので、光パルス
試験器12の試験波長光送出レベルをある程度大きくして
も通信へ妨害を与えにくく、また光パルス試験器12の受
光器をある程度広波長域にしても通信波長光の光パルス
試験器12への進入を小さくできる。従って、光パルス試
験器12のダイナミックレンジを大きくできる効果があ
る。その他の効果については第六実施例と同様である。
試験器12の試験波長光送出レベルをある程度大きくして
も通信へ妨害を与えにくく、また光パルス試験器12の受
光器をある程度広波長域にしても通信波長光の光パルス
試験器12への進入を小さくできる。従って、光パルス試
験器12のダイナミックレンジを大きくできる効果があ
る。その他の効果については第六実施例と同様である。
本発明の特徴は、第11図において、広波長域形光カプラ
10cと、１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｎ光スイッチ11の
プログラム制御手段を有する制御装置14と、光フィルタ
16および17とを設けたことにある。
10cと、１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｎ光スイッチ11の
プログラム制御手段を有する制御装置14と、光フィルタ
16および17とを設けたことにある。
〔実施例８〕 第12図は本発明の第八実施例を示すブロック構成図であ
る。本第八実施例は第11図の第七実施例における光パル
ス試験器12を光出力可変形および光フィルタ17内蔵形に
した光パルス試験器25aに替え、さらに光フィルタ16を
しゃ断特性をある程度悪く緩やかにした光フィルタ16a
に替えたものである。第13図は光パルス試験器25aの試
験光のレベルを可変にするためおよび光フィルタ17を内
蔵するため、同試験器内蔵の発受光モジュール26aに光
減衰器27および光フィルタ17を挿入して改造したもので
あり、29は光サーキュレータ、28は受光部、35は発光
部、36はCPUである。試験波長光は光サーキュレータ29
のポート34から30へ挿入され、受信光はポート30から33
へ伝搬する。このような構成であるので、試験波長光の
光レベルを光減衰器28で変化させて光伝送端局１および
２における通信波長光と試験波長光とのレベル差を大き
く、通信への影響を小さくすることができる。さらに、
光フィルタ17によって通信光をしゃ断し、受光部28へ広
波長域の受光器の使用が可能となる。
る。本第八実施例は第11図の第七実施例における光パル
ス試験器12を光出力可変形および光フィルタ17内蔵形に
した光パルス試験器25aに替え、さらに光フィルタ16を
しゃ断特性をある程度悪く緩やかにした光フィルタ16a
に替えたものである。第13図は光パルス試験器25aの試
験光のレベルを可変にするためおよび光フィルタ17を内
蔵するため、同試験器内蔵の発受光モジュール26aに光
減衰器27および光フィルタ17を挿入して改造したもので
あり、29は光サーキュレータ、28は受光部、35は発光
部、36はCPUである。試験波長光は光サーキュレータ29
のポート34から30へ挿入され、受信光はポート30から33
へ伝搬する。このような構成であるので、試験波長光の
光レベルを光減衰器28で変化させて光伝送端局１および
２における通信波長光と試験波長光とのレベル差を大き
く、通信への影響を小さくすることができる。さらに、
光フィルタ17によって通信光をしゃ断し、受光部28へ広
波長域の受光器の使用が可能となる。
本第八実施例の効果としては、第七実施例における光伝
送端局１および２の直近に設置した光フィルタ16をしゃ
断特性の悪く、経済的に作製できる光フィルタ16aに代
えたため、第七実施例より経済的にシステム構成ができ
る。その他の効果は第七実施例と同様である。
送端局１および２の直近に設置した光フィルタ16をしゃ
断特性の悪く、経済的に作製できる光フィルタ16aに代
えたため、第七実施例より経済的にシステム構成ができ
る。その他の効果は第七実施例と同様である。
本発明の特徴は、第12図および第13図において、広波長
域形光カプラ10cと、１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｎ光
スイッチ11のプログラム制御手段を有する制御装置14
と、試験光レベル可変形および光フィルタ17内蔵形の光
パルス試験器25aとを設けたことにある。
域形光カプラ10cと、１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｎ光
スイッチ11のプログラム制御手段を有する制御装置14
と、試験光レベル可変形および光フィルタ17内蔵形の光
パルス試験器25aとを設けたことにある。
〔実施例９〕 第14図は本発明の第九実施例を示すブロック構成図であ
る。本第九実施例は、第10図の第六実施例において、１
×Ｎ光スイッチ11と光パルス試験器12との間に１×Ｍ光
スイッチ37を挿入し、１×Ｍ光スイッチ37のＭポートに
光パルス試験器12と、光信号モニタ装置38および光信号
送出装置39を含む光信号装置とを接続し、さらに１×Ｎ
光スイッチ11、１×Ｍ光スイッチ37、光パルス試験器1
2、光信号モニタ装置38および光信号送出装置39が遠隔
自動化操作できるように、モデム40b、光線路試験ワー
クステーション42およびデータベース14aを含む広域保
守センタ43とモデム40aとがモデム通信回線41により接
続された遠隔自動化手段44を設け、表示装置15を除いた
ものである。
る。本第九実施例は、第10図の第六実施例において、１
×Ｎ光スイッチ11と光パルス試験器12との間に１×Ｍ光
スイッチ37を挿入し、１×Ｍ光スイッチ37のＭポートに
光パルス試験器12と、光信号モニタ装置38および光信号
送出装置39を含む光信号装置とを接続し、さらに１×Ｎ
光スイッチ11、１×Ｍ光スイッチ37、光パルス試験器1
2、光信号モニタ装置38および光信号送出装置39が遠隔
自動化操作できるように、モデム40b、光線路試験ワー
クステーション42およびデータベース14aを含む広域保
守センタ43とモデム40aとがモデム通信回線41により接
続された遠隔自動化手段44を設け、表示装置15を除いた
ものである。
本第九実施例の動作は、光線路ワークステーション42か
らのプログラム制御により、光信号モニタ装置38による
通信回線のモニタリング、光信号送出装置39による心線
対照光の送出ならびに光パルス試験器12による通信回線
の試験および監視が遠隔自動化できる。従って、通信回
線モニタならびにケーブル移転工事時の心線対照光送出
の遠隔自動化が図られる効果があるほか、第六実施例と
同様の効果がある。
らのプログラム制御により、光信号モニタ装置38による
通信回線のモニタリング、光信号送出装置39による心線
対照光の送出ならびに光パルス試験器12による通信回線
の試験および監視が遠隔自動化できる。従って、通信回
線モニタならびにケーブル移転工事時の心線対照光送出
の遠隔自動化が図られる効果があるほか、第六実施例と
同様の効果がある。
本発明の特徴は、第14図において、広波長域形光カプラ
10cと、１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｍ光スイッチ37
と、光パルス試験器12と、制御装置14と、光信号モニタ
装置38と、光信号送出装置39と、モデム40aおよび広域
保守センタ43を含む遠隔自動化手段44を設けたことにあ
る。
10cと、１×Ｎ光スイッチ11と、１×Ｍ光スイッチ37
と、光パルス試験器12と、制御装置14と、光信号モニタ
装置38と、光信号送出装置39と、モデム40aおよび広域
保守センタ43を含む遠隔自動化手段44を設けたことにあ
る。
〔実施例10〕 第15図は本発明の第十実施例を示すブロック構成図であ
る。本第十実施例は、第九実施例を第八実施例に適用し
たものであり、効果は第八および第九実施例と同様であ
る。
る。本第十実施例は、第九実施例を第八実施例に適用し
たものであり、効果は第八および第九実施例と同様であ
る。
本発明の特徴は、第15図において、第14図の第九実施例
に対して光フィルタ16aを付加したことにある。
に対して光フィルタ16aを付加したことにある。
〔実施例11〕 第16図は本発明の第十一実施例を示すブロック構成図で
ある。本第十一実施例は、第14図の第九実施例の１×Ｎ
光スイッチと１×Ｍ光スイッチ37の替わりにＮ×Ｍ光ス
イッチ45を配置したものである。従って、本第十一実施
例は、光パルス試験器12、光信号モニタ装置38および光
信号送出装置39等、Ｎ×Ｍ光スイッチ45のＭポートに接
続された装置から同時に通信回線を選択およびアクセス
できる効果が得られるほか、第九実施例と同様の効果が
得られる。
ある。本第十一実施例は、第14図の第九実施例の１×Ｎ
光スイッチと１×Ｍ光スイッチ37の替わりにＮ×Ｍ光ス
イッチ45を配置したものである。従って、本第十一実施
例は、光パルス試験器12、光信号モニタ装置38および光
信号送出装置39等、Ｎ×Ｍ光スイッチ45のＭポートに接
続された装置から同時に通信回線を選択およびアクセス
できる効果が得られるほか、第九実施例と同様の効果が
得られる。
本発明の特徴は、第16図において、広波長域形光カプラ
10cと、Ｎ×Ｍ光スイッチ45と、光パルス試験器12と、
制御装置14と、光信号モニタ装置38と、光信号送出装置
39と、モデム40aおよび広域保守センタ43を含む遠隔自
動化手段44とを設けたことにある。
10cと、Ｎ×Ｍ光スイッチ45と、光パルス試験器12と、
制御装置14と、光信号モニタ装置38と、光信号送出装置
39と、モデム40aおよび広域保守センタ43を含む遠隔自
動化手段44とを設けたことにある。
〔実施例12〕 第17図は本発明の第十二実施例を示すブロック構成図で
ある。本第十二実施例は、第15図の第十実施例の１×Ｎ
光スイッチ11と１×Ｍ光スイッチ37の替わりにＮ×Ｍ光
スイッチ45を配置したものである。従って、第十一実施
例と同様に、Ｎ×Ｍ光スイッチ45のＭポートに接続され
た装置から同時に通信回線を選択およびアクセスできる
効果が得られるほか、第十実施例と同様の効果が得られ
る。
ある。本第十二実施例は、第15図の第十実施例の１×Ｎ
光スイッチ11と１×Ｍ光スイッチ37の替わりにＮ×Ｍ光
スイッチ45を配置したものである。従って、第十一実施
例と同様に、Ｎ×Ｍ光スイッチ45のＭポートに接続され
た装置から同時に通信回線を選択およびアクセスできる
効果が得られるほか、第十実施例と同様の効果が得られ
る。
本発明の特徴は、第17図において、第16図の第十一実施
例に対して光フィルタ16aを付加したことにある。
例に対して光フィルタ16aを付加したことにある。
なお、第３図の第二実施例、第７図の第四実施例および
第９図の第五実施例において、それぞれの合分波形光カ
プラ10の替わりに広波長域形光カプラ10cを用いること
で、第六実施例で付加された効果が同様にそれぞれ付加
される。
第９図の第五実施例において、それぞれの合分波形光カ
プラ10の替わりに広波長域形光カプラ10cを用いること
で、第六実施例で付加された効果が同様にそれぞれ付加
される。
なお、以上の実施例の説明においては、合分波形光カプ
ラ10および広波長域形光カプラ10cの数を複数としたけ
れども、Ｎ＝２すなわち１個の場合においても本発明は
同様に適用される。
ラ10および広波長域形光カプラ10cの数を複数としたけ
れども、Ｎ＝２すなわち１個の場合においても本発明は
同様に適用される。
以上説明したように、本発明によれば、従来の技術に比
べて光ファイバケーブル伝送路全域にわたり任意の地点
で双方向伝送方式の場合でも通信に影響なく線路の試験
および監視ができ、また光パルス試験器のダイナミック
レンジを上げることなく試験可能距離を最大２倍に向上
でき、さらに多数の試験回線を一台の光パルス試験器で
自動的に試験ができ、合分波形光カプラとして広波長域
形光カプラを使用した場合には、さらに通信波長光およ
び試験波長光の波長を広波長域で任意に選択できるの
で、経済的で設置条件の緩やかなまた保守コストの大幅
な削減ができる光線路試験方式を提供でき、その効果は
大である。
べて光ファイバケーブル伝送路全域にわたり任意の地点
で双方向伝送方式の場合でも通信に影響なく線路の試験
および監視ができ、また光パルス試験器のダイナミック
レンジを上げることなく試験可能距離を最大２倍に向上
でき、さらに多数の試験回線を一台の光パルス試験器で
自動的に試験ができ、合分波形光カプラとして広波長域
形光カプラを使用した場合には、さらに通信波長光およ
び試験波長光の波長を広波長域で任意に選択できるの
で、経済的で設置条件の緩やかなまた保守コストの大幅
な削減ができる光線路試験方式を提供でき、その効果は
大である。
第１図は本発明の第一実施例を示すブロック構成図。 第２図はその合分波形光カプラおよび広波長域形光カプ
ラの構造を示す説明図。 第３図は本発明の第二実施例を示すブロック構成図。 第４図は本発明の第三実施例を示すブロック構成図。 第５図はその光フィルタ16の挿入損失特性図。 第６図はその光フィルタ17の挿入損失特性図。 第７図は本発明の第四実施例を示すブロック構成図。 第８図はその光パルス試験器の発受光モジュールを示す
ブロック構成図。 第９図は本発明の第五実施例を示すブロック構成図。 第10図は本発明の第六実施例を示すブロック構成図。 第11図は本発明の第七実施例を示すブロック構成図。 第12図は本発明の第八実施例を示すブロック構成図。 第13図はその光パルス試験器の発受光モジュールを示す
ブロック構成図。 第14図は本発明の第九実施例を示すブロック構成図。 第15図は本発明の第十実施例を示すブロック構成図。 第16図は本発明の第十一実施例を示すブロック構成図。 第17図は本発明の第十二実施例を示すブロック構成図。 第18図は従来例を示すブロック構成図。 第19図はその光フィルタ５の挿入損失特性図。 第20図はその分岐装置の挿入損失特性の説明図。 １、２……光伝送端局、３、31、32……光フアィバケー
ブル、４、５、16、16a、17……光フィルタ、６……光
ファイバロケータ、７……光分岐装置、10、10a、10b…
…合分波形光カプラ、10c……広波長域形光カプラ、11
……１×Ｎ光スイッチ、12、25、25a……光パルス試験
器、13……バス、14……制御装置、14a……データベー
ス、15……表示装置、19〜24……光フィルタの損失特
性、26、26a……発受光モジュール、27……光減衰器、2
8……受光部、29……光サーキュレータ、30、33、34、9
1〜94……ポート、35……発光部、36……CPU、37……１
×Ｍ光スイッチ、38……光信号モニタ装置、39……光信
号送出装置、40a、40b……モデム、41……モデム通信回
線、42……光線路試験ワークステーション、43……広域
保守センタ、44……遠隔自動化手段、45……Ｎ×Ｍ光ス
イッチ、81、82……光ファイバ心線、83、84、85……試
験光挿入用光ファイバ心線、86……クラッド部、87……
コア部、88……カプラ部。
ラの構造を示す説明図。 第３図は本発明の第二実施例を示すブロック構成図。 第４図は本発明の第三実施例を示すブロック構成図。 第５図はその光フィルタ16の挿入損失特性図。 第６図はその光フィルタ17の挿入損失特性図。 第７図は本発明の第四実施例を示すブロック構成図。 第８図はその光パルス試験器の発受光モジュールを示す
ブロック構成図。 第９図は本発明の第五実施例を示すブロック構成図。 第10図は本発明の第六実施例を示すブロック構成図。 第11図は本発明の第七実施例を示すブロック構成図。 第12図は本発明の第八実施例を示すブロック構成図。 第13図はその光パルス試験器の発受光モジュールを示す
ブロック構成図。 第14図は本発明の第九実施例を示すブロック構成図。 第15図は本発明の第十実施例を示すブロック構成図。 第16図は本発明の第十一実施例を示すブロック構成図。 第17図は本発明の第十二実施例を示すブロック構成図。 第18図は従来例を示すブロック構成図。 第19図はその光フィルタ５の挿入損失特性図。 第20図はその分岐装置の挿入損失特性の説明図。 １、２……光伝送端局、３、31、32……光フアィバケー
ブル、４、５、16、16a、17……光フィルタ、６……光
ファイバロケータ、７……光分岐装置、10、10a、10b…
…合分波形光カプラ、10c……広波長域形光カプラ、11
……１×Ｎ光スイッチ、12、25、25a……光パルス試験
器、13……バス、14……制御装置、14a……データベー
ス、15……表示装置、19〜24……光フィルタの損失特
性、26、26a……発受光モジュール、27……光減衰器、2
8……受光部、29……光サーキュレータ、30、33、34、9
1〜94……ポート、35……発光部、36……CPU、37……１
×Ｍ光スイッチ、38……光信号モニタ装置、39……光信
号送出装置、40a、40b……モデム、41……モデム通信回
線、42……光線路試験ワークステーション、43……広域
保守センタ、44……遠隔自動化手段、45……Ｎ×Ｍ光ス
イッチ、81、82……光ファイバ心線、83、84、85……試
験光挿入用光ファイバ心線、86……クラッド部、87……
コア部、88……カプラ部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−193750（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−166837（ＪＰ，Ａ) 特開 昭54−32939（ＪＰ，Ａ)
Claims (6)
- 【請求項１】光伝送装置間に接続された光ファイバケー
ブル（31、32）の途中に挿入され外部からの試験波長光
の前記光ファイバケーブルへの挿入の制御を行う光分岐
手段と、 前記試験波長光の発生ならびに前記光ファイバケーブル
から戻された前記試験波長光の検出を行う光パルス試験
器（12）を含む試験手段と を備えた光線路試験方式において、 前記光分岐手段は、前記光ファイバケーブルの任意の点
に挿入されたN/2個（Ｎは偶数）の合分波形光カプラ（1
0）を含み、 前記試験手段は、前記合分波形光カプラの試験回線用ポ
ートを選択する１×Ｎ光スイッチ（11）と、この１×Ｎ
光スイッチのプログラム制御を行う制御手段（14）とを
含む ことを特徴とする光線路試験方式。 - 【請求項２】光伝送装置の直近に挿入された第一の光フ
ィルタ（16）と、光パルス試験器の直近に挿入された第
二の光フィルタ（17）とを含む請求項１記載の光線路試
験方式。 - 【請求項３】請求項２記載の光線路試験方式において、 第一の光フィルタはそのしゃ断特性が緩やかなフィルタ
であり、第二の光フィルタは光パルス試験器に内蔵され
たことを特徴とする光線路試験方式。 - 【請求項４】１×Ｎ光スイッチと光パルス試験器との間
に挿入された１×Ｍ光スイッチ（Ｍは自然数）と、この
１×Ｍ光スイッチに前記光パルス試験器と並列に接続さ
れた光信号モニタ装置および光信号送出装置を含む複数
の光信号装置と、前記光パルス試験器および前記光信号
装置の動作の遠隔自動制御を行う遠隔自動化手段とを含
む請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の光線路試
験方式。 - 【請求項５】１×Ｎ光スイッチおよび１×Ｍ光スイッチ
の替わりにＮ×Ｍ光スイッチを用いた請求項４に記載の
光線路試験方式。 - 【請求項６】合分波形光カプラが広波長域形光カプラで
ある請求項１ないし請求項５のいずれかに記載の光線路
試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63186169A JPH0728266B2 (ja) | 1988-01-11 | 1988-07-25 | 光線路試験方式 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63-3634 | 1988-01-11 | ||
| JP363488 | 1988-01-11 | ||
| JP63186169A JPH0728266B2 (ja) | 1988-01-11 | 1988-07-25 | 光線路試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH021632A JPH021632A (ja) | 1990-01-05 |
| JPH0728266B2 true JPH0728266B2 (ja) | 1995-03-29 |
Family
ID=26337261
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63186169A Expired - Lifetime JPH0728266B2 (ja) | 1988-01-11 | 1988-07-25 | 光線路試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0728266B2 (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2823344B2 (ja) * | 1990-09-10 | 1998-11-11 | 日立電線株式会社 | 光ファイバ伝送路の試験監視方法及び装置 |
| WO1992011709A1 (en) * | 1990-12-18 | 1992-07-09 | Aster Corporation | Optical communication monitoring and control |
| CA2058794C (en) * | 1991-01-08 | 1996-06-18 | Tsuneo Kanai | Automated optical mdf system |
| WO1994016347A1 (en) * | 1992-12-31 | 1994-07-21 | Gte Laboratories Incorporated | Electrically switched, remote optical time domain reflectometry system and fiber analysis method |
| KR100377823B1 (ko) | 1998-07-24 | 2003-03-26 | 니폰덴신뎅와 가부시키가이샤 | 광배선반과 광배선 시스템 |
| US6396573B1 (en) * | 2000-02-17 | 2002-05-28 | Fitel U.S.A. Corp. | System and method for optically testing broadcasting systems |
| JP2002330109A (ja) * | 2001-04-27 | 2002-11-15 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光線路試験システム、及び光線路試験方法 |
| KR20030070397A (ko) * | 2002-02-25 | 2003-08-30 | 한국전자통신연구원 | 광커플러의 특성 측정 시스템 |
| JP5188406B2 (ja) * | 2009-01-21 | 2013-04-24 | 日本電信電話株式会社 | 光線路故障区間推定システムと故障区間推定装置 |
| JP5167321B2 (ja) * | 2010-09-07 | 2013-03-21 | 日本電信電話株式会社 | 光通信システム及び接続状態判定方法 |
| JP5869894B2 (ja) * | 2012-01-26 | 2016-02-24 | 株式会社フジクラ | リアルタイム光線路監視システム、リアルタイム光線路監視方法、試験装置、およびプログラム |
| JP6507240B2 (ja) * | 2014-06-27 | 2019-04-24 | ソリッド インコーポレーテッドＳｏｌｉｄ，Ｉｎｃ． | 光通信線路監視装置及び方法 |
| JP2017072495A (ja) * | 2015-10-08 | 2017-04-13 | 日本電信電話株式会社 | 試験光合分波器及び光線路試験システム |
| JPWO2025017891A1 (ja) * | 2023-07-20 | 2025-01-23 |
-
1988
- 1988-07-25 JP JP63186169A patent/JPH0728266B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH021632A (ja) | 1990-01-05 |
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