JPH07283713A - 双方向インタフェース回路 - Google Patents
双方向インタフェース回路Info
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- JPH07283713A JPH07283713A JP6071718A JP7171894A JPH07283713A JP H07283713 A JPH07283713 A JP H07283713A JP 6071718 A JP6071718 A JP 6071718A JP 7171894 A JP7171894 A JP 7171894A JP H07283713 A JPH07283713 A JP H07283713A
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- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 title claims abstract description 36
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims abstract description 40
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 claims abstract description 4
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 3
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 双方向インタフェース部において、入出力切
替え指令信号の伝搬遅延により入出力ピンにバスファイ
トが生じ、IC内部に不確定信号が伝搬されるのを防止
する。 【構成】 データピンから入力される入力/出力モード
切替え指令信号に応答してDFF8の出力102が出力
モード102となるとき、入力インタフェースバッファ
2の出力に設けられた制御回路1により、この出力モー
ド102に応答してバッファ2の出力を取込みIC内部
へ伝搬することで、バッファ2の出力の確定値がIC内
部へ伝搬される。よって不確定値はIC内部へ伝搬され
ることはない。
替え指令信号の伝搬遅延により入出力ピンにバスファイ
トが生じ、IC内部に不確定信号が伝搬されるのを防止
する。 【構成】 データピンから入力される入力/出力モード
切替え指令信号に応答してDFF8の出力102が出力
モード102となるとき、入力インタフェースバッファ
2の出力に設けられた制御回路1により、この出力モー
ド102に応答してバッファ2の出力を取込みIC内部
へ伝搬することで、バッファ2の出力の確定値がIC内
部へ伝搬される。よって不確定値はIC内部へ伝搬され
ることはない。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は双方向インタフェース回
路に関し、特に半導体集積回路内の入出力部に用いられ
る双方向インタフェース回路に関する。
路に関し、特に半導体集積回路内の入出力部に用いられ
る双方向インタフェース回路に関する。
【0002】
【従来の技術】この種の双方向インタフェース回路は図
3に示す如き回路構成である。この双方向インタフェー
ス回路5は入力インタフェースバッファと、スリーステ
ートインタフェースバッファ3とにより構成されてお
り、双方向ピン(端子)4に対して入力インタフェース
バッファ2の入力103が、また、スリーステートバッ
ファ3の出力106が夫々接続されている。
3に示す如き回路構成である。この双方向インタフェー
ス回路5は入力インタフェースバッファと、スリーステ
ートインタフェースバッファ3とにより構成されてお
り、双方向ピン(端子)4に対して入力インタフェース
バッファ2の入力103が、また、スリーステートバッ
ファ3の出力106が夫々接続されている。
【0003】入力インタフェースバッファ2の出力10
4はDFF(Dタイプフリップフロップ)6を介して図
示せぬ内部回路へ供給される。また、内部回路からの出
力はDFF7を介してスリーステートバッファ3の入力
105となる。
4はDFF(Dタイプフリップフロップ)6を介して図
示せぬ内部回路へ供給される。また、内部回路からの出
力はDFF7を介してスリーステートバッファ3の入力
105となる。
【0004】スリーステートバッファ3の制御はDFF
8の出力であるイネーブル信号102により行われ、こ
のDFF8の入力には、内部回路からのデータピンへ供
給されるデータが印加されている。各DFF6〜8は内
部回路からクロックピンへ供給されるタイミングクロッ
ク101によりクロック制御される。
8の出力であるイネーブル信号102により行われ、こ
のDFF8の入力には、内部回路からのデータピンへ供
給されるデータが印加されている。各DFF6〜8は内
部回路からクロックピンへ供給されるタイミングクロッ
ク101によりクロック制御される。
【0005】図4は図3の回路のシミュレーション動作
時の各部信号のタイミングチャートである。尚、図にお
いて、Zはハイインピーダンス状態を、Xは不確定値を
夫々示す。
時の各部信号のタイミングチャートである。尚、図にお
いて、Zはハイインピーダンス状態を、Xは不確定値を
夫々示す。
【0006】先ず、双方向ピン4に図(a)のパターン
データが供給されると、タイミングクロック(以下単に
クロックと称す)の立上りによりDFF8が動作してイ
ネーブル信号102の入出力モード切替えが(b)の如
く行われる。
データが供給されると、タイミングクロック(以下単に
クロックと称す)の立上りによりDFF8が動作してイ
ネーブル信号102の入出力モード切替えが(b)の如
く行われる。
【0007】しかしながら、実際の回路では、配線長や
各回路素子等に起因する遅延等の問題で、イネーブル信
号102の入出力モード切替えが(c)の様に遅れるこ
とになる。
各回路素子等に起因する遅延等の問題で、イネーブル信
号102の入出力モード切替えが(c)の様に遅れるこ
とになる。
【0008】よって、入力パターン上では入出力モード
切替えが既に行われて出力モードになっているので、双
方向ピン4からは(d)に示す様にハイインピーダンス
値Zが取込まれる。
切替えが既に行われて出力モードになっているので、双
方向ピン4からは(d)に示す様にハイインピーダンス
値Zが取込まれる。
【0009】その結果、入力インタフェースバッファ2
からは(e)の不確定値Xが出力され、DFF6からは
(f)に示すクロックタイミングで内部回路へこの不確
定値Xが(g)の如く伝搬されることになる。
からは(e)の不確定値Xが出力され、DFF6からは
(f)に示すクロックタイミングで内部回路へこの不確
定値Xが(g)の如く伝搬されることになる。
【0010】図5は従来の他の双方向インタフェース回
路の他の例を示す図であり、特開平2−119425号
公報に開示のものである。
路の他の例を示す図であり、特開平2−119425号
公報に開示のものである。
【0011】図において、10は双方向ピン17へ入力
された入力信号あるいは出力バッファゲート12の出力
をIC内部回路へ取込む入力バッファであり、12は内
部回路からの信号15を入力バッファ10に入力し、ま
た、双方向ピン17より外部へ出力する出力バッファゲ
ートである。
された入力信号あるいは出力バッファゲート12の出力
をIC内部回路へ取込む入力バッファであり、12は内
部回路からの信号15を入力バッファ10に入力し、ま
た、双方向ピン17より外部へ出力する出力バッファゲ
ートである。
【0012】16は出力バッファ12の出力状態を制御
するコントロール信号であり、この信号がハイレベルの
時、出力バッファ12の出力は信号15と同様のレベル
となり、ロウレベル時には、出力バッファ12の出力は
ハイインピーダンス状態となるように出力バッファ12
を制御する信号、18は2入力NANDゲート19と共
にコントロール信号16の立上りエッジを検出して一定
時間幅のパルスを発生するインバータゲートからなる遅
延ブロックである。
するコントロール信号であり、この信号がハイレベルの
時、出力バッファ12の出力は信号15と同様のレベル
となり、ロウレベル時には、出力バッファ12の出力は
ハイインピーダンス状態となるように出力バッファ12
を制御する信号、18は2入力NANDゲート19と共
にコントロール信号16の立上りエッジを検出して一定
時間幅のパルスを発生するインバータゲートからなる遅
延ブロックである。
【0013】11は遅延ブロック18及び2入力NAN
Dゲート19とからなるエッジ検出回路の出力信号によ
り入力バッファ10の入力端子と出力バッファ12の出
力端子との接続点13の双方向ピン17との接続を制御
するPチャネルMOSトランジスタとNチャネルMOS
トランジスタとからなるトランスファーゲートである。
Dゲート19とからなるエッジ検出回路の出力信号によ
り入力バッファ10の入力端子と出力バッファ12の出
力端子との接続点13の双方向ピン17との接続を制御
するPチャネルMOSトランジスタとNチャネルMOS
トランジスタとからなるトランスファーゲートである。
【0014】この例において、双方向インタフェース回
路が入力モード(つまり、コントロール信号16がロウ
レベル)から出力モード(コントロール信号16がハイ
レベル)へ変化する場合、双方向ピン17にはロウレベ
ルが印加され、出力バッファ12の入力信号15はハイ
レベルにあったと仮定する。
路が入力モード(つまり、コントロール信号16がロウ
レベル)から出力モード(コントロール信号16がハイ
レベル)へ変化する場合、双方向ピン17にはロウレベ
ルが印加され、出力バッファ12の入力信号15はハイ
レベルにあったと仮定する。
【0015】先ず、出力バッファ12のコントロール信
号16がハイレベルへ変化すると、遅延ブロック18及
び2入力NANDゲート19より構成されたエッジ検出
回路の出力には、遅延回路18の遅延値とほぼ等しい時
間ロウレベルのパルスが発生される。
号16がハイレベルへ変化すると、遅延ブロック18及
び2入力NANDゲート19より構成されたエッジ検出
回路の出力には、遅延回路18の遅延値とほぼ等しい時
間ロウレベルのパルスが発生される。
【0016】この結果、トランスファーゲート11は一
時的に遮断状態となり、端子17に印加されていた入力
信号は入出力バッファの接続点13から切り離される。
その後、出力バッファ12はハイレベルとなる。そし
て、一定時間後、エッジ検出回路を構成している2入力
NANDの出力はハイレベルとなり、トランスファーゲ
ート11は導通状態となる。
時的に遮断状態となり、端子17に印加されていた入力
信号は入出力バッファの接続点13から切り離される。
その後、出力バッファ12はハイレベルとなる。そし
て、一定時間後、エッジ検出回路を構成している2入力
NANDの出力はハイレベルとなり、トランスファーゲ
ート11は導通状態となる。
【0017】このトランスファーゲートが遮断状態とな
っている間に、双方向ピン17に印加されていた入力信
号をオフ状態とすれば、トランスファーゲート11が導
通状態となった時、ピン17には信号15と同じレベル
が出力される。
っている間に、双方向ピン17に印加されていた入力信
号をオフ状態とすれば、トランスファーゲート11が導
通状態となった時、ピン17には信号15と同じレベル
が出力される。
【0018】従って、出力バッファ12の出力とピン1
7に印加された入力信号との競合を防止することが可能
となっている。
7に印加された入力信号との競合を防止することが可能
となっている。
【0019】
【発明が解決しようとする課題】図3に示した従来の双
方向インタフェース回路では、イネーブル信号102と
データ信号とのタイミングの違いにより、イネーブル信
号102の切替え時に必ずバスファイト・バスフロート
エラーが発生し、不確定信号がIC内部回路に伝搬する
ことになる。
方向インタフェース回路では、イネーブル信号102と
データ信号とのタイミングの違いにより、イネーブル信
号102の切替え時に必ずバスファイト・バスフロート
エラーが発生し、不確定信号がIC内部回路に伝搬する
ことになる。
【0020】この不確定信号の伝搬を防ぐために、シミ
ュレーション時に、テストパターンを工夫(ダミーパタ
ーンの挿入)するようにしているが、このテストパター
ンによる回避方法では、イネーブル信号の切替え毎にダ
ミーパターンの挿入を行う必要があり、パターン数の増
大を招来する。また、テストパターン作成時にダミーパ
ターンを考慮する必要があり、工数が増大することにも
なる。
ュレーション時に、テストパターンを工夫(ダミーパタ
ーンの挿入)するようにしているが、このテストパター
ンによる回避方法では、イネーブル信号の切替え毎にダ
ミーパターンの挿入を行う必要があり、パターン数の増
大を招来する。また、テストパターン作成時にダミーパ
ターンを考慮する必要があり、工数が増大することにも
なる。
【0021】図5に示した他の従来技術では、バスファ
イト・バスフロートエラーは防止されるものの、双方向
ピン17と入出力バッファ10,12との間にトランス
ファーゲート11を挿入して、このゲート11のオンオ
フを、遅延回路18,NANDゲート19,インバータ
ゲート20を用いて制御する必要があり、ハード的にも
回路規模が増大して得策とはならない。
イト・バスフロートエラーは防止されるものの、双方向
ピン17と入出力バッファ10,12との間にトランス
ファーゲート11を挿入して、このゲート11のオンオ
フを、遅延回路18,NANDゲート19,インバータ
ゲート20を用いて制御する必要があり、ハード的にも
回路規模が増大して得策とはならない。
【0022】本発明の目的は、極めて簡単な構成でかつ
ダミーパターン等の煩雑な入力パターンを印加する必要
がなくバスファイト・バスフロートエラーを防止するこ
とが可能な双方向インタフェース回路を提供することで
ある。
ダミーパターン等の煩雑な入力パターンを印加する必要
がなくバスファイト・バスフロートエラーを防止するこ
とが可能な双方向インタフェース回路を提供することで
ある。
【0023】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、双方向
端子と、この双方向端子に入力が接続された入力インタ
フェースバッファと、前記双方向端子に出力が接続され
たスリーステートバッファとを含み、内部回路から供給
されるイネーブル信号により前記スリーステートバッフ
ァを制御するよう構成された双方向インタフェース回路
であって、前記入力インタフェースバッファの出力を前
記イネーブル信号に応答して伝搬する遅延手段を有する
ことを特徴とする双方向インタフェース回路が得られ
る。
端子と、この双方向端子に入力が接続された入力インタ
フェースバッファと、前記双方向端子に出力が接続され
たスリーステートバッファとを含み、内部回路から供給
されるイネーブル信号により前記スリーステートバッフ
ァを制御するよう構成された双方向インタフェース回路
であって、前記入力インタフェースバッファの出力を前
記イネーブル信号に応答して伝搬する遅延手段を有する
ことを特徴とする双方向インタフェース回路が得られ
る。
【0024】
【実施例】以下に図面を用いて本発明の実施例について
説明する。
説明する。
【0025】図1は本発明の実施例の回路図であり、図
3と同等部分は同一符号により示している。本実施例で
は、図3の構成に対して、入力バッファ2とDFF6と
の間に制御回路1を挿入し、この制御回路1をイネーブ
ル信号102により制御するようにしている。
3と同等部分は同一符号により示している。本実施例で
は、図3の構成に対して、入力バッファ2とDFF6と
の間に制御回路1を挿入し、この制御回路1をイネーブ
ル信号102により制御するようにしている。
【0026】この制御回路1は例えばDFFにより構成
され、このDFFのクロック入力にイネーブル信号10
2を印加する構成とされる。他の回路構成は図3のそれ
と同一であり、その説明は省略する。
され、このDFFのクロック入力にイネーブル信号10
2を印加する構成とされる。他の回路構成は図3のそれ
と同一であり、その説明は省略する。
【0027】図2は図1の回路のシミュレーション動作
時の各部タイミング信号を示しており、図4の従来例と
同一条件にて示し、(a)〜(e)までは図4の(a)
〜(e)と同じである。
時の各部タイミング信号を示しており、図4の従来例と
同一条件にて示し、(a)〜(e)までは図4の(a)
〜(e)と同じである。
【0028】双方向インタフェース回路5内の入力イン
タフェースバッファ2の出力104から不確定信号が伝
搬されると、イネーブル信号102の入出力モードが切
替わるまで(図2(c)参照)、制御回路1では、モー
ド切替え前のデータを保持し続けて出力107へこれを
導出し(図2(f)参照)、イネーブル信号102が切
替わった時点(図2(c)参照)で入力インタフェース
バッファ2の出力104を取込みつつ出力107へ送出
するのである(図2(f)参照)。
タフェースバッファ2の出力104から不確定信号が伝
搬されると、イネーブル信号102の入出力モードが切
替わるまで(図2(c)参照)、制御回路1では、モー
ド切替え前のデータを保持し続けて出力107へこれを
導出し(図2(f)参照)、イネーブル信号102が切
替わった時点(図2(c)参照)で入力インタフェース
バッファ2の出力104を取込みつつ出力107へ送出
するのである(図2(f)参照)。
【0029】従って、DFF6からは(g)で示したク
ロックタイミングにてIC内部回路へ信号が(h)の如
く伝搬され、よって内部回路へ不確定値が伝搬されるの
を防止できることになるのである。
ロックタイミングにてIC内部回路へ信号が(h)の如
く伝搬され、よって内部回路へ不確定値が伝搬されるの
を防止できることになるのである。
【0030】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明によれば、双
方向インタフェース部内にデータ遅延用の制御回路を付
加することにより、双方向インタフェース部内で生ずる
バスファイト・バスフロートエラーによる不確定信号が
LSI内部へ伝搬するのを防止することができるという
効果がある。
方向インタフェース部内にデータ遅延用の制御回路を付
加することにより、双方向インタフェース部内で生ずる
バスファイト・バスフロートエラーによる不確定信号が
LSI内部へ伝搬するのを防止することができるという
効果がある。
【0031】従って、IC回路の動作の安定化が図られ
ると共に、テストパターンに人手を加える必要がなくな
るのでパターン数の増大が抑止され、それに費やす工程
数も削減されることになる。
ると共に、テストパターンに人手を加える必要がなくな
るのでパターン数の増大が抑止され、それに費やす工程
数も削減されることになる。
【図1】本発明の実施例のブロック図である。
【図2】図1のブロックの動作を示す各部タイムチャー
トである。
トである。
【図3】従来の双方向インタフェース回路のブロック図
である。
である。
【図4】図3のブロックの動作を示す各部タイムチャー
トである。
トである。
【図5】従来の他の双方向インタフェース回路のブロッ
ク図である。
ク図である。
1 制御回路 2 入力バッファゲート 3 出力バッファゲート 4 双方向ピン 5 双方向インタフェースブロック 6〜8 DFF
Claims (2)
- 【請求項1】 双方向端子と、この双方向端子に入力が
接続された入力インタフェースバッファと、前記双方向
端子に出力が接続されたスリーステートバッファとを含
み、内部回路から供給されるイネーブル信号により前記
スリーステートバッファを制御するよう構成された双方
向インタフェース回路であって、前記入力インタフェー
スバッファの出力を前記イネーブル信号に応答して伝搬
する遅延手段を有することを特徴とする双方向インタフ
ェース回路。 - 【請求項2】 前記遅延手段は、前記イネーブル信号に
同期して動作するDタイプフリップフロップであること
を特徴とする請求項1記載の双方向インタフェース回
路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6071718A JPH07283713A (ja) | 1994-04-11 | 1994-04-11 | 双方向インタフェース回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6071718A JPH07283713A (ja) | 1994-04-11 | 1994-04-11 | 双方向インタフェース回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07283713A true JPH07283713A (ja) | 1995-10-27 |
Family
ID=13468590
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6071718A Withdrawn JPH07283713A (ja) | 1994-04-11 | 1994-04-11 | 双方向インタフェース回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07283713A (ja) |
-
1994
- 1994-04-11 JP JP6071718A patent/JPH07283713A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010703 |