JPH07287256A - 導波路型電気光学素子 - Google Patents
導波路型電気光学素子Info
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Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 76
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 26
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 27
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 claims description 6
- 229910013641 LiNbO 3 Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910002367 SrTiO Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 abstract description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 abstract description 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 abstract description 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 abstract 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 abstract 1
- CJNBYAVZURUTKZ-UHFFFAOYSA-N hafnium(IV) oxide Inorganic materials O=[Hf]=O CJNBYAVZURUTKZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 14
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 9
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 8
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 7
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 2
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000001603 reducing effect Effects 0.000 description 2
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- XPPKVPWEQAFLFU-UHFFFAOYSA-N diphosphoric acid Chemical compound OP(O)(=O)OP(O)(O)=O XPPKVPWEQAFLFU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 229940005657 pyrophosphoric acid Drugs 0.000 description 1
- 230000008685 targeting Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/03—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on ceramics or electro-optical crystals, e.g. exhibiting Pockels effect or Kerr effect
- G02F1/035—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on ceramics or electro-optical crystals, e.g. exhibiting Pockels effect or Kerr effect in an optical waveguide structure
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2201/00—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
- G02F2201/07—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 buffer layer
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2201/00—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
- G02F2201/30—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 grating
- G02F2201/302—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 grating grating coupler
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2203/00—Function characteristic
- G02F2203/21—Thermal instability, i.e. DC drift, of an optical modulator; Arrangements or methods for the reduction thereof
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Abstract
波路と、基板との間にバッファ層を介して光導波路に近
接させて取り付けられた少なくとも1対の電極と、これ
らの電極間に電圧を印加する駆動回路とを有する導波路
型電気光学素子において、DCドリフトを低減する。 【構成】 バッファ層12を、比誘電率が20〜1000の範囲
にある材料から形成する。
Description
基板に形成された光導波路と、この光導波路に近接して
配された少なくとも1対の電極とを有し、これらの電極
間に電圧を印加することによって導波光の変調や、スイ
ッチング等を行なうようにした導波路型電気光学素子に
関するものである。
るように、電気光学効果を有する基板に形成された薄膜
光導波路と、その上に形成されて該光導波路に電気光学
的回折格子(Electro-Optic Grating )を形成する格子
状電極(以下EOG電極と称する)と、このEOG電極
に電圧を印加する駆動回路とからなり、上記光導波路を
導波する導波光を、EOG電極への電圧印加状態に応じ
て選択的に回折させるようにした導波路型電気光学素子
が公知となっている。
ば、回折光と非回折光(0次光)のいずれか一方を使用
光としたとき、その使用光を回折の有無あるいは程度に
応じて変調することができる。また、上記回折の有無に
応じて導波光の光路を切り換える光スイッチを構成する
こともできる。
IED PHYSICS (ジャパニーズ・ジャーナル・オブ・アプ
ライド・フィジックス)Vol.20, No.4, April, 1981 p
p.733〜737 に示されるように、電気光学効果を有する
基板に方向性結合器を構成する2本のチャンネル光導波
路を形成し、各チャンネル光導波路の上に平板状電極を
配し、一方のチャンネル光導波路を導波する導波光を上
記電極への電圧印加状態に応じて選択的に他方のチャン
ネル光導波路に移行させるようにした導波路型電気光学
素子も知られている。
ば、上記他方のチャンネル光導波路から出射する光を使
用光として、その使用光を電極への電圧印加状態に基づ
いて変調することができるし、また、導波光の光路を切
り換える光スイッチを構成することもできる。
素子においては、電極による光散乱や光吸収を避けるた
めに、電極と基板との間に光学バッファ層を形成するこ
とが必要である。従来このバッファ層は、SiO2 ある
いはAl2 O3 から形成されていた。
なバッファ層を設けた導波路型電気光学素子において
は、いわゆるDCドリフトすなわち、電圧を加えるのに
従って動作点が変動する現象が生じやすいことが認めら
れている。
従来より、上記のJAPANESE JOURNALOF APPLIED PHYSICS
(ジャパニーズ・ジャーナル・オブ・アプライド・フ
ィジックス)Vol.20, No.4, April, 1981 pp.733〜737
にも示されているように、バッファ層の電極間の部分を
取り除いて、バッファ層を電極毎に分離させることが提
案されている。
は高強度である場合は、光導波路におけるリーク電流が
大きくなるため、上述のようにバッファ層を電極毎に分
離させてもDCドリフトを十分に低減させることはでき
ない。
であり、入力光が短波長であったりあるいは高強度であ
る場合においても、DCドリフトを十分に低減可能な導
波路型電気光学素子を提供することを目的とするもので
ある。
気光学素子は、先に述べたように、電気光学効果を有す
る基板に形成された光導波路と、上記基板との間にバッ
ファ層を介して、上記光導波路に近接させて取り付けら
れた少なくとも1対の電極と、これらの電極間に電圧を
印加する駆動回路とを有する導波路型電気光学素子にお
いて、バッファ層が、比誘電率が20〜1000と、従来のバ
ッファ層の比誘電率(10以下)と比べて十分に大きい材
料から形成されたことを特徴とするものである。
体的には、HfO2 、TiO2 、SrTiO3 、BaT
iO3 、LiNbO3 、LiTaO3 、Pb(Zr,T
i)O3 、(Pb,La)(Zr,Ti)O3 等を好適
に用いることができる。また、これらの材料において、
化学量論比からずれた材料を用いることも可能である。
上に薄膜光導波路2が形成され、さらにその上にバッフ
ァ層3を介して交差櫛形のEOG電極4が形成された構
造を考える。この構造の等価回路は図4のようなものと
なる。なお、C1 およびR1 はそれぞれバッファ層3の
容量と抵抗、C2 およびR2 はそれぞれ光導波路2の容
量と抵抗である。ここで、EOG電極4の1対の電極片
4aと4bとの間にV0 の電圧を印加したとすると、光
導波路2にかかる有効電圧Vは以下のように印加時間t
の関数となる。
B・V0 で、この有効電圧Vは時間τをかけてA・V0
に収れんする。先に説明したDCドリフトは、このよう
に光導波路2にかかる有効電圧Vが印加時間tに応じて
変化することに起因している。この有効電圧Vの変化を
抑えるには、τを十分に大きくするか、あるいは(B−
A)の値を十分に小さくすればよいことになる。
電率が従来と比べて大きいために、その容量C1 が大き
くなる。そこで、バッファ層3の抵抗R1 が同じである
とすると、バッファ層の容量C1 が大きいためにτが大
きくなる。したがって、バッファ層3の抵抗R1 と比べ
て光導波路2の抵抗R2 が著しく大きい場合(光導波路
2の抵抗R2 と比べてバッファ層3の抵抗R1 が著しく
小さい場合)以外は、τが十分に大きくなる効果で、有
効電圧Vの変化つまりDCドリフトが抑えられる。
2の抵抗R2 が著しく大きい場合、バッファ層3を比誘
電率が大きい材料から形成すれば、その容量C1 が十分
に大きくなり、上記Bの値は1に近いものとなる。一
方、バッファ層3の抵抗R1 と比べて光導波路2の抵抗
R2 が著しく大きいのであれば、上記Aの値も1に近い
ものとなっているから、(B−A)の値は十分に小さく
なる。そこで、光導波路2にかかる有効電圧Vの変化を
少なく抑えて、DCドリフトを十分に低減できるように
なる。
する。図5は、図3に示した構造において、バッファ層
3を比誘電率が異なる材料を用いて何種類か形成した際
に、DCドリフト量がこの比誘電率に応じて変化する様
子を示している。この場合、バッファ層厚さは200 n
m、EOG電極4の電極指周期Λ=6.9 μm、電極対間
距離L=0.69mmである。また光導波路2の容量C2 =
0.16pF、光導波路2の抵抗R2 =1×1013Ωであり、
それらは各々バッファ層3を設けない構造において実験
的に求めた値である。
c 経過時に光導波路2にかかる有効電圧Vを1として規
格化し、電圧印加開始後10sec 経過時の有効電圧Vの値
をもって示してある。つまりこの値は、電圧印加開始後
1nsec から10sec 経過するまでに、有効電圧Vが何倍
に変化するかを示すものである。また図中の実線はバッ
ファ層3の抵抗R1 が1×109 Ωと比較的低い場合、破
線はバッファ層3の抵抗R1 が1×1015Ωと比較的高い
場合を示している。
一般にSiO2 、Al2 O3 が用いられており、前者の
比誘電率は4、後者の比誘電率は10である。この程度の
比誘電率を有する材料をバッファ層材料とする場合、D
Cドリフト量はかなり大きいものとなっている。
が20以上となる辺りから、DCドリフト量は、バッファ
層抵抗R1 が比較的低い場合もまた高い場合も顕著に低
減する。そして、バッファ層材料の比誘電率が1000を超
える辺りから、DCドリフト量は1に収束する。つま
り、電圧印加開始後10sec 経過しても、有効電圧Vの値
は変化しなくなる。
は成膜が困難であるという事情があるので、本発明にお
いては比誘電率の上限を1000とするものである。また、
バッファ層抵抗R1 が比較的低い場合もまた高い場合
も、比誘電率が200 を超えると、比誘電率が増大しても
DCドリフト低減効果はさほど増大しない(つまり比誘
電率が200 程度に達すれば、もはや十分なDCドリフト
低減効果が得られる)ので、成膜の容易化の点からは、
比誘電率が20〜200 の材料からバッファ層を形成するの
が好ましい。
して交差櫛形のEOG電極が形成された構造について述
べたが、平板状電極を用いてチャンネル光導波路に電圧
を印加する導波路型電気光学素子においては、前述の
(1) 式における4R1 、4C2 がそれぞれ2R1 、2C
2 に変わるだけである。そこでこの場合も、バッファ層
を比誘電率が大きい材料から形成すれば、上記と同様に
してDCドリフトを十分に低減できるようになる。
詳細に説明する。図1および図2はそれぞれ、本発明の
第1実施例による導波路型電気光学素子の平面形状およ
び側面形状を示すものである。この導波路型電気光学素
子は光変調器として構成されたものであり、MgOがド
ープされたLiNbO3 基板10上に形成された薄膜光導
波路11と、その上に形成されたHfO2 膜からなるバッ
ファ層12と、このバッファ層12の上に形成されたEOG
電極13と、このEOG電極13を間において互いに離れる
状態で光導波路11の表面に形成された光入力用線状回折
格子(LinearGrating Coupler:以下LGCと称する)1
4および光出力用LGC15と、上記EOG電極13に所定
の電圧を印加する駆動回路16とを有している。
法は、以下の通りである。まず、MgOがドープされた
LINbO3 基板(X板)10をピロリン酸中に浸漬して
140〜150 ℃でプロトン交換を行ない、さらに大気中で3
00 〜400 ℃×1時間のアニール処理を施して、光導波
路11を形成した。この場合は、400 〜800 nmの光に対
して導波光の伝搬モードがシングルモードとなる光導波
路11が得られた。
ィーによりEOG電極のレジストパターンを形成した。
電極形状は、図3に示した電極4と同様の交差櫛形であ
り、櫛歯状部分の周期Λ=6.9 μmである。
12となるHfO2 を、スパッタリング法により成膜し
た。このスパッタリングは、ArガスとO2 ガスの混合
雰囲気中で金属Hfをターゲットにして行ない、全圧中
のO2 ガスの分圧比は30〜95%、混合ガス圧は10〜50m
Torr、基板温度は150 ℃に設定した。また、このときの
成膜速度は1〜5nm/min であり、バッファ層として
のHfO2 膜の膜厚が、上記レジストパターンよりも薄
い200 〜300 nmとなるようにスパッタ時間を制御し
た。
料であるAlを蒸着し、次いでレジストをリフトオフす
ることにより、EOG電極13が得られる。なおこの場
合、バッファ層12は各電極部分毎に分離したものとな
る。
説明する。変調される光ビーム20を発する例えばHe−
Neレーザー等のレーザー光源21は、平行光であるこの
光ビーム20が、基板10の斜めにカットされた端面10aを
通過し、光導波路11を透過してLGC14の部分に入射す
るように配置されている。それにより、光ビーム20はこ
のLGC14で回折して光導波路11内に入射し、該光導波
路11を導波モードで矢印A方向に進行する。
13に対応する部分を通って導波するが、EOG電極13に
電圧が印加されていない状態では、この導波光20は直進
する。一方、EOG電極13に駆動回路16から所定の電圧
が印加されると、電気光学効果を有する光導波路11の屈
折率が変化して光導波路11に回折格子が形成され、導波
光20はその回折格子により回折する。以上のようにして
回折した光ビーム20Aおよび回折しない光ビーム20B
は、LGC15において基板10側に回折し、この基板10の
斜めにカットされた端面10bから素子外に出射する。
ム20Aを使用光とすれば、前記駆動回路16による電圧印
加の有無に応じてこの光ビーム20Aを変調することがで
きる。例えば所定の画像信号に基づいてこの光ビーム20
Aを変調する場合は、その画像信号に基づいて駆動回路
16による電圧印加を制御すればよい。
おけるDCドリフトについて説明する。DCドリフトを
観測するために、波長514.5 nmの光ビーム20を光導波
路11に入射させ、EOG電極13に8分間一定電圧V0 を
印加し、そのとき回折した光ビーム20Aの光強度を連続
的に測定した。この印加電圧V0 は、最大回折光量を得
るために必要な電圧Vπの1/2とした。
EOG電極13の電極指周期Λ=6.9μmであり、バッフ
ァ層12の厚さは200 nmである。また、本例のバッファ
層12の材料であるHfO2 によりMIMコンデンサーを
作成し、そこに振幅500 mV、周波数100 kHzの交流
電圧を印加し、そのときのインピーダンスを測定してコ
ンデンサー容量を求めた。この容量値を比誘電率に換算
したところ、30であった。そしてこのバッファ層12の比
抵抗は1×108 〜1×1010Ωcm、光導波路11の比抵
抗は1×108 〜1×1010Ωcmであった。
す。なお、同図の(1)、(2)、(3)は、導波光の
パワー密度がそれぞれ5W/cm2 、0.5 W/cm2 、
0.05W/cm2 の各場合の光強度測定結果を示してい
る。また光強度は相対値で示してあるが、相対値1が示
す絶対値は、この図6と後述する図7においてすべて共
通である。図6に示される通り、導波光のパワー密度が
低い場合も、また5W/cm2 とかなり高い場合も、回
折した光ビーム20Aの光強度は8分間ほとんど変動する
ことがなく、顕著なDCドリフトは発生していない。
ファ層を従来装置と同様にSiO2から形成した導波路
型電気光学素子について説明する。この比較例の導波路
型電気光学素子は、図1および図2に示した導波路型電
気光学素子と比較すると、基本的にはバッファ層材料が
異なるだけであり、以下では適宜図1および図2中の番
号を引用して説明する。
方法は、MgOがドープされたLINbO3 基板(X
板)10に光導波路11を形成し、その上にEOG電極のレ
ジストパターンを形成するところまでは、前記実施例に
おけるのと同様である。また、電極形状も前記実施例と
同様である。
形成した後、この電極パターンの上にバッファ層12とな
るSiO2 を、スパッタリング法により成膜した。この
スパッタリングは、ArガスとO2 ガスの混合雰囲気中
でSiO2 焼結体をターゲットにして行ない、全圧中の
O2 ガスの分圧比は10%、混合ガス圧は5mTorr、基板
温度は150 ℃に設定した。また、このときの成膜速度は
10nm/min であり、バッファ層としての膜厚が上記レ
ジストパターンよりも薄い100 〜200 nmとなるように
スパッタ時間を制御した。
極材料であるAlを蒸着し、次いでレジストをリフトオ
フすることにより、EOG電極13が得られる。
におけるDCドリフトについて説明する。DCドリフト
の観測は、前記第1実施例の場合と同様にして行なっ
た。なおこの場合も、EOG電極13の電極指周期Λ=6.
9 μmであり、バッファ層12の厚さは100 nmである。
るSiO2 の比誘電率は、MIMコンデンサーを作成
し、100 kHzの容量値を測定して比誘電率に換算した
ところ、4であった。そしてこのバッファ層12の比抵抗
は、1×1012〜1×1015Ωcm、光導波路11の比抵抗は
1×108 〜1×1010Ωcmであった。
結果を図7に示す。なお、同図の(1)、(2)、
(3)は、導波光のパワー密度がそれぞれ5W/c
m2 、0.5 W/cm2 、0.05W/cm2 の各場合の光強
度測定結果を示している。図示される通りこの比較例に
おいては、回折光の光強度は電圧印加を開始してから時
間が経過するのにつれて徐々に低下し、顕著なDCドリ
フトが生じていることが分かる。特に、導波光のパワー
密度が5W/cm2 と大きい場合は、その傾向が大であ
る。
の測定結果と照らし合わせれば、本発明により明らかな
DCドリフト低減効果が得られていることが分かる。
について説明する。この第2実施例の導波路型電気光学
素子は、MgOがドープされたLINbO3 基板10と、
該基板10に形成された、Y分岐光導波路を2つ接続した
形のチャンネル光導波路30と、このチャンネル光導波路
30の一方の分岐部分30aを挟むようにして基板10上に形
成された1対の平板状電極31,31と、これらの平板状電
極31,31に所定の電圧を印加する駆動回路32とを有して
いる。またこの場合も、各平板状電極31と基板10との間
には、HfO2 膜からなるバッファ層33が介設されてい
る。
て、入力光34はチャンネル光導波路30の図中左端から入
力され、1番目のY分岐で分岐され、分岐部分30aおよ
び30bを導波してから2番目のY分岐で再度合成され
る。この合成された光は、チャンネル光導波路30の図中
右端から出力光34Aとして出力される。
aに電極31,31を介して所定電圧が印加されると、この
分岐部分30aの屈折率が変化するので、分岐部分30aを
導波する光はこの電圧印加の有無に応じて位相変調され
る。そして、この分岐部分30aを導波した光と、分岐部
分30bを導波した光は合成されたとき干渉するので、出
力光34Aは上記電圧印加の有無に応じて強度変調され
る。
おいても、第1実施例と同様にバッファ層33が、比誘電
率が30と大きいHfO2 膜から形成されているので、D
Cドリフト低減効果が得られる。
について説明する。この第3実施例の導波路型電気光学
素子は、MgOがドープされたLINbO3 基板10と、
該基板10に形成された、方向性結合器を構成する2つの
チャンネル光導波路40A、40Bと、一方のチャンネル光
導波路40Aを挟むようにして基板10上に形成された1対
の平板状電極41,41と、これらの平板状電極41,41に所
定の電圧を印加する駆動回路42とを有している。またこ
の場合も、各平板状電極41と基板10との間には、HfO
2 膜からなるバッファ層43が介設されている。
て、入力光44は一方のチャンネル光導波路40Aに入力さ
れてそこを導波し、両光導波路40A、40Bが近接してい
る部分において他方のチャンネル光導波路40Bに浸み出
し、そこを導波して該光導波路40Bから出力光44Aとし
て出力される。
して所定電圧が印加されると、この光導波路40Aの屈折
率が変化するので、該光導波路40Aから光導波路40Bへ
の導波光の浸み出しの大きさが変化する。そこで出力光
44Aは、上記電圧印加の有無に応じて強度変調される。
おいても、第1、2実施例と同様にバッファ層43が、比
誘電率が30と大きいHfO2 膜から形成されているの
で、DCドリフト低減効果が得られる。
/アニール光導波路に限らず、その他プロトン交換光導
波路やTi拡散光導波路を有する導波路型電気光学素子
に対しても適用可能で、同様の効果を奏するものであ
る。
する材料も、上述の各実施例で用いられたHfO2 に限
らず、その他例えばTiO2 、SrTiO3 、BaTi
O3、LiNbO3 、LiTaO3 、Pb(Zr,T
i)O3 、(Pb,La)(Zr,Ti)O3 等を利用
することもできる。
子を示す平面図
図
の関係を示すグラフ
ドリフト量測定結果を示すグラフ
のDCドリフト量測定結果を示すグラフ
子を示す斜視図
子を示す斜視図
Claims (3)
- 【請求項1】 電気光学効果を有する基板に形成された
光導波路と、 前記基板との間にバッファ層を介して、前記光導波路に
近接させて取り付けられた少なくとも1対の電極と、 これらの電極間に電圧を印加する駆動回路とを有する導
波路型電気光学素子において、 前記バッファ層が、比誘電率が20〜1000の範囲にある材
料から形成されていることを特徴とする導波路型電気光
学素子。 - 【請求項2】 前記バッファ層が、比誘電率が20〜200
の範囲にある材料から形成されていることを特徴とする
請求項1記載の導波路型電気光学素子。 - 【請求項3】 前記バッファ層の材料がHfO2 、Ti
O2 、SrTiO3、BaTiO3 、LiNbO3 、L
iTaO3 、Pb(Zr,Ti)O3 または(Pb,L
a)(Zr,Ti)O3 であることを特徴とする請求項
1または2記載の導波路型電気光学素子。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07763394A JP3771287B2 (ja) | 1994-04-15 | 1994-04-15 | 導波路型電気光学素子 |
| US08/701,055 US5878175A (en) | 1994-04-15 | 1996-08-21 | Electro-optical waveguide element with reduced DC drift phenomena |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07763394A JP3771287B2 (ja) | 1994-04-15 | 1994-04-15 | 導波路型電気光学素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07287256A true JPH07287256A (ja) | 1995-10-31 |
| JP3771287B2 JP3771287B2 (ja) | 2006-04-26 |
Family
ID=13639310
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP07763394A Expired - Fee Related JP3771287B2 (ja) | 1994-04-15 | 1994-04-15 | 導波路型電気光学素子 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5878175A (ja) |
| JP (1) | JP3771287B2 (ja) |
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| US6646747B2 (en) | 2001-05-17 | 2003-11-11 | Sioptical, Inc. | Interferometer apparatus and associated method |
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| US6947615B2 (en) | 2001-05-17 | 2005-09-20 | Sioptical, Inc. | Optical lens apparatus and associated method |
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- 1994-04-15 JP JP07763394A patent/JP3771287B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5878175A (en) | 1999-03-02 |
| JP3771287B2 (ja) | 2006-04-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030610 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060209 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090217 Year of fee payment: 3 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090217 Year of fee payment: 3 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
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|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |