JPH0730255A - 多層回路基板及びその製造方法 - Google Patents
多層回路基板及びその製造方法Info
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- JPH0730255A JPH0730255A JP16901793A JP16901793A JPH0730255A JP H0730255 A JPH0730255 A JP H0730255A JP 16901793 A JP16901793 A JP 16901793A JP 16901793 A JP16901793 A JP 16901793A JP H0730255 A JPH0730255 A JP H0730255A
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】 配線パターンの配線密度を極めて高くするこ
とが可能であり、且つ絶縁基板の両面に形成される配線
パターン相互の電気的接続の信頼性が極めて良好な多層
回路基板およびその製造方法に関する。 【構成】 孔壁表面に鍍金層を有する貫通孔が設けられ
た絶縁基板の両面に、該孔壁表面の鍍金層と連続する鍍
金層を有する第1の配線パターンが設けられ、該第1の
配線パターンは絶縁性樹脂層により被覆され、該貫通孔
の内部及び該貫通孔の周囲にある絶縁性樹脂層により形
成される空間には導電性硬化体が埋設され、該導電性硬
化体の端面が該絶縁性樹脂層の表面と実質的に同一平面
となるように形成されたスルーホール部を有する両面回
路基板の少なくとも一方の表面に、該導電性硬化体の端
面と電気的に接続する第2の配線パターンが設けられて
なる多層回路基板及びその製造方法。
とが可能であり、且つ絶縁基板の両面に形成される配線
パターン相互の電気的接続の信頼性が極めて良好な多層
回路基板およびその製造方法に関する。 【構成】 孔壁表面に鍍金層を有する貫通孔が設けられ
た絶縁基板の両面に、該孔壁表面の鍍金層と連続する鍍
金層を有する第1の配線パターンが設けられ、該第1の
配線パターンは絶縁性樹脂層により被覆され、該貫通孔
の内部及び該貫通孔の周囲にある絶縁性樹脂層により形
成される空間には導電性硬化体が埋設され、該導電性硬
化体の端面が該絶縁性樹脂層の表面と実質的に同一平面
となるように形成されたスルーホール部を有する両面回
路基板の少なくとも一方の表面に、該導電性硬化体の端
面と電気的に接続する第2の配線パターンが設けられて
なる多層回路基板及びその製造方法。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、新規な構造の多層回路
基板及びその製造方法に関する。より詳しくは、配線パ
ターンの配線密度を極めて高くすることが可能であり、
且つ絶縁基板の両面に形成される配線パターン相互の電
気的接続の信頼性が極めて良好な多層回路基板およびそ
の製造方法に関する。
基板及びその製造方法に関する。より詳しくは、配線パ
ターンの配線密度を極めて高くすることが可能であり、
且つ絶縁基板の両面に形成される配線パターン相互の電
気的接続の信頼性が極めて良好な多層回路基板およびそ
の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】絶縁基板上に配線パターンを形成した回
路基板において、回路の高密度化、或いは電磁シールド
層の形成を目的として、該絶縁基板に形成された配線パ
ターン上に、絶縁性樹脂層を介して他の配線パターンを
積層して形成した多層回路基板が種々開発されている。
路基板において、回路の高密度化、或いは電磁シールド
層の形成を目的として、該絶縁基板に形成された配線パ
ターン上に、絶縁性樹脂層を介して他の配線パターンを
積層して形成した多層回路基板が種々開発されている。
【0003】従来、多層回路基板としては、図3に示す
ものが例示される。この図3に示す多層回路基板は、絶
縁基板2の両面に第1の配線パターン5が形成され、該
絶縁基板2のスルーホール用の貫通孔3の孔壁表面にス
ルーホール鍍金層4を形成した両面回路基板であって、
スルーホール部及び第1の配線パターンにおける第2の
配線パターンとの導通を必要とする部分を除いて絶縁性
樹脂層8により該第1の配線パターン5が被覆され、第
1の配線パターン5と第2の配線パターン6との電気的
接続部及び第2の配線パターン6が形成されているもの
である。
ものが例示される。この図3に示す多層回路基板は、絶
縁基板2の両面に第1の配線パターン5が形成され、該
絶縁基板2のスルーホール用の貫通孔3の孔壁表面にス
ルーホール鍍金層4を形成した両面回路基板であって、
スルーホール部及び第1の配線パターンにおける第2の
配線パターンとの導通を必要とする部分を除いて絶縁性
樹脂層8により該第1の配線パターン5が被覆され、第
1の配線パターン5と第2の配線パターン6との電気的
接続部及び第2の配線パターン6が形成されているもの
である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、前記の図3
に示す多層回路基板においては、図3に示すように、ス
ルーホール部及びその周辺には絶縁性樹脂層及び第2の
配線パターンを形成することができないため、特に第2
の配線パターンの配線密度が極めて低くなり好ましくな
い。
に示す多層回路基板においては、図3に示すように、ス
ルーホール部及びその周辺には絶縁性樹脂層及び第2の
配線パターンを形成することができないため、特に第2
の配線パターンの配線密度が極めて低くなり好ましくな
い。
【0005】そこで、提案されたのが、図4に示す多層
回路基板である。この図4に示す多層回路基板では、孔
壁表面にスルーホール部である鍍金層を有する貫通孔の
内部に絶縁性樹脂を充填し、スルーホール部およびその
周辺にも絶縁性樹脂層8が形成され、この絶縁性樹脂層
8上にも第2の配線パターン6が形成されている。
回路基板である。この図4に示す多層回路基板では、孔
壁表面にスルーホール部である鍍金層を有する貫通孔の
内部に絶縁性樹脂を充填し、スルーホール部およびその
周辺にも絶縁性樹脂層8が形成され、この絶縁性樹脂層
8上にも第2の配線パターン6が形成されている。
【0006】しかしながら、この図4に示す多層回路基
板においては、一方の面側の第2の配線パターンと他方
の面側の第1或いは第2の配線パターンとの導通を取る
場合、貫通孔の内部の絶縁性樹脂からなる充填物上では
導通が取れないため、該スルーホール部及びその周辺を
避けて、前記導通を行うためのバイアホールを別に設け
る必要がある。このため、図4に示す多層回路基板は、
第2の配線パターンの配線密度の向上の程度が未だ不充
分である。
板においては、一方の面側の第2の配線パターンと他方
の面側の第1或いは第2の配線パターンとの導通を取る
場合、貫通孔の内部の絶縁性樹脂からなる充填物上では
導通が取れないため、該スルーホール部及びその周辺を
避けて、前記導通を行うためのバイアホールを別に設け
る必要がある。このため、図4に示す多層回路基板は、
第2の配線パターンの配線密度の向上の程度が未だ不充
分である。
【0007】上記の事情から、第2の配線パターンの配
線密度が充分に向上しうる構造を有する多層回路基板の
開発が望まれている。
線密度が充分に向上しうる構造を有する多層回路基板の
開発が望まれている。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記の要
望を満たすべく鋭意研究を重ねた結果、特に第1の配線
パターン中の鍍金層と連続する鍍金層を孔壁表面に有す
る貫通孔の内部及び該貫通孔の周囲にある絶縁性樹脂層
により形成される空間に導電性硬化体が埋設され、該導
電性硬化体の端面が該絶縁性樹脂層の表面と実質的に同
一平面となるように形成されたスルーホール部を有する
両面回路基板の少なくとも一方の表面に、該導電性硬化
体の端面と電気的に接続する第2の配線パターンが設け
られた構造の多層回路基板が、鍍金層及び導電性硬化体
により両面の配線パターン相互の導通を高い信頼性でも
って行うことができ、且つ、第2の配線パターンが平坦
な絶縁性樹脂層上に形成されるため、第2の配線パター
ンを極めて高精度に形成することができ、しかもその第
2の配線パターンと第1の配線パターンとの接続をスル
ーホール用の貫通孔及びその周辺を避けて行わなければ
ならないという制約があるため、特に第2の配線パター
ンの配線密度を極めて高くしうることを見いだし、本発
明を完成するに至った。
望を満たすべく鋭意研究を重ねた結果、特に第1の配線
パターン中の鍍金層と連続する鍍金層を孔壁表面に有す
る貫通孔の内部及び該貫通孔の周囲にある絶縁性樹脂層
により形成される空間に導電性硬化体が埋設され、該導
電性硬化体の端面が該絶縁性樹脂層の表面と実質的に同
一平面となるように形成されたスルーホール部を有する
両面回路基板の少なくとも一方の表面に、該導電性硬化
体の端面と電気的に接続する第2の配線パターンが設け
られた構造の多層回路基板が、鍍金層及び導電性硬化体
により両面の配線パターン相互の導通を高い信頼性でも
って行うことができ、且つ、第2の配線パターンが平坦
な絶縁性樹脂層上に形成されるため、第2の配線パター
ンを極めて高精度に形成することができ、しかもその第
2の配線パターンと第1の配線パターンとの接続をスル
ーホール用の貫通孔及びその周辺を避けて行わなければ
ならないという制約があるため、特に第2の配線パター
ンの配線密度を極めて高くしうることを見いだし、本発
明を完成するに至った。
【0009】即ち、本発明は、孔壁表面に鍍金層が形成
された貫通孔を有する絶縁基板の両面に、該孔壁表面の
鍍金層と連続する鍍金層を有する第1の配線パターンが
設けられ、該第1の配線パターンは絶縁性樹脂層により
被覆され、該貫通孔の内部及び該貫通孔の周囲にある絶
縁性樹脂層により形成される空間には導電性硬化体が埋
設され、該導電性硬化体の端面が該絶縁性樹脂層の表面
と実質的に同一平面となるように形成されたスルーホー
ル部を有する両面回路基板の少なくとも一方の表面に、
該導電性硬化体の端面と電気的に接続する第2の配線パ
ターンが設けられてなる多層回路基板である。また、他
の本発明は、両面に導電層を有する絶縁基板にスルーホ
ール用の貫通孔を設け、該導電層及び貫通孔の孔壁表面
に鍍金層を形成し、次いで第1の配線パターンを形成
し、該貫通孔に導電性硬化体を与える硬化性導電物質を
充填し硬化させた後、該第1の配線パターンを絶縁性樹
脂層により被覆し、該絶縁性樹脂層を研削して導電性硬
化体の端面が露出した平坦面を形成し、次いで、該平坦
面上に該導電性硬化体の端面と電気的に接続する第2の
配線パターンを形成することを特徴とする多層回路基板
の製造方法である。更に、他の本発明は、両面に導電層
を有する絶縁基板にスルーホール用の貫通孔を設け、該
導電層及び貫通孔の孔壁表面に鍍金層を形成し、次いで
第1の配線パターンを形成し、該第1の配線パターンを
絶縁性樹脂層により被覆した後、該貫通孔の内部及び該
貫通孔の周囲にある絶縁性樹脂層により形成される空間
に導電性硬化体を与える硬化性導電物質を充填し硬化さ
せた後、該導電性硬化体を研削して導電性硬化体の端面
が露出した平坦面を形成し、次いで、該平坦面上に該導
電性硬化体の端面と電気的に接続する第2の配線パター
ンを形成することを特徴とする多層回路基板の製造方法
である。
された貫通孔を有する絶縁基板の両面に、該孔壁表面の
鍍金層と連続する鍍金層を有する第1の配線パターンが
設けられ、該第1の配線パターンは絶縁性樹脂層により
被覆され、該貫通孔の内部及び該貫通孔の周囲にある絶
縁性樹脂層により形成される空間には導電性硬化体が埋
設され、該導電性硬化体の端面が該絶縁性樹脂層の表面
と実質的に同一平面となるように形成されたスルーホー
ル部を有する両面回路基板の少なくとも一方の表面に、
該導電性硬化体の端面と電気的に接続する第2の配線パ
ターンが設けられてなる多層回路基板である。また、他
の本発明は、両面に導電層を有する絶縁基板にスルーホ
ール用の貫通孔を設け、該導電層及び貫通孔の孔壁表面
に鍍金層を形成し、次いで第1の配線パターンを形成
し、該貫通孔に導電性硬化体を与える硬化性導電物質を
充填し硬化させた後、該第1の配線パターンを絶縁性樹
脂層により被覆し、該絶縁性樹脂層を研削して導電性硬
化体の端面が露出した平坦面を形成し、次いで、該平坦
面上に該導電性硬化体の端面と電気的に接続する第2の
配線パターンを形成することを特徴とする多層回路基板
の製造方法である。更に、他の本発明は、両面に導電層
を有する絶縁基板にスルーホール用の貫通孔を設け、該
導電層及び貫通孔の孔壁表面に鍍金層を形成し、次いで
第1の配線パターンを形成し、該第1の配線パターンを
絶縁性樹脂層により被覆した後、該貫通孔の内部及び該
貫通孔の周囲にある絶縁性樹脂層により形成される空間
に導電性硬化体を与える硬化性導電物質を充填し硬化さ
せた後、該導電性硬化体を研削して導電性硬化体の端面
が露出した平坦面を形成し、次いで、該平坦面上に該導
電性硬化体の端面と電気的に接続する第2の配線パター
ンを形成することを特徴とする多層回路基板の製造方法
である。
【0010】本発明の多層回路基板を詳細に説明するた
めに、具体例の断面図として図1、特に(i)及び図
2、特に(h)を示す。
めに、具体例の断面図として図1、特に(i)及び図
2、特に(h)を示す。
【0011】本発明の多層回路基板において、図1及び
図2に示すように、孔壁表面に鍍金層を有する貫通孔が
設けられた絶縁基板2の両面には、該孔壁表面の鍍金層
と連続する鍍金層を有する第1の配線パターンが設けら
れてなる。前記絶縁基板2としては、公知の絶縁基板を
限定なく使用しうる。この絶縁基板を例示すると、紙基
材−フェノール樹脂積層基板、紙基材−エポキシ樹脂積
層基板、紙基材−ポリエステル樹脂積層基板、ガラス基
材−エポキシ樹脂積層基板、紙基材−テフロン樹脂積層
基板、ガラス基材−ポリイミド樹脂積層基板、ガラス基
材−BT(ビスマレイミド−トリアジン)レジン樹脂積
層基板、コンポジット樹脂基板等の合成樹脂基板、ポリ
イミド樹脂、ポリエステル樹脂等のフレキシブル基板、
アルミニウム、鉄、ステンレス等の金属をエポキシ樹脂
等の絶縁性樹脂により被覆して絶縁処理した金属系絶縁
基板、セラミックス基板等が挙げられる。
図2に示すように、孔壁表面に鍍金層を有する貫通孔が
設けられた絶縁基板2の両面には、該孔壁表面の鍍金層
と連続する鍍金層を有する第1の配線パターンが設けら
れてなる。前記絶縁基板2としては、公知の絶縁基板を
限定なく使用しうる。この絶縁基板を例示すると、紙基
材−フェノール樹脂積層基板、紙基材−エポキシ樹脂積
層基板、紙基材−ポリエステル樹脂積層基板、ガラス基
材−エポキシ樹脂積層基板、紙基材−テフロン樹脂積層
基板、ガラス基材−ポリイミド樹脂積層基板、ガラス基
材−BT(ビスマレイミド−トリアジン)レジン樹脂積
層基板、コンポジット樹脂基板等の合成樹脂基板、ポリ
イミド樹脂、ポリエステル樹脂等のフレキシブル基板、
アルミニウム、鉄、ステンレス等の金属をエポキシ樹脂
等の絶縁性樹脂により被覆して絶縁処理した金属系絶縁
基板、セラミックス基板等が挙げられる。
【0012】本発明において、貫通孔3の大きさ及び形
状(孔壁表面に鍍金層を有しないとき)は特に限定され
ないが、通常径が0.2mm以上、好ましくは0.3〜
2mmである円形である。この大きさ及び形状を有する
貫通孔は、その形成のための加工及び導電性硬化体を与
える硬化性導電物質の充填がより容易であるために、好
ましい。
状(孔壁表面に鍍金層を有しないとき)は特に限定され
ないが、通常径が0.2mm以上、好ましくは0.3〜
2mmである円形である。この大きさ及び形状を有する
貫通孔は、その形成のための加工及び導電性硬化体を与
える硬化性導電物質の充填がより容易であるために、好
ましい。
【0013】本発明において、孔壁表面及び絶縁基板上
の鍍金層4の厚みは、特に限定されないが、一般に5〜
35μmであり、5〜15μmが好適である。該鍍金層
4の厚みを薄くすると、次の点で有利である。即ち、絶
縁基板上の鍍金層を含む導電層の厚みが薄くなり、該導
電層を処理して第1の配線パターン5を形成することが
より容易となり、該第1の配線パターン5のファイン化
をより確実に実現することができる。また、該導電層の
上面と絶縁基板2の絶縁体表面との間の段差が小さくな
り、後述する絶縁性樹脂層の形成をより信頼性高く行う
ことができる。そして、鍍金層を薄くしても、特に基板
の両面に形成された配線パターン相互間の導通信頼性
は、孔壁表面に鍍金層を有する貫通孔の内部に導電性硬
化体7が埋設されているために高く維持されている。従
って、鍍金層4の厚みを5〜15μmとすることは、配
線密度の高い回路基板を製造する上で非常に好ましい。
の鍍金層4の厚みは、特に限定されないが、一般に5〜
35μmであり、5〜15μmが好適である。該鍍金層
4の厚みを薄くすると、次の点で有利である。即ち、絶
縁基板上の鍍金層を含む導電層の厚みが薄くなり、該導
電層を処理して第1の配線パターン5を形成することが
より容易となり、該第1の配線パターン5のファイン化
をより確実に実現することができる。また、該導電層の
上面と絶縁基板2の絶縁体表面との間の段差が小さくな
り、後述する絶縁性樹脂層の形成をより信頼性高く行う
ことができる。そして、鍍金層を薄くしても、特に基板
の両面に形成された配線パターン相互間の導通信頼性
は、孔壁表面に鍍金層を有する貫通孔の内部に導電性硬
化体7が埋設されているために高く維持されている。従
って、鍍金層4の厚みを5〜15μmとすることは、配
線密度の高い回路基板を製造する上で非常に好ましい。
【0014】本発明の多層回路基板において、前記の第
1の配線パターン5は、絶縁性樹脂層8により被覆され
てなる。絶縁性樹脂層8による被覆は、第1の配線パタ
ーン5における任意の部分において第2の配線パターン
6との電気的接続を行う場合には、該部分については、
被覆を行わなくとも良い。この第1の配線パターン5を
被覆する絶縁性樹脂層8の厚さは特に限定されないが、
第1の配線パターン5と第2の配線パターン6とが絶縁
されるべき部分における絶縁を確実に行うために20μ
m以上とすることが好ましい。
1の配線パターン5は、絶縁性樹脂層8により被覆され
てなる。絶縁性樹脂層8による被覆は、第1の配線パタ
ーン5における任意の部分において第2の配線パターン
6との電気的接続を行う場合には、該部分については、
被覆を行わなくとも良い。この第1の配線パターン5を
被覆する絶縁性樹脂層8の厚さは特に限定されないが、
第1の配線パターン5と第2の配線パターン6とが絶縁
されるべき部分における絶縁を確実に行うために20μ
m以上とすることが好ましい。
【0015】本発明の多層回路基板は、貫通孔の内部及
び該貫通孔の周囲にある絶縁性樹脂層により形成される
空間には導電性硬化体7が埋設され、該導電性硬化体7
の端面が該絶縁性樹脂層8の表面と実質的に同一表面と
なるように形成されたスルーホール部を有する両面回路
基板を含んでなる。前記導電性硬化体の端面は、そこを
利用して第1の配線パターン5と第2の配線パターン6
との電気的接続が行われる。該導電性硬化体7の端面の
形状は特に限定されないが、円形、長方形、正方形等の
配線パターンの設計に適した形状を適宜採用すればよ
い。また、導電性硬化体7の端面の大きさは特に限定さ
れないが、一般に、第1の配線パターン5と第2の配線
パターン6との電気的接続をより確実に行うために相当
径で、50μmφ以上、好ましくは100μmφ以上と
する。尚、ここにいう相当径とは、導電性硬化体7の端
面の周囲長と同一の長さの円周を有する円の直径であ
る。
び該貫通孔の周囲にある絶縁性樹脂層により形成される
空間には導電性硬化体7が埋設され、該導電性硬化体7
の端面が該絶縁性樹脂層8の表面と実質的に同一表面と
なるように形成されたスルーホール部を有する両面回路
基板を含んでなる。前記導電性硬化体の端面は、そこを
利用して第1の配線パターン5と第2の配線パターン6
との電気的接続が行われる。該導電性硬化体7の端面の
形状は特に限定されないが、円形、長方形、正方形等の
配線パターンの設計に適した形状を適宜採用すればよ
い。また、導電性硬化体7の端面の大きさは特に限定さ
れないが、一般に、第1の配線パターン5と第2の配線
パターン6との電気的接続をより確実に行うために相当
径で、50μmφ以上、好ましくは100μmφ以上と
する。尚、ここにいう相当径とは、導電性硬化体7の端
面の周囲長と同一の長さの円周を有する円の直径であ
る。
【0016】そして、導電性硬化体7の端面及び絶縁性
樹脂層8の表面は、実質的に同一の平面に含まれる。換
言すると、導電性硬化体7の端面及び絶縁性樹脂層8の
表面は、平坦面を構成する。このことにより、該平坦面
上への第2の配線パターン6の形成を、高精度で行うこ
とができる。
樹脂層8の表面は、実質的に同一の平面に含まれる。換
言すると、導電性硬化体7の端面及び絶縁性樹脂層8の
表面は、平坦面を構成する。このことにより、該平坦面
上への第2の配線パターン6の形成を、高精度で行うこ
とができる。
【0017】本発明の多層回路基板においては、前記両
面回路基板の少なくとも一方の表面に、該導電性硬化体
7の端面と電気的に接続する第2の配線パターン6が設
けられてなる。このことにより、一方の面側の第2の配
線パターンと他方の面側の第1の配線パターン又は第2
の配線パターンとの電気的接続は、導電性硬化体7を介
して行うことができる。これにより、従来の多層回路基
板のように、スルーホール部及びその周辺を避けて、別
に電気的接続用のバイアホールを設ける必要がなく、第
2の配線パターンの配線密度を極めて高くすることが可
能である。尚、第2の配線パターンの態様は特に限定さ
れず、信号線、電源線、グラウンド線、電磁波シールド
層等の配線パターンを形成することができる。
面回路基板の少なくとも一方の表面に、該導電性硬化体
7の端面と電気的に接続する第2の配線パターン6が設
けられてなる。このことにより、一方の面側の第2の配
線パターンと他方の面側の第1の配線パターン又は第2
の配線パターンとの電気的接続は、導電性硬化体7を介
して行うことができる。これにより、従来の多層回路基
板のように、スルーホール部及びその周辺を避けて、別
に電気的接続用のバイアホールを設ける必要がなく、第
2の配線パターンの配線密度を極めて高くすることが可
能である。尚、第2の配線パターンの態様は特に限定さ
れず、信号線、電源線、グラウンド線、電磁波シールド
層等の配線パターンを形成することができる。
【0018】本発明の多層回路基板においては、第2の
配線パターン6上に、第2の配線パターンの場合と同様
にして、更に絶縁性樹脂層、配線パターン等が積層して
いてもよい。また、本発明の多層回路基板が、プリプレ
グを介して複数積層していてもよい。
配線パターン6上に、第2の配線パターンの場合と同様
にして、更に絶縁性樹脂層、配線パターン等が積層して
いてもよい。また、本発明の多層回路基板が、プリプレ
グを介して複数積層していてもよい。
【0019】以上に説明した本発明の多層回路基板の製
造方法は特に限定されないが、例えば次に述べる製造方
法(イ)がある。この製造方法(イ)の工程としては、
図1に示すものが例示される。
造方法は特に限定されないが、例えば次に述べる製造方
法(イ)がある。この製造方法(イ)の工程としては、
図1に示すものが例示される。
【0020】製造方法(イ)は、両面に導電層1を有す
る絶縁基板にスルーホール用の貫通孔3を設け、該導電
層1及び貫通孔3の孔壁表面に鍍金層4を形成し、次い
で第1の配線パターン5を形成し、該貫通孔に導電性硬
化体を与える硬化性導電物質7を充填し硬化させた後、
該第1の配線パターン5を絶縁性樹脂層8により被覆
し、該絶縁性樹脂層8を研削して導電性硬化体7の端面
が露出した平坦面を形成し、次いで、該平坦面上に該導
電性硬化体7の端面と電気的に接続する第2の配線パタ
ーン6を形成することを特徴とする多層回路基板の製造
方法である。
る絶縁基板にスルーホール用の貫通孔3を設け、該導電
層1及び貫通孔3の孔壁表面に鍍金層4を形成し、次い
で第1の配線パターン5を形成し、該貫通孔に導電性硬
化体を与える硬化性導電物質7を充填し硬化させた後、
該第1の配線パターン5を絶縁性樹脂層8により被覆
し、該絶縁性樹脂層8を研削して導電性硬化体7の端面
が露出した平坦面を形成し、次いで、該平坦面上に該導
電性硬化体7の端面と電気的に接続する第2の配線パタ
ーン6を形成することを特徴とする多層回路基板の製造
方法である。
【0021】上記多層回路基板の製造方法(イ)におい
て、加工が施される絶縁基板2としては、両面に導電層
1を有するものが用いられる。この導電層1の材質は特
に制限されないが、代表的な材質を例示すると、銅、ニ
ッケル、アルミニウム等が挙げられる。また、上記導電
層1の厚みは特に制限されないが、一般に5〜70μm
が適当である。
て、加工が施される絶縁基板2としては、両面に導電層
1を有するものが用いられる。この導電層1の材質は特
に制限されないが、代表的な材質を例示すると、銅、ニ
ッケル、アルミニウム等が挙げられる。また、上記導電
層1の厚みは特に制限されないが、一般に5〜70μm
が適当である。
【0022】上記製造方法(イ)において、両面に導電
層1を有する絶縁基板2には、先ずスルーホール用の貫
通孔3が設けられる。上記貫通孔3の径は特に制限され
ず、任意に決定しうるが、前述した通り、通常0.2m
m以上、好ましくは0.3〜2mmである。この範囲内
で貫通孔3の径を決定すると、導電性硬化体を与える硬
化性導電物質7の充填がより容易であるために好まし
い。上記スルーホール用の貫通孔3の形成方法として
は、ドリリング加工による方法、パンチング加工による
方法、レーザー加工による方法等、回路基板を製造する
際に採用される公知の貫通孔の形成方法を限定なく採用
しうる。前記したように絶縁基板2にスルーホール用の
貫通孔3を設けるとき、該貫通孔3の周囲にある絶縁基
板上の導電層に傾斜面を存在させる(面取り加工を施
す)ことが、貫通孔孔壁表面から絶縁基板上の導電層表
面まで連続する鍍金層4及び貫通孔内に埋設された導電
性硬化体7におけるひび割れを効果的に防止することが
できるために好ましい。上記したように貫通孔周囲の導
電層に傾斜面を存在させる方法を例示すると、ソフトエ
ッチングによる方法、貫通孔に比べて径が若干大きいド
リルにより、絶縁基板及びその上の導電層をテーパ状に
研削する方法、貫通孔に比べて径が少し大きいエッチン
グレジストを貫通孔周囲の導電層上に形成した後エッチ
ングを行う方法等が挙げられる。
層1を有する絶縁基板2には、先ずスルーホール用の貫
通孔3が設けられる。上記貫通孔3の径は特に制限され
ず、任意に決定しうるが、前述した通り、通常0.2m
m以上、好ましくは0.3〜2mmである。この範囲内
で貫通孔3の径を決定すると、導電性硬化体を与える硬
化性導電物質7の充填がより容易であるために好まし
い。上記スルーホール用の貫通孔3の形成方法として
は、ドリリング加工による方法、パンチング加工による
方法、レーザー加工による方法等、回路基板を製造する
際に採用される公知の貫通孔の形成方法を限定なく採用
しうる。前記したように絶縁基板2にスルーホール用の
貫通孔3を設けるとき、該貫通孔3の周囲にある絶縁基
板上の導電層に傾斜面を存在させる(面取り加工を施
す)ことが、貫通孔孔壁表面から絶縁基板上の導電層表
面まで連続する鍍金層4及び貫通孔内に埋設された導電
性硬化体7におけるひび割れを効果的に防止することが
できるために好ましい。上記したように貫通孔周囲の導
電層に傾斜面を存在させる方法を例示すると、ソフトエ
ッチングによる方法、貫通孔に比べて径が若干大きいド
リルにより、絶縁基板及びその上の導電層をテーパ状に
研削する方法、貫通孔に比べて径が少し大きいエッチン
グレジストを貫通孔周囲の導電層上に形成した後エッチ
ングを行う方法等が挙げられる。
【0023】前記の多層回路基板の製造方法(イ)にお
いて、上記絶縁基板上の導電層1及び貫通孔3の孔壁表
面には鍍金層4が形成される。該鍍金層4の形成方法
は、特に制限されないが、無電解鍍金による方法、電気
鍍金による方法等の公知の方法を限定なく採用しうる。
好ましくは、無電解鍍金を行った後、電気銅鍍金を行う
方法が鍍金層の接合強度がより高いために採用される。
また、該貫通孔の孔壁表面における鍍金層4の厚みは特
に制限されないが、前述したように、一般に5〜35μ
m、好ましくは5〜15μmである。
いて、上記絶縁基板上の導電層1及び貫通孔3の孔壁表
面には鍍金層4が形成される。該鍍金層4の形成方法
は、特に制限されないが、無電解鍍金による方法、電気
鍍金による方法等の公知の方法を限定なく採用しうる。
好ましくは、無電解鍍金を行った後、電気銅鍍金を行う
方法が鍍金層の接合強度がより高いために採用される。
また、該貫通孔の孔壁表面における鍍金層4の厚みは特
に制限されないが、前述したように、一般に5〜35μ
m、好ましくは5〜15μmである。
【0024】次に、前記の製造方法(イ)において、絶
縁基板2上の鍍金層を含んでなる導電層の内の不要の部
分を除いて、第1の配線パターン5を形成する。この第
1の配線パターン5の形成方法は、公知の配線パターン
の形成方法を限定なく採用することができる。一般に、
エッチングレジストによりエッチングレジストパターン
を形成した後、エッチングを行う方法が採用される。こ
こで用いられるエッチングレジストとしてはドライフィ
ルム、レジストインク等が特に制限無く使用され、パタ
ーンのファイン度によって種類を適宜選択して使用すれ
ばよい。また、エッチングレジストパターンはエッチン
グ法によってポジパターン或いはネガパターンを適宜採
用すればよい。例えば、テンティング法に代表されるエ
ッチング法ではポジパターンを、半田剥離法、SES法
に代表されるエッチング法ではネガパターンを採用すれ
ばよい。
縁基板2上の鍍金層を含んでなる導電層の内の不要の部
分を除いて、第1の配線パターン5を形成する。この第
1の配線パターン5の形成方法は、公知の配線パターン
の形成方法を限定なく採用することができる。一般に、
エッチングレジストによりエッチングレジストパターン
を形成した後、エッチングを行う方法が採用される。こ
こで用いられるエッチングレジストとしてはドライフィ
ルム、レジストインク等が特に制限無く使用され、パタ
ーンのファイン度によって種類を適宜選択して使用すれ
ばよい。また、エッチングレジストパターンはエッチン
グ法によってポジパターン或いはネガパターンを適宜採
用すればよい。例えば、テンティング法に代表されるエ
ッチング法ではポジパターンを、半田剥離法、SES法
に代表されるエッチング法ではネガパターンを採用すれ
ばよい。
【0025】上記した第1の配線パターン5の形成後、
前記の製造方法(イ)においては、上記貫通孔に、導電
性硬化体を与える硬化性導電物質7を充填し硬化させ
る。該硬化性導電物質としては、公知の硬化性導電物質
を限定なく使用することができる。この硬化性導電物質
を例示すると、金、銀、銅、ニッケル、鉛、カーボン等
の導電材料とエポキシ樹脂、フェノール樹脂等の架橋性
の熱硬化性樹脂とを必要により有機溶剤と共に混合して
ペースト状としたものを使用することができる。また、
上記硬化性導電物質として、硬化後の電気抵抗が1×1
0-2Ω・cm以下となるものを使用することが、抵抗の
低い良好なスルーホール部を得ることができるために好
ましい。硬化後の電気抵抗が前記範囲内にある硬化性導
電物質を得るには、通常導電材料の選択、及び各配合成
分の使用量を調節する。
前記の製造方法(イ)においては、上記貫通孔に、導電
性硬化体を与える硬化性導電物質7を充填し硬化させ
る。該硬化性導電物質としては、公知の硬化性導電物質
を限定なく使用することができる。この硬化性導電物質
を例示すると、金、銀、銅、ニッケル、鉛、カーボン等
の導電材料とエポキシ樹脂、フェノール樹脂等の架橋性
の熱硬化性樹脂とを必要により有機溶剤と共に混合して
ペースト状としたものを使用することができる。また、
上記硬化性導電物質として、硬化後の電気抵抗が1×1
0-2Ω・cm以下となるものを使用することが、抵抗の
低い良好なスルーホール部を得ることができるために好
ましい。硬化後の電気抵抗が前記範囲内にある硬化性導
電物質を得るには、通常導電材料の選択、及び各配合成
分の使用量を調節する。
【0026】上記硬化性導電物質7の貫通孔における充
填態様は特に限定されないが、該硬化性導電物質が貫通
孔の全空間を満たし、且つ鍍金層を含んでなる導電層の
表面より突出するように充填する態様が好ましい。該突
出部の高さは、通常、0.05mm以上、好ましくは、
0.1〜2mmである。硬化性導電物質7の充填方法は
特に限定されないが、代表的な充填方法として、印刷法
によって1回或いは複数回の塗布を行う方法、絶縁基板
2の表裏両面側から表裏一対のスキージで圧入する方
法、ロールコーター或いはカーテンコーターによって充
填し、余分の塗料をスキージで掻き取る方法等を例示す
ることができる。
填態様は特に限定されないが、該硬化性導電物質が貫通
孔の全空間を満たし、且つ鍍金層を含んでなる導電層の
表面より突出するように充填する態様が好ましい。該突
出部の高さは、通常、0.05mm以上、好ましくは、
0.1〜2mmである。硬化性導電物質7の充填方法は
特に限定されないが、代表的な充填方法として、印刷法
によって1回或いは複数回の塗布を行う方法、絶縁基板
2の表裏両面側から表裏一対のスキージで圧入する方
法、ロールコーター或いはカーテンコーターによって充
填し、余分の塗料をスキージで掻き取る方法等を例示す
ることができる。
【0027】そして、貫通孔に充填された硬化性導電物
質の硬化方法は、公知の硬化方法を限定なく採用するこ
とができる。該硬化方法を例示すると、熱風炉、赤外線
炉、遠赤外線炉、紫外線硬化炉、電子線硬化炉等を使用
する方法が挙げられる。通常、硬化性導電物質の種類を
勘案して、使用する炉の種類を決定する。
質の硬化方法は、公知の硬化方法を限定なく採用するこ
とができる。該硬化方法を例示すると、熱風炉、赤外線
炉、遠赤外線炉、紫外線硬化炉、電子線硬化炉等を使用
する方法が挙げられる。通常、硬化性導電物質の種類を
勘案して、使用する炉の種類を決定する。
【0028】上記した硬化性導電物質の硬化後、前記の
製造方法(イ)においては、絶縁基板上にある第1の配
線パターン5を絶縁性樹脂層8により被覆する。
製造方法(イ)においては、絶縁基板上にある第1の配
線パターン5を絶縁性樹脂層8により被覆する。
【0029】このとき、該絶縁性樹脂層8の性状によっ
ては導電性硬化体7の一部が露出する場合もあるが、後
に行われる絶縁性樹脂層8の研削により導電性硬化体7
の露出部も併せて研削されるために、問題とはならな
い。
ては導電性硬化体7の一部が露出する場合もあるが、後
に行われる絶縁性樹脂層8の研削により導電性硬化体7
の露出部も併せて研削されるために、問題とはならな
い。
【0030】上記絶縁性樹脂層8の形成方法は、公知の
方法を限定なく採用することができる。該絶縁性樹脂層
8の形成方法を例示すると、硬化性を有する絶縁性樹脂
を使用する方法等が挙げられる。該硬化性を有する絶縁
性樹脂としては、例えばドライフィルムと呼ばれるフィ
ルム状のもの、液状レジストと呼ばれる液状のもの等を
単独又は複数種を併せて使用する。そして、特にドライ
フィルムを用いることが、部分的な厚みのばらつきのな
い絶縁性樹脂層を容易に形成することが出来、且つ表裏
両面同時に絶縁性樹脂層を形成できるために好ましい。
更に、ドライフィルムの使用は、後述する第2の配線パ
ターンの形成をより精度良く且つより高い信頼性で行う
ことができる点でも有利である。また、該絶縁性樹脂層
のイメージング方法としては、印刷法、写真法等の公知
のイメージング方法の中からファイン度に応じて適宜選
択して採用すればよい。
方法を限定なく採用することができる。該絶縁性樹脂層
8の形成方法を例示すると、硬化性を有する絶縁性樹脂
を使用する方法等が挙げられる。該硬化性を有する絶縁
性樹脂としては、例えばドライフィルムと呼ばれるフィ
ルム状のもの、液状レジストと呼ばれる液状のもの等を
単独又は複数種を併せて使用する。そして、特にドライ
フィルムを用いることが、部分的な厚みのばらつきのな
い絶縁性樹脂層を容易に形成することが出来、且つ表裏
両面同時に絶縁性樹脂層を形成できるために好ましい。
更に、ドライフィルムの使用は、後述する第2の配線パ
ターンの形成をより精度良く且つより高い信頼性で行う
ことができる点でも有利である。また、該絶縁性樹脂層
のイメージング方法としては、印刷法、写真法等の公知
のイメージング方法の中からファイン度に応じて適宜選
択して採用すればよい。
【0031】更にまた、絶縁性樹脂層8の形成を2回以
上に分けて行うことは、絶縁性樹脂層の絶縁性の信頼性
をより高めることができるため好ましい。この場合、通
常、予め形成された絶縁性樹脂層の表面を研磨した後、
更に絶縁性樹脂層を形成する。
上に分けて行うことは、絶縁性樹脂層の絶縁性の信頼性
をより高めることができるため好ましい。この場合、通
常、予め形成された絶縁性樹脂層の表面を研磨した後、
更に絶縁性樹脂層を形成する。
【0032】上記の絶縁性樹脂層8による被覆を行った
後、上記の製造方法(イ)においては、該絶縁性樹脂層
8を研削して導電性硬化体7の端面が露出した平坦面を
形成する。このとき、上記導電性硬化体7表面及び該絶
縁性樹脂層8上面が実質的に同一の平面に含まれるよう
に研削することが好ましい。この研削により、後に行う
前記平坦面上への第2の配線パターン6の形成を精度良
く行うことができる。
後、上記の製造方法(イ)においては、該絶縁性樹脂層
8を研削して導電性硬化体7の端面が露出した平坦面を
形成する。このとき、上記導電性硬化体7表面及び該絶
縁性樹脂層8上面が実質的に同一の平面に含まれるよう
に研削することが好ましい。この研削により、後に行う
前記平坦面上への第2の配線パターン6の形成を精度良
く行うことができる。
【0033】該絶縁性樹脂層8を研削する方法として
は、公知の研削方法を限定なく採用することができる。
この研削方法を例示すると、スラリー研磨による方法、
バフ研磨による方法、スクラブ研磨による方法等が挙げ
られる。
は、公知の研削方法を限定なく採用することができる。
この研削方法を例示すると、スラリー研磨による方法、
バフ研磨による方法、スクラブ研磨による方法等が挙げ
られる。
【0034】そして、前記製造方法(イ)において、平
坦面の形成後には、該平坦面上には、前記した導電性硬
化体7の端面と電気的に接続する第2の配線パターン6
が形成される。そして、一方の面側の第2の配線パター
ンと他方の面側の第1の配線パターン又は第2の配線パ
ターンとの導通は、導電性硬化体7を介して行われる。
このことにより、従来の多層回路基板のように、該スル
ーホール部及びその周辺を避けて、別に電気的接続用の
ビアホールを設ける必要がなく、第2の配線パターンの
配線密度を極めて高くすることが可能となる。
坦面の形成後には、該平坦面上には、前記した導電性硬
化体7の端面と電気的に接続する第2の配線パターン6
が形成される。そして、一方の面側の第2の配線パター
ンと他方の面側の第1の配線パターン又は第2の配線パ
ターンとの導通は、導電性硬化体7を介して行われる。
このことにより、従来の多層回路基板のように、該スル
ーホール部及びその周辺を避けて、別に電気的接続用の
ビアホールを設ける必要がなく、第2の配線パターンの
配線密度を極めて高くすることが可能となる。
【0035】上記の第2の配線パターンは特に限定され
ず、信号線、電源線、グラウンド線、電磁波シールド層
等のパターンを形成することができる。平坦面上への第
2の配線パターンの形成方法は公知の配線パターンの形
成方法を限定なく採用することができる。一般に、銅ペ
ースト、銀ペースト等に代表される硬化性導電物質を用
いて印刷法等により形成する方法、無電解メッキ、電気
メッキ等により平坦面上全面的にメッキ層を形成し、該
メッキ層をエッチングしてパターンを形成する方法等が
採用される。
ず、信号線、電源線、グラウンド線、電磁波シールド層
等のパターンを形成することができる。平坦面上への第
2の配線パターンの形成方法は公知の配線パターンの形
成方法を限定なく採用することができる。一般に、銅ペ
ースト、銀ペースト等に代表される硬化性導電物質を用
いて印刷法等により形成する方法、無電解メッキ、電気
メッキ等により平坦面上全面的にメッキ層を形成し、該
メッキ層をエッチングしてパターンを形成する方法等が
採用される。
【0036】本発明の多層回路基板の製造方法として例
示される他の製造方法(ロ)は、両面に導電層1を有す
る絶縁基板2にスルーホール用の貫通孔3を設け、該導
電層1及び貫通孔3の孔壁表面に鍍金層4を形成し、次
いで第1の配線パターン5を形成し、該第1の配線パタ
ーン5を絶縁性樹脂層8により被覆した後、該貫通孔の
内部及び該貫通孔の周囲にある絶縁性樹脂層8により形
成される空間に導電性硬化体を与える硬化性導電物質7
を充填し硬化させた後、該導電性硬化体7を研削して導
電性硬化体7の端面が露出した平坦面を形成し、次い
で、該平坦面上に該導電性硬化体7の端面と電気的に接
続する第2の配線パターン6を形成することを特徴とす
る多層回路基板の製造方法である。
示される他の製造方法(ロ)は、両面に導電層1を有す
る絶縁基板2にスルーホール用の貫通孔3を設け、該導
電層1及び貫通孔3の孔壁表面に鍍金層4を形成し、次
いで第1の配線パターン5を形成し、該第1の配線パタ
ーン5を絶縁性樹脂層8により被覆した後、該貫通孔の
内部及び該貫通孔の周囲にある絶縁性樹脂層8により形
成される空間に導電性硬化体を与える硬化性導電物質7
を充填し硬化させた後、該導電性硬化体7を研削して導
電性硬化体7の端面が露出した平坦面を形成し、次い
で、該平坦面上に該導電性硬化体7の端面と電気的に接
続する第2の配線パターン6を形成することを特徴とす
る多層回路基板の製造方法である。
【0037】この製造方法(ロ)は、図2に例示するよ
うに、第1の配線パターン5の形成後に、該第1の配線
パターン5を絶縁性樹脂層8により被覆し、次いで該貫
通孔の内部及び該貫通孔の周囲にある絶縁性樹脂層8に
より形成される空間に導電性硬化体を与える硬化性導電
物質7を充填し硬化させた後、該導電性硬化体7を研削
して導電性硬化体7の端面が露出した平坦面を形成する
以外は、前記の製造方法(イ)と同様な方法である。
うに、第1の配線パターン5の形成後に、該第1の配線
パターン5を絶縁性樹脂層8により被覆し、次いで該貫
通孔の内部及び該貫通孔の周囲にある絶縁性樹脂層8に
より形成される空間に導電性硬化体を与える硬化性導電
物質7を充填し硬化させた後、該導電性硬化体7を研削
して導電性硬化体7の端面が露出した平坦面を形成する
以外は、前記の製造方法(イ)と同様な方法である。
【0038】該製造方法(ロ)において、硬化性導電物
質7の充填態様は特に限定されないが、貫通孔の内部及
び該貫通孔の周囲にある絶縁性樹脂層8により形成され
る空間を全て満たし、且つ絶縁性樹脂層8の表面より突
出する程度に充填する態様が好ましい。該突出部の高さ
は、通常0.05mm以上、好ましくは0.1〜2mm
である。
質7の充填態様は特に限定されないが、貫通孔の内部及
び該貫通孔の周囲にある絶縁性樹脂層8により形成され
る空間を全て満たし、且つ絶縁性樹脂層8の表面より突
出する程度に充填する態様が好ましい。該突出部の高さ
は、通常0.05mm以上、好ましくは0.1〜2mm
である。
【0039】この製造方法(ロ)は、硬化性導電物質7
の充填に際して、該硬化性導電物質7による第1の配線
パターン5の汚染を防止することができる点で好まし
い。また、硬化性導電物質7の充填位置を貫通孔及びそ
の周辺、例えばランド部に限定することが絶縁性樹脂層
8の存在のために容易であるため、特に第1の配線パタ
ーン5の配線密度を上げうる点でも好ましい。
の充填に際して、該硬化性導電物質7による第1の配線
パターン5の汚染を防止することができる点で好まし
い。また、硬化性導電物質7の充填位置を貫通孔及びそ
の周辺、例えばランド部に限定することが絶縁性樹脂層
8の存在のために容易であるため、特に第1の配線パタ
ーン5の配線密度を上げうる点でも好ましい。
【0040】
【発明の効果】本発明の多層回路基板は、両面の配線パ
ターン相互間の電気的接続を高い信頼性で行いうるもの
である。また、本発明の多層回路基板は、第2の配線パ
ターンが平坦な絶縁性樹脂層上に形成されるため、第2
の配線パターンが極めて高精度に形成されてなるもので
ある。更に、本発明の多層回路基板は、第2の配線パタ
ーンと第1の配線パターンとの電気的接続をスルーホー
ル用の貫通孔及びその周辺を避けて行わなければならな
いという制約がないため、特に第2の配線パターンの配
線密度を極めて高くすることが可能なものである。
ターン相互間の電気的接続を高い信頼性で行いうるもの
である。また、本発明の多層回路基板は、第2の配線パ
ターンが平坦な絶縁性樹脂層上に形成されるため、第2
の配線パターンが極めて高精度に形成されてなるもので
ある。更に、本発明の多層回路基板は、第2の配線パタ
ーンと第1の配線パターンとの電気的接続をスルーホー
ル用の貫通孔及びその周辺を避けて行わなければならな
いという制約がないため、特に第2の配線パターンの配
線密度を極めて高くすることが可能なものである。
【0041】
【実施例】以下、本発明を具体的に説明するために実施
例を示すが、本発明はこれらの実施例に限定されるもの
ではない。
例を示すが、本発明はこれらの実施例に限定されるもの
ではない。
【0042】実施例1 以下の方法により、導電性硬化体を与える硬化性ペース
トを調製し、プリント回路基板の製造を実施した。即
ち、平均粒径6.8μm、タップ密度2.99g/cm3、比表面積
4200cm2/gの樹枝状電解銅粉に、リノール酸を銅粉表面
に対し、0.25×10- 5mmol/cm2の割合で配合し、窒素雰囲
気下で15分間、乳鉢により予備混合した。このようにし
て得た前処理銅粉を、ネオペンチルグリコールグリシジ
ルエーテル(エポキシ当量=150)/ノボラック型フェ
ノール樹脂(ヒドロキシ当量=105)=74/26(重
量比)のバインダー100重量部に対して、456重量
部添加し、更に、2−エチル−4−メチルイミダゾール
を、該バインダー100重量部に対し、2.8重量部添
加した後、3本ロールミルで30分間混練して銅ペース
トとした。
トを調製し、プリント回路基板の製造を実施した。即
ち、平均粒径6.8μm、タップ密度2.99g/cm3、比表面積
4200cm2/gの樹枝状電解銅粉に、リノール酸を銅粉表面
に対し、0.25×10- 5mmol/cm2の割合で配合し、窒素雰囲
気下で15分間、乳鉢により予備混合した。このようにし
て得た前処理銅粉を、ネオペンチルグリコールグリシジ
ルエーテル(エポキシ当量=150)/ノボラック型フェ
ノール樹脂(ヒドロキシ当量=105)=74/26(重
量比)のバインダー100重量部に対して、456重量
部添加し、更に、2−エチル−4−メチルイミダゾール
を、該バインダー100重量部に対し、2.8重量部添
加した後、3本ロールミルで30分間混練して銅ペース
トとした。
【0043】そして、図1に示す工程に従って多層回路
基板の製造を実施した。即ち、(a)両面に導電層1を
有する絶縁基板2として、厚さ1.6mmのガラス基材
エポキシ樹脂銅張り板を使用して、(b)直径0.4m
mφの貫通孔3をドリル加工により設けた。そして、導
電層1及び貫通孔3の表面をバフ研磨した後、超音波洗
浄及び高圧水洗を順次行った。次いで、(c)導電層1
の表面及び貫通孔3の孔壁表面に銅鍍金層4を形成し
た。この銅鍍金層4は、まず触媒を付着させて化学銅鍍
金を行った後、電気銅鍍金を行って形成した。尚、銅鍍
金層の厚みは、化学銅鍍金及び電気銅鍍金の合計の厚み
で10μmとなるように調整した。次に、(d)導電層
1上の鍍金層の表面に、エッチングレジストとしてドラ
イフィルム(ハーキュレス(株)社製「アクアマーC
F」1.5mil)をラミネートし、露光、現像してレ
ジストパターンを形成した。その後、塩化第2銅エッチ
ング液を用いてエッチングを行った後、エッチングレジ
ストを剥離して第1の配線パターン5を形成した。次い
で、(e)孔壁表面に鍍金層を有する貫通孔の内部に、
硬化性導電物質7として、前記の方法により調製した銅
ペーストをスクリーン印刷法により充填した。該銅ペー
ストを電気炉にて80℃60分、180℃60分の条件
で硬化した。(f)該第1の配線パターン上に、感光性
絶縁レジストを塗布し、露光し現像して絶縁性樹脂の被
覆層である絶縁性樹脂層8を形成した。次に、(g)3
20番及び600番のバフを順次使用して、絶縁性樹脂
層及び導電性硬化体である銅ペーストの硬化体を研削し
て導電性硬化体の端面が露出した平坦面を形成した。次
に、(h)該平坦面に無電解メッキ及び電気メッキを順
次施し、厚み10μmのメッキ層を形成した。次いで、
(i)上記(d)の工程と同様にして第2の配線パター
ン6を形成した。
基板の製造を実施した。即ち、(a)両面に導電層1を
有する絶縁基板2として、厚さ1.6mmのガラス基材
エポキシ樹脂銅張り板を使用して、(b)直径0.4m
mφの貫通孔3をドリル加工により設けた。そして、導
電層1及び貫通孔3の表面をバフ研磨した後、超音波洗
浄及び高圧水洗を順次行った。次いで、(c)導電層1
の表面及び貫通孔3の孔壁表面に銅鍍金層4を形成し
た。この銅鍍金層4は、まず触媒を付着させて化学銅鍍
金を行った後、電気銅鍍金を行って形成した。尚、銅鍍
金層の厚みは、化学銅鍍金及び電気銅鍍金の合計の厚み
で10μmとなるように調整した。次に、(d)導電層
1上の鍍金層の表面に、エッチングレジストとしてドラ
イフィルム(ハーキュレス(株)社製「アクアマーC
F」1.5mil)をラミネートし、露光、現像してレ
ジストパターンを形成した。その後、塩化第2銅エッチ
ング液を用いてエッチングを行った後、エッチングレジ
ストを剥離して第1の配線パターン5を形成した。次い
で、(e)孔壁表面に鍍金層を有する貫通孔の内部に、
硬化性導電物質7として、前記の方法により調製した銅
ペーストをスクリーン印刷法により充填した。該銅ペー
ストを電気炉にて80℃60分、180℃60分の条件
で硬化した。(f)該第1の配線パターン上に、感光性
絶縁レジストを塗布し、露光し現像して絶縁性樹脂の被
覆層である絶縁性樹脂層8を形成した。次に、(g)3
20番及び600番のバフを順次使用して、絶縁性樹脂
層及び導電性硬化体である銅ペーストの硬化体を研削し
て導電性硬化体の端面が露出した平坦面を形成した。次
に、(h)該平坦面に無電解メッキ及び電気メッキを順
次施し、厚み10μmのメッキ層を形成した。次いで、
(i)上記(d)の工程と同様にして第2の配線パター
ン6を形成した。
【0044】得られた多層回路基板において、共通する
スルーホール部により接続される両面にそれぞれ形成さ
れた第2の配線パターン相互の間の導通信頼性を知るた
めに、JIS C−5012のホットオイル試験(20
℃×20秒←→260℃5秒のサイクル)を実施した。
サイクル数500回においてでも、得られた多層回路基
板の両面に形成された第2の配線パターン相互の間の導
通は取られており、抵抗の上昇はみられなかった。
スルーホール部により接続される両面にそれぞれ形成さ
れた第2の配線パターン相互の間の導通信頼性を知るた
めに、JIS C−5012のホットオイル試験(20
℃×20秒←→260℃5秒のサイクル)を実施した。
サイクル数500回においてでも、得られた多層回路基
板の両面に形成された第2の配線パターン相互の間の導
通は取られており、抵抗の上昇はみられなかった。
【0045】実施例2 図2に示す工程に従って、多層回路基板の製造を行っ
た。実施例1の製造工程、即ち図1に示す工程におい
て、(d)の工程まで同様に行い、(e)以降の工程は
次のようにして多層回路基板を製作した。即ち、(e)
該第1の配線パターン上に、感光性絶縁レジストを塗布
し、露光、現像して絶縁性樹脂の被覆層である絶縁性樹
脂層8を形成した。次いで、(f)該スルーホール及
び、絶縁性樹脂層からなる貫通部に、硬化性導電物質7
として、上記の方法で調製した銅ペーストをスクリーン
印刷法により充填した。該銅ペーストを電気炉にて80
℃60分、180℃60分の条件で硬化した。次に、
(g)320番及び600番のバフを順次使用して、硬
化した銅ペーストの硬化体が突出した面を研削し、該硬
化体を含む絶縁性樹脂層表面を平滑化した。(h)上記
図1の(h)及び(d)の工程に準じて第2の配線パタ
ーン6を形成した。
た。実施例1の製造工程、即ち図1に示す工程におい
て、(d)の工程まで同様に行い、(e)以降の工程は
次のようにして多層回路基板を製作した。即ち、(e)
該第1の配線パターン上に、感光性絶縁レジストを塗布
し、露光、現像して絶縁性樹脂の被覆層である絶縁性樹
脂層8を形成した。次いで、(f)該スルーホール及
び、絶縁性樹脂層からなる貫通部に、硬化性導電物質7
として、上記の方法で調製した銅ペーストをスクリーン
印刷法により充填した。該銅ペーストを電気炉にて80
℃60分、180℃60分の条件で硬化した。次に、
(g)320番及び600番のバフを順次使用して、硬
化した銅ペーストの硬化体が突出した面を研削し、該硬
化体を含む絶縁性樹脂層表面を平滑化した。(h)上記
図1の(h)及び(d)の工程に準じて第2の配線パタ
ーン6を形成した。
【0046】得られた多層回路基板の表裏に位置し、且
つ共通するスルーホールに接続する第2の配線パターン
間について、JIS C−5012のホットオイル試験
(20℃×20秒←→260℃5秒のサイクル)を実施
した。サイクル数500回においてでも、上記の多層回
路基板の表裏に位置する第2の配線パターン間の導通は
取られており、抵抗の上昇はみられなかった。
つ共通するスルーホールに接続する第2の配線パターン
間について、JIS C−5012のホットオイル試験
(20℃×20秒←→260℃5秒のサイクル)を実施
した。サイクル数500回においてでも、上記の多層回
路基板の表裏に位置する第2の配線パターン間の導通は
取られており、抵抗の上昇はみられなかった。
【0047】比較例1 実施例2において、(f)、(g)及び(h)の工程、
即ち、硬化性導電物質の充填及び硬化、並びに、絶縁層
の研磨及び平滑化を行わない以外は同様にして、多層回
路基板の製造を行った。得られた多層回路基板の断面図
を図3に示す。得られた基板の配線パターンはスルーホ
ールにより寸断されており、配線密度は本発明による方
法によって得られる基板よりかなり低いことがわかっ
た。
即ち、硬化性導電物質の充填及び硬化、並びに、絶縁層
の研磨及び平滑化を行わない以外は同様にして、多層回
路基板の製造を行った。得られた多層回路基板の断面図
を図3に示す。得られた基板の配線パターンはスルーホ
ールにより寸断されており、配線密度は本発明による方
法によって得られる基板よりかなり低いことがわかっ
た。
【0048】得られた多層回路基板の表裏に位置し、且
つ共通するスルーホールに接続する第2の配線パターン
間について、JIS C−5012のホットオイル試験
(20℃×20秒←→260℃5秒のサイクル)を行っ
たところ、サイクル数160回において、上記の多層回
路基板の表裏に位置する第2の配線パターン間は断線し
た。
つ共通するスルーホールに接続する第2の配線パターン
間について、JIS C−5012のホットオイル試験
(20℃×20秒←→260℃5秒のサイクル)を行っ
たところ、サイクル数160回において、上記の多層回
路基板の表裏に位置する第2の配線パターン間は断線し
た。
【図1】 図1は、本発明の多層回路基板の具体例の断
面図及び本発明の多層回路基板の製造方法の具体例を示
す工程図である。
面図及び本発明の多層回路基板の製造方法の具体例を示
す工程図である。
【図2】 図2は、本発明の多層回路基板の具体例の断
面図及び本発明の多層回路基板の製造方法の具体例を示
す工程図である。
面図及び本発明の多層回路基板の製造方法の具体例を示
す工程図である。
【図3】 図3は、比較例にみられる従来の多層回路基
板の断面図である。
板の断面図である。
【図4】 図4は、従来の多層回路基板の断面図であ
る。
る。
1 導電層 2 絶縁基板 3 貫通孔 4 鍍金層 5 第1の配線パターン 6 第2の配線パターン 7 硬化性導電物質又は導電性硬化体 8 絶縁性樹脂層
Claims (3)
- 【請求項1】 孔壁表面に鍍金層を有する貫通孔が設け
られた絶縁基板の両面に、該孔壁表面の鍍金層と連続す
る鍍金層を有する第1の配線パターンが設けられ、該第
1の配線パターンは絶縁性樹脂層により被覆され、該貫
通孔の内部及び該貫通孔の周囲にある絶縁性樹脂層によ
り形成される空間には導電性硬化体が埋設され、該導電
性硬化体の端面が該絶縁性樹脂層の表面と実質的に同一
平面となるように形成されたスルーホール部を有する両
面回路基板の少なくとも一方の表面に、該導電性硬化体
の端面と電気的に接続する第2の配線パターンが設けら
れてなる多層回路基板。 - 【請求項2】 両面に導電層を有する絶縁基板にスルー
ホール用の貫通孔を設け、該導電層及び貫通孔の孔壁表
面に鍍金層を形成し、次いで第1の配線パターンを形成
し、該貫通孔に導電性硬化体を与える硬化性導電物質を
充填し硬化させた後、該第1の配線パターンを絶縁性樹
脂層により被覆し、該絶縁性樹脂層を研削して導電性硬
化体の端面が露出した平坦面を形成し、次いで、該平坦
面上に該導電性硬化体の端面と電気的に接続する第2の
配線パターンを形成することを特徴とする多層回路基板
の製造方法。 - 【請求項3】 両面に導電層を有する絶縁基板にスルー
ホール用の貫通孔を設け、該導電層及び貫通孔の孔壁表
面に鍍金層を形成し、次いで第1の配線パターンを形成
し、該第1の配線パターンを絶縁性樹脂層により被覆し
た後、該貫通孔の内部及び該貫通孔の周囲にある絶縁性
樹脂層により形成される空間に導電性硬化体を与える硬
化性導電物質を充填し硬化させた後、該導電性硬化体を
研削して導電性硬化体の端面が露出した平坦面を形成
し、次いで、該平坦面上に該導電性硬化体の端面と電気
的に接続する第2の配線パターンを形成することを特徴
とする多層回路基板の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16901793A JPH0730255A (ja) | 1993-07-08 | 1993-07-08 | 多層回路基板及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16901793A JPH0730255A (ja) | 1993-07-08 | 1993-07-08 | 多層回路基板及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0730255A true JPH0730255A (ja) | 1995-01-31 |
Family
ID=15878793
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16901793A Pending JPH0730255A (ja) | 1993-07-08 | 1993-07-08 | 多層回路基板及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0730255A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09321412A (ja) * | 1996-05-27 | 1997-12-12 | Noda Screen:Kk | プリント配線板の製造方法 |
| US6165544A (en) * | 1998-01-09 | 2000-12-26 | Noda Screen Co., Ltd. | Method of exposure of photo-curing resin applied to printed circuit board |
| CN104078547A (zh) * | 2013-03-28 | 2014-10-01 | 立诚光电股份有限公司 | 薄膜基板及其制作方法 |
| US9403660B2 (en) | 2012-03-08 | 2016-08-02 | The Yokohama Rubber Co., Ltd. | Conveyor belt take-up drum |
| CN112020209A (zh) * | 2019-05-29 | 2020-12-01 | 三星电机株式会社 | 印刷电路板及包括印刷电路板的天线模块板 |
-
1993
- 1993-07-08 JP JP16901793A patent/JPH0730255A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09321412A (ja) * | 1996-05-27 | 1997-12-12 | Noda Screen:Kk | プリント配線板の製造方法 |
| US6165544A (en) * | 1998-01-09 | 2000-12-26 | Noda Screen Co., Ltd. | Method of exposure of photo-curing resin applied to printed circuit board |
| US6583849B1 (en) | 1998-01-09 | 2003-06-24 | Noda Screen Co., Ltd. | Apparatus for exposure of photo-curing resin applied to printed circuit board |
| US9403660B2 (en) | 2012-03-08 | 2016-08-02 | The Yokohama Rubber Co., Ltd. | Conveyor belt take-up drum |
| CN104078547A (zh) * | 2013-03-28 | 2014-10-01 | 立诚光电股份有限公司 | 薄膜基板及其制作方法 |
| CN112020209A (zh) * | 2019-05-29 | 2020-12-01 | 三星电机株式会社 | 印刷电路板及包括印刷电路板的天线模块板 |
| CN112020209B (zh) * | 2019-05-29 | 2024-11-05 | 三星电机株式会社 | 印刷电路板及包括印刷电路板的天线模块板 |
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