JPH07310192A - 洗浄処理装置 - Google Patents

洗浄処理装置

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JPH07310192A
JPH07310192A JP12314594A JP12314594A JPH07310192A JP H07310192 A JPH07310192 A JP H07310192A JP 12314594 A JP12314594 A JP 12314594A JP 12314594 A JP12314594 A JP 12314594A JP H07310192 A JPH07310192 A JP H07310192A
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JP
Japan
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wafer
holding
cleaning
cleaned
groove
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Withdrawn
Application number
JP12314594A
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English (en)
Inventor
Yoshio Kumagai
佳夫 熊谷
Naoki Shindo
尚樹 新藤
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Tokyo Electron Ltd
Tokyo Electron Kyushu Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Tokyo Electron Kyushu Ltd
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Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd, Tokyo Electron Kyushu Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP12314594A priority Critical patent/JPH07310192A/ja
Publication of JPH07310192A publication Critical patent/JPH07310192A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 装置の小型化及び洗浄液の使用量の削減を図
れるようにした洗浄処理装置を提供する。 【構成】 半導体ウエハWを洗浄するための処理槽9内
に半導体ウエハWを搬入する支持手段20を、半導体ウ
エハWを保持する保持溝22aを所定ピッチで互いに平
行に複数設けた保持部材22と、この保持部材22と対
向する部位で半導体ウエハWを保持すべく保持部材22
の保持溝22aと同じピッチの溝23aを有する押え部
材23とで構成する。また、押え部材23を半導体ウエ
ハWに係脱可能に形成する。これにより、半導体ウエハ
W間のピッチを可及的に小さくすることができる共に、
半導体ウエハWを安定した状態で処理槽9内に搬送して
洗浄処理することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、被洗浄基板を所定の
洗浄液に浸漬して洗浄処理する洗浄処理装置に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】一般にこの種の洗浄処理装置は、被洗浄
基板、例えば半導体ウエハ(以下にウエハという)をア
ンモニア、フッ酸及び純水等の処理液に順次浸漬してウ
エハの表面を洗浄処理するものである。
【0003】従来、この種の洗浄処理装置として、複数
枚例えば25枚のウエハを収容したウエハキャリア毎搬
送して、洗浄処理槽に順次浸漬して洗浄するように構成
された洗浄処理装置と、ウエハキャリアから取り出され
た複数枚例えば25枚のウエハをウエハ搬送アームで各
洗浄処理槽等に搬送し、各洗浄処理槽に配設されたウエ
ハボート(ウエハ支持手段)に受け渡して洗浄処理する
いわゆるキャリアレスの洗浄処理装置が知られている。
【0004】ところで、近年半導体デバイスは高集積化
される傾向にあり、その回路パターンは益々微細化され
つつある。また、半導体ウエハは、例えば6インチから
8インチへと大口径化される傾向にある。このような大
口径例えば8インチ径のウエハを収容するウエハキャリ
アは、汎用性を高めるために通常統一されたピッチ例え
ば6.35mm(6インチ径のウエハでは4.76m
m)で25枚のウエハを保持するように構成されてい
る。このため、ウエハをウエハキャリア毎搬送し、洗浄
処理槽等に順次浸漬する前者の洗浄処理装置において
は、洗浄処理槽が大型化し、装置全体が大型となると共
に、純水の使用量が嵩むという問題があった。
【0005】上記問題を解決するために、出願人は、ウ
エハ支持手段にウエハキャリアのピッチより狭いピッチ
のウエハ載置溝を設けることで、装置の小型化及び洗浄
液等の消費量の削減を図れるようにした洗浄装置を開発
した(特開平5−129267号公報参照)。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ウエハ
のピッチを余り小さくすると、搬送中にウエハが揺れ易
くなって不安定な状態となり、図13に示すように、搬
送中にウエハWが傾いたり隣接するウエハ同士が接触す
るという問題があった。また、隣接するウエハ同士の間
隔が狭いため、ウエハとウエハとの間に、表面張力によ
りウエハW,W間に洗浄液Lが溜ってしまい、洗浄処理
槽からウエハWを引き上げた後もウエハWに洗浄液Lが
付着して、洗浄処理に支障をきたすという問題もあっ
た。このような現象は、特に親水性の洗浄液の場合に多
く、ウエハ間のピッチが4.8mm以下になると顕著に
現れる。したがって、ウエハ間のピッチを余り狭くする
ことはできず、装置の小型化及び洗浄液の使用量の削減
を充分満足できるまでには至っていないのが現状であ
る。なお、キャリアレス式の洗浄処理装置においては、
ウエハキャリア毎搬送する洗浄処理装置に比較して多少
ウエハキャリアの容積分洗浄処理槽を小さくすることが
でき、洗浄液の使用量の削減が図れるが、上述したよう
にウエハ支持部のピッチに限界があるため、これにおい
ても上述のように装置の小型化及び洗浄液の使用量の削
減を充分満足できるまでには至っていない。
【0007】この発明は上記事情に鑑みなされたもの
で、被処理基板間のピッチを可及的に小さくすると共
に、被洗浄基板を安定な状態に支持して洗浄処理を施す
ことができ、装置の小型化及び洗浄液の使用量の削減を
図れるようにした洗浄処理装置を提供することを目的と
するものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明の第1の洗浄処理装置は、被洗浄基板を洗
浄するための洗浄処理槽と、この洗浄処理槽内に上記被
洗浄基板を搬入すべく被洗浄基板を支持する支持手段と
を具備する洗浄処理装置を前提とし、上記支持手段は、
上記被洗浄基板を保持する保持溝を所定ピッチで互いに
平行に複数設けた保持部材と、この保持部材と対向する
部位で上記被洗浄基板を保持すべく保持部材の保持溝と
同じピッチの溝を有する押え部材とを具備し、かつ、上
記押え部材を上記被洗浄基板に係脱可能に形成したこと
を特徴とするものである(請求項1)。
【0009】また、この発明の第2の洗浄処理装置は、
被洗浄基板を洗浄するための洗浄処理槽と、この洗浄処
理槽内に上記被洗浄基板を搬入又は搬出する搬入・搬出
手段と、上記洗浄処理槽内に搬入された被洗浄基板を支
持する支持手段とを具備する洗浄処理装置を前提とし、
上記支持手段は、上記被洗浄基板を保持する保持溝を所
定ピッチで互いに平行に複数設けた保持部材と、この保
持部材と対向する部位で上記被洗浄基板を保持すべく保
持部材の保持溝と同じピッチの溝を有する押え部材とを
具備し、かつ、上記押え部材を上記被洗浄基板に係脱可
能に形成したことを特徴とするものである(請求項
2)。
【0010】この発明において、上記保持部材の保持溝
と押え部材の溝は同ピッチに形成されていれば、その形
状は任意でよいが、好ましくは、保持部材の保持溝と押
え部材の溝を、それぞれ被洗浄基板の端部両面を保持す
る溝基部と、この溝基部の開口端の一辺に拡開する傾斜
案内部とで構成し、この際、対向する上記保持溝と溝に
おける対角線上の対称位置側の辺に上記傾斜案内部を設
ける方がよい(請求項3)。
【0011】
【作用】上記のように構成されるこの発明の洗浄処理装
置によれば、支持手段は、被洗浄基板を保持する保持溝
を所定ピッチで互いに平行に複数設けた保持部材と、こ
の保持部材と対向する部位で被洗浄基板を保持すべく保
持部材の保持溝と同じピッチの溝を有する押え部材とを
具備し、押え部材を被洗浄基板に係脱可能に形成するこ
とにより、保持部材と押え部材とで被洗浄基板の対向部
位を保持することができるので、被洗浄基板は搬送中に
不用意に揺れ動くことはなく安定した状態で所定の場所
に搬送される。また、洗浄処理中に、洗浄液の表面張力
の作用により被洗浄基板が撓むことを防止することがで
きるので、隣接する被洗浄基板同士間に洗浄液が溜まる
ことがない。したがって、被洗浄基板間のピッチを可及
的に小さくすることができ、装置の小型化及び洗浄液の
使用量の削減を図ることができる(請求項1及び2)。
【0012】また、保持部材の保持溝と押え部材の溝
を、それぞれ被洗浄基板の端部両面を保持する溝基部
と、この溝基部の開口端の一辺に拡開する傾斜案内部と
で構成すると共に、対向する保持溝と溝における対角線
上の対称位置側の辺に傾斜案内部を設けることにより、
被洗浄基板は傾斜案内部に案内されて溝基部に容易かつ
確実に保持される。また、傾斜案内部は対向する保持溝
と溝の対角線上の対称位置の辺のみに設けられているの
で、保持溝及び溝のピッチを更に可及的に小さくするこ
とができ、更に、装置の小型化及び洗浄液の使用量の削
減を図ることができる(請求項3)。
【0013】
【実施例】以下にこの発明の実施例を図面に基いて詳細
に説明する。この実施例では半導体ウエハの洗浄処理装
置に適用した場合について説明する。
【0014】◎第一実施例 図1はこの発明の洗浄処理装置の第一実施例の概略斜視
図、図2は被洗浄基板の搬送及び処理状態の斜視図が示
されている。
【0015】半導体ウエハの洗浄処理装置は、図1に示
すように、未処理の被洗浄基板である半導体ウエハ(以
下にウエハという)Wを収容する搬入部1と、ウエハW
の洗浄処理を行う洗浄処理部2と洗浄後のウエハWを収
容する搬出部3とで主要部が構成されている。
【0016】搬入部1は、洗浄処理前の所定枚数例えば
25枚のウエハWを収容するカセット4を待機させる待
機部5と、カセット4からのウエハWの取り出し、ウエ
ハW間のピッチを所定のピッチに変換してウエハ支持手
段20を構成するウエハキャリア21に移載するピッチ
変換機構6と、外部から搬送ロボットなどによって搬入
されるカセット4の待機部5への移送及びこの待機部5
とピッチ変換機構6との間でカセット4の移送を行うた
めのカセット搬送アーム7とを具備してなる。
【0017】洗浄処理部2には、搬入部1から搬出部3
に向かって直線状に順に、ウエハキャリア搬送用のチャ
ック12を洗浄・乾燥する第1のチャック洗浄・乾燥処
理室8a、ウエハW表面の有機汚染物、金属不純物、パ
ーティクル等の不純物質を薬液によって洗浄処理する第
1の薬液処理室8b、第1の薬液処理室8bで洗浄され
たウエハWを例えば純水によって洗浄する2つの水洗処
理室8c,8d、第1の薬液処理室8bの薬液とは異な
る薬液で洗浄する第2の薬液処理室8e、第2の薬液処
理室8eで洗浄されたウエハWを例えば純水によって洗
浄する2つの水洗処理室8f,8g、チャック12を洗
浄・乾燥する第2のチャック洗浄・乾燥処理室8h及び
上記不純物質が除去されたウエハWを例えばIPA(イ
ソプロピルアルコール)等で蒸気乾燥させるためのウエ
ハ乾燥処理室8iが配設されている。これら各洗浄処理
室(以下、単に処理室という)8a〜8h内には、それ
ぞれ処理槽9が配設されている。
【0018】また、洗浄処理部2の側方には、各処理室
8a〜8iに沿って配設された案内部10と、この案内
部10に装着されて水平(X方向)及び垂直(Z方向)
に移動自在な3基のウエハキャリア搬送ブロック11と
で構成されるウエハキャリア搬送装置15が設けられて
いる。ウエハ搬送ブロック11には、複数枚のウエハW
を適宜間隔をおいて列設支持するウエハキャリア21を
保持するチャック12が設けられており、このチャック
12にて保持されるウエハキャリア21とウエハWが各
処理室8a〜8iに搬送されるように構成されている。
【0019】なお、洗浄処理部2の上方には空キャリア
及び満杯キャリアを搬送するキャリア搬送部13が設け
られている。また、洗浄処理部2の背面側には薬液等の
処理液を収容するタンクや配管群を含む処理液・配管収
容室14が設けられている。
【0020】上記ウエハ支持手段20は、ウエハWを保
持する保持溝22aを所定ピッチで互いに平行に複数設
けた保持部材22を有するウエハキャリア21と、保持
部材22と対向する部位でウエハWを保持すべく保持部
材22の保持溝22aと同じピッチの溝23aを有する
ウエハWに対して着脱可能に係合する押え部材23とで
構成されている。
【0021】この場合、ウエハキャリア21は、図2及
び図3に示すように、略逆T字形の一対の支持板24の
下部中央間に保持部材22を横架し、保持部材22に関
して両側のやや上部間に補助保持部材25を横架してな
り、かつ、支持板24の上部端にそれぞれ外向きのフラ
ンジ部材26を突設してなる。フランジ部材26には取
付孔26aが設けられており、このフランジ部材26の
上に載置されるハット状の把持治具27を図示しないボ
ルト等にて固定してウエハキャリア21を作業者が手に
持って搬送できるように構成されている。このように構
成されるウエハキャリア21の各構成部材は、耐薬品
性、耐蝕性に優れた例えば石英製部材にて形成されてい
る。なお、保持部材22及び補助保持部材25は支持板
24に溶接等によって固定されている。
【0022】また、保持部材22に設けられる保持溝2
2aは、図4に示すように、ウエハWの両端面を保持す
る断面コ字状の溝基部30と、溝基部30の開口端の両
辺に拡開状に切りかかれる傾斜案内部31とで構成され
ている。このように保持溝22aを形成することによ
り、ウエハキャリア21に搬入されるウエハWの端部を
傾斜案内部31の傾斜面に案内させて溝基部30内に確
実に案内してウエハWを保持することができる。なお、
補助保持部材25には、図5に示すような三角形状の保
持溝25aが保持部材22の保持溝22aと同ピッチに
設けられている。
【0023】一方、上記押え部材23は、耐食、耐熱及
び耐強度性に優れている例えばポリエーテルエーテルケ
トン(Polyetheretherketone;PEEK)製部材にて形
成されており、また、押え部材23は、フッ素樹脂製部
材,石英製部材でもよく、この押え部材23に設けられ
る溝23aは、保持部材22の保持溝22aと同様に、
ウエハWの両端面を保持する断面コ字状の溝基部30
と、溝基部30の開口端の両辺に拡開状に切り欠かれる
傾斜案内部31とで構成されている(図5参照)。この
ように溝23aを形成することにより、ウエハキャリア
21に搬入され、保持部材22及び補助保持部材25に
よって保持されたウエハWの上部のオリエンテーション
フラット部Waを傾斜案内部31の傾斜面が案内して溝
基部30内に確実に案内してウエハWの上端部を保持す
ることができる。
【0024】このように構成される押え部材23は、上
記ピッチ変換機構6の近傍位置に設けられた押え部材搬
送機構40によってウエハキャリア21に移載されたウ
エハWの上部のオリエンテーションフラットWa部に係
脱可能に形成されている。押え部材搬送機構40は、例
えば、図3に示すように、先端に押え部材23の吸着部
41を有する中空パイプ状の押え部材保持アーム42
を、図示しない起倒手段によってウエハキャリア21の
側方からウエハキャリア21に向って起倒可能に支承
し、押え部材保持アーム42の基部に真空装置(図示せ
ず)を接続してなる。
【0025】このように構成される押え部材搬送機構4
0は、ウエハキャリア21にウエハWが搬入又はウエハ
キャリア21からウエハWが搬出される際、真空装置の
駆動によって押え部材23を吸着保持して待機位置(図
3の実線位置)に起立してウエハWの搬入・搬出の邪魔
にならないようになっている。そして、ウエハキャリア
21にウエハWが搬入されて、保持部材22及び補助保
持部材25によってウエハWが保持された後、押え部材
保持アーム42がウエハW上部側に回転して押え部材2
3の溝23a内にウエハWのオリエンテーションフラッ
ト部Waを係合させ、その後、真空装置の駆動を停止し
て吸着部41による押え部材23の吸着を解除した後、
押え部材保持アーム42を待機位置に後退させる。
【0026】したがって、ウエハキャリア21に搬入さ
れたウエハWは保持部材22及び補助保持部材25によ
って下部が保持されると共に、押え部材23によって上
部のオリエンテーションフラット部Waが保持されるの
で、搬送中に揺れて傾いたり隣接するウエハW,W同士
が接触することがない上、洗浄処理中に、洗浄液の表面
張力によってウエハWが撓んで隣接するウエハW,W間
に洗浄液が溜まったりウエハWが接触するなどの問題が
ない。
【0027】なお、上記説明では、保持部材22の保持
溝22aと押え部材23の溝23aを、ウエハWの両端
面を保持する断面コ字状の溝基部30と、溝基部30の
開口端の両辺に拡開状に切りかかれる傾斜案内部31と
で構成した場合について説明したが、必しもこのような
構造とする必要はなく、図6に示すように、保持部材2
2の保持溝22aと押え部材23の溝23aを、それぞ
れウエハWの両面を保持するコ字状の溝基部32と、こ
の溝基部32の開口端の一辺に拡開する傾斜案内部33
とで構成し、この際、対向する保持溝22aと溝23a
における対角線上の対称位置側の辺に傾斜案内部33を
設けるようにしてもよい。
【0028】このように保持溝22aと溝23aを構成
することにより、溝間のピッチPを可及的に小さくする
ことができると共に、ウエハWの保持を容易かつ確実に
することができる。すなわち、傾斜案内部33に沿わせ
てウエハWの溝内への挿入を容易にすることができ、対
角線上に対向する傾斜案内部33と反対側の溝基部32
の側壁34によってウエハWの対向する端部を確実に保
持することができる。このように保持溝22aと溝23
aを構成することによって溝間ピッチPを約2mmまで
小さく設定することが可能である。
【0029】上記ピッチ変換機構6は、図7に示すよう
に、ウエハ移載機構60と、1/2ピッチウエハガイド
61(具体的にはウエハキャリア21にて形成する)と
で構成されている。この場合、ウエハ移載機構60は、
肉厚の薄い櫛状の支持部62によって両側から各ウエハ
Wの周縁部を把持するように構成されており、これらの
支持部62は、通常ピッチ(8インチ径のウエハでは
6.35mm)で形成されている。一方、1/2ピッチ
ウエハガイド61は、通常ピッチの1/2すなわち3.
175mmピッチでウエハWを支持することができるよ
うに形成されたウエハ支持溝63を具備している。
【0030】このように構成されるピッチ変換機構6を
用いてウエハ間のピッチを変換するには、まず、ウエハ
移載機構60によって1つのカセット*内に収容された
ウエハWを把持し、搬送して1/2ピッチウエハガイド
61に載置する。この状態では、1/2ピッチウエハガ
イド61のウエハ支持溝63に1つおきにウエハWが配
置される。
【0031】次に、図示矢印Aのように、1/2ピッチ
ウエハガイド61を、1/2ピッチすなわち3.175
mmだけ水平方向に移動させ、この後、ウエハ移載機構
60によって、もう1つのカセット4内に収容されたウ
エハWを把持し、搬送して1/2ピッチウエハガイド6
1のウエハW間に挿入・載置する。これにより、1/2
ピッチウエハガイド61すなわちウエハキャリア21上
に、50枚のウエハWが3.175mmピッチで配置さ
れる。そして、上述したように、押え部材搬送機構40
によって押え部材23がウエハキャリア21に搬入され
たウエハWの上部すなわちオリエンテーションフラット
Waに移動してウエハWの上端部を同様に3.17mm
ピッチに保持する。
【0032】なお、上記説明では、8インチ径のウエハ
Wを通常のピッチの1/2ピッチとする場合について説
明したが、他の径例えば6インチ径のウエハに対しても
同様に適用することができ、また、ピッチは通常のピッ
チの1/2に限らず、通常のピッチより小さなピッチ例
えば4.8mm,3.5mmあるいは2.0mm等適宜
選択することができる。この場合、ウエハWのピッチを
1/2ピッチ以外とするには、例えば図8に示すような
ピッチ変換機構6を使用することができる。すなわち、
このピッチ変換機構6は、図9に示すように、上部が通
常ピッチPa(例えば6.35mm)、下部が所望ピッ
チPb(例えば4.8mm,3.5mmあるいは2.0
mm)とされ、上部から下部に向けて徐々にピッチが狭
くなるように形成されたウエハ支持溝64を有し、両側
からウエハWの周縁部を把持するウエハ支持機構65
と、所望ピッチPb(例えば4.8mm,3.5mmあ
るいは2.0mm)でウエハWを支持するウエハガイド
66(具体的にはウエハキャリア21にて形成される)
とで構成されている。
【0033】このように構成された所望ピッチ変換機構
6を用いてウエハ間隔のピッチを1/2ピッチ以外とす
るには、まず、通常ピッチで配列されたウエハWを、ウ
エハ支持機構65の上部で支持し、これらのウエハWを
ウエハガイド66の上部に搬送する。そして、徐々にウ
エハ支持機構65の間隔を広げていくことにより、ウエ
ハWがウエハ支持溝64内を滑るように落下するように
して、所望ピッチに変換する。そして、この状態でウエ
ハガイド66(具体的にはウエハキャリア21)上に載
置する。このようなピッチ変換機構6を用いれば、通常
ピッチの1/2ピッチに限らず、所望のピッチに変換す
ることができる。
【0034】なお、上記第1及び第2の薬液処理室8b
及び8eにおける処理槽9は、図2及び図10に示すよ
うに、処理槽本体9aの上部開口の外周部に外槽9bを
設けてなり、処理槽本体9aの開口部に設けられた切欠
き9cを介して処理槽本体9aからオーバーフローした
薬液L(洗浄液)を外槽9bで受け止めるように構成さ
れている。また、処理槽本体9aの底部と外槽9bの底
部には循環管路9dが接続されており、この循環管路9
dに介設されるポンプ9e、バルブ9f及びフィルタ9
gを介して外槽9bにオーバーフローされた薬液Lが処
理槽本体9a内に循環供給されるように構成されてい
る。一方、上記4つの水洗処理室8c,8d,8f及び
8gの処理槽9は、図11に示すように、洗浄処理層9
の底部に純水供給兼排水管9hを接続してなり、図示し
ない純水供給源から多量の純水を洗浄処理層9内に供給
し、所定時間経過後、短時間で処理後の純水を一度に排
水するいわゆるクイックダンプ方式が採用されている。
【0035】次に、この発明の洗浄処理装置の動作につ
いて説明する。まず、上記ピッチ変換機構6によって所
望のピッチに変換されたウエハWをウエハキャリア21
に搬送して保持部材22の保持溝22a及び補助保持部
材25の保持溝25aにて保持した後、押え部材搬送機
構40によって押え部材23をウエハWのオリエンテー
ションフラットWaに係合させて、ウエハWの上部を保
持する。
【0036】次に、チャック12によってウエハキャリ
ア21を第1の薬液処理室8bに搬送して、処理槽9内
の薬液にウエハキャリア21及びウエハWを所定時間浸
漬して、ウエハW表面の有機汚染物、金属不純物、パー
ティクル等の不純物質を薬液によって洗浄処理する。次
に、ウエハキャリア21を水洗処理室8c及び8dに順
次搬送し、処理槽9内の純水に浸漬して第1の処理室8
bで使用された薬液を除去する。次いで、ウエハキャリ
ア21を第2の薬液処理室8eに搬送して、処理槽9内
の薬液にウエハキャリア21及びウエハWを所定時間浸
漬して、第1の薬液処理室8bの薬液とは異なる薬液で
ウエハWを洗浄する。そして、第2の薬液処理室8eで
洗浄されたウエハWを、水洗処理室8f及び8gに順次
搬送して洗浄した後、ウエハキャリア21をウエハ乾燥
処理室8iに搬送して、不純物質が除去されたウエハW
を例えばIPA(イソプロピルアルコール)等で蒸気乾
燥する。この際、ウエハWにおける押え部材23が接触
する部分にIPA蒸気の染み模様等が生じるので、これ
をを防止するために、押え部材23をウエハWから取り
外してウエハキャリア21をウエハ乾燥処理室8i内に
搬送して乾燥処理する方が好ましい。
【0037】上述のようにして洗浄処理及び乾燥処理が
行われたウエハWは搬出部3に搬送されてピッチ変換機
構6によって上述したとは逆の動作によって、ピッチ変
換され、2つのカセット4内に通常のピッチ例えば6.
35mmピッチで25枚ずつ収容される。
【0038】したがって、ウエハWは保持部材22と押
え部材23とで保持された状態で搬送されるので、搬送
中に揺れ動いて傾いたり、隣接同士が接触することがな
い。また、小ピッチ間隔を保持した状態でウエハWを洗
浄処理することができるので、洗浄処理中にウエハWの
上部が洗浄液の表面張力によって撓むようなことがな
く、隣接するウエハ間に洗浄液が溜ったりウエハ同士が
接触するのを防止することができる。更に、小ピッチ間
隔でウエハWを保持することで、処理槽9を小型化する
ことができ、その結果、水洗処理においては、純水中の
イオンの比抵抗の立ち上がりが早くなり、リンス効率が
向上すると共に、リンス時間(洗浄処理時間)が短縮化
できるばかりでなく、純水の使用量を低減することがで
きる。
【0039】◎第二実施例 図10は洗浄処理装置の第二実施例の要部の概略断面図
が示されている。
【0040】第二実施例は、この発明の洗浄処理装置
を、上記第一実施例のウエハキャリア21を用いずに、
直接洗浄処理室に搬送するいわゆるキャリアレス式の洗
浄処理装置に適用した場合である。
【0041】すなわち、待機部5のカセット4内に収容
されているウエハWを、上記第一実施例と同様に構成さ
れるピッチ変換機構6によって所望のピッチに変換され
たウエハWをウエハガイド66に移載した後、上記第一
実施例のチャック12と同様に配設された搬入・搬出手
段としてのウエハチャック16によってピッチ変換され
たウエハWを把持して各洗浄処理室にウエハWを搬送し
て、洗浄処理するようにした場合である。
【0042】この第二実施例において、各処理槽9には
ウエハチャック16から受け渡されたウエハWを保持す
る支持手段20が配設されている。この支持手段20
は、上記第一実施例のウエハキャリア21と同様に、略
逆T字形の一対の支持板54と、これら支持板54に横
架される1つの保持部材52と、保持部材52の両側に
横架される2つの補助保持部材55とを有して各処理槽
9内を昇降移動するウエハボート51と、各処理槽9の
側方に配設された押え部材搬送機構40によってウエハ
ボート51に保持されたウエハWの上部に係脱可能に形
成される上記第一実施例と同様の押え部材23とで構成
されている。なお、第二実施例において、その他の部分
は上記第一実施例と同じであるので、同一部分には同一
符号を付して、その説明は省略する。
【0043】上記のように構成することにより、ウエハ
チャック16にて搬送されるウエハWは、各処理室のウ
エハボート51の保持部材52及び補助保持部材55の
保持溝52a,55aに受け渡された後、押え部材搬送
機構40の駆動により押え部材23がウエハWの上部に
移動してオリエンテーションフラットWa部に押え部材
23の溝23aを係合させることで、ウエハWの上部及
び下部を所定の小ピッチ間隔で整列保持することがで
き、この状態で洗浄処理を施すことができる。
【0044】したがって、小ピッチ間隔を保持した状態
でウエハWを洗浄処理することができるので、洗浄処理
中にウエハWの上部が洗浄液の表面張力によって撓むよ
うなことがなく、隣接するウエハ間に洗浄液が溜ったり
ウエハ同士が接触するのを防止することができる。ま
た、上記第一実施例と同様に、リンス時間(洗浄処理時
間)が短縮化できると共に、純水の使用量を低減するこ
とができる。
【0045】なお、上記実施例では、この発明の洗浄処
理装置を半導体ウエハの洗浄処理装置に適用した場合に
ついて説明したが、半導体ウエハ以外のガラス基板ある
いはLCD基板等の被洗浄基板の洗浄処理装置にも適用
できることは勿論である。
【0046】
【発明の効果】以上に説明したようにこの発明の洗浄処
理装置によれば、上記のように構成されているので、以
下のような効果が得られる。
【0047】1)保持部材と押え部材とで被洗浄基板の
対向部位を保持するので、被洗浄基板を安定した状態で
処理槽内に搬送して洗浄処理することができ、しかも、
被洗浄基板間のピッチを可及的に小さくすることができ
るので、装置の小型化及び洗浄液の使用量の削減を図る
ことができる。
【0048】2)保持部材の保持溝と押え部材の溝を、
それぞれ被洗浄基板の両面を保持する溝基部と、この溝
基部の開口端の一辺に拡開する傾斜案内部とで構成する
と共に、対向する保持溝と溝における対角線上の対称位
置側の辺に傾斜案内部を設けることにより、被洗浄基板
を容易かつ確実に保持することができる。また、傾斜案
内部は対向する保持溝と溝の対角線上の対称位置の辺の
みに設けられているので、保持溝及び溝のピッチを更に
可及的に小さくすることができ、更に、装置の小型化及
び洗浄液の使用量の削減を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の洗浄処理装置を適用した半導体ウエ
ハ洗浄処理装置の一例を示す概略斜視図である。
【図2】この発明の洗浄処理装置の第一実施例における
被洗浄基板の搬送及び処理状態を示す斜視図である。
【図3】第一実施例の支持手段の概略断面図である。
【図4】第一実施例の保持部材と押え部材の保持状態を
示す断面図である。
【図5】この発明における補助保持部材の溝を示す拡大
断面図である。
【図6】この発明における保持部材と押え部材の別の保
持形態を示す断面図である。
【図7】この発明におけるピッチ変換機構を示す概略斜
視図である。
【図8】ピッチ変換機構の別の構成を示す概略斜視図で
ある。
【図9】図8のピッチ変換機構の要部を示す概略側面図
である。
【図10】この発明における処理槽の一例の概略断面図
である。
【図11】処理槽の別の一例を示す概略断面図である。
【図12】この発明の第二実施例の要部断面図である。
【図13】従来の洗浄処理装置における被洗浄基板の保
持状態を示す概略断面図である。
【符号の説明】
W 半導体ウエハ(被洗浄基板) 12 ウエハキャリア搬送用チャック 16 ウエハチャック(搬入・搬出手段) 20,50 支持手段 21 ウエハキャリア 22,52 保持部材 22a,52a 保持溝 23 押え部材 23a 溝 30,32 溝基部 31,33 傾斜案内部 34 側壁 51 ウエハボート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/68 T N

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被洗浄基板を洗浄するための洗浄処理槽
    と、この洗浄処理槽内に上記被洗浄基板を搬入すべく被
    洗浄基板を支持する支持手段とを具備する洗浄処理装置
    において、 上記支持手段は、上記被洗浄基板を保持する保持溝を所
    定ピッチで互いに平行に複数設けた保持部材と、この保
    持部材と対向する部位で上記被洗浄基板を保持すべく保
    持部材の保持溝と同じピッチの溝を有する押え部材とを
    具備し、かつ、上記押え部材を上記被洗浄基板に係脱可
    能に形成したことを特徴とする洗浄処理装置。
  2. 【請求項2】 被洗浄基板を洗浄するための洗浄処理槽
    と、この洗浄処理槽内に上記被洗浄基板を搬入又は搬出
    する搬入・搬出手段と、上記洗浄処理槽内に搬入された
    被洗浄基板を支持する支持手段とを具備する洗浄処理装
    置において、 上記支持手段は、上記被洗浄基板を保持する保持溝を所
    定ピッチで互いに平行に複数設けた保持部材と、この保
    持部材と対向する部位で上記被洗浄基板を保持すべく保
    持部材の保持溝と同じピッチの溝を有する押え部材とを
    具備し、かつ、上記押え部材を上記被洗浄基板に係脱可
    能に形成したことを特徴とする洗浄処理装置。
  3. 【請求項3】 保持部材の保持溝と押え部材の溝を、そ
    れぞれ被洗浄基板の端部両面を保持する溝基部と、この
    溝基部の開口端の一辺に拡開する傾斜案内部とで構成
    し、この際、対向する上記保持溝と溝における対角線上
    の対称位置側の辺に上記傾斜案内部を設けたことを特徴
    とする請求項1又は2記載の洗浄処理装置。
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