JPH07310841A - 流体の流量制御方法 - Google Patents

流体の流量制御方法

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JPH07310841A
JPH07310841A JP10553594A JP10553594A JPH07310841A JP H07310841 A JPH07310841 A JP H07310841A JP 10553594 A JP10553594 A JP 10553594A JP 10553594 A JP10553594 A JP 10553594A JP H07310841 A JPH07310841 A JP H07310841A
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JP
Japan
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flow rate
pulse
fluid
signal
valve
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JP10553594A
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English (en)
Inventor
Ryosuke Doi
亮介 土肥
Yukio Minami
幸男 皆見
Kanetsugu Yamamoto
兼嗣 山本
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Fujikin Inc
Original Assignee
Fujikin Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 高速開閉型バルブを通してパルス状流体を供
給する流体供給システムに於いて、供給流体の流量制御
の高精度化と流量制御の容易化を図る。 【構成】 高速開閉型バルブを通してパルス状流体を供
給する流体供給システムに於いて、高速開閉型バルブを
圧電素子によりダイヤフラム弁体を駆動する形式のバル
ブとすると共に、制御装置から高速開閉型バルブの圧電
素子へ加えるパルス入力信号を調整し、高速開閉型バル
ブより流出するパルス状流体のデューティー比αを変え
ることにより、流体流量を制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、主として半導体製造装
置等の高精度な流体流量制御を必要とする装置・設備に
利用されるものであり、パルス状の流体流れのパルス幅
やその周波数を調整することにより、所謂ヒステリシス
特性の無い高精度な流体流量の自動制御を可能とした高
速開閉型バルブを用いた流体の流量制御方法に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】半導体製造装置の拡散炉等に於いては、
図7に示す如く、複数の異なるガスA,B,Cを小流量
つづ同時に若しくは順次切換え乍ら、プロセスチャンバ
ー(拡散炉)Dへ供給する必要があり、前記各ガスA,
B,Cの供給流量は、高速開閉型バルブE1 〜E3 の開
度を調整することにより制御されている。尚、図7に於
いて、F1 〜F3 はボリュームタンク、G1 〜G3 は圧
力調整バルブ、Hは真空ポンプである。
【0003】ところで、前記図7のガス供給システムに
於いて、より高精度な流量制御を行なうためには、高速
開閉バルブEの作動速度を高めて、パルス状の微小ガス
流A,B,Cの流通制御を可能とする必要がある。即
ち、より高精度な流量制御の達成には、パルス幅が約
20〜100msec、パルス周期が約100〜100
0msec程度のパルス状ガス流が容易に得られ、しか
も前記パルス状ガス流による流量制御特性が所謂ヒス
テリシス現象を呈さないこと、が必要不可欠の条件とな
る。
【0004】しかし、従前の半導体製造装置等に於いて
は、前記高速開閉型バルブEとして、ダイヤフラム型バ
ルブにエアーシリンダー型アクチエータを組み付けた形
式のエアーシリンダー駆動式ダイヤフラム型流量制御弁
が使用されているため、パルス状作動に追従できる周波
数は、後述する如く1Hz程度までであり、ガス流のパ
ルス幅Wを500msec以下にすることは不可能であ
る。その結果、より高精度な流量制御が達成出来ないと
云う難点がある。
【0005】また、従前のエアーシリンダ駆動式ダイヤ
フラム型高速開閉型バルブでは、図8に示す如くバルブ
の流量特性にヒステリシス現象が表われることになり、
且つこのヒステリシス現象の発生を避けることは不可能
である。その結果、入力信号の印加方向により、同じ入
力信号値であってもガス流量V 1 ,V2 に差異を生ずる
ことになり、高精度な流量制御が基本的に出来ないと云
う問題がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、従前の高速
開閉型バルブを用いた流体の流量制御方法に於ける上述
の如き問題、即ちパルス幅の短かいパルス状の流れを
形成することが不可能であり、より高精度な流量制御が
出来ないこと、及びバルブの流量制御特性にヒステリ
シス現象が表われ、制御精度の向上に限界があること等
の問題を解決せんとするものであり、パルス状ガス流の
デューティ比α(α=パルス状ガス流が流れる時間/パ
ルス状ガス流の周期)を変えることにより、極めて高精
度な制御を可能とした流体の流量制御方法を提供するも
のである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本願発明は、高速開閉型
バルブを通し、流体をパルス状の流れとして供給する流
体供給システムに於いて、前記高速開閉型バルブを圧電
素子によりダイヤフラム弁体を駆動する圧電素子駆動式
ダイヤフラム型バルブとするとと共に、制御装置から前
記高速開閉型バルブの圧電素子駆動部へ加えるパルス入
力信号を調整し、前記高速開閉型バルブより流出するパ
ルス状流体のデューティー比αを変えることにより、供
給する流体の流量を制御することを発明の基本構成とす
るものである。
【0008】
【作用】制御装置から、所要流量に対応するパルス入力
信号Oが高速開閉型バルブの圧電素子駆動部へ入力され
ることにより、高速開閉型バルブを通して前記パルス入
力信号Oに対応したパルス状ガス流がガス供給対象へ供
給される。制御装置からの前記パルス入力信号Oの周波
数やパルス幅を調整することにより、パルス状ガス流の
周波数やパルス幅が変わり、所謂パルス状ガス流のデユ
ーティー比αが調整される。前記デューティー比αとガ
ス流量との関係は、各パルス状ガス流の形状が同一であ
るためヒステリシスの無い直線状特性となる。また、前
記デューティー比αは、パルス状ガス流の周波数を50
Hz程度まで高めることができるため、細かい範囲に亘
って調整することができる。その結果、より高速度な流
量制御が可能となる。
【0009】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の実施例を説明
する。図1は、半導体製造装置のプロセスチャンバー2
へのガス供給システムに本発明の流量制御方法を適用し
た場合を示すものであり、ガス供給対象であるプロセス
チャンバーへ供給するガスAの流れをパルス状A1 (又
はパフA2 )の形状とし、そのデューティー比αを調整
することにより、供給ガスの流量制御を行なうものであ
る。
【0010】図1に於いて、1は制御装置、2はガス供
給対象であるプロセスチャンバー、3は高速開閉型バル
ブ、4は真空ポンプ、Aは供給ガスである。前記制御装
置1は発振器1a、設定器1b、電源装置1c等より形
成されており、プロセスチャンバー2側から所望の流量
制御信号S1 が入力される。即ち、流量制御信号S1
入力されるか、若しくは設定器1bから設定流量信号S
2 が発信されると、発振器1aから前記入力信号S1
は入力信号S2 に対応するパルス信号P1 (又はパフ信
号P2 )が電源装置1cへ入力され、電源装置1cから
は、前記パルス信号P1 (又はパフ信号P2 )に対応し
たパルス入力信号O1 又はパフ入力信号O2 が、後述す
る高速開閉型バルブ3の圧電素子駆動部へ入力される。
【0011】電源装置1cからパルス入力信号O1 又は
パフ入力信号O2 が高速開閉型バルブ3へ供給され、こ
れによって高速開閉型バルブ3が作動すると、プロセス
チャンバー2へはパルス状のガス流A1 (又はパフ状の
ガス流A2 )が供給される。この時、後述する如く、発
振器1aからのパルス信号P1 (又はパフ信号P2 )を
変えると、パルス状ガス流A1 又はパフ状ガス流A2
デューティー比αが調整され、これによってプロセスチ
ャンバー2への供給ガス流量が制御される。
【0012】尚、本発明に於いては、図1のパルス信号
1 やパルス状ガス流A1 のように、一定の幅Wと一定
の高さHを有する信号又はガス流が連続的に繰り返し発
生する場合をパルス状と称呼し、また、図1の信号P2
やガス流A2 のように、一定の幅Wと一定の高さHを有
する信号又はガス流が間欠的に発生する場合を、パフ状
と称呼している。
【0013】また、本発明では、前記パルス状ガス流A
1 のデューティ比αを、α=流体が流れる時間TO /周
期T×100%で定義している。即ち、図1のパルス状
ガス流A1 に於いて、流体が流れる時間TO はパルス状
ガス流A1 のパルス幅Wであり、周期Tは繰り返し周波
数fの逆数である。
【0014】図2は、本発明の実施に使用する高速開閉
型バルブの一例を示すものである。図2に於いて、5は
弁座を有するバルブボディ、6はダイヤフラム弁体、7
は押えアダプター、8はダイヤフラム押え、9は押えガ
イド、10はボンネットナットである。また、11はダ
イヤフラム押えの上方に配設したピエゾ受け台、12は
ボール、13は圧電素子の保持ケース、14は圧電素子
(ピエゾ素子)、15はロックナット、16は位置決め
ナット、17はボール、18はボール受け、19はケー
ス、20はコネクター、21はケーブルである。
【0015】即ち、当該高速開閉型バルブ3は、所謂ダ
イヤフラム弁体6を弁座へ直接に接当させ且つダイヤフ
ラム弁体6の弾性力により複帰させる形式のダイヤフラ
ム弁と、圧電素子型のアクチエータを組み合せた圧電素
子駆動式ダイヤフラム型バルブに構成されており、前記
位置決めナット16の締込み量を変えることにより、ダ
イヤフラム弁体6の作動ストロークが微調整されるよう
になっている。また、当該高速開閉型バルブ3では、圧
電素子14の伸長によりダイヤフラム押え8にかかる下
向きの弁体作動力が、正確に軸芯と一致した方向となる
ように、圧電素子14の上端面とボール受け18及びピ
ェゾ受け台11とダイヤフレム押え8との間に夫々ボー
ル17、ボール18を介挿しており、これによって、ダ
イヤフラム弁体6の作動の安定化が計られている。更
に、当該高速開閉型バルブ3では、温度変化による流量
特性の変動を避けるため、圧電素子の保持ケース13、
位置決めナット16及びロックナット15等の総合的な
熱膨張係数が、ボール受け18、圧電素子14及びピェ
ゾ受け11等の総合熱膨張係数と等しくなるように、前
者の各部材の材料が選定されており、これによって、周
囲温度の変化による流量誤差の発生を防止している。
【0016】次に、本発明によるプロセスチャンバー2
への供給ガス流量の制御について説明する。図3は、前
記図1のガス供給システムに於けるパルス入力信号O1
(又はパルス信号P1 )とパルス状ガス流A1 の関係を
示す線図であり、所謂入力ー流量応答特性を示すもので
ある。即ち、当該図3はノーマルオープン型の図2に示
す高速開閉型バルブを用いて、温度20℃、流体N2
ス、一次側圧力0.4kgf/cm2 、二次側圧力0k
gf/cm2 (大気開放)、パルス入力信号O1 の周波
数5Hzの条件下で測定されたものであり、各パルス入
力信号O1 に対して、実質的に同形状のパルス状ガス流
1 が発生していることが判る。
【0017】また、図4は、前記図3の試験に供した高
速開閉型バルブ3の全開→全閉及び全閉→全開の過程に
於ける入力電圧と流量の関係を示す線図であり、パルス
入力信号O1 の周波数10Hz、一次側流体圧力1.0
kgf/cm2 、二次側大気開放、流体N2 ガス、周囲
温度20℃の条件下で測定をしたものである。即ち、図
4の曲線イは、図3に於けるA11に相当する部分の電圧
ー流量特性を、また、曲線ロは、図3に於けるA10に相
当する部分の電圧ー流量特性を夫々示すものである。
【0018】ところで、本発明の高速開閉型バルブ3に
於いては、図3に示す如くパルス入力信号O1 又はパル
ス信号P1 の形状が同一であれば、常に同一形状のパル
ス状ガス流A1 が得られる。また、一個のパルス状ガス
流A1 には、図4の曲線イ及び曲線ロに示すように流量
特性の異なる部分が夫々含まれるが、これらイ及びロで
表わされる1対の異なる流量特性部分は、夫々のパルス
状ガス流A1 の中に常に等しく含まれている。従って、
各パルス入力信号O1 又は入力信号P1 のパルス幅Wを
変化するか、若しくは各パルス入力信号O1 又は入力信
号P1 の周波数を変えることによって前記デューティー
比αを変えた場合のαー流量特性は、図5の様な形状と
なり、所謂直線状特性となる。
【0019】即ち、図5に於いて、実線部分はデューテ
ィー比αを0→100%とした場合を、また点線部分は
前記αを100→0%とした場合を表わしており、両者
は実質的に重なった状態となる。換言すれば、デューテ
ィー比αと流量との関係は、直線状で且つヒステリシス
の無い曲線となり、その結果、αを調整することにより
極めて高精度な流量制御が可能となる。尚、図5のα−
流量特性曲線は、前記図4と同じ条件下で試験した場合
のものである。
【0020】図6は、従来のエアーシリンダー駆動式ダ
イヤフラム型の高速開閉型バルブと、本発明で使用する
圧電素子駆動式ダイヤフラム型の高速開閉バルブの周波
数と流量比の関係を示すものであり、曲線Rは前者の、
また、曲線Jは後者の特性を夫々示すものである。即
ち、高速開閉型弁を作動せしめてパルス状流体A1 を流
通せしめた場合、パルス入力信号O1 の周波数が増加す
るとアクチエータの作動やダイヤフラム弁体の作動が信
号周波数に追従し得なくなり、流量比(実測流量値/理
論計算流量値)が増大して行く。例えば、前者では、パ
ルス入力信号O1 の周波数が1Hzを越えれば、流量比
が増大して弁のパルス状作動が追従しなくなるのに対
し、後者では、周波数が50Hz程度まで流量比が一定
値を示し、弁がパルス状作動に追従していることが判
る。
【0021】
【発明の効果】本発明に於いては、高速開閉型バルブと
して圧電素子駆動式ダイヤフラム型バルブを使用し、制
御装置からパルス状の入力信号を圧電素子へ印加するこ
とにより、圧電素子の高速で且つ大きな駆動力を利用し
てダイヤフラム弁体を開閉駆動する構成としている。そ
のため、高速開閉型バルブの作動性能が高まり、約50
Hz程度までの高速作動に追従することが可能となり、
パルス状ガス流の周波数を高めることにより、パルス幅
が小さくしかも波形に乱れのないパルス状ガス流を容易
に得ることができる。また、高速開閉型バルブを通して
流れる各パルス状ガス流は常に一定の形状を保ってお
り、且つ一つのパルス状ガス流には、ガス流の立上り部
と立下り部とが常に対として含まれている。そのため、
パルス状ガス流のデューティー比とガス流量との関係は
ヒステリシスの無い直線状の関係となる。その結果、高
速開閉型バルブの圧電式駆動部へのパルス入力信号のパ
ルス幅や周期を変えてパルス状ガス流のデューティー比
αを調整することにより、パルス状ガス流の総合である
ガス流量を極めて高精度で制御することが可能となる。
また、従前のエアー駆動式高速開閉型弁を使用した場合
に比較して、開閉作動時の振動音等が皆無になると共
に、空気配管も不要になり、前記流量制御性以外の部分
に於いても優れた実用的効用を有している。上述の如
く、本発明は、パルス状ガス流の供給や短時間のパフ状
ガス流の供給を必要とする半導体製造装置のガス供給シ
ステム等に於いても、特に優れた効用を奏するものであ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る流体の流量制御方法を適用したガ
ス供給システムの系統図を示すものである。
【図2】本発明で使用する高速開閉型バルブの縦断面図
である。
【図3】パルス入力信号とパルス状ガス流の関係を示す
線図である。
【図4】本発明で使用する高速開閉型バルブの入力電圧
と流量の関係を示す線図である。
【図5】本発明で使用する高速開閉型バルブのデューテ
ィー比αと流量との関係線図である。
【図6】従前のエアーシリンダー駆動式ダイヤフラム型
高速開閉弁と本発明の圧電素子駆動式ダイヤフラム型高
速開閉型との周波数ー流量比特性を示すものである。
【図7】従前のエアーシリンダー駆動式ダイヤフラム型
高速開閉弁を用いたガス供給システムの一例を示すもの
である。
【図8】従前のエアーシリンダー駆動式ダイヤフラム型
高速開閉弁の流量特性を示すものである。
【符号の説明】
Aはガス、A1 はパルス状ガス流、A2 はパフ状ガス
流、αはデューティー比、S1 は流量制御信号、S2
設定流量信号、P1 はパルス信号、O1 はパルス入力信
号、P2 はパフ信号、O2 はパフ入力信号、1は制御装
置、1aは発振器、1bは設定器、1cは電源装置、2
はガス供給対象(プロセスチャンバー)、3は高速開閉
型バルブ、4は真空ポンプ、5はバルブボディー、6は
ダイヤフラム弁体、7は押えアダプター、8はダイヤフ
ラム押え、9は押えガイド、10はボンネットナット、
11はピエゾ受台、12はボール、13は圧電素子の保
持ケース、14は圧電素子、15はロックナット、16
は位置決めナット、17はボール、18はボール受け、
19はケース、20はコネクター、21はケーブル。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 高速開閉型バルブを通し、流体をパルス
    状の流れとして供給する流体供給システムに於いて、前
    記高速開閉型バルブを圧電素子によりダイヤフラム弁体
    を駆動する圧電素子駆動式ダイヤフラム型バルブとする
    と共に、制御装置から前記高速開閉型バルブの圧電素子
    駆動部へ加えるパルス入力信号を調整し、前記高速開閉
    型バルブより流出するパルス状流体のデューティー比α
    を変えることにより、供給する流体の流量を制御するこ
    とを特徴とする流体の流量制御方法。
  2. 【請求項2】 パルス入力信号の周期Tを変えることに
    より、パルス状流体のデューティー比αを変えるように
    した請求項1に記載の流体の流量制御方法。
  3. 【請求項3】 パルス入力信号のパルス幅Wを変えるこ
    とにより、パルス状流体のデューティー比αを変えるよ
    うにした請求項1に記載の流体の流量制御方法。
JP10553594A 1994-05-19 1994-05-19 流体の流量制御方法 Pending JPH07310841A (ja)

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JP10553594A JPH07310841A (ja) 1994-05-19 1994-05-19 流体の流量制御方法

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11280932A (ja) * 1998-03-31 1999-10-15 Taiheiyo Cement Corp 駆動装置
JP2013134166A (ja) * 2011-12-27 2013-07-08 Horiba Ltd 模擬ガス供給装置
WO2019230029A1 (ja) * 2018-05-28 2019-12-05 株式会社島津製作所 パルスガスバルブ検査装置

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