JPH07311281A - 非接触式物体検出装置及びその物体検出方法 - Google Patents
非接触式物体検出装置及びその物体検出方法Info
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- JPH07311281A JPH07311281A JP6124687A JP12468794A JPH07311281A JP H07311281 A JPH07311281 A JP H07311281A JP 6124687 A JP6124687 A JP 6124687A JP 12468794 A JP12468794 A JP 12468794A JP H07311281 A JPH07311281 A JP H07311281A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 投光部及び検出手段の数を減らして構造を簡
略化し、メンテナンスを容易にするとともに、消費電力
も少なく、かつ判別精度の向上等を図ることが可能な非
接触式物体検出装置及びその検出方法を提供する。 【構成】 投光部２より照射された平行ビーム１を、複
数の反射鏡４ａ〜４ｅを用いて屈折反射させて被検知物
の周囲を多角的に取り囲むように案内し、この平行ビー
ムで囲まれた部分を検出領域Ｄとするとともに、前記検
出領域外に位置する前記平行ビームが反射の途中で遮光
されたか否かを検出するための手段を設け、途中で前記
平行ビームが遮光されているか否かによって前記被検知
物が前記検出領域内の所定の位置に配置されているどう
か等を検出する。
略化し、メンテナンスを容易にするとともに、消費電力
も少なく、かつ判別精度の向上等を図ることが可能な非
接触式物体検出装置及びその検出方法を提供する。 【構成】 投光部２より照射された平行ビーム１を、複
数の反射鏡４ａ〜４ｅを用いて屈折反射させて被検知物
の周囲を多角的に取り囲むように案内し、この平行ビー
ムで囲まれた部分を検出領域Ｄとするとともに、前記検
出領域外に位置する前記平行ビームが反射の途中で遮光
されたか否かを検出するための手段を設け、途中で前記
平行ビームが遮光されているか否かによって前記被検知
物が前記検出領域内の所定の位置に配置されているどう
か等を検出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、非接触式物体検出装置
及びその検出方法に関するものである。
及びその検出方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、被検知物を検出するのに、ベルト
状をした平行ビームを照射する投光部と、この投光部か
らの平行ビームを受光する受光部を備えた非接触式の物
体検出装置を用いて行う方法がある。
状をした平行ビームを照射する投光部と、この投光部か
らの平行ビームを受光する受光部を備えた非接触式の物
体検出装置を用いて行う方法がある。
【０００３】図９は、従来の物体検出装置の一例を模式
的に示すのである。図９において、この物体検出装置
は、ベルト状をした平行ビーム５１を照射する投光部５
２と、この投光部５２からの平行ビーム５１を受光する
受光部５３とで成る検出手段を４組備え、これを「＃」
状に配設、すなわち２組の検出手段を互いに平行に離し
て前後方向に配設するとともに、残りの２組の検出手段
を互いに平行に離し、かつ前後方向に配設された検出手
段と略直角に交差させて左右方向に配設して成り、４つ
の平行ビーム５１が交差した点Ｓ1，Ｓ2，Ｓ3，Ｓ4で囲
まれた領域内を検出領域Ｄとしている。
的に示すのである。図９において、この物体検出装置
は、ベルト状をした平行ビーム５１を照射する投光部５
２と、この投光部５２からの平行ビーム５１を受光する
受光部５３とで成る検出手段を４組備え、これを「＃」
状に配設、すなわち２組の検出手段を互いに平行に離し
て前後方向に配設するとともに、残りの２組の検出手段
を互いに平行に離し、かつ前後方向に配設された検出手
段と略直角に交差させて左右方向に配設して成り、４つ
の平行ビーム５１が交差した点Ｓ1，Ｓ2，Ｓ3，Ｓ4で囲
まれた領域内を検出領域Ｄとしている。
【０００４】そして、この物体検出装置では、検出領域
Ｄ内に配置される被検知物６０（図９に２点鎖線で示
す）が、検出領域Ｄ内に正しく配置されている場合には
平行ビーム５１は遮断されることがないが、検出領域Ｄ
内に正しく配置されずに検出領域Ｄ内よりはみ出した状
態にあると、被検知物６０が平行ビーム５１の一部を遮
光することになり、これが受光部５３で検出され、検出
領域Ｄ内に配置されていないことが認識されるようにな
っている。
Ｄ内に配置される被検知物６０（図９に２点鎖線で示
す）が、検出領域Ｄ内に正しく配置されている場合には
平行ビーム５１は遮断されることがないが、検出領域Ｄ
内に正しく配置されずに検出領域Ｄ内よりはみ出した状
態にあると、被検知物６０が平行ビーム５１の一部を遮
光することになり、これが受光部５３で検出され、検出
領域Ｄ内に配置されていないことが認識されるようにな
っている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の物体検出装置では、投光部５２と受光部５３と
でなる検出手段を４組必要とするので、これら４組の検
出手段を配置するためのスペースを多く必要とすると言
う問題点があった。また、４つの検出手段を用いるの
で、これらを処理するための電気回路部品が多くなって
複雑化するとともに、さらには消費電力も大きく、コス
トも高くなっていると言う問題点があった。
た従来の物体検出装置では、投光部５２と受光部５３と
でなる検出手段を４組必要とするので、これら４組の検
出手段を配置するためのスペースを多く必要とすると言
う問題点があった。また、４つの検出手段を用いるの
で、これらを処理するための電気回路部品が多くなって
複雑化するとともに、さらには消費電力も大きく、コス
トも高くなっていると言う問題点があった。
【０００６】本発明は、上記問題点に鑑みてなされたも
のであり、その目的は検出手段の数を減らして構造を簡
略化し、メンテナンスを容易にするとともに、消費電力
を低減させ、かつ判別精度の向上等を図ることが可能な
非接触式物体検出装置及びその検出方法を提供すること
にある。さらに、他の目的は、以下に説明する内容の中
で順次明らかにして行く。
のであり、その目的は検出手段の数を減らして構造を簡
略化し、メンテナンスを容易にするとともに、消費電力
を低減させ、かつ判別精度の向上等を図ることが可能な
非接触式物体検出装置及びその検出方法を提供すること
にある。さらに、他の目的は、以下に説明する内容の中
で順次明らかにして行く。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この目的は、本発明で
は、構造にあっては、ベルト状をした平行ビームを照射
する投光部と、前記平行ビームを受光する受光部を備え
た非接触式物体検出装置において、前記投光部より照射
された平行ビームを、被検知物の周囲を多角的に取り囲
むように案内した後、前記受光部に案内する複数の反射
鏡を備えた構成とすることによって達成される。
は、構造にあっては、ベルト状をした平行ビームを照射
する投光部と、前記平行ビームを受光する受光部を備え
た非接触式物体検出装置において、前記投光部より照射
された平行ビームを、被検知物の周囲を多角的に取り囲
むように案内した後、前記受光部に案内する複数の反射
鏡を備えた構成とすることによって達成される。
【０００８】一方、その方法にあっては、ベルト状をし
た平行ビームを照射する投光部と、前記平行ビームを受
光する受光部を備えた非接触式物体検出方法において、
前記投光部より照射された平行ビームを、複数の反射鏡
を用いて順次屈曲反射させて被検知物の周囲を多角的に
取り囲むように案内し、この平行ビームで囲まれた内側
を検出領域とするとともに、前記平行ビームが反射の途
中で遮光されたか否かを検出するための手段を設け、途
中で前記平行ビームが遮光されているか否かによって前
記被検知物を検出するようにして達成される。
た平行ビームを照射する投光部と、前記平行ビームを受
光する受光部を備えた非接触式物体検出方法において、
前記投光部より照射された平行ビームを、複数の反射鏡
を用いて順次屈曲反射させて被検知物の周囲を多角的に
取り囲むように案内し、この平行ビームで囲まれた内側
を検出領域とするとともに、前記平行ビームが反射の途
中で遮光されたか否かを検出するための手段を設け、途
中で前記平行ビームが遮光されているか否かによって前
記被検知物を検出するようにして達成される。
【０００９】
【作用】これによれば、投光部より照射された平行ビー
ムを、複数の反射鏡を用いて屈折反射させて被検知物の
周囲を多角的に取り囲むように案内し、この平行ビーム
で囲まれた内側を検出領域とするとともに、平行ビーム
が反射の途中で遮光されたか否かを検出することによっ
て被検知物の位置等を検出することができるので、投光
部と受光部は１つで済むことになる。これにより構造が
簡略化され、また消費電力の少ない非接触式の物体検出
装置及びその検出方法が得られることになる。
ムを、複数の反射鏡を用いて屈折反射させて被検知物の
周囲を多角的に取り囲むように案内し、この平行ビーム
で囲まれた内側を検出領域とするとともに、平行ビーム
が反射の途中で遮光されたか否かを検出することによっ
て被検知物の位置等を検出することができるので、投光
部と受光部は１つで済むことになる。これにより構造が
簡略化され、また消費電力の少ない非接触式の物体検出
装置及びその検出方法が得られることになる。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を用いて
詳細に説明する。図１は、本発明に係る物体検出装置に
おける光学原理図を示すものである。図１において、こ
の物体検出装置では、幅Ｗで作られるベルト状をした平
行ビーム１を照射する投光部２と、受光素子（不図示）
を有した受光部３と、中心Ｏを投光部２より照射された
平行ビーム１が多角的（本実施例では正六角形）に取り
囲むようにして案内した後、受光部３に導く、５枚の平
面反射鏡４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄ，４ｅとを備え、投光
部２より照射された平行ビーム１が平面反射鏡４ａ，４
ｂ，４ｃ，４ｄ，４ｅでそれぞれ光路が屈曲されて、最
終的には受光部３に入射される構造になっており、平面
反射鏡４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄ，４ｅ中心上の各点ｂ，
ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇを順次結んだ線で囲まれる多角閉領
域（本実施例では正六角形）の内部を「検出領域Ｄ」と
している。なお、ここで、検知領域Ｄが平行ビーム１の
幅Ｗの約２分の１よりも内側に形成されるということ
は、被検知物と平面反射鏡とが干渉しないために実用上
大変好ましいことである。また、本実施例での投光部２
の光軸と受光部３の光軸との交差角度θ6は１２０度で
ある。さらに、中心Ｏから各頂角（点ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，
ｆ，ｇ）までの距離は等しく、入射角と反射角もそれぞ
れ等しくなるように構成させている。
詳細に説明する。図１は、本発明に係る物体検出装置に
おける光学原理図を示すものである。図１において、こ
の物体検出装置では、幅Ｗで作られるベルト状をした平
行ビーム１を照射する投光部２と、受光素子（不図示）
を有した受光部３と、中心Ｏを投光部２より照射された
平行ビーム１が多角的（本実施例では正六角形）に取り
囲むようにして案内した後、受光部３に導く、５枚の平
面反射鏡４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄ，４ｅとを備え、投光
部２より照射された平行ビーム１が平面反射鏡４ａ，４
ｂ，４ｃ，４ｄ，４ｅでそれぞれ光路が屈曲されて、最
終的には受光部３に入射される構造になっており、平面
反射鏡４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄ，４ｅ中心上の各点ｂ，
ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇを順次結んだ線で囲まれる多角閉領
域（本実施例では正六角形）の内部を「検出領域Ｄ」と
している。なお、ここで、検知領域Ｄが平行ビーム１の
幅Ｗの約２分の１よりも内側に形成されるということ
は、被検知物と平面反射鏡とが干渉しないために実用上
大変好ましいことである。また、本実施例での投光部２
の光軸と受光部３の光軸との交差角度θ6は１２０度で
ある。さらに、中心Ｏから各頂角（点ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，
ｆ，ｇ）までの距離は等しく、入射角と反射角もそれぞ
れ等しくなるように構成させている。
【００１１】図２は投光部２と受光部３とを用いて被検
知物を測定する測定器における測定原理図の一例であ
る。この測定器において、投光部２は半導体レーザ光を
照射するレーザ光照射器２１と、このレーザ光照射器２
１より照射されたレーザ光をベルト状をした平行ビーム
に変換して投光部２より送り出すコリメータレンズユニ
ット２２とで構成されている。一方、受光部３は、受光
素子３１と、スリット３２と、このスリット３２を通過
した平行ビーム１を受光素子３１に集光させる受光レン
ズユニット３３とで構成されている。また、受光素子３
１の出力は、比較演算器４１、，Ａ／Ｄコンバータ４
２、ディジタル演算器４３、データ表示器４４に順次入
力される。そして、この測定器では、投光部２のレーザ
光照射器２１より照射されたレーザ光は、コリメータレ
ンズユニット２２で平行ビーム１に変換されて送り出さ
れ、受光部３側のスリット３２を通過後、受光レンズユ
ニット３３を通って受光素子３１に集光される。する
と、受光素子３１では、この平行なレーザ光エリア内の
対象物の影を光量変化として捉え、これが受光素子３１
よりアナログ電圧出力として取り出される。また、この
アナログ電圧出力は比較演算回路４１で設定値と比較さ
れ、上下限設定値と比較されて良否（ＯＫ／ＮＧ）を判
定する。同時に、アナログ電圧出力がＡ／Ｄコンバータ
４２、ディジタル演算器４３、データ表示器４４に入力
されて、このデータ表示器４４で上下限値設定、ピーク
・ボトム・ピークからピークまで値も瞬時にホールド表
示できるとともに、任意のサンプリングも表示できる。
知物を測定する測定器における測定原理図の一例であ
る。この測定器において、投光部２は半導体レーザ光を
照射するレーザ光照射器２１と、このレーザ光照射器２
１より照射されたレーザ光をベルト状をした平行ビーム
に変換して投光部２より送り出すコリメータレンズユニ
ット２２とで構成されている。一方、受光部３は、受光
素子３１と、スリット３２と、このスリット３２を通過
した平行ビーム１を受光素子３１に集光させる受光レン
ズユニット３３とで構成されている。また、受光素子３
１の出力は、比較演算器４１、，Ａ／Ｄコンバータ４
２、ディジタル演算器４３、データ表示器４４に順次入
力される。そして、この測定器では、投光部２のレーザ
光照射器２１より照射されたレーザ光は、コリメータレ
ンズユニット２２で平行ビーム１に変換されて送り出さ
れ、受光部３側のスリット３２を通過後、受光レンズユ
ニット３３を通って受光素子３１に集光される。する
と、受光素子３１では、この平行なレーザ光エリア内の
対象物の影を光量変化として捉え、これが受光素子３１
よりアナログ電圧出力として取り出される。また、この
アナログ電圧出力は比較演算回路４１で設定値と比較さ
れ、上下限設定値と比較されて良否（ＯＫ／ＮＧ）を判
定する。同時に、アナログ電圧出力がＡ／Ｄコンバータ
４２、ディジタル演算器４３、データ表示器４４に入力
されて、このデータ表示器４４で上下限値設定、ピーク
・ボトム・ピークからピークまで値も瞬時にホールド表
示できるとともに、任意のサンプリングも表示できる。
【００１２】次に、本実施例における物体検出装置にお
いて、被検知物を検出する場合は、例えば被検知物とし
て検出領域Ｄ内に納まる大きさをした物が用意され、こ
れが検出領域Ｄの中心Ｏに配置する。このときの平行ビ
ーム１を受光素子３１を介して検出し、検出領域Ｄの外
側に被検知物の一部がはみ出ていない場合には所定の位
置に配置されていると判定し、はみ出ている場合は所定
の位置に配置されていないと判定するもので、こうする
ことにより六角形をした検出領域Ｄの全周域に渡って、
被検知物が検出領域Ｄよりはみ出していないかどうかを
瞬時に判定することができる。
いて、被検知物を検出する場合は、例えば被検知物とし
て検出領域Ｄ内に納まる大きさをした物が用意され、こ
れが検出領域Ｄの中心Ｏに配置する。このときの平行ビ
ーム１を受光素子３１を介して検出し、検出領域Ｄの外
側に被検知物の一部がはみ出ていない場合には所定の位
置に配置されていると判定し、はみ出ている場合は所定
の位置に配置されていないと判定するもので、こうする
ことにより六角形をした検出領域Ｄの全周域に渡って、
被検知物が検出領域Ｄよりはみ出していないかどうかを
瞬時に判定することができる。
【００１３】なお、この検出領域Ｄを作る方法として
は、これ以外にも例えば図３乃至図５に示すように、
（ｎ−１）個の平面反射鏡を用いることによりｎ角形の
検出領域Ｄを作ることができるものである。すなわち、
（１）図３に示す場合では２枚の平面反射鏡４ａ，４ｂ
を用いて正三角形の検出領域Ｄ3が作られており、この
場合の投光部２の光軸と受光部３の光軸との交差角度θ
3は６０度である。 （２）図４に示す場合では３枚の平面反射鏡４ａ，４
ｂ，４ｃを用いて正四角形の検出領域Ｄ4が作られてお
り、この場合の投光部２の光軸と受光部３の光軸との交
差角度θ4は９０度である。 （３）図５に示す場合では３枚の平面反射鏡４ａ，４
ｂ，４ｃ，４ｄを用いて正五角形の検出領域Ｄ5が作ら
れており、この場合の投光部２の光軸と受光部３の光軸
との交差角度θ5は１０８度である。
は、これ以外にも例えば図３乃至図５に示すように、
（ｎ−１）個の平面反射鏡を用いることによりｎ角形の
検出領域Ｄを作ることができるものである。すなわち、
（１）図３に示す場合では２枚の平面反射鏡４ａ，４ｂ
を用いて正三角形の検出領域Ｄ3が作られており、この
場合の投光部２の光軸と受光部３の光軸との交差角度θ
3は６０度である。 （２）図４に示す場合では３枚の平面反射鏡４ａ，４
ｂ，４ｃを用いて正四角形の検出領域Ｄ4が作られてお
り、この場合の投光部２の光軸と受光部３の光軸との交
差角度θ4は９０度である。 （３）図５に示す場合では３枚の平面反射鏡４ａ，４
ｂ，４ｃ，４ｄを用いて正五角形の検出領域Ｄ5が作ら
れており、この場合の投光部２の光軸と受光部３の光軸
との交差角度θ5は１０８度である。
【００１４】また、検出領域Ｄの検出精度は次の表１に
示す通りで、この表１から角数ｎが高くなればなる程、
内接円５に接近して行き、その精度が高くなることが判
る。なお、表１中において、Σnは誤差であり、この誤
差Σnは図３，図４、及び図５の符号Ｏｄ間の距離と符
号Ｏｈ間の距離との差、すなわち（Ｏｄ−Ｏｈ）を見た
もので、また最下段の精度幅は角部における最悪値を示
しているものである。
示す通りで、この表１から角数ｎが高くなればなる程、
内接円５に接近して行き、その精度が高くなることが判
る。なお、表１中において、Σnは誤差であり、この誤
差Σnは図３，図４、及び図５の符号Ｏｄ間の距離と符
号Ｏｈ間の距離との差、すなわち（Ｏｄ−Ｏｈ）を見た
もので、また最下段の精度幅は角部における最悪値を示
しているものである。
【００１５】
【００１６】図６及び図７は本発明に係る物体検出装置
の具体例を示すもので、図６はその装置の要部を示す平
面図、図７はその装置のＡ−Ａ線に沿う側面図である。
図６及び図７において図１乃至図５と同一符号を付した
ものは図１乃至図５と同一のものを示している。図６及
び図７において、符号１１はコンベア部で、２１は上記
投光部２と受光部３と平面反射鏡４ａ〜４ｅ等を有した
検出部である。コンベア部１１は、図示せぬモータの回
転をベルト１２を介して受けて同方向に回転される複数
のローラ１３上に載置されて、このローラ１３により間
欠的に移送される複数の移送基板１４を有している。ま
た、移送基板１４の移動量は進退出される位置決めスト
ッパー１７により規制され、規制される毎に移送基板１
４が停止される。移送基板１４上には設定治具１５が取
り付けられており、この設定治具１５を介して被検知物
１６が移送基板１４毎にセットされ、これが移送基板１
４と共に検出位置に搬送されて、その検出位置で検出部
２１により、被検知物１６におけるリード不定形状１６
ａの位置が検出される。さらに、コンベア部１４上に
は、このコンベア部１１上の移送基板１４が検出位置に
向かって所定の位置まで移動されたことを検出するため
の移送物検出センサ１９ａ，１９ｂ（図６参照）が、移
送基板１４の移送路を挟んで対向し合う位置にそれぞれ
設けられている。
の具体例を示すもので、図６はその装置の要部を示す平
面図、図７はその装置のＡ−Ａ線に沿う側面図である。
図６及び図７において図１乃至図５と同一符号を付した
ものは図１乃至図５と同一のものを示している。図６及
び図７において、符号１１はコンベア部で、２１は上記
投光部２と受光部３と平面反射鏡４ａ〜４ｅ等を有した
検出部である。コンベア部１１は、図示せぬモータの回
転をベルト１２を介して受けて同方向に回転される複数
のローラ１３上に載置されて、このローラ１３により間
欠的に移送される複数の移送基板１４を有している。ま
た、移送基板１４の移動量は進退出される位置決めスト
ッパー１７により規制され、規制される毎に移送基板１
４が停止される。移送基板１４上には設定治具１５が取
り付けられており、この設定治具１５を介して被検知物
１６が移送基板１４毎にセットされ、これが移送基板１
４と共に検出位置に搬送されて、その検出位置で検出部
２１により、被検知物１６におけるリード不定形状１６
ａの位置が検出される。さらに、コンベア部１４上に
は、このコンベア部１１上の移送基板１４が検出位置に
向かって所定の位置まで移動されたことを検出するため
の移送物検出センサ１９ａ，１９ｂ（図６参照）が、移
送基板１４の移送路を挟んで対向し合う位置にそれぞれ
設けられている。
【００１７】検出部２１は、正六角形の検出領域Ｄを形
成する状態にして上記平面反射鏡４ａ〜４ｅを保持基板
２２上に配してなる反射鏡ユニット２３と、この反射鏡
ユニット２３と一体化された第１の保持体２４と、投光
部２及び受光部３が締結ネジ２５を介して各々固定され
ている第２の保持体２６と、第１の保持体２４と第２の
保持体２６が固定されている垂直昇降基板２７等で形成
されている。また、垂直昇降基板２７は、図示せぬ機構
によりコンベア部１１に対して上下高さ方向に移動可能
で、この移動時に第１，第２の保持体２４，２６も上下
方向に一体に移動される。なお、図８中で符号２８で示
す凹部は、反射鏡４ａ〜４ｅが取り付けられる面を高精
度に形成するための逃げ溝である。
成する状態にして上記平面反射鏡４ａ〜４ｅを保持基板
２２上に配してなる反射鏡ユニット２３と、この反射鏡
ユニット２３と一体化された第１の保持体２４と、投光
部２及び受光部３が締結ネジ２５を介して各々固定され
ている第２の保持体２６と、第１の保持体２４と第２の
保持体２６が固定されている垂直昇降基板２７等で形成
されている。また、垂直昇降基板２７は、図示せぬ機構
によりコンベア部１１に対して上下高さ方向に移動可能
で、この移動時に第１，第２の保持体２４，２６も上下
方向に一体に移動される。なお、図８中で符号２８で示
す凹部は、反射鏡４ａ〜４ｅが取り付けられる面を高精
度に形成するための逃げ溝である。
【００１８】次に、この物体検出装置の動作を説明す
る。まず、被検知物１６が移送基板１４で搬送されて来
るとき、垂直昇降基板２７は上方に移動され、被検知物
１６が移送基板１４と共に送られて来るのに邪魔となら
ない位置に配置されている。
る。まず、被検知物１６が移送基板１４で搬送されて来
るとき、垂直昇降基板２７は上方に移動され、被検知物
１６が移送基板１４と共に送られて来るのに邪魔となら
ない位置に配置されている。
【００１９】そして、移送基板１４はローラ１３により
図６及び図７中で矢印１８方向に移送され、所定の位置
まで搬送されると移送物検出センサ１９ａ，１９ｂによ
り移送基板１４が検出される。すると、図示せぬ手段に
より位置決めストッパー１７が移送基板１４の移送路前
方に、突出しこの先端側に当接されて、移送基板１４を
この検出位置で停止させる。また、位置決めストッパー
１７が突出されるのと同時に検出部２１のセンサスイッ
チもオンされ、投光部２より平行ビーム１が照射されて
検出領域Ｄが形成される。
図６及び図７中で矢印１８方向に移送され、所定の位置
まで搬送されると移送物検出センサ１９ａ，１９ｂによ
り移送基板１４が検出される。すると、図示せぬ手段に
より位置決めストッパー１７が移送基板１４の移送路前
方に、突出しこの先端側に当接されて、移送基板１４を
この検出位置で停止させる。また、位置決めストッパー
１７が突出されるのと同時に検出部２１のセンサスイッ
チもオンされ、投光部２より平行ビーム１が照射されて
検出領域Ｄが形成される。
【００２０】次いで、被検知物１６のリード不定形状１
６ａが検出領域Ｄで囲まれるまで、検出部２１の垂直昇
降基板２７が下降され、上述したようにして検出領域Ｄ
内を瞬時に判別する。その後、垂直昇降基板２７が上昇
するとともに、位置決めストッパー１７が下降される。
すると、同時に計測済みの移送基板１４が矢印１８の方
向に移送され、次の移送基板１４が移動して来て、前と
同じ一連の動作が繰り返し行われる。
６ａが検出領域Ｄで囲まれるまで、検出部２１の垂直昇
降基板２７が下降され、上述したようにして検出領域Ｄ
内を瞬時に判別する。その後、垂直昇降基板２７が上昇
するとともに、位置決めストッパー１７が下降される。
すると、同時に計測済みの移送基板１４が矢印１８の方
向に移送され、次の移送基板１４が移動して来て、前と
同じ一連の動作が繰り返し行われる。
【００２１】したがって、この実施例の構造によれば、
一対の投光部２と受光部３とで済むことになり、これに
伴って電気回路や機構が簡略される。これにより、全体
の構造が簡略化されて部品も減り、コストを下げること
ができる。同時に小形化が可能になる。また、全周に渡
って同一の平行ビーム（レーザー光）でまかなうことが
できるので、感度ムラも無く、高精度の検知・検出が可
能になり、高速化及び高精度（高分解能）化が可能にな
る。これは検出領域Ｄを多角化することによつて、さら
に精度を上げることが可能になる。なお、本実施例で
は、平面反射鏡４ａ〜４ｅを反射鏡ユニット２３の内面
に取り付けた構造を開示したが、反射鏡ユニット２３の
内面に蒸着等によって一体に形成しても差し支えないも
のである。
一対の投光部２と受光部３とで済むことになり、これに
伴って電気回路や機構が簡略される。これにより、全体
の構造が簡略化されて部品も減り、コストを下げること
ができる。同時に小形化が可能になる。また、全周に渡
って同一の平行ビーム（レーザー光）でまかなうことが
できるので、感度ムラも無く、高精度の検知・検出が可
能になり、高速化及び高精度（高分解能）化が可能にな
る。これは検出領域Ｄを多角化することによつて、さら
に精度を上げることが可能になる。なお、本実施例で
は、平面反射鏡４ａ〜４ｅを反射鏡ユニット２３の内面
に取り付けた構造を開示したが、反射鏡ユニット２３の
内面に蒸着等によって一体に形成しても差し支えないも
のである。
【００２２】
【発明の効果】以上説明したとおり、本発明によれば、
投光部より照射された平行ビームを、複数の反射鏡を用
いて屈折反射させて被検知物の周囲を多角的に取り囲む
ように案内し、この平行ビームで囲まれた内側を検出領
域とするとともに、平行ビームが反射の途中で遮光され
たか否かを検出することによって被検知物の位置等を検
出することができるので、投光部と受光部は１つで済
む。これにより構造が簡略化されるとともに、メンテナ
ンスも容易となり、消費電力の少ない非接触式の物体検
出装置及びその検出方法が得られることになる。
投光部より照射された平行ビームを、複数の反射鏡を用
いて屈折反射させて被検知物の周囲を多角的に取り囲む
ように案内し、この平行ビームで囲まれた内側を検出領
域とするとともに、平行ビームが反射の途中で遮光され
たか否かを検出することによって被検知物の位置等を検
出することができるので、投光部と受光部は１つで済
む。これにより構造が簡略化されるとともに、メンテナ
ンスも容易となり、消費電力の少ない非接触式の物体検
出装置及びその検出方法が得られることになる。
【図１】本発明に係る物体検出装置における光学原理図
を示す図である。
を示す図である。
【図２】本発明に係る物体検出装置に使用する測定器に
おける測定原理の一例を示す図である。
おける測定原理の一例を示す図である。
【図３】本発明の一変形例を示す模式図である。
【図４】本発明の他の変形例を示す模式図である。
【図５】本発明のさらに他の変形例を示す模式図であ
る。
る。
【図６】本発明に係る物体検出装置の具体的な構造を示
す平面図である。
す平面図である。
【図７】図６のＡ−Ａ線に沿う側面図である。
【図８】図７のＢ−Ｂ線に沿う要部平面図である。
【図９】従来の物体検出装置の一例を示す模式図であ
る。
る。
１ 平行ビーム ２ 投光部 ３ 受光部 ４ａ〜４ｅ 平面反射鏡 ８ 被検知物 １１ コンベア部（搬送手段） ２１ 検出部 Ｄ 検出領域
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 // Ｇ０１Ｂ 11/00 Ａ
Claims (4)
- 【請求項１】 ベルト状をした平行ビームを照射する投
光部と、前記平行ビームを受光する受光部を備えた非接
触式物体検出装置において、 前記投光部より照射された平行ビームを、被検知物の周
囲を多角的に取り囲むように案内した後、前記受光部に
案内する複数の反射鏡を備えたことを特徴とする非接触
式物体検出装置。 - 【請求項２】 平面状の前記反射鏡を（ｎ−１）個配し
てｎ角形の検出領域を形成してなる請求項１に記載の非
接触式物体検出装置。 - 【請求項３】 ベルト状をした平行ビームを照射する投
光部と、前記平行ビームを受光する受光部を備えた非接
触式物体検出装置において、 被検知物を検出位置に搬送するための搬送手段と、 前記投光部と前記受光部とを有するとともに、前記投光
部より照射されたビームを、被検知物の周囲を多角的に
取り囲むように案内した後、前記受光部に案内する複数
の反射鏡とを有する検出手段と、 前記検出位置に配置された前記被検知物に対して移動さ
れて、前記被検知物を前記ビームで囲まれた検出領域内
に出し入れするための手段、 とを備えたことを特徴とする非接触式物体検出装置。 - 【請求項４】 ベルト状をした平行ビームを照射する投
光部と、前記平行ビームを受光する受光部を備えた非接
触式物体検出方法において、 前記投光部より照射された平行ビームを、複数の反射鏡
を用いて順次屈曲反射させて被検知物の周囲を多角的に
取り囲むように案内し、この平行ビームで囲まれた内側
を検出領域とするとともに、前記平行ビームが反射の途
中で遮光されたか否かを検出するための手段を設け、途
中で前記平行ビームが遮光されているか否かによって前
記被検知物を検出するようにしたことを特徴とする非接
触式物体検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6124687A JPH07311281A (ja) | 1994-05-16 | 1994-05-16 | 非接触式物体検出装置及びその物体検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6124687A JPH07311281A (ja) | 1994-05-16 | 1994-05-16 | 非接触式物体検出装置及びその物体検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07311281A true JPH07311281A (ja) | 1995-11-28 |
Family
ID=14891602
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6124687A Pending JPH07311281A (ja) | 1994-05-16 | 1994-05-16 | 非接触式物体検出装置及びその物体検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07311281A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011164034A (ja) * | 2010-02-14 | 2011-08-25 | Univ Of Tsukuba | 閉空間提示計測装置 |
-
1994
- 1994-05-16 JP JP6124687A patent/JPH07311281A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011164034A (ja) * | 2010-02-14 | 2011-08-25 | Univ Of Tsukuba | 閉空間提示計測装置 |
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