JPH07311344A - 顕微鏡 - Google Patents

顕微鏡

Info

Publication number
JPH07311344A
JPH07311344A JP2916395A JP2916395A JPH07311344A JP H07311344 A JPH07311344 A JP H07311344A JP 2916395 A JP2916395 A JP 2916395A JP 2916395 A JP2916395 A JP 2916395A JP H07311344 A JPH07311344 A JP H07311344A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
objective lens
stage
sample
optical system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2916395A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2655578B2 (ja
Inventor
Makoto Yoshinaga
允 吉永
Yoichi Iba
陽一 井場
Noriyuki Miyahara
則行 宮原
Masami Kawasaki
正美 川崎
Akimasa Morita
晃正 森田
Takashi Nagano
隆 長野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP7029163A priority Critical patent/JP2655578B2/ja
Publication of JPH07311344A publication Critical patent/JPH07311344A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2655578B2 publication Critical patent/JP2655578B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 装置全体をコンパクト化できると共に、光路
長の変化量を小さくすることで観察光学系がアフォーカ
ル系の場合でも瞳がケラれにくく、アイポイント位置の
移動も小さくなるようにした顕微鏡を提供する。 【構成】 ウエハ10を保持する検査ステージ7は、ロ
ーラガイド13により対物レンズ光軸方向に、またロー
ラガイド17により試料面と平行な矢印B方向に、それ
ぞれ直線移動可能である。一方、対物レンズ32を含む
観察光学系はアフォーカルに構成され、鏡筒31により
検査ステージ7の矢印B方向の移動方向と交差する矢印
A方向に直線移動可能に支持される。検査ステージ7と
対物レンズ32とを互いに交差する方向に直線移動させ
ることで、ウエハ10の全面を観察可能にする。

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】本発明は、ウエハ等の大型の試料
を検査する顕微鏡に関する。 【0002】 【従来の技術】例えば本願出願人が先に出願した特願昭
59−129204号に記載の顕微鏡は、大型試料とし
て例えばウエハを固定し、対物光学系を試料上面に沿っ
てXY方向に移動させることによって試料全面を検査す
るように構成されている。これは試料をXY方向に移動
させる方式のものに比べて、試料の移動スペースが不要
なためコンパクト化し得るという利点がある。 【0003】 【発明が解決しようとする課題】かかる顕微鏡において
は、観察光学系の光路長の変化量が大きいという問題が
ある。すなわち、図3に示すように、対物光学系が直径
Rのウエハ10上において原点Oに最も近い位置aから
最も遠い位置bまで移動したときのX軸方向およびY軸
方向の光路長の変化量はいずれも(R√2)/2である
から、全体の光路長変化量はR√2という大きな値とな
る。このため、この顕微鏡の光学系がアフォーカル系の
場合、瞳がケラレやすくなり、これを防ぐために大きな
結像レンズが必要になったり、また接眼レンズのアイポ
イント位置の移動も大きくなる等の問題がある。 【0004】本発明は、以上のような点に鑑みてなされ
たものであり、その目的は、装置全体をコンパクト化し
得るという利点はそのままに、光路長の変化量を小さく
することでアフォーカル系の場合でも瞳がケラれにく
く、アイポイント位置の移動も小さくなるようにした顕
微鏡を提供することにある。 【0005】 【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、試料の観察面に対して垂直な方向に配置
された対物レンズを有し、この対物レンズを含む観察光
学系がアフォーカルに構成された顕微鏡において、試料
のXY平面と平行で少なくとも一方向に直線移動可能な
ステージと、前記対物レンズを含む前記アフォーカル観
察光学系を保持する鏡筒とを有し、前記XY平面と平行
に前記アフォーカル観察光学系の光路長の伸縮を可能に
することにより、前記対物レンズを前記XY平面と平行
で前記ステージの移動方向と交差する方向に移動させて
試料の全面を観察可能にした構成とした。 【0006】 【作用】本発明によれば、試料の全面を観察するにあた
り、対物レンズを1方向に直線移動させ、これと交差す
る方向に試料を直線移動させる。これにより観察光学系
の光路長変化は最大でも試料の大きさと等しい量で済む
から、従来に比べて光路長変化量が少なくなる。また、
ステージは一次元の移動機構を有すればよいため、周知
のXY2軸ステージに比べて機構が簡素化されるととも
に、駆動モータの小形化が可能になる。 【0007】 【実施例】以下、図面を参照しながら、本発明の実施例
について説明する。図1は、本発明の一実施例を示す平
面図、図2は、ウエハ搬送部の斜視図である。図で、1
はウエハカセット2がセットされるセンダー、3はウエ
ハ搬送部、4はウエハカセット5がセットされるレシー
バーである。6はモータ駆動の搬送ベルトで、センダー
1、ウエハ搬送部3、レシーバー4に設けられている。
7はウエハ検査ステージで、ウエハ搬送部3の中央部に
設けられている。ウエハ検査ステージ7は吸気管9を介
して図示しない真空ポンプと接続されていて、上面に載
置されたウエハ10を吸着保持すると共に、後述のステ
ージ駆動装置により上下方向および搬送ベルト6の搬送
方向と平行な方向に移動可能になっている。 【0008】11は、ウエハ搬送部3内に配設された第
一フレームである。12は第二フレームであり、第一フ
レーム11にローラーガイド13を介して上下方向に移
動可能に装着され、モータ14により駆動される。20
は第三フレームであり、第二フレーム12に設けられた
ローラーガイド17を介してウエハ搬送方向と同一の方
向(矢印B方向)に一次元移動可能に装着され、モータ
19により駆動される。第三フレーム20の上部には、
ウエハ検査ステージ7が枢着されている。この結果、ウ
エハ10は上下方向に焦点調節可能であると共に、ウエ
ハ搬送方向と同一方向に一次元移動可能になっている。 【0009】31は観察鏡筒であり、ウエハ搬送部3に
近接配置された図示しない顕微鏡本体に固定されてい
る。32は対物レンズであり、観察鏡筒31にアリ・ア
リ溝結合によりウエハ10の搬送方向と直交する方向
(矢印A方向)に一次元移動可能に装着されている。こ
の対物レンズ32を含む観察光学系は、光路長を変化さ
せても合焦位置が変化しない例えばアフォーカルな構成
になっている。対物レンズ32の光軸は、その上部で試
料面と平行な方向に偏向され、観察鏡筒31の内部に沿
って図示しない接眼部へと導かれる。接眼部の光軸は例
えば図2の観察鏡筒31の延長上で試料の外側の所定の
位置に設けられ、対物レンズ32の移動にかかわらず不
動である。 【0010】次に、このような構成を有する本実施例の
動作について説明する。センダー1にセットされたウエ
ハカセット2内から取り出されたウエハ10は、搬送ベ
ルト6によりウエハ検査ステージ7上まで送られ、真空
吸着によりウエハ検査ステージ7上に吸着保持される。
続いて、ステージ駆動装置によりウエハ検査ステージ7
は合焦位置まで上昇させられる。 【0011】次に、ステージ駆動装置によりウエハ10
を搬送方向と同一の方向(矢印B方向)に直線移動させ
ながら、対物レンズ32をウエハ10の搬送方向と直交
する方向(矢印A方向)にウエハ10の上面に沿って移
動させる。これによりウエハ10の全面を検査すること
ができる。このときの対物レンズ32の移動距離すなわ
ち観察光学系の光路長の変化量はRとなる。 【0012】本実施例では、対物レンズとステージをそ
れぞれ一次元移動させるようにしているからその移動機
構は単純となり、また移動対象はそれぞれ対物レンズ、
試料だけとなるから移動機構の負荷も軽減され、機構の
簡素化を図れる。装置の大きさについても、軽量小型の
対物レンズを一次元移動させ、試料は一次元移動させる
だけであるので、試料が大型の場合でも移動に要するス
ペースは少なくて済み、装置のコンパクト化が可能であ
る。 【0013】ウエハ検査ステージ7は上下方向に移動可
能に構成されており、これにより自在に焦点調節が可能
である。試料を上下動させて合焦動作を行うから、対物
レンズ鏡筒側に合焦機構を設ける必要がなく、鏡筒の機
構が簡単になる。 【0014】供給側と搬出側のそれぞれの搬送ベルト6
は、その間に検査ステージ7が配置されるために所定距
離離れているが、検査ステージ7をウエハ搬送方向と同
一の方向に移動させて、搬送ベルト6と検査ステージ7
が搬送方向に十分にオーバーラップするようにした状態
で供給側搬送ベルト6から搬出側搬送ベルト6へウエハ
10の受け渡しを行うことで、ウエハを安定して搬送す
ることができる。 【0015】また、ウエハ検査ステージ7に周知の回転
ステージを用いることで、大型試料の位置決めや、試料
上のパターンの向きを視野内で水平になるように調整す
ることができる。 【0016】 【発明の効果】本発明によれば、装置全体をコンパクト
化し得るという利点はそのままに、光路長の変化量を小
さくすることでアフォーカル系の場合でも瞳がケラれに
くく、アイポイント位置の移動も小さくなるようにした
顕微鏡を提供できる。
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明の実施例を表す平面図。 【図2】図1に示されたウエハ搬送部の斜視図。 【図3】従来の装置における観察光学系の光路長変化の
説明図。 【符号の説明】 1 センダー 2、5 ウエハカセット 3 ウエハ搬送部 4 レシーバー 6 搬送ベルト 7 ウエハ検査ステージ 9 吸気管 10 ウエハ 11 第1フレーム 12 第2フレーム 13、17 ローラガイド 14、19 モータ 20 第3フレーム 31 観察鏡筒 32 対物レンズ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川崎 正美 東京都渋谷区幡ヶ谷2丁目43番2号 オリ ンパス光学工業株式会社内 (72)発明者 森田 晃正 東京都渋谷区幡ヶ谷2丁目43番2号 オリ ンパス光学工業株式会社内 (72)発明者 長野 隆 東京都渋谷区幡ヶ谷2丁目43番2号 オリ ンパス光学工業株式会社内

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 試料の観察面に対して垂直な方向に配置された対物レン
    ズを有し、この対物レンズを含む観察光学系がアフォー
    カルに構成された顕微鏡において、 試料のXY平面と平行で少なくとも一方向に直線移動可
    能なステージと、 前記対物レンズを含む前記アフォーカル観察光学系を保
    持する鏡筒とを有し、 前記XY平面と平行に前記アフォーカル観察光学系の光
    路長の伸縮を可能にすることにより、前記対物レンズを
    前記XY平面と平行で前記ステージの移動方向と交差す
    る方向に移動させて試料の全面を観察可能にしたことを
    特徴とする顕微鏡。
JP7029163A 1995-02-17 1995-02-17 顕微鏡 Expired - Lifetime JP2655578B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7029163A JP2655578B2 (ja) 1995-02-17 1995-02-17 顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7029163A JP2655578B2 (ja) 1995-02-17 1995-02-17 顕微鏡

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60023072A Division JP2568488B2 (ja) 1985-02-04 1985-02-08 顕微鏡

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8231648A Division JP2868079B2 (ja) 1996-09-02 1996-09-02 顕微鏡用の試料走査機構

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07311344A true JPH07311344A (ja) 1995-11-28
JP2655578B2 JP2655578B2 (ja) 1997-09-24

Family

ID=12268587

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7029163A Expired - Lifetime JP2655578B2 (ja) 1995-02-17 1995-02-17 顕微鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2655578B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09189865A (ja) * 1996-09-02 1997-07-22 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4726294U (ja) * 1971-04-12 1972-11-24

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4726294U (ja) * 1971-04-12 1972-11-24

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09189865A (ja) * 1996-09-02 1997-07-22 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡

Also Published As

Publication number Publication date
JP2655578B2 (ja) 1997-09-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2619742B2 (ja) プレート状の基板を搬送する方法および装置
US11403743B2 (en) Cable detection apparatus
CN100370243C (zh) 缺陷检查装置
DE60303701D1 (de) Zoomobjektiv und damit ausgestattetes elektronisches Abbildungsgerät
JP2012021852A (ja) 基板検査装置および基板検査方法
CN213120445U (zh) 测量系统
US6018415A (en) X-Y table having belt drives for moving a stage of the table in fine increments and microscope comprising the same
KR19990006387A (ko) 액정패널의 검사장치
JP2006266722A (ja) 基板検査システム及び基板検査方法
CN104081153B (zh) 确定衬底形状变化的设备和方法
JP2655578B2 (ja) 顕微鏡
JP2008070237A (ja) 基板検査装置
JP2868079B2 (ja) 顕微鏡用の試料走査機構
JP6300473B2 (ja) 温度による露光焦点変動を補正する露光装置
JPH1073767A (ja) 顕微鏡
JP2000182996A (ja) ダイシング装置
JPS61179549A (ja) ウエハ検査顕微鏡装置
JP2568488B2 (ja) 顕微鏡
KR102053297B1 (ko) 얼라인먼트 장치, 노광 장치, 및 얼라인먼트 방법
JPS619614A (ja) 顕微鏡
JP5467816B2 (ja) 撮像装置
JPS629715Y2 (ja)
KR100541733B1 (ko) 웨이퍼검사장치
JPH0358011A (ja) 顕微鏡の準焦装置
CN119959233A (zh) 视觉检测装置及晶圆检测系统

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19960702