JPH0731229B2 - Lsiテスタのマトリクスライン選択方法 - Google Patents

Lsiテスタのマトリクスライン選択方法

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JPH0731229B2
JPH0731229B2 JP1208488A JP20848889A JPH0731229B2 JP H0731229 B2 JPH0731229 B2 JP H0731229B2 JP 1208488 A JP1208488 A JP 1208488A JP 20848889 A JP20848889 A JP 20848889A JP H0731229 B2 JPH0731229 B2 JP H0731229B2
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JP
Japan
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line
short
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lsi
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丈司 榎本
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Yokogawa Electric Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> この発明はLSIテスタにおいて、被測定LSIに直流電源を
供給し、また端子間を短絡するマトリクスラインの割り
付け方法の改良に関するものである。
<従来技術> LSIテスタにおいては、テストの規格に従って被測定LSI
の特定の端子に直流電源を印加し、また端子間を短絡し
なければならない。どの端子に電源を印加し、また短絡
するかはテスト毎に異なっているので、この割り付けを
簡単にかつ短時間で行うことは、測定の効率アップの上
で重要である。
第3図に被測定LSIに電力を印加し、また端子間を短絡
するマトリクスラインの構成を示す。第3図において、
被測定LSI1の各端子(1〜5)には第2のライン2〜6
が接続される。7は直流電源であり、4個の電源から構
成される。8〜11は第2のライン2と直交して配置され
る第1のラインである。第1のライン8〜11の各ライン
はスイッチ12〜15を介して直流電源3の出力に接続され
る。
この様な構成において被測定LSI1の端子1に直流電力を
印加し、かつ端子3と4を短絡する場合には、スイッチ
12を閉じて第1のライン8に直流電圧を印加し、かつ第
1のライン8と第2のライン2の交点をリレーで短絡す
る。また、スイッチ13を開いて、第1のライン9と第2
のライン4、5の交点を短絡する。スイッチ12〜15の開
閉および各ラインの交点の短絡、開放を適宜選択するこ
とによって、任意の端子に直流電力を印加し、また短絡
することが出来る。被測定LSIのテストはテストプログ
ラムに基づいて行われるが、従来では測定者がエディタ
によって各スイッチおよび交点の短絡・開放を指示して
いた。
<発明が解決すべき課題> しかしながら、被測定LSIの端子の数が多くなると割り
付けに時間がかかり、測定の効率が上がらないという課
題があった。
また、端子数が多くなると割り付けに経験を要するた
め、簡単にテストを行うことが困難であるという課題も
あった。
<発明の目的> この発明の目的は、効率よく割り付けが出来るLSIテス
タのマトリクスライン選択方法を提供することにある。
<課題を解決する為の手段> 前記課題を解決するために本発明では、前回のテストに
おける第1のライン使用状態及び直流電源を接続しまた
短絡する端子の番号を保持し、今回のテストにおける直
流電源を接続しまた短絡する端子の番号が前回のそれと
一致したときには、前回のテストで使用した第1のライ
ンを使用するようにしたものである。
<作用> 出来るだけ前回の接続を維持するようにして、効率的に
マトリクスラインの割り付けを行うようにする。
<実施例> 第1図に本発明に係るLSIテスタのマトリクスライン選
択方法の一実施例を示す。なお、マトリクスラインの構
成は第3図と同じなので、第3図を参照しながら説明す
る。最初にテスト規格表を読み込み、この規格表から直
流電源を接続する被測定LSIの端子、及び短絡する端子
の番号を確定する。この場合、例えば端子1〜4の4個
の端子を短絡する場合は、端子1を端子間短絡端子番号
として保持し、2〜4番端子は1番端子に短絡するとい
う情報を保持するようにする。次に、前回のテストにお
ける第1のライン8〜11の各ラインの使用状態及び直流
電源を接続する被測定LSI1の端子と短絡する端子のデー
タをコピーして保持する。次に、直流電源を接続する端
子について、前回のテストと今回のテストで一致するも
のがないかを調べる。一致したものがあると、第1のラ
イン8〜11のうち前回のテストで使用したラインを用い
るようにする。同様にして、端子間を短絡する端子につ
いて、前回のテストと今回のテストで同じ端子番号がな
いかを調べ、同じ端子番号があると、第1のライン8〜
11のうち前回のテストで使用したラインを用いる。これ
らの処理で決定されない端子について、順番に残った第
1のラインの各ラインを割り当てる。
次に、第2図に基づいてテストプログラムの作成の手順
を示す。第2図において、マンマシンインターフェイス
により、被測定LSIのテスト方法を記載したテスト規格
表を入力する。このテスト規格表はテスト項目ごとに測
定値の上下限値、測定条件、被測定LSIの各端子に与え
る信号の条件などが記述されている。次に、このテスト
規格表からテストプログラムを自動生成して、ソースプ
ログラムを作成する。このソースプログラムをファイル
コンバートしてLSIテスタ用のファイルフォーマットに
変換してLSIテスタにセットする。
<発明の効果> 以上、実施例に基づいて具体的に説明したように、この
発明では直流電源を接続する端子及び短絡する端子につ
いて、前回のテストと今回のテストで一致する端子を調
べ、一致する端子については前回と同じ第1のラインを
用いるようにした。その為、前回のテストの状態を出来
るだけ変化させないで設定出来るので、短時間で効率よ
くマトリクスラインを選択することが出来るという効果
がある。
また、従来手動で設定していたのを自動化することが出
来るので、簡単に設定することが出来るという効果もあ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るLSIテスタのマトリクスライン選
択方法の一実施例を示すフローチャート、第2図はテス
トプログラムの作成手順を示すフローチャート、第3図
はマトリクスラインの構成図である。 1……被測定LSI、2〜6……第2のライン、7……直
流電源、8〜11……第1のライン。12〜15……スイッ
チ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の直流電源と、この直流電源が選択的
    に接続される複数の第1のラインと、この第1のライン
    とマトリクス状に配置され被測定LSIの端子が接続され
    る複数の第2のラインとを有し、前記マトリクスの交点
    を短絡して前記被測定LSIの各端子を短絡しかつ端子に
    要求される直流電力を供給するようにしたLSIテスタの
    マトリクスライン選択方法において、 前記第1のラインの各ライン毎に前回のテストにおける
    ラインの使用状態及び直流電源を接続しまた短絡した端
    子の番号を保持し、今回のテストにおける直流電源を接
    続する端子及び短絡する端子の番号が前回のそれと一致
    したときには、前回のテストで使用した第1のラインを
    使用するようにしたことを特徴とするLSIテスタのマト
    リクスライン接続方法。
JP1208488A 1989-08-11 1989-08-11 Lsiテスタのマトリクスライン選択方法 Expired - Fee Related JPH0731229B2 (ja)

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