JPH07314295A - ならい制御方式 - Google Patents
ならい制御方式Info
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- JPH07314295A JPH07314295A JP11483894A JP11483894A JPH07314295A JP H07314295 A JPH07314295 A JP H07314295A JP 11483894 A JP11483894 A JP 11483894A JP 11483894 A JP11483894 A JP 11483894A JP H07314295 A JPH07314295 A JP H07314295A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 12
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 64
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 42
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 テーブルに固定されたモデル面の形状をトレ
ーサヘッドによって測定するならい制御方式において、
温度変化によるセンサの微妙な誤差を補正できるように
する。 【構成】 形状変位用センサとしての非接触型センサ２
５は、テーブル２１上のモデル２６面の形状の変位量を
検出し、その検出値をデジタイジング制御装置１０側に
送る。テーブル２１とは別の場所には、一定変位量用セ
ンサとしての非接触型センサ１が固定されている。非接
触型センサ１は、一定変位量である基準変位量ｄ0 を常
時検出し、この検出値をデジタイジング制御装置１０側
に送る。検出値補正手段１０ａは、非接触型センサ１の
検出値に基づいて非接触型センサ２５の検出値を補正す
る。軸制御手段１０ｂは、補正された非接触型センサ２
５の検出値に基づいてモータ２２等を制御してテーブル
２１の移動および非接触型センサ２５を移動制御する。
これにより、非接触型センサ２５がモデル２６面の形状
をならう。
ーサヘッドによって測定するならい制御方式において、
温度変化によるセンサの微妙な誤差を補正できるように
する。 【構成】 形状変位用センサとしての非接触型センサ２
５は、テーブル２１上のモデル２６面の形状の変位量を
検出し、その検出値をデジタイジング制御装置１０側に
送る。テーブル２１とは別の場所には、一定変位量用セ
ンサとしての非接触型センサ１が固定されている。非接
触型センサ１は、一定変位量である基準変位量ｄ0 を常
時検出し、この検出値をデジタイジング制御装置１０側
に送る。検出値補正手段１０ａは、非接触型センサ１の
検出値に基づいて非接触型センサ２５の検出値を補正す
る。軸制御手段１０ｂは、補正された非接触型センサ２
５の検出値に基づいてモータ２２等を制御してテーブル
２１の移動および非接触型センサ２５を移動制御する。
これにより、非接触型センサ２５がモデル２６面の形状
をならう。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はテーブルに固定されたモ
デル面の形状をトレーサヘッドによって測定するならい
制御方式に関し、特にトレーサヘッドの測定誤差を補正
するならい制御方式に関する。
デル面の形状をトレーサヘッドによって測定するならい
制御方式に関し、特にトレーサヘッドの測定誤差を補正
するならい制御方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、テーブルに固定されたモデル面
の形状を測定する方式では、スタイラスまたは光センサ
が取り付けられたトレーサヘッドの位置が常にモデル面
と一定距離にあるように軸制御を行い、周期的に軸の位
置を検出することによりデジタイジングデータを求めて
いた。
の形状を測定する方式では、スタイラスまたは光センサ
が取り付けられたトレーサヘッドの位置が常にモデル面
と一定距離にあるように軸制御を行い、周期的に軸の位
置を検出することによりデジタイジングデータを求めて
いた。
【０００３】しかし、トレーサヘッドは温度変化によっ
てその測定値が微妙に変化するため、そのままでは高精
度の測定ができない。そのため、従来は、温度に応じた
補正テーブルを持ち、作業時の室温に応じた補正データ
によりトレーサヘッドの検出値を補正するようにしてい
た。
てその測定値が微妙に変化するため、そのままでは高精
度の測定ができない。そのため、従来は、温度に応じた
補正テーブルを持ち、作業時の室温に応じた補正データ
によりトレーサヘッドの検出値を補正するようにしてい
た。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、作業中は微妙
に室温の変化が起こるため、それに応じてトレーサヘッ
ドの検出値も変化してしまう。従来はこの検出値の微妙
な変化を補正する技術がなかった。
に室温の変化が起こるため、それに応じてトレーサヘッ
ドの検出値も変化してしまう。従来はこの検出値の微妙
な変化を補正する技術がなかった。
【０００５】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
のであり、トレーサヘッドの検出値の微妙な変動を補正
することの可能なならい制御方式を提供することを目的
とする。
のであり、トレーサヘッドの検出値の微妙な変動を補正
することの可能なならい制御方式を提供することを目的
とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明では上記課題を解
決するために、テーブルに固定されたモデル面の形状を
トレーサヘッドによって測定するならい制御方式におい
て、前記テーブルとは別の場所に固定され常時一定変位
量を測定する一定変位量用センサと、前記トレーサヘッ
ドに設けられ、前記モデル面の形状変位を測定する形状
変位用センサと、前記一定変位量用センサの検出値に基
づいて前記形状変位用センサの検出値を補正する検出値
補正手段と、前記補正された形状変位用センサの検出値
に基づいて前記モデル面形状をならうように前記トレー
サヘッドの移動を制御する軸制御手段と、を有すること
を特徴とするならい制御方式が提供される。
決するために、テーブルに固定されたモデル面の形状を
トレーサヘッドによって測定するならい制御方式におい
て、前記テーブルとは別の場所に固定され常時一定変位
量を測定する一定変位量用センサと、前記トレーサヘッ
ドに設けられ、前記モデル面の形状変位を測定する形状
変位用センサと、前記一定変位量用センサの検出値に基
づいて前記形状変位用センサの検出値を補正する検出値
補正手段と、前記補正された形状変位用センサの検出値
に基づいて前記モデル面形状をならうように前記トレー
サヘッドの移動を制御する軸制御手段と、を有すること
を特徴とするならい制御方式が提供される。
【０００７】
【作用】テーブルとは別の場所に固定された一定変位量
用センサは、常時一定変位量を測定する。一方、トレー
サヘッドに設けられた形状変位用センサは、モデル面の
形状変位を測定する。検出値補正手段は、一定変位量用
センサの検出値に基づいて形状変位用センサの検出値を
補正する。軸制御手段は、補正された形状変位用センサ
の検出値に基づいてモデル面形状をならうようにトレー
サヘッドの移動を制御する。
用センサは、常時一定変位量を測定する。一方、トレー
サヘッドに設けられた形状変位用センサは、モデル面の
形状変位を測定する。検出値補正手段は、一定変位量用
センサの検出値に基づいて形状変位用センサの検出値を
補正する。軸制御手段は、補正された形状変位用センサ
の検出値に基づいてモデル面形状をならうようにトレー
サヘッドの移動を制御する。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図１は本実施例の機能の概念を示す図である。
形状変位用センサとしての非接触型センサ２５は、図示
されていない軸に取り付けられ、テーブル２１上のモデ
ル２６面の形状の変位量を検出し、その検出値をデジタ
イジング制御装置１０側に送る。テーブル２１とは別の
場所には、一定変位量用センサとしての非接触型センサ
１が固定されている。ここで、非接触型センサ２５およ
び非接触型センサ１は、全く同じ規格で製造されたセン
サである。非接触型センサ１は、一定変位量である基準
変位量ｄ0 を常時検出し、この検出値をデジタイジング
制御装置１０側に送る。検出値補正手段１０ａは、非接
触型センサ１の検出値に基づいて非接触型センサ２５の
検出値を補正する。軸制御手段１０ｂは、補正された非
接触型センサ２５の検出値に基づいてモータ２２等を制
御してテーブル２１の移動および非接触型センサ２５を
移動制御する。これにより、非接触型センサ２５がモデ
ル２６面の形状をならう。
明する。図１は本実施例の機能の概念を示す図である。
形状変位用センサとしての非接触型センサ２５は、図示
されていない軸に取り付けられ、テーブル２１上のモデ
ル２６面の形状の変位量を検出し、その検出値をデジタ
イジング制御装置１０側に送る。テーブル２１とは別の
場所には、一定変位量用センサとしての非接触型センサ
１が固定されている。ここで、非接触型センサ２５およ
び非接触型センサ１は、全く同じ規格で製造されたセン
サである。非接触型センサ１は、一定変位量である基準
変位量ｄ0 を常時検出し、この検出値をデジタイジング
制御装置１０側に送る。検出値補正手段１０ａは、非接
触型センサ１の検出値に基づいて非接触型センサ２５の
検出値を補正する。軸制御手段１０ｂは、補正された非
接触型センサ２５の検出値に基づいてモータ２２等を制
御してテーブル２１の移動および非接触型センサ２５を
移動制御する。これにより、非接触型センサ２５がモデ
ル２６面の形状をならう。
【０００９】図２は本発明の一実施例のならい・デジタ
イジングシステムの構成を示すブロック図である。この
ならい・デジタイジングシステムは、主にデジタイジン
グ制御装置１０とならい機械２０とから構成される。デ
ジタイジング制御装置１０のプロセッサ１１は、バス１
９を介してＲＯＭ１２に格納されたシステムプログラム
を読み出し、このシステムプログラムに従ってデジタイ
ジング制御装置１０全体の動作を制御する。ＲＡＭ１３
には、一時的なデータが格納される。不揮発性メモリ１
４は、図示されていないバッテリでバックアップされて
おり、ＣＲＴ／ＭＤＩユニット３１の図示されていない
パネル上のキーにより入力されたならいモード、ならい
平面、ならい速度等の各種のパラメータが格納される。
また、不揮発性メモリ１４には、ならい機械２０のトレ
ーサヘッド２４で測定したモデル面形状のデジタイジン
グデータも格納される。
イジングシステムの構成を示すブロック図である。この
ならい・デジタイジングシステムは、主にデジタイジン
グ制御装置１０とならい機械２０とから構成される。デ
ジタイジング制御装置１０のプロセッサ１１は、バス１
９を介してＲＯＭ１２に格納されたシステムプログラム
を読み出し、このシステムプログラムに従ってデジタイ
ジング制御装置１０全体の動作を制御する。ＲＡＭ１３
には、一時的なデータが格納される。不揮発性メモリ１
４は、図示されていないバッテリでバックアップされて
おり、ＣＲＴ／ＭＤＩユニット３１の図示されていない
パネル上のキーにより入力されたならいモード、ならい
平面、ならい速度等の各種のパラメータが格納される。
また、不揮発性メモリ１４には、ならい機械２０のトレ
ーサヘッド２４で測定したモデル面形状のデジタイジン
グデータも格納される。
【００１０】ならい工作機械２０に設けられているトレ
ーサヘッド２４の先端には、非接触型センサ２５が設け
られている。非接触型センサ２５は、２個のヘッド２５
ａおよび２５ｂを有している。各ヘッド２５ａおよび２
５ｂは、レーザ光をモデル２６面に照射し、その反射時
間によってヘッドとモデル面との間の距離を検出する。
この検出値は、デジタイジング制御装置１０のプロセッ
サ１１からの要求に応じて制御回路１８に読み取られ
る。
ーサヘッド２４の先端には、非接触型センサ２５が設け
られている。非接触型センサ２５は、２個のヘッド２５
ａおよび２５ｂを有している。各ヘッド２５ａおよび２
５ｂは、レーザ光をモデル２６面に照射し、その反射時
間によってヘッドとモデル面との間の距離を検出する。
この検出値は、デジタイジング制御装置１０のプロセッ
サ１１からの要求に応じて制御回路１８に読み取られ
る。
【００１１】また、バス１９には、図示されていないイ
ンタフェースを介して図１で示した非接触型センサ１が
接続されている。前述したように、非接触型センサ１は
テーブル２１とは別の場所に固定されており、一定変位
量である基準変位量ｄ0 を常時検出し、この検出値をバ
ス１９を介してプロセッサ１１に送る。
ンタフェースを介して図１で示した非接触型センサ１が
接続されている。前述したように、非接触型センサ１は
テーブル２１とは別の場所に固定されており、一定変位
量である基準変位量ｄ0 を常時検出し、この検出値をバ
ス１９を介してプロセッサ１１に送る。
【００１２】プロセッサ１１は、非接触型センサ２５お
よび非接触型センサ１からの各検出値を受け取ると、非
接触型センサ１の検出値に基づいて非接触型センサ２５
の検出値を補正する。すなわち、非接触型センサ１の検
出値は、室温等の変化によって変化するため、プロセッ
サ１１は、非接触型センサ１の現在の検出値と基準変位
量ｄ0 との差Δｄを求め、この差Δｄの大きさに応じた
補正量で非接触型センサ２５の検出値を補正する。
よび非接触型センサ１からの各検出値を受け取ると、非
接触型センサ１の検出値に基づいて非接触型センサ２５
の検出値を補正する。すなわち、非接触型センサ１の検
出値は、室温等の変化によって変化するため、プロセッ
サ１１は、非接触型センサ１の現在の検出値と基準変位
量ｄ0 との差Δｄを求め、この差Δｄの大きさに応じた
補正量で非接触型センサ２５の検出値を補正する。
【００１３】こうして、プロセッサ１１は、非接触型セ
ンサ２５の補正した検出値と、後述する現在位置レジス
タ１７ｘ、１７ｙおよび１７ｚからの信号に基づいて各
軸の変位量を算出するとともに、指令されたならいモー
ド、ならい平面、およびならい速度に基づいて、周知の
技術により、Ｘ軸の速度指令Ｖｘ、Ｙ軸の速度指令Ｖ
ｙ、およびＺ軸の速度指令Ｖｚを発生する。これらの速
度指令は、それぞれサーボアンプ１６ｘ、１６ｙおよび
１６ｚに入力され、その出力によってならい工作機械２
０のサーボモータ２２ｘ、２２ｙおよび２２ｚが駆動さ
れる。
ンサ２５の補正した検出値と、後述する現在位置レジス
タ１７ｘ、１７ｙおよび１７ｚからの信号に基づいて各
軸の変位量を算出するとともに、指令されたならいモー
ド、ならい平面、およびならい速度に基づいて、周知の
技術により、Ｘ軸の速度指令Ｖｘ、Ｙ軸の速度指令Ｖ
ｙ、およびＺ軸の速度指令Ｖｚを発生する。これらの速
度指令は、それぞれサーボアンプ１６ｘ、１６ｙおよび
１６ｚに入力され、その出力によってならい工作機械２
０のサーボモータ２２ｘ、２２ｙおよび２２ｚが駆動さ
れる。
【００１４】また、プロセッサ１１は、各軸の制御と同
時に、非接触型センサ２５の各ヘッド２５ａおよび２５
ｂの変位量の検出値を読み取り、これを利用してモデル
２６面の法線ベクトルを求める。そして、この法線ベク
トルを含む垂直面にヘッド２５ａおよび２５ｂの測定軸
が一致するように、回転指令をサーボアンプ１６ｃに出
力する。サーボアンプ１６ｃは、この回転指令に基づい
てサーボモータ２２ｃを駆動し、ヘッド２５ａおよび２
５ｂの測定軸をＺ軸回りに所定角度傾斜しつつ回転制御
する。
時に、非接触型センサ２５の各ヘッド２５ａおよび２５
ｂの変位量の検出値を読み取り、これを利用してモデル
２６面の法線ベクトルを求める。そして、この法線ベク
トルを含む垂直面にヘッド２５ａおよび２５ｂの測定軸
が一致するように、回転指令をサーボアンプ１６ｃに出
力する。サーボアンプ１６ｃは、この回転指令に基づい
てサーボモータ２２ｃを駆動し、ヘッド２５ａおよび２
５ｂの測定軸をＺ軸回りに所定角度傾斜しつつ回転制御
する。
【００１５】このような各サーボモータの駆動により、
トレーサヘッド２６がＺ軸方向に移動し、またヘッド２
５ａおよび２５ｂがＺ軸回りに回転すると共に、テーブ
ル２１がＸ軸および紙面と直角なＹ軸方向に移動して、
トレーサヘッド２４の非接触型センサ２５とモデル２６
間の相対的位置関係が一定に保たれるように制御され
る。
トレーサヘッド２６がＺ軸方向に移動し、またヘッド２
５ａおよび２５ｂがＺ軸回りに回転すると共に、テーブ
ル２１がＸ軸および紙面と直角なＹ軸方向に移動して、
トレーサヘッド２４の非接触型センサ２５とモデル２６
間の相対的位置関係が一定に保たれるように制御され
る。
【００１６】また、サーボモータ２２ｘ、２２ｙおよび
２２ｚには、これらが所定量回転する毎にそれぞれ検出
パルスＦＰｘ、ＦＰｙおよびＦＰｚを発生するパルスコ
ーダ２３ｘ、２３ｙおよび２３ｚが設けられている。デ
ジタイジング制御装置１０内の現在位置レジスタ１７
ｘ、１７ｙおよび１７ｚは、検出パルスＦＰｘ、ＦＰｙ
およびＦＰｚをそれぞれ回転方向に応じてカウントアッ
プ／ダウンしてトレーサヘッド２４の軸の現在位置デー
タＸａ、ＹａおよびＺａを求めており、これらの位置デ
ータはプロセッサ１１によって読み取られる。各軸の位
置データを読み取ったプロセッサ１１は、これら位置デ
ータと補正された非接触型センサ２５の検出値とに基づ
いてモデル２６のデジタイジングデータを算出し、不揮
発性メモリ１４に格納する。
２２ｚには、これらが所定量回転する毎にそれぞれ検出
パルスＦＰｘ、ＦＰｙおよびＦＰｚを発生するパルスコ
ーダ２３ｘ、２３ｙおよび２３ｚが設けられている。デ
ジタイジング制御装置１０内の現在位置レジスタ１７
ｘ、１７ｙおよび１７ｚは、検出パルスＦＰｘ、ＦＰｙ
およびＦＰｚをそれぞれ回転方向に応じてカウントアッ
プ／ダウンしてトレーサヘッド２４の軸の現在位置デー
タＸａ、ＹａおよびＺａを求めており、これらの位置デ
ータはプロセッサ１１によって読み取られる。各軸の位
置データを読み取ったプロセッサ１１は、これら位置デ
ータと補正された非接触型センサ２５の検出値とに基づ
いてモデル２６のデジタイジングデータを算出し、不揮
発性メモリ１４に格納する。
【００１７】プロセッサ１１は、ならい動作中の状態を
示す画像表示信号等をバス１９を介してＣＲＴ／ＭＤＩ
ユニット３１に送る。ＣＲＴ／ＭＤＩユニット３１で
は、内蔵されたグラフィック制御装置が送られた画像表
示信号を画像データに変換し、図示されていない表示装
置に表示する。この表示装置では、ならい動作の開始に
当たってならい動作の条件の入力操作画面が表示され
る。オペレータは、図示されていないパネル上のキーを
使用して、ならいモード、ならい平面、ならい速度等を
入力指令する。この入力指令されたならいモード、なら
い平面、ならい速度等は、インタフェース３２を介して
バス１９上に読み込まれ、不揮発性メモリ１４に格納さ
れる。
示す画像表示信号等をバス１９を介してＣＲＴ／ＭＤＩ
ユニット３１に送る。ＣＲＴ／ＭＤＩユニット３１で
は、内蔵されたグラフィック制御装置が送られた画像表
示信号を画像データに変換し、図示されていない表示装
置に表示する。この表示装置では、ならい動作の開始に
当たってならい動作の条件の入力操作画面が表示され
る。オペレータは、図示されていないパネル上のキーを
使用して、ならいモード、ならい平面、ならい速度等を
入力指令する。この入力指令されたならいモード、なら
い平面、ならい速度等は、インタフェース３２を介して
バス１９上に読み込まれ、不揮発性メモリ１４に格納さ
れる。
【００１８】また、バス１９にはインタフェース１５を
介して操作盤３０が接続されている。操作盤３０では、
ならい動作開始指令や停止指令などが行われる。これら
各指令信号は、インタフェース１５およびバス１９を介
してプロセッサ１１に送られる。
介して操作盤３０が接続されている。操作盤３０では、
ならい動作開始指令や停止指令などが行われる。これら
各指令信号は、インタフェース１５およびバス１９を介
してプロセッサ１１に送られる。
【００１９】次に上記構成のならい・デジタイジングシ
ステムの検出値補正制御の手順を説明する。図３はプロ
セッサ１１側の検出値補正制御の手順を示すフローチャ
ートである。 〔Ｓ１〕非接触型センサ２５の形状変位量の検出値を読
み取る。 〔Ｓ２〕非接触型センサ１の基準変位量ｄ0 の検出値を
読み取る。 〔Ｓ３〕基準変位量ｄ0 と実際の検出値との差Δｄの大
きさに応じて補正量を算出する。この補正量は、例えば
差Δｄに一定の係数を乗じることにより算出される。 〔Ｓ４〕非接触型センサ２５の形状変位量の検出値を算
出した補正量で補正する。 〔Ｓ５〕補正された形状変位量および各軸の現在位置デ
ータに基づいてデジタイジングデータを生成し、不揮発
性メモリ１４に格納する。
ステムの検出値補正制御の手順を説明する。図３はプロ
セッサ１１側の検出値補正制御の手順を示すフローチャ
ートである。 〔Ｓ１〕非接触型センサ２５の形状変位量の検出値を読
み取る。 〔Ｓ２〕非接触型センサ１の基準変位量ｄ0 の検出値を
読み取る。 〔Ｓ３〕基準変位量ｄ0 と実際の検出値との差Δｄの大
きさに応じて補正量を算出する。この補正量は、例えば
差Δｄに一定の係数を乗じることにより算出される。 〔Ｓ４〕非接触型センサ２５の形状変位量の検出値を算
出した補正量で補正する。 〔Ｓ５〕補正された形状変位量および各軸の現在位置デ
ータに基づいてデジタイジングデータを生成し、不揮発
性メモリ１４に格納する。
【００２０】このように、本実施例では、テーブル２１
とは別の場所に固定された非接触型センサ１によって基
準変位量ｄ0 を常時検出し、基準変位量ｄ0 と実際の検
出値との差Δｄの大きさに応じて補正量を算出し、非接
触型センサ１と同じ規格の非接触型センサ２５の形状変
位量の検出値を補正量で補正するようにしたので、室温
等の変化による検出値の誤差を常時補正することがで
き、より正確なデジタイジングデータを確保することが
できる。
とは別の場所に固定された非接触型センサ１によって基
準変位量ｄ0 を常時検出し、基準変位量ｄ0 と実際の検
出値との差Δｄの大きさに応じて補正量を算出し、非接
触型センサ１と同じ規格の非接触型センサ２５の形状変
位量の検出値を補正量で補正するようにしたので、室温
等の変化による検出値の誤差を常時補正することがで
き、より正確なデジタイジングデータを確保することが
できる。
【００２１】なお、本実施例では、形状変位用センサと
して非接触型センサ２５を、一定変位量用センサとして
非接触型センサ１を用いたが、これらを同じ規格で製造
されたスタイラスに代えても同様の効果が得られる。こ
の場合には、基準変位量はε 0 が使用される。
して非接触型センサ２５を、一定変位量用センサとして
非接触型センサ１を用いたが、これらを同じ規格で製造
されたスタイラスに代えても同様の効果が得られる。こ
の場合には、基準変位量はε 0 が使用される。
【００２２】
【発明の効果】以上説明したように本発明では、テーブ
ルとは別の場所に固定された一定変位量用センサで常時
一定変位量を測定し、一方、トレーサヘッドに設けられ
た形状変位用センサでモデル面の形状変位を測定し、一
定変位量用センサの検出値に基づいて形状変位用センサ
の検出値を補正して、補正された形状変位用センサの検
出値に基づいてモデル面形状をならうようにトレーサヘ
ッドの移動を制御するようにしたので、室温等の変化に
よる形状変位用センサの検出値の誤差を常時補正するこ
とができ、より正確なデジタイジングデータを確保する
ことができる。
ルとは別の場所に固定された一定変位量用センサで常時
一定変位量を測定し、一方、トレーサヘッドに設けられ
た形状変位用センサでモデル面の形状変位を測定し、一
定変位量用センサの検出値に基づいて形状変位用センサ
の検出値を補正して、補正された形状変位用センサの検
出値に基づいてモデル面形状をならうようにトレーサヘ
ッドの移動を制御するようにしたので、室温等の変化に
よる形状変位用センサの検出値の誤差を常時補正するこ
とができ、より正確なデジタイジングデータを確保する
ことができる。
【図１】本実施例の機能の概念を示す図である。
【図２】本発明の一実施例のならい・デジタイジングシ
ステムの構成を示すブロック図である。
ステムの構成を示すブロック図である。
【図３】プロセッサ側の検出値補正制御の手順を示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
１ 非接触型センサ（一定変位量用センサ） １０ デジタイジング制御装置 １０ａ 検出値補正手段 １０ｂ 軸制御手段 １１ プロセッサ １２ ＲＯＭ １３ ＲＡＭ １４ 不揮発性メモリ ２１ テーブル ２４ トレーサヘッド ２５ 非接触型センサ（形状変位用センサ） ２５ａ，２５ｂ ヘッド ２６ モデル
Claims (4)
- 【請求項１】 テーブルに固定されたモデル面の形状を
トレーサヘッドによって測定するならい制御方式におい
て、 前記テーブルとは別の場所に固定され常時一定変位量を
測定する一定変位量用センサと、 前記トレーサヘッドに設けられ、前記モデル面の形状変
位を測定する形状変位用センサと、 前記一定変位量用センサの検出値に基づいて前記形状変
位用センサの検出値を補正する検出値補正手段と、 前記補正された形状変位用センサの検出値に基づいて前
記モデル面形状をならうように前記トレーサヘッドの移
動を制御する軸制御手段と、 を有することを特徴とするならい制御方式。 - 【請求項２】 前記一定変位量は、ならい実行中の前記
形状変位用センサの基準変位量であることを特徴とする
請求項１記載のならい制御方式。 - 【請求項３】 前記一定変位量用センサおよび前記形状
変位用センサは、非接触型センサであることを特徴とす
る請求項１記載のならい制御方式。 - 【請求項４】 前記一定変位量用センサおよび前記形状
変位用センサは、スタイラスであることを特徴とする請
求項１記載のならい制御方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11483894A JPH07314295A (ja) | 1994-05-27 | 1994-05-27 | ならい制御方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11483894A JPH07314295A (ja) | 1994-05-27 | 1994-05-27 | ならい制御方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07314295A true JPH07314295A (ja) | 1995-12-05 |
Family
ID=14647973
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11483894A Pending JPH07314295A (ja) | 1994-05-27 | 1994-05-27 | ならい制御方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07314295A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3318939A1 (en) | 2016-10-31 | 2018-05-09 | Omron Corporation | Control system, and control method and program for control system |
-
1994
- 1994-05-27 JP JP11483894A patent/JPH07314295A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3318939A1 (en) | 2016-10-31 | 2018-05-09 | Omron Corporation | Control system, and control method and program for control system |
| CN108021089A (zh) * | 2016-10-31 | 2018-05-11 | 欧姆龙株式会社 | 控制系统及其控制方法、计算机可读存储介质 |
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