JPH07318655A - シンチレーションカメラ - Google Patents
シンチレーションカメラInfo
- Publication number
- JPH07318655A JPH07318655A JP6063995A JP6063995A JPH07318655A JP H07318655 A JPH07318655 A JP H07318655A JP 6063995 A JP6063995 A JP 6063995A JP 6063995 A JP6063995 A JP 6063995A JP H07318655 A JPH07318655 A JP H07318655A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- energy
- rays
- radioisotope
- incident
- photoelectric peak
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Nuclear Medicine (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明の目的は、複数種のＲＩを同時投与した
ときに発生するクロストークの問題を解決できるシンチ
レーションカメラを提供することである。 【構成】本発明によるシンチレーションカメラは、第１
と第２の光電ピークのTI-201と、第２光電ピークに接近
した第３光電ピークのI-123 とからのγ線を検出するカ
メラ本体１と、エネルギー計算部６と、位置計算部７
と、第１光電ピークを含む第１ウインドウ内の第１入射
数と第２光電ピークと第３光電ピークとを含む第２ウイ
ンドウ内のエネルギーの第２入射数とを入射位置毎にカ
ウントするカウンタ１２，１５と、第１入射数に基づい
てTI-201から放射され第２ウインドウ内のエネルギーの
第３入射数を求める壊変率乗算部２０と、第１入射数と
第３入射数とに基づいてTI-201画像を作成するTI-201画
像作成部２１と、第２入射数と第３入射数とに基づいて
I-123 画像を作成するI-123 画像作成部２２とを具備す
る。
ときに発生するクロストークの問題を解決できるシンチ
レーションカメラを提供することである。 【構成】本発明によるシンチレーションカメラは、第１
と第２の光電ピークのTI-201と、第２光電ピークに接近
した第３光電ピークのI-123 とからのγ線を検出するカ
メラ本体１と、エネルギー計算部６と、位置計算部７
と、第１光電ピークを含む第１ウインドウ内の第１入射
数と第２光電ピークと第３光電ピークとを含む第２ウイ
ンドウ内のエネルギーの第２入射数とを入射位置毎にカ
ウントするカウンタ１２，１５と、第１入射数に基づい
てTI-201から放射され第２ウインドウ内のエネルギーの
第３入射数を求める壊変率乗算部２０と、第１入射数と
第３入射数とに基づいてTI-201画像を作成するTI-201画
像作成部２１と、第２入射数と第３入射数とに基づいて
I-123 画像を作成するI-123 画像作成部２２とを具備す
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被検体内に投与した放
射性同位元素（radioisotope；ＲＩ）の空間的分布を画
像化するシンチレーションカメラに関する。
射性同位元素（radioisotope；ＲＩ）の空間的分布を画
像化するシンチレーションカメラに関する。
【０００２】
【従来の技術】核医学診断法は、放射性同位元素又はそ
の標識化合物が特定の組織や臓器に選択的に取り込まれ
る性質を利用し、放射性同位元素から放射（emission）
されるγ線を体外から測定し、放射性同位元素の空間的
分布（シンチグラム）を画像化して診断するという診断
法であり、組織や臓器の生理的機能や代謝機能に関する
診断を可能にする。シンチレーションカメラはこの診断
法を実現する装置である。
の標識化合物が特定の組織や臓器に選択的に取り込まれ
る性質を利用し、放射性同位元素から放射（emission）
されるγ線を体外から測定し、放射性同位元素の空間的
分布（シンチグラム）を画像化して診断するという診断
法であり、組織や臓器の生理的機能や代謝機能に関する
診断を可能にする。シンチレーションカメラはこの診断
法を実現する装置である。
【０００３】放射性同位元素から放射されるγ線のエネ
ルギー分布は、当該放射性同位元素に固有の光電ピーク
を中心として広がっている。シンチレーションカメラ
は、上記光電ピークを中心とした所定幅のウインドウ
（エネルギー帯域）に入るエネルギーを有する当該放射
性同位元素からのγ線だけを計数するために、ウインド
ウ回路を備えている。
ルギー分布は、当該放射性同位元素に固有の光電ピーク
を中心として広がっている。シンチレーションカメラ
は、上記光電ピークを中心とした所定幅のウインドウ
（エネルギー帯域）に入るエネルギーを有する当該放射
性同位元素からのγ線だけを計数するために、ウインド
ウ回路を備えている。
【０００４】このような核医学診断法において、複数種
類の放射性同位元素を被検体に同時投与し、各放射性同
位元素のシンチグラムを比較検討することの有効性が最
近示唆されている。しかし、これには次のようなクロス
トークの問題がある。
類の放射性同位元素を被検体に同時投与し、各放射性同
位元素のシンチグラムを比較検討することの有効性が最
近示唆されている。しかし、これには次のようなクロス
トークの問題がある。
【０００５】Ｔ1-201 とＩ-123の２種の放射性同位元素
を同時投与するケースを考える。Ｉ-123は 160keＶの光
電ピークを固有する。Ｉ-123のウインドウは 160keＶを
中心に設定される。Ｔ1-201 は71keＶと 167keＶの２つ
の光電ピークを固有する。Ｔ1-201 に対しては、71keＶ
を中心に設定されたウインドウと、 167keＶを中心に設
定されたウインドウとの２つのウインドウが設定され
る。Ｉ-123のウインドウと、Ｔ1-201 の 167keＶを中心
に設定されたウインドウとは重なり合う。したがって、
Ｉ-123からのγ線と、Ｔ1-201 からのγ線とを区別でき
ない。これをクロストークという。
を同時投与するケースを考える。Ｉ-123は 160keＶの光
電ピークを固有する。Ｉ-123のウインドウは 160keＶを
中心に設定される。Ｔ1-201 は71keＶと 167keＶの２つ
の光電ピークを固有する。Ｔ1-201 に対しては、71keＶ
を中心に設定されたウインドウと、 167keＶを中心に設
定されたウインドウとの２つのウインドウが設定され
る。Ｉ-123のウインドウと、Ｔ1-201 の 167keＶを中心
に設定されたウインドウとは重なり合う。したがって、
Ｉ-123からのγ線と、Ｔ1-201 からのγ線とを区別でき
ない。これをクロストークという。
【０００６】この問題に対する従来の解決策は次の通り
である。まず、Ｉ-123のウインドウと、Ｔ1-201 の 167
keＶに対するウインドウとを合わせた広いウインドウを
設定し、この広いウインドウ内のγ線を計数する。この
広いウインドウ内のγ線のカウント数を、予めファント
ムを使って個別に測定した広いウインドウ内のＩ-123の
カウント数とＴ1 -201のカウント数との比率にしたがっ
て、Ｉ-123とＴ1-201とに分配することにより、Ｉ-123
とＴ1-201 それぞれのカウント数を推定するというもの
である。しかし、この従来の解決策は、上記比率がファ
ントムと実際の被検体とでは相違するため精度が悪かっ
た。
である。まず、Ｉ-123のウインドウと、Ｔ1-201 の 167
keＶに対するウインドウとを合わせた広いウインドウを
設定し、この広いウインドウ内のγ線を計数する。この
広いウインドウ内のγ線のカウント数を、予めファント
ムを使って個別に測定した広いウインドウ内のＩ-123の
カウント数とＴ1 -201のカウント数との比率にしたがっ
て、Ｉ-123とＴ1-201とに分配することにより、Ｉ-123
とＴ1-201 それぞれのカウント数を推定するというもの
である。しかし、この従来の解決策は、上記比率がファ
ントムと実際の被検体とでは相違するため精度が悪かっ
た。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、複数
種の放射性同位元素を同時投与したときに発生するクロ
ストークの問題を解決できるシンチレーションカメラを
提供することである。
種の放射性同位元素を同時投与したときに発生するクロ
ストークの問題を解決できるシンチレーションカメラを
提供することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】請求項１に係る発明は、
被検体に同時投与された、第１の光電ピークと第２の光
電ピークを有する第１の放射性同位元素と、前記第２の
光電ピークに接近した第３の光電ピークを有する第２の
放射性同位元素とからのγ線を検出するカメラ本体と、
前記カメラ本体からの出力に基づいて、γ線のエネルギ
ーを計算するエネルギー計算手段と、前記カメラ本体か
らの出力に基づいて、γ線の入射位置を計算する位置計
算手段と、前記エネルギー計算手段と前記位置計算手段
の出力に接続され、前記第１の光電ピークを含む第１の
ウインドウ内のエネルギーを有するγ線に関する第１の
入射数を入射位置毎にカウントし、前記第２の光電ピー
クと前記第３の光電ピークとを含む第２のウインドウ内
のエネルギーを有するγ線に関する第２の入射数を入射
位置毎にカウントするカウント手段と、前記第１の入射
数に基づいて、前記第１の放射性同位元素から放射され
たγ線であって、且つ前記第２のウインドウ内のエネル
ギーを有するγ線に関する第３の入射数を求める手段
と、前記第１の入射数と前記第３の入射数とに基づいて
前記第１の放射性同位元素に関する第１の画像を作成す
る第１の画像作成手段と、前記第２の入射数と前記第３
の入射数とに基づいて前記第２の放射性同位元素に関す
る第２の画像を作成する第２の画像作成手段とを具備す
ることを特徴とするシンチレーションカメラである。
被検体に同時投与された、第１の光電ピークと第２の光
電ピークを有する第１の放射性同位元素と、前記第２の
光電ピークに接近した第３の光電ピークを有する第２の
放射性同位元素とからのγ線を検出するカメラ本体と、
前記カメラ本体からの出力に基づいて、γ線のエネルギ
ーを計算するエネルギー計算手段と、前記カメラ本体か
らの出力に基づいて、γ線の入射位置を計算する位置計
算手段と、前記エネルギー計算手段と前記位置計算手段
の出力に接続され、前記第１の光電ピークを含む第１の
ウインドウ内のエネルギーを有するγ線に関する第１の
入射数を入射位置毎にカウントし、前記第２の光電ピー
クと前記第３の光電ピークとを含む第２のウインドウ内
のエネルギーを有するγ線に関する第２の入射数を入射
位置毎にカウントするカウント手段と、前記第１の入射
数に基づいて、前記第１の放射性同位元素から放射され
たγ線であって、且つ前記第２のウインドウ内のエネル
ギーを有するγ線に関する第３の入射数を求める手段
と、前記第１の入射数と前記第３の入射数とに基づいて
前記第１の放射性同位元素に関する第１の画像を作成す
る第１の画像作成手段と、前記第２の入射数と前記第３
の入射数とに基づいて前記第２の放射性同位元素に関す
る第２の画像を作成する第２の画像作成手段とを具備す
ることを特徴とするシンチレーションカメラである。
【０００９】請求項３に係る発明は、被検体に同時投与
された、第１の光電ピークと第２の光電ピークを有する
第１の放射性同位元素と、前記第２の光電ピークに接近
した第３の光電ピークを有する第２の放射性同位元素と
からのγ線を被検体の周囲複数の方向から検出するカメ
ラ本体と、前記カメラ本体からの出力に基づいて、γ線
のエネルギーを計算するエネルギー計算手段と、前記カ
メラ本体からの出力に基づいて、γ線の入射位置を計算
する位置計算手段と、前記エネルギー計算手段と前記位
置計算手段の出力に接続され、前記第１の光電ピークを
含む第１のウインドウ内のエネルギーを有するγ線の第
１の入射数を入射位置及び方向毎にカウントし、前記第
２の光電ピークと前記第３の光電ピークとを含む第２の
ウインドウ内のエネルギーを有するγ線の第２の入射数
を入射位置及び方向毎にカウントするカウント手段と、
前記第１の入射数に基づいて、前記第１の放射性同位元
素から放射されたγ線であって、且つ前記第２のウイン
ドウ内のエネルギーを有するγ線の第３の入射数を入射
位置及び方向毎に求める手段と、前記第１の入射数と前
記第３の入射数とに基づいて、前記第１の放射性同位元
素から放射されたγ線であって、且つ前記第１のウイン
ドウ又は前記第２のウインドウ内のエネルギーを有する
γ線の第４の入射数を入射位置及び方向毎に求める手段
と、前記第２の入射数と前記第３の入射数とに基づい
て、前記第２の放射性同位元素から放射されたγ線であ
って、且つ前記第２のウインドウ内のエネルギーを有す
るγ線の第５の入射数を入射位置及び方向毎に求める手
段と、前記第４の入射数に基づいて、前記第１の放射性
同位元素に関する第１の断層像を再構成し、前記第５の
入射数に基づいて前記第２の放射性同位元素に関する第
２の断層像を再構成する再構成手段とを具備することを
特徴とするＳＰＥＣＴ装置である。
された、第１の光電ピークと第２の光電ピークを有する
第１の放射性同位元素と、前記第２の光電ピークに接近
した第３の光電ピークを有する第２の放射性同位元素と
からのγ線を被検体の周囲複数の方向から検出するカメ
ラ本体と、前記カメラ本体からの出力に基づいて、γ線
のエネルギーを計算するエネルギー計算手段と、前記カ
メラ本体からの出力に基づいて、γ線の入射位置を計算
する位置計算手段と、前記エネルギー計算手段と前記位
置計算手段の出力に接続され、前記第１の光電ピークを
含む第１のウインドウ内のエネルギーを有するγ線の第
１の入射数を入射位置及び方向毎にカウントし、前記第
２の光電ピークと前記第３の光電ピークとを含む第２の
ウインドウ内のエネルギーを有するγ線の第２の入射数
を入射位置及び方向毎にカウントするカウント手段と、
前記第１の入射数に基づいて、前記第１の放射性同位元
素から放射されたγ線であって、且つ前記第２のウイン
ドウ内のエネルギーを有するγ線の第３の入射数を入射
位置及び方向毎に求める手段と、前記第１の入射数と前
記第３の入射数とに基づいて、前記第１の放射性同位元
素から放射されたγ線であって、且つ前記第１のウイン
ドウ又は前記第２のウインドウ内のエネルギーを有する
γ線の第４の入射数を入射位置及び方向毎に求める手段
と、前記第２の入射数と前記第３の入射数とに基づい
て、前記第２の放射性同位元素から放射されたγ線であ
って、且つ前記第２のウインドウ内のエネルギーを有す
るγ線の第５の入射数を入射位置及び方向毎に求める手
段と、前記第４の入射数に基づいて、前記第１の放射性
同位元素に関する第１の断層像を再構成し、前記第５の
入射数に基づいて前記第２の放射性同位元素に関する第
２の断層像を再構成する再構成手段とを具備することを
特徴とするＳＰＥＣＴ装置である。
【００１０】請求項５に係る発明は、被検体に同時投与
された、第１の光電ピークと第２の光電ピークを有する
第１の放射性同位元素と、前記第２の光電ピークに接近
した第３の光電ピークを有する第２の放射性同位元素と
からのγ線を被検体の周囲複数の方向から検出するカメ
ラ本体と、前記カメラ本体からの出力に基づいて、γ線
のエネルギーを計算するエネルギー計算手段と、前記カ
メラ本体からの出力に基づいて、γ線の入射位置を計算
する位置計算手段と、前記エネルギー計算手段と前記位
置計算手段の出力に接続され、前記第１の光電ピークを
含む第１のウインドウ内のエネルギーを有するγ線に関
する第１の入射数を入射位置及び方向毎にカウントし、
前記第２の光電ピークと前記第３の光電ピークとを含む
第２のウインドウ内のエネルギーを有するγ線に関する
第２の入射数を入射位置及び方向毎にカウントするカウ
ント手段と、前記第１の入射数に基づいて第１の断層像
を再構成し、前記第２の入射数に基づいて第２の断層像
を再構成する再構成手段と、前記第１の断層像に基づい
て、前記第１の放射性同位元素から放射されたγ線であ
って、且つ前記第２のウインドウ内のエネルギーを有す
るγ線に関する第３の断層像を作成する手段と、前記第
１の断層像と前記第３の断層像とに基づいて前記第１の
放射性同位元素に関する断層像を作成する手段と、前記
第２の断層像と前記第３の断層像とに基づいて、前記第
２の放射性同位元素に関する断層像を作成する手段とを
具備することを特徴とするＳＰＥＣＴ装置である。
された、第１の光電ピークと第２の光電ピークを有する
第１の放射性同位元素と、前記第２の光電ピークに接近
した第３の光電ピークを有する第２の放射性同位元素と
からのγ線を被検体の周囲複数の方向から検出するカメ
ラ本体と、前記カメラ本体からの出力に基づいて、γ線
のエネルギーを計算するエネルギー計算手段と、前記カ
メラ本体からの出力に基づいて、γ線の入射位置を計算
する位置計算手段と、前記エネルギー計算手段と前記位
置計算手段の出力に接続され、前記第１の光電ピークを
含む第１のウインドウ内のエネルギーを有するγ線に関
する第１の入射数を入射位置及び方向毎にカウントし、
前記第２の光電ピークと前記第３の光電ピークとを含む
第２のウインドウ内のエネルギーを有するγ線に関する
第２の入射数を入射位置及び方向毎にカウントするカウ
ント手段と、前記第１の入射数に基づいて第１の断層像
を再構成し、前記第２の入射数に基づいて第２の断層像
を再構成する再構成手段と、前記第１の断層像に基づい
て、前記第１の放射性同位元素から放射されたγ線であ
って、且つ前記第２のウインドウ内のエネルギーを有す
るγ線に関する第３の断層像を作成する手段と、前記第
１の断層像と前記第３の断層像とに基づいて前記第１の
放射性同位元素に関する断層像を作成する手段と、前記
第２の断層像と前記第３の断層像とに基づいて、前記第
２の放射性同位元素に関する断層像を作成する手段とを
具備することを特徴とするＳＰＥＣＴ装置である。
【００１１】
【作用】請求項１に係る発明では、第１の光電ピークと
第２の光電ピークを有する第１の放射性同位元素と、前
記第２の光電ピークに接近した第３の光電ピークを有す
る第２の放射性同位元素が被検体に同時投与された場合
であっても、第２の光電ピークと第３の光電ピークの付
近で発生するクロストークの問題を解決して、第１の放
射性同位元素に関する第１の画像と、第２の放射性同位
元素に関する第２の画像をそれぞれ分離して作成するこ
とができる。第１の入射数は、第１の放射性同位元素か
ら放射されるγ線のうち、第１の光電ピーク付近のエネ
ルギーの入射数である。第２の入射数は、第１の放射性
同位元素から放射されるγ線のうち、第２の光電ピーク
付近のエネルギーのγ線の入射数（第３の入射数）と、
第２の放射性同位元素から放射され、第３の光電ピーク
付近のエネルギーのγ線の入射数との合計数として与え
られ、ここにクロストークが生じている。このクロスト
ークの問題を解決するには、第２の入射数から、両放射
性同位元素の入射数を分離しなければならない。請求項
１に係る発明では、第１の入射数に基づいて同じ第１の
放射性同位元素に関する第２の光電ピーク付近の第３の
入射数を求める。第１の放射性同位元素から放射される
全γ線の入射数は、第１の入射数と第３の入射数とに基
づいて与えられる。また、この第３の入射数と、第２の
入射数とに基づいて、第２の放射性同位元素から放射さ
れる全γ線の入射数を求めることができる。各放射性同
位元素から放射される全γ線の入射数を別々に使って、
各放射性同位元素の画像を求めることができる。これに
よりクロストークの問題が解決される。
第２の光電ピークを有する第１の放射性同位元素と、前
記第２の光電ピークに接近した第３の光電ピークを有す
る第２の放射性同位元素が被検体に同時投与された場合
であっても、第２の光電ピークと第３の光電ピークの付
近で発生するクロストークの問題を解決して、第１の放
射性同位元素に関する第１の画像と、第２の放射性同位
元素に関する第２の画像をそれぞれ分離して作成するこ
とができる。第１の入射数は、第１の放射性同位元素か
ら放射されるγ線のうち、第１の光電ピーク付近のエネ
ルギーの入射数である。第２の入射数は、第１の放射性
同位元素から放射されるγ線のうち、第２の光電ピーク
付近のエネルギーのγ線の入射数（第３の入射数）と、
第２の放射性同位元素から放射され、第３の光電ピーク
付近のエネルギーのγ線の入射数との合計数として与え
られ、ここにクロストークが生じている。このクロスト
ークの問題を解決するには、第２の入射数から、両放射
性同位元素の入射数を分離しなければならない。請求項
１に係る発明では、第１の入射数に基づいて同じ第１の
放射性同位元素に関する第２の光電ピーク付近の第３の
入射数を求める。第１の放射性同位元素から放射される
全γ線の入射数は、第１の入射数と第３の入射数とに基
づいて与えられる。また、この第３の入射数と、第２の
入射数とに基づいて、第２の放射性同位元素から放射さ
れる全γ線の入射数を求めることができる。各放射性同
位元素から放射される全γ線の入射数を別々に使って、
各放射性同位元素の画像を求めることができる。これに
よりクロストークの問題が解決される。
【００１２】請求項３に係る発明では、請求項１に係る
発明と同様の原理で各放射性同位元素からの全γ線の入
射数を入射位置及び方向毎に求め、各放射性同位元素の
断層像を再構成することができる。
発明と同様の原理で各放射性同位元素からの全γ線の入
射数を入射位置及び方向毎に求め、各放射性同位元素の
断層像を再構成することができる。
【００１３】請求項５に係る発明では、請求項３に係る
発明と相違して、各ウインドウの入射数各々に基づいて
２つの断層像を再構成し、２つの断層像に基づいて請求
項１に係る発明と同様の原理で各放射性同位元素の断層
像を求めることができる。
発明と相違して、各ウインドウの入射数各々に基づいて
２つの断層像を再構成し、２つの断層像に基づいて請求
項１に係る発明と同様の原理で各放射性同位元素の断層
像を求めることができる。
【００１４】
【実施例】以下、図面を参照して本発明に係るシンチレ
ーションカメラの好ましい実施例を説明する。ここで
は、放射性同位元素として代表的なＴ1-201 とＩ-123と
が同時投与されるものとする。図４に示すように、第１
の放射性同位元素としてのＴ1-201 は71keＶと 167keＶ
の２つの光電ピークを固有する。図５に示すように、第
２の放射性同位元素としてのＩ-123は 160keＶの光電ピ
ークを固有する。Ｔ1-201 の 167keＶを中心に設定され
るウインドウは、Ｉ-123の 160keＶを中心に設定される
ウインドウと重なり合う。
ーションカメラの好ましい実施例を説明する。ここで
は、放射性同位元素として代表的なＴ1-201 とＩ-123と
が同時投与されるものとする。図４に示すように、第１
の放射性同位元素としてのＴ1-201 は71keＶと 167keＶ
の２つの光電ピークを固有する。図５に示すように、第
２の放射性同位元素としてのＩ-123は 160keＶの光電ピ
ークを固有する。Ｔ1-201 の 167keＶを中心に設定され
るウインドウは、Ｉ-123の 160keＶを中心に設定される
ウインドウと重なり合う。
【００１５】図１は、本発明に係るシンチレーションカ
メラの好ましい実施例の構成図である。カメラ本体１
は、例えばヨウ化ナトリウム(NaI) を蛍光物質とするシ
ンチレータ２を有する。シンチレータ２の前方には、鉛
板に多数の平行孔が開けられたコリメータ３が設けられ
る。シンチレータ２の後方には、ライトガイド４を介し
て複数の光電子増倍管（ＰＭＴ）５がマトリクス状に配
列される。被検体内の放射性同位元素から特定方向に放
射されたγ線がシンチレータ２に入ると、その位置で蛍
光が発生する。この光はライトガイド４を経て全てのＰ
ＭＴ５に入射する。ＰＭＴ５はこの入射光に比例した振
幅のパルスを生じる。
メラの好ましい実施例の構成図である。カメラ本体１
は、例えばヨウ化ナトリウム(NaI) を蛍光物質とするシ
ンチレータ２を有する。シンチレータ２の前方には、鉛
板に多数の平行孔が開けられたコリメータ３が設けられ
る。シンチレータ２の後方には、ライトガイド４を介し
て複数の光電子増倍管（ＰＭＴ）５がマトリクス状に配
列される。被検体内の放射性同位元素から特定方向に放
射されたγ線がシンチレータ２に入ると、その位置で蛍
光が発生する。この光はライトガイド４を経て全てのＰ
ＭＴ５に入射する。ＰＭＴ５はこの入射光に比例した振
幅のパルスを生じる。
【００１６】全てのＰＭＴ５からのパルスは、個別に、
エネルギー計算部６と、位置計算部７に取り込まれる。
エネルギー計算部６は、全てのＰＭＴ５の出力を加算す
ることにより、入射γ線のエネルギーに比例したＺ信号
を求める。位置計算部７は、パルス振幅の空間的変化に
基づいて、γ線の入射位置（Ｘ，Ｙ）を求める。つま
り、この位置計算は、或るＰＭＴ５の真下で光れば、そ
のＰＭＴ５からのパルスの振幅が全てのＰＭＴ５の中で
最大となり、或る３つのＰＭＴ５の真ん中で光れば当該
３つのＰＭＴ５からのパルスの振幅が等しくなることを
概略的な原理とする。
エネルギー計算部６と、位置計算部７に取り込まれる。
エネルギー計算部６は、全てのＰＭＴ５の出力を加算す
ることにより、入射γ線のエネルギーに比例したＺ信号
を求める。位置計算部７は、パルス振幅の空間的変化に
基づいて、γ線の入射位置（Ｘ，Ｙ）を求める。つま
り、この位置計算は、或るＰＭＴ５の真下で光れば、そ
のＰＭＴ５からのパルスの振幅が全てのＰＭＴ５の中で
最大となり、或る３つのＰＭＴ５の真ん中で光れば当該
３つのＰＭＴ５からのパルスの振幅が等しくなることを
概略的な原理とする。
【００１７】Ｚ信号と位置信号（Ｘ，Ｙ）は、散乱線補
正部８に取り込まれる。散乱線補正部８は、Ｔ1-201 の
71keＶを中心に設定されたウインドウＷ12内のエネルギ
ーを持つγ線のカウント数（入射数）ＰW12allから、散
乱線数ＰW12scatlを位置（Ｘ，Ｙ）毎に減算することに
より、体内のＴ1-201 からカメラ本体１にダイレクトに
入射した、ウインドウＷ12内のエネルギーを持つγ線だ
けの数ＰW12prim を位置（Ｘ，Ｙ）毎に求める。
正部８に取り込まれる。散乱線補正部８は、Ｔ1-201 の
71keＶを中心に設定されたウインドウＷ12内のエネルギ
ーを持つγ線のカウント数（入射数）ＰW12allから、散
乱線数ＰW12scatlを位置（Ｘ，Ｙ）毎に減算することに
より、体内のＴ1-201 からカメラ本体１にダイレクトに
入射した、ウインドウＷ12内のエネルギーを持つγ線だ
けの数ＰW12prim を位置（Ｘ，Ｙ）毎に求める。
【００１８】 ＰW12all＝ＰW12prim ＋ＰW12scatl …（１） また、散乱線補正部８は、Ｔ1-201 の 167keＶとＩ-123
の 160keＶとに基づいて設定された広いウインドウＷ22
内のエネルギーを持つγ線のカウント数（入射数）ＰW2
2allから、散乱線数ＰW22scatlを位置（Ｘ，Ｙ）毎に減
算することにより、体内のＴ1-201 又はＩ-123からカメ
ラ本体１にダイレクトに入射した、広いウインドウＷ22
内のエネルギーを持つγ線だけの数ＰW22prim を求め
る。
の 160keＶとに基づいて設定された広いウインドウＷ22
内のエネルギーを持つγ線のカウント数（入射数）ＰW2
2allから、散乱線数ＰW22scatlを位置（Ｘ，Ｙ）毎に減
算することにより、体内のＴ1-201 又はＩ-123からカメ
ラ本体１にダイレクトに入射した、広いウインドウＷ22
内のエネルギーを持つγ線だけの数ＰW22prim を求め
る。
【００１９】 ＰW22all＝ＰW22prim ＋ＰW22scatl …（２） 分離画像作成部９は、散乱線補正部８で求められたＰW1
2prim(X,Y)と、ＰW22prim(X,Y)とに基づいて、Ｔ1-201
だけの画像（シンチグラム）ＰT1-201(X,Y) と、Ｉ-123
だけの画像ＰI-123(X,Y)を作成する。ＰT1-201(X,Y) と
画像ＰI-123(X,Y)は、画像表示部１０に表示され、また
磁気ディスク装置等の記憶部１１に記憶される。
2prim(X,Y)と、ＰW22prim(X,Y)とに基づいて、Ｔ1-201
だけの画像（シンチグラム）ＰT1-201(X,Y) と、Ｉ-123
だけの画像ＰI-123(X,Y)を作成する。ＰT1-201(X,Y) と
画像ＰI-123(X,Y)は、画像表示部１０に表示され、また
磁気ディスク装置等の記憶部１１に記憶される。
【００２０】図２は散乱線補正部８のブロック図であ
る。散乱線の補正方法としては、種々実用されている
が、それらのいずれを採用してもよい。ここでは、ＴＥ
Ｗ法と呼ばれる補正方法を採用するものとして説明す
る。ウインドウ部１２〜１７はそれぞれ、エネルギー計
算部６からのＺ信号がウインドウＷ11，Ｗ12，Ｗ13，Ｗ
21，Ｗ22，Ｗ23に含まれるとき、パルスを出力する。図
６に示すように、ウインドウＷ12は、Ｔ1-201 の71keＶ
を中心に、例えば高低10％の範囲に設定される。ウイン
ドウＷ22は、Ｔ1-201 の 167keＶを中心とした例えば高
低10％の範囲と、Ｉ-123の 160keＶを中心とした例えば
高低10％の範囲との中の最低値から最高値までの比較的
広い範囲に設定される。ウインドウＷ11，Ｗ13，Ｗ21，
Ｗ23は、ＴＥＷ法に特有のウインドウであり、ウインド
ウＷ12，Ｗ22の両側に隣接して、それぞれ例えば５keＶ
の幅に設定される。ウインドウＷ11，Ｗ12，Ｗ13，Ｗ2
1，Ｗ22，Ｗ23は重なり合わないので、１つのＺ信号に
対してウインドウ部１２〜１７のいずれかから１つのパ
ルスが出力される。
る。散乱線の補正方法としては、種々実用されている
が、それらのいずれを採用してもよい。ここでは、ＴＥ
Ｗ法と呼ばれる補正方法を採用するものとして説明す
る。ウインドウ部１２〜１７はそれぞれ、エネルギー計
算部６からのＺ信号がウインドウＷ11，Ｗ12，Ｗ13，Ｗ
21，Ｗ22，Ｗ23に含まれるとき、パルスを出力する。図
６に示すように、ウインドウＷ12は、Ｔ1-201 の71keＶ
を中心に、例えば高低10％の範囲に設定される。ウイン
ドウＷ22は、Ｔ1-201 の 167keＶを中心とした例えば高
低10％の範囲と、Ｉ-123の 160keＶを中心とした例えば
高低10％の範囲との中の最低値から最高値までの比較的
広い範囲に設定される。ウインドウＷ11，Ｗ13，Ｗ21，
Ｗ23は、ＴＥＷ法に特有のウインドウであり、ウインド
ウＷ12，Ｗ22の両側に隣接して、それぞれ例えば５keＶ
の幅に設定される。ウインドウＷ11，Ｗ12，Ｗ13，Ｗ2
1，Ｗ22，Ｗ23は重なり合わないので、１つのＺ信号に
対してウインドウ部１２〜１７のいずれかから１つのパ
ルスが出力される。
【００２１】カウンタ１８は、ウインドウ部１２からの
パルス数を位置（Ｘ，Ｙ）毎にカウントすることによ
り、ウインドウＷ11内のエネルギーを持つγ線のカウン
ト数（入射数）ＰW11all(X,Y) を求める。また、カウン
タ１８は、ウインドウ部１３からのパルス数を位置
（Ｘ，Ｙ）毎にカウントすることにより、ウインドウＷ
12内のエネルギーを持つγ線のカウント数（入射数）Ｐ
W12all(X,Y) を求める。また、カウンタ１８は、ウイン
ドウ部１４からのパルス数を位置（Ｘ，Ｙ）毎にカウン
トすることにより、ウインドウＷ13内のエネルギーを持
つγ線のカウント数（入射数）ＰW13all(X,Y) を求め
る。また、カウンタ１８は、ウインドウ部１５からのパ
ルス数を位置（Ｘ，Ｙ）毎にカウントすることにより、
ウインドウＷ21内のエネルギーを持つγ線のカウント数
（入射数）ＰW21all(X,Y) を求める。また、カウンタ１
８は、ウインドウ部１６からのパルス数を位置（Ｘ，
Ｙ）毎にカウントすることにより、ウインドウＷ22内の
エネルギーを持つγ線のカウント数（入射数）ＰW22all
(X,Y) を求める。また、カウンタ１８は、ウインドウ部
１７からのパルス数を位置（Ｘ，Ｙ）毎にカウントする
ことにより、ウインドウＷ23内のエネルギーを持つγ線
のカウント数（入射数）ＰW23all(X,Y) を求める。
パルス数を位置（Ｘ，Ｙ）毎にカウントすることによ
り、ウインドウＷ11内のエネルギーを持つγ線のカウン
ト数（入射数）ＰW11all(X,Y) を求める。また、カウン
タ１８は、ウインドウ部１３からのパルス数を位置
（Ｘ，Ｙ）毎にカウントすることにより、ウインドウＷ
12内のエネルギーを持つγ線のカウント数（入射数）Ｐ
W12all(X,Y) を求める。また、カウンタ１８は、ウイン
ドウ部１４からのパルス数を位置（Ｘ，Ｙ）毎にカウン
トすることにより、ウインドウＷ13内のエネルギーを持
つγ線のカウント数（入射数）ＰW13all(X,Y) を求め
る。また、カウンタ１８は、ウインドウ部１５からのパ
ルス数を位置（Ｘ，Ｙ）毎にカウントすることにより、
ウインドウＷ21内のエネルギーを持つγ線のカウント数
（入射数）ＰW21all(X,Y) を求める。また、カウンタ１
８は、ウインドウ部１６からのパルス数を位置（Ｘ，
Ｙ）毎にカウントすることにより、ウインドウＷ22内の
エネルギーを持つγ線のカウント数（入射数）ＰW22all
(X,Y) を求める。また、カウンタ１８は、ウインドウ部
１７からのパルス数を位置（Ｘ，Ｙ）毎にカウントする
ことにより、ウインドウＷ23内のエネルギーを持つγ線
のカウント数（入射数）ＰW23all(X,Y) を求める。
【００２２】散乱成分除去部１９は、ウインドウＷ11内
のカウント数ＰW11all(X,Y) と、ウインドウＷ13内のカ
ウント数ＰW13all(X,Y) とに基づいて、ウインドウＷ12
内の散乱線数ＰW12scatl(X,Y) を推定する。この散乱線
数ＰW12scatl(X,Y) は、図６において、エネルギー軸
と、ウインドウＷ12と、エネルギースペクトラムとウイ
ンドウＷ12との２交点を結ぶ線とに囲まれた台形の面積
を近似的に求めることにより得られる。この台形は、高
さがＷ12、下辺がＰW11all(X,Y) ／Ｗ11、上辺がＰW13a
ll(X,Y) ／Ｗ13で定義されるので、その面積、つまりＰ
W12scatl(X,Y) は、（３）式で与えられる。
のカウント数ＰW11all(X,Y) と、ウインドウＷ13内のカ
ウント数ＰW13all(X,Y) とに基づいて、ウインドウＷ12
内の散乱線数ＰW12scatl(X,Y) を推定する。この散乱線
数ＰW12scatl(X,Y) は、図６において、エネルギー軸
と、ウインドウＷ12と、エネルギースペクトラムとウイ
ンドウＷ12との２交点を結ぶ線とに囲まれた台形の面積
を近似的に求めることにより得られる。この台形は、高
さがＷ12、下辺がＰW11all(X,Y) ／Ｗ11、上辺がＰW13a
ll(X,Y) ／Ｗ13で定義されるので、その面積、つまりＰ
W12scatl(X,Y) は、（３）式で与えられる。
【００２３】 ＰW12scatl(X,Y) ＝｛（ＰW11all(X,Y) ／Ｗ11＋ＰW13all(X,Y) ／Ｗ13）×Ｗ12｝／２ …（３） 同様に、散乱成分除去部１９は、ウインドウＷ21内のカ
ウント数ＰW21all(X,Y) と、ウインドウＷ23内のカウン
ト数ＰW23all(X,Y) とに基づいて、ウインドウＷ22内の
散乱線数ＰW22scatl(X,Y) を、（４）式により推定す
る。
ウント数ＰW21all(X,Y) と、ウインドウＷ23内のカウン
ト数ＰW23all(X,Y) とに基づいて、ウインドウＷ22内の
散乱線数ＰW22scatl(X,Y) を、（４）式により推定す
る。
【００２４】 ＰW22scatl(X,Y) ＝｛（ＰW21all(X,Y) ／Ｗ21＋ＰW23all(X,Y) ／Ｗ23）×Ｗ22｝／２ …（４） さらに、散乱成分除去部１９は、（１）式にしたがっ
て、ＰW12all(X,Y) から、散乱線数ＰW12scatl(X,Y) を
減算することにより、体内のＴ1-201 からカメラ本体１
にダイレクトに入射し、且つウインドウＷ12内のエネル
ギーを持つγ線だけの数ＰW12prim (X,Y) を求める。ま
た、散乱成分除去部１９は、（２）式にしたがって、Ｐ
W22all(X,Y) から、散乱線数ＰW22scatl(X,Y) を減算す
ることにより、体内のＴ1-201 又はＩ-123からカメラ本
体１にダイレクトに入射し、且つ広いウインドウＷ22内
のエネルギーを持つγ線だけの数ＰW22prim(X,Y)を求め
る。
て、ＰW12all(X,Y) から、散乱線数ＰW12scatl(X,Y) を
減算することにより、体内のＴ1-201 からカメラ本体１
にダイレクトに入射し、且つウインドウＷ12内のエネル
ギーを持つγ線だけの数ＰW12prim (X,Y) を求める。ま
た、散乱成分除去部１９は、（２）式にしたがって、Ｐ
W22all(X,Y) から、散乱線数ＰW22scatl(X,Y) を減算す
ることにより、体内のＴ1-201 又はＩ-123からカメラ本
体１にダイレクトに入射し、且つ広いウインドウＷ22内
のエネルギーを持つγ線だけの数ＰW22prim(X,Y)を求め
る。
【００２５】図３は分離画像作成部９のブロック図であ
る。図７は、散乱線補正後の或る位置に関するエネルギ
ースペクトラムを示している。図７において、Ｔ1-201
の光電ピーク 167keＶ付近のエネルギースペクトラムを
一点鎖線で示し、Ｉ-123の光電ピーク 160keＶ付近のエ
ネルギースペクトラムを二点鎖線で示している。
る。図７は、散乱線補正後の或る位置に関するエネルギ
ースペクトラムを示している。図７において、Ｔ1-201
の光電ピーク 167keＶ付近のエネルギースペクトラムを
一点鎖線で示し、Ｉ-123の光電ピーク 160keＶ付近のエ
ネルギースペクトラムを二点鎖線で示している。
【００２６】ここで、或る位置でカウントしたＴ1-201
だけの71keＶ付近のカウント数をＰ71prim(X,Y) 、或る
位置でカウントしたＴ1-201 だけの 167keＶ付近のカウ
ント数をＰ167prim(X,Y)と表すものとする。なお、Ｐ71
prim(X,Y) は、ウインドウＷ12内のエネルギーを持つγ
線の数ＰW12prim (X,Y) に等しいので、（５）式が得ら
れる。
だけの71keＶ付近のカウント数をＰ71prim(X,Y) 、或る
位置でカウントしたＴ1-201 だけの 167keＶ付近のカウ
ント数をＰ167prim(X,Y)と表すものとする。なお、Ｐ71
prim(X,Y) は、ウインドウＷ12内のエネルギーを持つγ
線の数ＰW12prim (X,Y) に等しいので、（５）式が得ら
れる。
【００２７】 Ｐ71prim(X,Y) ＝ＰW12prim (X,Y) …（５） Ｔ1-201 だけの画像ＰT1-201(X,Y) は、２つの光電ピー
ク付近のカウント数の合計であるので、（６）式で定義
される。
ク付近のカウント数の合計であるので、（６）式で定義
される。
【００２８】 ＰT1-201(X,Y) ＝Ｐ71prim(X,Y) ＋Ｐ167prim(X,Y) …（６） （６）式は、（５）式から次の（７）式に変形される。 ＰT1-201(X,Y) ＝ＰW12prim(X,Y)＋Ｐ167prim(X,Y) …（７） また、Ｉ-123だけの 160keＶ付近のカウント数をＰ160p
rim(X,Y)と表すものとする。広いウインドウＷ22内のカ
ウント数ＰW22prim(X,Y)は、体内のＴ1-201 とからのγ
線の数と、Ｉ-123からのγ線の数との合計であるので、
（８）式で定義される。
rim(X,Y)と表すものとする。広いウインドウＷ22内のカ
ウント数ＰW22prim(X,Y)は、体内のＴ1-201 とからのγ
線の数と、Ｉ-123からのγ線の数との合計であるので、
（８）式で定義される。
【００２９】 ＰW22prim(X,Y)＝Ｐ167prim(X,Y)＋Ｐ160prim(X,Y) …（８） Ｉ-123だけの画像ＰI-123(X,Y)は、唯一の光電ピーク付
近のγ線のカウント数であるので、（９）式で定義され
る。
近のγ線のカウント数であるので、（９）式で定義され
る。
【００３０】 ＰI-123(X,Y)＝Ｐ160prim(X,Y) …（９） （９）式は、（８）式から次の（１０）式に変形され
る、 ＰI-123(X,Y)＝ＰW22prim(X,Y)−Ｐ167prim(X,Y) …（１０） このように、Ｔ1-201 だけの画像ＰT1-201(X,Y) は
（７）式で、また、Ｉ-123だけの画像ＰI-123(X,Y)は
（１０）式から得られる。つまり、ウインドウＷ12内の
カウント数ＰW12prim(X,Y)と、ウインドウＷ22内のカウ
ント数ＰW22prim(X,Y)とは散乱線補正部８の出力として
既知であるので、Ｔ1-201 だけの 167keＶ付近のカウン
ト数Ｐ167prim(X,Y)が求められれば、Ｔ1-201 だけの画
像ＰT1-201(X,Y) と、Ｉ-123だけの画像ＰI-123(X,Y)と
が分離できることが理解されるであろう。
る、 ＰI-123(X,Y)＝ＰW22prim(X,Y)−Ｐ167prim(X,Y) …（１０） このように、Ｔ1-201 だけの画像ＰT1-201(X,Y) は
（７）式で、また、Ｉ-123だけの画像ＰI-123(X,Y)は
（１０）式から得られる。つまり、ウインドウＷ12内の
カウント数ＰW12prim(X,Y)と、ウインドウＷ22内のカウ
ント数ＰW22prim(X,Y)とは散乱線補正部８の出力として
既知であるので、Ｔ1-201 だけの 167keＶ付近のカウン
ト数Ｐ167prim(X,Y)が求められれば、Ｔ1-201 だけの画
像ＰT1-201(X,Y) と、Ｉ-123だけの画像ＰI-123(X,Y)と
が分離できることが理解されるであろう。
【００３１】Ｔ1-201 だけの 167keＶ付近のカウント数
Ｐ167prim(X,Y)は、壊変率乗算部２０で求めることがで
きる。周知のように、Ｔ1-201 の71keＶと 167keＶの壊
変比は、９６：１１である。したがって、Ｔ1-201 の71
keＶに対する 167keＶの壊変率ｋは、１１／９６で与え
られる。この壊変率ｋは、Ｔ1-201 に固有の値である。
したがって、Ｐ167prim(X,Y)は、次の（１１）式で与え
られる。
Ｐ167prim(X,Y)は、壊変率乗算部２０で求めることがで
きる。周知のように、Ｔ1-201 の71keＶと 167keＶの壊
変比は、９６：１１である。したがって、Ｔ1-201 の71
keＶに対する 167keＶの壊変率ｋは、１１／９６で与え
られる。この壊変率ｋは、Ｔ1-201 に固有の値である。
したがって、Ｐ167prim(X,Y)は、次の（１１）式で与え
られる。
【００３２】 Ｐ167prim(X,Y)＝ｋ×Ｐ71prim(X,Y) ＝ｋ×ＰW12prim(X,Y) …（１１） 壊変率乗算部２０で求められたＰ167prim(X,Y)は、Ｔ1-
201 画像作成部２１と、Ｉ-123画像作成部２２とに送ら
れる。Ｔ1-201 画像作成部２１は上記（７）式にしたが
ってＴ1-201 の画像ＰT1-201(X,Y) を、Ｉ-123画像作成
部２２は上記（１０）式にしたがってＩ-123の画像ＰI-
123(X,Y)をそれぞれ作成する。
201 画像作成部２１と、Ｉ-123画像作成部２２とに送ら
れる。Ｔ1-201 画像作成部２１は上記（７）式にしたが
ってＴ1-201 の画像ＰT1-201(X,Y) を、Ｉ-123画像作成
部２２は上記（１０）式にしたがってＩ-123の画像ＰI-
123(X,Y)をそれぞれ作成する。
【００３３】このように本実施例によれば、光電ピーク
が接近している複数の放射性同位元素が同時投与された
ときでも、カウント数を放射性同位元素毎に分離して、
放射性同位元素各々の画像を得ることができる。
が接近している複数の放射性同位元素が同時投与された
ときでも、カウント数を放射性同位元素毎に分離して、
放射性同位元素各々の画像を得ることができる。
【００３４】上述では、本発明をシンチレーションカメ
ラに適用した実施例を説明したが、ＳＰＥＣＴ装置にも
適用できることは勿論である。ＳＰＥＣＴとは、Single
Photon Emission Computed Tomographyの略である。例
えばカメラ本体１が被検体の周囲を所定角度毎に間欠的
に回転する。これら各角度において、被検体から放射さ
れるγ線は、カメラ本体１により一定時間ずつ検出され
る。１個のγ線がカメラ本体１に入射する毎に、カメラ
本体１の入射面（検出面）上での入射位置（Ｘ，Ｙ）が
計算され、入射位置（Ｘ，Ｙ）毎に入射数がカウントさ
れる。この入射数Ｐ（Ｘ，Ｙ）のカウントは、カメラ本
体１の回転角度（θ）毎に繰り返される。これにより、
各入射数は、入射位置と角度（Ｘ，Ｙ，θ）で識別され
る。各入射数は、Ｘ線ＣＴスキャナ装置でいうところの
投影データと等価的に扱われ、Ｘ線ＣＴスキャナ装置と
同様に再構成処理を施されることにより、横断面のγ線
分布（断層像）を得ることができる。本発明をＳＰＥＣ
Ｔ装置に適用すると、或る横断面に関するＴ1-201 だけ
の断層像と、Ｉ-123だけの断層像が得られる。上述した
実施例では、入射数を位置（Ｘ，Ｙ）で識別していた
が、ＳＰＥＣＴ装置では入射位置と回転角度（投影方
向）とで（Ｘ，Ｙ，θ）により識別されることになる。
θは、ＳＰＥＣＴ装置が上記カメラ本体１が被検体の回
りを回転する回転方式であれば、この回転角度を検出す
る例えばロータリエンコーダ等の角度検出器で求めら
れ、また、ＳＰＥＣＴ装置が複数のγ線カウンタを被検
体の周囲にリング状に配列したＳＰＥＣＴ専用器であれ
ば、γ線カウンタのチャンネルとして得られる。散乱線
補正部８は、（Ｘ，Ｙ，θ）毎に散乱線を補正すること
により、ＰW12prim(X,Y,θ) 、ＰW22prim(X,Y,θ) を求
める。そして、分離画像作成部９は、ＰW12prim(X,Y,
θ) 、ＰW22prim(X,Y,θ) を使って、（Ｘ，Ｙ，θ）毎
にＴ1-201 のカウント数ＰT1-201(X,Y, θ) と、Ｉ-123
のカウント数ＰI-123(X,Y,θ) を求める。分離画像作成
部９の出力には再構成処理部が設けられるであろう。再
構成処理部は、或る横断面に関する３６０°又は１８０
°分のＰT1-201(X,Y, θ) に基づいて、当該横断面に関
するＴ1-201 だけの断層像を再構成する。また、再構成
処理部は、或る横断面に関する３６０°又は１８０°分
のＰI-123(X,Y,θ) に基づいて、当該横断面に関するＩ
-123だけの断層像を再構成する。これら断層像は、画像
表示部１０に表示され、また磁気ディスク装置等の記憶
部１１に記憶される。
ラに適用した実施例を説明したが、ＳＰＥＣＴ装置にも
適用できることは勿論である。ＳＰＥＣＴとは、Single
Photon Emission Computed Tomographyの略である。例
えばカメラ本体１が被検体の周囲を所定角度毎に間欠的
に回転する。これら各角度において、被検体から放射さ
れるγ線は、カメラ本体１により一定時間ずつ検出され
る。１個のγ線がカメラ本体１に入射する毎に、カメラ
本体１の入射面（検出面）上での入射位置（Ｘ，Ｙ）が
計算され、入射位置（Ｘ，Ｙ）毎に入射数がカウントさ
れる。この入射数Ｐ（Ｘ，Ｙ）のカウントは、カメラ本
体１の回転角度（θ）毎に繰り返される。これにより、
各入射数は、入射位置と角度（Ｘ，Ｙ，θ）で識別され
る。各入射数は、Ｘ線ＣＴスキャナ装置でいうところの
投影データと等価的に扱われ、Ｘ線ＣＴスキャナ装置と
同様に再構成処理を施されることにより、横断面のγ線
分布（断層像）を得ることができる。本発明をＳＰＥＣ
Ｔ装置に適用すると、或る横断面に関するＴ1-201 だけ
の断層像と、Ｉ-123だけの断層像が得られる。上述した
実施例では、入射数を位置（Ｘ，Ｙ）で識別していた
が、ＳＰＥＣＴ装置では入射位置と回転角度（投影方
向）とで（Ｘ，Ｙ，θ）により識別されることになる。
θは、ＳＰＥＣＴ装置が上記カメラ本体１が被検体の回
りを回転する回転方式であれば、この回転角度を検出す
る例えばロータリエンコーダ等の角度検出器で求めら
れ、また、ＳＰＥＣＴ装置が複数のγ線カウンタを被検
体の周囲にリング状に配列したＳＰＥＣＴ専用器であれ
ば、γ線カウンタのチャンネルとして得られる。散乱線
補正部８は、（Ｘ，Ｙ，θ）毎に散乱線を補正すること
により、ＰW12prim(X,Y,θ) 、ＰW22prim(X,Y,θ) を求
める。そして、分離画像作成部９は、ＰW12prim(X,Y,
θ) 、ＰW22prim(X,Y,θ) を使って、（Ｘ，Ｙ，θ）毎
にＴ1-201 のカウント数ＰT1-201(X,Y, θ) と、Ｉ-123
のカウント数ＰI-123(X,Y,θ) を求める。分離画像作成
部９の出力には再構成処理部が設けられるであろう。再
構成処理部は、或る横断面に関する３６０°又は１８０
°分のＰT1-201(X,Y, θ) に基づいて、当該横断面に関
するＴ1-201 だけの断層像を再構成する。また、再構成
処理部は、或る横断面に関する３６０°又は１８０°分
のＰI-123(X,Y,θ) に基づいて、当該横断面に関するＩ
-123だけの断層像を再構成する。これら断層像は、画像
表示部１０に表示され、また磁気ディスク装置等の記憶
部１１に記憶される。
【００３５】なお、本発明をＳＰＥＣＴ装置に適用する
場合、上記説明のように再構成処理前にクロストークを
補正する他に、再構成処理後にクロストークを補正する
ことが考えられる。この場合、散乱線補正部８の出力に
再構成処理部が設けられるであろう。再構成処理部は、
或る横断面に関する３６０°又は１８０°分のＰW12pri
m(X,Y,θ) に基づいて、Ｔ1-201 の光電ピーク71keＶ付
近のカウント数に関する第１の断層像を再構成する。ま
た、再構成処理部は、或る横断面に関する３６０°又は
１８０°分のＰW22prim(X,Y,θ) に基づいて、Ｔ1-201
又はＩ-123から広いウインドウＷ22を通過したカウント
数に関する第２の断層像を再構成する。分離画像作成部
９は、（１１）式のように、第１の断層像の各画素に壊
変率を乗算することにより、Ｔ1-201 の光電ピーク 167
keＶ付近のカウント数に関する第３の断層像を求める。
分離画像作成部９の画像作成部２１は、（７）式のよう
に、第１の断層像と第３の断層像とをフレーム間で加算
することにより、当該横断面に関するＴ1-201 だけの断
層像を作成する。また、分離画像作成部９の画像作成部
２２は、（１０）式のように、第２の断層像から第３の
断層像をフレーム間でサブトラクションすることによ
り、当該横断面に関するＩ-123だけの断層像を作成す
る。本発明は、上述した実施例に限定されることなく、
種々変形して実施可能である。
場合、上記説明のように再構成処理前にクロストークを
補正する他に、再構成処理後にクロストークを補正する
ことが考えられる。この場合、散乱線補正部８の出力に
再構成処理部が設けられるであろう。再構成処理部は、
或る横断面に関する３６０°又は１８０°分のＰW12pri
m(X,Y,θ) に基づいて、Ｔ1-201 の光電ピーク71keＶ付
近のカウント数に関する第１の断層像を再構成する。ま
た、再構成処理部は、或る横断面に関する３６０°又は
１８０°分のＰW22prim(X,Y,θ) に基づいて、Ｔ1-201
又はＩ-123から広いウインドウＷ22を通過したカウント
数に関する第２の断層像を再構成する。分離画像作成部
９は、（１１）式のように、第１の断層像の各画素に壊
変率を乗算することにより、Ｔ1-201 の光電ピーク 167
keＶ付近のカウント数に関する第３の断層像を求める。
分離画像作成部９の画像作成部２１は、（７）式のよう
に、第１の断層像と第３の断層像とをフレーム間で加算
することにより、当該横断面に関するＴ1-201 だけの断
層像を作成する。また、分離画像作成部９の画像作成部
２２は、（１０）式のように、第２の断層像から第３の
断層像をフレーム間でサブトラクションすることによ
り、当該横断面に関するＩ-123だけの断層像を作成す
る。本発明は、上述した実施例に限定されることなく、
種々変形して実施可能である。
【００３６】
【発明の効果】請求項１に係る発明では、第１の光電ピ
ークと第２の光電ピークを有する第１の放射性同位元素
と、前記第２の光電ピークに接近した第３の光電ピーク
を有する第２の放射性同位元素が被検体に同時投与され
た場合であっても、第２の光電ピークと第３の光電ピー
クの付近で発生するクロストークの問題を解決して、第
１の放射性同位元素に関する第１の画像と、第２の放射
性同位元素に関する第２の画像をそれぞれ分離して作成
することができる。第１の入射数は、第１の放射性同位
元素から放射されるγ線のうち、第１の光電ピーク付近
のエネルギーの入射数である。第２の入射数は、第１の
放射性同位元素から放射されるγ線のうち、第２の光電
ピーク付近のエネルギーのγ線の入射数（第３の入射
数）と、第２の放射性同位元素から放射され、第３の光
電ピーク付近のエネルギーのγ線の入射数との合計数と
して与えられ、ここにクロストークが生じている。この
クロストークの問題を解決するには、第２の入射数か
ら、両放射性同位元素の入射数を分離しなければならな
い。請求項１に係る発明では、第１の入射数に基づいて
同じ第１の放射性同位元素に関する第２の光電ピーク付
近の第３の入射数を求める。第１の放射性同位元素から
放射される全γ線の入射数は、第１の入射数と第３の入
射数とに基づいて与えられる。また、この第３の入射数
と、第２の入射数とに基づいて、第２の放射性同位元素
から放射される全γ線の入射数を求めることができる。
各放射性同位元素から放射される全γ線の入射数を別々
に使って、各放射性同位元素の画像を求めることができ
る。これによりクロストークの問題が解決される。
ークと第２の光電ピークを有する第１の放射性同位元素
と、前記第２の光電ピークに接近した第３の光電ピーク
を有する第２の放射性同位元素が被検体に同時投与され
た場合であっても、第２の光電ピークと第３の光電ピー
クの付近で発生するクロストークの問題を解決して、第
１の放射性同位元素に関する第１の画像と、第２の放射
性同位元素に関する第２の画像をそれぞれ分離して作成
することができる。第１の入射数は、第１の放射性同位
元素から放射されるγ線のうち、第１の光電ピーク付近
のエネルギーの入射数である。第２の入射数は、第１の
放射性同位元素から放射されるγ線のうち、第２の光電
ピーク付近のエネルギーのγ線の入射数（第３の入射
数）と、第２の放射性同位元素から放射され、第３の光
電ピーク付近のエネルギーのγ線の入射数との合計数と
して与えられ、ここにクロストークが生じている。この
クロストークの問題を解決するには、第２の入射数か
ら、両放射性同位元素の入射数を分離しなければならな
い。請求項１に係る発明では、第１の入射数に基づいて
同じ第１の放射性同位元素に関する第２の光電ピーク付
近の第３の入射数を求める。第１の放射性同位元素から
放射される全γ線の入射数は、第１の入射数と第３の入
射数とに基づいて与えられる。また、この第３の入射数
と、第２の入射数とに基づいて、第２の放射性同位元素
から放射される全γ線の入射数を求めることができる。
各放射性同位元素から放射される全γ線の入射数を別々
に使って、各放射性同位元素の画像を求めることができ
る。これによりクロストークの問題が解決される。
【００３７】請求項３に係る発明では、請求項１に係る
発明と同様の原理で各放射性同位元素からの全γ線の入
射数を入射位置及び方向毎に求め、各放射性同位元素の
断層像を再構成することができる。
発明と同様の原理で各放射性同位元素からの全γ線の入
射数を入射位置及び方向毎に求め、各放射性同位元素の
断層像を再構成することができる。
【００３８】請求項５に係る発明では、請求項３に係る
発明と相違して、各ウインドウの入射数各々に基づいて
２つの断層像を再構成し、２つの断層像に基づいて請求
項１に係る発明と同様の原理で各放射性同位元素の断層
像を求めることができる。
発明と相違して、各ウインドウの入射数各々に基づいて
２つの断層像を再構成し、２つの断層像に基づいて請求
項１に係る発明と同様の原理で各放射性同位元素の断層
像を求めることができる。
【図１】本発明によるシンチレーションカメラの一実施
例の構成図。
例の構成図。
【図２】図１の散乱線補正部のブロック図。
【図３】図１の分離画像作成部のブロック図。
【図４】Ｔ1-201 だけを投与したときの或る位置に関す
るエネルギースペクトルを示す図。
るエネルギースペクトルを示す図。
【図５】Ｉ-123だけを投与したときの或る位置に関する
エネルギースペクトルを示す図。
エネルギースペクトルを示す図。
【図６】Ｔ1-201 とＩ-123を同時投与したときの或る位
置に関するエネルギースペクトルを示す図。
置に関するエネルギースペクトルを示す図。
【図７】図６に対応する散乱線補正後のエネルギースペ
クトルを示す図。
クトルを示す図。
１…カメラ本体、 ２…シンチレータ、 ３…コリメータ、 ４…ライトガイド、 ５…光電子増倍管、 ６…エネルギー計算部、 ７…位置計算部、 ８…散乱線補正部、 ９…分離画像作成部、 １０…画像表示部、 １１…記憶部。
Claims (6)
- 【請求項１】 被検体に同時投与された、第１の光電ピ
ークと第２の光電ピークを有する第１の放射性同位元素
と、前記第２の光電ピークに接近した第３の光電ピーク
を有する第２の放射性同位元素とからのγ線を検出する
カメラ本体と、 前記カメラ本体からの出力に基づいて、γ線のエネルギ
ーを計算するエネルギー計算手段と、 前記カメラ本体からの出力に基づいて、γ線の入射位置
を計算する位置計算手段と、 前記エネルギー計算手段と前記位置計算手段の出力に接
続され、前記第１の光電ピークを含む第１のウインドウ
内のエネルギーを有するγ線に関する第１の入射数を入
射位置毎にカウントし、前記第２の光電ピークと前記第
３の光電ピークとを含む第２のウインドウ内のエネルギ
ーを有するγ線に関する第２の入射数を入射位置毎にカ
ウントするカウント手段と、 前記第１の入射数に基づいて、前記第１の放射性同位元
素から放射されたγ線であって、且つ前記第２のウイン
ドウ内のエネルギーを有するγ線に関する第３の入射数
を求める手段と、 前記第１の入射数と前記第３の入射数とに基づいて前記
第１の放射性同位元素に関する第１の画像を作成する第
１の画像作成手段と、 前記第２の入射数と前記第３の入射数とに基づいて前記
第２の放射性同位元素に関する第２の画像を作成する第
２の画像作成手段とを具備することを特徴とするシンチ
レーションカメラ。 - 【請求項２】 前記第１の入射数と前記第２の入射数各
々に対して散乱線補正を行う手段をさらに備えることを
特徴とする請求項１記載のシンチレーションカメラ。 - 【請求項３】 被検体に同時投与された、第１の光電ピ
ークと第２の光電ピークを有する第１の放射性同位元素
と、前記第２の光電ピークに接近した第３の光電ピーク
を有する第２の放射性同位元素とからのγ線を被検体の
周囲複数の方向から検出するカメラ本体と、 前記カメラ本体からの出力に基づいて、γ線のエネルギ
ーを計算するエネルギー計算手段と、 前記カメラ本体からの出力に基づいて、γ線の入射位置
を計算する位置計算手段と、 前記エネルギー計算手段と前記位置計算手段の出力に接
続され、前記第１の光電ピークを含む第１のウインドウ
内のエネルギーを有するγ線の第１の入射数を入射位置
及び方向毎にカウントし、前記第２の光電ピークと前記
第３の光電ピークとを含む第２のウインドウ内のエネル
ギーを有するγ線の第２の入射数を入射位置及び方向毎
にカウントするカウント手段と、 前記第１の入射数に基づいて、前記第１の放射性同位元
素から放射されたγ線であって、且つ前記第２のウイン
ドウ内のエネルギーを有するγ線の第３の入射数を入射
位置及び方向毎に求める手段と、 前記第１の入射数と前記第３の入射数とに基づいて、前
記第１の放射性同位元素から放射されたγ線であって、
且つ前記第１のウインドウ又は前記第２のウインドウ内
のエネルギーを有するγ線の第４の入射数を入射位置及
び方向毎に求める手段と、 前記第２の入射数と前記第３の入射数とに基づいて、前
記第２の放射性同位元素から放射されたγ線であって、
且つ前記第２のウインドウ内のエネルギーを有するγ線
の第５の入射数を入射位置及び方向毎に求める手段と、 前記第４の入射数に基づいて、前記第１の放射性同位元
素に関する第１の断層像を再構成し、前記第５の入射数
に基づいて前記第２の放射性同位元素に関する第２の断
層像を再構成する再構成手段とを具備することを特徴と
するＳＰＥＣＴ装置。 - 【請求項４】 前記第１の入射数と前記第２の入射数各
々に対して散乱線補正を行う手段をさらに備えることを
特徴とする請求項３記載のＳＰＥＣＴ装置。 - 【請求項５】 被検体に同時投与された、第１の光電ピ
ークと第２の光電ピークを有する第１の放射性同位元素
と、前記第２の光電ピークに接近した第３の光電ピーク
を有する第２の放射性同位元素とからのγ線を被検体の
周囲複数の方向から検出するカメラ本体と、 前記カメラ本体からの出力に基づいて、γ線のエネルギ
ーを計算するエネルギー計算手段と、 前記カメラ本体からの出力に基づいて、γ線の入射位置
を計算する位置計算手段と、 前記エネルギー計算手段と前記位置計算手段の出力に接
続され、前記第１の光電ピークを含む第１のウインドウ
内のエネルギーを有するγ線に関する第１の入射数を入
射位置及び方向毎にカウントし、前記第２の光電ピーク
と前記第３の光電ピークとを含む第２のウインドウ内の
エネルギーを有するγ線に関する第２の入射数を入射位
置及び方向毎にカウントするカウント手段と、 前記第１の入射数に基づいて第１の断層像を再構成し、
前記第２の入射数に基づいて第２の断層像を再構成する
再構成手段と、 前記第１の断層像に基づいて、前記第１の放射性同位元
素から放射されたγ線であって、且つ前記第２のウイン
ドウ内のエネルギーを有するγ線に関する第３の断層像
を作成する手段と、 前記第１の断層像と前記第３の断層像とに基づいて前記
第１の放射性同位元素に関する断層像を作成する手段
と、 前記第２の断層像と前記第３の断層像とに基づいて、前
記第２の放射性同位元素に関する断層像を作成する手段
とを具備することを特徴とするＳＰＥＣＴ装置。 - 【請求項６】 前記第１の入射数と前記第２の入射数各
々に対して散乱線補正を行う手段をさらに備えることを
特徴とする請求項５記載のＳＰＥＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6063995A JP3563477B2 (ja) | 1994-03-30 | 1995-03-20 | シンチレーションカメラ及びｓｐｅｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6093694 | 1994-03-30 | ||
| JP6-60936 | 1994-03-30 | ||
| JP6063995A JP3563477B2 (ja) | 1994-03-30 | 1995-03-20 | シンチレーションカメラ及びｓｐｅｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07318655A true JPH07318655A (ja) | 1995-12-08 |
| JP3563477B2 JP3563477B2 (ja) | 2004-09-08 |
Family
ID=26401711
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6063995A Expired - Lifetime JP3563477B2 (ja) | 1994-03-30 | 1995-03-20 | シンチレーションカメラ及びｓｐｅｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3563477B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0775922A3 (en) * | 1995-11-22 | 1999-08-18 | Picker International, Inc. | Scatter correction for use with a gamma camera |
| JP2003066145A (ja) * | 2001-08-27 | 2003-03-05 | Toshiba Medical System Co Ltd | センチネルリンパ節画像作成方法および核医学診断装置 |
-
1995
- 1995-03-20 JP JP6063995A patent/JP3563477B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0775922A3 (en) * | 1995-11-22 | 1999-08-18 | Picker International, Inc. | Scatter correction for use with a gamma camera |
| JP2003066145A (ja) * | 2001-08-27 | 2003-03-05 | Toshiba Medical System Co Ltd | センチネルリンパ節画像作成方法および核医学診断装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3563477B2 (ja) | 2004-09-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Knoll | Single-photon emission computed tomography | |
| KR100991640B1 (ko) | 핵의학 진단장치, 형태단층촬영 진단장치, 핵의학용 데이터연산처리방법 및 형태단층화상 연산처리방법 | |
| Patton et al. | Coincidence imaging with a dual-head scintillation camera | |
| CN101530330B (zh) | 核医学诊断设备及方法,形态断层摄影诊断设备及方法 | |
| US8481947B2 (en) | Method and system for nuclear imaging using multi-zone detector architecture | |
| US5461232A (en) | Pulse transmission scintigraphic imaging | |
| US5751000A (en) | Prefilter collimator for PET gamma camera | |
| JP2008309683A (ja) | 核医学診断装置 | |
| CN111596336A (zh) | 基于缝-孔平板准直器的多伽马光子符合成像系统及方法 | |
| US8809790B2 (en) | Method and system for nuclear imaging using multi-zone detector architecture | |
| Links | Advances in nuclear medicine instrumentation: considerations in the design and selection of an imaging system | |
| JP2535762B2 (ja) | 陽電子断層撮影装置におけるγ線吸収体による散乱同時計数測定法及び陽電子断層撮影装置 | |
| US5371672A (en) | Scintillation camera apparatus capable of quantitatively eliminating scattering signal components by setting multiple window and method for quantitatively eliminating scattering signal components | |
| JP4737292B2 (ja) | 核医学診断装置 | |
| JP3563477B2 (ja) | シンチレーションカメラ及びｓｐｅｃｔ装置 | |
| Patton | Instrumentation for coincidence imaging with multihead scintillation cameras | |
| Daube-Witherspoon et al. | Developments in instrumentation for emission computed tomography | |
| JP3763165B2 (ja) | Ｓｐｅｃｔの吸収補正方法 | |
| US5610402A (en) | Scintillation camera | |
| JP4142767B2 (ja) | 核医学診断装置 | |
| Zanzonico | Instrumentation for single-photon emission computed tomography (SPECT) | |
| GORDON | 28 Radionuclide Imaging | |
| JP3857392B2 (ja) | エミッションｃｔシステム | |
| Ziegler et al. | Instrumentation and data acquisition | |
| Saha | Data Acquisition and Corrections |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20031226 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040302 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040506 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040601 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040603 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090611 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100611 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100611 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110611 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120611 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130611 Year of fee payment: 9 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |