JPH07321448A - 電子部品、該電子部品からなる記録ヘッドおよびこれらの製造方法ならびに前記記録ヘッドを搭載する液体噴射記録装置 - Google Patents
電子部品、該電子部品からなる記録ヘッドおよびこれらの製造方法ならびに前記記録ヘッドを搭載する液体噴射記録装置Info
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- JPH07321448A JPH07321448A JP13522194A JP13522194A JPH07321448A JP H07321448 A JPH07321448 A JP H07321448A JP 13522194 A JP13522194 A JP 13522194A JP 13522194 A JP13522194 A JP 13522194A JP H07321448 A JPH07321448 A JP H07321448A
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- substrate
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 記録ヘッド等の電気接続部を効果的に清浄化
する。 【構成】 記録ヘッドE1 は図示しない電気熱変換素子
とこれに接続される電気配線10bを有するシリコン基
板10と、その上に積層された樹脂層11を有し、樹脂
層11にはオリフィス11aとインクバッファー11c
が形成されている。電気配線10bの端部にはAlから
なるパッド10cが設けられ、パッド10cをワイヤー
ボンディング等によって外部の電子部品に電気接続する
前にレーザ光を照射してパッド10cの表面の汚れを除
去する。
する。 【構成】 記録ヘッドE1 は図示しない電気熱変換素子
とこれに接続される電気配線10bを有するシリコン基
板10と、その上に積層された樹脂層11を有し、樹脂
層11にはオリフィス11aとインクバッファー11c
が形成されている。電気配線10bの端部にはAlから
なるパッド10cが設けられ、パッド10cをワイヤー
ボンディング等によって外部の電子部品に電気接続する
前にレーザ光を照射してパッド10cの表面の汚れを除
去する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液体噴射記録装置の記
録ヘッド等の電子部品、該電子部品からなる記録ヘッド
およびこれらの製造方法ならびに前記記録ヘッドを搭載
する液体噴射記録装置に関するものである。
録ヘッド等の電子部品、該電子部品からなる記録ヘッド
およびこれらの製造方法ならびに前記記録ヘッドを搭載
する液体噴射記録装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、インクジェット記録装置等のIC
素子や記録ヘッドその他の電子部品のパッケージングや
実装においては、Si基板上の電子部品にAlまたはA
uの金属パッドからなる電気接続部を設け、各金属パッ
ドをAlまたはAuのワイヤーを用いて他の電子部品の
金属パッドに接続するのが一般的であり、また、Alま
たはAuのワイヤーを用いる替わりに、金属パッドの上
にAu等の金属バンプを設ける方法も開発されている
が、いずれの場合も、各電子部品の電気接続部の金属パ
ッドの表面状態が悪いと電気的接続の信頼性が大きく損
われるおそれがある。例えば、金属パッドを作製後に長
時間空気に接触させると空気中の湿気や酸素のために酸
化膜が形成され、このために著しい接続不良が発生す
る。
素子や記録ヘッドその他の電子部品のパッケージングや
実装においては、Si基板上の電子部品にAlまたはA
uの金属パッドからなる電気接続部を設け、各金属パッ
ドをAlまたはAuのワイヤーを用いて他の電子部品の
金属パッドに接続するのが一般的であり、また、Alま
たはAuのワイヤーを用いる替わりに、金属パッドの上
にAu等の金属バンプを設ける方法も開発されている
が、いずれの場合も、各電子部品の電気接続部の金属パ
ッドの表面状態が悪いと電気的接続の信頼性が大きく損
われるおそれがある。例えば、金属パッドを作製後に長
時間空気に接触させると空気中の湿気や酸素のために酸
化膜が形成され、このために著しい接続不良が発生す
る。
【0003】特に、インクジェット記録装置等の記録ヘ
ッドの製造は、インク吐出のためのエネルギー発生素子
が形成された基板の上にネガ型のドライフィルムやレジ
ストあるいはポジ型のドライフィルムやレジストなどの
感光性樹脂を塗布し、インク流路やインクバッファー等
のパターンを有するネガ型またはポジ型のフォトマスク
を重ねて露光し、ネガ型の感光性樹脂の場合は未露光
部、ポジ型の感光性樹脂の場合は露光部を現像液で除去
するパターニング工程を必要とし、また、ポジ型の感光
性樹脂を用いた場合は、さらにパターニング後のポジ型
感光性樹脂の上に光硬化性樹脂を流したうえで該ポジ型
感光性樹脂を溶剤(洗浄液)で除去する工程も必要であ
り、これらの工程で電気接続部の金属パッドに現像液や
溶剤がシミとなって残ると、前述の酸化膜と同様に他の
電子部品との電気的接続の信頼性を大きく損うもとにな
る。
ッドの製造は、インク吐出のためのエネルギー発生素子
が形成された基板の上にネガ型のドライフィルムやレジ
ストあるいはポジ型のドライフィルムやレジストなどの
感光性樹脂を塗布し、インク流路やインクバッファー等
のパターンを有するネガ型またはポジ型のフォトマスク
を重ねて露光し、ネガ型の感光性樹脂の場合は未露光
部、ポジ型の感光性樹脂の場合は露光部を現像液で除去
するパターニング工程を必要とし、また、ポジ型の感光
性樹脂を用いた場合は、さらにパターニング後のポジ型
感光性樹脂の上に光硬化性樹脂を流したうえで該ポジ型
感光性樹脂を溶剤(洗浄液)で除去する工程も必要であ
り、これらの工程で電気接続部の金属パッドに現像液や
溶剤がシミとなって残ると、前述の酸化膜と同様に他の
電子部品との電気的接続の信頼性を大きく損うもとにな
る。
【0004】そこで、他の電子部品に接続する前にプラ
ズマ処理(プラズマアッシング)またはUV/O3 洗浄
によって電気接続部を清浄化する方法が採用され、かな
りの効果をあげている。
ズマ処理(プラズマアッシング)またはUV/O3 洗浄
によって電気接続部を清浄化する方法が採用され、かな
りの効果をあげている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の技術によれば、プラズマ処理やUV/O3 洗浄を行な
う装置は一般にバッチ式であるため、インライン工程に
組み入れることができず、生産ラインの省力化を妨げて
コスト高となる。最近ではインライン工程に組み入れる
ように改良されたプラズマ処理装置やUV/O3 洗浄装
置も開発されているが、これらはいずれも処理時間が長
く、特にプラズマ処理装置は基本的にはバッチ式のまま
であるため処理個数が少なくて大量生産に不向きであ
る。また、UV/O3 洗浄装置の場合は処理中に著しく
温度が上昇する傾向があり、耐熱性の低い材料には適用
できず、さらにUV光によって劣化する材料を含む場合
にも適用できない。
の技術によれば、プラズマ処理やUV/O3 洗浄を行な
う装置は一般にバッチ式であるため、インライン工程に
組み入れることができず、生産ラインの省力化を妨げて
コスト高となる。最近ではインライン工程に組み入れる
ように改良されたプラズマ処理装置やUV/O3 洗浄装
置も開発されているが、これらはいずれも処理時間が長
く、特にプラズマ処理装置は基本的にはバッチ式のまま
であるため処理個数が少なくて大量生産に不向きであ
る。また、UV/O3 洗浄装置の場合は処理中に著しく
温度が上昇する傾向があり、耐熱性の低い材料には適用
できず、さらにUV光によって劣化する材料を含む場合
にも適用できない。
【0006】加えて、インクジェット記録装置等の記録
ヘッドの製造においては、パターニング工程等の現像液
や洗浄液に用いられてきた有機塩素化合物が、近年、オ
ゾン層破壊の原因物質として使用規制され、アセトンや
キシレン等の代替溶媒を用いなければならないが、この
ような代替溶媒は一般的に洗浄力が劣るため、洗浄後の
電気接続部の金属パッドに残る残渣の量が多く、プラズ
マ処理装置やUV/O3 洗浄装置では充分な清浄化を達
成できない。
ヘッドの製造においては、パターニング工程等の現像液
や洗浄液に用いられてきた有機塩素化合物が、近年、オ
ゾン層破壊の原因物質として使用規制され、アセトンや
キシレン等の代替溶媒を用いなければならないが、この
ような代替溶媒は一般的に洗浄力が劣るため、洗浄後の
電気接続部の金属パッドに残る残渣の量が多く、プラズ
マ処理装置やUV/O3 洗浄装置では充分な清浄化を達
成できない。
【0007】本発明は、上記従来の技術の有する問題点
に鑑みてなされたものであって、極めて効果的に清浄化
された電気接続部を有し、外部の電子部品等に接続した
ときに高い接続信頼性を得ることのできる電子部品、該
電子部品からなる記録ヘッドおよびこれらの製造方法な
らびに前記記録ヘッドを搭載する液体噴射記録装置を提
供することを目的とするものである。
に鑑みてなされたものであって、極めて効果的に清浄化
された電気接続部を有し、外部の電子部品等に接続した
ときに高い接続信頼性を得ることのできる電子部品、該
電子部品からなる記録ヘッドおよびこれらの製造方法な
らびに前記記録ヘッドを搭載する液体噴射記録装置を提
供することを目的とするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の電子部品は、基板の表面に設けられた接触
手段によって外部部品に電気接続される電子部品であっ
て、前記接触手段がレーザ光によって清浄化された表面
を有することを特徴とする。
め、本発明の電子部品は、基板の表面に設けられた接触
手段によって外部部品に電気接続される電子部品であっ
て、前記接触手段がレーザ光によって清浄化された表面
を有することを特徴とする。
【0009】本発明の記録ヘッドは、前記電子部品から
なり、基板上に複数の液流路と各液流路に連通する共通
液室を形成する樹脂層または金属層を有することを特徴
とする。
なり、基板上に複数の液流路と各液流路に連通する共通
液室を形成する樹脂層または金属層を有することを特徴
とする。
【0010】レーザ光が紫外光レーザビームであるとよ
い。
い。
【0011】本発明の電子部品の製造方法は、接触手段
を有する基板の表面を液体に接触させる工程と、液体に
接触した基板の接触手段の表面をレーザ光によって清浄
化する工程を有することを特徴とする。
を有する基板の表面を液体に接触させる工程と、液体に
接触した基板の接触手段の表面をレーザ光によって清浄
化する工程を有することを特徴とする。
【0012】
【作用】接触手段の表面をレーザ光によって清浄化する
ことで、電子部品を製造する工程中や製造後に電子部品
を空気中に放置することによって接触手段の表面に付着
したシミや塵等の汚れや酸化膜、あるいは、製造工程に
おける液体処理後の液体や処理物質の残渣等を完全に除
去し、外部部品に電気接続したときの接続信頼性を大き
く向上できる。レーザ光による清浄化は、電子部品製造
のインライン工程に組み入れるのが容易であり、かつ、
レーザ光を照射中に電子部品の温度が著しく上昇するお
それもなく、また、レーザ光の光量や露光時間を調節す
ることで接触手段が過度に露光されるのを防ぐのも容易
であり、さらに、レーザ光の不要な部分をマスクによっ
て完全に遮断できるため、電子部品の材質や性能が損わ
れるおそれもない。
ことで、電子部品を製造する工程中や製造後に電子部品
を空気中に放置することによって接触手段の表面に付着
したシミや塵等の汚れや酸化膜、あるいは、製造工程に
おける液体処理後の液体や処理物質の残渣等を完全に除
去し、外部部品に電気接続したときの接続信頼性を大き
く向上できる。レーザ光による清浄化は、電子部品製造
のインライン工程に組み入れるのが容易であり、かつ、
レーザ光を照射中に電子部品の温度が著しく上昇するお
それもなく、また、レーザ光の光量や露光時間を調節す
ることで接触手段が過度に露光されるのを防ぐのも容易
であり、さらに、レーザ光の不要な部分をマスクによっ
て完全に遮断できるため、電子部品の材質や性能が損わ
れるおそれもない。
【0013】その結果、外部部品に電気接続するのが容
易であるうえに安価で高性能な記録ヘッド等の電子部品
を実現できる。
易であるうえに安価で高性能な記録ヘッド等の電子部品
を実現できる。
【0014】
【実施例】本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
【0015】図1は後述する各実施例に用いられるレー
ザ洗浄装置を説明するもので、これは、レーザ光である
パルスレーザビームL0 を発生するKrFエキシマレー
ザ等のレーザ発振装置Gとアライメント光Laを発生す
るアライメント光源Aと、パルスレーザビームL0 とア
ライメント光Laを同軸に合わせるための合成石英製の
ビームスプリッタSと、これとワークWの間に配設され
た光学レンズ系F等を有し、アライメント光源AにはH
eNeレーザ等が用いられており、これから発生された
アライメント光LaはAl蒸着ミラー等のミラーRによ
って反射されたうえでビームスプリッタSに導入され
る。また、光学レンズ系FはワークWに照射されるパル
スレーザビームL0 のレーザパワー密度を調整するため
のものであり、光学レンズ系FとワークWの間には、ワ
ークWの洗浄部分以外をパルスレーザビームL0 等から
遮断するためのマスクMが設けられている。
ザ洗浄装置を説明するもので、これは、レーザ光である
パルスレーザビームL0 を発生するKrFエキシマレー
ザ等のレーザ発振装置Gとアライメント光Laを発生す
るアライメント光源Aと、パルスレーザビームL0 とア
ライメント光Laを同軸に合わせるための合成石英製の
ビームスプリッタSと、これとワークWの間に配設され
た光学レンズ系F等を有し、アライメント光源AにはH
eNeレーザ等が用いられており、これから発生された
アライメント光LaはAl蒸着ミラー等のミラーRによ
って反射されたうえでビームスプリッタSに導入され
る。また、光学レンズ系FはワークWに照射されるパル
スレーザビームL0 のレーザパワー密度を調整するため
のものであり、光学レンズ系FとワークWの間には、ワ
ークWの洗浄部分以外をパルスレーザビームL0 等から
遮断するためのマスクMが設けられている。
【0016】第1実施例 図2に示す電子部品である記録ヘッドE1 を製作し、そ
の接触手段である電気接続部を図1の装置によって清浄
化したうえで外部部品である駆動用IC等の外部電子部
品に電気接続する。記録ヘッドE1 は、記録ヘッドの記
録液であるインクの吐出にかかわる吐出エネルギー発生
手段であるエネルギー発生素子をパターニングした基板
であるシリコン基板10と、その表面の電気接続部10
aを除く残りの部分に積層された樹脂層11からなり、
該樹脂層11には、記録液を吐出するための吐出口であ
る複数のオリフィス11aと、各オリフィス11aに連
通する液流路であるインク流路11bと、これにインク
を供給する共通液室であるインクバッファー11cが設
けられ、インクバッファー11cは図示上向きに開口し
ている。なお、樹脂層11の替わりに金属層を積層し、
該金属層にオリフィス、液流路および共通液室を設けて
もよい。シリコン基板10の電気接続部10aは、各エ
ネルギー発生素子に接続された電気配線10bとその先
端部に設けられた金属パッドであるAlからなるパッド
10cを有し、また、樹脂層11のオリフィス11aが
開口する側の端面とこれに続くシリコン基板10の端面
には撥水性樹脂コート12が被着されている。
の接触手段である電気接続部を図1の装置によって清浄
化したうえで外部部品である駆動用IC等の外部電子部
品に電気接続する。記録ヘッドE1 は、記録ヘッドの記
録液であるインクの吐出にかかわる吐出エネルギー発生
手段であるエネルギー発生素子をパターニングした基板
であるシリコン基板10と、その表面の電気接続部10
aを除く残りの部分に積層された樹脂層11からなり、
該樹脂層11には、記録液を吐出するための吐出口であ
る複数のオリフィス11aと、各オリフィス11aに連
通する液流路であるインク流路11bと、これにインク
を供給する共通液室であるインクバッファー11cが設
けられ、インクバッファー11cは図示上向きに開口し
ている。なお、樹脂層11の替わりに金属層を積層し、
該金属層にオリフィス、液流路および共通液室を設けて
もよい。シリコン基板10の電気接続部10aは、各エ
ネルギー発生素子に接続された電気配線10bとその先
端部に設けられた金属パッドであるAlからなるパッド
10cを有し、また、樹脂層11のオリフィス11aが
開口する側の端面とこれに続くシリコン基板10の端面
には撥水性樹脂コート12が被着されている。
【0017】記録ヘッドE1 を製作中にはパターニング
工程における現像処理等によって電気接続部10aの各
パッド10cの表面が汚染される。また、記録ヘッドE
1 を製作したのちに駆動用IC等の外部電子部品と接続
するまでに長時間待機させておくと、空気中の酸素や水
分によって電気接続部10aの各パッド10cの表面に
酸化膜等が形成されたり、塵等が付着する。このような
電気接続部10aの汚れや酸化膜等は、記録ヘッドE1
を外部電子部品と接続した場合にその接続信頼性を著し
く損うおそれがあるため、図1の装置を用いて以下のよ
うに電気接続部10aの清浄化を行なう。
工程における現像処理等によって電気接続部10aの各
パッド10cの表面が汚染される。また、記録ヘッドE
1 を製作したのちに駆動用IC等の外部電子部品と接続
するまでに長時間待機させておくと、空気中の酸素や水
分によって電気接続部10aの各パッド10cの表面に
酸化膜等が形成されたり、塵等が付着する。このような
電気接続部10aの汚れや酸化膜等は、記録ヘッドE1
を外部電子部品と接続した場合にその接続信頼性を著し
く損うおそれがあるため、図1の装置を用いて以下のよ
うに電気接続部10aの清浄化を行なう。
【0018】記録ヘッドE1 の樹脂層11と撥水性樹脂
コート12等をマスクMによって覆い、レーザ発振装置
GにKrFエキシマレーザを用いてこれから発生される
紫外光レーザビームであるパルスレーザビームを記録ヘ
ッドE1 の電気接続部10aに照射する。
コート12等をマスクMによって覆い、レーザ発振装置
GにKrFエキシマレーザを用いてこれから発生される
紫外光レーザビームであるパルスレーザビームを記録ヘ
ッドE1 の電気接続部10aに照射する。
【0019】KrFエキシマレーザの照射条件をレーザ
パワー密度100mJ/puls・cm2 、繰り返し周
波数1Hzとして照射パルス数を1〜100パルスの範
囲で変化させて清浄化後の電気接続部10aの表面状態
を調べたところ、1パルスで各パッド10c上の汚れや
酸化膜をほぼ100%除去できることが判明した。他方
60パルス以上になると、パッド10cの表面が荒れ始
めるのが金属顕微鏡で観察された。さらに、電気接続部
10aの電気配線10bはAl配線とこれを覆うSiO
2 の絶縁保護膜からなり、KrFエキシマレーザのパル
スレーザビームを過剰に照射するとSiO2 の絶縁保護
膜を透過してAl配線にダメージを与えるおそれがあ
る。このような観点から、繰り返し周波数1Hzで5パ
ルス(5秒間)照射するのが最適であると判断された。
パワー密度100mJ/puls・cm2 、繰り返し周
波数1Hzとして照射パルス数を1〜100パルスの範
囲で変化させて清浄化後の電気接続部10aの表面状態
を調べたところ、1パルスで各パッド10c上の汚れや
酸化膜をほぼ100%除去できることが判明した。他方
60パルス以上になると、パッド10cの表面が荒れ始
めるのが金属顕微鏡で観察された。さらに、電気接続部
10aの電気配線10bはAl配線とこれを覆うSiO
2 の絶縁保護膜からなり、KrFエキシマレーザのパル
スレーザビームを過剰に照射するとSiO2 の絶縁保護
膜を透過してAl配線にダメージを与えるおそれがあ
る。このような観点から、繰り返し周波数1Hzで5パ
ルス(5秒間)照射するのが最適であると判断された。
【0020】このようにして記録ヘッドE1 の電気接続
部10aを清浄化したうえで、超音波Alワイヤーボン
ダを用いたワイヤーボンディングによって外部電子部品
に接続したところ、各パッド10cのミスワイヤー率は
約5ppmであり、極めて高い接続信頼性が得られるこ
とが判った。比較のために、清浄化を行なうことなく超
音波Alワイヤーボンダを用いて同じ条件で外部電子部
品に接続したところ、ミスワイヤー率は100ppmで
あった。また、KrFエキシマレーザを用いて電気接続
部10aの清浄化を行なうと、Alワイヤーの接続強度
および耐熱衝撃性も大きく向上することが判明した。
部10aを清浄化したうえで、超音波Alワイヤーボン
ダを用いたワイヤーボンディングによって外部電子部品
に接続したところ、各パッド10cのミスワイヤー率は
約5ppmであり、極めて高い接続信頼性が得られるこ
とが判った。比較のために、清浄化を行なうことなく超
音波Alワイヤーボンダを用いて同じ条件で外部電子部
品に接続したところ、ミスワイヤー率は100ppmで
あった。また、KrFエキシマレーザを用いて電気接続
部10aの清浄化を行なうと、Alワイヤーの接続強度
および耐熱衝撃性も大きく向上することが判明した。
【0021】本実施例によれば、Alからなるパッド等
の金属パッドの表面にレーザ光を照射することで金属パ
ッドの表面の汚れや酸化膜等を効果的に除去し、Alワ
イヤー等による外部電子部品との接続信頼性を大きく向
上させることができる。また、このようなレーザ光によ
る清浄化は、プラズマ処理やUV/O3 洗浄等に比べて
インライン工程に組み入れるのが容易であり、従って、
大量生産による低コスト化を大きく促進できる。加え
て、UV/O3 洗浄のようにワーク温度が著しく上昇し
て樹脂層や撥水性樹脂コート等が損傷するおそれもな
い。
の金属パッドの表面にレーザ光を照射することで金属パ
ッドの表面の汚れや酸化膜等を効果的に除去し、Alワ
イヤー等による外部電子部品との接続信頼性を大きく向
上させることができる。また、このようなレーザ光によ
る清浄化は、プラズマ処理やUV/O3 洗浄等に比べて
インライン工程に組み入れるのが容易であり、従って、
大量生産による低コスト化を大きく促進できる。加え
て、UV/O3 洗浄のようにワーク温度が著しく上昇し
て樹脂層や撥水性樹脂コート等が損傷するおそれもな
い。
【0022】なお、Alワイヤーボンダの替わりにAu
ワイヤーボンダを用いてもよいし、また、このようなワ
イヤーボンディングの替わりに、金属バンプを介して接
続するフリップチップボンディングやTABボンディン
グを採用しても良好な接続信頼性を得ることが判明して
いる。
ワイヤーボンダを用いてもよいし、また、このようなワ
イヤーボンディングの替わりに、金属バンプを介して接
続するフリップチップボンディングやTABボンディン
グを採用しても良好な接続信頼性を得ることが判明して
いる。
【0023】第2実施例 図2に示す記録ヘッドE1 と同様の記録ヘッドE2 と、
図3に示す電子部品である駆動用IC部品D2 を製作
し、これらを、図4に示すように、PCB基板P2 とと
もにAl基板40に搭載してインクジェットエレメント
J2 を製作したうえで、図1の装置によって記録ヘッド
E2 と駆動用IC部品D2 とPCB基板P2 のそれぞれ
の電気接続部を清浄化し、次いでこれらを互に電気接続
する。駆動用IC部品D2 は、基板であるシリコン基板
20の表面の主要部に設けられたICロジック部21
と、その両側からのびる複数の電気配線20bおよびそ
の先端部に形成された金属パッドであるAu等のパッド
20cからなる接触手段である電気接続部20aを有
し、また、PCB基板P2 はその表面の先端部に複数の
パッド30cからなる電気接続部30aを有する。
図3に示す電子部品である駆動用IC部品D2 を製作
し、これらを、図4に示すように、PCB基板P2 とと
もにAl基板40に搭載してインクジェットエレメント
J2 を製作したうえで、図1の装置によって記録ヘッド
E2 と駆動用IC部品D2 とPCB基板P2 のそれぞれ
の電気接続部を清浄化し、次いでこれらを互に電気接続
する。駆動用IC部品D2 は、基板であるシリコン基板
20の表面の主要部に設けられたICロジック部21
と、その両側からのびる複数の電気配線20bおよびそ
の先端部に形成された金属パッドであるAu等のパッド
20cからなる接触手段である電気接続部20aを有
し、また、PCB基板P2 はその表面の先端部に複数の
パッド30cからなる電気接続部30aを有する。
【0024】インクジェットエレメントJ2 の記録ヘッ
ドE2 、駆動用IC部品D2 およびPCB基板P2 をそ
れぞれ製作する工程中あるいはこれらを電気的に接続す
るまで待機させる間に各パッド10c,20c,30c
が現像液や塵あるいは酸化膜等によって汚染される。そ
こで、図1の装置を用いて以下のように各電気接続部1
0a,20a,30aを清浄化した。
ドE2 、駆動用IC部品D2 およびPCB基板P2 をそ
れぞれ製作する工程中あるいはこれらを電気的に接続す
るまで待機させる間に各パッド10c,20c,30c
が現像液や塵あるいは酸化膜等によって汚染される。そ
こで、図1の装置を用いて以下のように各電気接続部1
0a,20a,30aを清浄化した。
【0025】記録ヘッドE2 、駆動用IC部品D2 およ
びPCB基板P2 の電気接続部10a,20a,30a
以外の表面をマスクMによって覆い、レーザ発振装置G
にQ−スイッチルビーレーザ発振装置を用いてパルスレ
ーザビームを照射した。照射条件は、レーザパワー密度
30mJ/puls・cm2 、繰り返し周波数1Hz、
照射パルス数5パルス(5秒間)であった。このように
して各電気接続部10a,20a,30aを清浄化した
のち、これらを、超音波Alワイヤーボンダを用いて互
に接続したところ、ミスワイヤー率は約30ppmであ
り、極めて高い接続信頼性が得られた。比較のために、
清浄化を行なわずに同じ超音波Alワイヤーボンダを用
いて各電気接続部10a,20a,30aを接続したと
ころ、ミスワイヤー率は100ppmであった。
びPCB基板P2 の電気接続部10a,20a,30a
以外の表面をマスクMによって覆い、レーザ発振装置G
にQ−スイッチルビーレーザ発振装置を用いてパルスレ
ーザビームを照射した。照射条件は、レーザパワー密度
30mJ/puls・cm2 、繰り返し周波数1Hz、
照射パルス数5パルス(5秒間)であった。このように
して各電気接続部10a,20a,30aを清浄化した
のち、これらを、超音波Alワイヤーボンダを用いて互
に接続したところ、ミスワイヤー率は約30ppmであ
り、極めて高い接続信頼性が得られた。比較のために、
清浄化を行なわずに同じ超音波Alワイヤーボンダを用
いて各電気接続部10a,20a,30aを接続したと
ころ、ミスワイヤー率は100ppmであった。
【0026】本実施例は、インクジェットエレメントを
構成する記録ヘッド、駆動用IC部品およびPCB基板
をAl基板に組付けたうえで各電気接続部の清浄化を同
時に行なうことで、各電子部品の電気的接続信頼性を向
上させるとともにインクジェット記録装置の製造工程を
大幅に短縮し、低コスト化を大きく促進できる利点を有
する。その他の点は第1実施例と同様である。
構成する記録ヘッド、駆動用IC部品およびPCB基板
をAl基板に組付けたうえで各電気接続部の清浄化を同
時に行なうことで、各電子部品の電気的接続信頼性を向
上させるとともにインクジェット記録装置の製造工程を
大幅に短縮し、低コスト化を大きく促進できる利点を有
する。その他の点は第1実施例と同様である。
【0027】第3実施例 図5ないし図11に示す方法でポジ型のレジストを用い
て記録ヘッドE3 を製作するに際して、光硬化性樹脂の
洗浄工程で洗浄力の大きい含塩素有機溶剤に替えてアル
キルベンゼン誘導体の蒸留混合物からなる液体である洗
浄液を用いるとともに、この洗浄工程で電気接続部に残
った大量のシミを図1の装置を用いて除去する。なお、
含塩素有機溶剤を用いれば洗浄後に残るシミはわずかで
あり、プラズマ処理やUV/O3 洗浄等による清浄化方
法を採用することもできるが、含塩素有機溶剤はオゾン
層破壊の原因物質として使用規制される傾向にあり、洗
浄力の小さい代替溶媒を用いたウエット洗浄を採用せざ
るを得ないのが現状である。
て記録ヘッドE3 を製作するに際して、光硬化性樹脂の
洗浄工程で洗浄力の大きい含塩素有機溶剤に替えてアル
キルベンゼン誘導体の蒸留混合物からなる液体である洗
浄液を用いるとともに、この洗浄工程で電気接続部に残
った大量のシミを図1の装置を用いて除去する。なお、
含塩素有機溶剤を用いれば洗浄後に残るシミはわずかで
あり、プラズマ処理やUV/O3 洗浄等による清浄化方
法を採用することもできるが、含塩素有機溶剤はオゾン
層破壊の原因物質として使用規制される傾向にあり、洗
浄力の小さい代替溶媒を用いたウエット洗浄を採用せざ
るを得ないのが現状である。
【0028】本実施例の記録ヘッドE3 は以下のように
製作される。
製作される。
【0029】図5に示すように、複数のHfB2 からな
る吐出エネルギー発生手段である電気熱変換素子50a
と各電気熱変換素子50aの電気配線50bとその先端
部に配設された金属パッドであるAuからなるパッド5
0cをパターニングした基板であるシリコン基板60を
製作し(第1工程)、該シリコン基板60の各パッド5
0cとこれに続く電気配線50bの一部からなる接触手
段である電気接続部60aを除く表面に、図6に示すよ
うに、厚さ25μmのポジ型レジスト61を塗布したう
えで液流路であるインク流路と共通液室であるインクバ
ッファーの形状にパターニングし(第2工程)、続い
て、図7に示すように、150μmの厚さの光硬化性樹
脂62を塗布し、その上に、ポジ型レジスト61のイン
クバッファー部に重なる開口63aを有する石英製の天
板ガラス63を貼付ける(第3工程)。なお、シリコン
基板60は説明を簡単にするために各記録ヘッドごとに
初めから切り離した状態で示されているが、実際には8
インチウエハに複数個の記録ヘッドを製作し、後述する
光硬化性樹脂の洗浄工程時にダイシングソーによって各
記録ヘッドに切り離すのが普通である。
る吐出エネルギー発生手段である電気熱変換素子50a
と各電気熱変換素子50aの電気配線50bとその先端
部に配設された金属パッドであるAuからなるパッド5
0cをパターニングした基板であるシリコン基板60を
製作し(第1工程)、該シリコン基板60の各パッド5
0cとこれに続く電気配線50bの一部からなる接触手
段である電気接続部60aを除く表面に、図6に示すよ
うに、厚さ25μmのポジ型レジスト61を塗布したう
えで液流路であるインク流路と共通液室であるインクバ
ッファーの形状にパターニングし(第2工程)、続い
て、図7に示すように、150μmの厚さの光硬化性樹
脂62を塗布し、その上に、ポジ型レジスト61のイン
クバッファー部に重なる開口63aを有する石英製の天
板ガラス63を貼付ける(第3工程)。なお、シリコン
基板60は説明を簡単にするために各記録ヘッドごとに
初めから切り離した状態で示されているが、実際には8
インチウエハに複数個の記録ヘッドを製作し、後述する
光硬化性樹脂の洗浄工程時にダイシングソーによって各
記録ヘッドに切り離すのが普通である。
【0030】次いで、図8に示すように、シリコン基板
60の電気接続部60aとポジ型レジスト61のインク
バッファー部とを覆う遮光部64a,64bを有するマ
スク64を用いてプロキシミティ露光を行ない、遮光部
64a,64bで覆われた部分を除くすべての光硬化性
樹脂を露光して硬化させる(第4工程)。なお、マスク
64は光学グレードの合成石英基板にアルミニウム膜を
被着させ、これをパターニングして遮光部64a,64
bを形成させたものであり、シリコン基板60とマスク
64のギャップを100μmに設定し、露光光の光源に
は低圧水銀ランプを用いた。続いて、前述のようにアル
キルベンゼン誘導体の蒸留混合物を用いて未硬化部の光
硬化性樹脂を洗浄、除去した(第5工程)。
60の電気接続部60aとポジ型レジスト61のインク
バッファー部とを覆う遮光部64a,64bを有するマ
スク64を用いてプロキシミティ露光を行ない、遮光部
64a,64bで覆われた部分を除くすべての光硬化性
樹脂を露光して硬化させる(第4工程)。なお、マスク
64は光学グレードの合成石英基板にアルミニウム膜を
被着させ、これをパターニングして遮光部64a,64
bを形成させたものであり、シリコン基板60とマスク
64のギャップを100μmに設定し、露光光の光源に
は低圧水銀ランプを用いた。続いて、前述のようにアル
キルベンゼン誘導体の蒸留混合物を用いて未硬化部の光
硬化性樹脂を洗浄、除去した(第5工程)。
【0031】このとき、図9に示すように、電気接続部
60aには洗浄液の洗浄力不足のために未硬化の光硬化
性樹脂の残渣であるシミ60bが大量に残っている。
60aには洗浄液の洗浄力不足のために未硬化の光硬化
性樹脂の残渣であるシミ60bが大量に残っている。
【0032】前述のように、ダイシングソーによって各
記録ヘッドに切り離したのち、ポジ型レジスト61を苛
性ナトリウム水溶液によって除去し、図10に示すオリ
フィス62aとインクバッファー62bを有する記録ヘ
ッドE3 を得る(第6工程)。このとき、光硬化性樹脂
の残渣であるシミ60bは苛性ナトリウム水溶液に溶解
せず、電気接続部60aに残ったままである。そこで、
図1の装置のレーザ発振装置にXeClエキシマレーザ
を用いて電気接続部60aの清浄化を行ない、図11に
示す記録ヘッドE3 を完成する(第7工程)。
記録ヘッドに切り離したのち、ポジ型レジスト61を苛
性ナトリウム水溶液によって除去し、図10に示すオリ
フィス62aとインクバッファー62bを有する記録ヘ
ッドE3 を得る(第6工程)。このとき、光硬化性樹脂
の残渣であるシミ60bは苛性ナトリウム水溶液に溶解
せず、電気接続部60aに残ったままである。そこで、
図1の装置のレーザ発振装置にXeClエキシマレーザ
を用いて電気接続部60aの清浄化を行ない、図11に
示す記録ヘッドE3 を完成する(第7工程)。
【0033】XeClエキシマレーザの照射条件を、レ
ーザパワー密度100mJ/puls・cm2 、繰り返
し周波数1Hz、照射パルス数を6〜10パルスの範囲
で変化させて清浄化後の電気接続部60aの表面状態を
調べたところ、照射パルス数が2ないし3以上であれば
電気接続部60aのシミ60bが完全に消滅することが
判明した。
ーザパワー密度100mJ/puls・cm2 、繰り返
し周波数1Hz、照射パルス数を6〜10パルスの範囲
で変化させて清浄化後の電気接続部60aの表面状態を
調べたところ、照射パルス数が2ないし3以上であれば
電気接続部60aのシミ60bが完全に消滅することが
判明した。
【0034】このようにして得られた記録ヘッドE3 の
各パッド50cをAuボールボンダによって外部部品で
ある外部電子部品に電気接続したところ、ミスワイヤー
率は約10ppmであった。比較のために、図1の装置
による清浄化を行なわずに同様の方法で外部電子部品に
接続したときのミスワイヤー率は1460ppmであ
り、また、電気接続部60aをプラズマ処理によって清
浄化した場合は記録ヘッドE3 の各部に致命的な障害が
発生し、UV/O3 洗浄を用いた場合はミスワイヤー率
の向上がほとんどなかった。
各パッド50cをAuボールボンダによって外部部品で
ある外部電子部品に電気接続したところ、ミスワイヤー
率は約10ppmであった。比較のために、図1の装置
による清浄化を行なわずに同様の方法で外部電子部品に
接続したときのミスワイヤー率は1460ppmであ
り、また、電気接続部60aをプラズマ処理によって清
浄化した場合は記録ヘッドE3 の各部に致命的な障害が
発生し、UV/O3 洗浄を用いた場合はミスワイヤー率
の向上がほとんどなかった。
【0035】本実施例によれば、記録ヘッドの製作工程
に有機塩素化合物を含まない溶媒を用いることで環境維
持に大きく貢献する一方、溶媒の残渣によるシミを完全
に除去して、外部電子部品との接続信頼性の高い記録ヘ
ッドを得ることができる。その他の点は第1実施例と同
様である。
に有機塩素化合物を含まない溶媒を用いることで環境維
持に大きく貢献する一方、溶媒の残渣によるシミを完全
に除去して、外部電子部品との接続信頼性の高い記録ヘ
ッドを得ることができる。その他の点は第1実施例と同
様である。
【0036】第4実施例 図12ないし図14に示す方法でネガ型レジストを用い
て記録ヘッドE4 を製作するに際して、ネガ型レジスト
やネガ型ドライフィルムの現像液に含塩素有機溶剤より
溶解性の小さい液体であるアルキルベンゼン誘導体の蒸
留混合物を用いるとともに、この現像工程で電気接続部
に残ったシミを図1の装置を用いて除去する。アルキル
ベンゼン誘導体の蒸留混合物を用いる理由は第3実施例
と同様である。
て記録ヘッドE4 を製作するに際して、ネガ型レジスト
やネガ型ドライフィルムの現像液に含塩素有機溶剤より
溶解性の小さい液体であるアルキルベンゼン誘導体の蒸
留混合物を用いるとともに、この現像工程で電気接続部
に残ったシミを図1の装置を用いて除去する。アルキル
ベンゼン誘導体の蒸留混合物を用いる理由は第3実施例
と同様である。
【0037】本実施例の記録ヘッドE4 は以下のように
製作される。
製作される。
【0038】図5のシリコン基板60と同様の基板であ
るシリコン基板70の接触手段である電気接続部70a
を除く表面に、図12に示すように、25μmの厚さの
ネガ型レジスト71を塗布しインクバッファー71aと
インク流路71bをパターニングする(第1工程)。こ
の工程において現像液にアルキルベンゼン誘導体の蒸留
混合物が使用され、その結果、電気接続部70aにはネ
ガ型レジストの残渣であるシミ70bが残る。続いて、
図13に示すように、ネガ型レジスト71の表面にネガ
型ドライフィルム72をロールコートし、この上に、イ
ンクバッファー71aに重なる開口73aを有する石英
製の天板ガラス73を貼付けて、開口73aから露出す
る部分のネガ型ドライフィルム72のみをパターニング
する(第2工程)。このときの現像液にもアルキルベン
ゼン誘導体の蒸留混合物が使用され、電気接続部70a
のシミ70bは残ったままである。第3実施例と同様に
これまでの工程は8インチウエハに複数個の記録ヘッド
を同時に製作するものであり、最後に電気接続部70a
の清浄化を行なう前にダイシングソーを用いて各記録ヘ
ッドE4 に切り離す。記録ヘッドE4 の電気接続部70
aの清浄化は図1の装置のレーザ発振装置にXeClエ
キシマレーザを用いて行われ図14に示す記録ヘッドE
4 を得る(第3工程)。XeClエキシマレーザの照射
条件を、レーザパワー密度100mJ/puls・cm
2 、繰り返し周波数1Hz、照射パルス数を4〜10パ
ルスの範囲で変化させて清浄化後の電気接続部70aの
表面状態を調べたところ、照射パルス数が4ないし5以
上であればシミ70bが完全に消滅することが判明し
た。
るシリコン基板70の接触手段である電気接続部70a
を除く表面に、図12に示すように、25μmの厚さの
ネガ型レジスト71を塗布しインクバッファー71aと
インク流路71bをパターニングする(第1工程)。こ
の工程において現像液にアルキルベンゼン誘導体の蒸留
混合物が使用され、その結果、電気接続部70aにはネ
ガ型レジストの残渣であるシミ70bが残る。続いて、
図13に示すように、ネガ型レジスト71の表面にネガ
型ドライフィルム72をロールコートし、この上に、イ
ンクバッファー71aに重なる開口73aを有する石英
製の天板ガラス73を貼付けて、開口73aから露出す
る部分のネガ型ドライフィルム72のみをパターニング
する(第2工程)。このときの現像液にもアルキルベン
ゼン誘導体の蒸留混合物が使用され、電気接続部70a
のシミ70bは残ったままである。第3実施例と同様に
これまでの工程は8インチウエハに複数個の記録ヘッド
を同時に製作するものであり、最後に電気接続部70a
の清浄化を行なう前にダイシングソーを用いて各記録ヘ
ッドE4 に切り離す。記録ヘッドE4 の電気接続部70
aの清浄化は図1の装置のレーザ発振装置にXeClエ
キシマレーザを用いて行われ図14に示す記録ヘッドE
4 を得る(第3工程)。XeClエキシマレーザの照射
条件を、レーザパワー密度100mJ/puls・cm
2 、繰り返し周波数1Hz、照射パルス数を4〜10パ
ルスの範囲で変化させて清浄化後の電気接続部70aの
表面状態を調べたところ、照射パルス数が4ないし5以
上であればシミ70bが完全に消滅することが判明し
た。
【0039】このようにして得られた記録ヘッドE4 を
Auボールボンダによって外部電子部品と接続したとこ
ろ、ミスワイヤー率は約10ppmであった。比較のた
めに、図1の装置による清浄化を行なわずに同様の方法
で外部電子部品に接続したときのミスワイヤー率は15
00ppmであった。その他の点は第1実施例と同様で
ある。
Auボールボンダによって外部電子部品と接続したとこ
ろ、ミスワイヤー率は約10ppmであった。比較のた
めに、図1の装置による清浄化を行なわずに同様の方法
で外部電子部品に接続したときのミスワイヤー率は15
00ppmであった。その他の点は第1実施例と同様で
ある。
【0040】なお、実験によれば、図1の装置のレーザ
発振装置は、KrFエキシマレーザ、Q−スイッチルビ
ーレーザ、XeClレーザ等に限らず、QスイッチYA
Gレーザの3倍波、4倍波やN2 レーザ等を用いても良
好な結果が得られることが判明している。
発振装置は、KrFエキシマレーザ、Q−スイッチルビ
ーレーザ、XeClレーザ等に限らず、QスイッチYA
Gレーザの3倍波、4倍波やN2 レーザ等を用いても良
好な結果が得られることが判明している。
【0041】次に、第1ないし第4実施例による記録ヘ
ッドのいずれかを搭載する液体噴射記録装置について図
15を参照して説明する。
ッドのいずれかを搭載する液体噴射記録装置について図
15を参照して説明する。
【0042】記録ヘッド103とインク容器とを接合し
た記録ヘッドユニットを搭載したキャリッジ101はガ
イド軸104および螺旋溝105aをもつリードスクリ
ュ105に案内され、キャリッジ101上には、インク
容器が内装されたインク容器カセット102を装着する
ことが可能である。
た記録ヘッドユニットを搭載したキャリッジ101はガ
イド軸104および螺旋溝105aをもつリードスクリ
ュ105に案内され、キャリッジ101上には、インク
容器が内装されたインク容器カセット102を装着する
ことが可能である。
【0043】リードスクリュ105は、正逆回転する駆
動モータ106によって歯車列106a,106b,1
06c,106dを介して正逆回転され、その螺旋溝1
05aに先端部が係合したキャリッジ101に設けられ
ているピン(図示せず)を介してキャリッジ101を矢
印方向および反矢印方向へ往復移動させる。駆動モータ
106の正逆回転の切換は、キャリッジ101がホーム
ポジションにあることをキャリッジ101に設けられた
レバー115とフォトカプラ116とで検出することに
より行なう。
動モータ106によって歯車列106a,106b,1
06c,106dを介して正逆回転され、その螺旋溝1
05aに先端部が係合したキャリッジ101に設けられ
ているピン(図示せず)を介してキャリッジ101を矢
印方向および反矢印方向へ往復移動させる。駆動モータ
106の正逆回転の切換は、キャリッジ101がホーム
ポジションにあることをキャリッジ101に設けられた
レバー115とフォトカプラ116とで検出することに
より行なう。
【0044】他方、被記録媒体である記録紙109は、
プラテン107に押え板108によって押圧され、紙送
りモータ110によって駆動される紙送りローラ(図示
せず)によって記録ヘッド103に対向するように搬送
される。
プラテン107に押え板108によって押圧され、紙送
りモータ110によって駆動される紙送りローラ(図示
せず)によって記録ヘッド103に対向するように搬送
される。
【0045】回復ユニット111は、記録ヘッド103
の吐出口に付着した異物や粘度の高くなったインクを除
去して、吐出特性を正規の状態に維持するために設けら
れたものである。
の吐出口に付着した異物や粘度の高くなったインクを除
去して、吐出特性を正規の状態に維持するために設けら
れたものである。
【0046】回復ユニット111は、吸引手段(図示せ
ず)に連通されたキャップ部材113を有し、記録ヘッ
ド103の前記吐出口をキャッピングして吸引すること
により、吐出口に付着した異物や粘度の高くなったイン
クを除去する。また、回復ユニット111とプラテン1
07の間には、案内部材112に案内されて記録ヘッド
103の吐出口面の走行経路上に向けて前進、後退する
クリーニングブレード114が配設されており、該クリ
ーニングブレード114の先端で前記吐出口面に付着し
た異物やインク滴をクリーニングできるように構成され
ている。
ず)に連通されたキャップ部材113を有し、記録ヘッ
ド103の前記吐出口をキャッピングして吸引すること
により、吐出口に付着した異物や粘度の高くなったイン
クを除去する。また、回復ユニット111とプラテン1
07の間には、案内部材112に案内されて記録ヘッド
103の吐出口面の走行経路上に向けて前進、後退する
クリーニングブレード114が配設されており、該クリ
ーニングブレード114の先端で前記吐出口面に付着し
た異物やインク滴をクリーニングできるように構成され
ている。
【0047】本発明は、特に液体噴射記録方式の中で熱
エネルギーを利用して飛翔液滴を形成し、記録を行なう
インクジェット記録方式の記録ヘッド、記録装置に於い
て、優れた効果をもたらすものである。
エネルギーを利用して飛翔液滴を形成し、記録を行なう
インクジェット記録方式の記録ヘッド、記録装置に於い
て、優れた効果をもたらすものである。
【0048】その代表的な構成や原理については、例え
ば、米国特許第4723129号明細書、同第4740
796号明細書に開示されており、本発明はこれらの基
本的な原理を用いて行なうものが好ましい。この記録方
式は所謂オンデマンド型、コンティニュアス型のいずれ
にも適用可能である。
ば、米国特許第4723129号明細書、同第4740
796号明細書に開示されており、本発明はこれらの基
本的な原理を用いて行なうものが好ましい。この記録方
式は所謂オンデマンド型、コンティニュアス型のいずれ
にも適用可能である。
【0049】この記録方式を簡単に説明すると、記録液
(インク)が保持されているシートや液液路に対応して
配置されている吐出エネルギ発生手段である電気熱変換
体に、記録情報に対応して記録液(インク)に核沸騰現
象を越え、膜沸騰現象を生じるような急速な温度上昇を
与えるための少なくとも一つの駆動信号を印加すること
によって、熱エネルギーを発生せしめ、記録ヘッドの熱
作用面に膜沸騰を生じさせる。このように記録液(イン
ク)から電気熱変換体に付与する駆動信号に一対一対応
した気泡を形成できるため、特にオンデマンド型の記録
法には有効である。この気泡の成長、収縮により吐出口
を介して記録液(インク)を吐出させて、少なくとも一
つの滴を形成する。この駆動信号をパルス形状とする
と、即時適切に気泡の成長収縮が行なわれるので、特に
応答性に優れた記録液(インク)の吐出が達成でき、よ
り好ましい。このパルス形状の駆動信号としては、米国
特許第4463359号明細書、同第4345262号
明細書に記載されているようなものが適している。な
お、上記熱作用面の温度上昇率に関する発明の米国特許
第4313124号明細書に記載されている条件を採用
すると、さらに優れた記録を行なうことができる。
(インク)が保持されているシートや液液路に対応して
配置されている吐出エネルギ発生手段である電気熱変換
体に、記録情報に対応して記録液(インク)に核沸騰現
象を越え、膜沸騰現象を生じるような急速な温度上昇を
与えるための少なくとも一つの駆動信号を印加すること
によって、熱エネルギーを発生せしめ、記録ヘッドの熱
作用面に膜沸騰を生じさせる。このように記録液(イン
ク)から電気熱変換体に付与する駆動信号に一対一対応
した気泡を形成できるため、特にオンデマンド型の記録
法には有効である。この気泡の成長、収縮により吐出口
を介して記録液(インク)を吐出させて、少なくとも一
つの滴を形成する。この駆動信号をパルス形状とする
と、即時適切に気泡の成長収縮が行なわれるので、特に
応答性に優れた記録液(インク)の吐出が達成でき、よ
り好ましい。このパルス形状の駆動信号としては、米国
特許第4463359号明細書、同第4345262号
明細書に記載されているようなものが適している。な
お、上記熱作用面の温度上昇率に関する発明の米国特許
第4313124号明細書に記載されている条件を採用
すると、さらに優れた記録を行なうことができる。
【0050】記録ヘッドの構成としては、上述の各明細
書に開示されているような吐出口、液流路、電気熱変換
体を組み合わせた構成(直線状液流路又は直角液流路)
の他に、米国特許第4558333号明細書、米国特許
第4459600号明細書に開示されているように、熱
作用部が屈曲する領域に配置された構成を持つものにも
本発明は有効である。
書に開示されているような吐出口、液流路、電気熱変換
体を組み合わせた構成(直線状液流路又は直角液流路)
の他に、米国特許第4558333号明細書、米国特許
第4459600号明細書に開示されているように、熱
作用部が屈曲する領域に配置された構成を持つものにも
本発明は有効である。
【0051】加えて、複数の電気熱変換体に対して、共
通するスリットを電気熱変換体の吐出口とする構成を開
示する特開昭59年第123670号公報や熱エネルギ
ーの圧力波を吸収する開孔を吐出部に対応させる構成を
開示する特開昭59年第138461号公報に基づいた
構成を有するものにおいても本発明は有効である。
通するスリットを電気熱変換体の吐出口とする構成を開
示する特開昭59年第123670号公報や熱エネルギ
ーの圧力波を吸収する開孔を吐出部に対応させる構成を
開示する特開昭59年第138461号公報に基づいた
構成を有するものにおいても本発明は有効である。
【0052】さらに、本発明が有効に利用される記録ヘ
ッドとしては、記録装置が記録可能である記録媒体の最
大幅に対応した長さのフルラインタイプの記録ヘッドが
ある。このフルラインヘッドは、上述した明細書に開示
されているような記録ヘッドを複数組み合わせることに
よってフルライン構成にしたものや、一体的に形成され
た一個のフルライン記録ヘッドであっても良い。
ッドとしては、記録装置が記録可能である記録媒体の最
大幅に対応した長さのフルラインタイプの記録ヘッドが
ある。このフルラインヘッドは、上述した明細書に開示
されているような記録ヘッドを複数組み合わせることに
よってフルライン構成にしたものや、一体的に形成され
た一個のフルライン記録ヘッドであっても良い。
【0053】加えて、装置本体に装着されることで、装
置本体との電気的な接続や装置本体からのインクの供給
が可能になる交換自在のチップタイプの記録ヘッド、あ
るいは記録ヘッド自体に一体的に設けられたカートリッ
ジタイプの記録ヘッドを用いた場合にも本発明は有効で
ある。
置本体との電気的な接続や装置本体からのインクの供給
が可能になる交換自在のチップタイプの記録ヘッド、あ
るいは記録ヘッド自体に一体的に設けられたカートリッ
ジタイプの記録ヘッドを用いた場合にも本発明は有効で
ある。
【0054】また、本発明の液体噴射記録装置に、記録
ヘッドに対する回復手段や予備的な補助手段を付加する
ことは、記録装置を一層安定にすることができるので好
ましいものである。これらを具体的に挙げれば、記録ヘ
ッドに対しての、キャッピング手段、クリーニング手
段、加圧或は吸引手段、電気熱変換体或はこれとは別の
加熱素子、或はこれらの組み合わせによる予備加熱手
段、記録とは別の吐出を行なう予備吐出モード手段を付
加することも安定した記録を行なうために有効である。
ヘッドに対する回復手段や予備的な補助手段を付加する
ことは、記録装置を一層安定にすることができるので好
ましいものである。これらを具体的に挙げれば、記録ヘ
ッドに対しての、キャッピング手段、クリーニング手
段、加圧或は吸引手段、電気熱変換体或はこれとは別の
加熱素子、或はこれらの組み合わせによる予備加熱手
段、記録とは別の吐出を行なう予備吐出モード手段を付
加することも安定した記録を行なうために有効である。
【0055】さらに、記録装置の記録モードとしては黒
色等の主流色のみを記録するモードだけではなく、記録
ヘッドを一体的に構成したものか、複数個の組み合わせ
で構成したものかのいずれでも良いが、異なる色の複色
カラーまたは、混色によるフルカラーの少なくとも一つ
を備えた装置にも本発明は極めて有効である。
色等の主流色のみを記録するモードだけではなく、記録
ヘッドを一体的に構成したものか、複数個の組み合わせ
で構成したものかのいずれでも良いが、異なる色の複色
カラーまたは、混色によるフルカラーの少なくとも一つ
を備えた装置にも本発明は極めて有効である。
【0056】本発明において、上述した各インクにたい
して最も有効なものは、上述した膜沸騰方式を実行する
ものである。
して最も有効なものは、上述した膜沸騰方式を実行する
ものである。
【0057】さらに加えて、本発明の液体噴射記録装置
の形態としては、コンピュータ等の情報処理機器の画像
出力端末として用いられるものの他、リーダ等と組み合
わせた複写装置、さらには送受信機能を有するファクシ
ミリ装置の形態を採るものであってもよい。
の形態としては、コンピュータ等の情報処理機器の画像
出力端末として用いられるものの他、リーダ等と組み合
わせた複写装置、さらには送受信機能を有するファクシ
ミリ装置の形態を採るものであってもよい。
【0058】
【発明の効果】本発明は上述のとおり構成されているの
で、次に記載するような効果を奏する。
で、次に記載するような効果を奏する。
【0059】電子部品の電気接続部をレーザ光によって
清浄化することで、外部の電子部品との間に高い接続信
頼性を得ることができる。また、レーザ光による清浄化
はインライン工程に組み入れやすく、従って大量生産に
適しており、しかも電子部品の性能等を損なうおそれも
ない。その結果、外部の電子部品に対する接続が容易で
あるうえに安価で高性能な電子部品を実現できる。電子
部品が記録ヘッドであれば高性能でしかも安価な液体噴
射記録装置を実現できる。
清浄化することで、外部の電子部品との間に高い接続信
頼性を得ることができる。また、レーザ光による清浄化
はインライン工程に組み入れやすく、従って大量生産に
適しており、しかも電子部品の性能等を損なうおそれも
ない。その結果、外部の電子部品に対する接続が容易で
あるうえに安価で高性能な電子部品を実現できる。電子
部品が記録ヘッドであれば高性能でしかも安価な液体噴
射記録装置を実現できる。
【図1】電子部品の電気接続部の清浄化に用いる装置を
説明する説明図である。
説明する説明図である。
【図2】第1実施例による電子部品を示す斜視図であ
る。
る。
【図3】第2実施例による電子部品を示す斜視図であ
る。
る。
【図4】第2実施例による液体噴射エレメントの主要部
を示す部分斜視図である。
を示す部分斜視図である。
【図5】第3実施例による記録ヘッドの製造工程のうち
の第1工程を示す斜視図である。
の第1工程を示す斜視図である。
【図6】第3実施例による記録ヘッドの製造工程のうち
の第2工程を示す斜視図である。
の第2工程を示す斜視図である。
【図7】第3実施例による記録ヘッドの製造工程のうち
の第3工程を示す斜視図である。
の第3工程を示す斜視図である。
【図8】第3実施例による記録ヘッドの製造工程のうち
の第4工程を示す斜視図である。
の第4工程を示す斜視図である。
【図9】第3実施例による記録ヘッドの製造工程のうち
の第5工程後の状態を示す斜視図である。
の第5工程後の状態を示す斜視図である。
【図10】第3実施例による記録ヘッドの製造工程のう
ちの第6工程を示す斜視図である。
ちの第6工程を示す斜視図である。
【図11】第3実施例による記録ヘッドの製造工程のう
ちの第7工程を示す斜視図である。
ちの第7工程を示す斜視図である。
【図12】第4実施例による記録ヘッドの製造工程のう
ちの第1工程を示す斜視図である。
ちの第1工程を示す斜視図である。
【図13】第4実施例による記録ヘッドの製造工程のう
ちの第2工程を示す斜視図である。
ちの第2工程を示す斜視図である。
【図14】第4実施例による記録ヘッドの製造工程のう
ちの第3工程を示す斜視図である。
ちの第3工程を示す斜視図である。
【図15】液体噴射記録装置の全体を示す斜視図であ
る。
る。
10,20,60,70 シリコン基板 10a,20a,30a,60a,70a 電気接続
部 10b,20b,50b 電気配線 10c,20c,30c,50c パッド 11 樹脂層 11a,62a オリフィス 11c,62b,71a インクバッファー 40 Al基板 60b,70b シミ 61 ポジ型レジスト 62 光硬化性樹脂 63,73 天板ガラス 64 マスク 71 ネガ型レジスト 71b インク流路 72 ネガ型ドライフィルム
部 10b,20b,50b 電気配線 10c,20c,30c,50c パッド 11 樹脂層 11a,62a オリフィス 11c,62b,71a インクバッファー 40 Al基板 60b,70b シミ 61 ポジ型レジスト 62 光硬化性樹脂 63,73 天板ガラス 64 マスク 71 ネガ型レジスト 71b インク流路 72 ネガ型ドライフィルム
Claims (11)
- 【請求項1】 基板の表面に設けられた接触手段によっ
て外部部品に電気接続される電子部品であって、前記接
触手段がレーザ光によって清浄化された表面を有するこ
とを特徴とする電子部品。 - 【請求項2】 接触手段が金属パッドを有することを特
徴とする請求項1記載の電子部品。 - 【請求項3】 金属パッドが、ワイヤーボンディングま
たはフリップチップボンディングまたはTABボンディ
ングによって外部部品に電気接続されることを特徴とす
る請求項2記載の電子部品。 - 【請求項4】 レーザ光が紫外光レーザビームであるこ
とを特徴とする請求項1ないし3いずれか1項記載の電
子部品。 - 【請求項5】 請求項1ないし4いずれか1項記載の電
子部品からなり、基板上に複数の液流路と各液流路に連
通する共通液室を形成する樹脂層または金属層を有する
ことを特徴とする記録ヘッド。 - 【請求項6】 接触手段を有する基板の表面を液体に接
触させる工程と、液体に接触した基板の接触手段の表面
をレーザ光によって清浄化する工程を有する電子部品の
製造方法。 - 【請求項7】 液体が、基板の表面に被着された樹脂層
をパターニングするための現像液または洗浄液であるこ
とを特徴とする請求項6記載の電子部品の製造方法。 - 【請求項8】 樹脂層が光硬化性樹脂からなることを特
徴とする請求項7記載の電子部品の製造方法。 - 【請求項9】 液体が有機塩素化合物を含まない溶媒で
あることを特徴とする請求項6ないし8いずれか1項記
載の電子部品の製造方法。 - 【請求項10】 樹脂層と接触手段を有する基板の表面
を現像液に接触させて前記樹脂層に複数の液流路と各液
流路に連通する共通液室を形成する工程と、現像液に接
触した基板の接触手段の表面をレーザ光によって清浄化
する工程を有する記録ヘッドの製造方法。 - 【請求項11】 請求項5記載の記録ヘッドを搭載する
キャリッジと、前記記録ヘッドに設けられた吐出エネル
ギ発生手段に電気信号を供給する手段と、前記記録ヘッ
ドに対向するように被記録媒体を搬送するための搬送装
置を備えた液体噴射記録装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13522194A JPH07321448A (ja) | 1994-05-25 | 1994-05-25 | 電子部品、該電子部品からなる記録ヘッドおよびこれらの製造方法ならびに前記記録ヘッドを搭載する液体噴射記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13522194A JPH07321448A (ja) | 1994-05-25 | 1994-05-25 | 電子部品、該電子部品からなる記録ヘッドおよびこれらの製造方法ならびに前記記録ヘッドを搭載する液体噴射記録装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07321448A true JPH07321448A (ja) | 1995-12-08 |
Family
ID=15146657
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13522194A Pending JPH07321448A (ja) | 1994-05-25 | 1994-05-25 | 電子部品、該電子部品からなる記録ヘッドおよびこれらの製造方法ならびに前記記録ヘッドを搭載する液体噴射記録装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07321448A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6512198B2 (en) | 2001-05-15 | 2003-01-28 | Lexmark International, Inc | Removal of debris from laser ablated nozzle plates |
| EP1598121A2 (de) | 2004-05-18 | 2005-11-23 | Airbus Deutschland GmbH | Lasergestütztes Entschichtungsverfahren |
| CN114364157A (zh) * | 2021-12-23 | 2022-04-15 | 广东德赛矽镨技术有限公司 | 一种带双面焊接焊盘的pcb的贴片及封装方法 |
-
1994
- 1994-05-25 JP JP13522194A patent/JPH07321448A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6512198B2 (en) | 2001-05-15 | 2003-01-28 | Lexmark International, Inc | Removal of debris from laser ablated nozzle plates |
| EP1598121A2 (de) | 2004-05-18 | 2005-11-23 | Airbus Deutschland GmbH | Lasergestütztes Entschichtungsverfahren |
| CN114364157A (zh) * | 2021-12-23 | 2022-04-15 | 广东德赛矽镨技术有限公司 | 一种带双面焊接焊盘的pcb的贴片及封装方法 |
| CN114364157B (zh) * | 2021-12-23 | 2023-11-10 | 广东德赛矽镨技术有限公司 | 一种带双面焊接焊盘的pcb的贴片及封装方法 |
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