JPH07324923A - 被験表面にテストパターンを投影する装置 - Google Patents
被験表面にテストパターンを投影する装置Info
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- JPH07324923A JPH07324923A JP6146965A JP14696594A JPH07324923A JP H07324923 A JPH07324923 A JP H07324923A JP 6146965 A JP6146965 A JP 6146965A JP 14696594 A JP14696594 A JP 14696594A JP H07324923 A JPH07324923 A JP H07324923A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 18
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 2
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】テストパターンを被験表面に投影する装置
【構成】光軸外を通り投影対物レンズに入射する投影光
路を生成するためテストパターン(3)に望ましくはほ
ぼ180度方位を回転できる光学的にガラス楔(4)を
前置もしくは後置する。
路を生成するためテストパターン(3)に望ましくはほ
ぼ180度方位を回転できる光学的にガラス楔(4)を
前置もしくは後置する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、表面あらさを測定する
ための顕微鏡の照明方式に関するものである。
ための顕微鏡の照明方式に関するものである。
【0002】
【従来の技術】投影対物レンズ上の格子縞の投影による
縞状パターンが表面法線と90度でない位相角で被験表
面に投影され、表面で反射および/または散乱された歪
曲縞状パターンで表面あらさに関する情報を得る方法は
すでに公知となっている(ドイツ民主共和国特許第22
8089号)。
縞状パターンが表面法線と90度でない位相角で被験表
面に投影され、表面で反射および/または散乱された歪
曲縞状パターンで表面あらさに関する情報を得る方法は
すでに公知となっている(ドイツ民主共和国特許第22
8089号)。
【0003】ドイツ民主共和国特許第228089号で
は、投影対物レンズの光軸に対し偏心している必須の光
路が高価な投影光学系によって実現されている。
は、投影対物レンズの光軸に対し偏心している必須の光
路が高価な投影光学系によって実現されている。
【0004】実現可能な方法として別に考えられるの
は、投影光源に偏心した開口絞りを後置する方法である
が、実際には照明の有効エネルギーをとくに望ましから
ざる程度まで制限してしまうことになる。
は、投影光源に偏心した開口絞りを後置する方法である
が、実際には照明の有効エネルギーをとくに望ましから
ざる程度まで制限してしまうことになる。
【0005】その代りとして光源自体を偏心させて配置
すれば、通常の照明型顕微鏡にそのような装置を挿入し
た場合の問題を惹起する。
すれば、通常の照明型顕微鏡にそのような装置を挿入し
た場合の問題を惹起する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】したがって本発明の課
題は、良好な光量利得を得ながら市販の光学顕微鏡への
偏心縞状パターンの導入を成功させることにある。
題は、良好な光量利得を得ながら市販の光学顕微鏡への
偏心縞状パターンの導入を成功させることにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、本課題
はテストパターンに光学的に透明な楔を配置することに
よって解決する。好ましい別の態様は下位請求項に述べ
る。
はテストパターンに光学的に透明な楔を配置することに
よって解決する。好ましい別の態様は下位請求項に述べ
る。
【0008】とりわけ、ガラス楔の方位を反転して投影
角度を変更し装置の感度を倍加する方法は効果的であ
る。
角度を変更し装置の感度を倍加する方法は効果的であ
る。
【0009】さらに、発生収差や格子固有収差は陰影を
形成することで補正することができる。
形成することで補正することができる。
【0010】
【実施例】図1では、図示してない光源2に対し、光路
に偏心して設けた開口絞り1を後置し、該絞りを介して
直線格子3(テストパターン)を照射し、該直線格子を
コリメータレンズ5、ビームスプリッタ6、対物レンズ
7を介して被験表面8に投影する。入射角を表面法線に
対し90度でなくするため、対物レンズ7の投影光路は
対物レンズ光軸の外側を通過しなければならない。
に偏心して設けた開口絞り1を後置し、該絞りを介して
直線格子3(テストパターン)を照射し、該直線格子を
コリメータレンズ5、ビームスプリッタ6、対物レンズ
7を介して被験表面8に投影する。入射角を表面法線に
対し90度でなくするため、対物レンズ7の投影光路は
対物レンズ光軸の外側を通過しなければならない。
【0011】図2で、このような状況が光軸内照明を用
い直線格子3に透明な楔であるガラス楔4を後置し光路
をずらして対物レンズ7に軸外の光束を導入して得られ
る。
い直線格子3に透明な楔であるガラス楔4を後置し光路
をずらして対物レンズ7に軸外の光束を導入して得られ
る。
【0012】この場合図3に示すようにガラス楔4は直
線格子3と固着してある。
線格子3と固着してある。
【0013】図4で、ガラス楔4にはたとえばラックと
係合するピニオンのような駆動装置10を介して回転可
能な環状マウント9が設けてある。このマウント9を用
いればガラス楔4の方位はほぼ180度変更できる。そ
のため停止位置発信器12と協働する停止具11を備え
ている。
係合するピニオンのような駆動装置10を介して回転可
能な環状マウント9が設けてある。このマウント9を用
いればガラス楔4の方位はほぼ180度変更できる。そ
のため停止位置発信器12と協働する停止具11を備え
ている。
【0014】図5に、光路内のガラス楔の方位を変更で
きる別の装置を示す。光路と直角に摺動できる直線格子
3に後置したスライダー内に、逆向きに方位を採った2
個のガラス楔4を設け、任意に光路内に挿入できるよう
にしてある。ガラス楔4の方位を反転すると直線格子3
の表面8への投影光の入射方向が変更できる。表面状況
によって変化する格子縞の像は、図示していないたとえ
ばコンピュータと接続したCCDカメラのような撮影兼
評価装置の方向にビームスプリッタ6で送られ評価され
る。
きる別の装置を示す。光路と直角に摺動できる直線格子
3に後置したスライダー内に、逆向きに方位を採った2
個のガラス楔4を設け、任意に光路内に挿入できるよう
にしてある。ガラス楔4の方位を反転すると直線格子3
の表面8への投影光の入射方向が変更できる。表面状況
によって変化する格子縞の像は、図示していないたとえ
ばコンピュータと接続したCCDカメラのような撮影兼
評価装置の方向にビームスプリッタ6で送られ評価され
る。
【0015】本発明は図示した実施例に限られるもので
はない。とりわけガラス楔の方位変更は当業者にとって
普通の他の形式の機構手段で実施可能であるし、投影方
向における格子の手前での楔設置も同様である。
はない。とりわけガラス楔の方位変更は当業者にとって
普通の他の形式の機構手段で実施可能であるし、投影方
向における格子の手前での楔設置も同様である。
【0016】
【発明の効果】本発明装置によれば、良好な光量利得を
失うことなく市販の偏心縞状パターンの導入が可能とな
る。
失うことなく市販の偏心縞状パターンの導入が可能とな
る。
以下に本発明を概略図を用いて詳説する。
【図1】偏心開口絞りを有する投影光路である。
【図2】本発明による投影光路である。
【図3】直線格子と接合したガラス楔である。
【図4】枠内にて回転可能なガラス楔である。
【図5】互いに反対方位にある2個のガラス楔を有する
摺動可能な保持器である。
摺動可能な保持器である。
1… 開口絞り 2… 光源 3… 直線格子(テストパターン) 4… ガラス楔 5… コリメーターレンズ 6… ビームスプリッタ 7… 対物レンズ 8… 披験表面 9… 環状マウント 10… 駆動装置 11… 停止具 12… 停止位置発信器 13… 容器
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成6年7月13日
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ペーター ヒュッテル ドイツ D−07745 イエーナ マックス − スティーンベツク−ストラッセ 2エ ー (72)発明者 ギュンター ショッペ ドイツ D−07745 イエーナ ハンス− アイスラー−ストラッセ 24
Claims (10)
- 【請求項1】 被験表面にテストパターンを投影する装
置であって、テストパターン(3)が、投影光路内に光
学的に透明な楔(4)を配置していることを特徴とする
前記装置。 - 【請求項2】 請求項1による装置であって、該楔
(4)がテストパターン(3)に前置あるいは後置して
あることを特徴とする前記装置。 - 【請求項3】 請求項1から2までのいずれかの請求項
による装置であって、テストパターンが直線格子である
ことを特徴とする前記装置。 - 【請求項4】 請求項1から3までのいずれかの請求項
による装置であって、透明な楔(4)がガラス楔であり
その態様を投影光路の光軸に関して変更する手段を備え
ていることを特徴とする前記装置。 - 【請求項5】 請求項4による装置であって、ガラス楔
(4)が操作素子(10)と係合し光軸を中心に回転す
る環状マウント(9)を備えていることを特徴とする前
記装置。 - 【請求項6】 請求項4または5による装置であって、
ガラス楔(4)がほぼ180度回転することを特徴とす
る前記装置。 - 【請求項7】 請求項4による装置であって、投影光路
に直角に摺動でき、方位の異なる少なくとも2個のガラ
ス楔(4)を含む容器(13)を備えていることを特徴
とする前期装置。 - 【請求項8】 請求項1から2までのいずれかの請求項
による装置であって、テストパターン(3)とガラス楔
(4)とが固着していることを特徴とする前記装置。 - 【請求項9】 請求項3による装置であって、該格子が
矩形透過特性、あるいは正弦波形透過特性を有すること
を特徴とする前記装置。 - 【請求項10】 請求項1から9までのいずれかの請求
項による装置であって、投影光路が、テストパターン
(3)に前置する光源(2)と開口絞り(1)、テスト
パターン(3)に後置するコリメータレンズ(5)とビ
ームスプリッタ(6)、ならびにテストパターンを表面
(8)に投影する対物レンズ(7)とからなることを特
徴とする前記装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE9308486U DE9308486U1 (de) | 1993-06-07 | 1993-06-07 | Anordnung zur Projektion eines Testmusters auf eine zu untersuchende Oberfläche |
| DE9308486.2 | 1993-06-07 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07324923A true JPH07324923A (ja) | 1995-12-12 |
Family
ID=6894126
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6146965A Pending JPH07324923A (ja) | 1993-06-07 | 1994-06-07 | 被験表面にテストパターンを投影する装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5493400A (ja) |
| JP (1) | JPH07324923A (ja) |
| DE (1) | DE9308486U1 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002250694A (ja) * | 2001-02-23 | 2002-09-06 | Hitachi Ltd | 非接触式目視検査方法及び装置 |
| JP2009543101A (ja) * | 2006-07-06 | 2009-12-03 | カール ツァイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト | 対象物の薄層の画像を生成するための方法および装置 |
| KR101144594B1 (ko) * | 2010-12-28 | 2012-05-11 | 주식회사 세니젠 | 비접촉식 구획방식을 이용한 고체표면 미생물 검체 채취방법 및 그 고체표면 구획장치 |
| JP2015521291A (ja) * | 2012-05-29 | 2015-07-27 | ケーエルエー−テンカー コーポレイション | 超解像度検査システム |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5831736A (en) * | 1996-08-29 | 1998-11-03 | Washington University | Method and apparatus for generating a three-dimensional topographical image of a microscopic specimen |
| DE19746575A1 (de) * | 1997-10-22 | 1999-04-29 | Zeiss Carl Fa | Optische Bildaufnahmeeinrichtung und Verfahren zu deren Nutzung |
| DE19930816A1 (de) * | 1999-07-01 | 2001-01-04 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Tiefenselektion von Mikroskopbildern |
| US6731390B2 (en) * | 1999-07-01 | 2004-05-04 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Process and apparatus for determining surface information using a projected structure with a periodically changing brightness curve |
| DE10038527A1 (de) | 2000-08-08 | 2002-02-21 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Anordnung zur Erhöhung der Tiefendiskriminierung optisch abbildender Systeme |
| IL144805A (en) * | 2001-08-08 | 2006-08-01 | Nova Measuring Instr Ltd | Method and system for measuring the topograpy of a sample |
| US10701259B2 (en) * | 2017-09-15 | 2020-06-30 | Quality Vision International Inc. | Video measuring system with dual-acting reticle projector for focusing and alignment |
| US10895450B2 (en) * | 2017-10-27 | 2021-01-19 | Ap Robotics, Llc | Systems and methods for gathering data and information on surface characteristics of an object |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DD228089A1 (de) * | 1984-11-01 | 1985-10-02 | Zeiss Jena Veb Carl | Anordnung zur bestimmung der oberflaechengestalt von objekten mittels moiretechnik |
-
1993
- 1993-06-07 DE DE9308486U patent/DE9308486U1/de not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-06-07 JP JP6146965A patent/JPH07324923A/ja active Pending
- 1994-06-07 US US08/255,061 patent/US5493400A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002250694A (ja) * | 2001-02-23 | 2002-09-06 | Hitachi Ltd | 非接触式目視検査方法及び装置 |
| JP2009543101A (ja) * | 2006-07-06 | 2009-12-03 | カール ツァイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト | 対象物の薄層の画像を生成するための方法および装置 |
| KR101144594B1 (ko) * | 2010-12-28 | 2012-05-11 | 주식회사 세니젠 | 비접촉식 구획방식을 이용한 고체표면 미생물 검체 채취방법 및 그 고체표면 구획장치 |
| WO2012091419A3 (ko) * | 2010-12-28 | 2012-10-11 | 주식회사 세니젠 | 비접촉식 구획방식을 이용한 고체표면 미생물 검체 채취방법 및 그 고체표면 구획장치 |
| JP2015521291A (ja) * | 2012-05-29 | 2015-07-27 | ケーエルエー−テンカー コーポレイション | 超解像度検査システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE9308486U1 (de) | 1993-07-15 |
| US5493400A (en) | 1996-02-20 |
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