JPH07326064A - レーザ出力モニタ装置 - Google Patents
レーザ出力モニタ装置Info
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- JPH07326064A JPH07326064A JP6115562A JP11556294A JPH07326064A JP H07326064 A JPH07326064 A JP H07326064A JP 6115562 A JP6115562 A JP 6115562A JP 11556294 A JP11556294 A JP 11556294A JP H07326064 A JPH07326064 A JP H07326064A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】レーザ光の偏光面回転の影響を防ぐ。
【構成】レーザダイオード2から出力したレーザ光はP
BS6に入射し、その偏光面が回転している場合にはS
偏光成分(Y成分)の93%がメインビームとして出射
する。またS偏光成分の5%がモニタリングビームとし
て出射する。更にレーザ光のP偏光成分(X成分)の
(95%×95%)がPBS6から出射する。このP偏
光成分がPBS13に入射すると、ここで除去されて0
になる。したがって、FPD15ではモニタビームを正
確に検出することが可能になる。
BS6に入射し、その偏光面が回転している場合にはS
偏光成分(Y成分)の93%がメインビームとして出射
する。またS偏光成分の5%がモニタリングビームとし
て出射する。更にレーザ光のP偏光成分(X成分)の
(95%×95%)がPBS6から出射する。このP偏
光成分がPBS13に入射すると、ここで除去されて0
になる。したがって、FPD15ではモニタビームを正
確に検出することが可能になる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、WO(Write Once)
方式の光ディスク装置などに適用して好適なレーザ出力
モニタ装置に関する。
方式の光ディスク装置などに適用して好適なレーザ出力
モニタ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、光ディスク装置においては、レー
ザ光源から射出されたレーザ光をモニタし、このモニタ
出力をAPC(automatic power control)回路を通じ
てレーザ光源を制御することにより、記録又は再生に応
じたレーザ光で光ディスクを照射し得るようになされて
いる。
ザ光源から射出されたレーザ光をモニタし、このモニタ
出力をAPC(automatic power control)回路を通じ
てレーザ光源を制御することにより、記録又は再生に応
じたレーザ光で光ディスクを照射し得るようになされて
いる。
【0003】このモニタ出力を得る方法としては、レー
ザダイオードのパッケージ内部にレーザ光の射出側と反
対位置に置いたフォトディテクタでモニタリングするリ
アAPC(RAPC)や、射出側光学系光路中の平行光
束でモニタリングするフロントAPC(FAPC)があ
る。
ザダイオードのパッケージ内部にレーザ光の射出側と反
対位置に置いたフォトディテクタでモニタリングするリ
アAPC(RAPC)や、射出側光学系光路中の平行光
束でモニタリングするフロントAPC(FAPC)があ
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが上述したAP
Cでは、光路中の光学部品や光ディスク等からの反射に
よるレーザダイオードへの戻り光の影響により、レーザ
ダイオードではモードホッピングやスクープを生じ不安
定な状態になり易いが、そのときに出射パワーを正確に
知ることは実際上不可能であるという問題があった。
Cでは、光路中の光学部品や光ディスク等からの反射に
よるレーザダイオードへの戻り光の影響により、レーザ
ダイオードではモードホッピングやスクープを生じ不安
定な状態になり易いが、そのときに出射パワーを正確に
知ることは実際上不可能であるという問題があった。
【0005】また、光源として複数のレーザ光を射出す
る多チャネルモノシリックタイプレーザダイオードでな
るマルチビームレーザ光源を用いる場合には、互いの干
渉無しにモニタすることは構造的に不可能であり、さら
にレーザの熱による影響も無視できないという問題があ
った。
る多チャネルモノシリックタイプレーザダイオードでな
るマルチビームレーザ光源を用いる場合には、互いの干
渉無しにモニタすることは構造的に不可能であり、さら
にレーザの熱による影響も無視できないという問題があ
った。
【0006】一方上述したフロントAPCでは、平行光
束中でモニタリングすることから、光源としてマルチビ
ーム光源を用いる場合にはチャネル間干渉が大きく、マ
ルチビームレーザ光源から射出された複数のレーザ光を
それぞれ正確にモニタすることは不可能であるという問
題があった。
束中でモニタリングすることから、光源としてマルチビ
ーム光源を用いる場合にはチャネル間干渉が大きく、マ
ルチビームレーザ光源から射出された複数のレーザ光を
それぞれ正確にモニタすることは不可能であるという問
題があった。
【0007】また、フロントAPCにおいてもレーザダ
イオードが戻り光や周囲温度などの影響で不安定な状態
になり、偏光面が回転することにより次のような影響を
受ける。すなわち、偏光面が回転すると、本来モニタビ
ームとして利用しようとしているレーザ光の偏光成分
(S)以外にこれと直角な方向の偏光成分(P)の一部
もモニタビームと同一方向に照射され、これが検出され
てしまうので、レーザ光を正確にモニタすることが困難
になる。
イオードが戻り光や周囲温度などの影響で不安定な状態
になり、偏光面が回転することにより次のような影響を
受ける。すなわち、偏光面が回転すると、本来モニタビ
ームとして利用しようとしているレーザ光の偏光成分
(S)以外にこれと直角な方向の偏光成分(P)の一部
もモニタビームと同一方向に照射され、これが検出され
てしまうので、レーザ光を正確にモニタすることが困難
になる。
【0008】特に最近は、高密度、高転送レート記録と
するためにディスク回転数が速くなると共に、メインビ
ームの出力を高くする傾向にあり、これによってモニタ
ビームとして利用できる比率が少なくなっており、ここ
にP偏光成分の一部が同時に入り込むと出力の小さなモ
ニタビームを正確に検出できなくなるおそれがある。
するためにディスク回転数が速くなると共に、メインビ
ームの出力を高くする傾向にあり、これによってモニタ
ビームとして利用できる比率が少なくなっており、ここ
にP偏光成分の一部が同時に入り込むと出力の小さなモ
ニタビームを正確に検出できなくなるおそれがある。
【0009】そこで本発明は、上述したような課題を解
決したものであって、簡易な構成でしかも偏光面の回転
の影響を防止することが可能なレーザ光の出力モニタ装
置を提案するものである。
決したものであって、簡易な構成でしかも偏光面の回転
の影響を防止することが可能なレーザ光の出力モニタ装
置を提案するものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
め、請求項1に記載の発明においては、マルチビームレ
ーザ光源から射出された複数のレーザ光を平行光にする
コリメータレンズ手段と、平行光を所定の分割比でメイ
ンビームとモニタ用ビームに分割するビーム分割手段
と、モニタ用ビームを分離集光する集光レンズ手段と、
集光レンズ手段の焦点位置より所定距離だけ光軸方向に
ずらして配置され、分離集光された各モニタ用ビームを
受光する複数の受光手段と、ビーム分割手段と受光手段
との間に配置され、複数のレーザ光の偏光面の回転によ
って発生する受光手段方向へのP偏光成分を除去する偏
光ビーム分割手段とを備え、マルチビームレーザ光源か
ら射出された複数のレーザ光の出力をそれぞれ複数の受
光手段の受光出力によってモニタするようにしたことを
特徴とするものである。
め、請求項1に記載の発明においては、マルチビームレ
ーザ光源から射出された複数のレーザ光を平行光にする
コリメータレンズ手段と、平行光を所定の分割比でメイ
ンビームとモニタ用ビームに分割するビーム分割手段
と、モニタ用ビームを分離集光する集光レンズ手段と、
集光レンズ手段の焦点位置より所定距離だけ光軸方向に
ずらして配置され、分離集光された各モニタ用ビームを
受光する複数の受光手段と、ビーム分割手段と受光手段
との間に配置され、複数のレーザ光の偏光面の回転によ
って発生する受光手段方向へのP偏光成分を除去する偏
光ビーム分割手段とを備え、マルチビームレーザ光源か
ら射出された複数のレーザ光の出力をそれぞれ複数の受
光手段の受光出力によってモニタするようにしたことを
特徴とするものである。
【0011】請求項2に記載の発明においては、マルチ
ビームレーザ光源から射出された複数のレーザ光を平行
光にするコリメータレンズ手段と、平行光を所定の分割
比でメインビームとモニタ用ビームに分割するビーム分
割手段と、モニタ用ビームを分離集光する集光レンズ手
段と、集光レンズ手段の焦点位置より所定距離だけ光軸
方向にずらして配置されると共に、光軸に対して所定角
度だけ傾けて配置され、分離集光されたモニタ用ビーム
を受光する複数の受光手段と、複数の受光手段の各受光
出力から隣接する受光出力を減算するクロストークキャ
ンセル手段を備え、マルチビームレーザ光源から射出さ
れた複数のレーザ光の出力をそれぞれ複数の受光手段の
受光出力によってモニタするようにしたことを特徴とす
るものである。
ビームレーザ光源から射出された複数のレーザ光を平行
光にするコリメータレンズ手段と、平行光を所定の分割
比でメインビームとモニタ用ビームに分割するビーム分
割手段と、モニタ用ビームを分離集光する集光レンズ手
段と、集光レンズ手段の焦点位置より所定距離だけ光軸
方向にずらして配置されると共に、光軸に対して所定角
度だけ傾けて配置され、分離集光されたモニタ用ビーム
を受光する複数の受光手段と、複数の受光手段の各受光
出力から隣接する受光出力を減算するクロストークキャ
ンセル手段を備え、マルチビームレーザ光源から射出さ
れた複数のレーザ光の出力をそれぞれ複数の受光手段の
受光出力によってモニタするようにしたことを特徴とす
るものである。
【0012】
【作用】図1においては、レーザダイオード2から出力
したレーザ光がPBS6に入射する。そして、レーザ光
の偏光面が回転していない場合には、図5(A)に示す
ように、レーザ光のY成分(S偏光成分)だけがPBS
6に入射し、同図(B)に示すようにそのうち93%が
メインビームとして通過し、同図(C)に示すように5
%がモニタビームとして出射する。
したレーザ光がPBS6に入射する。そして、レーザ光
の偏光面が回転していない場合には、図5(A)に示す
ように、レーザ光のY成分(S偏光成分)だけがPBS
6に入射し、同図(B)に示すようにそのうち93%が
メインビームとして通過し、同図(C)に示すように5
%がモニタビームとして出射する。
【0013】ところが、何らかの原因でレーザ光の偏光
面が回転した場合には、図6(A)に示すようにレーザ
光のY成分とX成分(P偏光成分)の両方がPBSに入
射する。そして、PBS13がないとすると、同図
(B)に示すようにY成分の93%がメインビームとし
てPBS6から出射し、Y成分の5%がモニタビームの
一部として出射する。さらに、この場合は同図(C)に
示すように、レーザ光のX成分がPBS6のB面とC面
で各々95%反射してモニタビームの一部として出射す
る。したがって、モニタビームはFPD15で実際より
大きな値となって検出される。
面が回転した場合には、図6(A)に示すようにレーザ
光のY成分とX成分(P偏光成分)の両方がPBSに入
射する。そして、PBS13がないとすると、同図
(B)に示すようにY成分の93%がメインビームとし
てPBS6から出射し、Y成分の5%がモニタビームの
一部として出射する。さらに、この場合は同図(C)に
示すように、レーザ光のX成分がPBS6のB面とC面
で各々95%反射してモニタビームの一部として出射す
る。したがって、モニタビームはFPD15で実際より
大きな値となって検出される。
【0014】これに対してPBS6とFPD15との間
にPBS13を配置した場合は、レーザ光のX成分によ
るモニタビームの出力(0.95×0.95)・X2が
PBS13で除去されるので、図7(C)に示すように
レーザ光のY成分による出力0.05X2だけがモニタ
ビームとして検出される。
にPBS13を配置した場合は、レーザ光のX成分によ
るモニタビームの出力(0.95×0.95)・X2が
PBS13で除去されるので、図7(C)に示すように
レーザ光のY成分による出力0.05X2だけがモニタ
ビームとして検出される。
【0015】また、図9のようにFPD15を適宜な角
度αだけ光軸に対して傾けると、FPD15の戻り光が
レーザダイオード2に悪影響を与えなくなるので、レー
ザ光の偏光面が回転するのを防止できる。これによっ
て、PBS13を配置しなくてもモニタビームの出力を
正確に検出することが可能になる。但し、この場合は図
10(B)に示すようにクロストークが大きくなるの
で、図11に示すようなクロストークキャンセル回路2
0を設けることでモニタビームを正確に検出することが
できる。
度αだけ光軸に対して傾けると、FPD15の戻り光が
レーザダイオード2に悪影響を与えなくなるので、レー
ザ光の偏光面が回転するのを防止できる。これによっ
て、PBS13を配置しなくてもモニタビームの出力を
正確に検出することが可能になる。但し、この場合は図
10(B)に示すようにクロストークが大きくなるの
で、図11に示すようなクロストークキャンセル回路2
0を設けることでモニタビームを正確に検出することが
できる。
【0016】
【実施例】続いて、本発明に係るレーザ出力モニタ装置
をWO(Write Once)システムの光ディスク装置に適
用した場合の実施例について、図面を参照して詳細に説
明する。
をWO(Write Once)システムの光ディスク装置に適
用した場合の実施例について、図面を参照して詳細に説
明する。
【0017】図1は本発明によるレーザ出力モニタ装置
を適用したWOシステムの光ディスク装置1の構成を示
す。この光ディスク装置1においては、レーザ光源とし
てモノシリックタイプの2チャネルレーザダイオード2
が使用されている。レーザダイオード2から出射された
レーザ光はコリメータレンズ3で平行光となる。この平
行光はアナモルフィックプリズム4でビーム補正された
後、グレーティング5を介して偏光ビームスプリッタ
(PBS)6に入射され、ここでWOディスク9へ集光
されるメインビームと、フロントフォトディテクタ(F
PD)15上及びフォトディテクタ(PD)11上に分
離集光されるモニタビームとに分割される。この分割光
量比は10:1から20:1程度に選定されている。
を適用したWOシステムの光ディスク装置1の構成を示
す。この光ディスク装置1においては、レーザ光源とし
てモノシリックタイプの2チャネルレーザダイオード2
が使用されている。レーザダイオード2から出射された
レーザ光はコリメータレンズ3で平行光となる。この平
行光はアナモルフィックプリズム4でビーム補正された
後、グレーティング5を介して偏光ビームスプリッタ
(PBS)6に入射され、ここでWOディスク9へ集光
されるメインビームと、フロントフォトディテクタ(F
PD)15上及びフォトディテクタ(PD)11上に分
離集光されるモニタビームとに分割される。この分割光
量比は10:1から20:1程度に選定されている。
【0018】このうちメインビームは、λ/4板7及び
対物レンズ8を介してWOディスク9のディスク面に集
光される。これによってWOディスク9の記録再生が行
なわれる。また、モニタビームはアパーチャ12及びP
BS(偏光ビームスプリッタ)13を介してフロントA
PC用の集光レンズ14に入射され、ここで分離集光さ
れてフロント・フォトディテクタ(FPD)15上に照
射される。モニタビームは集光レンズ10を介してPD
11にも照射される。分離された各ビーム間の距離はコ
リメータレンズ3、集光レンズ14の焦点距離、レーザ
ダイオード2のチャネル間距離によって決まる。
対物レンズ8を介してWOディスク9のディスク面に集
光される。これによってWOディスク9の記録再生が行
なわれる。また、モニタビームはアパーチャ12及びP
BS(偏光ビームスプリッタ)13を介してフロントA
PC用の集光レンズ14に入射され、ここで分離集光さ
れてフロント・フォトディテクタ(FPD)15上に照
射される。モニタビームは集光レンズ10を介してPD
11にも照射される。分離された各ビーム間の距離はコ
リメータレンズ3、集光レンズ14の焦点距離、レーザ
ダイオード2のチャネル間距離によって決まる。
【0019】WOシステムでは記録可能にすることが必
要であるから、FPD15より得られるフロントモニタ
信号も再生から記録(0〜60[mw])まで線形性を
保持することが要求されるが、これは使用するFPD1
5の容量や感度に応じて集光レンズ14の前に適当なア
パーチャ12を設けることによって解決されている。
要であるから、FPD15より得られるフロントモニタ
信号も再生から記録(0〜60[mw])まで線形性を
保持することが要求されるが、これは使用するFPD1
5の容量や感度に応じて集光レンズ14の前に適当なア
パーチャ12を設けることによって解決されている。
【0020】さて、図2はモニタビームの光路中にある
各部の詳細を示す。PBS6は合わせ鏡方式となってお
り、その膜特性を図3に示す。図2のPBS13は後述
のようにFPD15側に照射されるP偏光成分をキャン
セルするためPBS6とFPD15との間に配置される
もので、本例ではアパーチャ12と集光レンズ14との
間に介装されているが、図4(A)に示すようにPBS
6とアパーチャ12との間に配置してもよく、また同図
(B)に示すように集光レンズ14とFPD15との間
に配置してもよい。このPBS13はモニタビームの偏
光方向に一致するように配置される。
各部の詳細を示す。PBS6は合わせ鏡方式となってお
り、その膜特性を図3に示す。図2のPBS13は後述
のようにFPD15側に照射されるP偏光成分をキャン
セルするためPBS6とFPD15との間に配置される
もので、本例ではアパーチャ12と集光レンズ14との
間に介装されているが、図4(A)に示すようにPBS
6とアパーチャ12との間に配置してもよく、また同図
(B)に示すように集光レンズ14とFPD15との間
に配置してもよい。このPBS13はモニタビームの偏
光方向に一致するように配置される。
【0021】いま、レーザダイオード2から出射される
レーザ光の偏光面が何らかの原因で回転した場合、モニ
タビームに表われる影響について説明する。ここでは、
説明を簡単にするため、レーザ光の紙面に平行な成分を
X成分(P偏光成分)とし、紙面に垂直な成分をY成分
(S偏光成分)とする。
レーザ光の偏光面が何らかの原因で回転した場合、モニ
タビームに表われる影響について説明する。ここでは、
説明を簡単にするため、レーザ光の紙面に平行な成分を
X成分(P偏光成分)とし、紙面に垂直な成分をY成分
(S偏光成分)とする。
【0022】図5(A)に示すように、偏光面の回転が
ない状態の2チャネルのレーザ光がPBS6を通過する
と、同図(B)に示すように各チャネルのレーザ光のY
成分の出力Y1だけがメインビームとして93%以上分
光し、同図(C)に示すようにモニタビームとして5%
以上分光する。このとき、レーザダイオード2は、レー
ザ光の偏光方向がPBS6に対してY成分のみとなるよ
うに配置されている。
ない状態の2チャネルのレーザ光がPBS6を通過する
と、同図(B)に示すように各チャネルのレーザ光のY
成分の出力Y1だけがメインビームとして93%以上分
光し、同図(C)に示すようにモニタビームとして5%
以上分光する。このとき、レーザダイオード2は、レー
ザ光の偏光方向がPBS6に対してY成分のみとなるよ
うに配置されている。
【0023】一方、レーザダイオード2は上述のように
戻り光や周囲温度の影響で不安定な状態となり、その偏
光面が回転することがある。例えば、図6(A)に示す
ようにレーザ光の偏光面がθ°だけ回転しY成分の出力
がY2でX成分の出力がX2となった状態でPBS6を
通過すると、同図(B)に示すように、PBS6のC面
で出力Y2の93%が通過してメインビームとなる。ま
た、レーザ光のY成分の出力Y2の5%以上が反射して
出射される。そして、従来のようにPBS13が配置さ
れていない場合は、同図(C)に示すようにこの分光
0.005Y2が集光レンズ14を介してFPD15に
入射し、モニタビームの一部として検出される。さら
に、この場合はレーザ光の偏光面がθ°回転しているの
で、レーザ光のX成分の出力X2がPBS6に入射さ
れ、これがB面で95%以上反射し、さらにC面で95
%以上反射してFPD15に入射し、同図(C)に示す
ようにモニタビームの一部として検出される。したがっ
てモニタビームとしては、レーザ光のY成分による分光
0.93Y2とX成分による分光(0.95×0.9
5)X2との合計となる。レーザ光の偏光面の回転角θ
°が大きいと、レーザ光のX成分によって生じるモニタ
ビームとしての分光の出力(0.95×0.95)X2
が大きくなってしまい、メインビームの正確な出力を検
出することができなくなる。
戻り光や周囲温度の影響で不安定な状態となり、その偏
光面が回転することがある。例えば、図6(A)に示す
ようにレーザ光の偏光面がθ°だけ回転しY成分の出力
がY2でX成分の出力がX2となった状態でPBS6を
通過すると、同図(B)に示すように、PBS6のC面
で出力Y2の93%が通過してメインビームとなる。ま
た、レーザ光のY成分の出力Y2の5%以上が反射して
出射される。そして、従来のようにPBS13が配置さ
れていない場合は、同図(C)に示すようにこの分光
0.005Y2が集光レンズ14を介してFPD15に
入射し、モニタビームの一部として検出される。さら
に、この場合はレーザ光の偏光面がθ°回転しているの
で、レーザ光のX成分の出力X2がPBS6に入射さ
れ、これがB面で95%以上反射し、さらにC面で95
%以上反射してFPD15に入射し、同図(C)に示す
ようにモニタビームの一部として検出される。したがっ
てモニタビームとしては、レーザ光のY成分による分光
0.93Y2とX成分による分光(0.95×0.9
5)X2との合計となる。レーザ光の偏光面の回転角θ
°が大きいと、レーザ光のX成分によって生じるモニタ
ビームとしての分光の出力(0.95×0.95)X2
が大きくなってしまい、メインビームの正確な出力を検
出することができなくなる。
【0024】このようなレーザ光の偏光面の回転により
モニタビームに表われる影響を防止するため、本例の光
ディスク装置1ではPBS13を設けているのである。
すなわち、ここではレーザ光の偏光面の回転に伴うX成
分の分光をモニタビームから除去することによって、メ
インビームとモニタビームの比率を偏光面の回転がない
場合と同様に正確な値にするものである。
モニタビームに表われる影響を防止するため、本例の光
ディスク装置1ではPBS13を設けているのである。
すなわち、ここではレーザ光の偏光面の回転に伴うX成
分の分光をモニタビームから除去することによって、メ
インビームとモニタビームの比率を偏光面の回転がない
場合と同様に正確な値にするものである。
【0025】いま、図7(A)に示すように、レーザダ
イオード2から出射されたレーザ光の偏光面が図6
(A)と同様にθ°だけ回転している場合、レーザ光の
Y成分はY2となりPBS6から出射されるメインビー
ムは図7(B)に示すように、0.93Y2となる。ま
た、PBS6からFPD15側に出射する分光の出力は
0.05Y2となる。この分光0.05Y2はアパーチ
ャ12を介してPBS13に入射する。PBS13では
この分光0.05Y2がそのまま通過し、集光レンズ1
4を介して同図(C)に示すようにモニタビームとして
FPD15に入射する。
イオード2から出射されたレーザ光の偏光面が図6
(A)と同様にθ°だけ回転している場合、レーザ光の
Y成分はY2となりPBS6から出射されるメインビー
ムは図7(B)に示すように、0.93Y2となる。ま
た、PBS6からFPD15側に出射する分光の出力は
0.05Y2となる。この分光0.05Y2はアパーチ
ャ12を介してPBS13に入射する。PBS13では
この分光0.05Y2がそのまま通過し、集光レンズ1
4を介して同図(C)に示すようにモニタビームとして
FPD15に入射する。
【0026】一方、レーザ光のX成分の出力X2はPB
S6のB面で95%以上反射し、更にC面で95%以上
反射してPBS13に入射する。PBS13はこのX成
分の分光(0.95×0.95)X2が除去されるよう
に配置されている。したがって、PBS13から出力さ
れてFPD15に入射するX成分の分光は、同図(C)
に示すように0となり、FPD15で検出されるモニタ
ビームはレーザ光のY成分の分光出力0.05Y2だけ
となる。これは、図5に示したレーザ光の偏光面が回転
していない場合と同じであり、メインビームとモニタビ
ームの比率を正確に検出することができる。
S6のB面で95%以上反射し、更にC面で95%以上
反射してPBS13に入射する。PBS13はこのX成
分の分光(0.95×0.95)X2が除去されるよう
に配置されている。したがって、PBS13から出力さ
れてFPD15に入射するX成分の分光は、同図(C)
に示すように0となり、FPD15で検出されるモニタ
ビームはレーザ光のY成分の分光出力0.05Y2だけ
となる。これは、図5に示したレーザ光の偏光面が回転
していない場合と同じであり、メインビームとモニタビ
ームの比率を正確に検出することができる。
【0027】図8はレーザ光の偏光面回転時においてP
BS13の有無によるモニタビームの相異を示す。ここ
では、CH1のレーザ光だけを発光した場合について説
明する。PBS13が無い場合は、同図(A)に示すよ
うにCH1のモニタリング電圧が乱れているが、PBS
13を有する場合は、同図(B)示すようにモニタリン
グ電圧の乱れが殆どなくなっている。実際にはPBS1
3を配置すると共にレーザ光に高周波重畳をかけてお
り、これによって同図(C)に示すようにモニタリング
電圧が更に安定する。
BS13の有無によるモニタビームの相異を示す。ここ
では、CH1のレーザ光だけを発光した場合について説
明する。PBS13が無い場合は、同図(A)に示すよ
うにCH1のモニタリング電圧が乱れているが、PBS
13を有する場合は、同図(B)示すようにモニタリン
グ電圧の乱れが殆どなくなっている。実際にはPBS1
3を配置すると共にレーザ光に高周波重畳をかけてお
り、これによって同図(C)に示すようにモニタリング
電圧が更に安定する。
【0028】上述の実施例では、レーザ光の偏光面の回
転によって生じるX成分(P偏光成分)をPBS13で
キャンセルすることによってメインビームとモニタビー
ムの正確な比率を検出する場合について説明したが、各
部からの戻り光のうちレーザダイオード2に与える影響
が最も大きいFPD15を光軸に対して適宜な角度だけ
傾けることにより、ここからの戻り光がレーザダイオー
ド2に入射するのを防止することもできる。いま図9に
示すようにPBS13がない状態で光路長が例えば7
7.0mmのとき、図中に2点鎖線で示すようにFPD
15を光軸に直角に配置すると、図10(A)に示すよ
うに戻り光の影響でレーザ光の偏光面が回転しモニタリ
ング電圧の乱れが大きくなる。これに対して図9中に実
線で示すようにFPD15を光軸に対してα(α=2〜
10°)、本例ではα=2°だけ傾けると、FPD15
の戻り光がレーザダイオード2に入射しなくなり偏光面
の回転がなくなる。したがって、このときは図10
(B)に示すようにモニタリング電圧の乱れがなくな
り、これによってメインビームとモニタビームの比率を
正確に検出することが可能になる。
転によって生じるX成分(P偏光成分)をPBS13で
キャンセルすることによってメインビームとモニタビー
ムの正確な比率を検出する場合について説明したが、各
部からの戻り光のうちレーザダイオード2に与える影響
が最も大きいFPD15を光軸に対して適宜な角度だけ
傾けることにより、ここからの戻り光がレーザダイオー
ド2に入射するのを防止することもできる。いま図9に
示すようにPBS13がない状態で光路長が例えば7
7.0mmのとき、図中に2点鎖線で示すようにFPD
15を光軸に直角に配置すると、図10(A)に示すよ
うに戻り光の影響でレーザ光の偏光面が回転しモニタリ
ング電圧の乱れが大きくなる。これに対して図9中に実
線で示すようにFPD15を光軸に対してα(α=2〜
10°)、本例ではα=2°だけ傾けると、FPD15
の戻り光がレーザダイオード2に入射しなくなり偏光面
の回転がなくなる。したがって、このときは図10
(B)に示すようにモニタリング電圧の乱れがなくな
り、これによってメインビームとモニタビームの比率を
正確に検出することが可能になる。
【0029】なお、このようにFPD15を光軸に対し
て傾けたときには、その傾き角αが大きいと同図に示す
ようにクロストークが大きくなる。この場合は、図11
に示すようなクロストークキャンセル回路20を設ける
ことによって電気的な演算を施してクロストークをキャ
ンセルしモニタリング電圧を正確に検出することが可能
になる。すなわちこのクロストークキャンセル回路20
においては、FPD15の2チャネル分の受光出力PD
1及びPD2が、それぞれ演算増幅器構成のノイズ除去
用のローパスフィルタ21A,21Bに入力され、その
出力がそれぞれ演算増幅器構成の減算回路22A,22
Bに入力される。
て傾けたときには、その傾き角αが大きいと同図に示す
ようにクロストークが大きくなる。この場合は、図11
に示すようなクロストークキャンセル回路20を設ける
ことによって電気的な演算を施してクロストークをキャ
ンセルしモニタリング電圧を正確に検出することが可能
になる。すなわちこのクロストークキャンセル回路20
においては、FPD15の2チャネル分の受光出力PD
1及びPD2が、それぞれ演算増幅器構成のノイズ除去
用のローパスフィルタ21A,21Bに入力され、その
出力がそれぞれ演算増幅器構成の減算回路22A,22
Bに入力される。
【0030】この減算回路22A,22Bには、それぞ
れ他方のチャネルの受光出力PD1,PD2が抵抗分圧
されて入力され、CH1及びCH2の受光出力からCH
2及びCH1の受光出力に応じた成分を減算することに
より、互いにクロストークをキャンセルしてモニタ出力
を正しく得ることができるようになされている。
れ他方のチャネルの受光出力PD1,PD2が抵抗分圧
されて入力され、CH1及びCH2の受光出力からCH
2及びCH1の受光出力に応じた成分を減算することに
より、互いにクロストークをキャンセルしてモニタ出力
を正しく得ることができるようになされている。
【0031】なお、図1のPBS13も光軸に対して傾
けて配置することにより、その戻り光がレーザダイオー
ド2に入射してレーザ光の偏光面を回転させるようなこ
とを防止することができる。また、図1と同様にモニタ
ビームの光路中にPBS13を配置すると共に、FPD
15を光軸に対して適宜な角度αだけ傾けて配置し、更
にクロストークキャンセル回路20を設けることもでき
る。PBS13とキャンセル回路20を設け、FPD1
5の傾き角α=0としてもよい。
けて配置することにより、その戻り光がレーザダイオー
ド2に入射してレーザ光の偏光面を回転させるようなこ
とを防止することができる。また、図1と同様にモニタ
ビームの光路中にPBS13を配置すると共に、FPD
15を光軸に対して適宜な角度αだけ傾けて配置し、更
にクロストークキャンセル回路20を設けることもでき
る。PBS13とキャンセル回路20を設け、FPD1
5の傾き角α=0としてもよい。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1に記載の
発明は、マルチビームレーザ光源から射出された複数の
レーザ光を平行光にするコリメータレンズ手段と、平行
光を所定の分割比でメインビームとモニタ用ビームに分
割するビーム分割手段と、モニタ用ビームを分離集光す
る集光レンズ手段と、集光レンズ手段の焦点位置より所
定距離だけ光軸方向にずらして配置され、分離集光され
た各モニタ用ビームを受光する複数の受光手段と、ビー
ム分割手段と受光手段との間に配置され、複数のレーザ
光の偏光面の回転によって発生する受光手段方向へのP
偏光成分を除去する偏光ビーム分割手段とを備え、マル
チビームレーザ光源から射出された複数のレーザ光の出
力をそれぞれ複数の受光手段の受光出力によってモニタ
するようにしたものである。
発明は、マルチビームレーザ光源から射出された複数の
レーザ光を平行光にするコリメータレンズ手段と、平行
光を所定の分割比でメインビームとモニタ用ビームに分
割するビーム分割手段と、モニタ用ビームを分離集光す
る集光レンズ手段と、集光レンズ手段の焦点位置より所
定距離だけ光軸方向にずらして配置され、分離集光され
た各モニタ用ビームを受光する複数の受光手段と、ビー
ム分割手段と受光手段との間に配置され、複数のレーザ
光の偏光面の回転によって発生する受光手段方向へのP
偏光成分を除去する偏光ビーム分割手段とを備え、マル
チビームレーザ光源から射出された複数のレーザ光の出
力をそれぞれ複数の受光手段の受光出力によってモニタ
するようにしたものである。
【0033】したがって、この発明によればレーザ光の
偏光面が回転している場合でも、そのP偏光成分による
モニタビームへの影響を防止できるのでモニタビームを
正確に検出してレーザ出力を正確に制御できるなどの効
果がある。
偏光面が回転している場合でも、そのP偏光成分による
モニタビームへの影響を防止できるのでモニタビームを
正確に検出してレーザ出力を正確に制御できるなどの効
果がある。
【0034】また、請求項2に記載の発明は、マルチビ
ームレーザ光源から射出された複数のレーザ光を平行光
にするコリメータレンズ手段と、平行光を所定の分割比
でメインビームとモニタ用ビームに分割するビーム分割
手段と、モニタ用ビームを分離集光する集光レンズ手段
と、集光レンズ手段の焦点位置より所定距離だけ光軸方
向にずらして配置されると共に、光軸に対して所定角度
だけ傾けて配置され、分離集光されたモニタ用ビームを
受光する複数の受光手段と、複数の受光手段の各受光出
力から隣接する受光出力を減算するクロストークキャン
セル手段を備え、マルチビームレーザ光源から射出され
た複数のレーザ光の出力をそれぞれ複数の受光手段の受
光出力によってモニタするようにしたものである。
ームレーザ光源から射出された複数のレーザ光を平行光
にするコリメータレンズ手段と、平行光を所定の分割比
でメインビームとモニタ用ビームに分割するビーム分割
手段と、モニタ用ビームを分離集光する集光レンズ手段
と、集光レンズ手段の焦点位置より所定距離だけ光軸方
向にずらして配置されると共に、光軸に対して所定角度
だけ傾けて配置され、分離集光されたモニタ用ビームを
受光する複数の受光手段と、複数の受光手段の各受光出
力から隣接する受光出力を減算するクロストークキャン
セル手段を備え、マルチビームレーザ光源から射出され
た複数のレーザ光の出力をそれぞれ複数の受光手段の受
光出力によってモニタするようにしたものである。
【0035】したがって、この発明によればレーザ光の
偏光面が回転するのを防止できるので、モニタビームを
正確に検出することが可能であり、これによってレーザ
出力を正確に制御することが可能になるなどの効果があ
る。
偏光面が回転するのを防止できるので、モニタビームを
正確に検出することが可能であり、これによってレーザ
出力を正確に制御することが可能になるなどの効果があ
る。
【図1】本発明に係るレーザ出力モニタ装置を適用した
光ディスク装置1の構成図である。
光ディスク装置1の構成図である。
【図2】図1のモニタビームの光路の詳細図である。
【図3】PBS6の膜特性を示す図である。
【図4】PBS13の別の配置例を示す図である。
【図5】レーザ光の偏光面が回転していない場合の各ビ
ームの出力を示す図である。
ームの出力を示す図である。
【図6】偏光面回転時にPBS13を設置していない場
合の各ビームの出力を示す図である。
合の各ビームの出力を示す図である。
【図7】偏光面回転時にPBS13を設置した場合の各
ビームの出力を示す図である。
ビームの出力を示す図である。
【図8】図1のモニタビームの波形図である。
【図9】別の実施例を示す図である。
【図10】図8のモニタビームの波形図である。
【図11】クロストークキャンセル回路20の構成図で
ある。
ある。
1 光ディスク装置 2 レーザダイオード 3 コリメータレンズ 6,13 偏光ビームスプリッタ(PBS) 12 アパーチャ 14 集光レンズ 15 FPD 20 クロストークキャンセル回路
Claims (4)
- 【請求項1】 マルチビームレーザ光源から射出された
複数のレーザ光を平行光にするコリメータレンズ手段
と、 上記平行光を所定の分割比でメインビームとモニタ用ビ
ームに分割するビーム分割手段と、 上記モニタ用ビームを分離集光する集光レンズ手段と、 上記集光レンズ手段の焦点位置より所定距離だけ光軸方
向にずらして配置され、上記分離集光された各モニタ用
ビームを受光する複数の受光手段と、 上記ビーム分割手段と上記受光手段との間に配置され、
上記複数のレーザ光の偏光面の回転によって発生する上
記受光手段方向へのP偏光成分を除去する偏光ビーム分
割手段とを備え、 上記マルチビームレーザ光源から射出された上記複数の
レーザ光の出力をそれぞれ上記複数の受光手段の受光出
力によってモニタするようにしたことを特徴とするレー
ザ出力モニタ装置。 - 【請求項2】 マルチビームレーザ光源から射出された
複数のレーザ光を平行光にするコリメータレンズ手段
と、 上記平行光を所定の分割比でメインビームとモニタ用ビ
ームに分割するビーム分割手段と、 上記モニタ用ビームを分離集光する集光レンズ手段と、 上記集光レンズ手段の焦点位置より所定距離だけ光軸方
向にずらして配置されると共に、光軸に対して所定角度
だけ傾けて配置され、上記分離集光されたモニタ用ビー
ムを受光する複数の受光手段と、 上記複数の受光手段の各受光出力から隣接する受光出力
を減算するクロストークキャンセル手段を備え、 上記マルチビームレーザ光源から射出された上記複数の
レーザ光の出力をそれぞれ上記複数の受光手段の受光出
力によってモニタするようにしたことを特徴とするレー
ザ出力モニタ装置。 - 【請求項3】 上記複数の受光手段の各受光出力から隣
接する受光出力を減算するクロストークキャンセル手段
を備えたことを特徴とする請求項1記載のレーザ出力モ
ニタ装置。 - 【請求項4】 上記集光レンズ手段の焦点位置より所定
距離だけ光軸方向にずらして配置されると共に、光軸に
対し所定角度だけ傾けて配置され、上記分離集光された
モニタ用ビームを受光する複数の受光手段とを備えたこ
とを特徴とする請求項3記載のレーザ出力モニタ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6115562A JPH07326064A (ja) | 1994-05-27 | 1994-05-27 | レーザ出力モニタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6115562A JPH07326064A (ja) | 1994-05-27 | 1994-05-27 | レーザ出力モニタ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07326064A true JPH07326064A (ja) | 1995-12-12 |
Family
ID=14665623
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6115562A Pending JPH07326064A (ja) | 1994-05-27 | 1994-05-27 | レーザ出力モニタ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07326064A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100401380C (zh) * | 2004-01-28 | 2008-07-09 | 三星电子株式会社 | 使用数字电位器控制光电二极管的设备和方法 |
-
1994
- 1994-05-27 JP JP6115562A patent/JPH07326064A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100401380C (zh) * | 2004-01-28 | 2008-07-09 | 三星电子株式会社 | 使用数字电位器控制光电二极管的设备和方法 |
| US7417940B2 (en) | 2004-01-28 | 2008-08-26 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus for and method of controlling photo diode using digital potentiometer |
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