JPH07333059A - 測光装置 - Google Patents

測光装置

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JPH07333059A
JPH07333059A JP6125340A JP12534094A JPH07333059A JP H07333059 A JPH07333059 A JP H07333059A JP 6125340 A JP6125340 A JP 6125340A JP 12534094 A JP12534094 A JP 12534094A JP H07333059 A JPH07333059 A JP H07333059A
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JP
Japan
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light receiving
receiving element
brightness value
photometric
unit
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Application number
JP6125340A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Iwasaki
宏之 岩崎
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
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Priority to US08/419,549 priority patent/US5627620A/en
Publication of JPH07333059A publication Critical patent/JPH07333059A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B7/00Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
    • G03B7/08Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
    • G03B7/099Arrangement of photoelectric elements in or on the camera
    • G03B7/0993Arrangement of photoelectric elements in or on the camera in the camera
    • G03B7/0997Through the lens [TTL] measuring
    • G03B7/09979Multi-zone light measuring
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/70Circuitry for compensating brightness variation in the scene
    • H04N23/71Circuitry for evaluating the brightness variation

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 オフセット電圧を考慮して補正し、正確な測
光値を得ことを可能にする。 【構成】 被写界からの光を光電変換して、光強度に応
じた電気信号を出力する蓄積型の受光素子9と,受光素
子9の蓄積時間を設定する蓄積時間設定部(S111)
と,蓄積時間設定部(S111)の情報に基づいて、受
光素子9の蓄積を行う蓄積操作部(φint)と,受光
素子9からの測光出力を入力する測光値入力部(Vou
t)と,蓄積時間設定部と測光値入力部との出力に基づ
いて、被写界の輝度値を算出する輝度値算出部(S10
6)とを備え、輝度値演算部は、蓄積時間設定部から入
力した受光素子の蓄積時間を補正(t0)して、被写界
の輝度値を算出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、カメラなどに使用する
測光装置に関し、特に、CCD等の蓄積型の受光素子を
備えた測光装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の測光装置としては、例え
ば、クロック発生手段によって発生されたクロックによ
りマイクロプロセッサを動作させ、そのマイクロプロセ
ッサ内で作られたクロック信号により受光素子を動作さ
せて、その受光素子から得られた測光信号をマイクロプ
ロセッサに入力し、以下に示す手法によって、被写体の
輝度値を得る構造のものが知られている。
【0003】まず、受光素子の出力Vに基づいて、数式
1により、受光素子上の照度Lを求める。 〔数1〕 L=V/(S・t) ここで、Vは受光素子から出力される出力電圧〔単位
V〕、Sは受光素子の感度値〔単位V/Lx・s〕、t
は受光素子に与えた蓄積時間〔単位s〕、Lは受光素子
9の受光面上の照度〔単位Lx〕である。
【0004】そして、数式1で求められた照度L及びレ
ンズ内ROMから得られるレンズのデータを基にして求
められる補正係数Z〔単位なし〕、開放絞り値の補正係
数F0〔単位AV〕を用いて、数式2により被写界の輝
度値BVを求める。 〔数2〕 BV=(logL/log2)+Z+F0 ここで、BVは、被写界の輝度値〔単位BV〕である。
【0005】また、数式3のように、受光素子上の照度
Lを求めずに、被写界輝度値BVを直接求める手法もあ
る。 〔数3〕 BV=(log(V/t)/log2)+
Z’+F0 この場合には、補正係数Zの代わりに、受光素子の感度
値Sの補正も考慮した補正係数Z’を用いればよい。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】図10は、受光素子の
動作の一例を示した線図である。以上の数式1〜3は、
受光素子の蓄積時間tと出力電圧Vとの関係が、図10
(a)に示すように、グラフをt=0方向に延長する
と、t=0においてV=0になるような関係であると、
想定して設定されている。ところが、実際には、図10
(b)に示すように、グラフを延長してもt=0でV=
0とならずに、オフセット電圧V0がのってしまう。こ
れは主にスミア現象によるものである。
【0007】以下に、スミア現象について詳しく述べ
る。図5は、受光素子の一例を示す図である。受光素子
9は、CCDエリアセンサによって構成されている。図
中斜線で示した部分は、複数に分割された受光部(光電
変換部)であり、この受光部には、複数のHレジスタ
が、また、それぞれのHレジスタ95H−1〜95H−
12は、1本のVレジスタ95Vに接続されており、V
レジスタ95Vの先頭部分から測光出力が時系列的に出
力されるようになっている。ここで、受光素子9上で受
光部以外の部分(斜線以外の部分)は、被写体からの光
が当たっても光電変換が起きないように、アルミニウム
などで遮光されている。しかし、強い光が受光素子9に
入射すると、光がアルミニウムを透過して光電変換され
るために、見かけ上の蓄積時間が長くなり、出力にオフ
セット電圧となって現れてくる。
【0008】次に、オフセット電圧の乗るもう1つの現
象について説明する。図6は、受光素子のHレジスタ部
分の拡大図である。図6において、91はシャッタード
レイン、92はシャッターゲート、93はセンサー部、
94はリードアウトゲート、95HはHレジスタであ
る。
【0009】図7〜図9は、図6のA−B断面のポテン
シャルを示す模式図である。受光素子9は、図7に示す
ように、蓄積前の状態では、シャッターゲート92が開
いた状態(ポテンシャルが低い状態)になっており、セ
ンサー部93で発生した電荷は、シャッターゲート92
を通ってシャッタードレイン91へ排出される。
【0010】蓄積開始と同時に、図8の状態になり、セ
ンサー部93で発生した電荷がセンサー部93に蓄積さ
れる。そして、蓄積が終了すると、図9に示すように、
リードアウトゲート94が開き、Hレジスタ95Hへと
電荷が導かれて、読み出しが行われる。
【0011】しかし、これら蓄積開始時に行われるシャ
ッターゲート92の動作及び蓄積終了時に行われるリー
ドアウトゲート94の動作には、有限の時間を必要とす
るために、それらの時間中においてもセンサー部93で
は電荷が発生しており、それらの電荷が蓄積時間中に発
生した電荷に加算され、それがオフセット電圧となって
現れる。
【0012】従来の測光装置では、このような現象に対
する対策がとられていなかったために、オフセット電圧
分の誤差が測光値にのってしまうという問題点があっ
た。
【0013】そこで、本発明では、これらのオフセット
電圧を考慮して補正し、正確な測光値を得ることのでき
る測光装置を提供することを目的としている。
【0014】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明による測光装置の第1の解決手段は、被写界
からの光を光電変換して、光強度に応じた電気信号を出
力する蓄積型の受光素子と,前記受光素子の蓄積時間を
設定する蓄積時間設定部と,前記蓄積時間設定部の情報
に基づいて、前記受光素子の蓄積を行う蓄積操作部と,
前記受光素子からの測光出力を入力する測光値入力部
と,前記蓄積時間設定部と前記測光値入力部との出力に
基づいて、被写界の輝度値を算出する輝度値算出部とを
備えた測光装置において、前記輝度値演算部は、前記蓄
積時間設定部から入力した前記受光素子の蓄積時間を補
正して、被写界の輝度値を算出することを特徴とする。
【0015】第2の解決手段は、第1の解決手段の測光
装置において、前記輝度値演算部は、前記蓄積時間設定
部から入力した前記受光素子の蓄積時間に、所定値を加
算した値を用いて、被写界の輝度値を算出することを特
徴とする。
【0016】第3の解決手段は、第2の解決手段の測光
装置において、前記受光素子は、その受光素子に入力さ
れるクロックパルスに基づいて動作し、前記輝度値演算
部は、前記クロックパルスの周期に応じた所定値を用い
ることを特徴とする。
【0017】第4の解決手段は、第3の解決手段の測光
装置において、前記受光素子は、前記クロックパルスを
分周した基本クロックパルスを発生させ、前記輝度値演
算部は、前記基本クロックパルスの周期に応じた所定値
を用いることを特徴としている。
【0018】第5の解決手段は、第4の解決手段の測光
装置において、前記受光素子は、前記クロックパルスを
分周する分周比を切り替える分周比切り替え部を備える
ことを特徴とする。
【0019】第6の解決手段は、第5の解決手段の測光
装置において、前記輝度値演算部は、基本クロックパル
スの周期が長い方に切り替わったときに、大きい所定値
を用いることを特徴とする。
【0020】
【作用】第1の解決手段では、蓄積時間を補正して、被
写界の輝度値を算出するようにしたので、正確な被写界
の輝度値を算出することが可能となった。
【0021】第2の解決手段では、蓄積時間に所定値を
加算して、被写界の輝度値を算出するようにしたので、
安定した補正が可能となった。
【0022】第3の解決手段では、クロックパルスの周
期に応じた所定値を用いるようにしたので、クロックパ
ルスの周期が変化しても、正確な補正をすることが可能
になった。
【0023】第4の解決手段では、基本クロックパルス
の周期に応じた所定値を用いたので、より正確な補正が
可能となった。
【0024】第5の解決手段では、受光素子は、クロッ
クパルスを分周する分周比を切り替える分周比切り替え
部を備えるようにしたので、分周比が切り替えられて
も、その分周比に応じた補正が可能となった。
【0025】第6の解決手段では、基本クロックパルス
の周期が長い方に切り替わると、大きい所定値を用いる
ようにしたので、基本クロックパルスの周期の変化に応
じた補正値を得ることが可能となった。
【0026】
【実施例】以下、図面を参照して、本発明の実施例につ
いて説明する。図1は、本発明の一実施例に係わる測光
装置の概略の構成を示すブロック図である。マイクロプ
ロセッサ10は、露光制御や受光素子9等の制御を行な
う制御回路であり、クロック発生手段15からこのプロ
セッサ10が動作するための20MHzのクロック信号
を入力する。マイクロプロセッサ10は、このクロック
信号を2分周した10MHzのシステムクロックに基づ
いて、内蔵されている各種タイマー、A/D変換器、シ
リアル通信インターフェース、RAMへの読み書きおよ
び出入力端子の動作を制御する。
【0027】受光素子9は、CCDセンサ等の蓄積型の
素子である。図3は、受光素子9の測光分割形状を被写
界に照らし合わせた図である。図3に示したように、被
写界のほぼ全体を横20個、縦12個の240領域に分
割して測光を行う。
【0028】マイクロプロセッサ10及び受光素子9に
は、基準電圧発生回路11から基準電圧が入力される。
受光素子9は、この基準電圧からの電位差によって出力
信号を出力し、マイクロプロセッサ10は、この基準電
圧を基準とするA/D変換器によって、受光素子9から
の出力信号をデジタル信号に変換する。
【0029】マイクロプロセッサ10から受光素子9に
向けて出力される信号は、受光素子9の動作の基となる
マスタークロックφMCK、蓄積の開始及び終了を制御
するφint、初期設定を行うVscin信号、マスタ
ークロックの分周比を切り替えるrate信号及び出力
回路のゲインを切り替えるgain信号である。一方、
受光素子9からマイクロプロセッサ10への信号は、出
力信号を取り込むためのタイミング信号Vtim及び出
力信号Voutである。
【0030】マイクロプロセッサ10は、出力信号Vo
utの電圧を、タイミング信号Vtimの立ち下がりに
同期してA/D変換し、測光時の蓄積時間tとして、R
AMに格納する。また、レンズ内ROM12から得られ
る撮影レンズの開放絞り値F0、焦点距離f、射出瞳距
離PO等の情報を基にして補正値t0を演算する。そし
て、測光時の蓄積時間t及び補正値t0に基づいて、被
写界の輝度値を各分割エリア毎に算出する。輝度値の算
出の仕方については、後述する。マイクロプロセッサ1
0は、求められた輝度値に基づいて、公知の手法を用い
て適正露出値を算出し、不図示のレリーズ釦の全押しの
信号を検出したときに、適正露出値に応じて、絞り13
とシャッター14を制御し、フィルムの露光を行う。
【0031】図2は、本発明による測光装置の実施例の
光学系を示すブロック図である。撮影レンズ1を通過し
た光束は、クイックリターンミラー2、拡散スクリーン
3、コンデンサレンズ4、ペンタプリズム5、接眼レン
ズ6を通って、撮影者の目に到達する。一方、拡散スク
リーン3によって拡散された光束の一部は、コンデンサ
レンズ4、ペンタプリズム5、測光用プリズム7、測光
用レンズ8を通して受光素子9へ到達する。
【0032】受光素子9は、図5に示したように、図中
斜線で塗りつぶした部分がセンサー部分であり、この部
分に入射した光が光電変換され電荷を発生し、Hレジス
タ95H(95H−1〜95H−12)、Vレジスタ9
5Vを経由して、出力回路21へ運ばれ、基準信号Vr
efからの電位差を出力信号として、Voutから出力
される。
【0033】マイクロプロセッサ10からのgain信
号は、出力回路21に入力されており、これがHigh
の場合には、出力回路21の増幅率は1倍であるが、L
owになると増幅率が4倍に切り替わるようになってい
る。マスタークロックφMCK,蓄積指示信号φin
t,rate信号及び初期化信号Vscinは、タイミ
ングジェネレータ22に入力されている。
【0034】タイミングジェネレータ22では、各Hレ
ジスタ95H及びVレジスタ95Vを駆動する基になる
信号が作られ、その信号に基づいて、ドライバ23によ
って各レジスタ95H,95Vの駆動信号が作成され
る。タイミングジェネレータ22では、rate信号が
Highの場合には、φMCKを32分周したクロック
信号が作成され、Lowの場合には、16分周したクロ
ック信号が作成される。以後、このタイミングジェネレ
ータ22によって作成されたクロック信号を基本クロッ
クと呼ぶことにする。
【0035】また、初期化信号Vscinは、通常はH
ighとなっているが、電源投入時に初期化を行うとき
は一定時間(およそ基本クロック周期の500倍)Lo
wに落とされる。このときに、タイミングジェネレータ
22は、基本クロックの8倍の周波数の信号を出力し、
各レジスタ95H,95Vの残留電荷を敏速に排出し、
レジスタ95の初期化を行う。また、初期化信号Vsc
inがLowのときには、出力回路21からの信号は、
基準電圧Vrefと等しくなるようになっている。受光
素子9の蓄積時間は、φintのLowになっている間
に行われる。すなわち、通常はφint=Hとなってい
るが、蓄積開始時にLowに落とされ、再びHighに
戻されることによって蓄積が終了し、電荷が各レジスタ
95によって運ばれる。
【0036】図11は、gain及びrateの状態を
パラメーターとして、蓄積時間tと出力電圧Vとの関係
を示した図である。tminは、ちょうど基本クロック
の周期に相当する時間幅であり、受光素子9において、
設定可能な最小の蓄積時間である。図11(a)は、g
ainをパラメーターとしている。このように、グラフ
とt軸との交点と原点との距離t0は、出力回路21の
増幅率に係わらず等しい。ところが、図11(b)に示
すように、rate=Hとrate=Lの場合には、t
0は異なりそれぞれt0H、t0Lとなる。この主な理
由は、蓄積動作時のシャッターゲート92及びリードア
ウトゲート94の動作時間が基本クロックの周期に比例
しているためである。これについては、従来の技術の説
明において詳しく説明してあるので、ここでは説明を省
略する。
【0037】図4は、マイクロプロセッサ10のアルゴ
リズムを説明するフローチャート図である。不図示のシ
ャッター釦が半押しされることによってカメラの電源が
入り、マイクロプロセッサ10内のプログラムが起動さ
れる。ステップS101において、まずφMCKを出力
させる。φMCKは、システムクロックの1/4の2.
5MHzである。S102では、gain=H、rat
e=Hに設定した後に、所定期間VscinをLowに
落としてCCDの初期化を行う。S103では、最初の
蓄積時間tを1msに設定し、マイクロプロセッサ内の
RAMの所定番地に格納する。ステップS104では、
RAMに格納されている蓄積時間tに基づいて、受光素
子9による測光を行う。ステップS105では、レンズ
内ROM12から装着されている撮影レンズの開放絞り
値F0、焦点距離値f及び射出瞳距離値POが読み出さ
れ、これらの値に基づいて、測光領域毎の測光補正値Z
(i,j)、(ただしi=1・・・20,j=1・・・
12)が計算される。ここで、Z(i,j)は横i番
地、縦j番地の測光補正データであることを示してい
る。
【0038】次にステップ107において、各測光領域
において、以下に示す数式4を用いて被写界の輝度値を
算出する。 〔数4〕 BV(i,j) = (log(Vout(i,j)/(t+t0))/log2)+Z
(i,j)+F0
【0039】ここで、蓄積時間補正値t0には、基本ク
ロックの1周期相当の時間が設定されるが、実験によっ
て更に最適な値を調節して与えてもよい。例えば、φM
CK=2.5MHz、rate=Hの場合には、基本ク
ロックは78.125kHzであるので、t0=12.
8μsである。また、φMCK=2.5MHz、rat
e=Lの場合には、t0=25.6μsである。
【0040】また、マイクロプロセッサ10によってφ
MCKが変化させられる場合においては、以下の数式5
を用いてt0を算出すればよい。 〔数5〕 t0=32/φMCK(rate=H),16/φM
CK(rate=L) 例えば、φMCK=1.25MHz、rate=Hの場
合には、t0=25.6μsである。
【0041】輝度値算出が終了すると、S107により
公知の手法を用いて露出演算を行い適正露出値を算出す
る。S108では、不図示のレリーズボタンが全押しさ
れたか否かを判別し、全押しされた場合には、S109
へ進み、適正露出値に基づいて露出制御を行う。S11
0では、半押しタイマーがタイマー切れであるか否かを
判別し、タイマー切れの場合には、プログラムを終了す
る。そうでない場合には、S111によって、次回の最
適蓄積時間を計算して所定のRAMに格納し、S104
へ戻って同様の処理を繰り返す。次回の最適蓄積時間の
設定方法は、本出願人による特願平4−178299号
の手法を用いればよい。
【0042】以上の実施例と請求項に係る発明とは、受
光素子9が受光素子に、S111が蓄積時間設定部に、
φintが蓄積操作部に、マイクロプロセッサのVou
t入力端子(A/D変換器)が測光値入力部に、S10
6が輝度値算出手段に、t0が補正値に、rate端子
及びタイミングジェネレータが分周比切り替え部にそれ
ぞれ対応する。
【0043】以上説明した実施例に限定されず、種々の
変形や変更が可能であって、それらも本発明に含まれ
る。例えば、一眼レフカメラの例をあげて説明したが、
レンズシャッタカメラ、ビデオカメラ又は測定対象域の
照度を測定する測定器などにも適用できる。
【0044】
【発明の効果】以上詳しく説明したように請求項1によ
れば、蓄積時間を補正して、被写界の輝度値を算出する
ようにしたので、正確な被写界の輝度値を算出すること
を可能にした。
【0045】請求項2によれば、蓄積時間に所定値を加
算して、被写界の輝度値を算出するようにしたので、安
定した補正が可能となった。
【0046】請求項3によれば、クロックパルスの周期
に応じた所定値を用いるようにしたので、クロックパル
スの周期が変化しても、正確な補正が可能となった。
【0047】請求項4によれば、基本クロックパルスの
周期に応じた所定値を用いたので、より正確な補正が可
能となった。
【0048】請求項5によれば、受光素子は、クロック
パルスを分周する分周比を切り替える分周比切り替え部
を備えるようにしたので、分周比が切り替えられても、
その分周比に応じた補正が可能となった。
【0049】請求項6によれば、基本クロックパルスの
周期が長い方に切り替わると、大きい所定値を用いるよ
うにしたので、基本クロックパルスの周期の変化に応じ
た補正値を得ることが可能となった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による測光装置の実施例の構成を示すブ
ロック図である。
【図2】本実施例による測光装置の光学系を示した図で
ある。
【図3】本実施例による測光装置の測光素子の分割状態
を示す図である。
【図4】本実施例による測光装置のアルゴリズムを示す
フローチャート図である。
【図5】受光素子の内部構成を示す図である。
【図6】受光素子の内部構成を示す図である。
【図7】受光素子の動作を説明する模式図である。
【図8】受光素子の動作を説明する模式図である。
【図9】受光素子の動作を説明する模式図である。
【図10】受光素子の動作を説明する線図である。
【図11】本実施例による測光装置の受光素子の動作を
説明する線図である。
【符号の説明】
1 撮影レンズ 2 クイックリターンミラー 3 拡散スクリーン 4 コンデンサレンズ 5 ペンタプリズム 6 接眼レンズ 7 測光用プリズム 8 測光用レンズ 9 受光素子 10 マイクロプロセッサ 11 基準電圧発生回路 12 レンズ内CPU 13 絞り 14 シャッター

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被写界からの光を光電変換して、光強度
    に応じた電気信号を出力する蓄積型の受光素子と,前記
    受光素子の蓄積時間を設定する蓄積時間設定部と,前記
    蓄積時間設定部の情報に基づいて、前記受光素子の蓄積
    を行う蓄積操作部と,前記受光素子からの測光出力を入
    力する測光値入力部と,前記蓄積時間設定部と前記測光
    値入力部との出力に基づいて、被写界の輝度値を算出す
    る輝度値算出部とを備えた測光装置において、 前記輝度値演算部は、前記蓄積時間設定部から入力した
    前記受光素子の蓄積時間を補正して、被写界の輝度値を
    算出することを特徴とする測光装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の測光装置において、 前記輝度値演算部は、前記蓄積時間設定部から入力した
    前記受光素子の蓄積時間に、所定値を加算した値を用い
    て、被写界の輝度値を算出することを特徴とする測光装
    置。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載の測光装置において、 前記受光素子は、その受光素子に入力されるクロックパ
    ルスに基づいて動作し、 前記輝度値演算部は、前記クロックパルスの周期に応じ
    た所定値を用いることを特徴とする測光装置。
  4. 【請求項4】 請求項3に記載の測光装置において、 前記受光素子は、前記クロックパルスを分周した基本ク
    ロックパルスを発生させ、 前記輝度値演算部は、前記基本クロックパルスの周期に
    応じた所定値を用いることを特徴とする測光装置。
  5. 【請求項5】 請求項4に記載の測光装置において、 前記受光素子は、前記クロックパルスを分周する分周比
    を切り替える分周比切り替え部を備えることを特徴とす
    る測光装置。
  6. 【請求項6】 請求項5に記載の測光装置において、 前記輝度値演算部は、基本クロックパルスの周期が長い
    方に切り替わったときに、大きい所定値を用いることを
    特徴とする測光装置。
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