JPH07333636A - 液晶表示装置 - Google Patents

液晶表示装置

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JPH07333636A
JPH07333636A JP6124877A JP12487794A JPH07333636A JP H07333636 A JPH07333636 A JP H07333636A JP 6124877 A JP6124877 A JP 6124877A JP 12487794 A JP12487794 A JP 12487794A JP H07333636 A JPH07333636 A JP H07333636A
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Japan
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liquid crystal
crystal display
tape carrier
carrier package
film
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JP6124877A
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Shiro Ueda
史朗 上田
Shunichi Kumaoka
俊一 熊岡
Katsuhiko Shibata
克彦 柴田
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【構成】集積回路チップ(CHI)の出力端子(CP
1)に接続されたテープキャリアパッケージ(TCP)
の配線(TL1)を出力端子(CP1)から直線状に引
き出し、出力端子(CP2、CP3)に接続された配線
(TL2、TL3)を出力端子(CP2、CP3)から
直線状に引き出した後、長辺(TS1)に向かって垂直
に曲げ、長辺(TS1)に引き出し、液晶表示パネルと
の位置合わせ用のアライメントマーク(AM)を、互い
に最も外側で隣接する配線(TL1)と配線(TL2、
TL3)との間のスペースに設けた構成。 【効果】テープキャリアパッケージを高密度化、小型化
することができ、その結果、薄型、小型、高精細の液晶
表示装置を提供することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示パネルと、液
晶表示パネルの駆動用の回路基板とを電気的に接続する
のに、半導体集積回路チップを搭載したテープキャリア
パッケージを使用した液晶表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶表示装置は、一般に、表示用透明画
素電極と配向膜等をそれぞれ積層した面が対向するよう
に所定の間隙を隔てて2枚の透明ガラス基板を重ね合わ
せ、該両基板間の縁部に枠状に設けたシール材により、
両基板を貼り合わせると共に、シール材の一部に設けた
液晶封入口から両基板間のシール材の内側に液晶を封
入、封止し、さらに両基板の外側に偏光板を設けて成る
液晶表示パネル(液晶表示素子)と、液晶表示パネルの
下に配置され、液晶表示パネルに光を供給するバックラ
イトと、液晶表示パネルの外周部の外側に配置された駆
動用の回路基板と、これらの各部材を保持するモールド
成形品である枠状体と、これらの各部材を収納し、液晶
表示窓があけられた金属製フレーム等を含んで構成され
ている。
【0003】なお、液晶表示パネルと回路基板とは、液
晶駆動用の集積回路チップを搭載したテープキャリアパ
ッケージ(TCP)により電気的に接続されている。
【0004】なお、このような液晶表示装置は、例えば
特開昭61−214548号公報や、実開平2−137
65号公報等に記載されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】液晶表示装置(液晶表
示モジュール)は、近年、大画面化、高精細化が進んで
おり、陰極線管(CRT)に次ぐ表示デバイスとして注
目を集めている。液晶表示パネルの駆動用の集積回路チ
ップにおいても、多ピン化、高精細化の方向で性能が向
上してきている。集積回路チップとして、QFP(クワ
ッド フラット パッケージ(Quad Flat Package))を
使用する場合は、回路基板における集積回路チップの占
有面積が大きく、薄型、高密度実装に限界があるため、
テープキャリアパッケージに移行してきた。
【0006】図21は、従来のテープキャリアパッケー
ジの一例の平面図である。TCPはテープキャリアパッ
ケージ、CHIはテープキャリアパッケージTCPに搭
載された駆動用の集積回路チップ、TTM1、TTM
2、TTM3はそれぞれテープキャリアパッケージTC
Pの出力端子、OLは斜め配線、TTBはテープキャリ
アパッケージTCPの入力端子、AMは液晶表示パネル
との位置合わせ用のアライメントマークである。
【0007】テープキャリアパッケージは、薄型実装が
可能であり、接続リードの自由度(集積回路チップの端
子から液晶表示パネルの入力端子への配線。言い換えれ
ば、集積回路チップの端子ピッチが一定で、液晶表示パ
ネルの入力端子ピッチが一定でなくても配線ができる)
が高いことに特長がある。テープキャリアパッケージの
出力端子TTM1〜3のピッチは、この自由度を活か
し、液晶表示パネルの入力端子のピッチに合わせてい
る。このため、集積回路チップCHIの出力端子とテー
プキャリアパッケージTCPの出力端子TTM1〜3と
の間に、斜め配線OLを形成しなくてはならないので、
配線を高密度化するのが難しく、また、矢印A方向の長
さが大きくなり、テープキャリアパッケージTCPを小
型化することができなかった。
【0008】また、テープキャリアパッケージTCPの
出力端子TTM1〜3の両側の最も外側の出力端子のさ
らに外側に、液晶表示パネルとの位置合わせ用のアライ
メントマークAMが設けられていた。したがって、矢印
B方向の幅が大きくなり、テープキャリアパッケージT
CPを小型化することができなかった。
【0009】なお、このような技術は、例えば「日立L
CDドライバLSIデータブック」36〜66頁、19
92年3月に記載されている。
【0010】本発明の目的は、テープキャリアパッケー
ジ自体を高密度化、小型化することができ、その結果、
薄型、小型、高精細の液晶表示装置を提供することにあ
る。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明は、液晶表示パネルと、前記液晶表示パネル
の駆動用の回路基板と、前記液晶表示パネルの駆動用の
集積回路チップを搭載し、かつ、前記回路基板の出力端
子と前記液晶表示パネルの入力端子とを電気的に接続す
るテープキャリアパッケージとを含んでなる液晶表示装
置において、前記集積回路チップの端子のピッチに合わ
せて前記テープキャリアパッケージの端子が配列されて
いることを特徴とする。
【0012】また、前記集積回路チップの第1の辺の複
数本の第1の出力端子に電気的に接続された前記テープ
キャリアパッケージの第1の配線は、前記第1の出力端
子から前記テープキャリアパッケージの第2の辺にほぼ
直線状に引き出され、前記第1の辺と隣接する前記集積
回路チップの2つの辺の複数本の第2の出力端子に電気
的に接続された前記テープキャリアパッケージの第2の
配線は、前記第2の出力端子からほぼ直線状に少し引き
出された後、前記第2の辺に向かってほぼ垂直に曲がっ
て前記第2の辺に引き出されていることを特徴とする。
【0013】さらに、前記テープキャリアパッケージの
前記液晶表示パネルとの位置合わせ用のアライメントマ
ークが、互いに最も外側で最も近い前記第1の配線と前
記第2の配線との間(あるいは、前記集積回路チップの
前記第1の辺の両端の前記集積回路チップの角部の近
傍、もしくは第1の配線、第2の配線のピッチが大きく
なった箇所)の前記テープキャリアパッケージのスペー
スに設けられていることを特徴とする。
【0014】
【作用】本発明の液晶表示装置では、集積回路チップの
端子のピッチに合わせてテープキャリアパッケージの端
子を配列することにより、配線が楽になるので、高密度
に配線することができ、テープキャリアパッケージを小
型化することができる。
【0015】また、集積回路チップの第1の辺の第1の
出力端子に接続されたテープキャリアパッケージの第1
の配線を、第1の出力端子からテープキャリアパッケー
ジの第2の辺にほぼ直線状に引き出し、第1の辺と隣接
する集積回路チップの2つの辺の第2の出力端子に接続
されたテープキャリアパッケージの第2の配線を、第2
の出力端子からほぼ直線状に少し引き出した後、第2の
辺に向かってほぼ垂直に曲がって第2の辺に引き出すこ
とにより、テープキャリアパッケージの配線を斜めに配
線することがないので、配線が楽になり、高密度に配線
することができるとともに、テープキャリアパッケージ
の(前記第1の配線が伸長する方向の)長さを小さくす
ることができ、したがって、テープキャリアパッケージ
を小型化することができる。
【0016】さらに、液晶表示パネルとの位置合わせ用
のアライメントマークを、互いに最も外側で隣接する第
1の配線と第2の配線との間の、配線が存在しないテー
プキャリアパッケージ上のスペースに設けるので、アラ
イメントマークを効率良く配置することができ、テープ
キャリアパッケージを小型化することができる。
【0017】このようにテープキャリアパッケージの配
線を高密度化することができ、テープキャリアパッケー
ジ自体を小型化することができるので、その結果、薄
型、小型、高精細の液晶表示装置を提供することができ
る。
【0018】
【実施例】本発明、本発明の更に他の目的及び本発明の
更に他の特徴は図面を参照した以下の説明から明らかと
なるであろう。
【0019】《アクティブ・マトリクス液晶表示装置》
以下、アクティブ・マトリクス方式のカラー液晶表示装
置に本発明を適用した実施例について説明する。なお、
以下説明する図面で、同一機能を有するものは同一符号
を付け、その繰り返しの説明は省略する。
【0020】《TCPの接続構造》図18は、走査信号
駆動回路(図12のV参照)や映像信号駆動回路(図1
2のHe、Ho参照)を構成する、半導体集積回路チッ
プがフレキシブル配線基板に搭載されたテープキャリア
パッケージの断面構造を示す図であり、図19は、それ
を液晶表示パネルの、本例では映像信号回路用端子(図
7、図12のDTM参照)に接続した状態を示す要部断
面図である。
【0021】同図において、TCPはテープキャリアパ
ッケージ、CHIはテープキャリアパッケージTCPに
搭載された駆動用の集積回路チップ、TTMはテープキ
ャリアパッケージTCPの出力端子、TTBはテープキ
ャリアパッケージTCPの入力端子であり、出力端子T
TM、入力端子TTBは例えばCuから成り、それぞれ
の内側の先端部(通称インナーリード)は、集積回路チ
ップCHIのボンディングパッドPADにいわゆるフェ
ースダウンボンディング法により接続されている。入力
端子TTB、出力端子TTMの外側の先端部(通称アウ
ターリード)は、それぞれ集積回路チップCHIの入力
および出力に対応し、半田付け等によりCRT/TFT
変換回路・電源回路(図12のSUP参照)に、異方性
導電膜ACFによって液晶表示パネルPNLに接続され
ている。テープキャリアパッケージTCPは、その先端
部が液晶表示パネルPNL側の接続端子DTMを露出し
た保護膜PSV1を覆うようにパネルに接続されてお
り、したがって、外部接続端子DTM(図7、図12の
GTMも同様)は、保護膜PSV1かテープキャリアパ
ッケージTCPの少なくとも一方で覆われるので、電触
に対して強くなる。
【0022】BF1はポリイミド等からなるベースフィ
ルムであり、SRSは半田付けの際、半田が余計なとこ
ろに付かないようにマスクするためのソルダレジスト膜
である。シール材SLのパターンの外側の上部および下
部透明ガラス基板間の隙間は、洗浄後、エポキシ樹脂E
PX等により保護され、また、テープキャリアパッケー
ジTCPと上部透明ガラス基板SUB2との間には、さ
らにシリコン樹脂SILが充填され、保護が多重化され
ている。
【0023】図1は、本発明の一実施例の液晶表示装置
に備えられるテープキャリアパッケージTCPの平面図
である。
【0024】TTM1〜3はテープキャリアパッケージ
TCPの出力端子、TTBはテープキャリアパッケージ
TCPの入力端子、CP1〜3は集積回路チップCHI
の出力端子、CP4は集積回路チップCHIの入力端
子、TL1〜4はテープキャリアパッケージTCPの配
線、AMは液晶表示パネルとの位置合わせ用のアライメ
ントマークである。
【0025】ここに示すテープキャリアパッケージTC
Pでは、集積回路チップCHIの端子CP1〜4のピッ
チに合わせてテープキャリアパッケージTCPの端子T
TM1〜4、TTBを配列したことにより、配線が楽に
なるので、高密度に配線することができ、テープキャリ
アパッケージTCPを小型化することができる。
【0026】さらに詳しく述べると、図1に示すよう
に、集積回路チップCHIの長辺CS1の出力端子CP
1に接続されたテープキャリアパッケージTCPの配線
TL1は、出力端子CP1からテープキャリアパッケー
ジTCPの(長辺CS1と平行な)長辺TS1に直線状
に引き出してある。また、長辺CS1と隣接する集積回
路チップCHIの2つの短辺CS2、CS3の出力端子
CP2、CP3に接続されたテープキャリアパッケージ
TCPの配線TL2、TL3は、出力端子CP2、CP
3から直線状に少し引き出された後、長辺TS1に向か
って垂直に曲げられて長辺TS1に引き出してある。こ
のように、テープキャリアパッケージTCPの配線TL
1〜4を斜めに配線しないので、配線が楽になり、高密
度に配線することができるとともに、矢印A方向の長さ
を小さくすることができ、したがって、テープキャリア
パッケージTCPを小型化することができる。なお、集
積回路チップCHIの短辺CS2、CS3の出力端子C
P2、CP3に接続される配線TL2、TL3(および
その出力端子TTM2、TTM3)のピッチは、集積回
路チップCHIの長辺CS1側の出力端子CP1のピッ
チに合わせる場合もある。
【0027】さらに、液晶表示パネルとの位置合わせ用
のアライメントマークAMは、図1に示すように、互い
に最も外側で最も近い(すなわち、互いに隣接する)配
線TL1と配線TL2、TL3との間の、配線が存在し
ないテープキャリアパッケージTCP上のスペースに設
けてある。このように、テープキャリアパッケージTC
Pの出力端子TTM1〜3をストレートに引き出すと、
集積回路チップCHIの長辺CS1の両端の集積回路チ
ップCHIの角部の近傍、すなわち、配線TTL1〜3
のピッチが大きくなった箇所にスペースができ、このス
ペースにアライメントマークAMを配置することによ
り、アライメントマークAMをテープキャリアパッケー
ジTCP上に効率良く配置することができ、矢印B方向
の幅を小さくすることができる。その結果、テープキャ
リアパッケージTCPを小型化することができる。
【0028】このように図1に示すテープキャリアパッ
ケージTCPでは、配線TL1〜4を高密度に効率良く
形成することができ、また、液晶表示パネルとの位置合
わせ用のアライメントマークAMを効率良く配置するこ
とができるので、高密度化したテープキャリアパッケー
ジTCPの寸法を小さくすることができる。その結果、
薄型、小型、高精細の液晶表示装置を提供することがで
きる。
【0029】《マトリクス部の概要》図2はこの発明が
適用されるアクティブ・マトリクス方式カラー液晶表示
装置の一画素とその周辺を示す平面図、図3は図2の3
−3切断線における断面を示す図、図4は図2の4−4
切断線における断面図である。
【0030】図2に示すように、各画素は隣接する2本
の走査信号線(ゲート信号線または水平信号線)GL
と、隣接する2本の映像信号線(ドレイン信号線または
垂直信号線)DLとの交差領域内(4本の信号線で囲ま
れた領域内)に配置されている。各画素は薄膜トランジ
スタTFT、透明画素電極ITO1および保持容量素子
Caddを含む。走査信号線GLは図では左右方向に延在
し、上下方向に複数本配置されている。映像信号線DL
は上下方向に延在し、左右方向に複数本配置されてい
る。
【0031】図3に示すように、液晶層LCを基準にし
て下部透明ガラス基板SUB1側には薄膜トランジスタ
TFTおよび透明画素電極ITO1が形成され、上部透
明ガラス基板SUB2側にはカラーフィルタFIL、遮
光用ブラックマトリクスパターンBMが形成されてい
る。透明ガラス基板SUB1、SUB2の両面にはディ
ップ処理等によって形成された酸化シリコン膜SIOが
設けられている。
【0032】上部透明ガラス基板SUB2の内側(液晶
LC側)の表面には、遮光膜BM、カラーフィルタFI
L、保護膜PSV2、共通透明画素電極ITO2(CO
M)および上部配向膜ORI2が順次積層して設けられ
ている。
【0033】《マトリクス周辺の概要》図5は上下のガ
ラス基板SUB1,SUB2を含む表示パネルPNLの
マトリクス(AR)周辺の要部平面を、図6はその周辺
部を更に誇張した平面を、図7は図5及び図6のパネル
左上角部に対応するシール部SL付近の拡大平面を示す
図である。また、図8は図3の断面を中央にして、左側
に図7の8a−8a切断線における断面を、右側に映像
信号駆動回路が接続されるべき外部接続端子DTM付近
の断面を示す図である。同様に図9は、左側に走査回路
が接続されるべき外部接続端子GTM付近の断面を、右
側に外部接続端子が無いところのシール部付近の断面を
示す図である。
【0034】このパネルの製造では、小さいサイズであ
ればスループット向上のため1枚のガラス基板で複数個
分のデバイスを同時に加工してから分割し、大きいサイ
ズであれば製造設備の共用のためどの品種でも標準化さ
れた大きさのガラス基板を加工してから各品種に合った
サイズに小さくし、いずれの場合も一通りの工程を経て
からガラスを切断する。図5〜図7は後者の例を示すも
ので、図5、図6の両図とも上下基板SUB1,SUB
2の切断後を、図7は切断前を表しており、LNは両基
板の切断前の縁を、CT1とCT2はそれぞれ基板SU
B1,SUB2の切断すべき位置を示す。いずれの場合
も、完成状態では外部接続端子群Tg,Td(添字略)
が存在する(図で上下辺と左辺の)部分はそれらを露出
するように上側基板SUB2の大きさが下側基板SUB
1よりも内側に制限されている。端子群Tg,Tdはそ
れぞれ後述する走査回路接続用端子GTM、映像信号回
路接続用端子DTMとそれらの引出配線部を集積回路チ
ップCHIが搭載されたテープキャリアパッケージTC
P(図18、図19)の単位に複数本まとめて名付けた
ものである。各群のマトリクス部から外部接続端子部に
至るまでの引出配線は、両端に近づくにつれ傾斜してい
る。これは、パッケージTCPの配列ピッチ及び各パッ
ケージTCPにおける接続端子ピッチに表示パネルPN
Lの端子DTM,GTMを合わせるためである。
【0035】透明ガラス基板SUB1、SUB2の間に
はその縁に沿って、液晶封入口INJを除き、液晶LC
を封止するようにシールパターンSLが形成される。シ
ール材は例えばエポキシ樹脂から成る。上部透明ガラス
基板SUB2側の共通透明画素電極ITO2は、少なく
とも一箇所において、本実施例ではパネルの4角で銀ペ
ースト材AGPによって下部透明ガラス基板SUB1側
に形成されたその引出配線INTに接続されている。こ
の引出配線INTは後述するゲート端子GTM、ドレイ
ン端子DTMと同一製造工程で形成される。
【0036】配向膜ORI1、ORI2、透明画素電極
ITO1、共通透明画素電極ITO2、それぞれの層
は、シールパターンSLの内側に形成される。偏光板P
OL1、POL2はそれぞれ下部透明ガラス基板SUB
1、上部透明ガラス基板SUB2の外側の表面に形成さ
れている。液晶LCは液晶分子の向きを設定する下部配
向膜ORI1と上部配向膜ORI2との間でシールパタ
ーンSLで仕切られた領域に封入されている。下部配向
膜ORI1は下部透明ガラス基板SUB1側の保護膜P
SV1の上部に形成される。
【0037】この液晶表示装置は、下部透明ガラス基板
SUB1側、上部透明ガラス基板SUB2側で別個に種
々の層を積み重ね、シールパターンSLを基板SUB2
側に形成し、下部透明ガラス基板SUB1と上部透明ガ
ラス基板SUB2とを重ね合わせ、シール材SLの開口
部INJから液晶LCを注入し、注入口INJをエポキ
シ樹脂などで封止し、上下基板を切断することによって
組み立てられる。
【0038】《薄膜トランジスタTFT》次に、図2、
図3に戻り、TFT基板SUB1側の構成を詳しく説明
する。
【0039】薄膜トランジスタTFTは、ゲート電極G
Tに正のバイアスを印加すると、ソース−ドレイン間の
チャネル抵抗が小さくなり、バイアスを零にすると、チ
ャネル抵抗は大きくなるように動作する。
【0040】各画素には複数(2つ)の薄膜トランジス
タTFT1、TFT2が冗長して設けられる。薄膜トラ
ンジスタTFT1、TFT2のそれぞれは、実質的に同
一サイズ(チャネル長、チャネル幅が同じ)で構成さ
れ、ゲート電極GT、ゲート絶縁膜GI、i型(真性、
intrinsic、導電型決定不純物がドープされていない)
非晶質シリコン(Si)からなるi型半導体層AS、一
対のソース電極SD1、ドレイン電極SD2を有す。な
お、ソース、ドレインは本来その間のバイアス極性によ
って決まるもので、この液晶表示装置の回路ではその極
性は動作中反転するので、ソース、ドレインは動作中入
れ替わると理解されたい。しかし、以下の説明では、便
宜上一方をソース、他方をドレインと固定して表現す
る。
【0041】《ゲート電極GT》ゲート電極GTは走査
信号線GLから垂直方向に突出する形状で構成されてい
る(T字形状に分岐されている)。ゲート電極GTは薄
膜トランジスタTFT1、TFT2のそれぞれの能動領
域を越えるよう突出している。薄膜トランジスタTFT
1、TFT2のそれぞれのゲート電極GTは、一体に
(共通のゲート電極として)構成されており、走査信号
線GLに連続して形成されている。本例では、ゲート電
極GTは、単層の第2導電膜g2で形成されている。第
2導電膜g2としては例えばスパッタで形成されたアル
ミニウム(Al)膜が用いられ、その上にはAlの陽極
酸化膜AOFが設けられている。
【0042】このゲート電極GTはi型半導体層ASを
完全に覆うよう(下方からみて)それより大き目に形成
され、i型半導体層ASに外光やバックライト光が当た
らないよう工夫されている。
【0043】《走査信号線GL》走査信号線GLは第2
導電膜g2で構成されている。この走査信号線GLの第
2導電膜g2はゲート電極GTの第2導電膜g2と同一
製造工程で形成され、かつ一体に構成されている。ま
た、走査信号線GL上にもAlの陽極酸化膜AOFが設
けられている。
【0044】《絶縁膜GI》絶縁膜GIは、薄膜トラン
ジスタTFT1、TFT2において、ゲート電極GTと
共に半導体層ASに電界を与えるためのゲート絶縁膜と
して使用される。絶縁膜GIはゲート電極GTおよび走
査信号線GLの上層に形成されている。絶縁膜GIとし
ては例えばプラズマCVDで形成された窒化シリコン膜
が選ばれ、1200〜2700Åの厚さに(本実施例で
は、2000Å程度)形成される。ゲート絶縁膜GIは
図7に示すように、マトリクス部ARの全体を囲むよう
に形成され、周辺部は外部接続端子DTM,GTMを露
出するよう除去されている。絶縁膜GIは走査信号線G
Lと映像信号線DLの電気的絶縁にも寄与している。
【0045】《i型半導体層AS》i型半導体層AS
は、本例では薄膜トランジスタTFT1、TFT2のそ
れぞれに独立した島となるよう形成され、非晶質シリコ
ンで、200〜2200Åの厚さに(本実施例では、2
000Å程度の膜厚)で形成される。層d0はオーミッ
クコンタクト用のリン(P)をドープしたN(+)型非晶
質シリコン半導体層であり、下側にi型半導体層ASが
存在し、上側に導電層d2(d3)が存在するところの
みに残されている。
【0046】i型半導体層ASは走査信号線GLと映像
信号線DLとの交差部(クロスオーバ部)の両者間にも
設けられている。この交差部のi型半導体層ASは交差
部における走査信号線GLと映像信号線DLとの短絡を
低減する。
【0047】《透明画素電極ITO1》透明画素電極I
TO1は液晶表示部の画素電極の一方を構成する。
【0048】透明画素電極ITO1は薄膜トランジスタ
TFT1のソース電極SD1および薄膜トランジスタT
FT2のソース電極SD1の両方に接続されている。こ
のため、薄膜トランジスタTFT1、TFT2のうちの
1つに欠陥が発生しても、その欠陥が副作用をもたらす
場合はレーザ光等によって適切な箇所を切断し、そうで
ない場合は他方の薄膜トランジスタが正常に動作してい
るので放置すれば良い。透明画素電極ITO1は第1導
電膜d1によって構成されており、この第1導電膜d1
はスパッタリングで形成された透明導電膜(Indium-Tin
-Oxide ITO:ネサ膜)からなり、1000〜200
0Åの厚さに(本実施例では、1400Å程度の膜厚)
形成される。
【0049】《ソース電極SD1、ドレイン電極SD
2》ソース電極SD1、ドレイン電極SD2のそれぞれ
は、N(+)型半導体層d0に接触する第2導電膜d2と
その上に形成された第3導電膜d3とから構成されてい
る。
【0050】第2導電膜d2はスパッタで形成したクロ
ム(Cr)膜を用い、500〜1000Åの厚さに(本
実施例では、600Å程度)で形成される。Cr膜は膜
厚を厚く形成するとストレスが大きくなるので、200
0Å程度の膜厚を越えない範囲で形成する。Cr膜はN
(+)型半導体層d0との接着性を良好にし、第3導電膜
d3のAlがN(+)型半導体層d0に拡散することを防
止する(いわゆるバリア層の)目的で使用される。第2
導電膜d2として、Cr膜の他に高融点金属(Mo、T
i、Ta、W)膜、高融点金属シリサイド(MoS
2、TiSi2、TaSi2、WSi2)膜を用いてもよ
い。
【0051】第3導電膜d3はAlのスパッタリングで
3000〜5000Åの厚さに(本実施例では、400
0Å程度)形成される。Al膜はCr膜に比べてストレ
スが小さく、厚い膜厚に形成することが可能で、ソース
電極SD1、ドレイン電極SD2および映像信号線DL
の抵抗値を低減したり、ゲート電極GTやi型半導体層
ASに起因する段差乗り越えを確実にする(ステップカ
バーレッジを良くする)働きがある。
【0052】第2導電膜d2、第3導電膜d3を同じマ
スクパターンでパターニングした後、同じマスクを用い
て、あるいは第2導電膜d2、第3導電膜d3をマスク
として、N(+)型半導体層d0が除去される。つまり、
i型半導体層AS上に残っていたN(+)型半導体層d0
は第2導電膜d2、第3導電膜d3以外の部分がセルフ
アラインで除去される。このとき、N(+)型半導体層d
0はその厚さ分は全て除去されるようエッチングされる
ので、i型半導体層ASも若干その表面部分がエッチン
グされるが、その程度はエッチング時間で制御すればよ
い。
【0053】《映像信号線DL》映像信号線DLはソー
ス電極SD1、ドレイン電極SD2と同層の第2導電膜
d2、第3導電膜d3で構成されている。
【0054】《保護膜PSV1》薄膜トランジスタTF
Tおよび透明画素電極ITO1上には保護膜PSV1が
設けられている。保護膜PSV1は主に薄膜トランジス
タTFTを湿気等から保護するために形成されており、
透明性が高くしかも耐湿性の良いものを使用する。保護
膜PSV1はたとえばプラズマCVD装置で形成した酸
化シリコン膜や窒化シリコン膜で形成されており、1μ
m程度の膜厚で形成する。
【0055】保護膜PSV1は図7に示すように、マト
リクス部ARの全体を囲むように形成され、周辺部は外
部接続端子DTM,GTMを露出するよう除去され、ま
た上基板側SUB2の共通電極COMを下側基板SUB
1の外部接続端子接続用引出配線INTに銀ペーストA
GPで接続する部分も除去されている。保護膜PSV1
とゲート絶縁膜GIの厚さ関係に関しては、前者は保護
効果を考え厚くされ、後者はトランジスタの相互コンダ
クタンスgmを薄くされる。従って図7に示すように、
保護効果の高い保護膜PSV1は周辺部もできるだけ広
い範囲に亘って保護するようゲート絶縁膜GIよりも大
きく形成されている。
【0056】《遮光膜BM》上部透明ガラス基板SUB
2側には、外部光又はバックライト光がi型半導体層A
Sに入射しないよう遮光膜BMが設けられている。図2
に示す遮光膜BMの閉じた多角形の輪郭線は、その内側
が遮光膜BMが形成されない開口を示している。遮光膜
BMは光に対する遮蔽性が高いたとえばアルミニウム膜
やクロム膜等で形成されており、本実施例ではクロム膜
がスパッタリングで1300Å程度の厚さに形成され
る。
【0057】従って、薄膜トランジスタTFT1、TF
T2のi型半導体層ASは上下にある遮光膜BMおよび
大き目のゲート電極GTによってサンドイッチにされ、
外部の自然光やバックライト光が当たらなくなる。遮光
膜BMは各画素の周囲に格子状に形成され(いわゆるブ
ラックマトリクス)、この格子で1画素の有効表示領域
が仕切られている。従って、各画素の輪郭が遮光膜BM
によってはっきりとし、コントラストが向上する。つま
り、遮光膜BMはi型半導体層ASに対する遮光とブラ
ックマトリクスとの2つの機能をもつ。
【0058】透明画素電極ITO1のラビング方向の根
本側のエッジ部分(図2右下部分)も遮光膜BMによっ
て遮光されているので、上記部分にドメインが発生した
としても、ドメインが見えないので、表示特性が劣化す
ることはない。
【0059】遮光膜BMは図6に示すように周辺部にも
額縁状に形成され、そのパターンはドット状に複数の開
口を設けた図2に示すマトリクス部のパターンと連続し
て形成されている。周辺部の遮光膜BMは図6〜図9に
示すように、シール部SLの外側に延長され、パソコン
等の実装機に起因する反射光等の漏れ光がマトリクス部
に入り込むのを防いでいる。他方、この遮光膜BMは基
板SUB2の縁よりも約0.3〜1.0mm程内側に留
められ、基板SUB2の切断領域を避けて形成されてい
る。
【0060】《カラーフィルタFIL》カラーフィルタ
FILは画素に対向する位置に赤、緑、青の繰り返しで
ストライプ状に形成される。カラーフィルタFILは透
明画素電極ITO1の全てを覆うように大き目に形成さ
れ、遮光膜BMはカラーフィルタFILおよび透明画素
電極ITO1のエッジ部分と重なるよう透明画素電極I
TO1の周縁部より内側に形成されている。
【0061】カラーフィルタFILは次のように形成す
ることができる。まず、上部透明ガラス基板SUB2の
表面にアクリル系樹脂等の染色基材を形成し、フォトリ
ソグラフィ技術で赤色フィルタ形成領域以外の染色基材
を除去する。この後、染色基材を赤色染料で染め、固着
処理を施し、赤色フィルタRを形成する。つぎに、同様
な工程を施すことによって、緑色フィルタG、青色フィ
ルタBを順次形成する。
【0062】《保護膜PSV2》保護膜PSV2はカラ
ーフィルタFILの染料が液晶LCに漏れることを防止
するために設けられている。保護膜PSV2はたとえば
アクリル樹脂、エポキシ樹脂等の透明樹脂材料で形成さ
れている。
【0063】《共通透明画素電極ITO2》共通透明画
素電極ITO2は、下部透明ガラス基板SUB1側に画
素ごとに設けられた透明画素電極ITO1に対向し、液
晶LCの光学的な状態は各画素電極ITO1と共通透明
画素電極ITO2との間の電位差(電界)に応答して変
化する。この共通透明画素電極ITO2にはコモン電圧
Vcomが印加されるように構成されている。本実施例で
は、コモン電圧Vcomは映像信号線DLに印加される最
小レベルの駆動電圧Vdminと最大レベルの駆動電圧V
dmaxとの中間直流電位に設定されるが、映像信号駆動
回路で使用される集積回路の電源電圧を約半分に低減し
たい場合は、交流電圧を印加すれば良い。なお、共通透
明画素電極ITO2の平面形状は図6、図7を参照され
たい。
【0064】《保持容量素子Caddの構造》透明画素電
極ITO1は、薄膜トランジスタTFTと接続される端
部と反対側の端部において、隣りの走査信号線GLと重
なるように形成されている。この重ね合わせは、図4か
らも明らかなように、透明画素電極ITO1を一方の電
極PL2とし、隣りの走査信号線GLを他方の電極PL
1とする保持容量素子(静電容量素子)Caddを構成す
る。この保持容量素子Caddの誘電体膜は、薄膜トラン
ジスタTFTのゲート絶縁膜として使用される絶縁膜G
Iおよび陽極酸化膜AOFで構成されている。
【0065】保持容量素子Caddは走査信号線GLの第
2導電膜g2の幅を広げた部分に形成されている。な
お、映像信号線DLと交差する部分の第2導電膜g2は
映像信号線DLとの短絡の確率を小さくするため細くさ
れている。
【0066】保持容量素子Caddの電極PL1の段差部
において透明画素電極ITO1が断線しても、その段差
をまたがるように形成された第2導電膜d2および第3
導電膜d3で構成された島領域によってその不良は補償
される。
【0067】《ゲート端子部》図10は表示マトリクス
の走査信号線GLからその外部接続端子GTMまでの接
続構造を示す図であり、(A)は平面であり(B)は
(A)のB−B切断線における断面を示している。な
お、同図は図7下方付近に対応し、斜め配線の部分は便
宜状一直線状で表した。
【0068】AOは写真処理用のマスクパターン、言い
換えれば選択的陽極酸化のホトレジストパターンであ
る。従って、このホトレジストは陽極酸化後除去され、
図に示すパターンAOは完成品としては残らないが、ゲ
ート配線GLには断面図に示すように酸化膜AOFが選
択的に形成されるのでその軌跡が残る。平面図におい
て、ホトレジストの境界線AOを基準にして左側はレジ
ストで覆い陽極酸化をしない領域、右側はレジストから
露出され陽極酸化される領域である。陽極酸化されたA
L層g2は表面にその酸化物Al23膜AOFが形成さ
れ下方の導電部は体積が減少する。勿論、陽極酸化はそ
の導電部が残るように適切な時間、電圧などを設定して
行われる。マスクパターンAOは走査線GLに単一の直
線では交差せず、クランク状に折れ曲がって交差させて
いる。
【0069】図中AL層g2は、判り易くするためハッ
チを施してあるが、陽極化成されない領域は櫛状にパタ
ーニングされている。これは、Al層の幅が広いと表面
にホイスカが発生するので、1本1本の幅は狭くし、そ
れらを複数本並列に束ねた構成とすることにより、ホイ
スカの発生を防ぎつつ、断線の確率や導電率の犠牲を最
低限に押さえる狙いである。従って、本例では櫛の根本
に相当する部分もマスクAOに沿ってずらしている。
【0070】ゲート端子GTMは酸化珪素SIO層と接
着性が良くAl等よりも耐電触性の高いCr層g1と、
更にその表面を保護し画素電極ITO1と同レベル(同
層、同時形成)の透明導電層d1とで構成されている。
なお、ゲート絶縁膜GI上及びその側面部に形成された
導電層d2及びd3は、導電層d3やd2のエッチング
時ピンホール等が原因で導電層g2やg1が一緒にエッ
チングされないようその領域をホトレジストで覆ってい
た結果として残っているものである。又、ゲート絶縁膜
GIを乗り越えて右方向に延長されたITO層d1は同
様な対策を更に万全とさせたものである。
【0071】平面図において、ゲート絶縁膜GIはその
境界線よりも右側に、保護膜PSV1もその境界線より
も右側に形成されており、左端に位置する端子部GTM
はそれらから露出し外部回路との電気的接触ができるよ
うになっている。図では、ゲート線GLとゲート端子の
一つの対のみが示されているが、実際はこのような対が
図7に示すように上下に複数本並べられ端子群Tg(図
6、図7)が構成され、ゲート端子の左端は、製造過程
では、基板の切断領域CT1を越えて延長され配線SH
gによって短絡される。製造過程におけるこのような短
絡線SHgは陽極化成時の給電と、配向膜ORI1のラ
ビング時等の静電破壊防止に役立つ。
【0072】《ドレイン端子DTM》図11は映像信号
線DLからその外部接続端子DTMまでの接続を示す図
であり、(A)はその平面を示し、(B)は(A)のB
−B切断線における断面を示す。なお、同図は図7右上
付近に対応し、図面の向きは便宜上変えてあるが右端方
向が基板SUB1の上端部(又は下端部)に該当する。
【0073】TSTdは検査端子でありここには外部回
路は接続されないが、プローブ針等を接触できるよう配
線部より幅が広げられている。同様に、ドレイン端子D
TMも外部回路との接続ができるよう配線部より幅が広
げられている。検査端子TSTdと外部接続ドレイン端
子DTMは上下方向に千鳥状に複数交互に配列され、検
査端子TSTdは図に示すとおり基板SUB1の端部に
到達することなく終端しているが、ドレイン端子DTM
は、図7に示すように端子群Td(添字省略)を構成し
基板SUB1の切断線CT1を越えて更に延長され、製
造過程中は静電破壊防止のためその全てが互いに配線S
Hdによって短絡される。検査端子TSTdが存在する
映像信号線DLのマトリクスを挟んで反対側にはドレイ
ン接続端子が接続され、逆にドレイン接続端子DTMが
存在する映像信号線DLのマトリクスを挟んで反対側に
は検査端子が接続される。
【0074】ドレイン接続端子DTMは前述したゲート
端子GTMと同様な理由でCr層g1及びITO層d1
の2層で形成されており、ゲート絶縁膜GIを除去した
部分で映像信号線DLと接続されている。ゲート絶縁膜
GIの端部上に形成された半導体層ASはゲート絶縁膜
GIの縁をテーパ状にエッチングするためのものであ
る。端子DTM上では外部回路との接続を行うため保護
膜PSV1は勿論のこと取り除かれている。AOは前述
した陽極酸化マスクでありその境界線はマトリクス全体
をを大きく囲むように形成され、図ではその境界線から
左側がマスクで覆われるが、この図で覆われない部分に
は層g2が存在しないのでこのパターンは直接は関係し
ない。
【0075】マトリクス部からドレイン端子部DTMま
での引出配線は図8の(C)部にも示されるように、ド
レイン端子部DTMと同じレベルの層d1,g1のすぐ
上に映像信号線DLと同じレベルの層d2,d3がシー
ルパターンSLの途中まで積層された構造になっている
が、これは断線の確率を最小限に押さえ、電触し易いA
l層d3を保護膜PSV1やシールパターンSLででき
るだけ保護する狙いである。
【0076】《表示装置全体等価回路》表示マトリクス
部の等価回路とその周辺回路の結線図を図12に示す。
同図は回路図ではあるが、実際の幾何学的配置に対応し
て描かれている。ARは複数の画素を二次元状に配列し
たマトリクス・アレイである。
【0077】図中、Xは映像信号線DLを意味し、添字
G、BおよびRがそれぞれ緑、青および赤画素に対応し
て付加されている。Yは走査信号線GLを意味し、添字
1,2,3,…,endは走査タイミングの順序に従って
付加されている。
【0078】映像信号線X(添字省略)は交互に上側
(または奇数)映像信号駆動回路He、下側(または偶
数)映像信号駆動回路Hoに接続されている。
【0079】走査信号線Y(添字省略)は垂直走査回路
Vに接続されている。
【0080】SUPは1つの電圧源から複数の分圧した
安定化された電圧源を得るための電源回路やホスト(上
位演算処理装置)からのCRT(陰極線管)用の情報を
TFT液晶表示装置用の情報に交換する回路を含む回路
である。
【0081】《保持容量素子Caddの働き》保持容量素
子Caddは、薄膜トランジスタTFTがスイッチングす
るとき、中点電位(画素電極電位)Vlcに対するゲート
電位変化ΔVgの影響を低減するように働く。この様子
を式で表すと、次のようになる。
【0082】 ΔVlc={Cgs/(Cgs+Cadd+Cpix)}×ΔVg ここで、Cgsは薄膜トランジスタTFTのゲート電極G
Tとソース電極SD1との間に形成される寄生容量、C
pixは透明画素電極ITO1(PIX)と共通透明画素
電極ITO2(COM)との間に形成される容量、ΔV
lcはΔVgによる画素電極電位の変化分を表わす。この
変化分ΔVlcは液晶LCに加わる直流成分の原因となる
が、保持容量Caddを大きくすればする程、その値を小
さくすることができる。また、保持容量素子Caddは放
電時間を長くする作用もあり、薄膜トランジスタTFT
がオフした後の映像情報を長く蓄積する。液晶LCに印
加される直流成分の低減は、液晶LCの寿命を向上し、
液晶表示画面の切り替え時に前の画像が残るいわゆる焼
き付きを低減することができる。
【0083】前述したように、ゲート電極GTはi型半
導体層ASを完全に覆うよう大きくされている分、ソー
ス電極SD1、ドレイン電極SD2とのオーバラップ面
積が増え、従って寄生容量Cgsが大きくなり、中点電位
Vlcはゲート(走査)信号Vgの影響を受け易くなると
いう逆効果が生じる。しかし、保持容量素子Caddを設
けることによりこのデメリットも解消することができ
る。
【0084】保持容量素子Caddの保持容量は、画素の
書込特性から、液晶容量Cpixに対して4〜8倍(4・C
pix<Cadd<8・Cpix)、寄生容量Cgsに対して8〜3
2倍(8・Cgs<Cadd<32・Cgs)程度の値に設定す
る。
【0085】保持容量電極線としてのみ使用される初段
の走査信号線GL(Y0)は共通透明画素電極ITO2
(Vcom)と同じ電位にする。図7の例では、初段の走
査信号線は端子GT0、引出線INT、端子DT0及び
外部配線を通じて共通電極COMに短絡される。或い
は、初段の保持容量電極線Y0は最終段の走査信号線Ye
ndに接続、Vcom以外の直流電位点(交流接地点)に接
続するかまたは垂直走査回路Vから1つ余分に走査パル
スY0を受けるように接続してもよい。
【0086】《製造方法》つぎに、上述した液晶表示装
置の基板SUB1側の製造方法について図13〜図15
を参照して説明する。なお同図において、中央の文字は
工程名の略称であり、左側は図3に示す画素部分、右側
は図10に示すゲート端子付近の断面形状でみた加工の
流れを示す。工程Dを除き工程A〜工程Iは各写真処理
に対応して区分けしたもので、各工程のいずれの断面図
も写真処理後の加工が終わりフォトレジストを除去した
段階を示している。なお、写真処理とは本説明ではフォ
トレジストの塗布からマスクを使用した選択露光を経て
それを現像するまでの一連の作業を示すものとし、繰返
しの説明は避ける。以下区分けした工程に従って、説明
する。
【0087】工程A、図13 7059ガラス(商品名)からなる下部透明ガラス基板
SUB1の両面に酸化シリコン膜SIOをディップ処理
により設けたのち、500℃、60分間のベークを行な
う。下部透明ガラス基板SUB1上に膜厚が1100Å
のクロムからなる第1導電膜g1をスパッタリングによ
り設け、写真処理後、エッチング液として硝酸第2セリ
ウムアンモニウム溶液で第1導電膜g1を選択的にエッ
チングする。それによって、ゲート端子GTM、ドレイ
ン端子DTM、ゲート端子GTMを接続する陽極酸化バ
スラインSHg、ドレイン端子DTMを短絡するバスラ
インSHd、陽極酸化バスラインSHgに接続された陽
極酸化パッド(図示せず)を形成する。
【0088】工程B、図13 膜厚が2800ÅのAl−Pd、Al−Si、Al−S
i−Ti、Al−Si−Cu等からなる第2導電膜g2
をスパッタリングにより設ける。写真処理後、リン酸と
硝酸と氷酢酸との混酸液で第2導電膜g2を選択的にエ
ッチングする。
【0089】工程C、図13 写真処理後(前述した陽極酸化マスクAO形成後)、3
%酒石酸をアンモニアによりPH6.25±0.05に調
整した溶液をエチレングリコール液で1:9に稀釈した
液からなる陽極酸化液中に基板SUB1を浸漬し、化成
電流密度が0.5mA/cm2になるように調整する(定
電流化成)。次に所定のAl23膜厚が得られるのに必
要な化成電圧125Vに達するまで陽極酸化を行う。そ
の後この状態で数10分保持することが望ましい(定電
圧化成)。これは均一なAl23膜を得る上で大事なこ
とである。それによって、導電膜g2を陽極酸化され、
走査信号線GL、ゲート電極GTおよび電極PL1上に
膜厚が1800Åの陽極酸化膜AOFが形成される。
【0090】工程D、図14 プラズマCVD装置にアンモニアガス、シランガス、窒
素ガスを導入して、膜厚が2000Åの窒化Si膜を設
け、プラズマCVD装置にシランガス、水素ガスを導入
して、膜厚が2000Åのi型非晶質Si膜を設けたの
ち、プラズマCVD装置に水素ガス、ホスフィンガスを
導入して、膜厚が300ÅのN(+)型非晶質Si膜を設
ける。
【0091】工程E、図14 写真処理後、ドライエッチングガスとしてSF6、CC
4を使用してN(+)型非晶質Si膜、i型非晶質Si
膜を選択的にエッチングすることにより、i型半導体層
ASの島を形成する。
【0092】工程F、図14 写真処理後、ドライエッチングガスとしてSF6を使用
して、窒化Si膜を選択的にエッチングする。
【0093】工程G、図15 膜厚が1400ÅのITO膜からなる第1導電膜d1を
スパッタリングにより設ける。写真処理後、エッチング
液として塩酸と硝酸との混酸液で第1導電膜d1を選択
的にエッチングすることにより、ゲート端子GTM、ド
レイン端子DTMの最上層および透明画素電極ITO1
を形成する。
【0094】工程H、図15 膜厚が600ÅのCrからなる第2導電膜d2をスパッ
タリングにより設け、さらに膜厚が4000ÅのAl−
Pd、Al−Si、Al−Si−Ti、Al−Si−C
u等からなる第3導電膜d3をスパッタリングにより設
ける。写真処理後、第3導電膜d3を工程Bと同様な液
でエッチングし、第2導電膜d2を工程Aと同様な液で
エッチングし、映像信号線DL、ソース電極SD1、ド
レイン電極SD2を形成する。つぎに、ドライエッチン
グ装置にCCl4、SF6を導入して、N(+)型非晶質S
i膜をエッチングすることにより、ソースとドレイン間
のN(+)型半導体層d0を選択的に除去する。
【0095】工程I、図15 プラズマCVD装置にアンモニアガス、シランガス、窒
素ガスを導入して、膜厚が1μmの窒化Si膜を設け
る。写真処理後、ドライエッチングガスとしてSF6
使用した写真蝕刻技術で窒化Si膜を選択的にエッチン
グすることによって、保護膜PSV1を形成する。
【0096】《液晶表示モジュールの全体構成》図16
は、液晶表示モジュールMDLの各構成部品を示す分解
斜視図である。
【0097】SHDは金属板から成る枠状のシールドケ
ース(メタルフレーム)、LCWその表示窓、PNLは
液晶表示パネル、SPBは光拡散板、MFRは中間フレ
ーム、BLはバックライト、BLSはバックライト支持
体、LCAは下側ケースであり、図に示すような上下の
配置関係で各部材が積み重ねられてモジュールMDLが
組み立てられる。
【0098】モジュールMDLは、シールドケースSH
Dに設けられた爪CLとフックFKによって全体が固定
されるようになっている。
【0099】中間フレームMFRは表示窓LCWに対応
する開口が設けられるように枠状に形成され、その枠部
分には拡散板SPB、バックライト支持体BLS並びに
各種回路部品の形状や厚みに応じた凹凸や、放熱用の開
口が設けられている。
【0100】下側ケースLCAはバックライト光の反射
体も兼ねており、効率のよい反射ができるよう、蛍光管
BLに対応して反射山RMが形成されている。
【0101】《表示パネルPNLと駆動回路基板PCB
1》図17は、図5等に示した表示パネルPNLに映像
信号駆動回路He、Hoと垂直走査回路Vを接続した状
態を示す上面図である。
【0102】CHIは表示パネルPNLを駆動させる駆
動ICチップ(下側の3個は垂直走査回路側の駆動IC
チップ、左右の6個ずつは映像信号駆動回路側の駆動I
Cチップ)である。TCPは図18、図19を用いて前
述したように駆動用ICチップCHIがテープ・オート
メイティド・ボンディング法(TAB)により実装され
たテープキャリアパッケージ、PCB1は上記TCPや
コンデンサCDS等が実装された駆動回路基板で、3つ
に分割されている。FGPはフレームグランドパッドで
あり、シールドケースSHDに切り込んで設けられたバ
ネ状の破片FGが半田付けされる。FCは下側の駆動回
路基板PCB1と左側の駆動回路基板PCB1、および
下側の駆動回路基板PCB1と右側の駆動回路基板PC
B1とを電気的に接続するフラットケーブルである。フ
ラットケーブルFCとしては図に示すように、複数のリ
ード線(りん青銅の素材にSn鍍金を施したもの)をス
トライプ状のポリエチレン層とポリビニルアルコール層
とでサンドイッチして支持したものを使用する。
【0103】《駆動回路基板PCB2》中間フレームM
FRに保持・収納される液晶表示部LCDの駆動回路基
板PCB2は、図31に示すように、L字形をしてお
り、IC、コンデンサ、抵抗等の電子部品が搭載されて
いる。この駆動回路基板PCB2には、1つの電圧源か
ら複数の分圧した安定化された電圧源を得るための電源
回路や、ホスト(上位演算処理装置)からのCRT(陰
極線管)用の情報をTFT液晶表示装置用の情報に変換
する回路を含む回路SUPが搭載されている。CJは外
部と接続される図示しないコネクタが接続されるコネク
タ接続部である。駆動回路基板PCB2とインバータ回
路基板PCB3とはバックライトケーブルにより中間フ
レームMFRに設けたコネクタ穴を介して電気的に接続
される。
【0104】駆動回路基板PCB1と駆動回路基板PC
B2とは折り曲げ可能なフラットケーブルFCにより電
気的に接続されている。組立て時、駆動回路基板PCB
2は、フラットケーブルFCを180°折り曲げることに
より駆動回路基板PCB1の裏側に重ねられ、中間フレ
ームMFRの所定の凹部に嵌合される。
【0105】以上本発明を実施例に基づいて具体的に説
明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではな
く、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能で
あることは勿論である。
【0106】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
テープキャリアパッケージを高密度化、小型化すること
ができ、その結果、薄型、小型、高精細の液晶表示装置
を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の液晶表示装置に備えられる
テープキャリアパッケージの平面図である。
【図2】この発明が適用されるアクティブ・マトリック
ス方式のカラー液晶表示装置の液晶表示部の一画素とそ
の周辺を示す要部平面図である。
【図3】図2の3−3切断線における1画素とその周辺
を示す断面図である。
【図4】図2の4−4切断線における付加容量Caddの
断面図である。
【図5】表示パネルのマトリクス周辺部の構成を説明す
るための平面図である。
【図6】図5の周辺部をやや誇張し更に具体的に説明す
るためのパネル平面図である。
【図7】上下基板の電気的接続部を含む表示パネルの角
部の拡大平面図である。
【図8】マトリクスの画素部を中央に、両側にパネル角
付近と映像信号端子部付近を示す断面図である。
【図9】左側に走査信号端子、右側に外部接続端子の無
いパネル縁部分を示す断面図である。
【図10】ゲート端子GTMとゲート配線GLの接続部
近辺を示す平面と断面の図である。
【図11】ドレイン端子DTMと映像信号線DLとの接
続部付近を示す平面と断面の図である。
【図12】アクティブ・マトリックス方式のカラー液晶
表示装置のマトリクス部とその周辺を含む回路図であ
る。
【図13】基板SUB1側の工程A〜Cの製造工程を示
す画素部とゲート端子部の断面図のフローチャートであ
る。
【図14】基板SUB1側の工程D〜Fの製造工程を示
す画素部とゲート端子部の断面図のフローチャートであ
る。
【図15】基板SUB1側の工程G〜Iの製造工程を示
す画素部とゲート端子部の断面図のフローチャートであ
る。
【図16】液晶表示モジュールの分解斜視図である。
【図17】液晶表示パネルに周辺の駆動回路を実装した
状態を示す上面図である。
【図18】駆動回路を構成する集積回路チップCHIが
フレキシブル配線基板に搭載されたテープキャリアパッ
ケージTCPの断面構造を示す図である。
【図19】テープキャリアパッケージTCPを液晶表示
パネルPNLの映像信号回路用端子DTMに接続した状
態を示す要部断面図である。
【図20】周辺駆動回路基板PCB1(上面が見える)
と電源回路回路基板PCB2(下面が見える)との接続
状態を示す上面図である。
【図21】従来のテープキャリアパッケージの一例の平
面図である。
【符号の説明】
TCP…テープキャリアパッケージ、CHI…半導体集
積回路チップ、TTM1〜3…テープキャリアパッケー
ジの出力端子、TTB…テープキャリアパッケージの入
力端子、CP1〜3…集積回路チップの出力端子、CP
4…集積回路チップの入力端子、TL1〜4…テープキ
ャリアパッケージの配線、AM…アライメントマーク、
CS1〜4…集積回路チップの辺、TS1…テープキャ
リアパッケージの辺。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】液晶表示パネルと、前記液晶表示パネルの
    駆動用の回路基板と、前記液晶表示パネルの駆動用の集
    積回路チップを搭載し、かつ、前記回路基板の出力端子
    と前記液晶表示パネルの入力端子とを電気的に接続する
    テープキャリアパッケージとを含んでなる液晶表示装置
    において、前記集積回路チップの端子のピッチに合わせ
    て前記テープキャリアパッケージの端子が配列されてい
    ることを特徴とする液晶表示装置。
  2. 【請求項2】液晶表示パネルと、前記液晶表示パネルの
    駆動用の回路基板と、前記液晶表示パネルの駆動用の集
    積回路チップを搭載し、かつ、前記回路基板と前記液晶
    表示パネルとを電気的に接続するテープキャリアパッケ
    ージとを含んでなる液晶表示装置において、前記集積回
    路チップの第1の辺の第1の出力端子に電気的に接続さ
    れた前記テープキャリアパッケージの第1の配線は、前
    記第1の出力端子から前記テープキャリアパッケージの
    第2の辺にほぼ直線状に引き出され、前記第1の辺と隣
    接する前記集積回路チップの2つの辺の第2の出力端子
    に電気的に接続された前記テープキャリアパッケージの
    第2の配線は、前記第2の出力端子からほぼ直線状に少
    し引き出された後、前記第2の辺に向かってほぼ垂直に
    曲がって前記第2の辺に引き出されていることを特徴と
    する液晶表示装置。
  3. 【請求項3】前記テープキャリアパッケージの前記液晶
    表示パネルとの位置合わせ用のアライメントマークが、
    互いに最も外側で最も近い前記第1の配線と前記第2の
    配線との間の前記テープキャリアパッケージのスペース
    に設けられていることを特徴とする請求項2記載の液晶
    表示装置。
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