JPH0735582B2 - Boron nitride formation method - Google Patents

Boron nitride formation method

Info

Publication number
JPH0735582B2
JPH0735582B2 JP13278288A JP13278288A JPH0735582B2 JP H0735582 B2 JPH0735582 B2 JP H0735582B2 JP 13278288 A JP13278288 A JP 13278288A JP 13278288 A JP13278288 A JP 13278288A JP H0735582 B2 JPH0735582 B2 JP H0735582B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
boron nitride
gas
substrate
ions
nitrogen
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP13278288A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH01306564A (en
Inventor
弘基 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP13278288A priority Critical patent/JPH0735582B2/en
Publication of JPH01306564A publication Critical patent/JPH01306564A/en
Publication of JPH0735582B2 publication Critical patent/JPH0735582B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、イオンを利用して基板に窒化ホウ素を形成
する窒化ホウ素形成方法に関するものである。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a boron nitride forming method for forming boron nitride on a substrate by using ions.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、薄膜形成法としては、一般にCVD法と呼ばれてい
る手法があり、これは主として高温空間(基板を含め
て)あるいは活性化された空間における化学反応を利用
して薄膜を形成する方法である。
Conventionally, as a thin film forming method, there is a method generally called a CVD method, which is a method of forming a thin film mainly by utilizing a chemical reaction in a high temperature space (including a substrate) or an activated space. is there.

具体的には、例えば、ジボラン(B2H6)、アンモニア
(NH3)、水素(H2)の混合ガスを用いて窒化ホウ素(B
N)を形成する場合についてみると、一例として精密工
学会誌(53/10/1987)に示された高周波プラズマCVD法
があり、第3図を参照して説明する。図において、真空
槽(31)内に収納された石英反応管(32)の外周にヒー
タ(33)が配置されており、石英反応管(32)内に基板
(34)が設定される。基板(34)の上部には熱陰極(フ
イラメント)(35)が配置されている。石英反応管(3
2)には反応性ガス導入管(36)が接続されており、石
英反応管(32)を囲む高周波コイル(37)には高周波電
源(38)が接続されている。(39)はロータリーポンプ
である。
Specifically, for example, a mixed gas of diborane (B 2 H 6 ), ammonia (NH 3 ) and hydrogen (H 2 ) is used to produce boron nitride (B 2
As for the case of forming N), there is a high frequency plasma CVD method shown in the journal of Precision Engineering (53/10/1987) as an example, which will be described with reference to FIG. In the figure, a heater (33) is arranged on the outer circumference of a quartz reaction tube (32) housed in a vacuum chamber (31), and a substrate (34) is set in the quartz reaction tube (32). A hot cathode (filament) (35) is arranged above the substrate (34). Quartz reaction tube (3
A reactive gas introduction pipe (36) is connected to 2), and a high frequency power supply (38) is connected to a high frequency coil (37) surrounding the quartz reaction pipe (32). (39) is a rotary pump.

このような構成からなる高周波プラズマCVD装置を実際
に運転するときには、先ずロータリーポンプ(39)を稼
動させて、反応性ガス導入管(36)より導入されるガス
流量を調整して、石英反応管(32)内に、例えば、B
2H6、NH3およびH2等の反応性ガスを導入しながら、石英
反応管内(32)を0.1〜10Torr程度に減圧する。
When actually operating the high-frequency plasma CVD apparatus having such a structure, first, the rotary pump (39) is operated to adjust the flow rate of the gas introduced from the reactive gas introduction pipe (36), and the quartz reaction pipe In (32), for example, B
While introducing a reactive gas such as 2 H 6 , NH 3 and H 2 , the pressure inside the quartz reaction tube (32) is reduced to about 0.1 to 10 Torr.

導入された反応性ガスは、高周波電源(38)による高周
波コイル(37)への入力によりプラズマ化され、さらに
熱陰極(35)により活性化される。一方、ヒータ(33)
により基板(34)は高温に加熱して、基板上で反応性ガ
スを分解、還元あるいは置換などの化学反応(B2H6+2
NH3→2BN+3H2)を行わせると共に、この結果生成した
窒化ホウ素(BN)を基板上に堆積させ薄膜が形成され
る。
The introduced reactive gas is turned into plasma by the input to the high frequency coil (37) by the high frequency power supply (38) and further activated by the hot cathode (35). Meanwhile, the heater (33)
Causes the substrate (34) to be heated to a high temperature to decompose, reduce or replace the reactive gas on the substrate (B 2 H 6 +2
NH 3 → 2BN + 3H 2 ) is performed, and the resulting boron nitride (BN) is deposited on the substrate to form a thin film.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be Solved by the Invention]

従来から使用されているCVD装置による窒化ホウ素形成
方法は、以上のように構成されていることから、高温度
雰囲気中の化学反応による薄膜生成過程を含むため、低
温プロセスで薄膜が形成できないという問題点があつ
た。
The conventional method for forming boron nitride using a CVD apparatus has the above-described structure, and therefore involves a thin film formation process by a chemical reaction in a high-temperature atmosphere, so that a thin film cannot be formed by a low-temperature process. There was a point.

また、膜質を制御するパラメータがガス圧と基板温度の
みであるために、高性能な薄膜を形成するのが難しいな
どの課題があつた。
Further, since the parameters for controlling the film quality are only the gas pressure and the substrate temperature, it is difficult to form a high-performance thin film.

この発明は上記のような課題を解決するためになされた
もので、低温プロセスによつて、基板との付着力が強い
高品質の薄膜が形成できるイオン源を用いて成膜する窒
化ホウ素形成方法を得ることを目的とする。
The present invention has been made to solve the above problems, and a method for forming boron nitride by using an ion source capable of forming a high quality thin film having strong adhesion to a substrate by a low temperature process. Aim to get.

〔課題を解決するための手段〕[Means for Solving the Problems]

この発明に係る窒化ホウ素形成方法は、イオンビーム法
に属し、ホウ素元素を含むガスと窒素元素を含むガスを
イオン源に導入し、イオン源においてこれらのガスに電
子ビームを照射してガスを励起、解離および一部イオン
化し、このイオンを電界によつて加速して基板に照射す
る。
The method for forming boron nitride according to the present invention belongs to an ion beam method, in which a gas containing a boron element and a gas containing a nitrogen element are introduced into an ion source, and the gas is irradiated with an electron beam to excite the gas. , Dissociation and partial ionization, and the ions are accelerated by an electric field to irradiate the substrate.

〔作用〕[Action]

この発明においては、シールド板内で噴出している気体
もしくは蒸気に電子ビームを照射することにより、ジボ
ラン(B2H6)、窒素(N2)等の気体もしくは蒸気を励
起、解離もしくは一部イオン化して活性化させ、遊離し
た元素(たとえばB,N)もしくは反応により生成した窒
化ホウ素(BN)を基板上に堆積させるイオン源を用い
る。
In the present invention, by irradiating the gas or vapor ejected in the shield plate with an electron beam, the gas or vapor such as diborane (B 2 H 6 ) or nitrogen (N 2 ) is excited, dissociated or partially. An ion source is used that is ionized and activated to deposit free elements (for example, B, N) or boron nitride (BN) generated by the reaction on a substrate.

このイオン源は、電子ビーム照射によつて、気体もしく
は蒸気を効率よく励起、解離およびイオン化、もしくは
反応させることができるばかりでなく、電子ビーム照射
によつて生成させるイオン量が制御でき、さらに加速電
極に印加された電圧によりイオンの運動エネルギーを変
化させることで、イオンにより表面をスパツタする効果
があり基板との付着力が非常に強い窒化ホウ素が低温プ
ロセスで形成することができる。
This ion source not only can efficiently excite, dissociate, ionize, or react gas or vapor by electron beam irradiation, but can also control the amount of ions generated by electron beam irradiation and further accelerate it. By changing the kinetic energy of the ions by the voltage applied to the electrodes, boron nitride, which has the effect of sputtering the surface of the ions and has a very strong adhesion to the substrate, can be formed by a low temperature process.

また、B2H6とN2ガスを別々のイオン源に導入して基板に
入射するホウ素元素と窒素元素のイオン運動エネルギー
およびそれぞれのイオン入射量を変化させることで、窒
化ホウ素の結晶性,硬度,熱伝導率等の膜質を自由に制
御することができるばかりでなく、窒素元素のイオン量
を大きくすることでジボランの消費量(排気量)を減少
させ、効率よく窒化ホウ素が形成できる。
Further, by introducing B 2 H 6 and N 2 gas into different ion sources and changing the ion kinetic energy of boron element and nitrogen element incident on the substrate and the incident amount of each ion, the crystallinity of boron nitride, Not only can the film quality such as hardness and thermal conductivity be freely controlled, but the amount of diborane consumed (the amount of exhaust gas) can be reduced by increasing the amount of nitrogen element ions, and boron nitride can be formed efficiently.

〔実施例〕〔Example〕

以下、この発明の一実施例を第1図を参照して説明す
る。第1図は、基板(12)表面に窒化ホウ素(13)を形
成するのに用いられるイオン源(20)の一例であり、イ
オンの加速手段は、引き出し電極(1)と加速電極
(2)からなる1対のアパーチャ電極で形成されてい
る。電子ビーム放出手段は、プラズマ室(70)内に設け
られた熱陰極(フイラメント)(3)、電界シールド板
(4)、グリツド電極(5)からなり、全体はシールド
板(8)で囲まれている。(71)は熱陰極より放出され
た電子ビームをらせん状の回転運動をさせるための磁界
印加手段であり、これは特になくともよい。ジボランお
よび窒素等のガスもしくは蒸気は、絶縁セラミツク
(7)で支持された気体噴射ノズル(6)によりイオン
源に導入される。電源としては、イオンを加速する加速
直流電源(9)、熱陰極(3)に対して電界シールド板
(4)およびグリツド電極(5)からなるプラズマ室
(70)を正の電位にバイアスするイオン化電源(10)お
よび熱陰極加熱電源(11)がある。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG. FIG. 1 shows an example of an ion source (20) used for forming boron nitride (13) on the surface of a substrate (12). The ion accelerating means is an extraction electrode (1) and an acceleration electrode (2). Is formed of a pair of aperture electrodes. The electron beam emitting means comprises a hot cathode (filament) (3) provided in the plasma chamber (70), an electric field shield plate (4), and a grid electrode (5), and the whole is surrounded by the shield plate (8). ing. Reference numeral (71) is a magnetic field applying means for rotating the electron beam emitted from the hot cathode in a spiral rotational motion, which is not particularly required. Gas or vapor such as diborane and nitrogen is introduced into the ion source by a gas injection nozzle (6) supported by an insulating ceramic (7). As a power source, an acceleration DC power source (9) for accelerating ions, an ionization for biasing a plasma chamber (70) composed of an electric field shield plate (4) and a grid electrode (5) to a positive potential with respect to a hot cathode (3). There is a power supply (10) and a hot cathode heating power supply (11).

次に、窒化ホウ素形成について、ジボランと窒素の混合
ガスを用いて、これを励起、解離および一部イオン化を
行つて基板(12)表面に、ホウ素イオン、窒素イオン等
を照射して窒化ホウ素(13)を形成する場合を説明す
る。
Next, for the formation of boron nitride, a mixed gas of diborane and nitrogen is used to excite, dissociate, and partially ionize the mixed gas, and the surface of the substrate (12) is irradiated with boron ions, nitrogen ions, or the like to form boron nitride ( The case of forming 13) will be described.

先ず、図示しない排気系によつて高真空に保たれている
真空槽(14)内のイオン源に、流量が調整された、ジボ
ラン(B2H6)、窒素(N2)などを含む反応性ガスを絶縁
セラミツク(7)で絶縁された気体噴射ノズル(6)よ
り導入し、真空槽(14)内のガス圧を10-5〜10-3Torr程
度になるように調整する。
First, a reaction containing diborane (B 2 H 6 ), nitrogen (N 2 ) and the like, the flow rate of which is adjusted, in the ion source in the vacuum chamber (14) which is kept in a high vacuum by an exhaust system (not shown). Gas is introduced from a gas injection nozzle (6) insulated by an insulating ceramic (7), and the gas pressure in the vacuum chamber (14) is adjusted to be about 10 -5 to 10 -3 Torr.

一方、熱陰極加熱電源(11)により約2000℃程度に加熱
された熱陰極(3)から電子ビームが放出されるよう
に、加熱電極(2)、電界シールド板(4)およびグリ
ツド電極(5)によつて構成されるプラズマ室(70)に
対して負のバイアス電圧をイオン化電源(10)によつて
印加する。
On the other hand, the heating electrode (2), the electric field shield plate (4) and the grid electrode (5) are arranged so that the electron beam is emitted from the hot cathode (3) heated to about 2000 ° C. by the hot cathode heating power source (11). A negative bias voltage is applied by an ionization power source (10) to the plasma chamber (70) constituted by (1).

このときの電子ビームは、プラズマ室(70)内部に応範
囲に放出されて気体粒子と衝突して、気体の励起、解離
およびイオン化を効率よく行う。またイオン源内のガス
圧は、シールド板(8)により、真空槽(14)内より高
いガス圧に保たれるため、電子ビーム照射によつて、ガ
スの励起、解離およびイオン化がさらに効率よく行われ
る。
At this time, the electron beam is emitted into the plasma chamber (70) in a reaction range and collides with gas particles, so that the gas is efficiently excited, dissociated, and ionized. Further, the gas pressure in the ion source is kept higher than that in the vacuum chamber (14) by the shield plate (8), so that the excitation, dissociation and ionization of the gas can be performed more efficiently by the electron beam irradiation. Be seen.

また磁界印加手段(71)によつて電子をらせん運動させ
て効率をあげることも可能である。
Further, the magnetic field applying means (71) can make the electrons spiral to increase the efficiency.

一方、引き出し電極(1)と加速電極(2)の間に加速
電源(9)によつて電圧を印加すると、上述のイオンは
加速され、運動エネルギーを得て基板(12)に到達し、
化学反応によつて窒化ホウ素(13)が形成される。この
ときの加速電圧を変えることによつて基板(12)表面に
形成される窒化ホウ素(13)の結晶性を立方晶(CBN)
から六方晶(hBN)へ変化させたり、電気的、機械的物
性値を変化させたりすることができる。
On the other hand, when a voltage is applied between the extraction electrode (1) and the acceleration electrode (2) by the acceleration power supply (9), the above-mentioned ions are accelerated and kinetic energy is obtained to reach the substrate (12),
Boron nitride (13) is formed by the chemical reaction. The crystallinity of boron nitride (13) formed on the surface of the substrate (12) is changed to cubic (CBN) by changing the acceleration voltage at this time.
Can be changed to hexagonal (hBN) and electrical and mechanical properties can be changed.

以上のように、窒化ホウ素の物性を制御して形成される
高性能な窒化ホウ素を設けた基板は、磁気デイスク保護
膜、機械的耐摩耗部品等幅広い応用分野がある。
As described above, a substrate provided with high-performance boron nitride formed by controlling the physical properties of boron nitride has a wide range of application fields such as a magnetic disk protective film and mechanical wear resistant parts.

次に、他の実施例について、第2図を参照して説明す
る。これは、複数個のイオン源(20a),(20b)を用い
て窒化ホウ素を形成する場合で、気体噴射ノズル(6
a),(6b)は、たとえばジボラン(B2H6)と窒素
(N2)もしくはアンモニア(NH4)ガスをイオン源に導
入する。(70a),(70b)は、それぞれの気体を励起、
解離もしくはイオン化するプラズマ室である。(1a),
(1b)および(2a),(2b)はそれぞれ異なる加速電圧
を印加して、それぞれホウ素イオンと窒素イオンを窒化
ホウ素(13)を形成する基板(12)に入射させる引き出
し電極と加速電極である。
Next, another embodiment will be described with reference to FIG. This is a case where boron nitride is formed using a plurality of ion sources (20a) and (20b).
In a) and (6b), for example, diborane (B 2 H 6 ) and nitrogen (N 2 ) or ammonia (NH 4 ) gas are introduced into the ion source. (70a) and (70b) excite each gas,
A plasma chamber that dissociates or ionizes. (1a),
(1b) and (2a), (2b) are extraction electrodes and acceleration electrodes that apply different accelerating voltages and make boron ions and nitrogen ions respectively enter the substrate (12) forming the boron nitride (13). .

以上の装置により、それぞれのイオン源にたとえばジボ
ラン(B2H6)と窒素(N2)ガスをそれぞれ気体噴射ノズ
ル(6a),(6b)より導入し、それぞれの気体をプラズ
マ室(70a),(70b)において励起、解離および一部イ
オン化して、引き出し電極(1a),(1b)と加速電極
(2a),(2b)との間にそれぞれ異なる加速電圧を印加
すれば、ホウ素イオンと窒素イオンが基板(12)に入射
するエネルギーを独立に制御できるため、形成される窒
化ホウ素(13)の結晶性、電気的物性、機械的物性をさ
らに自由にコントロールできる。
With the above device, for example, diborane (B 2 H 6 ) and nitrogen (N 2 ) gas are introduced into the respective ion sources from the gas injection nozzles (6a) and (6b), and the respective gases are introduced into the plasma chamber (70a). , (70b) are excited, dissociated, and partially ionized, and if different acceleration voltages are applied between the extraction electrodes (1a) and (1b) and the acceleration electrodes (2a) and (2b), they become boron ions. Since the energy of the nitrogen ions incident on the substrate (12) can be controlled independently, the crystallinity, electrical properties, and mechanical properties of the formed boron nitride (13) can be controlled more freely.

具体的には、窒素イオンが基板(12)に入射する量や運
動エネルギーをホウ素イオンが基板(12)に入射する量
よりも大きくすれば、ジボランの消費量、すなわち成膜
に用いられずに排気される量を減少させることができ
る。
Specifically, if the amount of nitrogen ions incident on the substrate (12) and the kinetic energy thereof are made larger than the amount of boron ions incident on the substrate (12), the consumption amount of diborane, that is, it is not used for film formation. The amount exhausted can be reduced.

また窒素イオンを基板に注入させながら成膜を行うと、
硬度などの機械的特性をさらに向上させることができ
る。
Also, when film formation is performed while implanting nitrogen ions into the substrate,
Mechanical properties such as hardness can be further improved.

なお、上記各実施例では、ジボランと窒素を用いて窒化
ホウ素を形成する場合について述べたが、この組み合せ
はジボランとアンモニアガス等、ホウ素元素を含むガス
もしくはホウ素元素を含む混合ガスと窒素元素を含むガ
スもしくは窒素元素を含む混合ガスの組み合せであれば
どのような組み合せでも窒化ホウ素の形成が可能であ
る。
In each of the above embodiments, the case where boron nitride is formed by using diborane and nitrogen is described, but this combination includes diborane and ammonia gas, a gas containing a boron element or a mixed gas containing a boron element and a nitrogen element. Boron nitride can be formed in any combination as long as it is a combination of gas containing or mixed gas containing nitrogen element.

また、熱陰極(フイラメント)(3)に代えて、マイク
ロ波印加手段を用いてもよい。
Further, a microwave applying means may be used instead of the hot cathode (filament) (3).

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

この発明は、以上のように、真空槽内に設けられたイオ
ン源により、気体を励起、解離および一部イオン化し
て、このイオンを加速して基板に窒化ホウ素を形成する
ので、高性能な窒化ホウ素が得られる。
As described above, the present invention excites, dissociates, and partially ionizes gas by the ion source provided in the vacuum chamber and accelerates the ions to form boron nitride on the substrate. Boron nitride is obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこの発明の一実施例に用いる装置の立断面図、
第2図は他の実施例に用いる装置の立断面図、第3図は
従来のCVD装置の立断面図である。 (1)……引き出し電極、(2)……加速電極、(3)
……熱陰極、(4)……電界シールド板、(5)……グ
リツド電極、(6)……気体噴射ノズル、(7)……絶
縁セラミツク、(8)……シールド板、(12)……基
板、(13)……窒化ホウ素、(70)……プラズマ室、
(71)……磁界印加手段。 なお、各図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。
FIG. 1 is a vertical sectional view of an apparatus used in an embodiment of the present invention,
FIG. 2 is a vertical sectional view of an apparatus used in another embodiment, and FIG. 3 is a vertical sectional view of a conventional CVD apparatus. (1) …… Extraction electrode, (2) …… Acceleration electrode, (3)
... hot cathode, (4) ... electric field shield plate, (5) ... grid electrode, (6) ... gas injection nozzle, (7) ... insulating ceramic, (8) ... shield plate, (12) …… Substrate, (13) …… Boron nitride, (70) …… Plasma chamber,
(71) …… Magnetic field application means. In each figure, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ホウ素元素を含むガスと窒素元素を含むガ
スをイオン源に導入し、このイオン源においてこれらの
ガスに電子ビームを照射して前記ガスを励起,解離およ
び一部イオン化し、このイオンを電界によつて加速して
基板に照射して前記基板上に窒化ホウ素を形成する窒化
ホウ素形成方法。
1. A gas containing a boron element and a gas containing a nitrogen element are introduced into an ion source, and the gas is irradiated with an electron beam in the ion source to excite, dissociate and partially ionize the gas. A method for forming boron nitride, wherein ions are accelerated by an electric field to irradiate the substrate to form boron nitride on the substrate.
JP13278288A 1988-06-01 1988-06-01 Boron nitride formation method Expired - Lifetime JPH0735582B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13278288A JPH0735582B2 (en) 1988-06-01 1988-06-01 Boron nitride formation method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13278288A JPH0735582B2 (en) 1988-06-01 1988-06-01 Boron nitride formation method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01306564A JPH01306564A (en) 1989-12-11
JPH0735582B2 true JPH0735582B2 (en) 1995-04-19

Family

ID=15089418

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13278288A Expired - Lifetime JPH0735582B2 (en) 1988-06-01 1988-06-01 Boron nitride formation method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0735582B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH01306564A (en) 1989-12-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4805555A (en) Apparatus for forming a thin film
US4676194A (en) Apparatus for thin film formation
US4980610A (en) Plasma generators
JP3386175B2 (en) Method of forming compound thin film with gas cluster ion assist
US20050227020A1 (en) Method for carrying out homogeneous and heterogeneous chemical reactions using plasma
JPH0420984B2 (en)
JPH0735582B2 (en) Boron nitride formation method
JPH0420985B2 (en)
GB2212520A (en) Ion source
JPH01234397A (en) Method and apparatus for producing diamond-like thin film
JP2000273644A (en) Plasma CVD equipment
JP2594961B2 (en) Gas ion source device
KR900008155B1 (en) Thin film formation method and apparatus
JP2687468B2 (en) Thin film forming equipment
JP2617539B2 (en) Equipment for producing cubic boron nitride film
JPH01246756A (en) Ion source device
JPH0368764A (en) Plasma treating device for forming thin film
JP2769977B2 (en) Plasma processing method
JP2777657B2 (en) Plasma deposition equipment
JPH07100866B2 (en) Thin film forming equipment
JPH0377870B2 (en)
JP4408505B2 (en) Method and apparatus for forming diamond-like carbon film
JPS63107899A (en) Formation of thin film
JPS6311662A (en) Compound thin film forming equipment
JPH05255838A (en) Method for forming oxide thin film and device therefor