JPH0736351U - イオン注入装置 - Google Patents

イオン注入装置

Info

Publication number
JPH0736351U
JPH0736351U JP6663493U JP6663493U JPH0736351U JP H0736351 U JPH0736351 U JP H0736351U JP 6663493 U JP6663493 U JP 6663493U JP 6663493 U JP6663493 U JP 6663493U JP H0736351 U JPH0736351 U JP H0736351U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
accelerating
scanning
ion beam
offset
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6663493U
Other languages
English (en)
Inventor
和洋 妹尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nissin Electric Co Ltd filed Critical Nissin Electric Co Ltd
Priority to JP6663493U priority Critical patent/JPH0736351U/ja
Publication of JPH0736351U publication Critical patent/JPH0736351U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【構成】 加速電圧によりイオンビーム1を加速する加
速管3と、加速管3に対して設定加速電圧となるように
加速電圧を印加する加速電源6と、加速されたイオンビ
ーム1を走査しながらオフセット電圧により偏向させる
H電極11と、H電極11により走査されたイオンビー
ム1の走査領域を検出するメインファラデー16、セン
ターファラデー17、およびビーム測定器14と、走査
領域が所定位置となるようにオフセット電圧を調整し、
調整後のオフセット電圧と設定加速電圧に対応するオフ
セット電圧とを比較して加速電圧の異常の有無を検査す
る走査信号作成器13とを有している。 【効果】 調整後のオフセット電圧と設定加速電圧に対
応するオフセット電圧とを比較することによって、加速
電圧の異常の有無を高い信頼性でもって検査することが
できる。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、イオンビームの加速に用いられる加速電圧を検査可能なイオン注入 装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
イオン注入装置には、例えばイオンビームを加速する加速管と、イオンビーム を垂直方向に走査するV電極と、イオンビームを水平方向に走査するH電極とを 備え、加速管により加速されたイオンビームを垂直方向および水平方向に走査し てウエーハに照射することによって、このウエーハの全面にイオン注入を行う機 種がある。また、このイオン注入装置には、不要な不純物イオンのウエーハへの 注入を防止するため、イオンビームの直進軌道上から水平方向に外れた位置にウ エーハを存在させ、H電極によりイオンビームを走査しながらウエーハ方向に偏 向させるようになっているものがある。
【0003】 上記の加速管によるイオンビームの加速度は、高圧電源系から加速管に印加さ れる高電圧の加速電圧により決定されるものであり、この加速管により加速され た後のイオンビームの速度は、H電極によるイオンビームのウエーハ方向への偏 向角度に影響を与えている。従って、H電極には、オフセット電圧を含んだ走査 電圧が印加されるようになっており、オフセット電圧は、イオンビームの偏向角 度がウエーハ方向となるように加速電圧に応じて調整されるようになっている。
【0004】 このように、上記の加速電圧およびオフセット電圧は、イオン注入の精度に関 係するイオンビームの偏向角度を決定する電圧であるため、これらの電圧の異常 の有無が確実に検査される必要がある。従って、従来のイオン注入装置は、加速 電圧を高い信頼性でもって検査するため、加速電圧測定抵抗器および加速電圧表 示器を備えた高電圧測定装置の2台を高圧電源系に並列接続し、両高電圧測定装 置が同一の電圧値を表示しているか否かを確認するようになっている。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来のイオン注入装置では、例えば高圧電源系の放電によ り両高電圧測定装置が故障した場合、これらの高電圧測定装置が誤った電圧値を 同じ値で表示することがあるため、高い信頼性が十分に確保されたものになって いない。
【0006】 また、高電圧測定装置は、高耐電圧の加速電圧測定抵抗器が高価であると共に 、高圧電源系の放電の要因になっており、さらには、定期的に清掃作業を行う必 要もある。これにより、従来のイオン注入装置では、2台の高電圧測定装置によ って、コストおよび故障率が上昇したものになっていると共に、保全時の作業員 の負担が増大したものになっている。
【0007】 従って、本考案においては、高い信頼性でもって加速電圧を検査することがで きると共に、コストおよび故障率を低下させ、保全時の作業員の負担を軽減させ ることができるイオン注入装置を提供することを目的としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本考案のイオン注入装置は、上記課題を解決するために、加速電圧により加速 されたイオンビームを走査しながらオフセット電圧により偏向させた際に、上記 イオンビームの走査領域が加速電圧とオフセット電圧とにより決定されるもので あり、下記の特徴を有している。
【0009】 即ち、イオン注入装置は、加速電圧によりイオンビームを加速する加速手段と 、加速手段に対して設定加速電圧となるように加速電圧を印加する電圧印加手段 と、加速されたイオンビームを走査しながらオフセット電圧により偏向させる走 査偏向手段と、走査偏向手段により走査されたイオンビームの走査領域を検出す る走査領域検出手段と、走査領域が所定位置となるようにオフセット電圧を調整 し、調整後のオフセット電圧と設定加速電圧に対応するオフセット電圧とを比較 して加速電圧の異常の有無を検査する加速電圧検査手段とを有していることを特 徴としている。
【0010】
【作用】
上記の構成によれば、設定加速電圧とは異なる加速電圧により加速されたイオ ンビームの走査領域が所定位置となるように偏向させたオフセット電圧は、イオ ンビームの走査領域が加速電圧とオフセット電圧とにより決定されるものである ため、設定加速電圧に対応したオフセット電圧とは必ず異なったものになる。従 って、調整後のオフセット電圧と設定加速電圧に対応するオフセット電圧とを比 較することによって、加速電圧の異常の有無を高い信頼性でもって検査すること ができる。
【0011】 また、上記のイオン注入装置によれば、加速電圧の異常の有無の検査がオフセ ット電圧の調整や比較により行われるものであり、全てソフトウエア的に処理で きるものであるため、加速電圧を直接的に測定して検査する場合と比較して、コ スト、故障率、および保全時の作業員の負担を低減させることが可能になってい る。
【0012】
【実施例】
本考案の一実施例を図1ないし図6に基づいて説明すれば、以下の通りである 。
【0013】 本実施例に係るイオン注入装置は、図1に示すように、イオンビーム1を加速 する加速管3を有している。加速管3には、高圧電源系4(電圧印加手段)から 例えば200KVの高電圧である加速電圧が印加されるようになっており、高圧 電源系4は、例えば0〜200KVの範囲で任意の加速電圧を出力する加速電源 6(電圧印加手段)と、キャビネット7に配置された高電圧部5(電圧印加手段 )とを備えている。この高電圧部5には、加速電圧を検出して表示する高電圧測 定装置8が設けられており、高電圧測定装置8は、加速電圧測定抵抗器9および 加速電圧表示器10を備えている。
【0014】 上記の加速管3(加速手段)の上流側には、磁場を生成することによりイオン ビーム1を所望の不純物イオンに質量分析する図示しない質量分析器と、イオン ビーム1を生成して質量分析器方向に進行させる図示しないイオン源とがこの順 に設けられている。一方、加速管3の下流側には、イオンビーム1を垂直方向に 走査するV電極2が設けられている。V電極2は、水平方向に一致した電極面を 有する一対のV偏向板2a・2aからなっており、これらのV偏向板2a・2a は、イオンビーム1の直進軌道を挟んで対向するように設けられている。
【0015】 V電極2を通過したイオンビーム1の進行方向には、イオンビーム1を水平方 向に走査するH電極11(走査偏向手段)が設けられている。このH電極11は 、垂直方向に一致した電極面を有する一対のH偏向板11a・11aからなって いる。これらのH偏向板11a・11aは、イオンビーム1の軌道を挟んで対向 するように設けられており、イオンビーム1の出口側がウエーハ4方向に曲折さ れている。また、H偏向板11a・11aには、オフセット電圧とスキャン電圧 とからなる走査電圧を出力する第1および第2水平走査電源12a・12bがそ れぞれ接続されている。これらの第1および第2水平走査電源12a・12bに は、オフセット信号とスキャン信号とを加算した走査信号を出力する走査信号作 成器13(加速電圧検査手段)が接続されている。
【0016】 上記の走査信号作成器13には、上述の加速電源6とビーム測定器14(走査 領域検出手段)とが接続されており、加速電源6から加速電圧の測定値を示す加 速電圧信号が入力されるようになっていると共に、ビーム測定器14からビーム 電流の測定値を示すビーム電流信号が入力されるようになっている。上記のビー ム測定器14には、イオンビーム1のビーム電流を検出するメインファラデー1 6(走査領域検出手段)およびセンターファラデー17(走査領域検出手段)が 接続されており、これらのファラデー16・17は、ウエーハを保持するターゲ ット部15に配設されている。そして、センターファラデー17は、イオンビー ム1の進行方向においてウエーハを保持する位置と一致するようにメインファラ デー16の中心部に配置されている。
【0017】 また、上記の走査信号作成器13は、水平方向にのみ走査されたイオンビーム 1の走査領域の中心がセンターファラデー17の中心に一致するように、即ち、 後述のビーム電流信号を用いて作成した台形波が左右対象となるように、補正値 を変更することによりオフセット信号を調整するようになっている。さらに、走 査信号作成器13は、所定の設定加速電圧を加速管3に印加したときに、水平方 向に走査されたイオンビーム1の走査領域の中心をセンターファラデー17の中 心に一致させるオフセット電圧となる検査用補正値を有している。そして、オフ セット信号の調整が完了したときに、調整完了後の補正値と設定加速電圧に対応 する検査用補正値とが許容範囲内で一致しているか否かを判定することによって 、間接的にオフセット電圧を用いて加速電圧の異常の有無を検査するようになっ ている。
【0018】 尚、イオンビーム1の走査領域の中心とセンターファラデー17の中心とが一 致するときのオフセット信号は、加速電圧と1対1の関係にあり、加速管3に印 加された加速電圧を示す加速電圧値と、この加速電圧値に対応する補正値とを積 算することにより求めることが可能になっている。即ち、イオンビーム1の不純 物イオンの質量をm、速度をvとし、加速電圧をVA とすると、下記の関係式( 1)が成立することになる。
【0019】 m・v2 /2 = e・VA v = ( 2・e・VA /m )1/2 … (1) 次に、図2に示すように、H電極11によるイオンビーム1の走査距離yは、 下記の関係式(2)により求めることができる。
【0020】 電極長を示す区間lにおける走査距離yl は、等加速度運動であるため、 yl = a・tl 2 = (F/m)・tl 2 = (e・E/m)・tl 2 = (e2VH/2d/m)・tl 2 = (e・VH /m・d)・tl 2 = (e・VH /m・d)・(l/v)2 = (l2 ・e・VH /m・d) ・(l/( 2・e・VA /m )1/2 2 = (l2 /(VA ・d))・VH = K1 ・VH … (2) となる。
【0021】 一方、H電極11からターゲット位置までの区間Lにおける走査距離yL は、 等速運動であるため、 yL = vy ・tL = a・tl ・tL = (e・VH /m・d)・(l/v)・tL = (e・VH /m・d)・(l/v)・(L/v) = (L・l/(2・d・VA ))・VH = K2 ・VH … (3) となる。
【0022】 これにより、 y = yl +yL = K1 ・VH +K2 ・VH = K3 ・VH … (4) となる。従って、イオンビーム1に対して水平方向における中心を通過させる走 査電圧VH は、質量mとは無関係に加速電圧VA により決定されることになる。 これにより、走査電圧VH がスキャン信号とオフセット信号とを加算した走査信 号を増幅して形成されるものであることから、イオンビーム1の走査領域の中心 とセンターファラデー17の中心とが一致するときのオフセット信号と加速電圧 VA との関係は、1対1に対応することになる。従って、加速電圧VA を一定値 とした場合には、オフセット信号と加速電圧VA に対応する補正値とが1対1に 対応することになる。
【0023】 上記の構成において、イオン注入装置の動作について説明する。
【0024】 先ず、図1に示すように、イオン源および質量分析器への電力供給が開始され ることによって、イオン源から正電荷のイオンが引出電極により引き出され、質 量分析器で質量分析された特定の不純物イオンのみからなるイオンビーム1が生 成されることになる。また、加速管3には、イオン注入の仕様に対応した設定加 速電圧となるように加速電圧が印加されており、イオンビーム1は、この加速管 3を通過する際に加速電圧により加速されることになる。
【0025】 上記のイオンビーム1は、V電極2方向に進行することによりV電極2および H電極11を通過することになる。この際、走査信号作成器13は、V電極2へ の走査電圧の印加を停止させている一方、図4のオフセット信号と図5のスキャ ン信号とを加算して図6の走査信号を形成し、この走査信号を第1および第2水 平走査電源12a・12bにより増幅させることによって、オフセット電圧およ びスキャン電圧からなる走査電圧をH電極11に印加させている。従って、イオ ンビーム1は、V電極2を直進した後、H電極11に印加された走査電圧中のス キャン電圧により水平方向に走査されながら、走査電圧中のオフセット電圧によ りウエーハ方向となるセンターファラデー17方向に偏向されることになる。
【0026】 H電極11を通過したイオンビーム1は、ターゲット部15のメインファラデ ー16およびセンターファラデー17に到達することになり、ビーム電流がメイ ンファラデー16およびセンターファラデー17により検出されることになる。 そして、このビーム電流は、ビーム測定器14により電流値が測定され、ビーム 電流信号として走査信号作成器13に入力されることになる。
【0027】 走査信号作成器13に入力されたビーム電流信号は、図3に示すように、水平 方向の走査状態を示す台形波の作成に使用されることになり、走査信号作成器1 3は、台形波が左右対象(t1 =t2 )となるように、補正値を変更することに よりオフセット信号を調整することになる。そして、オフセット信号の調整が完 了すると、補正値が設定加速電圧に対応した検査用補正値と許容範囲内で一致し ているか否かが判定されることによって、加速電圧信号の異常の有無が検査され ることになる。
【0028】 尚、本実施例においては、イオンビーム1の走査領域が加速電圧とオフセット 電圧とにより決定されることに着目し、オフセット電圧に対応する補正値により オフセット電圧を把握することによって、加速電圧の異常の有無を検査するよう になっているが、これに限定されることはなく、オフセット信号によりオフセッ ト電圧を把握するようになっていても良い。さらには、H電極11に印加される オフセット電圧を測定し、このオフセット電圧により加速電圧の異常の有無を検 査するようになっていても良い。
【0029】 このように、本実施例のイオン注入装置は、加速電圧により加速されたイオン ビーム1を走査しながらオフセット電圧により偏向させた際に、上記イオンビー ム1の走査領域が加速電圧とオフセット電圧とにより決定されるものである。そ して、加速電圧によりイオンビーム1を加速する加速管3と、加速管3に対して 設定加速電圧となるように加速電圧を印加する加速電源6と、加速されたイオン ビーム1を走査しながらオフセット電圧により偏向させるH電極11と、H電極 11により走査されたイオンビーム1の走査領域を検出するメインファラデー1 6、センターファラデー17、およびビーム測定器14と、走査領域が所定位置 となるようにオフセット電圧を調整し、調整後のオフセット電圧と設定加速電圧 に対応するオフセット電圧とを比較して加速電圧の異常の有無を検査する走査信 号作成器13とを有している。
【0030】 これにより、設定加速電圧とは異なる加速電圧により加速されたイオンビーム 1の走査領域が所定位置となるように偏向させたオフセット電圧は、イオンビー ム1の走査領域が加速電圧とオフセット電圧とにより決定されるものであるため 、設定加速電圧に対応したオフセット電圧とは必ず異なったものになる。従って 、調整後のオフセット電圧と設定加速電圧に対応するオフセット電圧とを比較す ることによって、加速電圧の異常の有無を高い信頼性でもって検査することがで きる。
【0031】 また、上記のイオン注入装置によれば、オフセット電圧の調整や比較による加 速電圧の検査を全てソフトウエア的に処理できるため、従来のように高価な高耐 電圧の加速電圧測定抵抗器を備えた2台の高電圧測定装置により直接的に加速電 圧を測定して検査する場合よりも、コスト、故障率、および保全時の作業員の負 担を低減させることが可能になっている。
【0032】
【考案の効果】
本考案のイオン注入装置は、以上のように、加速電圧により加速されたイオン ビームを走査しながらオフセット電圧により偏向させた際に、上記イオンビーム の走査領域が加速電圧とオフセット電圧とにより決定されるものであり、加速電 圧によりイオンビームを加速する加速手段と、加速手段に対して設定加速電圧と なるように加速電圧を印加する電圧印加手段と、加速されたイオンビームを走査 しながらオフセット電圧により偏向させる走査偏向手段と、走査偏向手段により 走査されたイオンビームの走査領域を検出する走査領域検出手段と、走査領域が 所定位置となるようにオフセット電圧を調整し、調整後のオフセット電圧と設定 加速電圧に対応するオフセット電圧とを比較して加速電圧の異常の有無を検査す る加速電圧検査手段とを有している構成である。
【0033】 これにより、イオンビームの走査領域が加速電圧とオフセット電圧とにより決 定されるものであるため、設定加速電圧とは異なる加速電圧により加速されたイ オンビームの走査領域が所定位置となるように偏向させたオフセット電圧と、設 定加速電圧に対応したオフセット電圧とが必ず異なったものになることから、調 整後のオフセット電圧と設定加速電圧に対応するオフセット電圧とを比較するこ とによって、加速電圧の異常の有無を高い信頼性でもって検査することができる 。
【0034】 また、オフセット電圧の調整や比較による加速電圧の異常の有無の検査を全て ソフトウエア的に処理できるため、加速電圧を直接的に測定して検査する場合と 比較して、コスト、故障率、および保全時の作業員の負担を低減させることがで きるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案のイオン注入装置において、イオンビー
ムがオフセット電圧により偏向されている状態を示す説
明図である。
【図2】H電極とイオンビームの走査距離との関係を示
す説明図である。
【図3】台形波を示す説明図である。
【図4】オフセット信号の電圧と時間との関係を示すグ
ラフである。
【図5】スキャン信号の電圧と時間との関係を示すグラ
フである。
【図6】走査信号の電圧と時間との関係を示すグラフで
ある。
【符号の説明】
1 イオンビーム 2 V電極 3 加速管(加速手段) 4 高圧電源系(電圧印加手段) 5 高電圧部(電圧印加手段) 6 加速電源(電圧印加手段) 7 キャビネット 8 高電圧測定装置 9 加速電圧測定抵抗器 10 加速電圧表示器 11 H電極(走査偏向手段) 13 走査信号作成器(加速電圧検査手段) 14 ビーム測定器 15 ターゲット部 16 メインファラデー(走査領域検出手段) 17 センターファラデー(走査領域検出手段)

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】加速電圧により加速されたイオンビームを
    走査しながらオフセット電圧により偏向させた際に、上
    記イオンビームの走査領域が加速電圧とオフセット電圧
    とにより決定されるイオン注入装置であって、 上記加速電圧によりイオンビームを加速する加速手段
    と、 上記加速手段に対して設定加速電圧となるように加速電
    圧を印加する電圧印加手段と、 加速されたイオンビームを走査しながらオフセット電圧
    により偏向させる走査偏向手段と、 上記走査偏向手段により走査されたイオンビームの走査
    領域を検出する走査領域検出手段と、 上記走査領域が所定位置となるようにオフセット電圧を
    調整し、調整後のオフセット電圧と設定加速電圧に対応
    するオフセット電圧とを比較して加速電圧の異常の有無
    を検査する加速電圧検査手段とを有していることを特徴
    とするイオン注入装置。
JP6663493U 1993-12-14 1993-12-14 イオン注入装置 Pending JPH0736351U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6663493U JPH0736351U (ja) 1993-12-14 1993-12-14 イオン注入装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6663493U JPH0736351U (ja) 1993-12-14 1993-12-14 イオン注入装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0736351U true JPH0736351U (ja) 1995-07-04

Family

ID=13321529

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6663493U Pending JPH0736351U (ja) 1993-12-14 1993-12-14 イオン注入装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0736351U (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2969788B2 (ja) イオンビームの平行度測定方法、走査波形整形方法およびイオン注入装置
JP3724949B2 (ja) 基板検査装置およびこれを備えた基板検査システム並びに基板検査方法
CN105005070B (zh) 一种加速器分析磁铁后疑似离子束的甄别方法及其装置
CN108505009A (zh) 离子注入装置
TW202107509A (zh) 掃描電子顯微鏡及圖案計測方法
US6452174B1 (en) Charged particle beam apparatus and method of controlling same
JPH08115701A (ja) イオン注入装置における注入条件異常検出方法
JPS6386340A (ja) 一次粒子線照射装置
JPH0736351U (ja) イオン注入装置
JP2873839B2 (ja) 集束イオンビーム装置におけるアパーチャー検査方法
JP3257206B2 (ja) イオン注入装置
JP3257205B2 (ja) イオン注入装置
JPH02309226A (ja) ガス洩れ検査装置
JP2591415Y2 (ja) ビーム電流測定装置
JPH04282547A (ja) イオン注入装置
JPH01239949A (ja) 電子ビームプローブ装置
US20150014523A1 (en) Method for determining the maximum mass peak in mass spectrometry
JPH0674742A (ja) 電子ビーム寸法測定装置
JPS61220259A (ja) 電子ビ−ム装置
JPH01163953A (ja) イオン注入装置の異常検出器
JPH07312197A (ja) 誤差電流検出装置
JPH0384843A (ja) イオン注入装置
JPS62249041A (ja) 表面解析装置
JPS6219706A (ja) 寸法測定装置
JPH04268743A (ja) 電子ビーム装置