JPH0740020B2 - セラミツクス接合部の強度判定方法 - Google Patents
セラミツクス接合部の強度判定方法Info
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- JPH0740020B2 JPH0740020B2 JP2071853A JP7185390A JPH0740020B2 JP H0740020 B2 JPH0740020 B2 JP H0740020B2 JP 2071853 A JP2071853 A JP 2071853A JP 7185390 A JP7185390 A JP 7185390A JP H0740020 B2 JPH0740020 B2 JP H0740020B2
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
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- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、セラミツクスと他の材料とが接合された接合
体において、接合部分のセラミツクスの強度を判定する
セラミツクス接合部の強度判定方法に関する。
体において、接合部分のセラミツクスの強度を判定する
セラミツクス接合部の強度判定方法に関する。
［従来の技術］ セラミツクスは、硬度、耐摩耗性、耐食性などの点で極
めて優れた材料等を有し、今後、主要機器材料として多
くの分野で使用されることが予想される。これらの分野
のうちには、セラミツクスを単体として用いる分野もあ
るが、単体ではなく他の部材と接合して使用する分野も
多く、特に、機械構造部品の分野においては、ほとんど
が金属との接合体として用いられることになる。
めて優れた材料等を有し、今後、主要機器材料として多
くの分野で使用されることが予想される。これらの分野
のうちには、セラミツクスを単体として用いる分野もあ
るが、単体ではなく他の部材と接合して使用する分野も
多く、特に、機械構造部品の分野においては、ほとんど
が金属との接合体として用いられることになる。
ところで、セラミツクスと金属とは、熱膨張係数や弾性
率が異なるので、両者を接合したとき、セラミツクスに
残留応力が生じ、この残留応力により接合体の強度が左
右される。したがつて、良好な接合体を作るためには、
残留応力の小さな接合を行なわねばならず、このため、
種々の接合方法が試みられている。第５図はその１例を
示すセラミツクス接合体の側面図である。図で、１はセ
ラミツクス、２はセラミツクス１と接合されるコバール
（Kovar）、３はニツケル中間材である。このように、
中間材３を用いてセラミツクス１とコバール２とを接合
すると、接合部におけるセラミツクス１の強度が直接接
合に比較して増大し、又、その強度はニツケル３の厚さ
により変化することが発表されている。
率が異なるので、両者を接合したとき、セラミツクスに
残留応力が生じ、この残留応力により接合体の強度が左
右される。したがつて、良好な接合体を作るためには、
残留応力の小さな接合を行なわねばならず、このため、
種々の接合方法が試みられている。第５図はその１例を
示すセラミツクス接合体の側面図である。図で、１はセ
ラミツクス、２はセラミツクス１と接合されるコバール
（Kovar）、３はニツケル中間材である。このように、
中間材３を用いてセラミツクス１とコバール２とを接合
すると、接合部におけるセラミツクス１の強度が直接接
合に比較して増大し、又、その強度はニツケル３の厚さ
により変化することが発表されている。
上記セラミツクスと他部材との接合方法については、残
留応力の測定によりその良否が判断されることになる
が、測定方法として、有限要素法を用いて計算する方法
や、周知のＸ線回折法、IF（インデンテーシヨン・フラ
クチユアー）法、レーザスペツクル法等が用いられてい
る。
留応力の測定によりその良否が判断されることになる
が、測定方法として、有限要素法を用いて計算する方法
や、周知のＸ線回折法、IF（インデンテーシヨン・フラ
クチユアー）法、レーザスペツクル法等が用いられてい
る。
［発明が解決しようとする課題］ ところで、上記有限要素法を用いたセラミツクスの残留
応力の計算は複雑、かつ、膨大であり、現実の製品のば
らつき等の検査に利用することができない。又、Ｘ線回
折法、IF法、レーザスペツクル法には次のような問題点
がある。これを以下に述べる。
応力の計算は複雑、かつ、膨大であり、現実の製品のば
らつき等の検査に利用することができない。又、Ｘ線回
折法、IF法、レーザスペツクル法には次のような問題点
がある。これを以下に述べる。
セラミツクスと他の部材との接合部分で発生する残留応
力は、セラミツクスが焼結物質であるため、セラミツク
ス以外の部材どうしの接合において発生する残留応力に
比較して応力分布が複雑であり、かつ、残留応力が接合
部外面に集中する度合いが大きいので、残留応力の変化
が急激である。このようなセラミツクスに生じる応力分
布の一例を図により説明する。
力は、セラミツクスが焼結物質であるため、セラミツク
ス以外の部材どうしの接合において発生する残留応力に
比較して応力分布が複雑であり、かつ、残留応力が接合
部外面に集中する度合いが大きいので、残留応力の変化
が急激である。このようなセラミツクスに生じる応力分
布の一例を図により説明する。
第６図はニツケル中間材を用いたセラミツクスと金属の
接合体の応力分布図である。この図で、セラミツクスは
Si3N4、金属は（W/Ni）/Fe−30Crが用いられている。図
で、横軸にはセラミツクス側における接合面からの距離
（mm）、縦軸には応力（MPa）がとつてある。又、A,B,C
はそれぞれニツケル中間材の厚さが2.0mm,1.25mm,0.5mm
の接合体を示す。図から、次のことが判る。接合体Ｃで
は、セラミツクス全体に引張応力が存在し、特に、セラ
ミツクスと金属の界面付近では600MPaになつている。一
方、接合体Ａでは、セラミツクス・金属界面では引張応
力となつているが、界面より離れるにつれてこの引張応
力が減少し、一旦、圧縮応力になつた後、再び引張応力
となり、極大値を取つた後徐々に低下する。一方、接合
体Ｂでは、応力の分布形態は接合体Ａのそれに類似して
いるが、応力値は200MPa以下の値となつている。
接合体の応力分布図である。この図で、セラミツクスは
Si3N4、金属は（W/Ni）/Fe−30Crが用いられている。図
で、横軸にはセラミツクス側における接合面からの距離
（mm）、縦軸には応力（MPa）がとつてある。又、A,B,C
はそれぞれニツケル中間材の厚さが2.0mm,1.25mm,0.5mm
の接合体を示す。図から、次のことが判る。接合体Ｃで
は、セラミツクス全体に引張応力が存在し、特に、セラ
ミツクスと金属の界面付近では600MPaになつている。一
方、接合体Ａでは、セラミツクス・金属界面では引張応
力となつているが、界面より離れるにつれてこの引張応
力が減少し、一旦、圧縮応力になつた後、再び引張応力
となり、極大値を取つた後徐々に低下する。一方、接合
体Ｂでは、応力の分布形態は接合体Ａのそれに類似して
いるが、応力値は200MPa以下の値となつている。
上記応力分布図に示されるように、接合体Ｃは距離に対
する応力の変化が比較的なだらかであるが、接合体A,B
は応力の変化が複雑かつ急激である。このため、正確な
応力分布を得るためには、μｍオーダの微小領域の応力
測定が不可欠となるのは明らかである。
する応力の変化が比較的なだらかであるが、接合体A,B
は応力の変化が複雑かつ急激である。このため、正確な
応力分布を得るためには、μｍオーダの微小領域の応力
測定が不可欠となるのは明らかである。
ここで、従来の測定方法であるＸ線回折法、TF法、レー
ザスペツクル法によると、これら測定方法では、上記の
ような微小領域の測定は不可能であり、この結果、それ
ら方法による測定は相当広い領域の測定となり、測定結
果はそのような広い領域における残留応力の平均の値と
なる。したがつて、正確な応力分布図を得ることは到底
望み得ない。しかも、セラミツクスの破損は残留応力の
最大の個所から一挙に生じるものであり、上記のような
平均の値では残留応力の最大値を見逃すこととなり、前
述の機械構造部品等の製品の良否の判断等、実用に際し
て極めて不都合であるという問題がある。
ザスペツクル法によると、これら測定方法では、上記の
ような微小領域の測定は不可能であり、この結果、それ
ら方法による測定は相当広い領域の測定となり、測定結
果はそのような広い領域における残留応力の平均の値と
なる。したがつて、正確な応力分布図を得ることは到底
望み得ない。しかも、セラミツクスの破損は残留応力の
最大の個所から一挙に生じるものであり、上記のような
平均の値では残留応力の最大値を見逃すこととなり、前
述の機械構造部品等の製品の良否の判断等、実用に際し
て極めて不都合であるという問題がある。
本発明の目的は、上記従来技術における課題を解決し、
接合部の強度の良否を容易、正確、かつ、迅速に判断す
ることができるセラミックス接合部の強度判定方法を提
供することにある。
接合部の強度の良否を容易、正確、かつ、迅速に判断す
ることができるセラミックス接合部の強度判定方法を提
供することにある。
［課題を解決するための手段］ 上記の目的を達成するため、本発明は、まず、セラミツ
クスと他の材料とで接合体を構成した場合にセラミツク
スに生じる残留応力は接合部外面に集中するという現
象、およびある物質において圧縮又は引張応力の存在下
ではそれら応力が存在しない場合と比較して物質内の音
速が変化するという現象に着目し、これら２つの現象を
重ね合わせることによりセラミツクス接合部の強度判定
を行なうものである。即ち、本発明は、セラミツクスの
接合部外面に超音波を作用させてその音速を検出して強
度判定を行なうものである。そして、接合部外面へ超音
波を作用させる手段として、本発明は、物体表層の傷の
有無等を検査する超音波顕微鏡の技術を利用するもので
ある。即ち、超音波顕微鏡は、物体表層に集束超音波ビ
ームを放射した場合、その反射波は物体からの反射波
と、当該集束超音波ビームのうち臨界角で入射する超音
波ビームにより物体表層に生起する弾性表面波の放射波
との干渉波であり、この干渉波の強度は、集束超音波ビ
ームの音源と物体との相対的位置の変化に応じてその物
体に固有の周期をもつて変化し、さらに、当該周期は前
記表面波の速度と一定関係にあるという事象を利用する
技術を利用するものであり、本発明は、このような超音
波顕微鏡を用いて前記弾性表面波をセラミツクス接合部
近傍に発生させ、この弾性表面波の音速を前記周期とし
て捉えるものである。
クスと他の材料とで接合体を構成した場合にセラミツク
スに生じる残留応力は接合部外面に集中するという現
象、およびある物質において圧縮又は引張応力の存在下
ではそれら応力が存在しない場合と比較して物質内の音
速が変化するという現象に着目し、これら２つの現象を
重ね合わせることによりセラミツクス接合部の強度判定
を行なうものである。即ち、本発明は、セラミツクスの
接合部外面に超音波を作用させてその音速を検出して強
度判定を行なうものである。そして、接合部外面へ超音
波を作用させる手段として、本発明は、物体表層の傷の
有無等を検査する超音波顕微鏡の技術を利用するもので
ある。即ち、超音波顕微鏡は、物体表層に集束超音波ビ
ームを放射した場合、その反射波は物体からの反射波
と、当該集束超音波ビームのうち臨界角で入射する超音
波ビームにより物体表層に生起する弾性表面波の放射波
との干渉波であり、この干渉波の強度は、集束超音波ビ
ームの音源と物体との相対的位置の変化に応じてその物
体に固有の周期をもつて変化し、さらに、当該周期は前
記表面波の速度と一定関係にあるという事象を利用する
技術を利用するものであり、本発明は、このような超音
波顕微鏡を用いて前記弾性表面波をセラミツクス接合部
近傍に発生させ、この弾性表面波の音速を前記周期とし
て捉えるものである。
このため、本発明は、試料に対して集束超音波ビームを
放射するとともに、前記試料との相対的距離を変化さ
せ、当該集束超音波ビームの反射波と当該集束超音波ビ
ームにより試料表面に生じる弾性表面波の放射波との干
渉波の前記相対的距離の変化毎の強度のデータを受信し
てそれらのデータを出力する超音波顕微鏡を用い、セラ
ミツクスの他の材料との接合体の接合部から充分に離れ
ていて接合による残留応力がないと判断される前記セラ
ミツクス上の設定点に対して前記集束超音波ビームを放
射し、前記干渉波の前記相対的距離の変化毎の強度デー
タを採取し、これらデータにより得られる当該干渉波の
周期に基づいて前記設定点における弾性表面波の音速を
減算してこの音速を設定値とし、次いで、前記セラミツ
クス上の接合部近辺の点に前記集束超音波ビームを放射
して前記設定点での手段と同じ手段で当該点の弾性表面
波の音速を減算し、この音速と前記設定値との比が許容
値の範囲内にあるか否かを判断することを特徴とする。
放射するとともに、前記試料との相対的距離を変化さ
せ、当該集束超音波ビームの反射波と当該集束超音波ビ
ームにより試料表面に生じる弾性表面波の放射波との干
渉波の前記相対的距離の変化毎の強度のデータを受信し
てそれらのデータを出力する超音波顕微鏡を用い、セラ
ミツクスの他の材料との接合体の接合部から充分に離れ
ていて接合による残留応力がないと判断される前記セラ
ミツクス上の設定点に対して前記集束超音波ビームを放
射し、前記干渉波の前記相対的距離の変化毎の強度デー
タを採取し、これらデータにより得られる当該干渉波の
周期に基づいて前記設定点における弾性表面波の音速を
減算してこの音速を設定値とし、次いで、前記セラミツ
クス上の接合部近辺の点に前記集束超音波ビームを放射
して前記設定点での手段と同じ手段で当該点の弾性表面
波の音速を減算し、この音速と前記設定値との比が許容
値の範囲内にあるか否かを判断することを特徴とする。
本発明では、超音波顕微鏡と接合体との相対的距離を変
化させながら超音波顕微鏡から集束超音波ビームを放射
すると、この集束超音波ビームのセラミツクスからの反
射波と、臨界角で入射した超音波ビームによりセラミツ
クス表面に生じる弾性表面波からの放射波との干渉波が
発生する。この干渉波は前記相対的距離の変化に応じて
固有の周期をもつて変化する。このような干渉波は超音
波顕微鏡で受信され、そのデータが出力される。この出
力されたデータから、当該干渉波の周期を測定する。こ
の周期は、上記弾性表面波の伝播速度と所定の関係を有
し、又、当該伝播速度は応力と所定の関係にある。そこ
で、接合体のセラミックス部分において、接合による残
留応力が存在しない点における上記周期を測定して伝播
速度を求め、この伝播速度と、接合部近傍の任意の点に
おいて同様に求めた伝播速度との比を演算し、この比が
定められた許容範囲にあるか否かを判断して、接合体の
良否を判定する。
化させながら超音波顕微鏡から集束超音波ビームを放射
すると、この集束超音波ビームのセラミツクスからの反
射波と、臨界角で入射した超音波ビームによりセラミツ
クス表面に生じる弾性表面波からの放射波との干渉波が
発生する。この干渉波は前記相対的距離の変化に応じて
固有の周期をもつて変化する。このような干渉波は超音
波顕微鏡で受信され、そのデータが出力される。この出
力されたデータから、当該干渉波の周期を測定する。こ
の周期は、上記弾性表面波の伝播速度と所定の関係を有
し、又、当該伝播速度は応力と所定の関係にある。そこ
で、接合体のセラミックス部分において、接合による残
留応力が存在しない点における上記周期を測定して伝播
速度を求め、この伝播速度と、接合部近傍の任意の点に
おいて同様に求めた伝播速度との比を演算し、この比が
定められた許容範囲にあるか否かを判断して、接合体の
良否を判定する。
［実施例］ 以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明する。
第１図は本発明の実施例に係るセラミツクス接合部の強
度判定方法を説明する概略図である。図で判定対象とな
る接合体は、第５図に示す接合体と同じであり、各部に
は同一符号が付してある。５は圧電薄膜5aおよび音響レ
ンズ5bより成るプローブ、６は圧電薄膜5aを励振するパ
ルスを出力するパルス送信器、７は圧電薄膜5aからの信
号を受信する受信器、８は受信器７で受信された信号を
処理するデータ処理装置である。プローブ５、パルス送
信器６、受信器７、およびデータ処理装置８により超音
波顕微鏡が構成される。Ｂは音響レンズ5bで集束される
超音波ビームである。ここで、音響レンズ5bは超音波ビ
ームＢに、臨界角で放射される超音波ビームが含まれる
ように形成されている。Ｐはセラミツクス１の表面上の
測定点を示す。X,Y,Zは座標軸であり、Ｙ軸は紙面に垂
直な方向である。なお、プローブ５と接合体は、それら
両者又は一方が図示しない駆動機構によりＺ軸方向に駆
動される構成となつている。さらに、これら両者間には
適宜の媒質、例えば水が介在せしめられる。
度判定方法を説明する概略図である。図で判定対象とな
る接合体は、第５図に示す接合体と同じであり、各部に
は同一符号が付してある。５は圧電薄膜5aおよび音響レ
ンズ5bより成るプローブ、６は圧電薄膜5aを励振するパ
ルスを出力するパルス送信器、７は圧電薄膜5aからの信
号を受信する受信器、８は受信器７で受信された信号を
処理するデータ処理装置である。プローブ５、パルス送
信器６、受信器７、およびデータ処理装置８により超音
波顕微鏡が構成される。Ｂは音響レンズ5bで集束される
超音波ビームである。ここで、音響レンズ5bは超音波ビ
ームＢに、臨界角で放射される超音波ビームが含まれる
ように形成されている。Ｐはセラミツクス１の表面上の
測定点を示す。X,Y,Zは座標軸であり、Ｙ軸は紙面に垂
直な方向である。なお、プローブ５と接合体は、それら
両者又は一方が図示しない駆動機構によりＺ軸方向に駆
動される構成となつている。さらに、これら両者間には
適宜の媒質、例えば水が介在せしめられる。
本実施例では、上記超音波顕微鏡を用いてセラミックス
接合部の強度判定を行う。そこで、本実施例の強度判定
方法を説明する前に、その理解を容易にするため、上記
超音波顕微鏡を用いた残留応力の測定について説明す
る。まず、接合体におけるセラミツクス１の表面上で、
接合部から所定間隔にある点Ｐを選定する。なお、図で
点Ｐの大きさは誇張して描かれている。次いで、選定さ
れた点Ｐに対して集束超音波ビームＢを放射する。即
ち、圧電薄膜5aにパルス送信器６からのパルスを印加す
ると圧電薄膜5aに励振を生じて超音波が発生する。この
超音波は音響レンズ5bで集束されて集束超音波ビームＢ
となり点Ｐに放射される。この集束超音波ビームＢはセ
ラミツクス１の反射波となつて放射時の経路をたどり圧
電薄膜5aに戻るが、同時に、集束超音波ビームＢのうち
臨界角で入射する超音波ビームにより、セラミツクス１
の点Ｐの表面にはこの表面に沿つて進行する弾性表面波
が生じ、この弾性表面波によつて生じた点Ｐの表面から
放射する超音波の一部もセラミツクス１からの反射波と
同様に圧電薄膜5aに戻る。したがつて、圧電薄膜5aに戻
る超音波は、前記反射波の振動波形と前記弾性表面波の
放射波の振動波形とが重畳される干渉波となる。この干
渉波の音圧により圧電薄膜5aは当該音圧の大きさに比例
した電気信号（反射信号）を出力し、この反射信号は受
信器７を経てデータ処理装置８により処理される。
接合部の強度判定を行う。そこで、本実施例の強度判定
方法を説明する前に、その理解を容易にするため、上記
超音波顕微鏡を用いた残留応力の測定について説明す
る。まず、接合体におけるセラミツクス１の表面上で、
接合部から所定間隔にある点Ｐを選定する。なお、図で
点Ｐの大きさは誇張して描かれている。次いで、選定さ
れた点Ｐに対して集束超音波ビームＢを放射する。即
ち、圧電薄膜5aにパルス送信器６からのパルスを印加す
ると圧電薄膜5aに励振を生じて超音波が発生する。この
超音波は音響レンズ5bで集束されて集束超音波ビームＢ
となり点Ｐに放射される。この集束超音波ビームＢはセ
ラミツクス１の反射波となつて放射時の経路をたどり圧
電薄膜5aに戻るが、同時に、集束超音波ビームＢのうち
臨界角で入射する超音波ビームにより、セラミツクス１
の点Ｐの表面にはこの表面に沿つて進行する弾性表面波
が生じ、この弾性表面波によつて生じた点Ｐの表面から
放射する超音波の一部もセラミツクス１からの反射波と
同様に圧電薄膜5aに戻る。したがつて、圧電薄膜5aに戻
る超音波は、前記反射波の振動波形と前記弾性表面波の
放射波の振動波形とが重畳される干渉波となる。この干
渉波の音圧により圧電薄膜5aは当該音圧の大きさに比例
した電気信号（反射信号）を出力し、この反射信号は受
信器７を経てデータ処理装置８により処理される。
ここで、プローブ５を、集束超音波ビームＢの焦点が点
Ｐと一致するように調節した後セラミツクス１に対して
Ｚ軸方向に沿つて近付けながら上記動作を実施すると、
圧電薄膜5aから出力される反射信号は第２図に示す波形
となる。第２図で、横軸にはプローブ５とセラミツクス
１間のＺ軸方向の距離が、又、縦軸には反射波信号レベ
ルがとつてある。横軸上における数字０は集束超音波ビ
ームＢの焦点がセラミツクス表面に一致したときのプロ
ーブ５の位置を示す。
Ｐと一致するように調節した後セラミツクス１に対して
Ｚ軸方向に沿つて近付けながら上記動作を実施すると、
圧電薄膜5aから出力される反射信号は第２図に示す波形
となる。第２図で、横軸にはプローブ５とセラミツクス
１間のＺ軸方向の距離が、又、縦軸には反射波信号レベ
ルがとつてある。横軸上における数字０は集束超音波ビ
ームＢの焦点がセラミツクス表面に一致したときのプロ
ーブ５の位置を示す。
今、プローブ５の位置を前記０位置からＺ軸方向に沿つ
てセラミツクス１に近付けると、臨界角で入射する超音
波ビームのセラミツクス１の面上における入射点と、そ
の超音波ビームの入射により生じる弾性表面波の放射波
の放射点（前記入射点に対し集束超音波ビーム中心に関
して対称位置にある）との間の距離は大きくなる。即
ち、弾性表面波の走行距離が長くなる。これにより前記
放射点から放射される超音波ビームが圧電薄膜5aに到達
する時間も長くなり、他の反射波との干渉の度合に変化
が生じる。即ち、弾性表面波の放射波の振動波形とセラ
ミツクスからの反射波の振動波形との重畳の態様が変化
する。そして、プローブ５をセラミツクス１の表面に近
付けてゆくにしたがい、それら２つの波の振動波形の最
大値と最小値の重なりが変化してゆき、干渉波は図示の
ように一定の周期ΔＺをもつ波形となる。このようにし
て得られた波形はＶ（Ｚ）曲線と称される。このＶ
（Ｚ）曲線はデータ処理装置８における図示されていな
い表示部に表示される。
てセラミツクス１に近付けると、臨界角で入射する超音
波ビームのセラミツクス１の面上における入射点と、そ
の超音波ビームの入射により生じる弾性表面波の放射波
の放射点（前記入射点に対し集束超音波ビーム中心に関
して対称位置にある）との間の距離は大きくなる。即
ち、弾性表面波の走行距離が長くなる。これにより前記
放射点から放射される超音波ビームが圧電薄膜5aに到達
する時間も長くなり、他の反射波との干渉の度合に変化
が生じる。即ち、弾性表面波の放射波の振動波形とセラ
ミツクスからの反射波の振動波形との重畳の態様が変化
する。そして、プローブ５をセラミツクス１の表面に近
付けてゆくにしたがい、それら２つの波の振動波形の最
大値と最小値の重なりが変化してゆき、干渉波は図示の
ように一定の周期ΔＺをもつ波形となる。このようにし
て得られた波形はＶ（Ｚ）曲線と称される。このＶ
（Ｚ）曲線はデータ処理装置８における図示されていな
い表示部に表示される。
ところで、上記Ｖ（Ｚ）曲線における周期ΔＺは、集束
超音波ビームの放射を受ける物体の表層の状態により異
なる。今、当該周期をΔＺ、弾性表面波の物体表層の伝
播速度をVRとすると、両者の間には次式の関係が成立す
る。
超音波ビームの放射を受ける物体の表層の状態により異
なる。今、当該周期をΔＺ、弾性表面波の物体表層の伝
播速度をVRとすると、両者の間には次式の関係が成立す
る。
VR＝VW（ΔZ/λＷ）1/2 ……（１） ただし、VWはプローブ５とセラミツクス１との間に介在
する媒質（水）の音速、λＷは当該媒質内の音波の波長
である。上記（１）式において、音速VWおよび波長λＷ
は既知であるから、周期ΔＺが判れば音速VRも判る。
する媒質（水）の音速、λＷは当該媒質内の音波の波長
である。上記（１）式において、音速VWおよび波長λＷ
は既知であるから、周期ΔＺが判れば音速VRも判る。
そこで、第１図に示すセラミツクス１の点Ｐについて得
られたＶ（Ｚ）曲線をデータ処理装置８の表示部に表示
して周囲ΔＺを実施すれば、点Ｐにおける弾性表面波の
音速を得ることができる。そして、前述のように、音速
と応力との間には一定の関係があるので、結局、周期Δ
Ｚを検出することにより点Ｐの残留応力を上記（１）式
の演算により得ることができる。
られたＶ（Ｚ）曲線をデータ処理装置８の表示部に表示
して周囲ΔＺを実施すれば、点Ｐにおける弾性表面波の
音速を得ることができる。そして、前述のように、音速
と応力との間には一定の関係があるので、結局、周期Δ
Ｚを検出することにより点Ｐの残留応力を上記（１）式
の演算により得ることができる。
上記の周期ΔＺを正確に検出するために周期ΔＺより遥
かに小さな微小周期の参照波形を利用する等、種々の手
段が提案されている。その一例として、微小周期の参照
波を干渉させて得られたＶ（Ｚ）曲線（参照波との干渉
波形となつている）を第３図に示す。なお、このような
参照波は、圧電薄膜5aからの超音波ビームが、音響レン
ズ1bのレンズ面で反射した反射波が使用され、この反射
波が、試料からの反射波および弾性表面波の放射波に重
畳されて第３図に示す干渉波形となる。第３図で、横軸
および縦軸にはそれぞれ第２図と同じくＺ軸方向の距離
および反射信号レベルがとつてある。このような干渉波
形を得ることにより周期ΔＺを高精度で検出することが
できる。実際には、弾性表面波の音速の応力による変化
分は極めて微少であり、この弾性表面波の音速を直接測
定できたとしてもその変化部分の測定はほとんど不可能
であるが、上記のように周期ΔＺを正確に検出すること
により表面波の音速の変化分も正確に検出することがで
き、結局、点Ｐの残留応力を高い分解能をもつて測定す
ることができる。
かに小さな微小周期の参照波形を利用する等、種々の手
段が提案されている。その一例として、微小周期の参照
波を干渉させて得られたＶ（Ｚ）曲線（参照波との干渉
波形となつている）を第３図に示す。なお、このような
参照波は、圧電薄膜5aからの超音波ビームが、音響レン
ズ1bのレンズ面で反射した反射波が使用され、この反射
波が、試料からの反射波および弾性表面波の放射波に重
畳されて第３図に示す干渉波形となる。第３図で、横軸
および縦軸にはそれぞれ第２図と同じくＺ軸方向の距離
および反射信号レベルがとつてある。このような干渉波
形を得ることにより周期ΔＺを高精度で検出することが
できる。実際には、弾性表面波の音速の応力による変化
分は極めて微少であり、この弾性表面波の音速を直接測
定できたとしてもその変化部分の測定はほとんど不可能
であるが、上記のように周期ΔＺを正確に検出すること
により表面波の音速の変化分も正確に検出することがで
き、結局、点Ｐの残留応力を高い分解能をもつて測定す
ることができる。
次に、本実施例の強度判定方法について説明する。上述
の方法は、点Ｐの残留応力を求める方法であるが、点Ｐ
の強度を判定するには、必ずしも残留応力を求める必要
はない。本実施例では、残留応力を求めずにセラミック
ス接合部の強度を判定する。即ち、本実施例では、ま
ず、接合体のセラミツクス部分において、接合による残
留応力が全く存在しないと確信できる点、即ち接合部か
ら充分に離れた点の周期ΔＺを測定し、その音速を演算
してこれを設定値V0とする。そして、この設定値V0と、
他の点で測定された周期ΔＺに基づく音速の演算値との
比の許容値を、この接合体の使用態様等を勘案して定め
ておく。次いで、接合部近辺の所定点における周期ΔＺ
を測定してその音速を演算し、さらにこの音速と設定値
V0との比を演算する。この比により、当該所定点の相対
的強度を判断することができる。次いで、当該比の値が
前記許容値の範囲内にあるか否かを判断し、範囲内であ
ればさらに他の所定点について同様の処理を行ない、
又、範囲外であればこの接合体は使用不可と判断する。
これにより、この接合体の相対的強度判定と同時に、そ
の使用可否の判定も行なうことができる。
の方法は、点Ｐの残留応力を求める方法であるが、点Ｐ
の強度を判定するには、必ずしも残留応力を求める必要
はない。本実施例では、残留応力を求めずにセラミック
ス接合部の強度を判定する。即ち、本実施例では、ま
ず、接合体のセラミツクス部分において、接合による残
留応力が全く存在しないと確信できる点、即ち接合部か
ら充分に離れた点の周期ΔＺを測定し、その音速を演算
してこれを設定値V0とする。そして、この設定値V0と、
他の点で測定された周期ΔＺに基づく音速の演算値との
比の許容値を、この接合体の使用態様等を勘案して定め
ておく。次いで、接合部近辺の所定点における周期ΔＺ
を測定してその音速を演算し、さらにこの音速と設定値
V0との比を演算する。この比により、当該所定点の相対
的強度を判断することができる。次いで、当該比の値が
前記許容値の範囲内にあるか否かを判断し、範囲内であ
ればさらに他の所定点について同様の処理を行ない、
又、範囲外であればこの接合体は使用不可と判断する。
これにより、この接合体の相対的強度判定と同時に、そ
の使用可否の判定も行なうことができる。
第４図は、前述の残留応力測定方法において得られる干
渉波周期に基づいて上記（１）式にしたがつて演算した
伝播速度の分布図である。横軸には接合部からの距離
が、又、縦軸には伝播速度がとつてある。図で、実線で
示す波形Ａはコバールとセラミツクスとを直接接合した
接合体の波形、破線で示す波形Ｂはコバールとセラミツ
クスとを、中間材にニツケルを用いて接合した接合体の
波形である。コバールとセラミツクスとの直接接合の場
合には、接合部に近傍した部分で大きな音速が観察さ
れ、この部分の残留応力が大であり（強度が弱く）、接
合部から離れるにしたがつて音速が急激に減少して一定
となることが判る。又、ニツケル中間材を用いた接合の
場合、接合部に近接した部分では比較的小さい音速が観
察され、一旦、若干増大した後低下して一定となる。い
ずれの場合も、接合部から充分離れた部分の音速はその
セラミツクス自体の音速（残留応力が存在しない音速）
に一致する。上記の分布図から、中間材としてニツケル
を用いた場合の効果が大であることも明瞭に読みとるこ
とができる。
渉波周期に基づいて上記（１）式にしたがつて演算した
伝播速度の分布図である。横軸には接合部からの距離
が、又、縦軸には伝播速度がとつてある。図で、実線で
示す波形Ａはコバールとセラミツクスとを直接接合した
接合体の波形、破線で示す波形Ｂはコバールとセラミツ
クスとを、中間材にニツケルを用いて接合した接合体の
波形である。コバールとセラミツクスとの直接接合の場
合には、接合部に近傍した部分で大きな音速が観察さ
れ、この部分の残留応力が大であり（強度が弱く）、接
合部から離れるにしたがつて音速が急激に減少して一定
となることが判る。又、ニツケル中間材を用いた接合の
場合、接合部に近接した部分では比較的小さい音速が観
察され、一旦、若干増大した後低下して一定となる。い
ずれの場合も、接合部から充分離れた部分の音速はその
セラミツクス自体の音速（残留応力が存在しない音速）
に一致する。上記の分布図から、中間材としてニツケル
を用いた場合の効果が大であることも明瞭に読みとるこ
とができる。
このように、本実施例では、超音波顕微鏡を用いて、残
留応力が存在しないことが確実なセラミックス表面上の
点の弾性表面波の速度を求めておき、この速度と、残留
応力が存在すると思われるセラミツクス表面上の点の弾
性表面波の速度との比を求め、この比がある定められた
許容範囲にあるか否かを判断するようにしたので、所要
の点の残留応力をいちいち求めた後に判断を行う必要は
なく、容易、正確、かつ、迅速に接合強度の良否を判定
することができ、ひいては、不良品の排除や接合体の使
用の可否を決定することができる。
留応力が存在しないことが確実なセラミックス表面上の
点の弾性表面波の速度を求めておき、この速度と、残留
応力が存在すると思われるセラミツクス表面上の点の弾
性表面波の速度との比を求め、この比がある定められた
許容範囲にあるか否かを判断するようにしたので、所要
の点の残留応力をいちいち求めた後に判断を行う必要は
なく、容易、正確、かつ、迅速に接合強度の良否を判定
することができ、ひいては、不良品の排除や接合体の使
用の可否を決定することができる。
以上述べたように、本発明では、超音波顕微鏡を用い
て、残留応力が存在しないことが確実なセラミックス表
面上の点の弾性表面波の速度を求めておき、この速度
と、残留応力が存在すると思われるセラミックス表面上
の点の弾性表面波の速度との比を求め、この比がある定
められた許容範囲にあるか否かを判断するようにしたの
で、所要の点の残留応力をいちいち求めた後に判断を行
う必要はなく、容易、正確、かつ、迅速に接合強度の良
否を判定することができ、ひいては、不良品の排除や接
合体の使用の可否を決定するとができる。
て、残留応力が存在しないことが確実なセラミックス表
面上の点の弾性表面波の速度を求めておき、この速度
と、残留応力が存在すると思われるセラミックス表面上
の点の弾性表面波の速度との比を求め、この比がある定
められた許容範囲にあるか否かを判断するようにしたの
で、所要の点の残留応力をいちいち求めた後に判断を行
う必要はなく、容易、正確、かつ、迅速に接合強度の良
否を判定することができ、ひいては、不良品の排除や接
合体の使用の可否を決定するとができる。
第１図は本発明の実施例に係るセラミツクス接合部の強
度判定方法を説明する概略図、第２図は第１図に示すプ
ローブで受信される干渉波の波形図、第３図は参照波を
干渉させたときプローブで受信される干渉波の波形図、
第４図は表面波の伝播速度の分布図、第５図はセラミツ
クス接合体の側面図、第６図はセラミツクス接合体の応
力の分布図である。 １……セラミツクス、５……プローブ、5a……圧電薄
膜、5b……音響レンズ、Ｂ……集束超音波ビーム。
度判定方法を説明する概略図、第２図は第１図に示すプ
ローブで受信される干渉波の波形図、第３図は参照波を
干渉させたときプローブで受信される干渉波の波形図、
第４図は表面波の伝播速度の分布図、第５図はセラミツ
クス接合体の側面図、第６図はセラミツクス接合体の応
力の分布図である。 １……セラミツクス、５……プローブ、5a……圧電薄
膜、5b……音響レンズ、Ｂ……集束超音波ビーム。
フロントページの続き (72)発明者 石川 潔 茨城県土浦市神立町650番地 日立建機株 式会社土浦工場内 (72)発明者 石川 達雄 北海道札幌市中央区南十条西21丁目６番15 号 (56)参考文献 特開 昭60−115848（ＪＰ，Ａ) 日本金属学会講演概要，1988．11月, Ｐ．526
Claims (1)
- 【請求項１】試料に対して集束超音波ビームを放射する
とともに、前記試料との相対的距離を変化させ、当該集
束超音波ビームの反射波と当該集束超音波ビームにより
試料表面に生じる弾性表面波の放射波との干渉波の前記
相対的距離の変化毎に強度のデータを受信してそれらの
データを出力する超音波顕微鏡を用い、セラミックスと
他の材料との接合体の接合部から充分に離れていて接合
による残留応力がないと判断される前記セラミックス上
の設定点に対して前記集束超音波ビームを放射し、前記
干渉波の前記相対的距離の変化毎の強度データを採取
し、これらデータにより得られる当該干渉波の周期に基
づいて前記設定点における弾性表面波の音速を演算して
この音速を設定値とし、次いで、前記セラミックス上の
接合部近辺の点に前記集束超音波ビームを放射して前記
設定点での手段と同じ手段で当該点の弾性表面波の音速
を演算し、この音速と前記設定値との比が許容値の範囲
内にあるか否かを判断することを特徴とするセラミック
ス接合部と強度判定方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2071853A JPH0740020B2 (ja) | 1989-04-17 | 1990-03-23 | セラミツクス接合部の強度判定方法 |
| EP19900200939 EP0393783A3 (en) | 1989-04-17 | 1990-04-17 | Method for the determination of strength of join between ceramic and non-ceramic material |
| US07/735,663 US5101663A (en) | 1989-04-17 | 1991-07-26 | Method for the determination of strength of join between ceramic and non-ceramic |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1-95248 | 1989-04-17 | ||
| JP9524889 | 1989-04-17 | ||
| JP2071853A JPH0740020B2 (ja) | 1989-04-17 | 1990-03-23 | セラミツクス接合部の強度判定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0348153A JPH0348153A (ja) | 1991-03-01 |
| JPH0740020B2 true JPH0740020B2 (ja) | 1995-05-01 |
Family
ID=26412964
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2071853A Expired - Fee Related JPH0740020B2 (ja) | 1989-04-17 | 1990-03-23 | セラミツクス接合部の強度判定方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5101663A (ja) |
| EP (1) | EP0393783A3 (ja) |
| JP (1) | JPH0740020B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB9326472D0 (en) * | 1993-12-24 | 1994-02-23 | Ngk Ceramics Europ Sa | Method and apparatus for testing ceramic members |
| US5608165A (en) * | 1996-05-06 | 1997-03-04 | Ford Motor Company | Ultrasonic thickness gauge for multilayer plastic fuel tanks |
| US5902935A (en) | 1996-09-03 | 1999-05-11 | Georgeson; Gary E. | Nondestructive evaluation of composite bonds, especially thermoplastic induction welds |
| US6284089B1 (en) | 1997-12-23 | 2001-09-04 | The Boeing Company | Thermoplastic seam welds |
| WO2003096007A1 (en) * | 2002-05-08 | 2003-11-20 | Sekisui Chemical Co., Ltd. | Method and equipment for inspecting reinforced concrete pipe |
| US7140995B2 (en) | 2004-08-11 | 2006-11-28 | Daimlerchrysler Ag | Gear drive |
| JP2009097676A (ja) * | 2007-10-18 | 2009-05-07 | Aisin Ai Co Ltd | 動力伝達機構における潤滑構造 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3043794A1 (de) * | 1980-11-20 | 1982-06-03 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 8000 München | Verfahren zum zerstoerungsfreien nachweis von spannungen, insbesondere eigenspannungen in werkstoffen mittels ultraschall |
| US4366713A (en) * | 1981-03-25 | 1983-01-04 | General Electric Company | Ultrasonic bond testing of semiconductor devices |
| US4524621A (en) * | 1983-09-06 | 1985-06-25 | Agency Of Industrial Science & Technology | Method for measurement of velocity of surface acoustic wave |
| DE3574621D1 (de) * | 1984-07-08 | 1990-01-11 | Noriyoshi Chubachi | Oberflaechen-ultraschall-interferenz-mikroskop. |
| JPS6196452A (ja) * | 1984-10-18 | 1986-05-15 | Agency Of Ind Science & Technol | 表面弾性波の音速・減衰測定方法 |
| JPS6281561A (ja) * | 1985-10-07 | 1987-04-15 | Hitachi Ltd | 超音波顕微鏡を用いた計測方法 |
-
1990
- 1990-03-23 JP JP2071853A patent/JPH0740020B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1990-04-17 EP EP19900200939 patent/EP0393783A3/en not_active Withdrawn
-
1991
- 1991-07-26 US US07/735,663 patent/US5101663A/en not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 日本金属学会講演概要，１９８８．１１月，Ｐ．５２６ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0393783A2 (en) | 1990-10-24 |
| JPH0348153A (ja) | 1991-03-01 |
| EP0393783A3 (en) | 1991-03-13 |
| US5101663A (en) | 1992-04-07 |
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