JPH0743119A - 管体の寸法測定装置 - Google Patents
管体の寸法測定装置Info
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- JPH0743119A JPH0743119A JP18495293A JP18495293A JPH0743119A JP H0743119 A JPH0743119 A JP H0743119A JP 18495293 A JP18495293 A JP 18495293A JP 18495293 A JP18495293 A JP 18495293A JP H0743119 A JPH0743119 A JP H0743119A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 管体の内径等の寸法を簡単な構成で精度良く
求める。 【構成】 管体１の半径以上の長いリフトオフを有する
レーザ変位計２を使用し、レーザ変位計より管軸方向に
発射したレーザビームＢａを反射器３で半径方向に９０
度反射させレーザビームＢｂとして管体内面に照射する
とともに、回転機構４により反射器をレーザ反射点Ａを
中心に回転させることにより、レーザビームＢｂを管体
のほぼ中心で管周方向に回転し、反射器の一定回転角度
ごとに管周上の座標を求め、これらの座標から内径、周
長、真円度などの寸法を演算装置２０で求める。また、
レーザ変位計と反射器との距離をリフトオフ調整機構６
で調節できるようにして管口径に対応させて所定のリフ
トオフの長さを保つ。
求める。 【構成】 管体１の半径以上の長いリフトオフを有する
レーザ変位計２を使用し、レーザ変位計より管軸方向に
発射したレーザビームＢａを反射器３で半径方向に９０
度反射させレーザビームＢｂとして管体内面に照射する
とともに、回転機構４により反射器をレーザ反射点Ａを
中心に回転させることにより、レーザビームＢｂを管体
のほぼ中心で管周方向に回転し、反射器の一定回転角度
ごとに管周上の座標を求め、これらの座標から内径、周
長、真円度などの寸法を演算装置２０で求める。また、
レーザ変位計と反射器との距離をリフトオフ調整機構６
で調節できるようにして管口径に対応させて所定のリフ
トオフの長さを保つ。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、パイプなどの管体の内
径、周長、真円度等の寸法を非接触式で測定する寸法測
定装置に関する。
径、周長、真円度等の寸法を非接触式で測定する寸法測
定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、鋼管などの管体の内径を非接触式
で測定する装置として、例えば特開平４−１６０３０３
号公報に開示されたものがあり、該測定装置は、管体の
軸心方向に挿入可能なアーム上にレーザ変位計を取り付
け、該レーザ変位計より管軸方向に発射されたレーザビ
ームをアーム先端に設けたプリズムなどにより半径方向
に９０度屈折させて管体内面に照射するようになってい
る。内径の測定にあたっては、被測定面がレーザ変位計
の測定可能な範囲内に位置するようにアームを管体の半
径方向に移動させ、管体を回転させながらその内面の測
定点とレーザ変位計間の距離を測定し管体の内径を測定
する。この場合、レーザ変位計とプリズム間の距離は一
定不変とされており、被測定面をレーザ変位計の測定可
能範囲内に位置させるためアームを半径方向、例えば上
下方向にスライドさせるためのスライド機構を設けてい
る。また、大口径の管体の内径測定に対応させるため、
上記のようにレーザ変位計とプリズムを配置固定したア
ームを複数管軸と平行に設け、それぞれのアームにアー
ム間の間隔を調整するためのスライド機構を設けて、被
測定面をレーザ変位計の測定可能範囲内に収めるように
している。
で測定する装置として、例えば特開平４−１６０３０３
号公報に開示されたものがあり、該測定装置は、管体の
軸心方向に挿入可能なアーム上にレーザ変位計を取り付
け、該レーザ変位計より管軸方向に発射されたレーザビ
ームをアーム先端に設けたプリズムなどにより半径方向
に９０度屈折させて管体内面に照射するようになってい
る。内径の測定にあたっては、被測定面がレーザ変位計
の測定可能な範囲内に位置するようにアームを管体の半
径方向に移動させ、管体を回転させながらその内面の測
定点とレーザ変位計間の距離を測定し管体の内径を測定
する。この場合、レーザ変位計とプリズム間の距離は一
定不変とされており、被測定面をレーザ変位計の測定可
能範囲内に位置させるためアームを半径方向、例えば上
下方向にスライドさせるためのスライド機構を設けてい
る。また、大口径の管体の内径測定に対応させるため、
上記のようにレーザ変位計とプリズムを配置固定したア
ームを複数管軸と平行に設け、それぞれのアームにアー
ム間の間隔を調整するためのスライド機構を設けて、被
測定面をレーザ変位計の測定可能範囲内に収めるように
している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、従来装
置は管体を回転しながら測定をするものであるため、管
口径が大きくなると重力により常に同一の方向に断面形
状の変形が現れ、本来の管形状でなくなる。したがって
測定誤差が大きい。また、市販のレーザ変位計には精度
良く測定できる範囲が限られているという制限があるた
め、機構的にもそれぞれのアームにスライド機構を設け
なければならず、複雑で高価なものとなっている。
置は管体を回転しながら測定をするものであるため、管
口径が大きくなると重力により常に同一の方向に断面形
状の変形が現れ、本来の管形状でなくなる。したがって
測定誤差が大きい。また、市販のレーザ変位計には精度
良く測定できる範囲が限られているという制限があるた
め、機構的にもそれぞれのアームにスライド機構を設け
なければならず、複雑で高価なものとなっている。
【０００４】しかし最近では、例えば１５００mmという
長いリフトオフ（被測定面から検出機までの距離の通
称。ここでは、被測定面におけるレーザビームの照射点
を中心として被測定面の距離変化を最も良い精度で測定
できる測定範囲を決めるときの光軸上の照射距離をい
う）を有するレーザ変位計が開発され各方面に利用され
つつある。
長いリフトオフ（被測定面から検出機までの距離の通
称。ここでは、被測定面におけるレーザビームの照射点
を中心として被測定面の距離変化を最も良い精度で測定
できる測定範囲を決めるときの光軸上の照射距離をい
う）を有するレーザ変位計が開発され各方面に利用され
つつある。
【０００５】そこで本発明は、このような長リフトオフ
を有するレーザ変位計を使用して、簡単な機構で小径管
から大径管まで内径、周長、真円度等の寸法を精度良く
測定できる測定装置を提供することを目的とする。
を有するレーザ変位計を使用して、簡単な機構で小径管
から大径管まで内径、周長、真円度等の寸法を精度良く
測定できる測定装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明は、管体の内部に挿入される支持アームと、
該支持アーム上に設置され、管軸方向にレーザビームを
発射するレーザ変位計と、さらにそのレーザビームを半
径方向に反射させ管体の内面に照射させるようにした反
射器とを備えた管体の寸法測定装置において、前記レー
ザ変位計は管体の半径以上の長いリフトオフを有し、さ
らに前記反射器をレーザビームの反射点を中心に回転さ
せる回転機構を備えたことを特徴とするものである。
め、本発明は、管体の内部に挿入される支持アームと、
該支持アーム上に設置され、管軸方向にレーザビームを
発射するレーザ変位計と、さらにそのレーザビームを半
径方向に反射させ管体の内面に照射させるようにした反
射器とを備えた管体の寸法測定装置において、前記レー
ザ変位計は管体の半径以上の長いリフトオフを有し、さ
らに前記反射器をレーザビームの反射点を中心に回転さ
せる回転機構を備えたことを特徴とするものである。
【０００７】また、前記リフトオフを管口径に応じて調
整できるようにするため、長リフトオフを有するレーザ
変位計と反射器との距離を測定対象の口径に応じて相対
的に変え、該リフトオフの長さを一定に保つリフトオフ
調整機構を具備する。
整できるようにするため、長リフトオフを有するレーザ
変位計と反射器との距離を測定対象の口径に応じて相対
的に変え、該リフトオフの長さを一定に保つリフトオフ
調整機構を具備する。
【０００８】さらに、前記回転機構による前記反射器の
一定回転角度ごとに１回転分の管周上の座標を求めて管
体の内径等の寸法を演算する寸法演算装置を具備する。
一定回転角度ごとに１回転分の管周上の座標を求めて管
体の内径等の寸法を演算する寸法演算装置を具備する。
【０００９】
【作用】本発明による管体の寸法測定の原理を図１によ
り説明すると、図１（ａ）に示すようにリフトオフが管
体１の半径より大きいレーザ変位計２を管体１のほぼ中
心軸上に設置し、このレーザ変位計２から管軸方向にレ
ーザビームＢａを発射し、さらに反射器３によってレー
ザビームＢａを９０度反射させレーザビームＢｂとして
管体１の内面に照射し、反射器３のレーザ反射点Ａから
管体内面の測定点Ｐまでの距離を測定する。ここで、反
射器３を回転機構４によりレーザ反射点Ａを中心に回転
させると、図１（ｂ）に示すごとくレーザビームＢｂが
管体１のほぼ中心で反射器３のレーザ反射点Ａを中心に
管周方向に回転するので、このレーザビームＢｂによっ
て管体内面を走査することができる。このときのレーザ
ビームＢｂの距離変化を反射器３の一定回転角度ごとに
測定点Ｐi の（ｒi ，θi ）座標として収集し、これら
の１回転分のデータをもとに管体１の周長、内径、真円
度などの寸法を寸法演算装置で求める。
り説明すると、図１（ａ）に示すようにリフトオフが管
体１の半径より大きいレーザ変位計２を管体１のほぼ中
心軸上に設置し、このレーザ変位計２から管軸方向にレ
ーザビームＢａを発射し、さらに反射器３によってレー
ザビームＢａを９０度反射させレーザビームＢｂとして
管体１の内面に照射し、反射器３のレーザ反射点Ａから
管体内面の測定点Ｐまでの距離を測定する。ここで、反
射器３を回転機構４によりレーザ反射点Ａを中心に回転
させると、図１（ｂ）に示すごとくレーザビームＢｂが
管体１のほぼ中心で反射器３のレーザ反射点Ａを中心に
管周方向に回転するので、このレーザビームＢｂによっ
て管体内面を走査することができる。このときのレーザ
ビームＢｂの距離変化を反射器３の一定回転角度ごとに
測定点Ｐi の（ｒi ，θi ）座標として収集し、これら
の１回転分のデータをもとに管体１の周長、内径、真円
度などの寸法を寸法演算装置で求める。
【００１０】また、レーザ変位計２と反射器３と管体１
の内面との位置関係は、反射器３を回転させたときのレ
ーザビームＢｂの距離変化がレーザ変位計２の変位測定
範囲内にあるようにあらかじめ位置調整されている。す
なわち、測定対象の管口径に応じてレーザ変位計２と反
射器３との距離をリフトオフ調整機構により調節し、レ
ーザ変位計２から反射器３を経て管体１の内面に至る光
軸上の距離が所定のリフトオフの長さと一致するように
調整する。そのため測定精度を良好に保つことができ
る。
の内面との位置関係は、反射器３を回転させたときのレ
ーザビームＢｂの距離変化がレーザ変位計２の変位測定
範囲内にあるようにあらかじめ位置調整されている。す
なわち、測定対象の管口径に応じてレーザ変位計２と反
射器３との距離をリフトオフ調整機構により調節し、レ
ーザ変位計２から反射器３を経て管体１の内面に至る光
軸上の距離が所定のリフトオフの長さと一致するように
調整する。そのため測定精度を良好に保つことができ
る。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図により説明す
る。図２は本発明の実施例による管体の寸法測定装置の
概要を示す構成図である。図に示すように、基台１０上
の支柱１１に支持アーム１２を昇降機構１３により昇降
可能に設け、この支持アーム１２上にレーザ変位計２，
反射器３及びこれらの付属機構を設置する。また、昇降
機構１３は、支柱１１上に設置した昇降モータ１５によ
り回転するボールネジ１６を支持アーム１２の昇降台１
４に螺合した構成となっており、この昇降機構１３によ
り昇降台１４及び支持アーム１２を上下方向に移動させ
ることができる。その昇降量はエンコーダ１７により検
出される。
る。図２は本発明の実施例による管体の寸法測定装置の
概要を示す構成図である。図に示すように、基台１０上
の支柱１１に支持アーム１２を昇降機構１３により昇降
可能に設け、この支持アーム１２上にレーザ変位計２，
反射器３及びこれらの付属機構を設置する。また、昇降
機構１３は、支柱１１上に設置した昇降モータ１５によ
り回転するボールネジ１６を支持アーム１２の昇降台１
４に螺合した構成となっており、この昇降機構１３によ
り昇降台１４及び支持アーム１２を上下方向に移動させ
ることができる。その昇降量はエンコーダ１７により検
出される。
【００１２】上記のレーザ変位計２は、管体１の半径以
上の長いリフトオフを有するもので、例えばリフトオフ
が１５００mmで測定範囲がリフトオフの距離を中心に±
５０mmのものを用いている。このレーザ変位計２は管軸
方向に摺動自在な移動台５上に取り付けられており、リ
フトオフ調整機構６によって管軸方向に移動するように
なっている。このリフトオフ調整機構６は昇降機構１３
と同様の方式によるものであり、駆動モータ７により回
転するボールネジ８を移動台５に螺合させることによ
り、移動台５及びその上に取り付けられたレーザ変位計
２を管軸方向に移動させることができる。その移動量は
エンコーダ９により検出される。なお、移動台５のガイ
ド機構は図示していないが、公知の手段でできる。
上の長いリフトオフを有するもので、例えばリフトオフ
が１５００mmで測定範囲がリフトオフの距離を中心に±
５０mmのものを用いている。このレーザ変位計２は管軸
方向に摺動自在な移動台５上に取り付けられており、リ
フトオフ調整機構６によって管軸方向に移動するように
なっている。このリフトオフ調整機構６は昇降機構１３
と同様の方式によるものであり、駆動モータ７により回
転するボールネジ８を移動台５に螺合させることによ
り、移動台５及びその上に取り付けられたレーザ変位計
２を管軸方向に移動させることができる。その移動量は
エンコーダ９により検出される。なお、移動台５のガイ
ド機構は図示していないが、公知の手段でできる。
【００１３】レーザ変位計２に対向して設置された反射
器３はレーザ変位計２から発射された管軸方向のレーザ
ビームを半径方向に９０度反射させる機能を有するもの
で、反射ミラー、プリズムなどからなる。そして、反射
器３は、回転機構４により反射点Ａを中心に回転し、か
つ、パルス発信器１８により反射器３の一定回転角度ご
とに及び１回転ごとにパルス信号を出すようになってい
る。すなわち、回転機構４のパルス発信器１８は、反射
器３が０．１度回転するごとに１パルスを発生する信号
と、１回転ごとに１パルスを発生する合計２ビットの回
転角信号を出し、これらの信号は寸法演算装置２０に送
られる。寸法演算装置２０については後述する。
器３はレーザ変位計２から発射された管軸方向のレーザ
ビームを半径方向に９０度反射させる機能を有するもの
で、反射ミラー、プリズムなどからなる。そして、反射
器３は、回転機構４により反射点Ａを中心に回転し、か
つ、パルス発信器１８により反射器３の一定回転角度ご
とに及び１回転ごとにパルス信号を出すようになってい
る。すなわち、回転機構４のパルス発信器１８は、反射
器３が０．１度回転するごとに１パルスを発生する信号
と、１回転ごとに１パルスを発生する合計２ビットの回
転角信号を出し、これらの信号は寸法演算装置２０に送
られる。寸法演算装置２０については後述する。
【００１４】本測定装置は、管体１の内部に支持アーム
１２を挿入し、レーザ変位計２が管体１のほぼ中心軸上
に位置するように昇降機構１３により位置調整し、また
レーザビームＢａ，Ｂｂの距離の和Ｌａ＋Ｌｂがレーザ
変位計２のリフトオフの長さに一致するようにレーザ変
位計２をリフトオフ調整機構６により位置調整する。例
えば、測定対象が小径管の場合にはレーザ変位計２を図
２において右側へ移動させ、反射器３とレーザ変位計２
との距離Ｌａを大きくすることにより所定のリフトオフ
の長さに調節する。大径管の場合には反対の左側へレー
ザ変位計２を移動させればよい。レーザ変位計２の位置
決めは寸法演算装置２０に設けた制御部により、管体１
の呼び径に対応して自動的に設定される。しかるのち、
レーザ変位計２よりレーザビームを発射し、測定を開始
する。
１２を挿入し、レーザ変位計２が管体１のほぼ中心軸上
に位置するように昇降機構１３により位置調整し、また
レーザビームＢａ，Ｂｂの距離の和Ｌａ＋Ｌｂがレーザ
変位計２のリフトオフの長さに一致するようにレーザ変
位計２をリフトオフ調整機構６により位置調整する。例
えば、測定対象が小径管の場合にはレーザ変位計２を図
２において右側へ移動させ、反射器３とレーザ変位計２
との距離Ｌａを大きくすることにより所定のリフトオフ
の長さに調節する。大径管の場合には反対の左側へレー
ザ変位計２を移動させればよい。レーザ変位計２の位置
決めは寸法演算装置２０に設けた制御部により、管体１
の呼び径に対応して自動的に設定される。しかるのち、
レーザ変位計２よりレーザビームを発射し、測定を開始
する。
【００１５】レーザ変位計２より発射された管軸方向の
レーザビームＢａは反射器３で半径方向に９０度反射さ
れレーザビームＢｂとなって管体１の内面に照射され
る。レーザビームＢｂは管体１の内面で反射し、この反
射光は再び反射器３で反射され、レーザ変位計２で受光
され、レーザビームＢａの距離ＬａとレーザビームＢｂ
の距離Ｌｂとの和すなわちレーザ変位計２から管体１の
内面までの光軸上の距離が計測される。そして、反射器
３を回転機構４によって管周方向に回転させると、レー
ザビームＢｂはレーザビームＢａの反射器３での反射点
Ａを中心に管体１の管周方向に回転する。回転機構４の
パルス発信器１８からは回転角０．１度ごとに１パルス
を発生する信号と、１回転ごとに１パルスを発生する合
計２ビットの回転角信号が寸法演算装置２０に送られ
る。寸法演算装置２０では前述の０．１度ごとの回転確
信号が入力されるごとにレーザ変位計２の測定信号を取
り込み、反射器３が１回転するごとに管体１の寸法演算
を実施する。
レーザビームＢａは反射器３で半径方向に９０度反射さ
れレーザビームＢｂとなって管体１の内面に照射され
る。レーザビームＢｂは管体１の内面で反射し、この反
射光は再び反射器３で反射され、レーザ変位計２で受光
され、レーザビームＢａの距離ＬａとレーザビームＢｂ
の距離Ｌｂとの和すなわちレーザ変位計２から管体１の
内面までの光軸上の距離が計測される。そして、反射器
３を回転機構４によって管周方向に回転させると、レー
ザビームＢｂはレーザビームＢａの反射器３での反射点
Ａを中心に管体１の管周方向に回転する。回転機構４の
パルス発信器１８からは回転角０．１度ごとに１パルス
を発生する信号と、１回転ごとに１パルスを発生する合
計２ビットの回転角信号が寸法演算装置２０に送られ
る。寸法演算装置２０では前述の０．１度ごとの回転確
信号が入力されるごとにレーザ変位計２の測定信号を取
り込み、反射器３が１回転するごとに管体１の寸法演算
を実施する。
【００１６】ここで、寸法演算装置２０の内部構成は図
３のようになっている。図３において、２１は回転角割
り込み部、２２はパルスカウンター、２３は割り込み
部、２４はＡ／Ｄ変換部、２５は演算部、２６は設定
部、２７は制御部、２８は出力部である。回転角割り込
み部２１には回転機構４のパルス発信器１８から反射器
３が０．１度回転するごとに１パルスの信号が入力さ
れ、このパルス信号によってパルスカウンター２２のカ
ウント値とＡ／Ｄ変換部２４のレーザ変位計２の測定値
を演算部２５が読み込み、反射器３のレーザ反射点Ａを
原点とする座標系上の座標データ（ｒ，θ）として記憶
させる。これを割り込み部２３にパルス発信器１８から
割り込みパルス信号が入力され、反射器３が１回転して
次の割り込みパルス信号が入力されるまで繰り返し行
う。割り込み部２３に割り込みパルス信号が入力される
と、演算部２５はパルスカウンター２２をイニシャライ
ズして反射器３の回転角０度から３６０度すなわち１回
転分の座標データの移動平均化処理を行い、そして管体
１の内周長演算、内径演算、真円度演算を行う。設定部
２６には外部より寸法測定対象の管体１の呼び径が例え
ばキーボードで入力され、この値が演算部２５と制御部
２７に送られる。制御部２７では管体１の呼び径情報か
らレーザ変位計２の位置決めのための駆動モータ７に駆
動指令を出力し、また管体１のほぼ中心に反射器３の反
射点Ａがくるように昇降モータ１５に高さ調整指令を出
力する。演算部２５の寸法演算結果は出力部２８に送ら
れ、記録計あるいはプリンターに出力される。
３のようになっている。図３において、２１は回転角割
り込み部、２２はパルスカウンター、２３は割り込み
部、２４はＡ／Ｄ変換部、２５は演算部、２６は設定
部、２７は制御部、２８は出力部である。回転角割り込
み部２１には回転機構４のパルス発信器１８から反射器
３が０．１度回転するごとに１パルスの信号が入力さ
れ、このパルス信号によってパルスカウンター２２のカ
ウント値とＡ／Ｄ変換部２４のレーザ変位計２の測定値
を演算部２５が読み込み、反射器３のレーザ反射点Ａを
原点とする座標系上の座標データ（ｒ，θ）として記憶
させる。これを割り込み部２３にパルス発信器１８から
割り込みパルス信号が入力され、反射器３が１回転して
次の割り込みパルス信号が入力されるまで繰り返し行
う。割り込み部２３に割り込みパルス信号が入力される
と、演算部２５はパルスカウンター２２をイニシャライ
ズして反射器３の回転角０度から３６０度すなわち１回
転分の座標データの移動平均化処理を行い、そして管体
１の内周長演算、内径演算、真円度演算を行う。設定部
２６には外部より寸法測定対象の管体１の呼び径が例え
ばキーボードで入力され、この値が演算部２５と制御部
２７に送られる。制御部２７では管体１の呼び径情報か
らレーザ変位計２の位置決めのための駆動モータ７に駆
動指令を出力し、また管体１のほぼ中心に反射器３の反
射点Ａがくるように昇降モータ１５に高さ調整指令を出
力する。演算部２５の寸法演算結果は出力部２８に送ら
れ、記録計あるいはプリンターに出力される。
【００１７】上記実施例においては、管体が回転しない
ものとして説明した。したがって、回転するレーザビー
ムＢｂが支持アーム１２によって遮られ、管体内面の一
部に測定できないところが発生する。しかし、支持アー
ム１２の構造設計でレーザビームＢｂの遮られる角度を
最小にすることにより、管体の内径が急に変動しないも
のについては問題とならない。また、管体を多少回転さ
せて測定不能領域をカバーすることもできる。また、本
発明は回転する管に対しても重力による断面変形があっ
ても適用できるものである。例えば溶接管はスパイラル
状に緩やかに回転しており、その管端部の内径などを本
測定装置で短時間に測定することができる。
ものとして説明した。したがって、回転するレーザビー
ムＢｂが支持アーム１２によって遮られ、管体内面の一
部に測定できないところが発生する。しかし、支持アー
ム１２の構造設計でレーザビームＢｂの遮られる角度を
最小にすることにより、管体の内径が急に変動しないも
のについては問題とならない。また、管体を多少回転さ
せて測定不能領域をカバーすることもできる。また、本
発明は回転する管に対しても重力による断面変形があっ
ても適用できるものである。例えば溶接管はスパイラル
状に緩やかに回転しており、その管端部の内径などを本
測定装置で短時間に測定することができる。
【００１８】
【発明の効果】以上のように本発明は、管体の半径以上
の長リフトオフを有するレーザ変位計を使用し、レーザ
変位計より管軸方向に発射したレーザビームを反射器で
半径方向に反射させ、さらにその反射器を回転機構でレ
ーザ反射点を中心に回転させるようにしたものであるか
ら、管体の中心付近で回転するレーザビームにより管体
内面を管周方向に走査することができ、簡単な構成で精
度の良い連続的な測定データが得られる。
の長リフトオフを有するレーザ変位計を使用し、レーザ
変位計より管軸方向に発射したレーザビームを反射器で
半径方向に反射させ、さらにその反射器を回転機構でレ
ーザ反射点を中心に回転させるようにしたものであるか
ら、管体の中心付近で回転するレーザビームにより管体
内面を管周方向に走査することができ、簡単な構成で精
度の良い連続的な測定データが得られる。
【００１９】リフトオフ調整機構によりレーザ変位計と
反射器との距離を調節できるようにしたので、小径管か
ら大径管まで簡単に対応させることができる。また、こ
のリフトオフ調整機構によりレーザビームの光軸上の距
離を所定のリフトオフの長さに調節できるため、管口径
の如何にかかわらず高い測定精度が得られる。
反射器との距離を調節できるようにしたので、小径管か
ら大径管まで簡単に対応させることができる。また、こ
のリフトオフ調整機構によりレーザビームの光軸上の距
離を所定のリフトオフの長さに調節できるため、管口径
の如何にかかわらず高い測定精度が得られる。
【００２０】反射器の一定回転角度ごとに管周上の座標
を求めるようにしたので、実際の管体内面の形状に対応
した測定値分布となり、その測定値分布から内径、周
長、真円度などの寸法を正確に演算することができる。
を求めるようにしたので、実際の管体内面の形状に対応
した測定値分布となり、その測定値分布から内径、周
長、真円度などの寸法を正確に演算することができる。
【図１】本発明による寸法測定の原理を説明する図であ
る。
る。
【図２】本発明の一実施例を示す概要図である。
【図３】図２の寸法演算装置の機能ブロック図である。
１ 管体 ２ レーザ変位計 ３ 反射器 ４ 回転機構 ６ リフトオフ調整機構 １２ 支持アーム １３ 昇降機構 ２０ 寸法演算装置
Claims (3)
- 【請求項１】 管体の内部に挿入される支持アームと、
該支持アーム上に設置され、管軸方向にレーザビームを
発射するレーザ変位計と、さらにそのレーザビームを半
径方向に反射させ管体の内面に照射させるようにした反
射器とを備えた管体の寸法測定装置において、 前記レーザ変位計は管体の半径以上の長いリフトオフを
有し、 さらに前記反射器をレーザビームの反射点を中心に回転
させる回転機構を備えたことを特徴とする管体の寸法測
定装置。 - 【請求項２】 前記長いリフトオフを有するレーザ変位
計と前記反射器との距離を測定対象の口径に応じて相対
的に変え、該リフトオフの長さを一定に保つリフトオフ
調整機構を備えたことを特徴とする請求項１記載の管体
の寸法測定装置。 - 【請求項３】 前記回転機構による前記反射器の一定回
転角度ごとに１回転分の管周上の座標を求めて管体の内
径等の寸法を演算する寸法演算装置を備えたことを特徴
とする請求項１記載の管体の寸法測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18495293A JPH0743119A (ja) | 1993-07-27 | 1993-07-27 | 管体の寸法測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18495293A JPH0743119A (ja) | 1993-07-27 | 1993-07-27 | 管体の寸法測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0743119A true JPH0743119A (ja) | 1995-02-10 |
Family
ID=16162228
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18495293A Pending JPH0743119A (ja) | 1993-07-27 | 1993-07-27 | 管体の寸法測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0743119A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
1993
- 1993-07-27 JP JP18495293A patent/JPH0743119A/ja active Pending
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