JPH0743275B2 - 電子天びん - Google Patents
電子天びんInfo
- Publication number
- JPH0743275B2 JPH0743275B2 JP2202777A JP20277790A JPH0743275B2 JP H0743275 B2 JPH0743275 B2 JP H0743275B2 JP 2202777 A JP2202777 A JP 2202777A JP 20277790 A JP20277790 A JP 20277790A JP H0743275 B2 JPH0743275 B2 JP H0743275B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- calibration
- time
- calibration coefficient
- balance
- coefficient
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
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- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明は感度校正機能を備えた電子天びんに関する。
＜従来の技術＞ 電子天びんは、一般に、荷重検出部からのデジタルデー
タを校正係数を用いて質量値に換算し、表示すべき計量
値を決定している。
タを校正係数を用いて質量値に換算し、表示すべき計量
値を決定している。
校正係数は、随時にまたはあらかじめ設定された時間経
過や温度変化があった場合に自動的に、外部基準分銅や
天びんの内蔵分銅を荷重検出部に負荷し、その状態での
荷重データと基準質量とを用いて更新され、この動作は
一般に感度校正ないしはスパン校正時と称されている。
過や温度変化があった場合に自動的に、外部基準分銅や
天びんの内蔵分銅を荷重検出部に負荷し、その状態での
荷重データと基準質量とを用いて更新され、この動作は
一般に感度校正ないしはスパン校正時と称されている。
ところで、上述のような感度校正に当たっては、天びん
が設置されている周囲環境が、得られる校正係数の正確
さに大きく影響を及ぼし、劣悪な環境下で校正を行った
場合には天びんの仕様が満足されない場合がある。
が設置されている周囲環境が、得られる校正係数の正確
さに大きく影響を及ぼし、劣悪な環境下で校正を行った
場合には天びんの仕様が満足されない場合がある。
そのため、従来の電子天びんでは、感度校正時における
荷重データのばらつき等から感度校正時の環境が仕様を
満足しているか否かを判別し、満足しない場合には校正
動作を続行できないようにするか、あるいは警告を発し
て中断させる等の対策を採っている。
荷重データのばらつき等から感度校正時の環境が仕様を
満足しているか否かを判別し、満足しない場合には校正
動作を続行できないようにするか、あるいは警告を発し
て中断させる等の対策を採っている。
＜発明が解決しようとする課題＞ しかし、以上のような従来の対策では、天びん使用者に
とって、天びんの仕様を満足する精度以下であってもす
ぐに使いたい場合があり、このような使用を不可能にし
てしまう。
とって、天びんの仕様を満足する精度以下であってもす
ぐに使いたい場合があり、このような使用を不可能にし
てしまう。
また、特に、周囲環境の変化を天びんが感知して自動的
に感度校正を開始する機能を持つ天びん等においては、
その特徴とする効果である、感度変化を気にすることな
く、使いたいときに直ちに使用可能であるという利点を
潰してしまう結果となる。
に感度校正を開始する機能を持つ天びん等においては、
その特徴とする効果である、感度変化を気にすることな
く、使いたいときに直ちに使用可能であるという利点を
潰してしまう結果となる。
＜課題を解決するための手段＞ 本発明は上記した問題を解決すべくなされたもので、そ
の特徴とするところは、感度校正時における荷重検出部
の出力データから校正時の環境状態があらかじめ設定さ
れた許容限度内であるか否かを判別する校正環境判別手
段と、その判別結果に基づいて校正時の環境状態が許容
限度内である場合に算出された校正係数を更新記憶する
第２記憶手段と、同じくその判別結果に基づいて校正時
の環境状態が許容限度外である場合にその校正係数まは
た上記第２記憶手段の内容のいずれを演算部による計量
値決定に供させるかを選択するための選択スイッチを備
えた点にある。
の特徴とするところは、感度校正時における荷重検出部
の出力データから校正時の環境状態があらかじめ設定さ
れた許容限度内であるか否かを判別する校正環境判別手
段と、その判別結果に基づいて校正時の環境状態が許容
限度内である場合に算出された校正係数を更新記憶する
第２記憶手段と、同じくその判別結果に基づいて校正時
の環境状態が許容限度外である場合にその校正係数まは
た上記第２記憶手段の内容のいずれを演算部による計量
値決定に供させるかを選択するための選択スイッチを備
えた点にある。
＜作用＞ 感度校正動作により得られた校正係数を記憶する記憶手
段のほかに第２記憶手段を設けておき、感度校正時にお
ける環境状態が許容限度内にある場合にはその校正によ
り得られた校正係数で記憶手段の内容を更新すると同時
に、第２記憶手段の内容を更新する。これにより、第２
記憶手段には良好な環境状態で得られた最新の校正係数
が常に記憶されていることになる。
段のほかに第２記憶手段を設けておき、感度校正時にお
ける環境状態が許容限度内にある場合にはその校正によ
り得られた校正係数で記憶手段の内容を更新すると同時
に、第２記憶手段の内容を更新する。これにより、第２
記憶手段には良好な環境状態で得られた最新の校正係数
が常に記憶されていることになる。
一方、環境が良好でない状況でも感度校正動作を中断等
させずに感度校正を終了させ、この場合、その状況で得
られた校正係数を使用するか、あるいは第２記憶手段に
記憶している校正係数を使用するかを選択スイッチによ
って選択可能としておくことで、天びんの使用目的に応
じた測定が可能となる。
させずに感度校正を終了させ、この場合、その状況で得
られた校正係数を使用するか、あるいは第２記憶手段に
記憶している校正係数を使用するかを選択スイッチによ
って選択可能としておくことで、天びんの使用目的に応
じた測定が可能となる。
＜実施例＞ 第１図は本発明実施例の構成を示すブロック図である。
荷重検出部１は、皿1aに係合する平衝機構1bと、その平
衝機構1bの平衝状態を検出するバランスセンサ1cと、そ
のバランスセンサ1cによる検出結果が常に“平衝状態”
を保つような電磁力を発生するようフィードバック制御
される電磁力発生部1dによって構成され、電磁力発生部
1dはその発生力に比例した電気信号を出力する 電磁力発生部1dの出力信号はローパスフィルタ２を介し
てＡ−Ｄ変換器３に導入され、ここでデジタル化された
後に制御部４に採り込まれる。
衝機構1bの平衝状態を検出するバランスセンサ1cと、そ
のバランスセンサ1cによる検出結果が常に“平衝状態”
を保つような電磁力を発生するようフィードバック制御
される電磁力発生部1dによって構成され、電磁力発生部
1dはその発生力に比例した電気信号を出力する 電磁力発生部1dの出力信号はローパスフィルタ２を介し
てＡ−Ｄ変換器３に導入され、ここでデジタル化された
後に制御部４に採り込まれる。
制御部４はマイクロコンピュータによって構成され、CP
U4a,ROM4b,RAM4c等を有している。ROM4bには後述するプ
ログラムが書き込まれているとともに、RAM4cには通常
のワークエリアの他に、測定ルーチンにおいて質量換算
に実際に供される校正係数を記憶するレジスタＸと、良
好な環境下で得られた最新の校正係数を記憶するレジス
タＹのエリアが設定されている。
U4a,ROM4b,RAM4c等を有している。ROM4bには後述するプ
ログラムが書き込まれているとともに、RAM4cには通常
のワークエリアの他に、測定ルーチンにおいて質量換算
に実際に供される校正係数を記憶するレジスタＸと、良
好な環境下で得られた最新の校正係数を記憶するレジス
タＹのエリアが設定されている。
制御部４には、Ａ−Ｄ変換器３の他に、計量値を表示す
るための表示器５、校正時の環境状態が悪かった場合に
点灯される第１の警告ランプ６、悪い環境下で得られた
校正係数を通常の測定ルーチンで使用することを選択し
た場合に点灯する第２の警告ランプ７、およびこの警告
ランプ６の点灯状態において現時点で得られた校正係数
か、あるいはRAM4c内に格納されている、良好な環境下
で得られた最新の校正係数のいずれかを選択するための
選択スイッチ８が接続されている。
るための表示器５、校正時の環境状態が悪かった場合に
点灯される第１の警告ランプ６、悪い環境下で得られた
校正係数を通常の測定ルーチンで使用することを選択し
た場合に点灯する第２の警告ランプ７、およびこの警告
ランプ６の点灯状態において現時点で得られた校正係数
か、あるいはRAM4c内に格納されている、良好な環境下
で得られた最新の校正係数のいずれかを選択するための
選択スイッチ８が接続されている。
第２図はROM4bに書き込まれたプログラムの内容を示す
フローチャートで、以下、この図を参照しつつ本発明実
施例の作用を述べる。
フローチャートで、以下、この図を参照しつつ本発明実
施例の作用を述べる。
通常の測定ルーチンにおいて校正指令が発生することに
より、校正ルーチンに入る（Ａ）。
より、校正ルーチンに入る（Ａ）。
校正ルーチンでは、質量があらかじめ記憶されている内
蔵分銅もしくは基準分銅を平衝機構1bもしくは皿1aに負
荷し、その状態での電磁力発生部1dの出力のデジタル変
換データd1.d2.d3…を採り込み（Ｂ）、負荷されている
質量値とから校正係数Ｚを算出し（Ｃ）、その値を一旦
RAM4c内に記憶する（Ｄ）。この校正係数Ｚの算出後に
内蔵分銅または基準分銅を除去して校正を終了する
（Ｅ）。
蔵分銅もしくは基準分銅を平衝機構1bもしくは皿1aに負
荷し、その状態での電磁力発生部1dの出力のデジタル変
換データd1.d2.d3…を採り込み（Ｂ）、負荷されている
質量値とから校正係数Ｚを算出し（Ｃ）、その値を一旦
RAM4c内に記憶する（Ｄ）。この校正係数Ｚの算出後に
内蔵分銅または基準分銅を除去して校正を終了する
（Ｅ）。
次に、通常の測定ルーチンに移行する前に、校正時に採
り込んだデータd1.d2.d3…のばらつきの程度から、今回
の感度校正時の環境状態が、あらかじめ設定されている
天びん仕様を満足する範囲内であるか否かを判別する
（Ｆ）。
り込んだデータd1.d2.d3…のばらつきの程度から、今回
の感度校正時の環境状態が、あらかじめ設定されている
天びん仕様を満足する範囲内であるか否かを判別する
（Ｆ）。
そして、仕様を満足する環境であるならば、今回算出し
た校正係数ＺをRAM4c内に設定されているレジスタＸお
よびＹの双方に格納し（Ｇ）、測定ルーチンに戻る
（Ｈ）。
た校正係数ＺをRAM4c内に設定されているレジスタＸお
よびＹの双方に格納し（Ｇ）、測定ルーチンに戻る
（Ｈ）。
また、仕様を満足しない環境であると判別された場合に
は、第１の警告ランプ６を点灯するとともに、使用者に
よる選択スイッチ８の操作を持ち、今回の校正係数Ｚが
選択された場合にはレジスタＸにＺを格納し（Ｉ）、か
つ、第２の警告ランプ７を点灯し（Ｊ）、今回の校正係
数Ｚが選択されなかった場合には、レジスタＹに格納さ
れている値と同じ値をレジスタＸに格納して（Ｋ）、そ
れぞれ測定ルーチンに戻る（Ｈ）。
は、第１の警告ランプ６を点灯するとともに、使用者に
よる選択スイッチ８の操作を持ち、今回の校正係数Ｚが
選択された場合にはレジスタＸにＺを格納し（Ｉ）、か
つ、第２の警告ランプ７を点灯し（Ｊ）、今回の校正係
数Ｚが選択されなかった場合には、レジスタＹに格納さ
れている値と同じ値をレジスタＸに格納して（Ｋ）、そ
れぞれ測定ルーチンに戻る（Ｈ）。
以上のプログラムにより、感度校正が行われた時の環境
が天びん仕様を満足していれば、得られた校正係数Ｚは
そのまま以降の測定ルーチンで使用されるとともに、良
好な環境下で得られた校正係数の最新のものが常にレジ
スタＹに格納され、また、感度校正が行われた時の環境
が天びん仕様を満足していなければ、第１の警告ランプ
６の点灯により、今回の感度校正動作で得られた校正係
数Ｚを選択するか、あるいはレジスタＹに格納されてい
る良好環境下での最新の校正係数を選択するかを使用者
が決定することができ、使用目的に応じた校正係数のも
とに測定動作を実行することができる。
が天びん仕様を満足していれば、得られた校正係数Ｚは
そのまま以降の測定ルーチンで使用されるとともに、良
好な環境下で得られた校正係数の最新のものが常にレジ
スタＹに格納され、また、感度校正が行われた時の環境
が天びん仕様を満足していなければ、第１の警告ランプ
６の点灯により、今回の感度校正動作で得られた校正係
数Ｚを選択するか、あるいはレジスタＹに格納されてい
る良好環境下での最新の校正係数を選択するかを使用者
が決定することができ、使用目的に応じた校正係数のも
とに測定動作を実行することができる。
また、天びん仕様を満足しない環境下で得られた校正係
数を選択した場合には、その旨が第２の警告ランプ７の
点灯によって使用者に報知されることになり、使用者は
そのことを知ったうえで測定を行うことができる。
数を選択した場合には、その旨が第２の警告ランプ７の
点灯によって使用者に報知されることになり、使用者は
そのことを知ったうえで測定を行うことができる。
なお、単に感度校正時の環境が天びん仕様を満足するか
否かにとどまらず、その時点での温度や湿度等の環境デ
ータを、計量値とともに定量的に報知するように構成す
ることもでき、この場合、先の実施例では校正係数をそ
のまま使用するか、良好な環境下で得られた最新の校正
係数を使用するかを使用者が判断するための目安とな
る。
否かにとどまらず、その時点での温度や湿度等の環境デ
ータを、計量値とともに定量的に報知するように構成す
ることもでき、この場合、先の実施例では校正係数をそ
のまま使用するか、良好な環境下で得られた最新の校正
係数を使用するかを使用者が判断するための目安とな
る。
＜発明の効果＞ 以上説明したように、本発明によれば、天びん仕様を満
足する環境下で感度校正を行った最新の係数を記憶し、
今回の感度校正時の環境が悪い場合には、今回得られた
校正係数を使用するか、既に記憶されている上記の良好
環境下で得られた校正係数を用いるかを、選択スイッチ
によって選択可能としているので、使用者は天びんの使
用目的に応じて、例えば今回の悪環境下での校正係数を
用いてそのまま測定したり、あるいは今回の校正係数を
用いずに先の良好環境下で校正係数を呼び出して測定し
たり、更には良好な環境下に天びんを設置しなおして感
度校正を行った後に測定をする、等の選択を行うことが
可能となり、天びんの使用の柔軟性が大幅に向上する。
足する環境下で感度校正を行った最新の係数を記憶し、
今回の感度校正時の環境が悪い場合には、今回得られた
校正係数を使用するか、既に記憶されている上記の良好
環境下で得られた校正係数を用いるかを、選択スイッチ
によって選択可能としているので、使用者は天びんの使
用目的に応じて、例えば今回の悪環境下での校正係数を
用いてそのまま測定したり、あるいは今回の校正係数を
用いずに先の良好環境下で校正係数を呼び出して測定し
たり、更には良好な環境下に天びんを設置しなおして感
度校正を行った後に測定をする、等の選択を行うことが
可能となり、天びんの使用の柔軟性が大幅に向上する。
第１図は本発明実施例の構成を示すブロック図、 第２図はそのROM4bに書き込まれたプログラムの内容を
示すフローチャートである。 １……荷重検出部 1a……皿 1b……平衝機構 1c……バランスセンサ 1d……電磁力発生部 ２……ローパスフィルタ ３……Ａ−Ｄ変換器 ４……制御部 4a……CPU 4b……ROM 4c……RAM ５……表示部 ６……第１の警告ランプ ７……第２の警告ランプ ８……選択スイッチ
示すフローチャートである。 １……荷重検出部 1a……皿 1b……平衝機構 1c……バランスセンサ 1d……電磁力発生部 ２……ローパスフィルタ ３……Ａ−Ｄ変換器 ４……制御部 4a……CPU 4b……ROM 4c……RAM ５……表示部 ６……第１の警告ランプ ７……第２の警告ランプ ８……選択スイッチ
フロントページの続き (72)発明者 島内 邦夫 京都府京都市中京区西ノ京桑原町１番地 株式会社島津製作所三条工場内 (72)発明者 近藤 仁 京都府京都市中京区西ノ京桑原町１番地 株式会社島津製作所三条工場内 (56)参考文献 特開 平１−221623（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】測定状態における荷重検出部の出力データ
から、校正係数を用いた演算により計量値を決定する演
算部と、校正用質量を負荷した状態での上記荷重検出部
の出力データから上記校正係数を算出する校正係数算出
手段と、その校正結果を記憶する記憶手段を備えた天び
んにおいて、感度校正時における上記荷重検出部の出力
データから校正時の環境状態があらかじめ設定された許
容限度内であるか否かを判別する校正環境判別手段と、
その判別結果に基づいて校正時の環境状態が許容限度内
である場合に算出された校正係数を更新記憶する第２記
憶手段と、上記判別結果に基づいて校正時の環境状態が
許容限度外である場合にその校正係数まはた上記第２記
憶手段の内容のいずれを上記演算部による計量値決定に
供させるかを選択するための選択スイッチを有すること
を特徴とする電子天びん。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2202777A JPH0743275B2 (ja) | 1990-07-30 | 1990-07-30 | 電子天びん |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2202777A JPH0743275B2 (ja) | 1990-07-30 | 1990-07-30 | 電子天びん |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0486530A JPH0486530A (ja) | 1992-03-19 |
| JPH0743275B2 true JPH0743275B2 (ja) | 1995-05-15 |
Family
ID=16463015
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2202777A Expired - Fee Related JPH0743275B2 (ja) | 1990-07-30 | 1990-07-30 | 電子天びん |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0743275B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11988545B2 (en) | 2019-03-13 | 2024-05-21 | A&D Company, Limited | Method for proposing installation environment and metering device therefor |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0718738B2 (ja) * | 1988-02-29 | 1995-03-06 | 株式会社島津製作所 | 電子天びん |
-
1990
- 1990-07-30 JP JP2202777A patent/JPH0743275B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0486530A (ja) | 1992-03-19 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080515 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090515 Year of fee payment: 14 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100515 Year of fee payment: 15 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |