JPH0743324B2 - 部品リード線のクリンチ状態検出方法 - Google Patents
部品リード線のクリンチ状態検出方法Info
- Publication number
- JPH0743324B2 JPH0743324B2 JP63063118A JP6311888A JPH0743324B2 JP H0743324 B2 JPH0743324 B2 JP H0743324B2 JP 63063118 A JP63063118 A JP 63063118A JP 6311888 A JP6311888 A JP 6311888A JP H0743324 B2 JPH0743324 B2 JP H0743324B2
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- Japan
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- light
- illumination
- lead wire
- clinch
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- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は、基板実装部品の部品リード線のクリンチ状態
検出方法に関する。
検出方法に関する。
「従来の技術」 従来一般に、基板実装部品の部品リード線のクリンチ状
態を検出する方法には第２図のように、基板に対して、
全周にわたり浅い角度から斜方照明を行なうことによ
り、鏡面に近いランド部からのカメラへの入射光をなく
し、突起しているリード線の反射光のみを得る方法方式
が行なわれていた。
態を検出する方法には第２図のように、基板に対して、
全周にわたり浅い角度から斜方照明を行なうことによ
り、鏡面に近いランド部からのカメラへの入射光をなく
し、突起しているリード線の反射光のみを得る方法方式
が行なわれていた。
「発明が解決しようとする課題」 しかし、ランド部からの入射光を少なくすることを重要
視して基板に対して非常に浅い角度をもって照明するた
めリード線からの反射を十分に得る（第３図）照明を行
なうことができず、検出は不安定であった。（第４図）
また、ランド部も完全には除去できない（雑音が残
る）。また、シルク印刷のある基板（第５図）にあって
は、リード線とシルク印刷が重なってしまい、第６図の
ようになり、正確な長さが計れなくなるという問題点が
あった。
視して基板に対して非常に浅い角度をもって照明するた
めリード線からの反射を十分に得る（第３図）照明を行
なうことができず、検出は不安定であった。（第４図）
また、ランド部も完全には除去できない（雑音が残
る）。また、シルク印刷のある基板（第５図）にあって
は、リード線とシルク印刷が重なってしまい、第６図の
ようになり、正確な長さが計れなくなるという問題点が
あった。
「課題を解決するための手段」 以上のような問題を解決するため、基板に、直線偏光し
た斜方照明光と、この斜方照明の偏光とは直角方向の偏
光となる直線偏光した落射照明光とで照明し、その反射
光の、照明した偏光と同一方向成分をそれぞれ受光し、
それぞれ得られた画像の対応する位置の画素ごとに量子
化された輝度を減算し、減算した結果が負のものは０と
するデジタル画像処理を行う。
た斜方照明光と、この斜方照明の偏光とは直角方向の偏
光となる直線偏光した落射照明光とで照明し、その反射
光の、照明した偏光と同一方向成分をそれぞれ受光し、
それぞれ得られた画像の対応する位置の画素ごとに量子
化された輝度を減算し、減算した結果が負のものは０と
するデジタル画像処理を行う。
「作 用」 この方法によれば、シルク印刷が重なった状態であって
も、確実にシルク印刷を除去でき、また、ランド部の映
像も完全に除去できる（雑音も残らない）。また、リー
ド線も最適な角度から照明しているため安定して検出で
きる。
も、確実にシルク印刷を除去でき、また、ランド部の映
像も完全に除去できる（雑音も残らない）。また、リー
ド線も最適な角度から照明しているため安定して検出で
きる。
「実施例」 以下、本発明の一実施例を第１図を用いて説明する。
カメラA1とカメラB2は、光路にハーフミラー７、ミラー
８を配置することにより、同一視野を同一方向から撮像
している。レンズ３、４前面に取りつけてある偏光フィ
ルター５、６は、互いに90゜方位角に差のある直線偏光
を透過するようになっており偏光フィルターA5はリング
状偏光板A10より射出する偏光照明の方位角に等しく偏
光フィルターB6は、リング状偏光板B12より射出する偏
光照明の方位角に等い。
８を配置することにより、同一視野を同一方向から撮像
している。レンズ３、４前面に取りつけてある偏光フィ
ルター５、６は、互いに90゜方位角に差のある直線偏光
を透過するようになっており偏光フィルターA5はリング
状偏光板A10より射出する偏光照明の方位角に等しく偏
光フィルターB6は、リング状偏光板B12より射出する偏
光照明の方位角に等い。
リング状照明A9は、落射照明装置であり、基板平面の正
反射光がカメラに入射するように設置してある。
反射光がカメラに入射するように設置してある。
特にランド部は鏡面に近いため非常に高い輝度となる。
リード線は平面的でないため、リード線からの正反射光
はほとんどカメラに入射しないし、シルク印刷は拡散面
であるため、これらの輝度はランド部と比較して十分低
い。つまり、リング状照明Ａはリード線のかぶさった部
分を除くランド部のみを検出する役割である。第５図を
視野とすれば、落射照明のみのときのカメラＡの画像は
第７図のようになる。
リード線は平面的でないため、リード線からの正反射光
はほとんどカメラに入射しないし、シルク印刷は拡散面
であるため、これらの輝度はランド部と比較して十分低
い。つまり、リング状照明Ａはリード線のかぶさった部
分を除くランド部のみを検出する役割である。第５図を
視野とすれば、落射照明のみのときのカメラＡの画像は
第７図のようになる。
また、リング状照明B11はリード線反射最適位置からの
斜方照明装置で、この偏光を透過するカメラＢでは、リ
ード線、ランド部、シルク印刷すべてが比較的まんべん
なく高い輝度となる。
斜方照明装置で、この偏光を透過するカメラＢでは、リ
ード線、ランド部、シルク印刷すべてが比較的まんべん
なく高い輝度となる。
（第８図） 一方この斜方照明だけの場合のカメラＡの画像は第９図
のようになる。
のようになる。
これは、リード線、ランド部が、共に反射により偏光方
位角を保持するのに十分なめらかな面であるのに対し、
シルク印刷の方は、複雑な面状態をもち、反射時に偏光
が解消してしまうため、偏光フィルタＡを通過する光を
含んだものとなることによる。ここで２つの照明を同時
に点灯した時の画像を考えればカメラＢについては第８
図に等しくカメラＡについては第10図のようになる。
位角を保持するのに十分なめらかな面であるのに対し、
シルク印刷の方は、複雑な面状態をもち、反射時に偏光
が解消してしまうため、偏光フィルタＡを通過する光を
含んだものとなることによる。ここで２つの照明を同時
に点灯した時の画像を考えればカメラＢについては第８
図に等しくカメラＡについては第10図のようになる。
それぞれのカメラから得られた画像をデジタル画像処理
装置に入力して、第８図の画像から第10図画像を引く
（輝度減算）操作を行ない、マイナスの結果となる画素
は０とすると、第11図のような結果となり、雑音のない
リード線のみが抽出された画像が得られる。
装置に入力して、第８図の画像から第10図画像を引く
（輝度減算）操作を行ない、マイナスの結果となる画素
は０とすると、第11図のような結果となり、雑音のない
リード線のみが抽出された画像が得られる。
「発明の効果」 従来、ランド部、シルク部が雑音となって十分信頼性の
高い部品リード線のクリンチ状態の検出ができなかった
が、本発明により、ランド部、シルク部は完全に除去さ
れ、信頼性の高い部品リード線のクリンチ状態の検出が
可能となった。
高い部品リード線のクリンチ状態の検出ができなかった
が、本発明により、ランド部、シルク部は完全に除去さ
れ、信頼性の高い部品リード線のクリンチ状態の検出が
可能となった。
第１図は、本発明の一実施例のシステム構成図、第２図
は、照明位置の説明図、第３図は、最適な照明位置から
の照明により得られる画像例、第４図は、ランド部から
の入射光の少ない位置からの照明により得られる画像
例、第５図は、シルク印刷のある基板の例、第６図は、
シルク印刷のある基板に対して、ランド部からの入射光
の少ない位置から照明した時得られる画像例、第７図
は、落射照明のみにより得られるカメラＡの画像、第８
図は、最適な照明位置からの照明により得られるカメラ
Ｂの画像、第９図は、最適な照明位置からの照明により
得られるカメラＡの画像、第10図は、落射照明と最適な
照明位置からの照明の両方の使用により得られるカメラ
Ａの画像、第11図は、結果の画像である。
は、照明位置の説明図、第３図は、最適な照明位置から
の照明により得られる画像例、第４図は、ランド部から
の入射光の少ない位置からの照明により得られる画像
例、第５図は、シルク印刷のある基板の例、第６図は、
シルク印刷のある基板に対して、ランド部からの入射光
の少ない位置から照明した時得られる画像例、第７図
は、落射照明のみにより得られるカメラＡの画像、第８
図は、最適な照明位置からの照明により得られるカメラ
Ｂの画像、第９図は、最適な照明位置からの照明により
得られるカメラＡの画像、第10図は、落射照明と最適な
照明位置からの照明の両方の使用により得られるカメラ
Ａの画像、第11図は、結果の画像である。
Claims (1)
- 【請求項１】基板に光を照射し、その反射光を用いて基
板実装部品の部品リード線のクリンチ状態を検出する方
法において、 基板、直線偏光した斜方照明光と、この斜方照明の偏光
とは直角方向の偏光となる直線偏光した落射照明光とで
照明し、 その反射光の、照明した偏光と同一方向成分をそれぞれ
受光し、それぞれ得られた画像の対応する位置の画素ご
とに量子化された輝度を減算し、減算した結果が負のも
のは０とするデジタル画像処理を行うことを特徴とする
部品リード線のクリンチ状態検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63063118A JPH0743324B2 (ja) | 1988-03-18 | 1988-03-18 | 部品リード線のクリンチ状態検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63063118A JPH0743324B2 (ja) | 1988-03-18 | 1988-03-18 | 部品リード線のクリンチ状態検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01237440A JPH01237440A (ja) | 1989-09-21 |
| JPH0743324B2 true JPH0743324B2 (ja) | 1995-05-15 |
Family
ID=13220052
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63063118A Expired - Lifetime JPH0743324B2 (ja) | 1988-03-18 | 1988-03-18 | 部品リード線のクリンチ状態検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0743324B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001343337A (ja) * | 2000-06-05 | 2001-12-14 | Nano System Kk | 基板欠陥検出装置 |
| JP4873231B2 (ja) * | 2006-06-02 | 2012-02-08 | 株式会社テック電子工業 | 偏光選択型撮像装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59231402A (ja) * | 1983-06-15 | 1984-12-26 | Hitachi Ltd | 生セラミックス基材上の配線パターン検出方法 |
| JPS6137922A (ja) * | 1984-07-27 | 1986-02-22 | Aichi Steel Works Ltd | 連続通電加熱方法 |
-
1988
- 1988-03-18 JP JP63063118A patent/JPH0743324B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01237440A (ja) | 1989-09-21 |
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