JPH0743397B2 - 光学式直流変成器 - Google Patents
光学式直流変成器Info
- Publication number
- JPH0743397B2 JPH0743397B2 JP63297066A JP29706688A JPH0743397B2 JP H0743397 B2 JPH0743397 B2 JP H0743397B2 JP 63297066 A JP63297066 A JP 63297066A JP 29706688 A JP29706688 A JP 29706688A JP H0743397 B2 JPH0743397 B2 JP H0743397B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical
- component
- obtaining
- sensor
- magnetic field
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/24—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
- G01R15/247—Details of the circuitry or construction of devices covered by G01R15/241 - G01R15/246
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光学式変成器に係り、特に、直流の電流,電
圧を測定するのに好適な光学式直流変成器に関する。
圧を測定するのに好適な光学式直流変成器に関する。
従来の光学式電流,電圧センサは、例えば第9図に光学
式電流センサとして示すように、発光光源1と、光ファ
イバ2と、偏光子3と、鉛ガラス等の磁気光学効果を有
するファラデーセル4と、検光子5と、光ファイバ6,7
と、光−電気変換回路8,9と、演算回路10とからなって
いる。
式電流センサとして示すように、発光光源1と、光ファ
イバ2と、偏光子3と、鉛ガラス等の磁気光学効果を有
するファラデーセル4と、検光子5と、光ファイバ6,7
と、光−電気変換回路8,9と、演算回路10とからなって
いる。
このような光学式電流センサにおいては、被測定電流に
より生ずる磁界Hに対応した磁気光学効果による光偏光
面の回転が生じ、磁界Hがない場合に比べて入射光I0の
偏光面がθだけ回転する。この出射光を互いに直交する
二つの偏光成分に分け、さらに光−電気変換回路8,9に
通して出力V1,V2を得る。k1,k2を比例定数とすると、次
の(1),(2)式が得られる。
より生ずる磁界Hに対応した磁気光学効果による光偏光
面の回転が生じ、磁界Hがない場合に比べて入射光I0の
偏光面がθだけ回転する。この出射光を互いに直交する
二つの偏光成分に分け、さらに光−電気変換回路8,9に
通して出力V1,V2を得る。k1,k2を比例定数とすると、次
の(1),(2)式が得られる。
V1=k1I0(1+sin2θ) ……(1) V2=k2I0(1−sin2θ) ……(2) 今、何らかの方法でk1=k2となるように調整できたとす
ると、次の(3)式が得られる。
ると、次の(3)式が得られる。
sin2θ≪1の範囲ではsin2θ≒2θとなり、ファラデー
回転角θに比例した出力すなわち導体電流に比例した出
力Vを得ることができる。
回転角θに比例した出力すなわち導体電流に比例した出
力Vを得ることができる。
この検出方式は、前記(3)式を用いるため、被測定量
が直流電流でも検出できる。
が直流電流でも検出できる。
しかし、一般に、発光光源1,光ファイバ2,偏光子3,ファ
ラデーセル4,検光子5,光ファイバ6,7,光−電気変換回路
8,9などの光伝送部分において、温度特性や経時変化な
どにより光量の伝送特性が変化し、k1=k2の状態を保つ
ことが非常に難しい。k1≠k2となると、(3)式での分
子V1−V2の誤差が大幅に増加し、直流電流を検出する際
の誤差が大きくなるという欠点があった。直流電圧の測
定においても、(3)式を用いるため、同じような欠点
があった。
ラデーセル4,検光子5,光ファイバ6,7,光−電気変換回路
8,9などの光伝送部分において、温度特性や経時変化な
どにより光量の伝送特性が変化し、k1=k2の状態を保つ
ことが非常に難しい。k1≠k2となると、(3)式での分
子V1−V2の誤差が大幅に増加し、直流電流を検出する際
の誤差が大きくなるという欠点があった。直流電圧の測
定においても、(3)式を用いるため、同じような欠点
があった。
この点を改良し、直流電圧・電界を測れるようにする試
みとして、特開昭57−141562号に記載のように、一定直
流レベルの上に一定振幅の交流を重畳させた光強度信号
を光応用電圧センサに入射させ、その出射光を電気信号
に変換した後、この電気信号から交流信号成分のみを除
いた信号と交流信号成分のみを求めた信号との二つの信
号に分け、これら二つの信号の比を求めるとともに、入
射光での直流成分と交流成分との比を求め、これら二つ
の差を演算することも考えられている。すなわち、光伝
送経路での光量変動は、もともとの発光強度に含まれる
直流成分,交流成分と同じ割合いで表われるため、光伝
送経路中ではその比はほぼ一定とみなし得ることに着目
し、その比を用いてセンサからの検出信号を補正しよう
とするものである。
みとして、特開昭57−141562号に記載のように、一定直
流レベルの上に一定振幅の交流を重畳させた光強度信号
を光応用電圧センサに入射させ、その出射光を電気信号
に変換した後、この電気信号から交流信号成分のみを除
いた信号と交流信号成分のみを求めた信号との二つの信
号に分け、これら二つの信号の比を求めるとともに、入
射光での直流成分と交流成分との比を求め、これら二つ
の差を演算することも考えられている。すなわち、光伝
送経路での光量変動は、もともとの発光強度に含まれる
直流成分,交流成分と同じ割合いで表われるため、光伝
送経路中ではその比はほぼ一定とみなし得ることに着目
し、その比を用いてセンサからの検出信号を補正しよう
とするものである。
しかし、この方法では、センサからの出射光の交流成分
にもセンサ中でのポッケルス効果による変調分が重畳さ
れることに対する配慮がなく、直流電圧を測定する際に
非常に誤差が大きいという欠点がある。
にもセンサ中でのポッケルス効果による変調分が重畳さ
れることに対する配慮がなく、直流電圧を測定する際に
非常に誤差が大きいという欠点がある。
さらに、特開昭59−088665号に記載のように、光応用磁
気センサからの出射光に含まれる交流成分を含め、それ
を用いて検出信号を補正する方法も考えられているが、
被測定直流電流に含まれる交流電流分が小さいと測定で
きないという欠点がある。また、被測定直流電流に含ま
れる交流電流分の周波数が変わると測定誤差が大きくな
り、さらに、交流電流分の周波数が低いとセンサとして
の応答速度が非常に遅いなどの欠点がある。
気センサからの出射光に含まれる交流成分を含め、それ
を用いて検出信号を補正する方法も考えられているが、
被測定直流電流に含まれる交流電流分が小さいと測定で
きないという欠点がある。また、被測定直流電流に含ま
れる交流電流分の周波数が変わると測定誤差が大きくな
り、さらに、交流電流分の周波数が低いとセンサとして
の応答速度が非常に遅いなどの欠点がある。
本発明の目的は、光伝送経路中に光量変動があっても、
その変動分を演算回路中で補正でき、直流電流または直
流電圧を高精度かつ安定に測定可能な光応用電流,電圧
変成器を提供することである。
その変動分を演算回路中で補正でき、直流電流または直
流電圧を高精度かつ安定に測定可能な光応用電流,電圧
変成器を提供することである。
本発明は、センサ自体に外部から一定の交流磁界または
交流電界を印加し、センサからの出射光を少なくとも二
つの光信号に分け、各光信号を電気信号に変換した後、
各電気信号を交流信号成分と交流信号を除去した成分と
に分け、交流信号成分により前記交流信号を除去した成
分を補正し、前記温度特性,経時変化等に起因する検出
誤差を常時補正するようにしたものである。
交流電界を印加し、センサからの出射光を少なくとも二
つの光信号に分け、各光信号を電気信号に変換した後、
各電気信号を交流信号成分と交流信号を除去した成分と
に分け、交流信号成分により前記交流信号を除去した成
分を補正し、前記温度特性,経時変化等に起因する検出
誤差を常時補正するようにしたものである。
すなわち、本発明は、上記目的を達成するために、一定
レベルの光を出射する発光光源と、前記出射光を偏光さ
せる偏光子と、磁気光学的効果または電気光学的効果を
前記偏光に与えるセンサと、このセンサからの出射光路
に配置された検光子と、検光子から出射する少なくとも
二つの光信号をそれぞれ電気信号に変換する光−電気変
換回路と、各電気信号から前記センサに印加される磁界
または電界の強さを求める演算回路とを含む光学式直流
変成器において、前記センサが、そのセンサの中に一定
の交流磁界または交流電界を発生させる手段を備え、前
記演算回路が、各電気信号から前記交流成分のみを求め
る手段と、各交流成分の比を求める手段と、前記交流成
分を除去した各電気信号を求める手段と、前記各交流成
分の比と前記交流成分を除去した一方の電気信号との積
を求める手段と、前記積と前記交流成分を除去した他方
の電気信号との差を求める手段と、前記積と前記交流成
分を除去した他方の電気信号との和を求める手段と、前
記差と和との比を用いて前記磁界または電界の強さを求
める手段とを備えた光学式直流変成器を提案するもので
ある。
レベルの光を出射する発光光源と、前記出射光を偏光さ
せる偏光子と、磁気光学的効果または電気光学的効果を
前記偏光に与えるセンサと、このセンサからの出射光路
に配置された検光子と、検光子から出射する少なくとも
二つの光信号をそれぞれ電気信号に変換する光−電気変
換回路と、各電気信号から前記センサに印加される磁界
または電界の強さを求める演算回路とを含む光学式直流
変成器において、前記センサが、そのセンサの中に一定
の交流磁界または交流電界を発生させる手段を備え、前
記演算回路が、各電気信号から前記交流成分のみを求め
る手段と、各交流成分の比を求める手段と、前記交流成
分を除去した各電気信号を求める手段と、前記各交流成
分の比と前記交流成分を除去した一方の電気信号との積
を求める手段と、前記積と前記交流成分を除去した他方
の電気信号との差を求める手段と、前記積と前記交流成
分を除去した他方の電気信号との和を求める手段と、前
記差と和との比を用いて前記磁界または電界の強さを求
める手段とを備えた光学式直流変成器を提案するもので
ある。
本発明は、また、前記センサが、そのセンサの中に一定
の交流磁界または交流電界を発生させる手段を備え、前
記演算回路が、各電気信号から前記交流成分のみを求め
る手段と、前記交流成分を除去した各電気信号を求める
手段と、各光信号に対応して前記交流成分を除去した電
気信号と交流成分との各比を求める手段と、前記各比の
信号の差を求める手段と、前記各比の信号の和を求める
手段と、前記差と和との比を用いて前記磁界または電界
の強さを求める手段とを備えた光学式直流変成器を提案
するものである。
の交流磁界または交流電界を発生させる手段を備え、前
記演算回路が、各電気信号から前記交流成分のみを求め
る手段と、前記交流成分を除去した各電気信号を求める
手段と、各光信号に対応して前記交流成分を除去した電
気信号と交流成分との各比を求める手段と、前記各比の
信号の差を求める手段と、前記各比の信号の和を求める
手段と、前記差と和との比を用いて前記磁界または電界
の強さを求める手段とを備えた光学式直流変成器を提案
するものである。
前記磁気光学的効果を有するセンサは、具体的には、フ
ァラデーセルからなり、前記交流磁界発生手段は、ファ
ラデーセルの少なくとも一部に巻き回され一定の交流磁
界を発生するコイルと、このコイルに交流電力を供給す
る交流電源とを含む。
ァラデーセルからなり、前記交流磁界発生手段は、ファ
ラデーセルの少なくとも一部に巻き回され一定の交流磁
界を発生するコイルと、このコイルに交流電力を供給す
る交流電源とを含む。
前記磁気光学的効果を有するセンサは、ギャップ付き鉄
心のギャップに挟持されたファラデーセルとすることも
でき、その場合は、前記交流磁界発生手段が、前記ギャ
ップ付き鉄心の少なくとも一部に巻き回され一定の交流
磁界を発生コイルと、当該コイルに交流電力を供給する
交流電源とを含む。
心のギャップに挟持されたファラデーセルとすることも
でき、その場合は、前記交流磁界発生手段が、前記ギャ
ップ付き鉄心の少なくとも一部に巻き回され一定の交流
磁界を発生コイルと、当該コイルに交流電力を供給する
交流電源とを含む。
前記磁気光学的効果を有するセンサは、被測定磁界が印
加されるセルを含む複数のファラデーセルとし、偏波面
を保存し得る光導波路でそれらファラデーセル間を結合
してもよい。
加されるセルを含む複数のファラデーセルとし、偏波面
を保存し得る光導波路でそれらファラデーセル間を結合
してもよい。
一方、前記電気光学的効果を有するセンサが、一部分に
被測定電界が印加されるポッケルスセルからなる場合
は、前記交流電界発生手段は、ポッケルスセルの他の部
分に交流電界を印加する手段を含む。
被測定電界が印加されるポッケルスセルからなる場合
は、前記交流電界発生手段は、ポッケルスセルの他の部
分に交流電界を印加する手段を含む。
前記電気光学的効果を有するセンサも、被測定電界が印
加されるセルを含む複数のポッケルスセルとし、偏波面
を保存し得る光導波路でそれらポッケルスセル間を結合
してもよい。
加されるセルを含む複数のポッケルスセルとし、偏波面
を保存し得る光導波路でそれらポッケルスセル間を結合
してもよい。
さらに具体的には、交流成分を除去した信号を求める手
段は低域フィルタからなり、交流成分のみを求める手段
はバンドパスフィルタおよび整流回路からなり、交流成
分の比を求める手段は除算器からなり、前記各交流成分
の比と前記交流成分を除去した一方の電気信号との積を
求める手段は乗算器からなる。
段は低域フィルタからなり、交流成分のみを求める手段
はバンドパスフィルタおよび整流回路からなり、交流成
分の比を求める手段は除算器からなり、前記各交流成分
の比と前記交流成分を除去した一方の電気信号との積を
求める手段は乗算器からなる。
また、交流成分を除去した信号と交流成分のみの信号と
の比を求める手段も除算器からなる。
の比を求める手段も除算器からなる。
光学式磁気センサについて考える。センサへの入射光量
をJ0とし、被測定電流によるファラデーセルでの回転角
をθiとする。ファラデーセルに印加する交流磁界の周
波数をf,ω=2πfとして、この交流磁界によるファラ
デーセルでの回転角をθfsinωtとすると、出射端にお
いて互いに直交する二つの偏光成分は、 V1=k1J0{1+sin(2θi+2θfsinωt)} ……
(4) V2=k2J0{1−sin(2θi+2θfsinωt)} ……
(5) となる。2θi,2θfともπ/2に比べて十分小さいとす
ると、 V1=k1J0(1+2θi+2θfsinωt) =k1J0(1+2θi)+k1J02θfsinωt ……(6) V2=k2J0(1−2θi)−k2J02θfsinωt ……(7) を得る。k1,k2は光伝送経路での光量変動を含む比例定
数である。(6),(7)式の右辺第2項が交流成分の
みの信号であるから、これをとり出すことによりk1,k2
の比が求められる。(6),(7)式から交流成分のみ
を除去すると、 V1′=k1・J0(1+2θi) ……(8) V2′=k2・J0(1−2θi) ……(9) となる。前記k1,k2の比が求められていると、(8),
(9)式中のk1,k2にその補正を加えることにより、
(8),(9)式の比例係数k1,k2をほぼ同じにでき、
前記(1)〜(3)式と同様ファラデー回転角θiに比
例した出力が得られる。被測定磁界はこの回転角θiに
比例するから、被測定磁界が求められる。
をJ0とし、被測定電流によるファラデーセルでの回転角
をθiとする。ファラデーセルに印加する交流磁界の周
波数をf,ω=2πfとして、この交流磁界によるファラ
デーセルでの回転角をθfsinωtとすると、出射端にお
いて互いに直交する二つの偏光成分は、 V1=k1J0{1+sin(2θi+2θfsinωt)} ……
(4) V2=k2J0{1−sin(2θi+2θfsinωt)} ……
(5) となる。2θi,2θfともπ/2に比べて十分小さいとす
ると、 V1=k1J0(1+2θi+2θfsinωt) =k1J0(1+2θi)+k1J02θfsinωt ……(6) V2=k2J0(1−2θi)−k2J02θfsinωt ……(7) を得る。k1,k2は光伝送経路での光量変動を含む比例定
数である。(6),(7)式の右辺第2項が交流成分の
みの信号であるから、これをとり出すことによりk1,k2
の比が求められる。(6),(7)式から交流成分のみ
を除去すると、 V1′=k1・J0(1+2θi) ……(8) V2′=k2・J0(1−2θi) ……(9) となる。前記k1,k2の比が求められていると、(8),
(9)式中のk1,k2にその補正を加えることにより、
(8),(9)式の比例係数k1,k2をほぼ同じにでき、
前記(1)〜(3)式と同様ファラデー回転角θiに比
例した出力が得られる。被測定磁界はこの回転角θiに
比例するから、被測定磁界が求められる。
また、(6)式の第1項と第2項の比をとり、(7)式
の第1項と第2項の比をとり、それらの差をとると、フ
ァラデー回転角に比例した出力が得られる。
の第1項と第2項の比をとり、それらの差をとると、フ
ァラデー回転角に比例した出力が得られる。
一方、光学式電界センサにおいても、被測定電界による
ポツケルスセルでの位相差をΓiとし、交流電界による
ポツケルスセルでの位相差をΓfsinωtとすると、光学
式電界センサ同様、 V1=k1′J0{1+sin(Γi+Γfsinωt)} ……(1
0) V2=k2′J0{1−sin(Γi+Γfsinωt)} ……(1
1) となる。Γi,Γfともπ/2に比べて十分小さいとする
と、 V1=k1′J0(1+Γi+Γfsinωt) =k1J0(1+Γi)+k1′J0Γfsinωt ……(12) V2=k2′J0(1−Γi)−k2′J0Γfsinωt……(13) を得る。すなわち、前記光電圧センサと同様に、位相差
Γiに比例した出力が得られ、被測定電界はこの位相差
Γiに比例するから、被測定電界が求められる。
ポツケルスセルでの位相差をΓiとし、交流電界による
ポツケルスセルでの位相差をΓfsinωtとすると、光学
式電界センサ同様、 V1=k1′J0{1+sin(Γi+Γfsinωt)} ……(1
0) V2=k2′J0{1−sin(Γi+Γfsinωt)} ……(1
1) となる。Γi,Γfともπ/2に比べて十分小さいとする
と、 V1=k1′J0(1+Γi+Γfsinωt) =k1J0(1+Γi)+k1′J0Γfsinωt ……(12) V2=k2′J0(1−Γi)−k2′J0Γfsinωt……(13) を得る。すなわち、前記光電圧センサと同様に、位相差
Γiに比例した出力が得られ、被測定電界はこの位相差
Γiに比例するから、被測定電界が求められる。
以下、本発明による光学式直流変成器の一実施例を第1
図および第2図により説明する。
図および第2図により説明する。
本実施例の光学式直流変成器は、第1図に示すように、
発光光源1と、光ファイバ2と、偏光子3と、ファラデ
ーセル4と、検光子5と、光ファイバ6,7と、光−電気
変換回路8,9と演算回路10と、交流電源20と、交流磁界
を発生するためのコイル21とからなる。演算回路10の詳
細は第2図により後述する。
発光光源1と、光ファイバ2と、偏光子3と、ファラデ
ーセル4と、検光子5と、光ファイバ6,7と、光−電気
変換回路8,9と演算回路10と、交流電源20と、交流磁界
を発生するためのコイル21とからなる。演算回路10の詳
細は第2図により後述する。
発光光源1は、発光ダイオード,レーザダイオードなど
により一定出力の光を発光する。この光は、光ファイバ
2に導びかれた後、偏光子3で直線偏光され、ファラデ
ーセル4に入射する。ファラデーセル4では、導体15に
流れる電流により生ずる磁界に比例したファラデー回転
θiと、コイル21により外部から印加した交流磁界に比
例したファラデー回転θfsinωtが生ずる。交流電源20
の周波数f(ω=2πf)は、被測定電流または被測定
磁界に含まれる交流成分の周波数より十分大きい値に選
んでおけば良い。ファラデーセル4からの光は、セル4
の出射光端においた検光子5により、互いに直交する二
本の偏光成分Ip,Isに分けられ、光ファイバ6,7により伝
送された後、光−電気変換回路8,9に入り、電気信号に
変換される。このとき、出射端でのP偏光面に対して45
゜傾けた直線偏光を得るように偏光子3を設置すると、
前記二つの偏光成分Ip,Isとして次式を得る。
により一定出力の光を発光する。この光は、光ファイバ
2に導びかれた後、偏光子3で直線偏光され、ファラデ
ーセル4に入射する。ファラデーセル4では、導体15に
流れる電流により生ずる磁界に比例したファラデー回転
θiと、コイル21により外部から印加した交流磁界に比
例したファラデー回転θfsinωtが生ずる。交流電源20
の周波数f(ω=2πf)は、被測定電流または被測定
磁界に含まれる交流成分の周波数より十分大きい値に選
んでおけば良い。ファラデーセル4からの光は、セル4
の出射光端においた検光子5により、互いに直交する二
本の偏光成分Ip,Isに分けられ、光ファイバ6,7により伝
送された後、光−電気変換回路8,9に入り、電気信号に
変換される。このとき、出射端でのP偏光面に対して45
゜傾けた直線偏光を得るように偏光子3を設置すると、
前記二つの偏光成分Ip,Isとして次式を得る。
Ip=kp・I0・{1+sin(2θi+2θfsinωt)} …
…(14) Is=ks・I0・{1−sin(2θi+2θfsinωt)} …
…(15) ここで,kp,ksは比例定数であり、I0も含めて一般に時間
的に変動するものである。2θiおよび2θfをπ/2に
比べて十分小さくなるように選ぶと、 Ip=kp・I0(1+2θi+2θfsinωt) ……(16) Is=ks・I0(1−2θi+2θfsinωt) ……(17) を得る。
…(14) Is=ks・I0・{1−sin(2θi+2θfsinωt)} …
…(15) ここで,kp,ksは比例定数であり、I0も含めて一般に時間
的に変動するものである。2θiおよび2θfをπ/2に
比べて十分小さくなるように選ぶと、 Ip=kp・I0(1+2θi+2θfsinωt) ……(16) Is=ks・I0(1−2θi+2θfsinωt) ……(17) を得る。
このような二つの偏光成分Ip,Isは第1図での光−電気
変換回路8,9に導びかれ、演算回路10により被測定電流
または磁界に比例したファラデー回転角θiとして検出
される。第2図を参照して、その演算方法を説明する。
変換回路8,9に導びかれ、演算回路10により被測定電流
または磁界に比例したファラデー回転角θiとして検出
される。第2図を参照して、その演算方法を説明する。
前記二つの光信号Ip,Isは、光−電気変換回路8,9により
電気信号に変換された後、おのおの二つの信号処理回路
への入力信号として分岐される。一方は、バンドパスフ
ィルタ101,102を通り、整流回路103,104により整流され
る。バンドパスフィルタ101,102の通過周波数は、交流
電源20の周波数と一致させる。このときに出力されるの
は、交流成分のみとなり、 Ip(AC)=k′・kp・I0・2θfsinωt ……(18) Is(AC)=k′・ks・I0・2θfsinωt ……(19) を得る。そこで、除算器107により、Ip(AC)とIs(A
C)の比を求めて、 を得る。一方、前記二つの信号処理回路への入力信号と
して分岐された他方の信号は、低域フィルタ105,106を
通る。この低域フィルタのカットオフ周波数は、交流電
源20の周波数より十分低く、しかも、被測定磁界に含ま
れる周波数よりも高く選ぶ。このとき、低域フィルタ10
5,106の出力信号は、 Ip(DC)=k″・kp・I0(1+2θi) ……(21) Is(DC)=k″・ks・I0(1−2θi) ……(22) となる。このIs(DC)に前記Ip(AC)/Is(AC)=kp/ks
=kpsを乗算器108により乗算すると、 kps×Is(DC)=(kp/ks)・k″・ks・I0(1−2
θi) =k″・kp・I0(1−2θi) ……(2
3) を得る。Ip(DC)とこのkps・Is(DC)に基づき、減算
器109,加算器110,除算器111を用いて、(24)式を演算
することにより、 被測定電流または被測定磁界に比例するファラデー回転
角θiが求められる。上記演算回路は、直流信号を除去
することなくファラデー回転角θiを求めることができ
るという特徴を持っている。
電気信号に変換された後、おのおの二つの信号処理回路
への入力信号として分岐される。一方は、バンドパスフ
ィルタ101,102を通り、整流回路103,104により整流され
る。バンドパスフィルタ101,102の通過周波数は、交流
電源20の周波数と一致させる。このときに出力されるの
は、交流成分のみとなり、 Ip(AC)=k′・kp・I0・2θfsinωt ……(18) Is(AC)=k′・ks・I0・2θfsinωt ……(19) を得る。そこで、除算器107により、Ip(AC)とIs(A
C)の比を求めて、 を得る。一方、前記二つの信号処理回路への入力信号と
して分岐された他方の信号は、低域フィルタ105,106を
通る。この低域フィルタのカットオフ周波数は、交流電
源20の周波数より十分低く、しかも、被測定磁界に含ま
れる周波数よりも高く選ぶ。このとき、低域フィルタ10
5,106の出力信号は、 Ip(DC)=k″・kp・I0(1+2θi) ……(21) Is(DC)=k″・ks・I0(1−2θi) ……(22) となる。このIs(DC)に前記Ip(AC)/Is(AC)=kp/ks
=kpsを乗算器108により乗算すると、 kps×Is(DC)=(kp/ks)・k″・ks・I0(1−2
θi) =k″・kp・I0(1−2θi) ……(2
3) を得る。Ip(DC)とこのkps・Is(DC)に基づき、減算
器109,加算器110,除算器111を用いて、(24)式を演算
することにより、 被測定電流または被測定磁界に比例するファラデー回転
角θiが求められる。上記演算回路は、直流信号を除去
することなくファラデー回転角θiを求めることができ
るという特徴を持っている。
ファラデー回転角θiを検出する演算方法の他の実施例
を第3図により説明する。第3図において、前記第1図
の構成により検出される二つの光信号Ip,Isは、光−電
気変換回路8,9により電気信号に変換された後、おのお
の二つの信号処理回路への入力信号として分岐される。
それぞれの信号の一方は低域フィルタ105,106を通る。
この低域フィルタのカットオフ周波数は前記と同じ考え
で選ばれる。このとき、低域フィルタ105,106からの出
力信号として前記(21),(22)式を得る。一方、前記
二つの信号処理回路への入力として分岐されたそれぞれ
の他方の信号は、バンドパスフィルタ101,102を通り、
整流回路103,104により整流される。バンドパスフィル
タの通貨周波数は前記と同じ考えで選ばれる。このとき
に出力される信号は交流成分のみとなり、前記(18),
(19)式を得る。このようにして得られた4つの信号
を,除算回路112,113の入力信号として、 Ip(DC)/Ip(AC) =(k″/k′)(1+2θi)/(2θfsinωt)……
(25) Is(DC)/Is(AC) =(k″/k′)(1−2θi)/(2θfsinωt)……
(26) を得る。このIp(DC)/Ip(AC)とIs(DC)/Is(AC)に
基づき、減算器114,加算器115,除算器116を用いて、(2
7)式を演算することにより、 被測定電流または被測定磁界に比例するファラデー回転
角θiが求められる。上記演算回路は、直流信号を除去
することなくファラデー回転角θiを求めることができ
るという特徴を持っている。
を第3図により説明する。第3図において、前記第1図
の構成により検出される二つの光信号Ip,Isは、光−電
気変換回路8,9により電気信号に変換された後、おのお
の二つの信号処理回路への入力信号として分岐される。
それぞれの信号の一方は低域フィルタ105,106を通る。
この低域フィルタのカットオフ周波数は前記と同じ考え
で選ばれる。このとき、低域フィルタ105,106からの出
力信号として前記(21),(22)式を得る。一方、前記
二つの信号処理回路への入力として分岐されたそれぞれ
の他方の信号は、バンドパスフィルタ101,102を通り、
整流回路103,104により整流される。バンドパスフィル
タの通貨周波数は前記と同じ考えで選ばれる。このとき
に出力される信号は交流成分のみとなり、前記(18),
(19)式を得る。このようにして得られた4つの信号
を,除算回路112,113の入力信号として、 Ip(DC)/Ip(AC) =(k″/k′)(1+2θi)/(2θfsinωt)……
(25) Is(DC)/Is(AC) =(k″/k′)(1−2θi)/(2θfsinωt)……
(26) を得る。このIp(DC)/Ip(AC)とIs(DC)/Is(AC)に
基づき、減算器114,加算器115,除算器116を用いて、(2
7)式を演算することにより、 被測定電流または被測定磁界に比例するファラデー回転
角θiが求められる。上記演算回路は、直流信号を除去
することなくファラデー回転角θiを求めることができ
るという特徴を持っている。
本発明の他の実施例を第4図に示す。本実施例では、被
測定電流が流れる導体15を囲むようにギャップ付き鉄心
16が配置され、そのギャップ部に偏光子3,ファラデーセ
ル4,検光子5を有する光応用磁界センサが置かれる。鉄
心16の少なくとも一部に交流電源20からの交流磁界発生
用コイル21が巻き回されており、鉄心中に交流磁界を流
す。このとき、鉄心中に生ずる磁束は、導体15中を流れ
る電流により生ずる磁束と、交流電源による磁束とが重
畳して形成されることになる。したがって、発光光源1
からの光が偏光子3を通ってファラデーセル4に入射す
ると、出射光はファラデー回転を受ける。その結果、検
光子5の出力は、 Ip=kp1・I0{1+sin(2θi+2θfsinωt)}……
(28) Is=ks1・I0{1−sin(2θi+2θfsinωt)}……
(29) になる。ここで、θiは導体に流れる被測定電流に対応
した磁界により生ずるファラデー回転角,θfは交流磁
界により生ずるファラデー回転角である。このIp,Is
は、前記(14),(15)式と同じである。このIp,Isを
用いて前記と同じように演算すると、被測定電流に比例
する回転角θiを検出できる。
測定電流が流れる導体15を囲むようにギャップ付き鉄心
16が配置され、そのギャップ部に偏光子3,ファラデーセ
ル4,検光子5を有する光応用磁界センサが置かれる。鉄
心16の少なくとも一部に交流電源20からの交流磁界発生
用コイル21が巻き回されており、鉄心中に交流磁界を流
す。このとき、鉄心中に生ずる磁束は、導体15中を流れ
る電流により生ずる磁束と、交流電源による磁束とが重
畳して形成されることになる。したがって、発光光源1
からの光が偏光子3を通ってファラデーセル4に入射す
ると、出射光はファラデー回転を受ける。その結果、検
光子5の出力は、 Ip=kp1・I0{1+sin(2θi+2θfsinωt)}……
(28) Is=ks1・I0{1−sin(2θi+2θfsinωt)}……
(29) になる。ここで、θiは導体に流れる被測定電流に対応
した磁界により生ずるファラデー回転角,θfは交流磁
界により生ずるファラデー回転角である。このIp,Is
は、前記(14),(15)式と同じである。このIp,Isを
用いて前記と同じように演算すると、被測定電流に比例
する回転角θiを検出できる。
本発明の他の実施例を第5図に示す。ファラデーセル4
の少なくとも一部に交流磁界発生用コイル21を巻き回
す。偏光子3を通って直線偏光された光は、ファラデー
セル4を往復反射しながら進む間に、被測定磁界Hおよ
び交流磁界の影響を受けてファラデー回転する。その結
果、検光子5の出力は、 Ip・kp2・I0{1+sin(2θh+2θfsinωt)}……
(30) Is・ks2・I0{1−sin(2θh+2θfsinωt)}……
(31) になる。θhは被測定磁界Hにより生ずるファラデー回
転角である。このIp,Isは、前記(14),(15)式と同
じであり、前記と同様に演算すると、被測定磁界に比例
する回転角θhを検出できる。
の少なくとも一部に交流磁界発生用コイル21を巻き回
す。偏光子3を通って直線偏光された光は、ファラデー
セル4を往復反射しながら進む間に、被測定磁界Hおよ
び交流磁界の影響を受けてファラデー回転する。その結
果、検光子5の出力は、 Ip・kp2・I0{1+sin(2θh+2θfsinωt)}……
(30) Is・ks2・I0{1−sin(2θh+2θfsinωt)}……
(31) になる。θhは被測定磁界Hにより生ずるファラデー回
転角である。このIp,Isは、前記(14),(15)式と同
じであり、前記と同様に演算すると、被測定磁界に比例
する回転角θhを検出できる。
本発明の他の実施例を第6図に示す。ファラデーセル4
を少なくとも二つ以上に分割し、偏光面を保持し得る光
導波路17でその間を接続し、一方のファラデーセル4に
被測定電流により生ずる磁界が加わるようにし、他方の
ファラデーセル4Aに交流電源20による交流磁界発生用コ
イル21を巻き回した構成とする。偏光子3により直線偏
光された光は、一方のファラデーセル4Aを通ることによ
りファラデー回転θfsinωtを受け、偏光面を保持し得
る光導波路17によりその偏光状態を保ったまま他方のフ
ァラデーセル4に入射する。ファラデーセル4において
被測定電流により生ずる磁界に対応するファラデー回転
θiを受ける。その結果、検光子5の出力は、 Ip=kp3・I0{1+sin(2θi+2θfsinωt)}……
(32) Is=ks3・I0{1−sin(2θi+2θfsinωt)}……
(33) になる。このIp,Isは、前記(16),(17)式と同じで
あり、前記と同様に演算すると、被測定電流または被測
定磁界に比例したファラデー回転角θiを検出できる。
偏光面を保持する光導波路17を、例えば光学ガラスまた
は空間伝送路とすれば、ファラデーセル4を高電位部に
置いてファラデーセル4Aを大地電位部に置けば、その間
の絶縁を保持することが容易となる。
を少なくとも二つ以上に分割し、偏光面を保持し得る光
導波路17でその間を接続し、一方のファラデーセル4に
被測定電流により生ずる磁界が加わるようにし、他方の
ファラデーセル4Aに交流電源20による交流磁界発生用コ
イル21を巻き回した構成とする。偏光子3により直線偏
光された光は、一方のファラデーセル4Aを通ることによ
りファラデー回転θfsinωtを受け、偏光面を保持し得
る光導波路17によりその偏光状態を保ったまま他方のフ
ァラデーセル4に入射する。ファラデーセル4において
被測定電流により生ずる磁界に対応するファラデー回転
θiを受ける。その結果、検光子5の出力は、 Ip=kp3・I0{1+sin(2θi+2θfsinωt)}……
(32) Is=ks3・I0{1−sin(2θi+2θfsinωt)}……
(33) になる。このIp,Isは、前記(16),(17)式と同じで
あり、前記と同様に演算すると、被測定電流または被測
定磁界に比例したファラデー回転角θiを検出できる。
偏光面を保持する光導波路17を、例えば光学ガラスまた
は空間伝送路とすれば、ファラデーセル4を高電位部に
置いてファラデーセル4Aを大地電位部に置けば、その間
の絶縁を保持することが容易となる。
第7図は、本発明の他の実施例すなわち光学式電圧変成
器の例を示している。ポッケルスセル11の一部に交流電
源20による電界を加え、他の部分に被測定電界EDCを加
える。偏光子3により直線偏光された光は、1/4波長板1
2を通って円偏光となる。この円偏光がポッケルスセル1
1を通るうちに、交流電界による位相差Γfsinωtと被
測定電界EDCによる位相差Γiが発生する。したがっ
て、出射端の検光子5の出力は、 Ip=kp4・I0{1+sin(Γi+Γfsinωt)} ……(3
4) Is=ks4・I0{1−sin(Γi+Γfsinωt)} ……(3
5) となる。このIp,Isは、前記(14),(15)式におい
て、2θiの代わりにΓiを、また2θfの代わりにΓ
fを代入しただけである。したがって、前記と同様に演
算すると、被測定電界に比例した位相差Γiを検出でき
る。
器の例を示している。ポッケルスセル11の一部に交流電
源20による電界を加え、他の部分に被測定電界EDCを加
える。偏光子3により直線偏光された光は、1/4波長板1
2を通って円偏光となる。この円偏光がポッケルスセル1
1を通るうちに、交流電界による位相差Γfsinωtと被
測定電界EDCによる位相差Γiが発生する。したがっ
て、出射端の検光子5の出力は、 Ip=kp4・I0{1+sin(Γi+Γfsinωt)} ……(3
4) Is=ks4・I0{1−sin(Γi+Γfsinωt)} ……(3
5) となる。このIp,Isは、前記(14),(15)式におい
て、2θiの代わりにΓiを、また2θfの代わりにΓ
fを代入しただけである。したがって、前記と同様に演
算すると、被測定電界に比例した位相差Γiを検出でき
る。
第8図は、本発明の他の実施例すなわち光学式電圧変成
器の例を示している。ポッケルスセル11を少なくとも二
つ以上に分割し、偏光面を保持し得る光導波路17でその
間を接続し、一方のポッケルスセル11に被測定電界EDC
を加え、他方のポッケルスセル11Aに交流電源20による
交流電界を加える。偏光子3により直線偏光とされた光
は、1/4波長板12を通って円偏光となる。この円偏光が
ポッケルスセル11Aを通るうちに、交流電界による位相
差Γfsinωtを生じ、偏光面を保持し得る光導波路17に
よりその偏光面を保ったまま他方のポッケルスセル11に
入射する。ポッケルスセル11において被測定電界EDCに
より位相差Γiを生ずる。その結果、検光子5の出力
は、 Ip=kp5・I0{1+sin(Γi+Γfsinωt)} ……(3
6) Is=ks5・I0{1−sin(Γi+Γfsinωt)} ……(3
7) となる。このIp,Isは、前記(14),(15)式において
2θiの代わりにΓiを、また2θfの代わりにΓfを
代入しただけである。したがって、前記と同様に演算す
ると、被測定電界EDCに比例した位相差Γiを検出でき
る。
器の例を示している。ポッケルスセル11を少なくとも二
つ以上に分割し、偏光面を保持し得る光導波路17でその
間を接続し、一方のポッケルスセル11に被測定電界EDC
を加え、他方のポッケルスセル11Aに交流電源20による
交流電界を加える。偏光子3により直線偏光とされた光
は、1/4波長板12を通って円偏光となる。この円偏光が
ポッケルスセル11Aを通るうちに、交流電界による位相
差Γfsinωtを生じ、偏光面を保持し得る光導波路17に
よりその偏光面を保ったまま他方のポッケルスセル11に
入射する。ポッケルスセル11において被測定電界EDCに
より位相差Γiを生ずる。その結果、検光子5の出力
は、 Ip=kp5・I0{1+sin(Γi+Γfsinωt)} ……(3
6) Is=ks5・I0{1−sin(Γi+Γfsinωt)} ……(3
7) となる。このIp,Isは、前記(14),(15)式において
2θiの代わりにΓiを、また2θfの代わりにΓfを
代入しただけである。したがって、前記と同様に演算す
ると、被測定電界EDCに比例した位相差Γiを検出でき
る。
本発明によれば、光伝送経路中における温度特性や経時
変化などに起因する直流電流または直流電圧の検出誤差
を常時補正できるので、直流電流または直流電圧の高精
度測定を長期間にわたり安定に実行可能である。
変化などに起因する直流電流または直流電圧の検出誤差
を常時補正できるので、直流電流または直流電圧の高精
度測定を長期間にわたり安定に実行可能である。
さらに、本発明によれば、直流だけでなく交流電流・電
圧についても同様に測定できる。
圧についても同様に測定できる。
第1図は本発明による光学式電流変成器の一実施例の構
成を示す図、第2図は第1図実施例に用いる演算回路の
一実施例の構成を示すブロック図、第3図は第1図実施
例に用いる演算回路の他の実施例の構成を示すブロック
図、第4図,第5図,第6図はそれぞれ本発明による光
学式電流変成器の他の実施例の構成を示す図、第7図,
第8図はそれぞれ本発明による光学式電圧変成器の実施
例の構成を示す図、第9図は従来の光学式電流変成器の
一例の構成を示す図である。 1……発光光源、2……光ファイバ、3……偏光子、4,
4A……ファラデーセル、 5……検光子、6,7……光ファイバ、8,9……光−電気変
換回路、 10……演算回路、11,11A……ポッケルスセル、12……1/
4波長板、 15……導体、16……ギャップ付鉄心、17……光導波器、
20……交流電源、 21……交流磁界発生用コイル、101,102……バンドパス
フィルタ、 103,104……整流回路、105,106……低域フィルタ、 107,111,112,113……除算器、108……乗算器、 109,114……減算器、110,115……加算器。
成を示す図、第2図は第1図実施例に用いる演算回路の
一実施例の構成を示すブロック図、第3図は第1図実施
例に用いる演算回路の他の実施例の構成を示すブロック
図、第4図,第5図,第6図はそれぞれ本発明による光
学式電流変成器の他の実施例の構成を示す図、第7図,
第8図はそれぞれ本発明による光学式電圧変成器の実施
例の構成を示す図、第9図は従来の光学式電流変成器の
一例の構成を示す図である。 1……発光光源、2……光ファイバ、3……偏光子、4,
4A……ファラデーセル、 5……検光子、6,7……光ファイバ、8,9……光−電気変
換回路、 10……演算回路、11,11A……ポッケルスセル、12……1/
4波長板、 15……導体、16……ギャップ付鉄心、17……光導波器、
20……交流電源、 21……交流磁界発生用コイル、101,102……バンドパス
フィルタ、 103,104……整流回路、105,106……低域フィルタ、 107,111,112,113……除算器、108……乗算器、 109,114……減算器、110,115……加算器。
Claims (9)
- 【請求項1】一定レベルの光を出射する発光光源と、前
記出射光を偏光させる偏光子と、磁気光学的効果または
電気光学的効果を前記偏光に与えるセンサと、当該セン
サの出射光路に配置された検光子と、当該検光子から出
射する少なくとも二つの光信号をそれぞれ電気信号に変
換する光−電気変換回路と、前記各電気信号から前記セ
ンサに印加される磁界または電界の強さを求める演算回
路とを含む光学式直流変成器において、 前記センサが、当該センサの中に一定の交流磁界または
交流電界を発生させる手段を備え、 前記演算回路が、前記各電気信号から前記交流成分のみ
を求める手段と、前記各交流成分の比を求める手段と、
前記交流成分を除去した各電気信号を求める手段と、前
記各交流成分の比と前記交流成分を除去した一方の電気
信号との積を求める手段と、前記積と前記交流成分を除
去した他方の電気信号との差を求める手段と、前記積と
前記交流成分を除去した他方の電気信号との和を求める
手段と、前記差と和との比を用いて前記磁界または電界
の強さを求める手段とを備えた ことを特徴とする光学式直流変成器。 - 【請求項2】一定レベルの光を出射する発光光源と、前
記出射光を偏光させる偏光子と、磁気光学的効果または
電気光学的効果を前記偏光に与えるセンサと、当該セン
サの出射光路に配置された検光子と、当該検光子から出
射する少なくとも二つの光信号をそれぞれ電気信号に変
換する光−電気変換回路と、前記各電気信号から前記セ
ンサに印加される磁界または電界の強さを求める演算回
路とを含む光学式直流変成器において、 前記センサが、当該センサの中に一定の交流磁界または
交流電界を発生させる手段を備え、 前記演算回路が、前記各電気信号から前記交流成分のみ
を求める手段と、前記交流成分を除去した各電気信号を
求める手段と、前記各光信号に対応して前記交流成分を
除去した電気信号と前記交流成分との各比を求める手段
と、前記各比の信号の差を求める手段と、前記各比の信
号の和を求める手段と、前記差と和との比を用いて前記
磁界または電界の強さを求める手段とを備えた ことを特徴とする光学式直流変成器。 - 【請求項3】請求項1または2に記載の光学式直流変成
器において、 前記磁気光学的効果を有するセンサが、ファラデーセル
からなり、 前記交流磁界発生手段が、前記ファラデーセルの少なく
とも一部に巻き回され一定の交流磁界を発生するコイル
と、当該コイルに交流電力を供給する交流電源とを含む ことを特徴とする光学式直流変成器。 - 【請求項4】請求項1または2に記載の光学式直流変成
器において、 前記磁気光学的効果を有するセンサが、ギャップ付き鉄
心のギャップに挟持されたファラデーセルからなり、 前記交流磁界発生手段が、前記ギャップ付き鉄心の少な
くとも一部に巻き回され一定の交流磁界を発生コイル
と、当該コイルに交流電力を供給する交流電源とを含む ことを特徴とする光学式直流変成器。 - 【請求項5】請求項1または2に記載の光学式直流変成
器において、 前記磁気光学的効果を有するセンサが、被測定磁界が印
加されるセルを含む複数のファラデーセルからなり、 前記交流磁界発生手段が、前記被測定磁界が印加される
セル以外のファラデーセルの少なくとも一部に巻き回さ
れ一定の交流磁界を発生するコイルと、当該コイルに交
流電力を供給する交流電源とを含み、 偏波面を保存し得る光導波路で前記ファラデーセル間を
結合した ことを特徴とする光学式直流変成器。 - 【請求項6】請求項1または2に記載の光学式直流変成
器において、 前記電気光学的効果を有するセンサが、一部分に被測定
電界が印加されるポッケルスセルからなり、 前記交流電界発生手段が、前記ポッケルスセルの他の部
分に交流電界を印加する手段を含む ことを特徴とする光学式直流変成器。 - 【請求項7】請求項1または2に記載の光学式直流変成
器において、 前記電気光学的効果を有するセンサが、被測定電界が印
加されるセルを含む複数のポッケルスセルからなり、 前記交流電界発生手段が、前記被測定電界が印加される
セル以外のポッケルスセルに一定の交流電界を印加する
手段を含み、 偏波面を保存し得る光導波路で前記ポッケルスセル間を
結合した ことを特徴とする光学式直流変成器。 - 【請求項8】請求項1に記載の光学式直流変成器におい
て、 前記交流成分を除去した信号を求める手段が、低域フィ
ルタからなり、 前記交流成分のみを求める手段が、バンドパスフィルタ
および整流回路からなり、 前記交流成分の比を求める手段が、除算器からなり、 前記各交流成分の比と前記交流成分を除去した一方の電
気信号との積を求める手段が、乗算器からなる ことを特徴とする光学式直流変成器。 - 【請求項9】請求項2に記載の光学式直流変成器におい
て、 前記交流成分を除去した信号を求める手段が、低域フィ
ルタからなり、 前記交流成分のみを求める手段が、バンドパスフィルタ
および整流回路からなり、 前記交流成分を除去した信号と交流成分のみの信号との
比を求める手段が、除算器からなる ことを特徴とする光学式直流変成器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63297066A JPH0743397B2 (ja) | 1988-11-24 | 1988-11-24 | 光学式直流変成器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63297066A JPH0743397B2 (ja) | 1988-11-24 | 1988-11-24 | 光学式直流変成器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02143173A JPH02143173A (ja) | 1990-06-01 |
| JPH0743397B2 true JPH0743397B2 (ja) | 1995-05-15 |
Family
ID=17841777
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63297066A Expired - Lifetime JPH0743397B2 (ja) | 1988-11-24 | 1988-11-24 | 光学式直流変成器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0743397B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19547021A1 (de) | 1995-12-15 | 1997-06-19 | Siemens Ag | Optisches Meßverfahren und optische Meßanordnung zum Messen einer Wechselgröße mit Intensitätsnormierung |
| JP2018091782A (ja) * | 2016-12-06 | 2018-06-14 | 三菱電機株式会社 | 電圧測定装置および電圧測定方法 |
| JP7619553B2 (ja) * | 2018-09-26 | 2025-01-22 | 横河電機株式会社 | 電界センサ |
-
1988
- 1988-11-24 JP JP63297066A patent/JPH0743397B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02143173A (ja) | 1990-06-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4046243B2 (ja) | 精密電流検知のための光ファイバ装置及び方法 | |
| CN103926457B (zh) | 一种提高光纤电流互感器闭环反馈系数稳定性的方法 | |
| US20100253320A1 (en) | Optical fiber electric current sensor and electric current measurement method | |
| JPH0424664B2 (ja) | ||
| JP2818302B2 (ja) | 温度補償付きの電気交流量の測定方法および装置 | |
| JPH0224349B2 (ja) | ||
| US4933629A (en) | Method and apparatus for optically measuring electric and magnetic quantities having an optical sensing head exhibiting the Pockel's and Faraday effects | |
| WO2000019217A9 (en) | In-line electro-optic voltage sensor | |
| JP4853474B2 (ja) | 光センサおよび光電流・電圧センサ | |
| US5847560A (en) | Process and device for measuring an alternating electric current with temperature compensation | |
| KR100376139B1 (ko) | 광센서 | |
| JPH01223359A (ja) | 光電流・磁界計測方法及び装置 | |
| JP2000501841A (ja) | 正規化された強度を持つ交流量の光学的測定方法及び光学的測定装置 | |
| WO2003034009A9 (en) | Optical interferometric sensor with optical error compensation | |
| JPH0743397B2 (ja) | 光学式直流変成器 | |
| JP3137468B2 (ja) | 光学素子を用いた電気信号の測定装置 | |
| JP3308897B2 (ja) | 電流測定方法及び光電流センサ | |
| JP3313594B2 (ja) | 電流検出装置及び方法 | |
| CN118584183B (zh) | 一种基于尖劈干涉实现线性测量的全光纤电流传感器 | |
| RU2767166C1 (ru) | Измеритель тока оптический интерференционный | |
| JP3041637B2 (ja) | 光応用直流電流変成器 | |
| JPH08278357A (ja) | 磁場測定装置及び磁場測定方法 | |
| JP3011244B2 (ja) | 光応用直流電流変成器 | |
| JPH07191060A (ja) | 光電流センサ | |
| JPH0534378A (ja) | 光変成器 |