JPH0750244A - 紫外線利用装置の冷却用気体清浄化の方法と装置 - Google Patents
紫外線利用装置の冷却用気体清浄化の方法と装置Info
- Publication number
- JPH0750244A JPH0750244A JP5194812A JP19481293A JPH0750244A JP H0750244 A JPH0750244 A JP H0750244A JP 5194812 A JP5194812 A JP 5194812A JP 19481293 A JP19481293 A JP 19481293A JP H0750244 A JPH0750244 A JP H0750244A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cleaning
- ultraviolet
- utilizing
- gas
- ultraviolet ray
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
の低減を行なう清浄化手段を備えた紫外線利用装置に関
し、外界の空気を利用でき、かつ光化学反応によると考
えられる堆積を減少させることのできる紫外線利用装置
およびその運転方法を提供することを目的とする。 【構成】 所定温度に加熱され、紫外線を照射した清浄
化領域に、紫外線利用機器の冷却用気体を通過させ、光
化学反応による堆積を生じさせることにより、冷却用気
体を清浄化する清浄化工程と、清浄化した冷却用気体を
紫外線利用機器の冷却に用いる利用工程とを含む。
Description
し、特に紫外線利用機器中での光化学反応による堆積の
低減を行なう清浄化手段を備えた紫外線利用装置に関す
る。
体集積回路内の最小パターン幅は減少を続けている。
ソグラフィにおける分解能を向上するため、露光光源の
波長は水銀のg線からi線、KrFエキシマレーザの2
48nm、さらにはArFエキシマレーザの193nm
と短波長化を続けている。
子エネルギは波長に逆比例して増大し、化学反応の励起
エネルギと同等以上にもなる。上述のような紫外露光装
置においては、紫外線照射領域およびその近傍に光化学
反応によると考えられる堆積が生じる。露光装置の結像
光学系は、高精度で高価なものであるが、堆積が生じる
と、その性能を大きく損じてしまう。
判明しているが、堆積の発生メカニズムは未だ判ってい
ない。
積物の発生は、通過光束に散乱、反射、吸収等を生じさ
せ、結像光学系の所定の性能を次第に劣化させてしま
う。
媒として空気を使うと、たとえクリーンルームのクリー
ンエアをさらに吸着塔で浄化した空気であっても堆積を
生じる。高純度の不活性ガス等を冷媒すると、堆積を減
少させることは可能であるが、冷媒コストが高価なもの
となる。また、排気の面を考慮する必要も生じる。
かつ光化学反応によると考えられる堆積を減少させるこ
とのできる紫外線利用装置およびその運転方法を提供す
ることである。
の運転方法は、所定温度に加熱され、紫外線を照射した
清浄化領域に、紫外線利用機器の冷却用気体を通過さ
せ、光化学反応による堆積を生じさせることにより、冷
却用気体を清浄化する清浄化工程と、清浄化した冷却用
気体を紫外線利用機器の冷却に用いる利用工程とを含
む。
ことにより、紫外線利用機器の冷却に用いる際の堆積を
減少させる。
外線を照射した加熱領域に冷却用気体を通過させること
により、光化学反応による堆積を積極的に生じさせるこ
とによって行なう。加熱は、紫外線照射自身によっても
生じる。清浄化工程で光化学反応の原料が消費されれ
ば、紫外線利用機器内の冷却に用いられる際の堆積がそ
の分減少する。
線の3つを必要要件とする。紫外線照射による堆積を減
少させるためには、このいずれかを減少させればよい。
を利用しないことは考えられず、紫外線照射によって紫
外線利用機器の温度上昇が生じることも避けがたい。残
る方法は、紫外線照射による堆積の原料を減少させるこ
とである。
発生メカニズムが未だ判明していない。したがって、ど
のような処理を行えば、堆積原料が減少するかが判明し
ていない。
に利用できる気体を利用し、予め紫外線照射による堆積
を生じさせることにより、残る気体の清浄化を行なうこ
とを検討した。
装置の構成を概略的に示す。紫外線利用機器1は、縮小
投影露光装置等の通常の紫外線を利用する機器である。
この紫外線利用機器1には紫外線発生ランプ11と光学
系12が含まれ、この紫外線発生ランプ11は冷却する
必要がある。光学系12も紫外線照射により加熱される
ので、冷却することが好ましい。
この紫外線発生ランプ3から発する紫外線を受ける気体
流路4と、この気体流路4に隣接して配置された析出領
域5と、析出領域の温度を調整する温度調整手段6を含
む。
接続され、その出口は紫外線利用機器1に接続されると
共に、循環気体流路8を介して入口側にフィードバック
される。気体循環流路8中には吸着剤等を収容し、通過
気体の極性成分を除去する極性ガス除去手段9が接続さ
れている。
は、温度調整された気体流路4、析出領域5で紫外線照
射を受け、析出領域4上に堆積を生じさせる。原料気体
は、堆積成分を除去されることになり、清浄化される。
このようにして、清浄化された気体が紫外線利用機器2
の冷却用気体として利用される。なお、循環気体流路8
を通して気体を繰り返し、気体流路4に通し、析出領域
5上に堆積を生じさせれば、気体の清浄度が向上する。
で清浄化された気体が紫外線利用機器1で利用される
と、そのまま排気されている。紫外線利用機器の冷却に
用いられた気体は、堆積を生じる材料を不純物として考
えた場合、原料気体よりも著しく高純度である。ただ
し、紫外線利用機器1における紫外線発生ランプを冷却
したために加熱されている。
他の実施例を示す。紫外線利用機器1内には、紫外線発
生ランプ11およびこの紫外線発生ランプ11から発生
した紫外線を利用して対象物上に結像を行なう光学系1
2を含む。
気体は、気体流路13を介して気体清浄化装置2に戻さ
れる。気体清浄化装置2は、紫外線利用機器1から戻さ
れた気体および原料気体取入口7から取り入れた原料気
体を清浄化して冷却装置15に送る。
給された気体を所望温度まで冷却し、気体流路14を介
して紫外線利用機器1に供給する。この気体は、紫外線
利用機器1内において紫外線発生ランプ11等を冷却
し、再び気体流路13を介して気体清浄化装置2に戻さ
れる。
ーク等によって減少する量の原料気体が取り込まれる。
冷却気体を循環使用することにより、光化学反応によっ
て堆積を生じる成分は次第に減少し、気体の清浄度は逐
次高まる。
機器1内および気体清浄化装置2内にそれぞれ別個の紫
外線発生ランプを用いていた。このような紫外線発生ラ
ンプは、必ずしも別個に設ける必要はない。
利用装置の構成を概略的に示す。紫外線利用機器1は、
紫外線発生ランプ21および光学系12を含む。一方、
この紫外線発生ランプ21は、気体清浄化装置2の構成
要素でもある。すなわち、紫外線発生ランプ21の周囲
に、気体流路4が形成され、この気体流路4は、気体流
路13、冷却装置15、気体流路14を介して循環気体
流路を形成する。図1の構成同様、極性ガス除去手段を
さらに接続してもよい。
り、光化学反応による堆積によってその清浄度は逐次向
上する。このように、清浄化された気体を、光学系12
の冷却に用いる。
低い気体に接触し、堆積等が生じるが、紫外線発生ラン
プ21自身は光学系12と比較すれば安価なものであ
り、必要な場合には逐次交換すればよい。光学系12
は、清浄化された気体によって冷却されるため、堆積を
生じることが少ない。
で冷却用媒体を清浄化している。冷却用媒体を循環使用
する場合、循環する冷却用媒体の純度は高く、原料気体
の純度は低い。これらを混合して清浄化しようとする
と、清浄化手段に要求される性能が過大なものとなりや
すい。
利用装置の構成を概略的に示す。紫外線利用機器1は、
紫外線発生ランプ1と光学系12を含む前述の実施例同
様のものである。
は、気体流路13、14を介して紫外線利用機器1に接
続され、清浄化された冷却用気体を循環させて光学系1
2および紫外線発生ランプ11を冷却する。この際、紫
外線利用機器1において、若干のリーク等が生じ、使用
する冷却用気体の量が減少してしまう。
体を入力し、高純度の気体に精製して第1清浄化装置2
aに供給する。第1および第2の清浄化手段は、それぞ
れ前述の実施例同様の構成を有する。
取り扱うが、入力する気体の清浄度が高いため、高清浄
度を保つために装置に要求される条件はそれほど厳しく
はない。
高純度に清浄化する必要があるが、流量が小さいため、
清浄化装置に要求される条件はそれほど厳しくはない。
以上実施例に沿って本発明を説明したが、本発明はこれ
らに制限されるものではない。たとえば、種々の変更、
改良、組み合わせ等が可能なことは当業者に自明であろ
う。
発生機構の判明しない紫外線の光化学反応による堆積
を、実効的に低減することができる。このため、光学系
への堆積が減少し、使用寿命を長くすることができる。
示す概略図である。
成を示す概略図である。
成を示す概略図である。
成を示す概略図である。
Claims (11)
- 【請求項1】 所定温度に加熱され、紫外線を照射した
清浄化領域に、紫外線利用機器の冷却用気体を通過さ
せ、光化学反応による堆積を生じさせることにより、冷
却用気体を清浄化する清浄化工程と、 清浄化した冷却用気体を紫外線利用機器の冷却に用いる
利用工程とを含む紫外線利用装置の運転方法。 - 【請求項2】 さらに、前記清浄化領域を間欠的に自動
洗浄する工程を含む請求項1記載の紫外線利用装置の運
転方法。 - 【請求項3】 前記利用工程で用いた気体を再び前記清
浄化工程に戻す請求項1または2記載の紫外線利用装置
の運転方法。 - 【請求項4】 前記清浄化工程が前記紫外線利用機器の
光源部に冷却用気体を通過させることを含む請求項1〜
3のいずれかに記載の紫外線利用装置の運転方法。 - 【請求項5】 前記洗浄化工程が前記清浄化領域を通し
て冷却用気体を循環させることを含む請求項1〜4のい
ずれかに記載の紫外線利用装置の運転方法。 - 【請求項6】 前記清浄化工程が第1清浄化手段で小量
の原料気体を順次清浄化する工程と、この清浄化された
気体と紫外線利用機器から出力される気体を合わせ、第
2清浄化手段で大量の冷却用気体を清浄化しつつ紫外線
利用機器を介して循環させる工程を含む請求項1〜5の
いずれかに記載の紫外線利用装置の運転方法。 - 【請求項7】 清浄化領域で紫外線を照射して光化学反
応による堆積を生じさせる清浄化手段と、 前記清浄化した気体を紫外線を利用する光学系の冷却に
用いる紫外線利用手段とを含む紫外線利用装置。 - 【請求項8】 前記清浄化手段が原料気体を取り入れ、
清浄化領域を通して循環させる機構を有する請求項7記
載の紫外線利用装置。 - 【請求項9】 前記清浄化手段と前記紫外線利用手段が
同一の紫外線発光ランプを紫外光源として用いる請求項
7または8記載の紫外線利用装置。 - 【請求項10】 前記清浄化手段が温度調整手段を含む
請求項7〜9のいずれかに記載の紫外線利用装置。 - 【請求項11】 前記清浄化手段が第1小流量清浄化手
段と、これと比較して大流量の第2清浄化手段との直列
接続を含み、第2清浄化手段が紫外線利用手段とループ
流路を構成する請求項7記載の紫外線利用装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19481293A JP3202842B2 (ja) | 1993-08-05 | 1993-08-05 | 紫外線利用装置の冷却用気体清浄化の方法と装置 |
| US08/216,962 US5696623A (en) | 1993-08-05 | 1994-03-24 | UV exposure with elongated service lifetime |
| KR1019940007949A KR0149058B1 (ko) | 1993-08-05 | 1994-04-15 | 사용수명을 연장한 자외선 노광장치 및 노광방법 |
| FR9404995A FR2708757B1 (fr) | 1993-08-05 | 1994-04-26 | Procédé et appareil d'exposition par de la lumière ultraviolette. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19481293A JP3202842B2 (ja) | 1993-08-05 | 1993-08-05 | 紫外線利用装置の冷却用気体清浄化の方法と装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0750244A true JPH0750244A (ja) | 1995-02-21 |
| JP3202842B2 JP3202842B2 (ja) | 2001-08-27 |
Family
ID=16330672
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19481293A Expired - Lifetime JP3202842B2 (ja) | 1993-08-05 | 1993-08-05 | 紫外線利用装置の冷却用気体清浄化の方法と装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3202842B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01276116A (ja) * | 1988-04-27 | 1989-11-06 | Canon Inc | 移動光学要素を具えた光学系 |
| JP2008004969A (ja) * | 2002-09-13 | 2008-01-10 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 |
-
1993
- 1993-08-05 JP JP19481293A patent/JP3202842B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01276116A (ja) * | 1988-04-27 | 1989-11-06 | Canon Inc | 移動光学要素を具えた光学系 |
| JP2008004969A (ja) * | 2002-09-13 | 2008-01-10 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3202842B2 (ja) | 2001-08-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3448670B2 (ja) | 露光装置及び素子製造方法 | |
| KR0149058B1 (ko) | 사용수명을 연장한 자외선 노광장치 및 노광방법 | |
| US7119878B2 (en) | Exposure apparatus and method of cleaning optical element of the same | |
| TW490734B (en) | Exposure apparatus, exposure method, and device manufacturing method | |
| JP5693587B2 (ja) | 放射源コレクタ装置、リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 | |
| KR100730675B1 (ko) | 리소그래피 툴에서 사용되는 가스를 재생하기 위한 방법및 장치 | |
| TWI331702B (en) | Method and apparatus for isolating light source gas from main chamber gas in a lithography tool | |
| US6936825B2 (en) | Process for the decontamination of microlithographic projection exposure devices | |
| JP2008252117A (ja) | リソグラフィ装置 | |
| US7116397B2 (en) | Exposure apparatus and device manufacturing method | |
| JPH11329951A (ja) | 光源装置及び露光装置 | |
| JP2005244015A (ja) | 露光装置、露光装置の光学素子の光洗浄方法、及び微細パターンを有するデバイスの製造方法 | |
| JP2005519738A (ja) | 光学表面の汚染除去を行う方法及び装置 | |
| JP3202842B2 (ja) | 紫外線利用装置の冷却用気体清浄化の方法と装置 | |
| JP2011171620A (ja) | 露光装置、洗浄方法及びデバイス製造方法 | |
| JP3265666B2 (ja) | 露光装置 | |
| JPH10242029A (ja) | 露光装置 | |
| JP4181647B2 (ja) | 露光方法 | |
| JP3619157B2 (ja) | 光学素子、該光学素子を有する露光装置、洗浄装置及び光学素子の洗浄方法 | |
| JPH0750237A (ja) | 紫外線露光装置 | |
| JPH10289854A (ja) | 露光装置 | |
| EP1710623B1 (en) | Method of cleaning a substrate surface from a crystal nucleus | |
| JP3061980B2 (ja) | 半導体露光装置 | |
| JPH0465333A (ja) | 紫外線照射炉の空冷装置及び空冷方法 | |
| JPH11191525A (ja) | 投影露光装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20010612 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090622 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100622 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100622 Year of fee payment: 9 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100622 Year of fee payment: 9 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110622 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110622 Year of fee payment: 10 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110622 Year of fee payment: 10 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110622 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120622 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120622 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130622 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140622 Year of fee payment: 13 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |