JPH07503810A - 直接変換型x線光電陰極を有するx線顕微鏡 - Google Patents
直接変換型x線光電陰極を有するx線顕微鏡Info
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Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 title claims description 16
- 229910001385 heavy metal Inorganic materials 0.000 claims description 21
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 12
- XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M caesium iodide Chemical compound [I-].[Cs+] XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 10
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 8
- LYQFWZFBNBDLEO-UHFFFAOYSA-M caesium bromide Chemical compound [Br-].[Cs+] LYQFWZFBNBDLEO-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 7
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 7
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims description 7
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical group [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- WCUXLLCKKVVCTQ-UHFFFAOYSA-M Potassium chloride Chemical compound [Cl-].[K+] WCUXLLCKKVVCTQ-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 6
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims description 6
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 claims description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical group [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims description 5
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 claims description 4
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000001103 potassium chloride Substances 0.000 claims description 3
- 235000011164 potassium chloride Nutrition 0.000 claims description 3
- AIYUHDOJVYHVIT-UHFFFAOYSA-M caesium chloride Chemical compound [Cl-].[Cs+] AIYUHDOJVYHVIT-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 2
- 241000282342 Martes americana Species 0.000 claims 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 description 3
- TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N caesium atom Chemical compound [Cs] TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M Bromide Chemical compound [Br-] CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000257465 Echinoidea Species 0.000 description 1
- YMRGCWPRUROBOB-UHFFFAOYSA-M [Br-].I.[Cs+] Chemical compound [Br-].I.[Cs+] YMRGCWPRUROBOB-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012300 argon atmosphere Substances 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- KOPBYBDAPCDYFK-UHFFFAOYSA-N caesium oxide Chemical compound [O-2].[Cs+].[Cs+] KOPBYBDAPCDYFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001942 caesium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005686 electrostatic field Effects 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 1
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical compound I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 239000005355 lead glass Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
- H01J29/02—Electrodes; Screens; Mounting, supporting, spacing or insulating thereof
- H01J29/10—Screens on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted or stored
- H01J29/36—Photoelectric screens; Charge-storage screens
- H01J29/38—Photoelectric screens; Charge-storage screens not using charge storage, e.g. photo-emissive screen, extended cathode
-
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J31/00—Cathode ray tubes; Electron beam tubes
- H01J31/08—Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
- H01J31/50—Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output
- H01J31/506—Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output tubes using secondary emission effect
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- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
直接変換型X線光電陰極を有するX線顕微鏡発明の背景
発明の技術分野
この発明は概括的にはX線イメージ増強管に関し、より詳しくは、電子増倍管に
組み合わせて直接変換X線光電陰極を用いるX線顕微鏡に関する。
従来技術の説明
X線・可視光線変換器はこの技術分野で周知であるが、一般的には間接変換技術
、すなわちX線イメージをシンチレータ−で可視光に変換し、可視光(光量子)
を対応の電子イメージに変換し、電子増倍して蛍光体表示スリーンに導いて、直
接に目視可能な可視光の増強されたイメージを生じさせる技術を用いている。X
線イメージをそれに対応する電子イメージの発生および電子増倍の前に可視光像
に変換しなければならないために数多くの不都合が生ずる。
X線イメージの可視光像への変換は、米国特許第4,104.516号、同第4
,040,900号、同第4,255.666号、および同第4,300,04
6号に記載されるとおり、通常はシンチレータを用いて行う。いずれの場合も、
シンチレータはその応答時間に限界があり空間解像度も感度も劣っているだけで
なく、製造技術の複雑さや、光電へい利用のための要員配置の必要などにより、
費用か甚だしく高い。
パネル型X線イメージ増強管においては、マイクロチャンネルブレー!−(MC
P)利得の指数関数形パルス波高値分布に主と(−2で起因するレンチlノージ
ョン雑音か問題になる。
発明の要約
したがって、この発明の目的は、特別に設計された二次電子放出層を有し、X線
イメージを等価の電子イメージに直接に変換し、高効率、低雑音、高速度、およ
び広帯域X線光量子検出性能をaする光電陰極を提供することである。
従来技術の上記欠点は、X線吸収体と(2て作用する重金属層と増倍率20倍以
−Lの電子増倍器とし、て機能する透過二次電子放出層とから成る直接変換X線
光電陰極により効果的に解消された。MCPのチャンネルあたりの入力電子数を
20倍以−トに増加させることによって、シンチレーション雑音が大幅に低減さ
れることを見出した。この発明においては、二つの部分から成る直接変換型X線
光電陰極である複合電子増倍器を用いてこの効果を達成する。すなわち、第1の
部分はX線吸収体として作用する重金属層であり、第2の部分は透過二次電子放
出層である。重金属層で発生した高エネルギー光電子は二次電子放出器により2
0倍以上に電子増倍される。この構成によって、イメージ増強管の雑音は低減さ
れ、とくに高エネルギーX線領域におけるX線光電陰極の感度が向上した。
新しいパネル型X線増強管はこの新しい直接変換型X線光電陰極をマイクロチャ
ンネルブ1〕−斗および出力表示蛍光体スクリーンと一体化することによって作
られる。
可搬型投射式X線顕微鏡を、−1−記X線増強管、微細焦点X線源およびパーソ
ナルコンビコータ(PC)利用のイメージ処理システムの使用により製作できる
。X線の工、ネルギーは調整でき、倍率はX線源と物体との間の距離の調節によ
り変化させることができる。X線増強答の低雑音化および高感度化によって倍率
を大きくできる。サブミクロンX線顕微鏡はサブミクロンX線診断用としても設
計しCある。
この発明によると、X線イメージをそれと等価の電子イメージに直接に変換でき
るX線顕微鏡用の光電陰極でつあて、大幅に改善された感度と周波数スペクトラ
ムの高エネルギーX線領域におけるごく低いシンチレーション雑音とを備える光
電陰極が得られる。
図面の簡単な説明
上述のおよびそれら以外の目的、側面および利点は図面を参照して次に述へるこ
の発明の好適な実施例の詳細な説明からよりよく理解されるであろう。図面にお
いて、図1はこの発明の直接変換型複合X線光電陰極を示し、図2はパネル型X
線イメージ増強管を示し、図3は図1のX線光電陰極を含む可搬型投射式リアル
タイムX線顕微鏡を示す。
発明の好適な実施例の詳細な説明
図面、とくに第1図を参照すると、X線光電陰極が示しである。素子6はアルミ
ニウムなどの軽金属の基板である。
その厚さは高静電界による引力に耐える一方X線強度に大きい減衰を与えないよ
うに選んである。35〜80kVのX線の場合は50μmアルミニウム箔が適当
である。素子7は、X線光電陰極の重金属層であって、タンタル、タングステン
、鉛、ビスマスまたは金の層である。その厚さの最適値は、X線光量子のエネル
ギー、Lシリーズまたはにシリーズ臨界励起電圧、およびその重金属の密度によ
って定まる。35〜80kVのX線に対する種々の重金属の厚さの最適値を表1
に示す。
表 1 各種重金属の最適の厚さ
素子8にX線光電陰極の透過二次電子放出層であり、二次電子放出係数の大きい
次の材料の一つ、すわなちヨウ化特表千7−503810 (3)
セシウム(CsI)、臭化セシウム(CsBr)、塩化カリウム(KCI)、塩
化セシウム(CsC1)または酸化マグネシウム(MgO)を含む。ヨウ化セシ
ウム層または臭化セシウム層は、高密度プロフィルを得る場合は高真空における
被膜形成により、低密度プロフィルを得る場合はアルゴンなどの不活性ガス雰囲
気内における被膜形成によりそれぞれ形成できる。ヨウ化セシウム層または臭化
セシウム層の最適の厚さは、X線エネルギーおよび特定の重金属の選択により定
まる重金属円発生光電子のエネルギに左右される。60kVのX線および金層を
選択した場合は、ヨウ化セシウム層の最適の厚さは高密度プロフィルについてハ
約7.4μm1低密度プロフィルについては370μmである。他の重金属につ
いての通常密度または低密度のハロゲン化アルカリの最適厚さをμmでそれぞれ
示すと、ビスマス6.8/340、タンタル&2/410.鉛7.0/350゜
タングステン8.1/405である。低密度プロフィルヨウ化セシウム層の二次
電子伝導(SEC)利得は100程度にできる。ヨウ化セシウム層または臭化セ
シウム層の低密度プロフィルは圧力的2 torr、のアルゴン雰囲気中でバル
ク材料を蒸発させることによって形成でき、それによって得られる層の相対密度
は約2%である。ヨウ化セシウム二次電子放出層はMCPの入力チャンネル壁に
も形成する。
この放出層は高密度の下位層と低密度の下位層とを備える。
高密度下位層は約50%の密度で1〜2μmである。低密度下位層は高密度下位
層との境界面から放出層に向かって減少する密度プロフィルを有する。この密度
分布プロフィルは境界面での50%から放出層での約2%に減少する。
低密度下位層は約3〜7μmである。
図2はパネル型X線イメージ増強管の略図を示し、素子5はその入力窓である。
この窓は0.2mmチタン箔で構成する。この薄いチタン箔は入射X線の散乱を
減らし、とくに低エネルギーX線に対してすぐれた透過係数を有する。素子9は
MCPであり、素子10はガラス板11に形成された出力表示蛍光スクリーンで
ある。動作状態では、MCPの入力表面の電圧−1000の場合に基板6の電圧
は一1500Vと一2000Vの間の範囲にあり、MCPの出力表面の接地時に
は(■=0)出力表示蛍光スクリーンの電圧は+s o o ov乃至+too
oov程度である。イメージの輝度は20Cd/rri程度に高めることができ
る。
パネル型X線イメージ増強管の直径は、増強管の厚さ約2印で50印乃至200
mmにできる。このパネル型X線増強管は入出力イメージ比1:1を有し、ガラ
スまたはセラミック容器内の真空度は5 X 10−7torr、である。
図3は鉛ガラス外被30に納めた可搬型投射式リアルタイムX線顕微鏡を示す。
X線管31として示したX線源が外被の一端にとりつけてあり、1ミクロン以下
サブミクロンの範囲のスポットサイズの35kV乃至80kVのX線ビームを点
32から出るものとして示したとおり発生する。外被30の他端には、図2で説
明したとおりのX線イメージ増強管33がとりつけてあり、特定の用途に応じて
約3000−から1000mmその他端から離しである。ビデオカメラ34はこ
のイメージ増強管の出力に生ずるX線イメージを見る手段を代表し、これは直接
見るものでも録画するものでもよい。垂直方向に調節可能なワーク35を移動レ
ール36および37の対に載せ、これによって観察対象物の位置を調節する。こ
れによって倍率は1から1000倍まで連続的に調節できる。放物面照明器38
は物体への照明用である。被験物体との軸合せのために同軸光学顕微鏡40およ
びレンズ39を用いる。照明器38およびレンズ39は試験の間は位置「A」に
動かす。
一つの好ましい実施例についてこの発明を上に説明してきたが、この発明が添付
の特許請求の範囲の請求項の真意と広さの範囲内で変形して実施できることは当
業者には認識されるであろう。
)■1宵、陰極
□
FIG、3
補正1)(翻訳文)提出書い14、□184よ。7.1□。、平成6年4月27
[同
′+!j Yf庁↓、ピ官殿
I 国際出願番号
1−ゝC1”/l’s 931078851(発、1lJi (]、粁−)称
直接変換型X線先電陰極をSrするX線顕微鏡:(特許出願人
住 所 アメリカ合衆国 メアリーランド州 21042.11片!・ソト シ
ナイ、ブライン パ り ドライブ 9806ンー (イ1、ンーー〜−Lス丁
−ル オ“ブ1−−lT、レクト[]−二−2り・イン′ニー1−七し・−テ・
ソ ド
4代理人 〒160
(1所 東東部新宿区西新宿3r’ IU 5番;3賢:・西新宿グイヤモンド
パレス301号
電話 東京(、’(345)1631
氏 乙 (65(目) 弁理−1−内 原 晋 。
(1) 補1−E−* (銅1.古文)・・ ・ ・・・目・ ・・・ ・−1
通請求の範囲
1、約5011[Ilの厚さを有する軽金属の薄い基板と、X線吸収体を構成す
るように前記軽金属基板の表面に堆積され、タンタルとタングステンと鉛とビス
マスと金とから成る群から選ばれた重金属の層と、
前記重金属層に堆積された少なくとも一つのブタ電子放出材料の層とを含み、前
記二次電子放出材料層と重金属層との組合せが電子増倍用の独立の陰極である直
接変換X線光電陰極。
2、前記軽金属基板かアルミニウムであり前記重金属層およびAV記二次電子放
出材料層か多段電子増倍器を構成Aろよ、うに作用する請求項1のX線充電陰極
。
3、前記少なくとも一つの二次電子放出材料層がヨウ化セ2ウムと臭化セシウム
と塩化カリウムと塩化セシウムと酸化マグネシウムとから成る群から選ばれでい
る請求項2のX線光電陰極。
4、前記重金属層の最適の厚さが前記光電陰極の遮断する入射X線のエネルギー
により次表に従って定まる請求項3のX線光電陰極:
5、前記二次電子放出材料がX線エネルギー60kVに対して通常の密度プロフ
ィルを示すように前記重金属層に成長させたヨウ化セシウムであり、その最適の
厚さのμm値が、X線吸収体として用いられた前記重金属に応じて、タングステ
ンについては8,2、鉛については7.01タンタルについては8.2、ビスマ
スについては6.8、金については7.4に対応するように選んである請求項4
のX線光電陰極。
6、前記二次電子放出材料がX線エネルギー60kVのときヨウ化セシウムの低
密度層であり、その最適の厚さのμm値か、X線吸収体として用いられた重金属
に応じて、タングステンについては405、鉛については350、タンタルにつ
いては410、ビスマスについては340、金につ特表千7−503810 (
5)
いては370に対応するように選んである請求項4記載のX線光電陰極。
7、パネル型直接変換リアルタイムX線イメージ増強管であって、
X線に対し大きい透過係数を有するとともに光電陰極の遮断する入射X線の散乱
を減らすことができる入力窓と、印加された静電界からの引力に耐えるに十分な
厚さの軽金属基板と、X線吸収用重金属層と多段二次電子放出手段として作用す
る陰極電子放出手段とを有する直接変換光電陰極と、
入力表面および出力表面を有するマイクロチャンネルプレートと、
前記入力窓に当たるX線イメージが前記直接変換光電陰極に伝えられそれによっ
て前記X線イメージが等価の電子イメージに変換され、前記陰極電子放出手段内
における二次電子増倍および前記マイクロチャンネルプレート内における電子の
加速および追加の増倍により前記電子イメージが増強され、その電子イメージを
蛍光表示スクリーンに当ててイメージを生じ出力する出力イメージ発生用の蛍光
表示スクリーンと
を含むX線イメージ増強管。
8、前記マイクロチャンネルプレートが、ヨウ化セシウムおよび臭化セシウムか
ら成る群から選んだ材料の3〜7μmの層であって、その入力表面に二つの明確
な下位層を形成するように二段階で堆積され、約50%の密度プロフィルを示す
第1の下位層および前記第1の下位層との境界面からその表面に向かって減少す
る密度を有する第2の下位層を通じて一様でない密度プロフィルを示す層を有す
る請求項7記載のX線イメージ増強管。
9、(削除)
10、(削除)
11、前記少なくとも一つの二次電子放出材料層が独立の陰極として作用すると
ともに互いに異なる密度の材料の少なくとも二つの下位層、すなわち約50%密
度の第1の下位層およびこの第1の下位層との境界から出力放出表面に向かって
減少する密度プロフィルを示す第2の下位層を有する請求項1のX線光電陰極。
フロントベージの続き
(72)発明者 チェン、シゼン
中華人民共和国 201800 上海市、ジャンディン、シーチェン、ペナン
ストリート(72)発明者 カオ、ウェイロウ
アメリカ合衆国 メアリーランド州
21042、エリコツト シティ ブラインパーク ドライブ 9806
(72)発明者 シー、ヤンホワ
アメリカ合衆国 メアリーランド州
21042、エリコツト シティ ブラインパーク ドライブ 9806
Claims (3)
- 1.約50μmの厚さを有する軽金属の薄い基板と、X線吸収体を構成するよう に前記軽金属基板に堆積させた重金属の層と、 電子増倍のために前記重金属層に堆積させた二次電子放出材料の層と を含む直接変換X線光電陰極。
- 2.前記軽金属基板がアルミニウムであり、前記重金属層がタンタルとタングス テンと鉛とビスマスと金とから成る群から選ばれている請求項1のX線光電陰極 。
- 3.前記二次電子放出材料層がヨウ化セシウムと臭化セシウムと塩化カリウムと 塩化セシウムと酸化マグネシウムとから成る群から選ばれている請求項2のX線 光電陰極。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US937,213 | 1992-08-28 | ||
| US07/937,213 US5285061A (en) | 1992-08-28 | 1992-08-28 | X-ray photocathode for a real time x-ray image intensifier |
| PCT/US1993/007885 WO1994006148A1 (en) | 1992-08-28 | 1993-08-23 | X-ray microscope with a direct conversion type x-ray photocathode |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07503810A true JPH07503810A (ja) | 1995-04-20 |
Family
ID=25469629
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6507248A Pending JPH07503810A (ja) | 1992-08-28 | 1993-08-23 | 直接変換型x線光電陰極を有するx線顕微鏡 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US5285061A (ja) |
| EP (1) | EP0624280A4 (ja) |
| JP (1) | JPH07503810A (ja) |
| CA (1) | CA2098072A1 (ja) |
| WO (1) | WO1994006148A1 (ja) |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2698529B2 (ja) * | 1993-04-06 | 1998-01-19 | 浜松ホトニクス株式会社 | イメージインテンシファイア装置 |
| CN1042772C (zh) * | 1993-10-16 | 1999-03-31 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种x射线象增强器及其制作方法 |
| US5635706A (en) * | 1996-03-27 | 1997-06-03 | Csl Opto-Electronics Corporation | Direct conversion X-ray/gamma-ray photocathode |
| DE69836730T2 (de) * | 1997-04-08 | 2007-10-04 | Xrt Ltd. | Hochauflösende röntgenbilderdarstellung von sehr kleinen objekten |
| IL120774A0 (en) * | 1997-05-04 | 1997-09-30 | Yeda Res & Dev | Protection of photocathodes with thin films |
| JP2003109529A (ja) * | 2001-07-25 | 2003-04-11 | Canon Inc | 画像表示装置 |
| US6956928B2 (en) * | 2003-05-05 | 2005-10-18 | Bruker Axs, Inc. | Vertical small angle x-ray scattering system |
| US7023954B2 (en) * | 2003-09-29 | 2006-04-04 | Jordan Valley Applied Radiation Ltd. | Optical alignment of X-ray microanalyzers |
| US20050211910A1 (en) * | 2004-03-29 | 2005-09-29 | Jmar Research, Inc. | Morphology and Spectroscopy of Nanoscale Regions using X-Rays Generated by Laser Produced Plasma |
| US7302043B2 (en) * | 2004-07-27 | 2007-11-27 | Gatan, Inc. | Rotating shutter for laser-produced plasma debris mitigation |
| US7452820B2 (en) * | 2004-08-05 | 2008-11-18 | Gatan, Inc. | Radiation-resistant zone plates and method of manufacturing thereof |
| US7466796B2 (en) * | 2004-08-05 | 2008-12-16 | Gatan, Inc. | Condenser zone plate illumination for point X-ray sources |
| JP4785402B2 (ja) * | 2005-04-12 | 2011-10-05 | エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 | X線用レンズ光軸調整機構、x線用レンズ光軸調整方法、およびx線分析装置 |
| WO2006113933A2 (en) * | 2005-04-20 | 2006-10-26 | Trissel Richard G | Scintillator-based micro-radiographic imaging device |
| US7406151B1 (en) * | 2005-07-19 | 2008-07-29 | Xradia, Inc. | X-ray microscope with microfocus source and Wolter condenser |
| US7414245B2 (en) * | 2006-04-20 | 2008-08-19 | Trissel Richard G | Scintillator-based micro-radiographic imaging device |
| US10062554B2 (en) * | 2016-11-28 | 2018-08-28 | The United States Of America, As Represented By The Secretary Of The Navy | Metamaterial photocathode for detection and imaging of infrared radiation |
| FR3076948A1 (fr) * | 2018-01-12 | 2019-07-19 | Centre National De La Recherche Scientifique (Cnrs) | Detecteur de photons x dans la gamme d'energie 1 a 5 kev |
| CN113589637B (zh) * | 2021-06-18 | 2023-12-01 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种硬x射线灵敏的分幅相机 |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3681606A (en) * | 1969-04-10 | 1972-08-01 | Bendix Corp | Image intensifier using radiation sensitive metallic screen and electron multiplier tubes |
| US3710125A (en) * | 1970-04-29 | 1973-01-09 | Univ Northwestern | Secondary emission enhancer for an x-ray image intensifier |
| US3818233A (en) * | 1970-07-07 | 1974-06-18 | M Nadobnikov | X-ray television measuring microscope |
| US3940620A (en) * | 1974-10-03 | 1976-02-24 | General Electric Company | Electrostatic recording of X-ray images |
| US4051403A (en) * | 1976-08-10 | 1977-09-27 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Channel plate multiplier having higher secondary emission coefficient near input |
| US4150315A (en) * | 1977-01-14 | 1979-04-17 | General Electric Company | Apparatus for X-ray radiography |
| US4365150A (en) * | 1978-05-08 | 1982-12-21 | Tektronix, Inc. | Gain stabilized microchannel plates and MCP treatment method |
| US4814599A (en) * | 1984-09-28 | 1989-03-21 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Microchannel plate streak camera |
| EP0204198B1 (de) * | 1985-05-28 | 1988-10-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Kanalstruktur eines Elektronenvervielfachers |
| US4691099A (en) * | 1985-08-29 | 1987-09-01 | Itt Electro Optical Products | Secondary cathode microchannel plate tube |
| US4730107A (en) * | 1986-03-10 | 1988-03-08 | Picker International, Inc. | Panel type radiation image intensifier |
| US5045696A (en) * | 1989-03-31 | 1991-09-03 | Shimadzu Corporation | Photoelectron microscope |
| IL93969A (en) * | 1990-04-01 | 1997-04-15 | Yeda Res & Dev | Ultrafast x-ray imaging detector |
| US5225670A (en) * | 1991-03-06 | 1993-07-06 | Csl Opto-Electronics Corp. | X-ray to visible image converter with a cathode emission layer having non-uniform density profile structure |
-
1992
- 1992-08-28 US US07/937,213 patent/US5285061A/en not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-06-09 CA CA002098072A patent/CA2098072A1/en not_active Abandoned
- 1993-08-23 WO PCT/US1993/007885 patent/WO1994006148A1/en not_active Ceased
- 1993-08-23 JP JP6507248A patent/JPH07503810A/ja active Pending
- 1993-08-23 EP EP94908875A patent/EP0624280A4/en not_active Withdrawn
- 1993-10-25 US US08/143,091 patent/US5351279A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CA2098072A1 (en) | 1994-03-01 |
| EP0624280A4 (en) | 1996-09-18 |
| US5285061A (en) | 1994-02-08 |
| WO1994006148A1 (en) | 1994-03-17 |
| US5351279A (en) | 1994-09-27 |
| EP0624280A1 (en) | 1994-11-17 |
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