JPH075138A - 穀物の食味評価方法 - Google Patents
穀物の食味評価方法Info
- Publication number
- JPH075138A JPH075138A JP14606993A JP14606993A JPH075138A JP H075138 A JPH075138 A JP H075138A JP 14606993 A JP14606993 A JP 14606993A JP 14606993 A JP14606993 A JP 14606993A JP H075138 A JPH075138 A JP H075138A
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- JP
- Japan
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- sample
- grain
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3554—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 米等の食味評価において、簡易型の測定方法
でありながら、一定精度を確保する。 【構成】 試料穀物の電気的特性値、例えば高周波抵抗
値を求めて予め求めた食味評価値との関係式等より食味
評価をする方法であって、上記の試料穀物の水分値を測
定する手段を設け、この電気的特性値からの食味評価値
を補正するよう構成する。
でありながら、一定精度を確保する。 【構成】 試料穀物の電気的特性値、例えば高周波抵抗
値を求めて予め求めた食味評価値との関係式等より食味
評価をする方法であって、上記の試料穀物の水分値を測
定する手段を設け、この電気的特性値からの食味評価値
を補正するよう構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、穀物の食味評価方法
に関する。
に関する。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来穀
物の食味評価にあたっては、例えば近赤外分析装置によ
って種々の成分を測定し、その測定結果により食味を判
定するように構成するものであるため、高性能の分析装
置を必要とし、高価となる。
物の食味評価にあたっては、例えば近赤外分析装置によ
って種々の成分を測定し、その測定結果により食味を判
定するように構成するものであるため、高性能の分析装
置を必要とし、高価となる。
【０００３】
【課題を解決するための手段】このためこの発明は、試
料穀物の電気的特性値によりその穀物の食味評価をする
方法であって、上記の電気的特性値を測定試料穀物の水
分値で補正する穀物の食味評価方法の構成とする。
料穀物の電気的特性値によりその穀物の食味評価をする
方法であって、上記の電気的特性値を測定試料穀物の水
分値で補正する穀物の食味評価方法の構成とする。
【０００４】
【発明の作用効果】従来、試料穀物の成分分析によって
食味影響因子の割合等を求め、この割合から食味評価値
を算出していたため、上記成分分析のための分析装置が
高価となりがちであったが、本発明方法では、単に試料
穀物の電気的特性値を一括的に求めることより、この電
気的特性値と食味評価値との関係から食味を求めること
ができるものにして、複雑な分析手段を要さず、安価で
ある。
食味影響因子の割合等を求め、この割合から食味評価値
を算出していたため、上記成分分析のための分析装置が
高価となりがちであったが、本発明方法では、単に試料
穀物の電気的特性値を一括的に求めることより、この電
気的特性値と食味評価値との関係から食味を求めること
ができるものにして、複雑な分析手段を要さず、安価で
ある。
【０００５】又、水分影響については予め試料穀物の水
分値による食味値への影響程度を掴み、水分検出によっ
て補正を行なうことより精度を確保できる。
分値による食味値への影響程度を掴み、水分検出によっ
て補正を行なうことより精度を確保できる。
【０００６】
【実施例】この発明の一実施例を図面に基づき説明す
る。図１は装置の概要を示し、アウター部１ａとインナ
ー部１ｂとからなるサンプル容器１のアウター部１ａに
は高周波電極２を接続し、該電極２には高周波抵抗測定
回路部３を介してコンピュータ４の演算制御部に容器１
内試料穀物の測定信号が入力される構成である。
る。図１は装置の概要を示し、アウター部１ａとインナ
ー部１ｂとからなるサンプル容器１のアウター部１ａに
は高周波電極２を接続し、該電極２には高周波抵抗測定
回路部３を介してコンピュータ４の演算制御部に容器１
内試料穀物の測定信号が入力される構成である。
【０００７】上記高周波電極２は、試料穀物例えば玄米
に付与された減衰振動を電気的に変換し、電気的特性値
として捉えることができる。その具体的手段は高周波抵
抗によって穀物水分を測定する手段と同じである。この
電気的特性値である高周波抵抗値Ｒの対数値と穀物の食
味値とは、図３のように一定の関係があり、つまり抵抗
値の対数と食味評価値とは比例関係にある知見を得てい
る。その根拠となるデータの一部は表１のとおりであ
る。尚、食味値は点数評価値の高いほど良食味とされ
る。
に付与された減衰振動を電気的に変換し、電気的特性値
として捉えることができる。その具体的手段は高周波抵
抗によって穀物水分を測定する手段と同じである。この
電気的特性値である高周波抵抗値Ｒの対数値と穀物の食
味値とは、図３のように一定の関係があり、つまり抵抗
値の対数と食味評価値とは比例関係にある知見を得てい
る。その根拠となるデータの一部は表１のとおりであ
る。尚、食味値は点数評価値の高いほど良食味とされ
る。
【０００８】
【表１】
【０００９】一方、該サンプル容器１内の試料穀物に
は、光源５から光が照射される構成である。すなわち、
光源５からの光はレンズ６，スリット７，チョッパホイ
ル８，フィルタホイル９による光量乃至波長調整を受け
て照射される構成である。更にこの照射光を方向変換し
てサンプル容器１内試料穀物を照射すべく反射鏡１０，
投光レンズ１１を設ける。試料穀物の光照射側に対応し
てサンプル容器１をウインドウガラス１ｃに構成し、反
射光は集光用凹面鏡１２，集光用凸面鏡１３を介して光
検出器１４に至る構成であり、該検出光は光量検出回路
部１５を経て前記コンピュータ４の演算制御部に信号入
力される構成である。
は、光源５から光が照射される構成である。すなわち、
光源５からの光はレンズ６，スリット７，チョッパホイ
ル８，フィルタホイル９による光量乃至波長調整を受け
て照射される構成である。更にこの照射光を方向変換し
てサンプル容器１内試料穀物を照射すべく反射鏡１０，
投光レンズ１１を設ける。試料穀物の光照射側に対応し
てサンプル容器１をウインドウガラス１ｃに構成し、反
射光は集光用凹面鏡１２，集光用凸面鏡１３を介して光
検出器１４に至る構成であり、該検出光は光量検出回路
部１５を経て前記コンピュータ４の演算制御部に信号入
力される構成である。
【００１０】光源５を近赤外線照射型とし、光検出器１
３，光量検出回路部１５を近赤外分析装置とすることに
より、予め設定した水分値算出用の検量線に基づいて、
光量検出スペクトルとの関係から当該試料穀物の水分値
を算出できる構成である。上記の図３に記載のように、
高周波抵抗値の対数と食味評価値とは一定の比例関係に
あるが、水分によっても変動し、この水分変動を考慮し
て補正しなければならず、この補正を水分測定値によっ
て行なう。すなわち、水分値を高・標準・低の３段階に
分け、夫々の関係直線を予め求めておきコンピュータ４
のＲＯＭにこの関係直線を表す関係式を記憶しておく。
検出水分値によっていずれの関係式かを選択し電気的特
性値より食味評価値を算出するものである。
３，光量検出回路部１５を近赤外分析装置とすることに
より、予め設定した水分値算出用の検量線に基づいて、
光量検出スペクトルとの関係から当該試料穀物の水分値
を算出できる構成である。上記の図３に記載のように、
高周波抵抗値の対数と食味評価値とは一定の比例関係に
あるが、水分によっても変動し、この水分変動を考慮し
て補正しなければならず、この補正を水分測定値によっ
て行なう。すなわち、水分値を高・標準・低の３段階に
分け、夫々の関係直線を予め求めておきコンピュータ４
のＲＯＭにこの関係直線を表す関係式を記憶しておく。
検出水分値によっていずれの関係式かを選択し電気的特
性値より食味評価値を算出するものである。
【００１１】上記実施例では、電気的特性値の測定にあ
たり、高周波電気抵抗式について説明したが、この電気
的特性値を検出する測定装置としては、他に高周波容量
式があるほか、直流抵抗式，交流抵抗式等いずれでもよ
い。尚、１６はチョッパホイル８用モータ、１７はフィ
ルタホイル９用モータであり、またブロック回路中、１
８は検量線を記憶等するROM/RAMからなる記憶部、１９
は算出食味値を点数表示する表示部である。２０，２０
は入出力インターフェイス、２１は測定開始スイッチ、
２２は停止スイッチである。
たり、高周波電気抵抗式について説明したが、この電気
的特性値を検出する測定装置としては、他に高周波容量
式があるほか、直流抵抗式，交流抵抗式等いずれでもよ
い。尚、１６はチョッパホイル８用モータ、１７はフィ
ルタホイル９用モータであり、またブロック回路中、１
８は検量線を記憶等するROM/RAMからなる記憶部、１９
は算出食味値を点数表示する表示部である。２０，２０
は入出力インターフェイス、２１は測定開始スイッチ、
２２は停止スイッチである。
【図面の簡単な説明】
【図１】装置概要図である。
【図２】ブロック図である。
【図３】高周波抵抗−食味評価値関係グラフである。
１ サンプル容器 ２ 高周波電極 ３ 高周波抵抗測定回路部 ４ コンピュータ ５ 光源 ６ レンズ ７ スリット ８ チョッパホイル ９ フィルタホイル １０ 反射鏡 １１ 投光レンズ１１ １２ 集光用凹面鏡 １３ 集光用凸面鏡 １４ 光検出器 １５ 光量検出回路部
Claims (1)
- 【請求項１】 試料穀物の電気的特性値によりその穀物
の食味評価をする方法であって、上記の電気的特性値を
測定試料穀物の水分値で補正する穀物の食味評価方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14606993A JPH075138A (ja) | 1993-06-17 | 1993-06-17 | 穀物の食味評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14606993A JPH075138A (ja) | 1993-06-17 | 1993-06-17 | 穀物の食味評価方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH075138A true JPH075138A (ja) | 1995-01-10 |
Family
ID=15399389
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14606993A Pending JPH075138A (ja) | 1993-06-17 | 1993-06-17 | 穀物の食味評価方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH075138A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100419413C (zh) * | 2006-05-12 | 2008-09-17 | 南京农业大学 | 平仓式谷物干燥机谷物水分检测方法 |
| US8350945B2 (en) | 2007-10-15 | 2013-01-08 | Panasonic Corporation | Camera body used in an imaging device with which the state of an optical system is verified by an operation member |
| JP2013145944A (ja) * | 2012-01-13 | 2013-07-25 | Olympus Imaging Corp | 撮影システムおよびレンズ鏡筒 |
-
1993
- 1993-06-17 JP JP14606993A patent/JPH075138A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100419413C (zh) * | 2006-05-12 | 2008-09-17 | 南京农业大学 | 平仓式谷物干燥机谷物水分检测方法 |
| US8350945B2 (en) | 2007-10-15 | 2013-01-08 | Panasonic Corporation | Camera body used in an imaging device with which the state of an optical system is verified by an operation member |
| US8994868B2 (en) | 2007-10-15 | 2015-03-31 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Camera body and imaging device |
| JP2013145944A (ja) * | 2012-01-13 | 2013-07-25 | Olympus Imaging Corp | 撮影システムおよびレンズ鏡筒 |
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