JPH075401A - レンズ検査装置及びその検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 隠しマ−クが観察者により容易に視認できる
とともに、容易に隠しマ−クや傷を検出する。 【構成】 被検レンズの隠しマ−クや傷を検出するレン
ズ検査装置において、レンズを検査装置の所定の位置に
支持する支持手段と、第１の照明光源と、該第１の照明
光源により照明される多数のピンホ−ルが配列されたピ
ンホ−ル板と、該ピンホ−ル板を通過し被検レンズを透
過する照明光束によりピンホ−ル像を形成するピンホ−
ル像形成光学系とを具備して、該ピンホ−ル像形成光学
系によりピンホ−ル像が形成される位置に検査者の瞳孔
を位置させることにより被検レンズの隠しマ−クや傷を
検出することを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はレンズの表面を検査する
レンズ検査装置及びその方法に係り、殊に累進多焦点レ
ンズに付された隠しマ−クやキズを検査するのに好適な
装置及びその方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】枠入れ加工前の眼鏡レンズにはその屈折
特性がレンズ表面に視認しやすい態様で記されている
が、枠入れ後この記載は拭きとられてしまい、加工後の
レンズにはレンズ表面に微小な隠しマ−クが残されるだ
けである。累進多焦点レンズは光学設計が各社により大
きく異なる他加入度数を正確に測定することが難しいの
で、新しく累進多焦点レンズを調整する場合、現在装用
しているレンズのメ−カの種類や加入度数を知ることは
重要である。この隠しマ−クは、装着者の眼の妨げとな
らないように、微小な凹みにより形成されているので、
蛍光灯等の明りにレンズをかざすことによって、かろう
じて観察できるかという程度のものである。隠しマ−ク
の中には緩い凹みにより形成されているものもあり、こ
れを読み取ることは極めて困難である。また、ガラスや
レンズのような物体の微小な表面キズを検査する方法と
して、光源側にピンホ−ルを配置して、ピンホ−ルの結
像位置近傍にナイフエッジを配置するフ−コーテストが
知られている。さらに、フ−コーテストの１つの応用と
してシュリ−レン法も知られている。シュリ−レン法
は、光源側にピンホ−ルを配置すると共に、ピンホ−ル
の結像位置にピンホ−ルを設け、接眼部（カメラ部）の
ピンホ−ルにより散乱光をカットすることによって、表
面キズを黒く浮き上がらせる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】蛍光灯等の明りにレン
ズをかざすことによって隠しマ−クを観察する方法は、
観察者に対して十分な視力と熟練を要求するという欠点
がある。また、フ−コーテストやシュリ−レン法は隠し
マ−クを観察する方法としては今だ提案されていない。
殊に、累進多焦点レンズの場合は、ピンホ−ルの光が一
点に集光しないので、全体を観察することができないと
いう問題がある。さらに、瞳孔を接眼部（カメラ部）の
ピンホ−ルとして利用する場合にはその位置合わせが難
しいと言う問題があった。本発明の第１の目的は、上記
従来技術の欠点に鑑み、隠しマ−クが観察者により容易
に視認できる検査装置を提供することにある。本発明の
第２の目的は、位置合わせが容易な隠しマ−クや傷を検
出する検査装置を提供することにある。

【０００４】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本願発明は次のような構成を持つことを特徴とす
る。 （１） 被検レンズの隠しマ−クや傷を検出するレンズ
検査装置において、レンズを検査装置の所定の位置に支
持する支持手段と、第１の照明光源と、該第１の照明光
源により照明される多数のピンホ−ルが配列されたピン
ホ−ル板と、該ピンホ−ル板を通過し被検レンズを透過
する照明光束によりピンホ−ル像を形成するピンホ−ル
像形成光学系とを具備して、該ピンホ−ル像形成光学系
によりピンホ−ル像が形成される位置に検査者の瞳孔を
位置させることにより被検レンズの隠しマ−クや傷を検
出することを特徴とする。

【０００５】（２） 被検レンズの隠しマ−クや傷を検
出するレンズ検査装置において、レンズを検査装置の所
定の位置に支持する支持手段と、第１の照明光源と、該
第１の照明光源により照明される多数のピンホ−ルが配
列された第１ピンホ−ル板と、該ピンホ−ル板を通過し
レンズを透過する照明光束によりピンホ−ル像を形成す
るピンホ−ル像形成光学系と、該ピンホ−ル像形成光学
系によりピンホ−ル像が形成される位置に設けられた第
２ピンホ−ル板と、該第２ピンホ−ル板を通過した光束
により隠しマ−クを所定の像面に投影する投影光学系
と、を有することを特徴とする。

【０００６】（３） 被検レンズの隠しマ−クや傷を検
出するレンズ検査方法において、被検レンズを検査装置
の所定の位置に置く過程と、多数の第１のピンホ−ルが
配列されたピンホ−ル板を照明する過程と、ピンホ−ル
板を通過し被検レンズを透過する照明光束でピンホ−ル
像を形成する過程と、ピンホ−ル像が形成される位置に
第２のピンホ−ルを設けて隠しマ−クや傷による散乱光
を取り除く過程と、第２のピンホ−ルを通過した光束に
より隠しマ−クや傷を所定の像面に投影する過程と、か
らなることを特徴とする。

【０００７】（４） 眼鏡レンズの隠しマ−クを検出す
るレンズ検査装置において、眼鏡レンズを検査装置の所
定の位置に支持する支持手段と、照明光源と、該照明光
源により照明されるピンホ−ルが形成されたピンホ−ル
板と、該ピンホ−ル板を通過し眼鏡レンズを透過する照
明光束によりピンホ−ル像を形成するピンホ−ル像形成
光学系とを具備して、該ピンホ−ル像形成光学系により
ピンホ−ル像が形成される位置に検査者の瞳孔を位置さ
せることにより眼鏡レンズの隠しマ−クを検出すること
を特徴とする。

【０００８】（５） 眼鏡レンズの隠しマ−クを検出す
るレンズ検査装置において、眼鏡レンズを検査装置の所
定の位置に支持する支持手段と、照明光源と、該照明光
源により照明される第１ピンホ−ルが形成されたピンホ
−ル板と、該第１ピンホ−ル板を通過し眼鏡レンズを透
過する照明光束によりピンホ−ル像を形成するピンホ−
ル像形成光学系と、該ピンホ−ル像形成光学系によりピ
ンホ−ル像が形成される位置に設けられた第２ピンホ−
ル板と、該第２ピンホ−ル板を通過した光束により隠し
マ−クを所定の像面に投影する投影光学系と、を具備す
ることを特徴とする。

【０００９】（６） 眼鏡レンズの隠しマ−クを検出す
るレンズ検査方法において、眼鏡レンズを検査装置の所
定の位置に置く過程と、第１のピンホ−ルが形成された
ピンホ−ル板を照明光源により照明する過程と、ピンホ
−ル板を通過し眼鏡レンズを透過する照明光束によりピ
ンホ−ル像を形成する過程と、ピンホ−ル像が形成され
る位置に第２のピンホ−ルを設けて隠しマ−クによる散
乱光を取り除く過程と、ピンホ−ルを通過した光束によ
り隠しマ−クを所定の像面に投影する過程と、からなる
ことを特徴とする。

【００１０】

【実施例１】本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。図１は１実施例の装置の光学系を側面から見た図で
あり、図２は装置の光学系を上方から見た図である。装
置の光学系は隠しマ−ク読取り光学系Ａと、斜入射照明
光学系Ｂとから構成される。 （隠しマ−ク読取り光学系）１は照明光源であり、隠し
マ−ク読取り光学系Ａと斜入射照明光学系Ｂの共通の光
源として使用される。２は反射鏡である。３はシャッタ
であり、検査者は図示しないスイッチ操作でモ−タを駆
動させることによって、シャッタ３を隠しマ−ク読取り
光学系Ａまたは斜入射照明光学系Ｂの光路に選択的に挿
入する。しかし、その駆動手段は手動等特に限定される
ものではない。４はピンホール板であり、その正面形状
を図３に示す。ピンホール板４には直径１mmのピンホ−
ルが３mmのピッチで縦横に規則的に設けられている。ピ
ンホ−ル径及びピンホ−ルの配列ピッチは必ずしもこれ
に限られるものではなく、例えばピンホ−ル径０．３m
m、ピンホ−ルピッチ１mmのチャ−ト板で累進多焦点レ
ンズを観察したところ、ピンホール板４と比較して、明
るさムラは改良されたが、肉眼観察では十分視認できた
ものの隠しマ−クのコントラストは低下した。一般的に
いえば、ピンホ−ル径及びピンホ−ルピッチは、検査対
象の種類、検出対象の形成具合、光学系の倍率、観察方
法等の諸要素を考慮して適切に決定されるべきである。
ピンホール板４はノブ（図示せず）の操作により光軸方
向に移動可能であり、被検レンズのパワ−が変わっても
検者眼の位置を固定したまま観察の最適位置が得られ
る。５は、ピンホール板４を通過した照明光を被検レン
ズ６に投光する投光レンズである。被検レンズ６は図示
しない保持手段（図上ではレンズのみが示されている
が、眼鏡レンズを検査する装置ではフレ−ムも保持でき
るようにする）により光路中に保持される。７は検者眼
８ａ，８ｂの視野をカバ−する口径の観察レンズであ
り、被検レンズ６の表面の像を検者眼８ａ，８ｂの眼底
に結ぶ。実施例では観察倍率は２倍にしている。

【００１１】（斜入射照明光学系）照明光源１の光束は
コンデンサレンズ９により集光されてほぼ平行光束にさ
れた後、第１ミラ−１０及び第２ミラ−１１により反射
され、被検レンズ６の背後から斜入射照明を行なう。１
２は被検レンズ６を透過した照明光を吸収する吸光板で
ある。斜入射照明の際には、隠しマ−ク読取り光学系の
光路にはシャッタ３が挿入されるので視野は暗くなる
（暗視野照明）。照明光は検者眼に直接入らず、傷等の
表面で散乱された光のみが検者眼に入る。

【００１２】以上の構成の装置において、次にその作用
を説明する。被検レンズの隠しマ−クの観察を説明す
る。被検レンズを保持手段で保持して所定の位置に置
く。検者は観察レンズ７を介して被検レンズ６を見る。
被検レンズが単焦点レンズの場合でピンホ−ルを一つ設
けた例で説明する。図４のように点光源からでた光をコ
リメ−ティングレンズで平行にした後、被検レンズを通
し、検者はその瞳孔を被検レンズの集光位置に置き被検
レンズを観察する。このとき検者は被検レンズの全体を
観察することができるが、被検レンズに凹凸や内部脈理
があると、光の進む方向が乱れるためにその光は検者眼
に届かず、欠陥の部分は周囲に比べて暗くなる。したが
って、検者眼には隠しマ−ク等の微小な刻印を観察する
ことができる。しかし、被検レンズが累進多焦点レンズ
の場合、点光源の光は一点に集光せず、検者眼には被検
レンズのある部分領域の光しか届かないので、被検レン
ズ全体を観察できない。ところが、実施例のように複数
の点光源を設け、部分領域の光の集合を作ることによっ
て、被検レンズの全体を観察することができる。また、
図５のように、多数の点光源を配列することにより、被
検レンズが単焦点レンズの場合を想定すれば明らかなよ
うに、検者眼にはいずれかの点光源からの光が検者眼に
届くので、図４の場合と異なり観察位置の制限を取り除
くことができる。さらに、このようにすれば両眼での観
察も可能になる。

【００１３】このような作用の結果、検者眼は、観察位
置の厳密な調整作業をすることなく、被検レンズの屈折
力に応じて最も視認しやすい位置にピンホール板４の位
置を移動するだけで、累進多焦点レンズ全体について観
察できる。被検レンズの隠しマ−クや傷により散乱され
た光は検者眼にほとんど届かないので、検者は隠しマ−
クを読取り、傷の存在を知ることができる。また、検者
は斜入射照明により被検レンズの傷を検査できる。隠し
マ−ク読取り光学系の光路にシャッタ３を挿入し、被検
レンズの裏側から斜入射照明を行なう。照明光は検者眼
に直接入らず、傷等の表面で散乱された光のみが検者眼
に入るので、線状傷でも感度良く検出することができ
る。以上の実施例では、観察方法として検者眼による直
接観察を採用したが、検者眼に代えて、アパ−チャ、撮
像レンズ、撮像手段に置き換えて、間接的な観察にして
も良い。

【００１４】

【実施例２】図６は実施例２の装置の光学系を側面から
見た図である。実施例２は、実施例１と比較して、単眼
による観察装置であること、照明光源は隠しマ−ク読取
り光学系と斜入射照明光学系それぞれに設けられている
こと、斜入射照明光学系は上下一対の光学系から構成さ
れている点で相違する。なお、実施例１とほぼ同一の部
材には同一の符号を用いる。１３及び１４は斜入射照明
光学系の光源であり、コンデンサレンズ１５及び１６に
よって集光し、被検レンズ６を斜入射照明する。本実施
例では上下２つの光源を用いているので、実施例１と比
較して、被検レンズの傷の態様の観察への影響を小さく
することができる。また、実施例１のシャッタ３の切換
え操作に代えて、本実施例は光源１と光源１３，１４の
切換え点灯を行なう。以上のような実施例は種々の変容
が可能であり、また、ガラス基板等の透過性基板や反射
基板の検査にも応用が可能であることは明らかである。
したがって、本願のレンズとは固有のレンズ作用のもの
だけではなく、上記のようなものも含んでいる。

【００１５】

【発明の効果】本発明によれば、隠しマ−クが観察者に
より容易に視認できるとともに、容易に隠しマ−クや傷
を検出することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】装置の光学系を側面から見た図である。

【図２】装置の光学系を上方から見た図である。

【図３】ピンホール板の正面形状を示す図である。

【図４】点光源を１つ設けたときを示す図である。

【図５】多数の点光源を配列した時を示す図である。

【図６】実施例２の装置の光学系を側面から見た図であ
る。

【符号の説明】

１ 照明光源 ２ 反射鏡 ３ シャッタ ４ ピンホール板 ５ 投光レンズ ６ 被検レンズ ７ 観察レンズ ８ 検者眼 ９ コンデンサレンズ １０ 第１ミラー １１ 第２ミラー １２ 吸収板

Claims (17)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被検レンズの隠しマ−クや傷を検出する
   レンズ検査装置において、レンズを検査装置の所定の位
   置に支持する支持手段と、第１の照明光源と、該第１の
   照明光源により照明される多数のピンホ−ルが配列され
   たピンホ−ル板と、該ピンホ−ル板を通過し被検レンズ
   を透過する照明光束によりピンホ−ル像を形成するピン
   ホ−ル像形成光学系とを具備して、該ピンホ−ル像形成
   光学系によりピンホ−ル像が形成される位置に検査者の
   瞳孔を位置させることにより被検レンズの隠しマ−クや
   傷を検出することを特徴とするレンズ検査装置。
2. 【請求項２】 請求項１のレンズ検査装置において、前
   記ピンホ−ル板を光軸方向に移動する移動手段を設けた
   ことを特徴とするレンズ検査装置。
3. 【請求項３】 請求項１のレンズ検査装置はさらに、第
   ２の照明光源と、該第２の照明光源の光束を検査者から
   見て被検レンズの裏面から斜入射させる斜入射照明光学
   系と、第１の照明光源による照明と第２の照明光源によ
   る照明とを選択する選択手段とを具備することを特徴と
   するレンズ検査装置。
4. 【請求項４】 請求項３の第１及び第２の照明光源は共
   通であり、シャッタを選択的に光路に挿入することを特
   徴とするレンズ検査装置。
5. 【請求項５】 被検レンズの隠しマ−クや傷を検出する
   レンズ検査装置において、レンズを検査装置の所定の位
   置に支持する支持手段と、第１の照明光源と、該第１の
   照明光源により照明される多数のピンホ−ルが配列され
   た第１ピンホ−ル板と、該ピンホ−ル板を通過しレンズ
   を透過する照明光束によりピンホ−ル像を形成するピン
   ホ−ル像形成光学系と、該ピンホ−ル像形成光学系によ
   りピンホ−ル像が形成される位置に設けられた第２ピン
   ホ−ル板と、該第２ピンホ−ル板を通過した光束により
   隠しマ−クを所定の像面に投影する投影光学系と、を有
   することを特徴とする検査装置。
6. 【請求項６】 請求項５のレンズ検査装置において、前
   記ピンホ−ル板を光軸方向に移動する移動手段を設けた
   ことを特徴とするレンズ検査装置。
7. 【請求項７】 請求項５のレンズ検査装置はさらに、第
   ２の照明光源と、該第２の照明光源の光束を検査者から
   見て被検レンズの裏面から斜入射させる斜入射照明光学
   系と、第１の照明光源による照明と第２の照明光源によ
   る照明とを選択する選択手段とを具備することを特徴と
   するレンズ検査装置。
8. 【請求項８】 請求項５の第１及び第２の照明光源は共
   通であり、シャッタを選択的に光路に挿入することを特
   徴とするレンズ検査装置。
9. 【請求項９】 被検レンズの隠しマ−クや傷を検出する
   レンズ検査方法において、被検レンズを検査装置の所定
   の位置に置く過程と、多数の第１のピンホ−ルが配列さ
   れたピンホ−ル板を照明する過程と、ピンホ−ル板を通
   過し被検レンズを透過する照明光束でピンホ−ル像を形
   成する過程と、ピンホ−ル像が形成される位置に第２の
   ピンホ−ルを設けて隠しマ−クや傷による散乱光を取り
   除く過程と、第２のピンホ−ルを通過した光束により隠
   しマ−クや傷を所定の像面に投影する過程と、からなる
   ことを特徴とするレンズ検査方法。
10. 【請求項１０】 請求項９の第２のピンホ−ルは検査者
    の瞳孔であることを特徴とするレンズ検査方法。
11. 【請求項１１】 眼鏡レンズの隠しマ−クを検出するレ
    ンズ検査装置において、眼鏡レンズを検査装置の所定の
    位置に支持する支持手段と、照明光源と、該照明光源に
    より照明されるピンホ−ルが形成されたピンホ−ル板
    と、該ピンホ−ル板を通過し眼鏡レンズを透過する照明
    光束によりピンホ−ル像を形成するピンホ−ル像形成光
    学系とを具備して、該ピンホ−ル像形成光学系によりピ
    ンホ−ル像が形成される位置に検査者の瞳孔を位置させ
    ることにより眼鏡レンズの隠しマ−クを検出することを
    特徴とするレンズ検査装置。
12. 【請求項１２】 請求項１１のレンズ検査装置におい
    て、前記ピンホ−ル板を光軸方向に移動する移動手段を
    設けたことを特徴とするレンズ検査装置。
13. 【請求項１３】 眼鏡レンズの隠しマ−クを検出するレ
    ンズ検査装置において、眼鏡レンズを検査装置の所定の
    位置に支持する支持手段と、照明光源と、該照明光源に
    より照明される第１ピンホ−ルが形成されたピンホ−ル
    板と、該第１ピンホ−ル板を通過し眼鏡レンズを透過す
    る照明光束によりピンホ−ル像を形成するピンホ−ル像
    形成光学系と、該ピンホ−ル像形成光学系によりピンホ
    −ル像が形成される位置に設けられた第２ピンホ−ル板
    と、該第２ピンホ−ル板を通過した光束により隠しマ−
    クを所定の像面に投影する投影光学系と、を具備するこ
    とを特徴とするレンズ検査装置。
14. 【請求項１４】 請求項１３のレンズ検査装置におい
    て、前記ピンホ−ル板を光軸方向に移動する移動手段を
    設けたことを特徴とするレンズ検査装置。
15. 【請求項１５】 眼鏡レンズの隠しマ−クを検出するレ
    ンズ検査方法において、眼鏡レンズを検査装置の所定の
    位置に置く過程と、第１のピンホ−ルが形成されたピン
    ホ−ル板を照明光源により照明する過程と、ピンホ−ル
    板を通過し眼鏡レンズを透過する照明光束によりピンホ
    −ル像を形成する過程と、ピンホ−ル像が形成される位
    置に第２のピンホ−ルを設けて隠しマ−クによる散乱光
    を取り除く過程と、ピンホ−ルを通過した光束により隠
    しマ−クを所定の像面に投影する過程と、からなること
    を特徴とするレンズ検査方法。
16. 【請求項１６】 請求項１５の第２のピンホ−ルは検査
    者の瞳孔であることを特徴とするレンズ検査方法。
17. 【請求項１７】 請求項１５の第１のピンホ−ルはピン
    ホ−ル板に配列された多数のピンホ−ルであることを特
    徴とするレンズ検査方法。