JPH0755710A - 感光体ドラムの欠陥検査装置 - Google Patents
感光体ドラムの欠陥検査装置Info
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- JPH0755710A JPH0755710A JP19868793A JP19868793A JPH0755710A JP H0755710 A JPH0755710 A JP H0755710A JP 19868793 A JP19868793 A JP 19868793A JP 19868793 A JP19868793 A JP 19868793A JP H0755710 A JPH0755710 A JP H0755710A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】ドラム表面の欠陥，感光層内部の欠陥を含む多
種多様な欠陥を感度よく的確に検出できるようにした感
光体ドラムの欠陥検査装置を提供する。 【構成】感光体ドラム１の表面軸方向に光を照射する光
源４と、該光源を挟んでその両側に配置し、ドラムから
の反射光を受光してその光強度を検出するラインセンサ
としての２ステージのＣＣＤカメラ５Ａ，５Ｂおよびそ
の信号処理部６と、感光体ドラムを回転する駆動モータ
７との組合わせからなり、かつ光源により感光体ドラム
表面に照射形成された直射光の当たる明部Ａ，および散
乱光の当たる暗部ＢにそれぞれＣＣＤカメラ５Ａ，５Ｂ
のピントを合わせ、この状態でドラムを回転させながら
光源を点灯し、ＣＣＤカメラを通じて感光体ドラムの表
面に生じた傷，ないし感光層内部に混入した異物，感光
層の塗装むらなどの欠陥を検出する。
種多様な欠陥を感度よく的確に検出できるようにした感
光体ドラムの欠陥検査装置を提供する。 【構成】感光体ドラム１の表面軸方向に光を照射する光
源４と、該光源を挟んでその両側に配置し、ドラムから
の反射光を受光してその光強度を検出するラインセンサ
としての２ステージのＣＣＤカメラ５Ａ，５Ｂおよびそ
の信号処理部６と、感光体ドラムを回転する駆動モータ
７との組合わせからなり、かつ光源により感光体ドラム
表面に照射形成された直射光の当たる明部Ａ，および散
乱光の当たる暗部ＢにそれぞれＣＣＤカメラ５Ａ，５Ｂ
のピントを合わせ、この状態でドラムを回転させながら
光源を点灯し、ＣＣＤカメラを通じて感光体ドラムの表
面に生じた傷，ないし感光層内部に混入した異物，感光
層の塗装むらなどの欠陥を検出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電子写真応用の複写機
あるいはプリンタなどに採用される有機感光体（ＯＰ
Ｃ）ドラムの表面欠陥検査装置に関する。
あるいはプリンタなどに採用される有機感光体（ＯＰ
Ｃ）ドラムの表面欠陥検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】まず、頭記した有機感光体ドラムの構
造，および感光体ドラムに生じた欠陥の様子を図６
（ａ),（ｂ）に示す。図において、１は感光体ドラム、
２はそのドラム素管、３はドラム素管１の表面に成層し
た感光層であり、この感光層３はキャリヤ発生層（ＣＧ
層）３ａと、キャリヤ輸送層（ＣＴ層）３ｂからなる。
造，および感光体ドラムに生じた欠陥の様子を図６
（ａ),（ｂ）に示す。図において、１は感光体ドラム、
２はそのドラム素管、３はドラム素管１の表面に成層し
た感光層であり、この感光層３はキャリヤ発生層（ＣＧ
層）３ａと、キャリヤ輸送層（ＣＴ層）３ｂからなる。
【０００３】ところで、感光体ドラムは製造工程でその
表面，感光層内に傷付き，異物の混在，あるいは塗装む
らなどの欠陥が生じることがあり、このような欠陥があ
ると感光体ドラムとしての画像処理機能が低下する。な
お、図６（ｂ）において、Ｘは傷付きなどの表面欠陥、
Ｙは感光層内に混在した異物，塗装むらなどの内部欠陥
を表している。そこで、感光体ドラムの製造ラインでは
最終の検査工程で前記のような表面欠陥，内部欠陥が無
いかをチエックする欠陥検査を行っている。
表面，感光層内に傷付き，異物の混在，あるいは塗装む
らなどの欠陥が生じることがあり、このような欠陥があ
ると感光体ドラムとしての画像処理機能が低下する。な
お、図６（ｂ）において、Ｘは傷付きなどの表面欠陥、
Ｙは感光層内に混在した異物，塗装むらなどの内部欠陥
を表している。そこで、感光体ドラムの製造ラインでは
最終の検査工程で前記のような表面欠陥，内部欠陥が無
いかをチエックする欠陥検査を行っている。
【０００４】この欠陥検査法として、一般には検査員に
よる目視検査を行っているのが現状であるが、この目視
検査では検査能力にも限界があることから、目視検査に
代わる各種の光電式の自動検査方式を提唱され、その開
発が進められている。また、その欠陥検査方式の一つと
して、ＣＣＤカメラをラインセンサとして用いて感光体
ドラムの表面欠陥を検査する装置が特開平３−５４４３
８号公報などで既に公知である。
よる目視検査を行っているのが現状であるが、この目視
検査では検査能力にも限界があることから、目視検査に
代わる各種の光電式の自動検査方式を提唱され、その開
発が進められている。また、その欠陥検査方式の一つと
して、ＣＣＤカメラをラインセンサとして用いて感光体
ドラムの表面欠陥を検査する装置が特開平３−５４４３
８号公報などで既に公知である。
【０００５】図７はこの欠陥検査装置を示すものであ
り、４は光源（例えば螢光灯）、５はライン状に並ぶＣ
ＣＤ素子５ａ，集光レンズ５ｂを内蔵したラインセンサ
としてのＣＣＤカメラ、６は信号処理部（画像処理回
路）、７は感光体ドラム１を回転する駆動モータであ
り、ＣＣＤカメラ５はドラム表面上における光源４の投
光照射面，特に直射光が当たる照度の最も高い地点にピ
ントを合わせて配置されている。かかる構成で光源４を
点灯すると、ドラム表面には軸方向に沿って光が帯状に
照射され、その反射光がＣＣＤカメラ５で受光される。
また、駆動モータ７により感光体ドラム１を１回転すれ
ば、ドラムの周面全域が走査される。そして、ＣＣＤカ
メラ５の出力信号を基に信号処理部６は欠陥の有無，欠
陥の大きさなどを判定して欠陥信号を出力する。
り、４は光源（例えば螢光灯）、５はライン状に並ぶＣ
ＣＤ素子５ａ，集光レンズ５ｂを内蔵したラインセンサ
としてのＣＣＤカメラ、６は信号処理部（画像処理回
路）、７は感光体ドラム１を回転する駆動モータであ
り、ＣＣＤカメラ５はドラム表面上における光源４の投
光照射面，特に直射光が当たる照度の最も高い地点にピ
ントを合わせて配置されている。かかる構成で光源４を
点灯すると、ドラム表面には軸方向に沿って光が帯状に
照射され、その反射光がＣＣＤカメラ５で受光される。
また、駆動モータ７により感光体ドラム１を１回転すれ
ば、ドラムの周面全域が走査される。そして、ＣＣＤカ
メラ５の出力信号を基に信号処理部６は欠陥の有無，欠
陥の大きさなどを判定して欠陥信号を出力する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記したＣ
ＣＤカメラ採用の欠陥検査装置は検査能力面で次記のよ
うな難点がある。すなわち、感光体ドラム１に対して光
源４，ＣＣＤカメラ５を図７のような位置関係に配置し
て検査を行った場合に、光源から出射した光線の多くが
透光性のある感光層３を通り抜けてドラム素管２の表面
まで達して反射するようになる。このために、光源の発
光強度が大であると図６（ｂ）に示した表面欠陥Ｘ，あ
るいは内部Ｙのうち、比較的深い傷の表面欠陥，および
濃淡のはっきりした内部欠陥は検出できるものの、浅い
傷の表面欠陥や、濃淡差の少ない内部欠陥などは光が殆
ど減衰せずに透過してしまうために、ＣＣＤカメラの受
光量には欠陥のない正常面域との差が殆ど現れず、検出
不能となる。逆に光源の光度が少ないと検出感度が低下
するために、、ドラム表面の浅い傷は検出できるが、感
光層内部の欠陥が的確に検出できない。
ＣＤカメラ採用の欠陥検査装置は検査能力面で次記のよ
うな難点がある。すなわち、感光体ドラム１に対して光
源４，ＣＣＤカメラ５を図７のような位置関係に配置し
て検査を行った場合に、光源から出射した光線の多くが
透光性のある感光層３を通り抜けてドラム素管２の表面
まで達して反射するようになる。このために、光源の発
光強度が大であると図６（ｂ）に示した表面欠陥Ｘ，あ
るいは内部Ｙのうち、比較的深い傷の表面欠陥，および
濃淡のはっきりした内部欠陥は検出できるものの、浅い
傷の表面欠陥や、濃淡差の少ない内部欠陥などは光が殆
ど減衰せずに透過してしまうために、ＣＣＤカメラの受
光量には欠陥のない正常面域との差が殆ど現れず、検出
不能となる。逆に光源の光度が少ないと検出感度が低下
するために、、ドラム表面の浅い傷は検出できるが、感
光層内部の欠陥が的確に検出できない。
【０００７】本発明は上記の点にかんがみなされたもの
であり、その目的は前記課題を解決し、ドラム表面の欠
陥，感光層内部の欠陥を含む多種多様な欠陥を感度よく
的確に検出できるようにした感光体ドラムの欠陥検査装
置を提供することにある。
であり、その目的は前記課題を解決し、ドラム表面の欠
陥，感光層内部の欠陥を含む多種多様な欠陥を感度よく
的確に検出できるようにした感光体ドラムの欠陥検査装
置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の欠陥検査装置は、感光体ドラムの表面軸方
向に光を照射する光源と、照射面からの反射光を受光し
てその光強度を検出するラインセンサ，およびその信号
処理部と、感光体ドラムの回転駆動手段との組合わせか
らなり、前記光源により感光体ドラム表面に照射形成さ
れた直射光の当たる明部と散乱光の当たる暗部にそれぞ
れラインセンサのピントを合わせて欠陥検出を行うよう
構成するものとする。
に、本発明の欠陥検査装置は、感光体ドラムの表面軸方
向に光を照射する光源と、照射面からの反射光を受光し
てその光強度を検出するラインセンサ，およびその信号
処理部と、感光体ドラムの回転駆動手段との組合わせか
らなり、前記光源により感光体ドラム表面に照射形成さ
れた直射光の当たる明部と散乱光の当たる暗部にそれぞ
れラインセンサのピントを合わせて欠陥検出を行うよう
構成するものとする。
【０００９】また、前記構成において、感光体ドラム表
面の形成した明部，暗部にラインセンサのピントを合わ
て欠陥を検出するための具体的な手段として、次記のよ
うな態様で実施することができる。 （１）光源を１基とし、該光源からの照射を受けて感光
体ドラムの表面に形成された明部および暗部にそれぞれ
ピントを合わせて感光体ドラムの周上に２ステージのラ
インセンサを対向配置する。
面の形成した明部，暗部にラインセンサのピントを合わ
て欠陥を検出するための具体的な手段として、次記のよ
うな態様で実施することができる。 （１）光源を１基とし、該光源からの照射を受けて感光
体ドラムの表面に形成された明部および暗部にそれぞれ
ピントを合わせて感光体ドラムの周上に２ステージのラ
インセンサを対向配置する。
【００１０】（２）ラインセンサを１ステージとし、か
つ該ラインセンサのピント合わせ位置に明部と暗部を形
成する２基の光源を備えるとともに、各光源を交互に点
灯して欠陥検出を行う。 （３）ラインセンサを１ステージ，光源を１基ずつ配置
し、かつ光源にはラインセンサのピント合わせ位置に明
部と暗部を形成するためのシャッタ付き投光スリットを
備え、各スリットのシャッタを交互に切換えて欠陥検出
を行う。
つ該ラインセンサのピント合わせ位置に明部と暗部を形
成する２基の光源を備えるとともに、各光源を交互に点
灯して欠陥検出を行う。 （３）ラインセンサを１ステージ，光源を１基ずつ配置
し、かつ光源にはラインセンサのピント合わせ位置に明
部と暗部を形成するためのシャッタ付き投光スリットを
備え、各スリットのシャッタを交互に切換えて欠陥検出
を行う。
【００１１】
【作用】上記のように感光体ドラムの表面に光源の直射
光が当たる帯状の明部と、散乱光が当たる暗部とを形成
させた上で、その明部と暗部とにそれぞれラインセンサ
のピントを合わせて欠陥の検出を行うことにより、明部
では深い傷の表面欠陥，および感光層内部の欠陥が検出
され、暗部では浅い傷などの表面欠陥が検出される。そ
して感光体ドラムを回転させることで、ドラム全周面の
検査が行われる。このように、感光体ドラムの欠陥検出
を明部と暗部とに分けて行うことで、多種多様な表面欠
陥，内部欠陥を全て的確に検出することが可能となる。
光が当たる帯状の明部と、散乱光が当たる暗部とを形成
させた上で、その明部と暗部とにそれぞれラインセンサ
のピントを合わせて欠陥の検出を行うことにより、明部
では深い傷の表面欠陥，および感光層内部の欠陥が検出
され、暗部では浅い傷などの表面欠陥が検出される。そ
して感光体ドラムを回転させることで、ドラム全周面の
検査が行われる。このように、感光体ドラムの欠陥検出
を明部と暗部とに分けて行うことで、多種多様な表面欠
陥，内部欠陥を全て的確に検出することが可能となる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。なお、各実施例の図において、図６，図７に対応
する同一部材には同じ符号が付してある。 実施例１：図１（ａ),（ｂ）および図２は本発明の請求
項２に対応する実施例を示すものであり、感光体ドラム
１（直径３０mmφ，長さ３００mm）の周面上には光源
（棒状の螢光灯）４がドラム軸と平行に対向配置してあ
り、この光源４を挟んでその両側には２ステージ分のＣ
ＣＤカメラ５Ａ，５Ｂがドラム周面に向けて配置されて
いる。このＣＣＤカメラ５Ａ，５Ｂは例えば２０４８Bi
t のものを使用し、図２のように感光体ドラム１の軸方
向に２台並べて長さ３００mmのドラム全長域を検出でき
るようにしている。
する。なお、各実施例の図において、図６，図７に対応
する同一部材には同じ符号が付してある。 実施例１：図１（ａ),（ｂ）および図２は本発明の請求
項２に対応する実施例を示すものであり、感光体ドラム
１（直径３０mmφ，長さ３００mm）の周面上には光源
（棒状の螢光灯）４がドラム軸と平行に対向配置してあ
り、この光源４を挟んでその両側には２ステージ分のＣ
ＣＤカメラ５Ａ，５Ｂがドラム周面に向けて配置されて
いる。このＣＣＤカメラ５Ａ，５Ｂは例えば２０４８Bi
t のものを使用し、図２のように感光体ドラム１の軸方
向に２台並べて長さ３００mmのドラム全長域を検出でき
るようにしている。
【００１３】ここで、前記のＣＣＤカメラ５Ａ，５Ｂは
それぞれ次記のよう条件で位置決めされている。すなわ
ち、光源４の出射光を感光体ドラム１の表面に照射する
と、光源とドラム中心とを結んだ線上の狭い領域には光
源４直射光が当たる高照度の明部Ａと、この明部を挟ん
でその両側に光源４の反射カバー４ａなどで散乱した光
線が当たる低照度の暗部Ｂが帯状に並んで形成される。
そこで、一方のステージのＣＣＤカメラ５Ａは明部Ａに
おけるＰ位置にピントを合わせ、他方のステージのＣＣ
Ｄカメラ５Ｂは暗部ＢにおけるＱ位置にピントを合わせ
て設置する。
それぞれ次記のよう条件で位置決めされている。すなわ
ち、光源４の出射光を感光体ドラム１の表面に照射する
と、光源とドラム中心とを結んだ線上の狭い領域には光
源４直射光が当たる高照度の明部Ａと、この明部を挟ん
でその両側に光源４の反射カバー４ａなどで散乱した光
線が当たる低照度の暗部Ｂが帯状に並んで形成される。
そこで、一方のステージのＣＣＤカメラ５Ａは明部Ａに
おけるＰ位置にピントを合わせ、他方のステージのＣＣ
Ｄカメラ５Ｂは暗部ＢにおけるＱ位置にピントを合わせ
て設置する。
【００１４】そして、光源４を点灯し、感光体ドラム１
を駆動モータ７により回転させながらＣＣＤカメラ５
Ａ．５Ｂによりドラムからの反射光を受光し、その出力
信号を後段の信号処理部６により処理して欠陥検査を行
う。図５はこのようにして実測した欠陥検出信号の一例
であり、横軸は時間軸，縦軸は０点を基準にした信号の
±方向の変動（振幅）を表す。ここで、＋方向に振れた
波形は基準値に比べて明るい部分を、逆に−方向に振れ
た波形は暗い部分を表しており、図中における波形の各
ピーク点ａ，ｂは正常部と比べて濃度の濃い（暗い）欠
陥部分、ｃ，ｄは逆に濃度の薄い（明るい）欠陥部分
で、このうちａ，ｃは濃淡差のはっきりした欠陥、ｂ，
ｄは濃淡差の少ない欠陥を表している。また、実測によ
れば感光体ドラムの欠陥のない正常面域でも多少の信号
変動が見られることから、信号処理部６では０点の基準
値に対して±方向の閾値となる判定レベル（破線で示
す）を設定しておき、ＣＣＤカメラの信号がこの判定レ
ベルを超えた場合に欠陥と判定して出力するようにし
た。
を駆動モータ７により回転させながらＣＣＤカメラ５
Ａ．５Ｂによりドラムからの反射光を受光し、その出力
信号を後段の信号処理部６により処理して欠陥検査を行
う。図５はこのようにして実測した欠陥検出信号の一例
であり、横軸は時間軸，縦軸は０点を基準にした信号の
±方向の変動（振幅）を表す。ここで、＋方向に振れた
波形は基準値に比べて明るい部分を、逆に−方向に振れ
た波形は暗い部分を表しており、図中における波形の各
ピーク点ａ，ｂは正常部と比べて濃度の濃い（暗い）欠
陥部分、ｃ，ｄは逆に濃度の薄い（明るい）欠陥部分
で、このうちａ，ｃは濃淡差のはっきりした欠陥、ｂ，
ｄは濃淡差の少ない欠陥を表している。また、実測によ
れば感光体ドラムの欠陥のない正常面域でも多少の信号
変動が見られることから、信号処理部６では０点の基準
値に対して±方向の閾値となる判定レベル（破線で示
す）を設定しておき、ＣＣＤカメラの信号がこの判定レ
ベルを超えた場合に欠陥と判定して出力するようにし
た。
【００１５】これにより、前記した明部Ａに対応するＣ
ＣＤカメラ５Ａでは感光体ドラム１おける表面の深い
傷、および感光層内部の欠陥（ドラム素管の汚れ，Ｃ
Ｇ，ＣＴ層に混在する異物，塗装異常の色むら）などが
感度よく検出でき、暗部Ｂに対応するＣＣＤカメラ５Ｂ
では感光層表面の凹凸，浅い傷などが感度よく検出でき
ることが確認されている。
ＣＤカメラ５Ａでは感光体ドラム１おける表面の深い
傷、および感光層内部の欠陥（ドラム素管の汚れ，Ｃ
Ｇ，ＣＴ層に混在する異物，塗装異常の色むら）などが
感度よく検出でき、暗部Ｂに対応するＣＣＤカメラ５Ｂ
では感光層表面の凹凸，浅い傷などが感度よく検出でき
ることが確認されている。
【００１６】なお、ＣＣＤカメラ５Ａ，５Ｂとして、２
０４８Bit ，走査速度：２ＭＨｚ，ドラム周方向の分解
能：７８μｍのものを使用した場合に、１秒間の走査ラ
イン数は１０００本／sec 、周方向の検出速度は７８mm
であり、外径３０mmφ（周長９4.２mm）の感光体ドラム
１の全周域の走査に要する時間は９4.２／７８＝1.２秒
となるので、この条件に合わせて駆動モータ７による感
光体ドラム１の回転速度を５０rpm とする。
０４８Bit ，走査速度：２ＭＨｚ，ドラム周方向の分解
能：７８μｍのものを使用した場合に、１秒間の走査ラ
イン数は１０００本／sec 、周方向の検出速度は７８mm
であり、外径３０mmφ（周長９4.２mm）の感光体ドラム
１の全周域の走査に要する時間は９4.２／７８＝1.２秒
となるので、この条件に合わせて駆動モータ７による感
光体ドラム１の回転速度を５０rpm とする。
【００１７】実施例２：図３は本発明の請求項３に対応
する実施例を示すものである。この実施例においては、
感光体ドラム１に対しその表面上のＰ位置にピントを合
わせて１ステージのＣＣＤカメラ５が配置されている。
一方、光源（螢光灯）としては前記Ｐ位置の面域に直射
光を照射して明部を形成するように配置した光源４Ａ
と、Ｐ位置の面域に散乱光を照射して暗部を形成するよ
うに若干位置をずらして配置した光源４Ｂとの２基の光
源が用意されている。そして、欠陥検査の際に光源４Ａ
と光源４Ｂとを短周期で交互に点灯し、ＣＣＤカメラ５
に対するピント合わせ位置Ｐに明部と暗部を交互に形成
させる。
する実施例を示すものである。この実施例においては、
感光体ドラム１に対しその表面上のＰ位置にピントを合
わせて１ステージのＣＣＤカメラ５が配置されている。
一方、光源（螢光灯）としては前記Ｐ位置の面域に直射
光を照射して明部を形成するように配置した光源４Ａ
と、Ｐ位置の面域に散乱光を照射して暗部を形成するよ
うに若干位置をずらして配置した光源４Ｂとの２基の光
源が用意されている。そして、欠陥検査の際に光源４Ａ
と光源４Ｂとを短周期で交互に点灯し、ＣＣＤカメラ５
に対するピント合わせ位置Ｐに明部と暗部を交互に形成
させる。
【００１８】これにより、１ステージ分のＣＣＤカメラ
５を通じて、ドラム表面のＰ位置が明部となった状態で
深い傷なとの表面欠陥，および濃淡差のはっきりした内
部欠陥が検出され、次にＰ位置が暗部の状態に切り替わ
った状態で浅い傷の表面欠陥，および濃淡差の小さな内
部欠陥が検出されことになる。したがって、この状態で
感光体ドラム１を回転させながはら欠陥検査を行うこと
により、先記の実施例１と同様に感光体ドラム１の周面
上に生じた多種多様な表面欠陥，内部欠陥を的確に検出
できる。
５を通じて、ドラム表面のＰ位置が明部となった状態で
深い傷なとの表面欠陥，および濃淡差のはっきりした内
部欠陥が検出され、次にＰ位置が暗部の状態に切り替わ
った状態で浅い傷の表面欠陥，および濃淡差の小さな内
部欠陥が検出されことになる。したがって、この状態で
感光体ドラム１を回転させながはら欠陥検査を行うこと
により、先記の実施例１と同様に感光体ドラム１の周面
上に生じた多種多様な表面欠陥，内部欠陥を的確に検出
できる。
【００１９】実施例３：図４は本発明の請求項４に対応
する実施例を示すものである。この実施例においては、
１ステージのＣＣＤカメラ５が先記した実施例２と同様
に感光体ドラム１の表面上におけるＰ位置にピントを合
わせて配置されている。一方、光源４に螢光灯を収容し
たランプハウス８が付属しており、このランプハウス８
の前面には前記のＰ位置に対して明部，暗部を形成する
ように、相対位置をずらして並ぶシャッタ付きのスリッ
ト８ａ，８ｂが開口している。
する実施例を示すものである。この実施例においては、
１ステージのＣＣＤカメラ５が先記した実施例２と同様
に感光体ドラム１の表面上におけるＰ位置にピントを合
わせて配置されている。一方、光源４に螢光灯を収容し
たランプハウス８が付属しており、このランプハウス８
の前面には前記のＰ位置に対して明部，暗部を形成する
ように、相対位置をずらして並ぶシャッタ付きのスリッ
ト８ａ，８ｂが開口している。
【００２０】ここで、光源４のランプハウス８につい
て、スリット８ａのシャッタを開放すると、光源４の直
射光が出射してＰ位置の面域に帯状の明部を形成する。
一方、スリット８ｂのシャッタを開くと、ランプハウス
内で反射，散乱した光線が出射してＰ位置の面域に暗部
を形成する。そして、光源４を点灯したままスリット８
ａと８ｂのシャッタを短周期で交互に開閉すれば、先述
の実施例２と同様にＣＣＤカメラ５のピント合わせ位置
Ｐに明部と暗部が交互に形成されることになる。したが
って、この状態で感光体ドラム１を回転させながら、Ｃ
ＣＤカメラ５を通じて欠陥を検出すれば、実施例１，２
と同様に多種多様な表面欠陥，内部欠陥を的確に検出す
ることができる。
て、スリット８ａのシャッタを開放すると、光源４の直
射光が出射してＰ位置の面域に帯状の明部を形成する。
一方、スリット８ｂのシャッタを開くと、ランプハウス
内で反射，散乱した光線が出射してＰ位置の面域に暗部
を形成する。そして、光源４を点灯したままスリット８
ａと８ｂのシャッタを短周期で交互に開閉すれば、先述
の実施例２と同様にＣＣＤカメラ５のピント合わせ位置
Ｐに明部と暗部が交互に形成されることになる。したが
って、この状態で感光体ドラム１を回転させながら、Ｃ
ＣＤカメラ５を通じて欠陥を検出すれば、実施例１，２
と同様に多種多様な表面欠陥，内部欠陥を的確に検出す
ることができる。
【００２１】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、欠
陥の検出を感光体ドラムの表面に形成した明部と暗部と
に分けて分担させるようにしたので、従来の欠陥検査装
置でなし得なかった感光体ドラムの多種多様な表面欠
陥，内部欠陥を見落とすことなく、欠陥の全てを的確に
検出する可能となり、これにより検査能力の高い欠陥検
査装置を提供することができる。
陥の検出を感光体ドラムの表面に形成した明部と暗部と
に分けて分担させるようにしたので、従来の欠陥検査装
置でなし得なかった感光体ドラムの多種多様な表面欠
陥，内部欠陥を見落とすことなく、欠陥の全てを的確に
検出する可能となり、これにより検査能力の高い欠陥検
査装置を提供することができる。
【図１】本発明の実施例１に対応する欠陥検査装置の構
成配置図であり、（ａ）は側面図、（ｂ）は要部の拡大
図
成配置図であり、（ａ）は側面図、（ｂ）は要部の拡大
図
【図２】図１（ａ）の正面図
【図３】本発明の実施例２に対応する要部の構成図
【図４】本発明野路３に対応する要部の構成図
【図５】本発明の実施例で実測した欠陥検出信号の波形
図
図
【図６】本発明の適用対象となる有機感光体ドラムの構
成図であり、（ａ）はドラムの側面図、（ｂ）は欠陥と
とも表した感光層の部分拡大図
成図であり、（ａ）はドラムの側面図、（ｂ）は欠陥と
とも表した感光層の部分拡大図
【図７】従来における光電式の欠陥検査装置の概要図
１ 感光体ドラム ３ 感光層 ４，４Ａ，４Ｂ 光源 ５，５Ａ，５Ｂ ＣＣＤカメラ（ラインセンサ） ６ 信号処理部 ７ ドラム回転用の駆動モータ ８ ランプハウス ８ａ，８ｂ シャッタ付きスリット
Claims (4)
- 【請求項１】感光体ドラムの表面に生じた傷，ないし感
光層内に混入した異物，感光層の塗装むらなどの欠陥を
検出する感光体ドラムの欠陥検査装置であって、感光体
ドラムの表面軸方向に光を照射する光源と、照射面から
の反射光を受光してその光強度を検出するラインセン
サ，およびその信号処理部と、感光体ドラムの回転駆動
手段との組合わせからなり、前記光源により感光体ドラ
ム表面に照射形成された直射光の当たる明部と散乱光の
当たる暗部にそれぞれラインセンサのピントを合わせて
欠陥検出を行うことを特徴とする感光体ドラムの欠陥検
査装置。 - 【請求項２】請求項１記載の欠陥検査装置において、光
源を１基とし、該光源からの照射を受けて感光体ドラム
の表面に形成された明部および暗部にそれぞれピントを
合わせて感光体ドラムの周上に２ステージのラインセン
サを対向配置したことを特徴とする感光体ドラムの欠陥
検査装置。 - 【請求項３】請求項１記載の欠陥検査装置において、ラ
インセンサを１ステージとし、かつ該ラインセンサのピ
ント合わせ位置に明部と暗部を形成する２基の光源を備
えるとともに、各光源を交互に点灯して欠陥検出を行う
ことを特徴とする感光体ドラムの欠陥検査装置。 - 【請求項４】請求項１記載の欠陥検査装置において、ラ
インセンサを１ステージ，光源を１基ずつ配置し、かつ
光源にはラインセンサのピント合わせ位置に明部と暗部
を形成するためのシャッタ付き投光スリットを備えると
ともに、各スリットのシャッタを交互に切換えて欠陥検
出を行うことを特徴とする感光体ドラムの欠陥検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19868793A JPH0755710A (ja) | 1993-08-11 | 1993-08-11 | 感光体ドラムの欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19868793A JPH0755710A (ja) | 1993-08-11 | 1993-08-11 | 感光体ドラムの欠陥検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0755710A true JPH0755710A (ja) | 1995-03-03 |
Family
ID=16395379
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19868793A Pending JPH0755710A (ja) | 1993-08-11 | 1993-08-11 | 感光体ドラムの欠陥検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0755710A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7099002B2 (en) * | 2001-06-21 | 2006-08-29 | Ricoh Company, Ltd. | Defect detector and method of detecting defect |
| KR100791170B1 (ko) * | 2006-04-14 | 2008-01-02 | 엘에스전선 주식회사 | 금속 드럼 스크래치 화상 검출 장치 및 방법 |
| JP2010014515A (ja) * | 2008-07-03 | 2010-01-21 | Ricoh Co Ltd | ロール状被検査物の表面欠陥検査装置 |
| US7842443B2 (en) | 2005-11-28 | 2010-11-30 | Ricoh Company, Ltd. | Method for evaluating electrophotographic photoconductor and the evaluation device, and method for reusing electrophotographic photoconductor |
| US8611767B2 (en) | 2010-11-19 | 2013-12-17 | Konica Minolta Business Technologies, Inc. | Image forming apparatus with a photoreceptor |
-
1993
- 1993-08-11 JP JP19868793A patent/JPH0755710A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7099002B2 (en) * | 2001-06-21 | 2006-08-29 | Ricoh Company, Ltd. | Defect detector and method of detecting defect |
| US7842443B2 (en) | 2005-11-28 | 2010-11-30 | Ricoh Company, Ltd. | Method for evaluating electrophotographic photoconductor and the evaluation device, and method for reusing electrophotographic photoconductor |
| KR100791170B1 (ko) * | 2006-04-14 | 2008-01-02 | 엘에스전선 주식회사 | 금속 드럼 스크래치 화상 검출 장치 및 방법 |
| JP2010014515A (ja) * | 2008-07-03 | 2010-01-21 | Ricoh Co Ltd | ロール状被検査物の表面欠陥検査装置 |
| US8611767B2 (en) | 2010-11-19 | 2013-12-17 | Konica Minolta Business Technologies, Inc. | Image forming apparatus with a photoreceptor |
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