JPH0760591B2 - テ−プ厚測定装置 - Google Patents
テ−プ厚測定装置Info
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- JPH0760591B2 JPH0760591B2 JP60108950A JP10895085A JPH0760591B2 JP H0760591 B2 JPH0760591 B2 JP H0760591B2 JP 60108950 A JP60108950 A JP 60108950A JP 10895085 A JP10895085 A JP 10895085A JP H0760591 B2 JPH0760591 B2 JP H0760591B2
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- Japan
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- tape
- time
- rotation
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は例えばオーディオ信号やビデオ信号等が記録
される種々のテープの厚さを測定する場合等に用いて好
適なテープ厚測定装置に関する。
される種々のテープの厚さを測定する場合等に用いて好
適なテープ厚測定装置に関する。
この発明は、リールを定速で送ってその周期の時間T0を
測定し、次にリールを任意の速度で所定量回転した後再
び定速で送って前と同じリールの周期の時間Tn′を測定
し、測定したT0とTn′を所定の式に代入してテープのテ
ープ厚を精度良く求めようとするものである。
測定し、次にリールを任意の速度で所定量回転した後再
び定速で送って前と同じリールの周期の時間Tn′を測定
し、測定したT0とTn′を所定の式に代入してテープのテ
ープ厚を精度良く求めようとするものである。
従来のテープ厚測定法の一例として、例えばテープを定
速で送って、巻取り側及び供給側リールの周期の２乗の
和を求め、この値によりテープの種類を特定し、その特
定された種類のテープのテープ全長の標準値を用い、次
式によりテープ厚Ｄを求めている。
速で送って、巻取り側及び供給側リールの周期の２乗の
和を求め、この値によりテープの種類を特定し、その特
定された種類のテープのテープ全長の標準値を用い、次
式によりテープ厚Ｄを求めている。
上記（１）式において、Vtはテープ速度、TTは巻取り側
リールの回転周期、TSは供給側リールの回転周期、r0は
リールのハブ半径、L0はテープ全長である。
リールの回転周期、TSは供給側リールの回転周期、r0は
リールのハブ半径、L0はテープ全長である。
ところが、上述の如き従来法の場合、与えられたテープ
全長が、そのテープの標準値より若干異なっていても、
そのテープの種類の組分けの段階で同じ種類のテープで
あると判断されると、それ以降はそのテープの標準値が
適用されて計算が進められるために、テープのテープ厚
Ｄに誤差を生じるという不都合がある。
全長が、そのテープの標準値より若干異なっていても、
そのテープの種類の組分けの段階で同じ種類のテープで
あると判断されると、それ以降はそのテープの標準値が
適用されて計算が進められるために、テープのテープ厚
Ｄに誤差を生じるという不都合がある。
この発明は斯る点に鑑みてなされたもので、テープ全長
が未知であっても、テープ厚を正確に求めることができ
るテープ厚測定装置を提供するものである。
が未知であっても、テープ厚を正確に求めることができ
るテープ厚測定装置を提供するものである。
この発明によるテープ厚測定装置は、磁気テープが巻回
された複数個のリールと、複数個のリールの回転を検知
する回転検出手段と、回転検出手段からの出力パルスに
基づいてリールの回転を制御する制御手段とからなり、
制御手段は任意の箇所から所定出力パルス分テープを定
速で走行させリールの回転周期の時間T0を測定し、所定
距離離間するように高速で走行した後、所定出力パルス
分、再度テープを定速で走行させリールの回転周期の時
間Tn′を測定し、次式に基づいてテープ厚Ｄを求めるよ
うにしたものである。
された複数個のリールと、複数個のリールの回転を検知
する回転検出手段と、回転検出手段からの出力パルスに
基づいてリールの回転を制御する制御手段とからなり、
制御手段は任意の箇所から所定出力パルス分テープを定
速で走行させリールの回転周期の時間T0を測定し、所定
距離離間するように高速で走行した後、所定出力パルス
分、再度テープを定速で走行させリールの回転周期の時
間Tn′を測定し、次式に基づいてテープ厚Ｄを求めるよ
うにしたものである。
但し、Vtは定速時のテープ速度、ｎは時間T0の測定開始
から時間Tn′の測定開始までの出力パルス数、ｋは時間
Tn′，時間T0の測定に要する出力パルス数、ｍはリール
が一回転したときに回転検知手段から出力されるパルス
数である。
から時間Tn′の測定開始までの出力パルス数、ｋは時間
Tn′，時間T0の測定に要する出力パルス数、ｍはリール
が一回転したときに回転検知手段から出力されるパルス
数である。
テープ（３）を任意の箇所で定速で送って、テープの巻
回されたリール（１），（２）のうち、リール周期の短
い方のリール周期の時間T0を、リールの回転検出器（1
5）または（16）からのパルス数をカウントすることに
より測定する。次に任意の速度でT0を求めたリールを所
定波数相当分回転しテープを所定の距離離間するように
高速で走行させた後再び定速で送ってリールのリール周
期の時間Tn′を、リールの回転検出器からのパルス数を
カウントすることにより測定する。そして、測定した時
間T0,Tn′を用い、所定の式に基づいてテープ厚Ｄを算
出する。
回されたリール（１），（２）のうち、リール周期の短
い方のリール周期の時間T0を、リールの回転検出器（1
5）または（16）からのパルス数をカウントすることに
より測定する。次に任意の速度でT0を求めたリールを所
定波数相当分回転しテープを所定の距離離間するように
高速で走行させた後再び定速で送ってリールのリール周
期の時間Tn′を、リールの回転検出器からのパルス数を
カウントすることにより測定する。そして、測定した時
間T0,Tn′を用い、所定の式に基づいてテープ厚Ｄを算
出する。
以下、この発明の一実施例を第１図〜第５図に基づいて
詳しく説明する。
詳しく説明する。
先ず、この発明の基本原理を第４図及び第５図を参照し
て説明する。
て説明する。
テープを定速走行させた時、巻取り側及び供給側リール
のうち、リール周期の短い方のリール周期を求めT0とす
る。第４図の場合、供給側リール（１）には巻取り側リ
ール（２）より少なく磁気テープ（３）が巻回されてい
るので、供給側リール（１）の方がリール周期が短いこ
とがわかる。そこで、この供給側リール（１）のリール
周期を求めTS0とする。
のうち、リール周期の短い方のリール周期を求めT0とす
る。第４図の場合、供給側リール（１）には巻取り側リ
ール（２）より少なく磁気テープ（３）が巻回されてい
るので、供給側リール（１）の方がリール周期が短いこ
とがわかる。そこで、この供給側リール（１）のリール
周期を求めTS0とする。
このとき、供給側リール（１）の巻径をrS、リールハブ
径（半径）をt0、テープ速度をVtとすると、リール周期
TS0は次式の如く表わされる。
径（半径）をt0、テープ速度をVtとすると、リール周期
TS0は次式の如く表わされる。
この第４図の状態から第５図に示すように、供給側リー
ル（１）をｎターンした後のリール周期をＴ′Ｓとする
と、次式が得られる。
ル（１）をｎターンした後のリール周期をＴ′Ｓとする
と、次式が得られる。
だゞし、上記（３）式において、ｒ′Ｓはｎターン後の
供給側リール（１）の巻径である。そして、巻径rSと
ｒ′Ｓの間には、テープ厚をＤとすると、 ｒ′Ｓ＝rS＋ｎ・Ｄ ‥‥（４） の関係があるから、上記（２）〜（３）式より次式が得
られる。
供給側リール（１）の巻径である。そして、巻径rSと
ｒ′Ｓの間には、テープ厚をＤとすると、 ｒ′Ｓ＝rS＋ｎ・Ｄ ‥‥（４） の関係があるから、上記（２）〜（３）式より次式が得
られる。
上記（５）式よりテープ厚Ｄは、次のように表わされ
る。
る。
上記（６）式において、Ｔ′S,TS0はリール台に回転検
出器等を取り付け、その出力をマイクロコンピュータ等
のように時間測定の可能なものに供給すれば求めること
がてきる。また、ｎターンしたか否かは、回転検出器か
らのパルス数を数えることにより判断できる。更にテー
プ速度Vtは既知で定数である。従って、以上のことよ
り、上記（６）式よりテープ厚Ｄを求めることができる
ことがわかる。
出器等を取り付け、その出力をマイクロコンピュータ等
のように時間測定の可能なものに供給すれば求めること
がてきる。また、ｎターンしたか否かは、回転検出器か
らのパルス数を数えることにより判断できる。更にテー
プ速度Vtは既知で定数である。従って、以上のことよ
り、上記（６）式よりテープ厚Ｄを求めることができる
ことがわかる。
また、リール周期TS0とＴ′Ｓを測定する時以外は、Vt
なる速度でテープを送る必要はないから、TS0を測定後
ｎターンするまで早送り（FF）または巻戻し（REW）を
如き高速送りですばやく送り、ｎターン後再びVtなる速
度で送り、リール周期Ｔ′Ｓを求めるようにすればよ
い。これによりリール周期TS0とＴ′Ｓを求める時間が
短縮され、短時間でテープ厚を求めることができる。
なる速度でテープを送る必要はないから、TS0を測定後
ｎターンするまで早送り（FF）または巻戻し（REW）を
如き高速送りですばやく送り、ｎターン後再びVtなる速
度で送り、リール周期Ｔ′Ｓを求めるようにすればよ
い。これによりリール周期TS0とＴ′Ｓを求める時間が
短縮され、短時間でテープ厚を求めることができる。
そして、第４図及び第５図の場合とは逆に、リール周期
T0の計測時に巻取り側リールの周期が短い時は、巻取り
側リールのリール周期をTT0としてメモリする。その後
巻取り側リールがｎターンした後巻取り側リールのリー
ル周期を測定し、TT′とすると、次式が得られ、 上記（７）式よりテープ厚Ｄを求めることができる。
T0の計測時に巻取り側リールの周期が短い時は、巻取り
側リールのリール周期をTT0としてメモリする。その後
巻取り側リールがｎターンした後巻取り側リールのリー
ル周期を測定し、TT′とすると、次式が得られ、 上記（７）式よりテープ厚Ｄを求めることができる。
すなわち、この基本原理ではリール周期を１回転とした
場合のテープ厚Ｄの求め方である。
場合のテープ厚Ｄの求め方である。
次にリール周期を１回転以外の任意の回転とした時のテ
ープ厚Ｄの求め方を第３図を参照して説明する。
ープ厚Ｄの求め方を第３図を参照して説明する。
こゝで、リールが１回転したときに回転検出器から出力
される出力パルス数をｍ波とする。また、リール周期
T0,Tn′を測定するに要する波数をｋ波とする。T0は最
小の定速送り時のリール周期、Tn′はその後ｎ−ｋ波相
当分テープを送った後の定速送り時のリール周期であ
る。そこで、リール周期T0,Tn′を夫々１周期に換算す
ると となる。また、ｎはリール周期T0の測定開始からリール
周期Tn′の測定開始までの波数を表わす。したがって、
ｎ波はn/mターンに相当する。これ等の関係を例えば上
記（６）式に代入すると次式が得られる。
される出力パルス数をｍ波とする。また、リール周期
T0,Tn′を測定するに要する波数をｋ波とする。T0は最
小の定速送り時のリール周期、Tn′はその後ｎ−ｋ波相
当分テープを送った後の定速送り時のリール周期であ
る。そこで、リール周期T0,Tn′を夫々１周期に換算す
ると となる。また、ｎはリール周期T0の測定開始からリール
周期Tn′の測定開始までの波数を表わす。したがって、
ｎ波はn/mターンに相当する。これ等の関係を例えば上
記（６）式に代入すると次式が得られる。
上記（８）式よりリール周期を任意の回転としたとき
も、同様にしてテープ厚Ｄが求められることがわかる。
も、同様にしてテープ厚Ｄが求められることがわかる。
第１図はリール周期を任意の回転としてテープ厚Ｄを求
める場合の具体的な回路構成を示すもので、同図におい
て、（１）は供給側リール、（２）は巻取り側リール、
（３）はこれ等のリール間に巻回された磁気テープであ
る。リール（１），（２）は夫々リールモータ（４），
（５）により回転駆動される。そして、これ等リールモ
ータ（４），（５）はリールモータ制御回路（６）によ
って駆動制御される。
める場合の具体的な回路構成を示すもので、同図におい
て、（１）は供給側リール、（２）は巻取り側リール、
（３）はこれ等のリール間に巻回された磁気テープであ
る。リール（１），（２）は夫々リールモータ（４），
（５）により回転駆動される。そして、これ等リールモ
ータ（４），（５）はリールモータ制御回路（６）によ
って駆動制御される。
また、（７）はキャプスタン、（８）はキャプスタン
（７）を回転駆動するキャプスタンモータ、（９）はキ
ャプスタンモータ（８）を駆動制御するキャプスタンモ
ータ制御回路である。（10）はキャプスタン（７）に対
して設けられたピンチローラ、（11）はピンチローラ
（10）に張架されたバネ、（12）はバネ（11）の弾性力
に抗してピンチローラ（10）を制御するプランジャ回
路、（13）は制御回路（６），（９）及びプランジャ回
路（12）に種々の制御信号を供給するマイクロコンピュ
ータから成るシステムコントロール回路、（14）はテー
プ（３）からの情報をシステムコントロール回路（13）
に供給するヘッド、（15），（16）は夫々リール
（１），（２）の回転を検出するための回転検出器であ
る。
（７）を回転駆動するキャプスタンモータ、（９）はキ
ャプスタンモータ（８）を駆動制御するキャプスタンモ
ータ制御回路である。（10）はキャプスタン（７）に対
して設けられたピンチローラ、（11）はピンチローラ
（10）に張架されたバネ、（12）はバネ（11）の弾性力
に抗してピンチローラ（10）を制御するプランジャ回
路、（13）は制御回路（６），（９）及びプランジャ回
路（12）に種々の制御信号を供給するマイクロコンピュ
ータから成るシステムコントロール回路、（14）はテー
プ（３）からの情報をシステムコントロール回路（13）
に供給するヘッド、（15），（16）は夫々リール
（１），（２）の回転を検出するための回転検出器であ
る。
次に、第１図の回路動作を第２図のフローチャートに従
って説明する。ステップ（イ）において動作開始し、ス
テップ（ロ）において、システムコントロール回路（1
3）からの制御信号によりリールモータ制御回路（６）
を制御してリールモータ（４），（５）を駆動し、リー
ル（１），（２）を回転駆動状態とする。また、システ
ムコントロール回路（13）からの制御信号によりキャプ
スタンモータ制御回路（９）を制御してキャプスタンモ
ータ（８）を駆動し、キャプスタン（７）を回転駆動す
ると共にシステムコントロール回路（13）からの制御信
号によりプランジャ回路（12）を制御して、ピンチロー
ラ（10）をバネ（11）の弾性力を抗してキャプスタン
（７）に圧着する。すると、磁気テープ（３）がキャプ
スタン（７）とピンチローラ（10）に挾持された状態で
定速送り例えばフォワード送りされる。
って説明する。ステップ（イ）において動作開始し、ス
テップ（ロ）において、システムコントロール回路（1
3）からの制御信号によりリールモータ制御回路（６）
を制御してリールモータ（４），（５）を駆動し、リー
ル（１），（２）を回転駆動状態とする。また、システ
ムコントロール回路（13）からの制御信号によりキャプ
スタンモータ制御回路（９）を制御してキャプスタンモ
ータ（８）を駆動し、キャプスタン（７）を回転駆動す
ると共にシステムコントロール回路（13）からの制御信
号によりプランジャ回路（12）を制御して、ピンチロー
ラ（10）をバネ（11）の弾性力を抗してキャプスタン
（７）に圧着する。すると、磁気テープ（３）がキャプ
スタン（７）とピンチローラ（10）に挾持された状態で
定速送り例えばフォワード送りされる。
ステップ（ハ）において、リール（１），（２）の回転
を検出する回転検出器（15），（16）からのパルス信号
をマイクロコンピュータを用いたシステムコントロール
回路（13）に供給して、これ等のパルス信号のうち周期
の短い方の回転検出器からの出力ｋ波の時間を測定し、
リール周期の時間（回転検出器から所定数のパルスが出
力される時間、つまりリールが所定の回転角まわるに要
する時間）T0を求め、システムコントロール回路（13）
内のメモリに記憶する。
を検出する回転検出器（15），（16）からのパルス信号
をマイクロコンピュータを用いたシステムコントロール
回路（13）に供給して、これ等のパルス信号のうち周期
の短い方の回転検出器からの出力ｋ波の時間を測定し、
リール周期の時間（回転検出器から所定数のパルスが出
力される時間、つまりリールが所定の回転角まわるに要
する時間）T0を求め、システムコントロール回路（13）
内のメモリに記憶する。
ステップ（ニ）において、システムコントロール回路
（13）によりプランジャ回路（12）を消勢してピンチロ
ーラ（10）のキャプスタン（７）への圧着を解除すると
共にリールモータ制御回路（６）を制御して磁気テープ
（３）をｋ波目よりｎ−ｋ波分だけ任意の速度で送る。
（13）によりプランジャ回路（12）を消勢してピンチロ
ーラ（10）のキャプスタン（７）への圧着を解除すると
共にリールモータ制御回路（６）を制御して磁気テープ
（３）をｋ波目よりｎ−ｋ波分だけ任意の速度で送る。
ステップ（ホ）において、再びシステムコントロール回
路（13）の制御のもとに、定速送りして、前にリール周
期の時間（回転検出器から所定数のパルスが出力される
時間、つまりリールが所定の回転角まわりに要する時
間）T0を求めたリール側の回転検出器からのパルス信号
をシステムコントロール回路（13）に供給し、回転検出
器からの出力ｋ波の時間を測定し、リール周期の時間
Tn′を求め、システムコントロール回路（13）内のメモ
リに記憶する。
路（13）の制御のもとに、定速送りして、前にリール周
期の時間（回転検出器から所定数のパルスが出力される
時間、つまりリールが所定の回転角まわりに要する時
間）T0を求めたリール側の回転検出器からのパルス信号
をシステムコントロール回路（13）に供給し、回転検出
器からの出力ｋ波の時間を測定し、リール周期の時間
Tn′を求め、システムコントロール回路（13）内のメモ
リに記憶する。
ステップ（ヘ）において、システムコントロール回路
（13）でメモリに記憶されているリール周期の時間T0,T
n′を取り出し、これを用いて（８）式に従って計算を
行い、テープ厚Ｄを求める。たゞし、定速時のテープ速
度Vt、時間T0の測定開始から時間Tn′の測定開始までの
波数ｎ、時間T0,Tn′の測定に要する波数ｋ及び１周の
波数ｍの定数は、予め情報としてメモリに入力されてい
るものとする。そして、ステップ（ト）において一連の
動作を終了する。
（13）でメモリに記憶されているリール周期の時間T0,T
n′を取り出し、これを用いて（８）式に従って計算を
行い、テープ厚Ｄを求める。たゞし、定速時のテープ速
度Vt、時間T0の測定開始から時間Tn′の測定開始までの
波数ｎ、時間T0,Tn′の測定に要する波数ｋ及び１周の
波数ｍの定数は、予め情報としてメモリに入力されてい
るものとする。そして、ステップ（ト）において一連の
動作を終了する。
このようにして求めることにより、従来種類分けされた
テープカセットは、その種類に属するテープカセットに
対して全て１つの代表値（標準値）がテープ全長の値と
して適用されたのに対し、本実施例では個々に実測した
リール周期の時間T0,Tn′を用いてテープ厚を求めるよ
うにしたので、テープ全長が未知であっても正確にテー
プ厚を求めることができる。
テープカセットは、その種類に属するテープカセットに
対して全て１つの代表値（標準値）がテープ全長の値と
して適用されたのに対し、本実施例では個々に実測した
リール周期の時間T0,Tn′を用いてテープ厚を求めるよ
うにしたので、テープ全長が未知であっても正確にテー
プ厚を求めることができる。
なお、上述の第２図の例では、テープの定速送りをフォ
ワード送りとした場合であったが、これより数倍速い速
度でテープを送ってリール周期の時間を求めてもよく、
その時は上記（８）におけるVtの値を対応して変えてや
るようにする。
ワード送りとした場合であったが、これより数倍速い速
度でテープを送ってリール周期の時間を求めてもよく、
その時は上記（８）におけるVtの値を対応して変えてや
るようにする。
上述の如くこの発明によれば、テープ長が未知のテープ
を任意の箇所で定速送りして周期の短い方のリールの周
期の時間T0を測定し、次にT0を求めたリールを所定量送
り、所定の距離離間するように高速でテープを早送りま
たは巻戻しさせた後再び定速送りしてその時のリール周
期の時間Tn′を測定し、これ等T0,Tn′を用い所定の式
よりテープ厚Ｄを求めるようにしたので、テープ長が未
知のテープでも正確に短時間でテープ厚を求めることが
できる。
を任意の箇所で定速送りして周期の短い方のリールの周
期の時間T0を測定し、次にT0を求めたリールを所定量送
り、所定の距離離間するように高速でテープを早送りま
たは巻戻しさせた後再び定速送りしてその時のリール周
期の時間Tn′を測定し、これ等T0,Tn′を用い所定の式
よりテープ厚Ｄを求めるようにしたので、テープ長が未
知のテープでも正確に短時間でテープ厚を求めることが
できる。
第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第２図
は第１図の動作説明に供するためのフローチャート、第
３図はこの発明の説明に供するための略線図、第４図及
び第５図はこの発明の基本原理の説明に供するための略
線図である。 （１）は供給側リール、（２）は巻取り側リール、
（３）は磁気テープ、（４），（５）はリールモータ、
（６）はリールモータ制御回路、（７）はキャプスタ
ン、（８）はキャプスタンモータ、（９）はキャプスタ
ンモータ制御回路、（13）はシステムコントロール回
路、（15），（16）は回転検出器である。
は第１図の動作説明に供するためのフローチャート、第
３図はこの発明の説明に供するための略線図、第４図及
び第５図はこの発明の基本原理の説明に供するための略
線図である。 （１）は供給側リール、（２）は巻取り側リール、
（３）は磁気テープ、（４），（５）はリールモータ、
（６）はリールモータ制御回路、（７）はキャプスタ
ン、（８）はキャプスタンモータ、（９）はキャプスタ
ンモータ制御回路、（13）はシステムコントロール回
路、（15），（16）は回転検出器である。
フロントページの続き (72)発明者 谷 敏行 東京都品川区北品川６丁目７番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 里村 成行 東京都品川区北品川６丁目７番35号 ソニ ー株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】磁気テープが巻回された複数個のリール
と、 上記複数個のリールの回転を検知する回転検出手段と、 上記回転検出手段からの出力パルスに基づいてリールの
回転を制御する制御手段とからなり、 上記制御手段は任意の箇所から所定出力パルス分テープ
を定速で走行させリールの回転周期の時間T0を測定し、
所定距離離間するように高速で走行した後、上記所定出
力パルス分、再度テープを定速で走行させリールの回転
周期の時間Tn′を測定し、次式に基づいてテープ厚Ｄを
求めるようにしたことを特徴とするテープ厚測定装置。 但し、Vtは定速時のテープ速度、ｎは時間T0の測定開始
から時間Tn′の測定開始までの出力パルス数、ｋは時間
Tn′，時間T0の測定に要する出力パルス数、ｍはリール
が一回転したときに回転検知手段から出力されるパルス
数である。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60108950A JPH0760591B2 (ja) | 1985-05-21 | 1985-05-21 | テ−プ厚測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60108950A JPH0760591B2 (ja) | 1985-05-21 | 1985-05-21 | テ−プ厚測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61267988A JPS61267988A (ja) | 1986-11-27 |
| JPH0760591B2 true JPH0760591B2 (ja) | 1995-06-28 |
Family
ID=14497755
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60108950A Expired - Fee Related JPH0760591B2 (ja) | 1985-05-21 | 1985-05-21 | テ−プ厚測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0760591B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6423480A (en) * | 1987-07-17 | 1989-01-26 | Sanyo Electric Co | Tape thickness detector in tape residual amount display device |
| JPH04332988A (ja) * | 1991-05-07 | 1992-11-19 | Funai Denki Kenkyusho:Kk | テープ厚検出方法及びその装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54160214A (en) * | 1978-06-08 | 1979-12-18 | Pioneer Electronic Corp | Device for automatically detecting tape type |
-
1985
- 1985-05-21 JP JP60108950A patent/JPH0760591B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61267988A (ja) | 1986-11-27 |
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