JPH0763665A - フロ−式粒子画像解析装置 - Google Patents
フロ−式粒子画像解析装置Info
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- JPH0763665A JPH0763665A JP5209268A JP20926893A JPH0763665A JP H0763665 A JPH0763665 A JP H0763665A JP 5209268 A JP5209268 A JP 5209268A JP 20926893 A JP20926893 A JP 20926893A JP H0763665 A JPH0763665 A JP H0763665A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】複数の測定モ−ドにおいて同一の光学系を用
い、粒子の検出部と特徴抽出部とを一つの兼用の機構と
し、装置の構成を簡略化するとともに、粒子の全画像を
連続的に撮像し、高精度な粒子の分析を行うフロ−式粒
子画像処理装置を提供する。 【構成】粒子を懸濁させたサンプル液6をフロ−セル5
に流し、常にランプ1を点灯させて前記フロ−セル5を
照射し、前記フロ−セル5中の流れの方向に対して平行
な面上に、かつ、直交して設けられた一次元センサ9に
よって前記フロ−セル5中の画像取込み領域を通過する
サンプル液6の画像を連続的に撮像し、得られた画像を
1画素ライン毎に画像処理し、サンプル液6中の粒子を
分類するように構成したものである。
い、粒子の検出部と特徴抽出部とを一つの兼用の機構と
し、装置の構成を簡略化するとともに、粒子の全画像を
連続的に撮像し、高精度な粒子の分析を行うフロ−式粒
子画像処理装置を提供する。 【構成】粒子を懸濁させたサンプル液6をフロ−セル5
に流し、常にランプ1を点灯させて前記フロ−セル5を
照射し、前記フロ−セル5中の流れの方向に対して平行
な面上に、かつ、直交して設けられた一次元センサ9に
よって前記フロ−セル5中の画像取込み領域を通過する
サンプル液6の画像を連続的に撮像し、得られた画像を
1画素ライン毎に画像処理し、サンプル液6中の粒子を
分類するように構成したものである。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、粒子画像解析装置に係
り、血球成分,尿沈渣等の自動分析におけるフロ−式粒
子画像解析装置に関するものである。特に、フロ−サイ
トメ−タにおいて、フロ−セルを流れている細胞等の粒
子画像の解析に利用される。
り、血球成分,尿沈渣等の自動分析におけるフロ−式粒
子画像解析装置に関するものである。特に、フロ−サイ
トメ−タにおいて、フロ−セルを流れている細胞等の粒
子画像の解析に利用される。
【0002】
【従来の技術】従来の粒子画像解析装置においては、血
液中の細胞や尿中に存在する細胞や粒子を分類分析する
には、スライドガラス上に標本を作成し顕微鏡にて観察
することにより行われてきた。尿の場合には、尿中の粒
子濃度が薄いため、サンプルを予め遠心分離器で遠心濃
縮してから観察していた。
液中の細胞や尿中に存在する細胞や粒子を分類分析する
には、スライドガラス上に標本を作成し顕微鏡にて観察
することにより行われてきた。尿の場合には、尿中の粒
子濃度が薄いため、サンプルを予め遠心分離器で遠心濃
縮してから観察していた。
【0003】これらの観察、検査の作業を自動化する装
置としては、血液などのサンプル試料をスライドガラス
上に塗沫したのち、顕微鏡にセットし、顕微鏡ステ−ジ
を自動的に走査し粒子の存在する位置にて前記顕微鏡ス
テ−ジを停止し、粒子の静止画像を撮影し、画像処理技
術による特徴抽出およびパタ−ン認識手法を用い、サン
プル試料中に存在する粒子の分類等を行っている。
置としては、血液などのサンプル試料をスライドガラス
上に塗沫したのち、顕微鏡にセットし、顕微鏡ステ−ジ
を自動的に走査し粒子の存在する位置にて前記顕微鏡ス
テ−ジを停止し、粒子の静止画像を撮影し、画像処理技
術による特徴抽出およびパタ−ン認識手法を用い、サン
プル試料中に存在する粒子の分類等を行っている。
【0004】しかし、上記手法では標本作成に時間がか
かること、前記顕微鏡ステ−ジを機械的に移動しながら
粒子を見つけ、粒子を適当な画像取り込み領域へ移動さ
せる作業が必要である。そのため、分析に時間を要した
り、機構が複雑になるという欠点があった。
かること、前記顕微鏡ステ−ジを機械的に移動しながら
粒子を見つけ、粒子を適当な画像取り込み領域へ移動さ
せる作業が必要である。そのため、分析に時間を要した
り、機構が複雑になるという欠点があった。
【0005】そこで、前記のような塗沫標本を作成せ
ず、サンプル試料を液体中に懸濁させたままフロ−セル
中を流し、光学的に分析するフロ−サイトメ−タ法が提
案されている。このフロ−サイトメ−タによる方法は、
サンプル中の粒子1個,1個からの蛍光強度や散乱光強
度を観測するもので、毎秒数1000個の処理能力が具
備されている。
ず、サンプル試料を液体中に懸濁させたままフロ−セル
中を流し、光学的に分析するフロ−サイトメ−タ法が提
案されている。このフロ−サイトメ−タによる方法は、
サンプル中の粒子1個,1個からの蛍光強度や散乱光強
度を観測するもので、毎秒数1000個の処理能力が具
備されている。
【0006】しかし、この方法は、粒子の大小による分
類にとどまり、その形態的特徴を反映する特徴量を観測
することはむずかしく、従来の前記顕微鏡下で行われて
いた形態的特徴による粒子分類をすることができない。
なお、静止画像を撮らないフロ−サイトメ−タ法や粒子
解析装置において、粒子検出部を別に持っている例とし
て、特開昭60−260830号公報、特開昭63−2
31244号公報、特開平1−245131号公報等記
載の技術が知られている。
類にとどまり、その形態的特徴を反映する特徴量を観測
することはむずかしく、従来の前記顕微鏡下で行われて
いた形態的特徴による粒子分類をすることができない。
なお、静止画像を撮らないフロ−サイトメ−タ法や粒子
解析装置において、粒子検出部を別に持っている例とし
て、特開昭60−260830号公報、特開昭63−2
31244号公報、特開平1−245131号公報等記
載の技術が知られている。
【0007】さらに、連続的に流れているサンプル試料
中の粒子画像を撮影し、個々の粒子画像から粒子を分析
・分類する試みが提案されている。これに関連するもの
としては、特表昭57−500995号公報、特開昭6
3−94156号公報等記載の技術が知られている。そ
の内、前記特表昭57−500995号公報記載の技術
は、サンプル試料を特別な形状の流路に通し、そこで試
料中の粒子を幅広の撮像領域中に流し、フラッシュラン
プによる静止画像を撮影し粒子分析するものである。
中の粒子画像を撮影し、個々の粒子画像から粒子を分析
・分類する試みが提案されている。これに関連するもの
としては、特表昭57−500995号公報、特開昭6
3−94156号公報等記載の技術が知られている。そ
の内、前記特表昭57−500995号公報記載の技術
は、サンプル試料を特別な形状の流路に通し、そこで試
料中の粒子を幅広の撮像領域中に流し、フラッシュラン
プによる静止画像を撮影し粒子分析するものである。
【0008】この場合、顕微鏡を用いてサンプル粒子の
拡大画像をCCDカメラ上に投影するとき、パルス光源
であるフラッシュランプがCCDカメラの動作に同期し
て周期的に発光する。パルス光源の発光時間が短いた
め、粒子が連続的に流れていても静止画像を得ることが
でき、CCDカメラは毎秒30枚の静止画像を撮影する
ことが出来る。
拡大画像をCCDカメラ上に投影するとき、パルス光源
であるフラッシュランプがCCDカメラの動作に同期し
て周期的に発光する。パルス光源の発光時間が短いた
め、粒子が連続的に流れていても静止画像を得ることが
でき、CCDカメラは毎秒30枚の静止画像を撮影する
ことが出来る。
【0009】特開昭63−94156号公報記載の技術
は、静止画像撮影系とは別に、サンプル流れ中の粒子画
像撮影領域より上流側に粒子検出用光学系を設けてい
る。あらかじめ、前記粒子検出部で粒子通過を知り、丁
度その粒子が粒子画像撮影領域に達したとき適当なタイ
ミングにおいてフラッシュランプを点灯させるものであ
る。
は、静止画像撮影系とは別に、サンプル流れ中の粒子画
像撮影領域より上流側に粒子検出用光学系を設けてい
る。あらかじめ、前記粒子検出部で粒子通過を知り、丁
度その粒子が粒子画像撮影領域に達したとき適当なタイ
ミングにおいてフラッシュランプを点灯させるものであ
る。
【0010】この技術では、パルス光源の発光を周期的
に行わず、粒子の通過を検出してその時だけタイミング
を合わせて静止画像を撮影することができ、効率的に粒
子画像が集められ、濃度の薄いサンプル試料の場合にお
いても、粒子の存在しない無意味な画像を処理すること
はない。
に行わず、粒子の通過を検出してその時だけタイミング
を合わせて静止画像を撮影することができ、効率的に粒
子画像が集められ、濃度の薄いサンプル試料の場合にお
いても、粒子の存在しない無意味な画像を処理すること
はない。
【0011】次に、従来の粒子画像解析装置において
は、測定精度を向上するため、粒子画像の倍率を変えて
粒子を観察すること,解析対象である粒子の種類は限定
するが測定サンプルの体積を多くすること等1つの測定
サンプルに対し複数の測定モ−ドを有するものがある。
は、測定精度を向上するため、粒子画像の倍率を変えて
粒子を観察すること,解析対象である粒子の種類は限定
するが測定サンプルの体積を多くすること等1つの測定
サンプルに対し複数の測定モ−ドを有するものがある。
【0012】例えば、通常のサイズの小さい粒子測定で
はサンプル測定体積は少ないが、粒子に対し画像倍率の
高くした測定モ−ドと、数は少ないがサイズの大きい粒
子測定では粒子に対し画像倍率を低く画像撮像面積を広
くし、測定サンプルの体積を多くした測定モ−ドとが用
意されている。後者では、サンプル体積を多くするた
め、さらに、通過光の光軸方向のサンプル厚さを厚くす
ることも、同時に行われているのが現状である。
はサンプル測定体積は少ないが、粒子に対し画像倍率の
高くした測定モ−ドと、数は少ないがサイズの大きい粒
子測定では粒子に対し画像倍率を低く画像撮像面積を広
くし、測定サンプルの体積を多くした測定モ−ドとが用
意されている。後者では、サンプル体積を多くするた
め、さらに、通過光の光軸方向のサンプル厚さを厚くす
ることも、同時に行われているのが現状である。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の各方式のフ
ロ−式粒子画像解析装置において、静止画像を撮像しな
い前記フロ−サイトメ−タ法では、粒子の大小による分
類にとどまり、前記粒子の形態学的特徴量を観測するこ
とはむずかしく、顕微鏡下で行われていた形態学的特徴
により粒子を分類することができないという問題があっ
た。
ロ−式粒子画像解析装置において、静止画像を撮像しな
い前記フロ−サイトメ−タ法では、粒子の大小による分
類にとどまり、前記粒子の形態学的特徴量を観測するこ
とはむずかしく、顕微鏡下で行われていた形態学的特徴
により粒子を分類することができないという問題があっ
た。
【0014】さらに、上述のような連続して流れている
粒子の静止画像を撮像手段としてテレビカメラを用いて
撮像し、これを画像解析してサンプル液中に含まれてい
る複数種類の粒子を分類したり、数を計数するフロ−式
粒子画像解析装置においては、次に述べる問題点が存在
する。すなわち、粒子検出系で粒子検出した時点から粒
子画像をテレビカメラで撮像し、粒子の濃淡画像に比例
する電気信号に変換し、映像信号として転送するために
は有限の時間がかかる。
粒子の静止画像を撮像手段としてテレビカメラを用いて
撮像し、これを画像解析してサンプル液中に含まれてい
る複数種類の粒子を分類したり、数を計数するフロ−式
粒子画像解析装置においては、次に述べる問題点が存在
する。すなわち、粒子検出系で粒子検出した時点から粒
子画像をテレビカメラで撮像し、粒子の濃淡画像に比例
する電気信号に変換し、映像信号として転送するために
は有限の時間がかかる。
【0015】この有限時間中は画像転送の作業が続いて
いるが、その間撮像した画像を乱さないようにフラッシ
ュランプが点灯しないようになっており、この転送作業
が終わるまでは、次の新たな粒子が通過しても撮像を行
うことができず、そのあいだの情報を捨ててしまわなけ
ればならない。このように画像を撮像できない不感時間
(以下、デッドタイムという)が存在し、このデッドタ
イム中に通過した粒子は撮像されず、画像処理ができな
いことになる。
いるが、その間撮像した画像を乱さないようにフラッシ
ュランプが点灯しないようになっており、この転送作業
が終わるまでは、次の新たな粒子が通過しても撮像を行
うことができず、そのあいだの情報を捨ててしまわなけ
ればならない。このように画像を撮像できない不感時間
(以下、デッドタイムという)が存在し、このデッドタ
イム中に通過した粒子は撮像されず、画像処理ができな
いことになる。
【0016】濃度の薄いサンプル液では、画像取り込み
領域に先の粒子に続いて到着する後の粒子が前記デッド
タイム中に存在する確率が小さいが、粒子濃度の濃いサ
ンプル液では、前記確率が大きく測定時間の大部分がデ
ッドタイムで占められてしまうような事態も発生し、画
像処理した粒子数からサンプル液中に含まれる複数種類
の粒子を正確に分類したり、その数を知ることは困難と
いう問題もあった。
領域に先の粒子に続いて到着する後の粒子が前記デッド
タイム中に存在する確率が小さいが、粒子濃度の濃いサ
ンプル液では、前記確率が大きく測定時間の大部分がデ
ッドタイムで占められてしまうような事態も発生し、画
像処理した粒子数からサンプル液中に含まれる複数種類
の粒子を正確に分類したり、その数を知ることは困難と
いう問題もあった。
【0017】次の測定精度を向上させるため複数の測定
モ−ドを有するフロ−式粒子画像解析装置では、前記複
数測定モ−ドにおいて画像倍率を切り替える手段が必要
である。さらに、画像倍率を変化させると、それにとも
ない撮像手段である、例えばTVカメラの撮像面での光
量が変化し、画像出力信号の大きさが変化する。
モ−ドを有するフロ−式粒子画像解析装置では、前記複
数測定モ−ドにおいて画像倍率を切り替える手段が必要
である。さらに、画像倍率を変化させると、それにとも
ない撮像手段である、例えばTVカメラの撮像面での光
量が変化し、画像出力信号の大きさが変化する。
【0018】この撮像面での光量が変化に対応するた
め、TVカメラには通常ゲインコントロ−ルを設定する
手段を持っているが、測定モ−ド毎にゲインコントロ−
ルを行うことは、コントロ−ル範囲の限界と設定に要す
る時間のため出来ない場合がある。
め、TVカメラには通常ゲインコントロ−ルを設定する
手段を持っているが、測定モ−ド毎にゲインコントロ−
ルを行うことは、コントロ−ル範囲の限界と設定に要す
る時間のため出来ない場合がある。
【0019】また、照射光源側の光量を変化させ、撮像
手段であるTVカメラの撮像面における光量を変化さ
せ、画像出力信号の大きさをコントロ−ルする方法も考
えられている。すなわち、光源の発光量を制御する方
法、光学系の1部に光量を変える光学フィルタや絞りを
挿入する方法が取られている。
手段であるTVカメラの撮像面における光量を変化さ
せ、画像出力信号の大きさをコントロ−ルする方法も考
えられている。すなわち、光源の発光量を制御する方
法、光学系の1部に光量を変える光学フィルタや絞りを
挿入する方法が取られている。
【0020】さらに、画像撮像面積が、測定モ−ドによ
って変化するため、サンプルの流れ自体の幅を広くした
り狭くしたりする操作が必要である。また、測定モ−ド
を変えるたびに画像倍率を変えるため、対物レンズまた
は投影レンズを切り替える必要がある。
って変化するため、サンプルの流れ自体の幅を広くした
り狭くしたりする操作が必要である。また、測定モ−ド
を変えるたびに画像倍率を変えるため、対物レンズまた
は投影レンズを切り替える必要がある。
【0021】前記測定モ−ドが2つ程度では前記切り替
え機構部を含めて光学系を構成することができるが、そ
れ以上の数を有する測定モ−ドがある場合、これらの光
学系を構成・配置することはむずかしい。また、光学系
の切り替え時間が必要であると共に、光学系切り替えの
ためによって生ずる焦点合わせの操作も必要となる。
え機構部を含めて光学系を構成することができるが、そ
れ以上の数を有する測定モ−ドがある場合、これらの光
学系を構成・配置することはむずかしい。また、光学系
の切り替え時間が必要であると共に、光学系切り替えの
ためによって生ずる焦点合わせの操作も必要となる。
【0022】さらに、低倍率の測定モ−ドでは、撮像画
像の周辺光量が足りないため、画像信号に、いわゆるシ
ェ−ディングが生じ、画像処理の段階において障碍とな
ってくる。通常は、光照射系に平坦度を改善する手段を
設けたり、電気的にシェ−ディング補正を行っている。
像の周辺光量が足りないため、画像信号に、いわゆるシ
ェ−ディングが生じ、画像処理の段階において障碍とな
ってくる。通常は、光照射系に平坦度を改善する手段を
設けたり、電気的にシェ−ディング補正を行っている。
【0023】また、光学的に対処する場合には、高倍率
測定モ−ドでは光量不足になるため、光量制御機構が必
要である。一方、電気的なシェ−ディング補正では、前
記シェ−ディング補正用のデ−タ作成、前記デ−タに基
づく補正演算を各画像ごとに行うという煩雑な作業が必
要となる。
測定モ−ドでは光量不足になるため、光量制御機構が必
要である。一方、電気的なシェ−ディング補正では、前
記シェ−ディング補正用のデ−タ作成、前記デ−タに基
づく補正演算を各画像ごとに行うという煩雑な作業が必
要となる。
【0024】上記のように、各測定モ−ドにおいて撮像
倍率を切り替えることは、処理時間と装置費用との増大
の原因となり、装置各部の構成に影響を与え、粒子画像
分析装置の構成を複雑、かつ、高価なものにするという
問題がある。
倍率を切り替えることは、処理時間と装置費用との増大
の原因となり、装置各部の構成に影響を与え、粒子画像
分析装置の構成を複雑、かつ、高価なものにするという
問題がある。
【0025】本発明は、上記従来技術のデッドタイム,
複数の測定モ−ドの切り替えより生ずる種々の問題点を
解決するためになされたもので、デッドタイムがなく、
複数の測定モ−ドにおいて、測定モ−ドを切り替えるた
めに生じる光学系、機構系、画像処理系の構成の複雑さ
を解決し、粒子濃度に関係なく、正確、かつ、高精度に
複数種類の粒子分類や粒子数を求めることができるフロ
−式粒子画像解析装置を提供することを目的とする。
複数の測定モ−ドの切り替えより生ずる種々の問題点を
解決するためになされたもので、デッドタイムがなく、
複数の測定モ−ドにおいて、測定モ−ドを切り替えるた
めに生じる光学系、機構系、画像処理系の構成の複雑さ
を解決し、粒子濃度に関係なく、正確、かつ、高精度に
複数種類の粒子分類や粒子数を求めることができるフロ
−式粒子画像解析装置を提供することを目的とする。
【0026】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係るフロ−式粒子画像解析装置の構成は、
液体中に懸濁する粒子サンプルをフロ−セル中に流し、
前記フロ−セル中の撮像領域を通過した粒子を撮像する
撮像部と、前記撮像部による粒子画像を画像解析する画
像解析部とを備え、粒子の形態学的分類を行う粒子画像
解析装置であって、前記撮像部は、複数の測定モ−ドを
有し、異なる測定モ−ドにおいて同一の撮像系により前
記粒子画像を連続的に撮像し、前記画像解析部は、前記
連続的粒子画像を一画素列毎に解析するようにしたもの
である。
に、本発明に係るフロ−式粒子画像解析装置の構成は、
液体中に懸濁する粒子サンプルをフロ−セル中に流し、
前記フロ−セル中の撮像領域を通過した粒子を撮像する
撮像部と、前記撮像部による粒子画像を画像解析する画
像解析部とを備え、粒子の形態学的分類を行う粒子画像
解析装置であって、前記撮像部は、複数の測定モ−ドを
有し、異なる測定モ−ドにおいて同一の撮像系により前
記粒子画像を連続的に撮像し、前記画像解析部は、前記
連続的粒子画像を一画素列毎に解析するようにしたもの
である。
【0027】画像解析部は、粒子画像が複数の画素列に
連続する場合、一画素列毎に解析し、各画素列毎の解析
値を加算するようにしたものである。撮像部は、粒子の
撮像方法を変更するようにしたものである。撮像方法の
変更は、撮像領域およびフロ−セルの流路幅のいずれか
一つまたは両方を変えるようにしたものである。撮像部
は、その撮像系の撮像倍率が同一となるようにしたもの
である。撮像部は、粒子検出と粒子分類とを一つの装置
により施せるようにしたものである。撮像部は、一次元
センサとしたものである。
連続する場合、一画素列毎に解析し、各画素列毎の解析
値を加算するようにしたものである。撮像部は、粒子の
撮像方法を変更するようにしたものである。撮像方法の
変更は、撮像領域およびフロ−セルの流路幅のいずれか
一つまたは両方を変えるようにしたものである。撮像部
は、その撮像系の撮像倍率が同一となるようにしたもの
である。撮像部は、粒子検出と粒子分類とを一つの装置
により施せるようにしたものである。撮像部は、一次元
センサとしたものである。
【0028】粒子サンプルが、生物細胞であることを特
徴とするものである。粒子サンプルが、血液中に存在す
る血球成分であることを特徴とするものである。粒子サ
ンプルが、尿、特に尿中に存在する尿沈渣成分であるこ
とを特徴とするものである。
徴とするものである。粒子サンプルが、血液中に存在す
る血球成分であることを特徴とするものである。粒子サ
ンプルが、尿、特に尿中に存在する尿沈渣成分であるこ
とを特徴とするものである。
【0029】
【作用】上記各技術的手段の働きは次のとおりである。
本発明の構成によれば、粒子検出のために別光学系を有
せず、簡単な構成の光学系により、フロ−セル中に流れ
ている液体中に懸濁する粒子サンプル中、撮像領域を通
過した粒子を連続的に撮像し、撮像した粒子画像を画素
ライン毎に画像解析することができ、前記粒子の形態学
的分類を行うことができる。
本発明の構成によれば、粒子検出のために別光学系を有
せず、簡単な構成の光学系により、フロ−セル中に流れ
ている液体中に懸濁する粒子サンプル中、撮像領域を通
過した粒子を連続的に撮像し、撮像した粒子画像を画素
ライン毎に画像解析することができ、前記粒子の形態学
的分類を行うことができる。
【0030】また、フロ−セルを流れる粒子を含むサン
プル液の画像をすべて撮像し、粒子の画像処理を行うた
め、数え落としなく粒子を計数することができ、粒子の
濃度によらず粒子の計数および粒子濃度の算出を正確に
行うことができる。複数の測定モ−ドにおいて、撮像部
の光学系の変更を行う必要がないため、撮像部光学系の
再調整の必要がない。
プル液の画像をすべて撮像し、粒子の画像処理を行うた
め、数え落としなく粒子を計数することができ、粒子の
濃度によらず粒子の計数および粒子濃度の算出を正確に
行うことができる。複数の測定モ−ドにおいて、撮像部
の光学系の変更を行う必要がないため、撮像部光学系の
再調整の必要がない。
【0031】画素の1ライン毎に撮像された画像は、画
像処理によって粒子の存在の判定されると同時に、粒子
が存在すれば粒子の特徴抽出をおこなうことができる。
1画素ライン中に粒子が検出されなければそのまま画像
処理を終了し、次の画素ラインの画像処理を開始する。
1画素ライン中に粒子が存在すれば、1画素ラインあた
りの特徴量を算出する。
像処理によって粒子の存在の判定されると同時に、粒子
が存在すれば粒子の特徴抽出をおこなうことができる。
1画素ライン中に粒子が検出されなければそのまま画像
処理を終了し、次の画素ラインの画像処理を開始する。
1画素ライン中に粒子が存在すれば、1画素ラインあた
りの特徴量を算出する。
【0032】また、粒子画像が複数の画素列に連続する
場合、第一の画素ラインの粒子部分の特徴量を算出し、
次の画素ラインの特徴量を算出し、第一の画素ラインの
特徴量に加算し、次の画素ラインにも粒子画像が存在す
れば、そのラインまで粒子の特徴量を加算する。1つの
画素ライン中に粒子が存在する限り、このような処理を
続け、粒子が画素ライン中存在しなくなった時点にて結
果を出力することができる。
場合、第一の画素ラインの粒子部分の特徴量を算出し、
次の画素ラインの特徴量を算出し、第一の画素ラインの
特徴量に加算し、次の画素ラインにも粒子画像が存在す
れば、そのラインまで粒子の特徴量を加算する。1つの
画素ライン中に粒子が存在する限り、このような処理を
続け、粒子が画素ライン中存在しなくなった時点にて結
果を出力することができる。
【0033】このような1ライン毎の画像処理はリアル
タイムで行えば、粒子濃度にかかわらず、全粒子につい
て特徴抽出を行うことができる。また、粒子数の計数お
よび粒子濃度も正確に求めることができる。
タイムで行えば、粒子濃度にかかわらず、全粒子につい
て特徴抽出を行うことができる。また、粒子数の計数お
よび粒子濃度も正確に求めることができる。
【0034】測定モ−ドを変更し、画像倍率の変更する
場合において、高倍率の場合は低倍率の場合に比較し
て、撮像領域は小さくなる。したがって、高倍率のとき
は画素センサの部分領域によって撮像を行い、低倍率の
ときは前記画素センサの全領域によって撮像を行うよう
な切替えを行えば、光学系の変更を行うことなく、迅速
に撮像することができる。撮像領域の変更に伴って、フ
ロ−セルの流路の幅も変更する。また、低倍率のときは
全画素センサを使用せず、所定の間隔をあけて画素セン
サを使用し、迅速に撮像・画像処理をすることができ
る。
場合において、高倍率の場合は低倍率の場合に比較し
て、撮像領域は小さくなる。したがって、高倍率のとき
は画素センサの部分領域によって撮像を行い、低倍率の
ときは前記画素センサの全領域によって撮像を行うよう
な切替えを行えば、光学系の変更を行うことなく、迅速
に撮像することができる。撮像領域の変更に伴って、フ
ロ−セルの流路の幅も変更する。また、低倍率のときは
全画素センサを使用せず、所定の間隔をあけて画素セン
サを使用し、迅速に撮像・画像処理をすることができ
る。
【0035】
【実施例】以下に、本発明の各実施例図1ないし図3を
参照して説明する。 〔実施例 1〕図1は、本発明の1実施例である粒子画
像解析装置の全体構成を示すブロック図、図2は、図1
の実施例に係る粒子画像解析装置における粒子特徴抽出
部のブロック図、図3は、図1の実施例をスライドガラ
ス標本解析に応用した場合の要部ブロック図である。
参照して説明する。 〔実施例 1〕図1は、本発明の1実施例である粒子画
像解析装置の全体構成を示すブロック図、図2は、図1
の実施例に係る粒子画像解析装置における粒子特徴抽出
部のブロック図、図3は、図1の実施例をスライドガラ
ス標本解析に応用した場合の要部ブロック図である。
【0036】図1において、1は、試料画像の撮像用光
源、4は、フィ−ルドレンズ、5は、試料液を流すフロ
−セル、6は、フロ−セル5中のサンプル液、7は、対
物レンズ、8は、スリット、9は、撮像用1次元CC
D、14は、AD変換器、20は、画像処理部、27
は、メモリ、29は、フロ−制御部、31は、ディスプ
レイ、32は、プリンタ、35は、制御計算機である。
源、4は、フィ−ルドレンズ、5は、試料液を流すフロ
−セル、6は、フロ−セル5中のサンプル液、7は、対
物レンズ、8は、スリット、9は、撮像用1次元CC
D、14は、AD変換器、20は、画像処理部、27
は、メモリ、29は、フロ−制御部、31は、ディスプ
レイ、32は、プリンタ、35は、制御計算機である。
【0037】本実施例は、粒子を懸濁させたサンプル液
6をフロ−セル5に流し、常に光源1を点灯させて前記
フロ−セル5を照射し、前記フロ−セル5の流れの方向
に対して平行な面上に、流れの方向に直角に設けられた
一次元センサ9によって前記フロ−セル5中の画像取込
み領域を通過するサンプル液6の画像を連続的に撮像
し、得られた画像を1画素ライン毎に画像処理し、サン
プル液6中の粒子の分類するように構成したものであ
る。
6をフロ−セル5に流し、常に光源1を点灯させて前記
フロ−セル5を照射し、前記フロ−セル5の流れの方向
に対して平行な面上に、流れの方向に直角に設けられた
一次元センサ9によって前記フロ−セル5中の画像取込
み領域を通過するサンプル液6の画像を連続的に撮像
し、得られた画像を1画素ライン毎に画像処理し、サン
プル液6中の粒子の分類するように構成したものであ
る。
【0038】撮像用光源1には、実際にはハロゲンラン
プが用いられている。いま、説明のため、試料液は、紙
面と垂直に表側から裏側に向かって流れるものとする。
サンプル液6は極めて平坦にフロ−セル5を流れるよう
になっており、その流速はフロ−制御部29によって等
速に保たれる。
プが用いられている。いま、説明のため、試料液は、紙
面と垂直に表側から裏側に向かって流れるものとする。
サンプル液6は極めて平坦にフロ−セル5を流れるよう
になっており、その流速はフロ−制御部29によって等
速に保たれる。
【0039】フロ−セル5の流路は、ハロゲンランプ1
の照射光軸と平行な方向(図1における左右方向)には
100〜200μm程度の寸法であり、前記照射光軸と
垂直な方向(図1における上下方向)には数mm程度の
寸法である。前記ハロゲンランプ1から出射された光
は、レンズ4によって平行光線にされ、前記フロ−セル
5に照射させる。このフロ−セル5を通過した光は対物
レンズ7にて集光されスリット8上に結像し、そののち
通過する。
の照射光軸と平行な方向(図1における左右方向)には
100〜200μm程度の寸法であり、前記照射光軸と
垂直な方向(図1における上下方向)には数mm程度の
寸法である。前記ハロゲンランプ1から出射された光
は、レンズ4によって平行光線にされ、前記フロ−セル
5に照射させる。このフロ−セル5を通過した光は対物
レンズ7にて集光されスリット8上に結像し、そののち
通過する。
【0040】前記スリット8を通過した光は、撮像用の
一次元CCD9で電気信号に変換される。前記1次元C
CD9は、サンプル液6の流れに平行な面上に、前記サ
ンプル液6と直角に配設されている。
一次元CCD9で電気信号に変換される。前記1次元C
CD9は、サンプル液6の流れに平行な面上に、前記サ
ンプル液6と直角に配設されている。
【0041】前記一次元CCD9は、サンプル液6を常
時監視し、かつ、繰り返し撮像するので、該一次元CC
D9からは各画素ごとに蓄積された光の量に応じた電圧
が順次出力される。このようにして前記サンプル液6の
画像が1ライン画素列毎、連続して出力される。前記1
ライン画素列毎の出力信号は、AD変換器14によりA
D変換され、画像処理部20に入力される。
時監視し、かつ、繰り返し撮像するので、該一次元CC
D9からは各画素ごとに蓄積された光の量に応じた電圧
が順次出力される。このようにして前記サンプル液6の
画像が1ライン画素列毎、連続して出力される。前記1
ライン画素列毎の出力信号は、AD変換器14によりA
D変換され、画像処理部20に入力される。
【0042】図2は、図1の実施例に係る粒子画像解析
装置における画像処理部のブロック図の一例である。図
2において、画像処理部20は、二値画像処理部150
と、濃淡画像処理部151と、画素座標処理部152
と、特徴抽出部172と、粒子判定部174とからなっ
ており、その出力はメモリ27ヘ送られる。
装置における画像処理部のブロック図の一例である。図
2において、画像処理部20は、二値画像処理部150
と、濃淡画像処理部151と、画素座標処理部152
と、特徴抽出部172と、粒子判定部174とからなっ
ており、その出力はメモリ27ヘ送られる。
【0043】さらに、特徴抽出部172は、周囲長計算
処理160と、投影長計算処理161と、面積計算処理
162と、最大最小座標計算処理163と、濃度計算処
理164とを実施できるようになっている。AD変換器
14からのデジタル信号が入力され、その信号が二値画
像処理部150にて二値画像信号となる。
処理160と、投影長計算処理161と、面積計算処理
162と、最大最小座標計算処理163と、濃度計算処
理164とを実施できるようになっている。AD変換器
14からのデジタル信号が入力され、その信号が二値画
像処理部150にて二値画像信号となる。
【0044】前記二値画像信号より周囲長計算処理16
0と、投影長計算処理161と、面積計算処理162
と、最大最小座標計算処理163と、濃度計算処理16
4とが施され、周囲長,投影長,粒子面積,投影長,最
大最小座標,濃度のパラメ−タが計算される。また、A
D変換器14からのデジタル信号が、濃淡画像処理部1
51にて濃淡処理され、濃淡信号より濃度計算処理16
4がなされ、粒子画像の濃度が計算される。同様にし
て、画素座標処理部152と最大最小座標計算処理16
3とにより最大最小座標が計算される。
0と、投影長計算処理161と、面積計算処理162
と、最大最小座標計算処理163と、濃度計算処理16
4とが施され、周囲長,投影長,粒子面積,投影長,最
大最小座標,濃度のパラメ−タが計算される。また、A
D変換器14からのデジタル信号が、濃淡画像処理部1
51にて濃淡処理され、濃淡信号より濃度計算処理16
4がなされ、粒子画像の濃度が計算される。同様にし
て、画素座標処理部152と最大最小座標計算処理16
3とにより最大最小座標が計算される。
【0045】特徴抽出部172にて算出された各特徴量
は、並列に粒子判定部174に入力され、前記粒子判定
部174においては、入力された各特徴量から測定粒子
種類の判定が実施され、メモリ27を出力する。メモリ
27は、実時間で格納された解析結果は試料の測定が終
了すると制御用計算機35に読み込まれ、解析結果をデ
ィスプレイ32およびプリンタ31に出力する。
は、並列に粒子判定部174に入力され、前記粒子判定
部174においては、入力された各特徴量から測定粒子
種類の判定が実施され、メモリ27を出力する。メモリ
27は、実時間で格納された解析結果は試料の測定が終
了すると制御用計算機35に読み込まれ、解析結果をデ
ィスプレイ32およびプリンタ31に出力する。
【0046】これらの特徴量算出処理は、公知の1パス
特徴抽出により、それぞれ並列に実施される。また、前
記特徴量計算と前記粒子判定は、実時間にて実施される
ため、いわゆるパイプライン処理により構成される。し
たがって、一画素ラインの特徴量算出は、一個のクロッ
クパルスにて実行するために、特徴抽出部72はハ−ド
ウェアロジックによって構成することができる。
特徴抽出により、それぞれ並列に実施される。また、前
記特徴量計算と前記粒子判定は、実時間にて実施される
ため、いわゆるパイプライン処理により構成される。し
たがって、一画素ラインの特徴量算出は、一個のクロッ
クパルスにて実行するために、特徴抽出部72はハ−ド
ウェアロジックによって構成することができる。
【0047】また、粒子サイズが大であり、その画像が
複数の画素列に亘る場合、まず。第一の画素ラインの粒
子部分の特徴量を算出する。次に、第一の画素ラインに
続く画素ラインの特徴量を算出し、両画素ラインの特徴
量を加算する。次の画素ラインにも粒子画像が存在すれ
ば、そのラインの粒子特徴量を算出し、前記両画素ライ
ンの加算特徴量にさらに加算する。1つの画素ライン中
に粒子が存在する限り、このような処理を連続する。粒
子が画素ライン中存在しなくなった時点にて処理を終了
し、メモリ27ヘ出力する。このようにして大きなサイ
ズの粒子についても迅速に特徴量を算出する。
複数の画素列に亘る場合、まず。第一の画素ラインの粒
子部分の特徴量を算出する。次に、第一の画素ラインに
続く画素ラインの特徴量を算出し、両画素ラインの特徴
量を加算する。次の画素ラインにも粒子画像が存在すれ
ば、そのラインの粒子特徴量を算出し、前記両画素ライ
ンの加算特徴量にさらに加算する。1つの画素ライン中
に粒子が存在する限り、このような処理を連続する。粒
子が画素ライン中存在しなくなった時点にて処理を終了
し、メモリ27ヘ出力する。このようにして大きなサイ
ズの粒子についても迅速に特徴量を算出する。
【0048】測定モ−ドの変更は、前記一次元CCD9
の撮像領域および前記フロ−セル5の流路幅を変更する
ことにより行われる。前記流路幅の変更は、図示されて
いないが、流路に堰板を挿入し、前記堰板を駆動部によ
り移動させることにより実施される。
の撮像領域および前記フロ−セル5の流路幅を変更する
ことにより行われる。前記流路幅の変更は、図示されて
いないが、流路に堰板を挿入し、前記堰板を駆動部によ
り移動させることにより実施される。
【0049】次に、前記公知の1パス特徴抽出を説明す
る。1パス特徴抽出の詳細については「依田、井内、江
尻、”粒子画像解析のためのビデオレ−ト1パス型手
法”、昭和63年電子情報通信学会秋期全国大会」に述
べられているので、この公知文献に譲り、簡単に説明す
る。
る。1パス特徴抽出の詳細については「依田、井内、江
尻、”粒子画像解析のためのビデオレ−ト1パス型手
法”、昭和63年電子情報通信学会秋期全国大会」に述
べられているので、この公知文献に譲り、簡単に説明す
る。
【0050】1パス特徴抽出は、画像情報を1ラインず
つ撮像装置より連続して一回入力すると、被測定対象画
像の特徴量を実時間で計算するものであり、次のような
特徴を有する。 (1)入力画像は1ラインずつ一定間隔のクロックパル
スに従って入力される。 (2)1ライン入力されたときに必要になる処理は、す
べて1個のクロックパルスで実行できる。すなわち複数
の処理が必要であったとしても、それらは並列に一個の
クロックパルスで実行される。 (3)出力すべき個々のデ−タはそれに関する画像領域
の操作が終了した時点、あるいはその時点から一定クロ
ック後に出力され、それによってその出力デ−タに関す
る処理が完結する。
つ撮像装置より連続して一回入力すると、被測定対象画
像の特徴量を実時間で計算するものであり、次のような
特徴を有する。 (1)入力画像は1ラインずつ一定間隔のクロックパル
スに従って入力される。 (2)1ライン入力されたときに必要になる処理は、す
べて1個のクロックパルスで実行できる。すなわち複数
の処理が必要であったとしても、それらは並列に一個の
クロックパルスで実行される。 (3)出力すべき個々のデ−タはそれに関する画像領域
の操作が終了した時点、あるいはその時点から一定クロ
ック後に出力され、それによってその出力デ−タに関す
る処理が完結する。
【0051】また、特徴量の計算方法としては、各ライ
ンと交差している図形要素部分にラベルを付け、そのラ
ベルを次のライン上の連結する交差部に伝ぱんしなが
ら、各交差部の部分特徴量をそのラベルに累積していく
ものである。
ンと交差している図形要素部分にラベルを付け、そのラ
ベルを次のライン上の連結する交差部に伝ぱんしなが
ら、各交差部の部分特徴量をそのラベルに累積していく
ものである。
【0052】本発明は、本実施例に限定されるものでは
なく、試料がスライドガラス標本中の粒子の場合にも適
用することができる。図3を参照して説明する。図3
は、本発明のスライドガラス標本の解析に応用した場合
の要部ブロック図である。
なく、試料がスライドガラス標本中の粒子の場合にも適
用することができる。図3を参照して説明する。図3
は、本発明のスライドガラス標本の解析に応用した場合
の要部ブロック図である。
【0053】図3において、100は制御回路、102
はスライドガラス標本、104は測定試料である。スラ
イドガラス標本102を制御回路100によって図示の
矢印方向に等速に移動させることにより測定試料104
の粒子をフロ−セル中の粒子と同様に、粒子検出および
画像解析をすることができる。
はスライドガラス標本、104は測定試料である。スラ
イドガラス標本102を制御回路100によって図示の
矢印方向に等速に移動させることにより測定試料104
の粒子をフロ−セル中の粒子と同様に、粒子検出および
画像解析をすることができる。
【0054】このようにして構成した実施例において
は、下記のような効果を有する。 1.1つの光学系で構成することができるため、光学系
の配置をコンパクトにまとめることができる。 2.1次元ラインセンサによって試料流の透過情報を取
得し、実時間で画像処理を行うことができる。したがっ
て粒子の検出漏れを防ぐことができ、測定精度を著しく
向上させる。 3.複数の測定モ−ドにおいて、測定モ−ドの変更の
際、同一の光学系を使用するため、光学系の再調整の必
要がない。 4.1次元ラインセンサによって1ラインごとに粒子を
含むサンプル流の全透過情報を撮像するため、粒子の検
出洩れが生じない。 6.1次元ラインセンサを使用するため、テレビカメラ
を使用したものに比べて、コストの低減を計ることがで
きる。
は、下記のような効果を有する。 1.1つの光学系で構成することができるため、光学系
の配置をコンパクトにまとめることができる。 2.1次元ラインセンサによって試料流の透過情報を取
得し、実時間で画像処理を行うことができる。したがっ
て粒子の検出漏れを防ぐことができ、測定精度を著しく
向上させる。 3.複数の測定モ−ドにおいて、測定モ−ドの変更の
際、同一の光学系を使用するため、光学系の再調整の必
要がない。 4.1次元ラインセンサによって1ラインごとに粒子を
含むサンプル流の全透過情報を撮像するため、粒子の検
出洩れが生じない。 6.1次元ラインセンサを使用するため、テレビカメラ
を使用したものに比べて、コストの低減を計ることがで
きる。
【0055】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、デッドタイムがなく、複数の測定モ−ドにおい
て、測定モ−ドを切り替えるため生じる光学系、機構
系、画像処理系の各構成の複雑さを解決し、粒子濃度に
関係なく、正確、かつ、高精度に複数種類の粒子分類や
粒子数を求めることができるフロ−式粒子画像解析装置
を提供することができる。
れば、デッドタイムがなく、複数の測定モ−ドにおい
て、測定モ−ドを切り替えるため生じる光学系、機構
系、画像処理系の各構成の複雑さを解決し、粒子濃度に
関係なく、正確、かつ、高精度に複数種類の粒子分類や
粒子数を求めることができるフロ−式粒子画像解析装置
を提供することができる。
【図1】本発明の1実施例である粒子画像解析装置の全
体構成を示すブロック図である。
体構成を示すブロック図である。
【図2】図1の実施例に係る粒子画像解析装置における
粒子特徴抽出部のブロック図である。
粒子特徴抽出部のブロック図である。
【図3】図1の実施例をスライドガラス標本の解析に応
用した場合の要部ブロック図である。
用した場合の要部ブロック図である。
1 ハロゲンランプ 4 フィ−ルドレンズ 5 フロ−セル 6 サンプル 7 対物レンズ 8 スリット 9 1次元CCD 14 AD変換器 20 画像処理部 27 メモリ 29 フロ−制御部 31 ディスプレイ 32 プリンタ 35 制御計算機 100 スライドガラス制御部 102 スライドガラス 104 サンプル 150 2値画像処理部 151 濃淡画像処理部 152 画素座標処理部 160 周囲長処理 161 投影長処理 162 面積処理 163 最大最小座標処理 164 濃度処理 172 特徴抽出部 174 粒子判定部
Claims (11)
- 【請求項1】 液体中に懸濁する粒子サンプルをフロ−
セル中に流し、前記フロ−セル中の撮像領域を通過した
粒子を撮像する撮像部と、前記撮像部による粒子画像を
画像解析する画像解析部とを備え、粒子の形態学的分類
を行うフロ−式粒子画像解析装置において、 前記撮像部は、複数の測定モ−ドを有し、異なる測定モ
−ドにおいて同一の撮像系により前記粒子画像を連続的
に撮像し、 前記画像解析部は、前記連続的粒子画像を一画素列毎に
解析するように構成されていることを特徴とするフロ−
式粒子画像解析装置 - 【請求項2】 画像解析部は、粒子画像が複数の画素列
に連続する場合、一画素列毎に解析し、各画素列毎の解
析値を加算するように構成されていることを特徴とする
請求項1記載のフロ−式粒子画像解析装置。 - 【請求項3】 撮像部は、粒子の撮像方法を変更するよ
うに構成されていることを特徴とする請求項1,2記載
のいずれかのフロ−式粒子画像解析装置。 - 【請求項4】 撮像方法の変更は、撮像領域およびフロ
−セルの流路幅のいずれか一つを変えるように構成され
ていることを特徴とする請求項3記載のフロ−式粒子画
像解析装置。 - 【請求項5】 撮像方法の変更は、撮像領域およびフロ
−セルの流路幅を変えるように構成されていることを特
徴とする請求項3記載のフロ−式粒子画像解析装置。 - 【請求項6】撮像部は、その撮像系の撮像倍率が同一と
なるように構成されていることを特徴とする請求項1な
いし5記載のいずれかのフロ−式粒子画像解析装置。 - 【請求項7】 撮像部は、粒子検出のため撮像と粒子分
類の撮像とを一つの撮像部により施せるように構成され
ていることを特徴とする請求項1ないし6記載のいずれ
かのフロ−式粒子画像解析装置。 - 【請求項8】 撮像部は、一次元センサにより構成され
ていることを特徴とする請求項1ないし請求項7記載の
いずれかのフロ−式粒子画像解析装置。 - 【請求項9】 粒子サンプルが、生物細胞であることを
特徴とする請求項1ないし8記載のいずれかのフロ−式
粒子画像解析装置。 - 【請求項10】 粒子サンプルが、血液中に存在する血
球成分であることを特徴とする請求項1ないし8記載の
いずれかのフロ−式粒子画像解析装置。 - 【請求項11】 粒子サンプルが、尿、特に尿中に存在
する尿沈渣成分であることを特徴とする請求項1ないし
8記載のいずれかのフロ−式粒子画像解析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5209268A JPH0763665A (ja) | 1993-08-24 | 1993-08-24 | フロ−式粒子画像解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5209268A JPH0763665A (ja) | 1993-08-24 | 1993-08-24 | フロ−式粒子画像解析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0763665A true JPH0763665A (ja) | 1995-03-10 |
Family
ID=16570139
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5209268A Pending JPH0763665A (ja) | 1993-08-24 | 1993-08-24 | フロ−式粒子画像解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0763665A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009154256A (ja) * | 2007-12-27 | 2009-07-16 | Yaskawa Electric Corp | 車輪付脚式移動装置 |
-
1993
- 1993-08-24 JP JP5209268A patent/JPH0763665A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009154256A (ja) * | 2007-12-27 | 2009-07-16 | Yaskawa Electric Corp | 車輪付脚式移動装置 |
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