JPH076379A - 光学的ヘッド及び光学的記録再生方法 - Google Patents

光学的ヘッド及び光学的記録再生方法

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JPH076379A
JPH076379A JP5149489A JP14948993A JPH076379A JP H076379 A JPH076379 A JP H076379A JP 5149489 A JP5149489 A JP 5149489A JP 14948993 A JP14948993 A JP 14948993A JP H076379 A JPH076379 A JP H076379A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、光ディスクに照射する光の光強度を
減少させることなく実質的に超解像を実現し得る光学的
ヘッドを実現することを目的とする。 【構成】光ディスク50から反射された反射光を平行光
とするレンズ系34,35と、前記該平行光に基づいて
フォーカシングエラー及びトラッキングエラーを検出す
るフォーカシングエラー・トラッキングエラー検出系3
6〜39と、前記平行光に基づいて前記光ディスクから
再生された再生信号を検出する光再生信号検出系40〜
43,46〜48と、前記平行光のうち、少なくとも前
記光再生信号検出系40〜43,46〜48へ供給され
る平行光の光振幅分布中の中央部分を遮光する遮光手段
5,25とを備えるように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光学的ヘッド及び光学
的記録再生方法に係わり、特に光ディスクに対して情報
の高密度記録再生を行うのに適した光学的ヘッド及び光
学的記録再生方法に関する。
【0002】光ディスク装置は、ファイルシステムなど
の記憶装置として用いることが可能であり、プログラム
や大容量のデータを格納するのに好適である。このた
め、光磁気ディスクなどの光ディスクを、急速に発展す
るマルチメディアシステムにおける大容量記憶装置とし
て使用する要望が高まっている。この要望に伴い、光デ
ィスクに情報を高密度記録するのに適した光学的ヘッド
及び光学的記録方法の開発が望まれている。
【0003】
【従来の技術】従来の光磁気ヘッドの一例を図8に示
す。同図中、半導体レーザ31から出射された光ビーム
はコリメートレンズ32で平行光とされた後、真円補正
プリズム33で円形の平行光とされる。この平行光は、
ビームスプリッタ34を介して対物レンズ35へ供給さ
れ、この対物レンズ35により光磁気ディスク50上に
集光される。光磁気ディスク50は透明基板51及び記
録膜52を有し、対物レンズ35はビームスプリッタ3
4からの平行光を光磁気ディスク50の記録膜52上に
集光する。
【0004】光磁気ディスク50からの反射光は、対物
レンズ35により平行光とされた後、ビームスプリッタ
34により反射される。ビームスプリッタ34からの反
射光は、ビームスプリッタ36により二分され、一方は
フォーカシングエラー・トラッキングエラー検出系へ供
給され、他方は光磁気再生信号検出系へ供給される。
【0005】フォーカシングエラー・トラッキングエラ
ー検出系は、集光レンズ37と、シリンドリカルレンズ
38と、四分割光検出器39とからなる。フォーカシン
グエラー信号及びトラッキングエラー信号は、四分割光
検出器39の出力に基づいて生成される。
【0006】光磁気再生信号検出系は、1/2波長板4
0と、偏向ビームスプリッタ41と、光検出器42,4
3とからなる。光磁気再生信号は、光検出器42,43
の出力に基づいて生成される。
【0007】図9は、図8に示す光磁気ヘッドで光磁気
ディスク50に対して情報の記録再生を行った場合の、
空間周波数と再生波形の振幅の相対変化との関係を示
す。ここで、空間周波数とは、光磁気ディスク50上の
記録マークの周期の逆数を指す。図9から明らかな如
く、光磁気ディスク50上の記録密度を高くしようとす
ると、空間周波数が高くなってしまい、光磁気ヘッドの
光学系の分解能の限界のために再生波形が劣化してしま
う。図9では、「基準点」を越える空間周波数での再生
波形の劣化が著しいそこで、この問題を解決するため
に、図10に示す如き所謂「超解像」を用いた光磁気ヘ
ッドが提案されている。同図中、図8と同一部分には同
一符号を付し、その説明は省略する。図10に示す光磁
気ヘッドは、例えばAppliedOptics誌第2
9巻第20号第3046頁〜第3051頁(1990年
7月10日)で説明されている。
【0008】図10に示す様に、遮光帯45が真円補正
プリズム33とビームスプリッタ34との間に設けられ
ており、集光レンズ46が1/2波長板40と偏向ビー
ムスプリッタ41との間に設けられている。更に、スリ
ット又はピンホール47,48が各々偏向ビームスプリ
ッタ41と光検出器42,43との間に設けられてい
る。遮光帯45は、光磁気ディスク50上に集光される
光集光スポットの光振幅分布と平行光の光振幅分布とが
フーリエ変換の関係にあることを利用して、予め平行光
の中央部分を遮光して低周波数成分を除去する。従っ
て、対物レンズ35により遮光帯45及びビームスプリ
ッタ34を介して得られる光を光磁気ディスク50上に
集光すると、広がってしまう低周波数成分の光がないの
で集光スポットの径を小さくすることができ、分解能を
向上できる。
【0009】尚、前期Applied Physics
誌でも報告されているように、超解像を用いると、集光
スポットの光振幅分布に副極大が生じるため、これによ
る再生波形への悪影響をさける必要がある。そこで、集
光レンズ46を用いて光検出器42,43上に平行光を
偏向ビームスプリッタ41を介して集光するようにし
て、且つ、スリット又はピンホール47,48により副
極大による光成分を取り除いている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかし、図10に示す
光磁気ヘッドでは、遮光帯45により光磁気ディスク5
0に照射する光の一部を遮ってしまうため、情報を記録
する際に光磁気ディスク50に照射できる光の強度が小
さくなってしまうという問題があった。
【0011】そこで、本発明は、上記課題に鑑み、光デ
ィスクに照射する光の光強度を減少させることなく実質
的に超解像を実現し得る光学的ヘッド及び光学的記録再
生方法を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記課題は、光ディスク
50から反射された反射光を平行光とするレンズ系3
4,35と、前記平行光に基づいてフォーカシングエラ
ー及びトラッキングエラーを検出するフォーカシングエ
ラー・トラッキングエラー検出系36〜39と、前記平
行光に基づいて光ディスクから再生された再生信号を検
出する光再生信号検出系40〜43,46〜48と、前
記平行光のうち、少なくとも光再生信号検出系40〜4
3,46〜48へ供給される平行光の光振幅分布中の中
央部分を遮光する遮光手段5,25とを備えた請求項1
記載の光学的ヘッドにより解決される。
【0013】又、上記課題は、光ディスク50から反射
された反射光を平行光として、前記平行光に基づいてフ
ォーカシングエラー及びトラッキングエラーを検出する
と共に、前記平行光に基づいて前記光ディスクから再生
された再生信号を検出する光学的記録再生方法におい
て、前記平行光のうち、少なくとも該光再生信号の検出
に用いる平行光の光振幅分布中の中央部分を遮光するス
テップを含む請求項6記載の光学的記録再生方法によっ
ても解決される。
【0014】
【作用】上述の如く、請求項1及び6記載の発明によれ
ば、光ディスクに光を照射する光路中ではなく、光学系
の再生光路中で平行光の中央部分を遮光するので、光デ
ィスクに照射する光の光強度を減少させることなく光デ
ィスクの分解能を向上し得る。従って、高密度記録再生
に適した光学的ヘッド及び光学的記録再生方法を実現で
きる。
【0015】
【実施例】図1は、本発明になる光学的ヘッドの第1実
施例を示す図である。同図中、図10と同一部分には同
一符号を付し、その説明は省略する。本実施例では、本
発明を光磁気ヘッドに適用している。
【0016】本実施例では、遮光板5が光磁気ディスク
50からの反射光を処理する光学系の再生光路中に設け
られている。具体的には、遮光板5は1/2波長板40
と集光レンズ46との間に配置されている。従って、遮
光板5は1/2波長板40を介して得られる平行光の中
央部分を遮ってから平行光を集光レンズ46に供給す
る。
【0017】光磁気ディスク50上に集光される光集光
スポットの光振幅分布と平行光の光振幅分布とはフーリ
エ変換の関係にある。このため、光磁気ディスク50に
光を照射する光路中であっても、光磁気ディスク50か
らの反射光をフォーカシングエラー・トラッキングエラ
ー検出系又は光磁気再生信号検出系へ導く再生光路中で
あっても、この関係は変わらない。従って、光磁気ディ
スク50からの反射光を対物レンズ35で平行光とした
後で遮光板5によりその平行光の中央部分を遮っても、
光磁気ディスク50上の集光スポットの広がった低周波
数成分による悪影響を除去することができ、実質的に超
解像を用いた場合と同等な再生波形を得ることができ
る。
【0018】図2は光磁気ヘッドの伝達関数(OTF)
の振幅特性を示す。同図中、縦軸は変調度を表し、横軸
は空間周波数を表す。特性Iは、図1に示す如く遮光板
5を設けた場合を示し、特性IIは、比較用として図8の
従来例の如く遮光板を設けない場合を示す。図2より明
らかな如く、遮光板5を設けた場合は特性Iに示す様に
特性IIに比べて低域での変調度が小さくなり、逆に、高
域での変調度が大きくなっている。これにより、遮光板
5を設けると光磁気ディスク50上の集光スポットの径
を小さくし得、遮光板5が光磁気ディスク50からの反
射光を処理する光学系の再生光路中に配置されているに
もかかわらず高域で大きな変調度、すなわち、大きな光
振幅を得ることができる。つまり、本実施例によれば、
分解能の良い再生波形が得られる。
【0019】図3は、遮光板5の実施例を示す。図3
(a)の実施例では、遮光板5は透明基板5Aと透明基
板5A上に形成された帯状の不透明膜5Bとからなる。
不透明膜5Bの幅は、反射光の中央部分を遮るように設
定される。他方、図3(b)の実施例では、遮光板5は
透明基板5Aと透明基板5A上に形成された円形の不透
明膜5Bとからなる。不透明膜5Bの径は、反射光の中
央部分を遮るように設定される。尚、不透明膜5Bの形
状はこれらに限定されず、光磁気ディスク50の記録ト
ラック方向の分解能が良くなるように設定された形状で
あれば良い。
【0020】ところで、前記した如く、遮光板5を設け
ることにより、光磁気ディスク50上の集光スポットの
光振幅分布に副極大が生じてしまう。スリット又はピン
ホール47,48は副極大による光成分を除去するため
に設けているが、副極大による光成分を確実に除去する
ためにはスリット又はピンホール47,48の位置合わ
せが必要である。しかし、スリット又はピンホール4
7,48の位置合わせは繁雑であり、簡単に、且つ、確
実に副極大による光成分を除去することが望ましい。
【0021】そこで、簡単に、且つ、確実に副極大によ
る光成分を除去することができる実施例を次に説明す
る。
【0022】図4は、本発明になる光学的ヘッドの第2
実施例を示す図である。同図中、図8と同一部分には同
一符号を付し、その説明は省略する。本実施例でも、本
発明を光磁気ヘッドに適用している。
【0023】本実施例では、遮光板5を1/2波長板4
0と偏向ビームスプリッタ41との間、即ち、光磁気デ
ィスク50からの反射光を処理する光学系の再生光路中
に設けている。又、差動増幅器10が設けられており、
光検出器42,43の出力を差動増幅する。差動増幅器
10の出力は、端子11を介して図5に示す回路20へ
供給される。つまり、第1実施例ではスリット又はピン
ホール47,48を副極大による光成分を除去するため
に設けているが、本実施例では図5に示す補正回路20
により電気的に副極大による光成分を除去する。
【0024】図6は、再生波形の光強度と位置との関係
を示す光強度分布図であり、位置が0のところは光学系
の光軸に対応している。同図中、縦軸は光検出器42,
43上に集光される集光スポットの光強度を表す。同図
に示す如く、スリット又はピンホール47,48を設け
ないと、光検出器42,43で検出される再生信号の再
生波形には、主極大I0に基づいた再生信号に、主極大
I0から距離d離れた位置の副極大I1に基づいた再生
信号の影響が混入している。図5に示す補正回路20
は、この副極大I1の影響を電気的に除去する。
【0025】図5において、補正回路20はd/v遅延
素子13,14と、I1/I0乗算器15,16と、合
成回路17とからなる。d/v遅延素子13は、端子1
1から得られる差動増幅器10の出力を時間d/vだけ
遅延する。ここで、dは上記副極大I1の位置を表し、
vは光磁気ディスク50の周速度を表す。d/v遅延素
子13の出力は、d/v遅延素子14により更に時間d
/vだけ遅延される。又、d/v遅延素子13の出力
は、合成回路17の正入力端子へ基準信号として供給さ
れる。
【0026】d/v遅延素子14の出力は、I1/I0
乗算器15により主極大I0と副極大I1との光強度比
を乗算されてから合成回路17の一方の負入力端子へ供
給される。又、端子11から得られる差動増幅器10の
出力は、I1/I0乗算器16により主極大I0と副極
大I1との光強度比を乗算されてから合成回路17の他
方の負入力端子へ供給される。これにより、合成回路1
7の二つの負入力端子には、正入力端子に供給される上
記基準信号に対して時間d/vだけ相対的に進んだ信号
と遅れた信号とが供給される。合成回路17は、基準信
号から、上記二つの負入力端子に供給され基準信号に対
して時間d/vだけ相対的に進んだ信号と遅れた信号と
を減算することにより、副極大I1による影響を除去し
た再生信号を求めて端子18より出力する。従って、図
5に示す補正回路20は、トランスバーサルフィルタを
構成する。
【0027】本実施例によれば、スリット又はピンホー
ル47,48を設けずに、電気的に副極大による光成分
を除去するので、繁雑なスリット又はピンホール47,
48の位置合わせを行う必要がなく、簡単に、且つ、確
実に副極大による光成分を除去することができる。
【0028】図7は、本発明になる光学的ヘッドの第3
実施例を示す図である。同図中、図8と同一部分には同
一符号を付し、その説明は省略する。本実施例でも、本
発明を光磁気ヘッドに適用している。
【0029】本実施例では、図8に示すビームスプリッ
タ36の代わりにビームスプリッタ25を設けている。
ビームスプリッタ25は、透明基板25Aと透明基板2
5A上に形成された反射膜25Bとからなる。図3に示
す不透明膜5Bの場合と同様に、反射膜25Bが帯状で
あれば、反射膜25Bの幅は反射光の中央部分を反射す
るように設定される。他方、反射膜25Bが円形であれ
ば、反射膜25Bの径は反射光の中央部分を反射するよ
うに設定される。尚、反射膜25Bの形状はこれらに限
定されず、遮光膜5Bの場合と同様に、光磁気ディスク
50の記録トラック方向の分解能が良くなるように設定
された形状であれば良い。
【0030】第1及び第2実施例では、反射光の中央部
分を遮光膜で遮っているので、反射光の中央部分は使用
されない。しかし、本実施例では、反射膜25Bを設け
ることにより、光磁気再生信号検出系に対しては反射光
を遮光板で遮ったのと同等の光成分を供給し、フォーカ
シングエラー・トラッキングエラー検出系へは反射光の
中央部分の光成分を供給する。これにより、フォーカシ
ングエラー・トラッキングエラー検出系へは上記各実施
例に比べて光強度の大きい光成分を供給することがで
き、光磁気ディスク50からの反射光をより有効に活用
できる。
【0031】尚、光磁気ディスクからの反射光の中央部
分を遮光又は反射する位置は、上記実施例の位置に限定
されるものではなく、原理的には、光磁気ディスクから
の反射光を処理する光学系の再生光路中であればどこで
も良い。
【0032】又、実施例では本発明を光磁気ヘッドに適
用したが、本発明は光学的に情報の記録及び/又は再生
を行う構成の光学的ヘッドであればどのようなものにも
適用可能であることは言うまでもない。
【0033】
【発明の効果】以上のように、請求項1及び6記載の発
明によれば、光ディスクに光を照射する光路中ではな
く、光学系の再生光路中で平行光の中央部分を遮光する
ので、光ディスクに照射する光の光強度を減少させるこ
となく光ディスクの分解能を向上し得る。従って、高密
度記録再生に適した光学的ヘッド及び光学的記録再生方
法を実現でき、実用的には極めて有用である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例の要部を示す図である。
【図2】光磁気ヘッドの伝達関数(OTF)の振幅特性
を示す図である。
【図3】遮光板の実施例を示す図である。
【図4】本発明の第2実施例の要部を示す図である。
【図5】補正回路の一実施例を示すブロック図である。
【図6】再生波形の光強度と位置との関係を示す光強度
分布図である。
【図7】本発明の第3実施例の要部を示す図である。
【図8】従来の光磁気ヘッドの一例を示す図である。
【図9】図8に示す光磁気ヘッドで情報の記録再生を行
った場合の空間周波数と再生波形の振幅の相対変化との
関係を示す図である。
【図10】超解像を用いた光磁気ヘッドの一例を示す図
である。
【符号の説明】
5 遮光板 5B 遮光膜 5A,25A 透明基板 10 差動増幅器 11,18 端子 13,14 遅延素子 15,16 乗算器 17 合成回路 25 ビームスプリッタ 25B 反射膜 31 半導体レーザ 32 コリメートレンズ 33 真円補正プリズム 34,36 ビームスプリッタ 35 対物レンズ 37,46 集光レンズ 38 シリンドリカルレンズ 39 四分割光検出器 40 1/2波長板 41 偏向ビームスプリッタ 42,43 光検出器 45 遮光帯 47,48 スリット又はピンホール

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光ディスク(50)から反射された反射光
    を平行光とするレンズ系(34,35)と、 該平行光に基づいてフォーカシングエラー及びトラッキ
    ングエラーを検出するフォーカシングエラー・トラッキ
    ングエラー検出系(36〜39)と、 該平行光に基づいて前記光ディスクから再生された再生
    信号を検出する光再生信号検出系(40〜43,46〜
    48)と、 該平行光のうち、少なくとも該光再生信号検出系(40
    〜43,46〜48)へ供給される平行光の光振幅分布
    中の中央部分を遮光する遮光手段(5,25)とを備え
    た光学的ヘッド。
  2. 【請求項2】前記遮光手段(5,25)は、光ディスク
    (50)の記録トラック方向の分解能を向上するよう
    に、前記平行光の中央部分を遮光する円形又は帯状の形
    状を有する請求項1の光学的ヘッド。
  3. 【請求項3】前記平行光の中央部分を遮光することによ
    り前記光再生信号検出系(40〜43,46〜48)で
    集光される集光スポットの光振幅分布に相対的に生じる
    副極大の再生信号の再生波形に対する影響を抑制する抑
    制手段(47,48,10,20)を更に備えた請求項
    1又は2の光学的ヘッド。
  4. 【請求項4】前記抑制手段(10,20)は、副極大の
    再生信号の再生波形に対する影響を電気的に抑制するト
    ランスバーサルフィルタ(20)からなる請求項3の光
    学的ヘッド。
  5. 【請求項5】前記遮光手段(25)は、前記光再生信号
    検出系(40〜43,46〜48)へ供給される平行光
    の中央部分を前記フォーカシングエラー・トラッキング
    エラー検出系(36〜39)へ反射して供給することに
    より該光再生信号検出系(40〜43,46〜48)に
    対しては前記平行光を遮光する請求項1〜4のうちいず
    れか一項の光学的ヘッド。
  6. 【請求項6】光ディスク(50)から反射された反射光
    を平行光として、該平行光に基づいてフォーカシングエ
    ラー及びトラッキングエラーを検出すると共に、該平行
    光に基づいて前記光ディスクから再生された再生信号を
    検出する光学的記録再生方法において、 該平行光のうち、少なくとも該光再生信号の検出に用い
    る平行光の光振幅分布中の中央部分を遮光するステップ
    を含む光学的記録再生方法。
  7. 【請求項7】前記ステップは、前記光ディスク(50)
    の記録トラック方向の分解能を向上するように、前記平
    行光の中央部分を遮光する円形又は帯状の形状を有する
    遮光手段(5,25)を用いる請求項6の光学的記録再
    生方法。
  8. 【請求項8】前記ステップが前記平行光の中央部分を遮
    光することにより前記光再生信号を検出する光再生信号
    検出系(40〜43,46〜48)で集光される集光ス
    ポットの光振幅分布に相対的に生じる副極大の再生信号
    の再生波形に対する影響を抑制するステップを更に含む
    請求項6又は7の光学的記録再生方法。
  9. 【請求項9】前記抑制するステップは、副極大の再生信
    号の再生波形に対する影響を電気的に抑制するトランス
    バーサルフィルタ(20)を用いる請求項8の光学的記
    録再生方法。
  10. 【請求項10】前記遮光するステップは、前記光再生信
    号を検出する光再生信号検出系(40〜43,46〜4
    8)へ供給される平行光の中央部分を前記フォーカシン
    グエラー・トラッキングエラーを検出するフォーカシン
    グエラー・トラッキングエラー検出系(36〜39)へ
    反射して供給することにより該光再生信号検出系(40
    〜43,46〜48)に対しては前記平行光を遮光する
    請求項6〜9のうちいずれか一項の光学的記録再生方
    法。
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